JPH0816463A - 情報処理装置のメモリ増設システム - Google Patents

情報処理装置のメモリ増設システム

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JPH0816463A
JPH0816463A JP15083294A JP15083294A JPH0816463A JP H0816463 A JPH0816463 A JP H0816463A JP 15083294 A JP15083294 A JP 15083294A JP 15083294 A JP15083294 A JP 15083294A JP H0816463 A JPH0816463 A JP H0816463A
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JP
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memory
simm
information processing
processing apparatus
speed
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JP15083294A
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English (en)
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Shinichi Fukunaga
真一 福永
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Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 情報処理装置に挿着されたSIMMの特性を
生かしてアクセスを高速化し、アクセス効率を高める。 【構成】 増設メモリとして選択的に挿着されるメモリ
モジュールであるSIMMの特性がそれぞれ異なるもの
であってもその特性を生かすため、例えば複数の互いに
メモリ容量の異なるSIMM−A,B,Cが挿着された
場合に、各SIMMが出力するメモリ容量を示す容量信
号MC8A,MC8Bを検出して、SIMM−A,B,
Cのメモリアドレスが互いに連続になるように、回路的
にアドレス変換を行う。従って、各SIMMのアクセス
速度をいささかも損なうことなく高速でアクセスし、更
に中間にメモリが存在しないブランク領域がないから情
報消失等の恐れがない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は情報処理装置のメモリ
増設システムに関し、特に複数のスロットを備えた情報
処理装置本体とスロットにそれぞれ選択的に挿着するメ
モリモジュールであるSIMMとからなる情報処理装置
のメモリ増設システムに関する。
【0002】
【従来の技術】処理すべき情報量の増大に伴って、情報
処理装置本体(以下単に「装置本体」ともいう)に内蔵
されている内蔵メモリだけでは容量不足になる恐れがあ
る場合、予め装置本体に設けられているメモリ増設用の
スロットに、複数のメモリ素子(以下単に「IC」とも
いう)を搭載したメモリボード,メモリモジュール等を
挿着してメモリ容量を増加させることが行なわれてい
た。
【0003】メモリ素子の容量が1Mb(メガビット)
未満であった頃の旧型の増設メモリボードは、その容量
を大きくするためにメモリ素子数が多くなるため、一般
に大型のボードが標準になっていた。近時、容量1Mb
以上のメモリ素子が入手可能になり、8MB(メガバイ
ト)の大容量増設メモリも4Mbのメモリ素子16個で
構成出来るようになったため、小型のボードで済むよう
になった。
【0004】SIMM(Single Inline Memory Mod
ule )は、このような技術的背景のもとに標準化された
メモリモジュールの一種であって、旧型の増設メモリボ
ードに比べて遙かに小型でありながら大きな容量をもっ
ている。即ち、その容量は2MB,4MB,8MB等各
種があり、現在は4MB及び8MBのSIMMが主流で
あり、例えばそれぞれ片面8個又は両面8個ずつのIC
により構成されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、SIM
Mは本質的には旧型の増設メモリボードと変るものでは
ないが、後者の殆んどがアドレスデコータを備えている
のに対して、ボードサイズが小さいためSIMMにはア
ドレスデコーダがない。また、内蔵メモリも含めた最大
メモリ容量が遙かに大きくなっている。SIMMを構成
するメモリ素子にも技術の進歩によって性能の異なる新
しいICを用いたものもある。
【0006】したがって、メモリの駆動方法やアドレス
ラインの構成が異なる等の他に、1つのSIMMのなか
で異なる性能のICが混在することはないが、ユーザの
都合で異なる性能を有するSIMMが混用されると、折
角の高い性能が生かされない等、従来は問題にならなか
ったことが問題になってくる恐れが出てきた。
【0007】例えば、予め設定された4MB又は8MB
いずれかの容量のSIMMしか挿着出来ないか、装置本
体にSIMM容量切換手段を備えていても異なる容量の
SIMMを混用することが出来ない。もし、図8の
(A)に示すように内蔵メモリが8MBで、SIMMを
挿着する各スロットに8MBずつのアドレスが割当てら
れている場合に、SIMM−AとSIMM−Cが4M
B、SIMM−Bが8MBであると、同図の(B)に示
すように2個所に4MBのブランクが生じ、特にSIM
M−AとSIMM−Bとの間のブランクによってアドレ
スC00000h乃至FFFFFFh(hは16進数を
示す)にメモリが存在しない空間が生じる。
【0008】したがって、予め気がついていれば100
0000h(16M)以降のアドレスをソフト的に換算
させる等の対策が立てられるが、オペレータにとって面
倒であるばかりでなく、実効的なメモリアクセスが遅く
なる。またもし気づかずにそのまま通常に使用すると、
4MB分もの情報消去という大問題が発生する。
【0009】また、混用する複数のSIMMが、互いに
異なるアクセス速度のICによって構成されていれば、
装置本体はそれ等のSIMMのうち最もアクセス速度の
遅いICからなるSIMMに合せたアクセス速度でアク
セスしなければならない。従って、それより速いアクセ
ス速度のICからなるSIMMの性能が生かされないこ
とになる。
【0010】同様に、高速アクセス方式によりサポート
されているICからなるSIMMと、サポートされてい
ない普通のICからなるSIMMとが混用されている場
合は、装置本体は高速アクセス方式でない通常の方式で
アクセスしなければならない。高速アクセス方式により
サポートされているICは通常の方式でもアクセス可能
であるから問題は生じないが、折角の高速性が生かされ
ない。
【0011】あるいは、従来のメモリ素子は情報を保持
するためのリフレッシュが周期8ms程度で頻繁に行わ
れ、その間はメモリアクセスが出来ないためアクセスの
効率が悪い。また、その都度大きなリフレッシュ電流が
流れるため発熱も大きく、IC回路の高集積化のネック
になっていたが、最近はリフレッシュ周期が64ms,
128msと長いロングリフレッシュ素子が使われるよ
うになった。
【0012】しかしながら、このようなロングリフレッ
シュ素子からなるSIMMと、従来のメモリ素子からな
るSIMMとが混用された場合は、装置本体は従来のメ
モリ素子に合せた8ms程度の周期でリフレッシュを行
わねばならないから、アクセスの効率が向上しないのみ
ならず、ロングリフレッシュ素子の発熱が定格より大き
くなって遂には破壊する恐れも出てきた。
【0013】さらに、最大容量のメモリを増設したよう
な場合にはメモリ素子の数が増え、リフレッシュ電流は
大きな電流がスパイク的に流れるため、一斉にリフレッ
シュすると電源の容量を超えたピーク電流が流れて電源
に過大な負荷がかかる。そのため、平均的な電流容量に
比べて相当大きな電流容量の電源が必要になり、発熱と
コストアップの要因になっていた。
【0014】また、メモリが接続されているか接続され
ていない空間(ブランク領域)があるかは、実際にアク
セスしてみなければ分らなかった。また、アクセスして
見てもそこでブランク領域であるのか、メモリが破壊さ
れているのか、接続不良で抜け落ちているのかは判別出
来なかった。
【0015】さらに、情報処理装置の電源がオンになっ
た時、初期設定ルーチンのなかでメモリのテストプログ
ラムが実行されるが、SIMMが接続されていてもいな
くても、メモリ全域についてテストのためのアクセスを
行なうと、例えば図8の(A)に示したように最大32
MBあれば、ICのアクセス速度にもよるが、ほぼ1分
間程度の時間が必要になる。この時間は、初期設定が終
ればすぐ作業を開始しようと待機しているオペレータに
とって、許容限度を超えるものであった。
【0016】この発明は上記の点に鑑みてなされたもの
であり、情報処理装置本体のスロットに挿着されたSI
MMを構成するメモリ素子の特性を生かしてアクセスを
高速化し、アクセス効率を高めることを目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するため、情報処理装置の本体に複数のスロットを
備え、該スロットにメモリモジュールであるSIMMを
選択的に挿着することによりメモリ容量を増加させるよ
うにした情報処理装置のメモリ増設システムにおいて、
それぞれ下記のようにしたものである。
【0018】すなわち、SIMM毎にそのメモリ容量を
示す容量信号を出力する容量信号出力手段を設け、情報
処理装置本体に、スロットに挿着されたSIMMの容量
信号出力手段が出力する容量信号によってそのメモリ容
量を検知するメモリ容量検知手段と、該手段が検知した
メモリ容量に応じてスロットに挿着されたすべてのSI
MMのメモリアドレスが互いに連続になるように制御す
るアドレス制御手段とを設けたものである。
【0019】また、SIMM毎にそのメモリのアクセス
速度を示す速度信号を出力する速度信号出力手段を設
け、情報処理装置本体に、スロットに挿着されたSIM
Mの速度信号出力手段が出力する速度信号によってその
メモリのアクセス速度を検知するアクセス速度検知手段
と、該手段が検知したアクセス速度に応じてスロットに
挿着されたSIMMを最適なアクセス速度でアクセスす
るように制御するアクセス速度制御手段とを設けたもの
である。
【0020】また、SIMM毎にそのメモリ素子が高速
アクセス方式によりサポートされているか否かを示す識
別信号を出力する識別信号出力手段を設け、情報処理装
置本体に、スロットに挿着されたSIMMの識別信号出
力手段が出力する識別信号を検知する識別検知手段と、
該検知手段が検知した識別信号に応じてメモリ素子が高
速アクセス方式によりサポートされていると判定された
SIMMに対しては高速アクセス方式によるアクセスを
許可する高速アクセス許可手段とを設けたものである。
【0021】あるいは、SIMM毎にそのメモリのリフ
レッシュ周期を示す信号を出力する信号出力手段を設
け、情報処理装置本体に、スロットに挿着されたSIM
Mの信号出力手段が出力する信号によってそのメモリの
リフレッシュ周期を検知するリフレッシュ周期検知手段
と、該手段が検知したリフレッシュ周期に応じてスロッ
トに挿着されたすべてのSIMMをそれぞれ最適なリフ
レッシュ周期でリフレッシュするように制御するリフレ
ッシュ制御手段とを設けたものである。
【0022】また、SIMM毎に該SIMMを構成する
メモリ素子の数を示す素子数信号を出力する素子数信号
出力手段を設け、情報処理装置本体に、スロットに挿着
されたSIMMの素子数信号出力手段が出力する素子数
信号を検知してメモリ素子の全数を求める全素子数検知
手段と、該検知手段が検知した全素子数から全リフレッ
シュ電流値を計算し該電流値が予め設定された閾値以下
ならば全メモリ素子を同時に、閾値を超えていればリフ
レッシュ電流が閾値以下になるように全メモリ素子を分
割してそれぞれリフレッシュするように制御するリフレ
ッシュ制御手段とを設けたものである。
【0023】あるいは、情報処理装置本体に、スロット
別にSIMMが挿着されているか否かを検知するスロッ
ト別SIMM検知手段と、メモリテストの時に該SIM
M検知手段がスロットに挿着されていることを検知した
SIMMについてのみメモリテストを行うように制御す
るメモリテスト制御手段とを設けたものである。
【0024】
【作用】上記のようにそれぞれ構成した情報処理装置の
メモリ増設システムは、SIMM毎に設けた容量信号出
力手段が出力する容量信号によって、装置本体にそれぞ
れ設けたメモリ容量検知手段がスロットに挿着された各
SIMMのメモリ容量を検知し、アドレス制御手段は検
知されたメモリ容量に応じてスロットに挿着されている
すべてのSIMMのメモリアドレスが互いに連続になる
ように制御する。
【0025】したがって、各スロットに割当てられた最
大メモリ容量より小さな容量のSIMMを挿着してもメ
モリとメモリとの間にブランクが生じないから、通常の
アクセスを行っても記憶させた情報の一部が消失すると
いう重大事故は起きない。また、ソフト的なアドレス変
換を行う必要がないから、メモリアクセスが実効的に遅
くなることもない。
【0026】また、SIMM毎に設けた速度信号出力手
段が出力する速度信号によって、装置本体側のアクセス
速度検知手段がアクセスしようとするSIMMのメモリ
のアクセス速度を検知し、アクセス速度制御手段は検知
されたアクセス速度に応じて当該SIMMに最適なアク
セス速度でアクセスする。従って、速いアクセス速度の
ICからなるSIMMは速い速度でアクセスされるか
ら、その性能を十分に発揮させることが出来る。
【0027】同様に、SIMM毎に設けた識別信号出力
手段が出力する識別信号を装置本体側の識別検知手段が
検知し、アクセスしようとするSIMMが高速アクセス
方式によりサポートされていると判定されると高速アク
セス許可手段が高速アクセス方式によるアクセスを許可
するから、その性能を生かして高速でアクセスされ、さ
もなければ許可されないから通常の方式でアクセスされ
る。
【0028】あるいは、SIMM毎に設けた信号出力手
段かリフレッシュ周期を示す信号を出力し、該信号によ
って装置本体側のリフレッシュ周期検知手段がSIMM
毎のリフレッシュ周期を検知する。リフレッシュ制御手
段は検知されたリフレッシュ周期に応じて、スロットに
挿着されているすべてのSIMMをそれぞれ最適なリフ
レッシュ周期でリフレッシュする。
【0029】したがって、ロングリフレッシュ素子から
なるSIMMが必要以上に頻繁にリフレッシュされるこ
とがないから、アクセスの効率が向上すると共に、過大
な発熱による破壊の恐れがなく、無駄なリフレッシュ電
流がなくなるから電源の負担が軽減される。
【0030】また、SIMM毎に設けた素子数信号出力
手段が出力する素子数信号を、装置本体側の全素子数検
知手段が検知してメモリ素子の全数を求める。リフレッ
シュ制御手段は求められた全素子数から全リフレッシュ
電流値を計算し、該電流値が予め設定された閾値を超え
ないように全メモリ素子を同時に、或るいは分割してリ
フレッシュを行なうように制御する。従って、電源に過
大な負荷をかけることがなく、電源の電流容量に応じて
閾値を設定すればよいから電源の電流容量を小さくする
ことが可能になり、コストダウンが計れる。
【0031】あるいは、装置本体側に設けたスロット別
SIMM検知手段がスロット別に挿着されたSIMMの
有無を検知し、メモリテスト手段はスロットに挿着され
ていることを検知したSIMMについてのみメモリテス
トを行うよう制御する。そのため、メモリテストに必要
以上の無駄な時間がなくなるからメモリテスト時間、従
って初期設定の時間が短縮されるのみならず、挿着され
ているSIMMについてはメモリの破壊又は接続不良等
の事故の有無を確実に決定することが出来る。
【0032】
【実施例】以下この実施例を図面を参照しながら具体的
に説明する。この発明の一実施例である情報処理装置
は、装置本体内に8MBの内蔵メモリを備えると共に、
メモリ増設用に3個のスロットA,B,Cを設けてい
る。各スロットA,B,Cにそれぞれ挿着されたSIM
MをSIMM−A,SIMM−B,SIMM−Cとい
う。従って、SIMM−A,B,Cは各SIMMに固有
の名称ではなく、挿着されたスロットによって決まるも
のである。
【0033】スロットに挿着するSIMMは、この実施
例ではその容量が目下のところ代表的な4MB又は8M
Bのいずれかに限定しているが、その他の性能例えばア
クセス速度,リフレッシュ周期あるいは高速アクセス方
式によりサポートされているか否かは問わない。ただ
し、1個のSIMMは同一性能のメモリ素子(IC)に
よって構成され、性能の異なるICが混用されることは
ない。
【0034】また、1個又は2個のSIMMをスロット
に挿着する場合にはスロットAから順に挿着するものと
し、スロットAを空けたままスロットB又はスロットC
に挿着することは許されない。それ以外は、メモリ容量
の大小や性能の高低は挿着順に関係なく、全く任意であ
る。
【0035】さらに、メモリをアクセスするためにアド
レスの上位を担当するRAS(ロー・アドレス・ストロ
ーブ)信号は1本当り2MBを割当てるものとするか
ら、2本で4MBを、4本で8MBをカバーし、内蔵メ
モリを含めて32MBのメモリに対して16本のRAS
信号RAS0乃至RAS15が必要になる。従って、R
AS0〜3,RAS4〜7,RAS8〜11,RAS1
2〜15は、それぞれ内蔵メモリ,SIMM−A,SI
MM−B,SIMM−Cに割当てられる。
【0036】RAS信号とアドレスの下位を相当するC
AS(コラム・アドレス・ストローブ)信号、出力を指
示するOE信号、書込を指示するWE信号、(n+1)
ビットのアドレス信号A0〜AnをまとめてRAM制御
信号といい、いずれも負論理の信号である。
【0037】図1及び図2はこの発明の第1実施例の構
成を示す回路図であり、図1は装置本体に設けたメモリ
容量検知手段でありアドレス制御手段でもあるアドレス
コントローラを、図2は各SIMM毎に設けた容量信号
出力手段である端子部をそれぞれ示している。
【0038】図2において、装置本体10の図示しない
スロットA,B,Cには、図8に示した従来例に揃え
て、4MBのSIMM−A11,8MBのSIMM−B
12,4MBのSIMM−C13が挿着され、SIMM
−A11の端子11a,11b、SIMM−B12の端
子12a,12b、SIMM−C13の端子13a,1
3bは、それぞれ順に装置本体10の端子10a〜10
fに接続されている。端子10a〜10fにそれぞれ接
続されたラインは、いずれもプルアップ抵抗Rによって
Vccの電圧5Vにプルアップされている。
【0039】SIMMのメモリ容量が4MBであればそ
の端子a(例えば11a,12a,13a)はグランド
に落され、端子b(例えば11b,12b,13b)は
NC(無接続)である。メモリ容量が8MBであれば逆
に、端子aがNCで端子bがグランドに落されている。
従って、各SIMMのメモリ容量が図2に示したように
順に4MB,8MB,4MBである場合は、端子10
a,10d,10eに接続されたラインはロー、端子1
0b,10c,10fに接続されたラインはハイにな
る。
【0040】すなわち、端子10a〜10fに接続され
たラインを介して、SIMM−A,B,Cはそれぞれメ
モリ容量が4MBであるか8MBであるか示す負論理の
容量信号である信号MC4A,MC8A,MC4B,M
C8B,MC4C,MC8Cを出力している。SIMM
が4MBであれば信号MC4(MC4A,MC4B,M
C4C)がロー(アクティブ)で信号MC8(MC8
A,MC8B,MC8C)がハイ(ノンアクティブ)で
あり、SIMMが8MBであればその逆になる。
【0041】図1に示したアドレスコントローラは2個
のバッファ1,2と、1個の2to1のセレクタ3と、2
個の4to1のセレクタ4,5とにより構成されている。
同図の左側からアドレスコントローラに入力する信号R
A0乃至RA15は、同図の右側に出力するRAS信号
RAS0乃至RAS15のもとになる信号であり、RA
S信号と同じく1個の信号が順に2MBずつをカバーし
ている。
【0042】すなわち、信号RA0は0h(10進数
0)〜1FFFFFh、信号RA1は200000h
(2M)〜3FFFFFh、信号RA2は400000
h(4M)〜5FFFFFhをカバーし、以下同様にし
て信号RA15は1E00000h(30M)〜1FF
FFFFhをカバーする。
【0043】信号RA0〜RA3はそれぞれバッファ1
の入力端子A1〜A4に入力し、そのままバッファ1の
出力端子Y1〜Y4から信号RAS0〜RAS3として
内蔵メモリに出力される。同様に信号RA4〜RA7は
バッファ2の入力端子A1〜A4に入力し、その出力端
子Y1〜Y4から信号RAS4〜RAS7としてSIM
M−Aに出力される。
【0044】バッファ1の入力端子A1〜A4には信号
RA0〜RA3が入力し、そのままそれぞれ出力端子Y
1〜Y4から信号RAS0〜RAS3として内蔵メモリ
に出力される。同様に、バッファ2の入力端子A1〜A
4には信号RA4〜RA7が入力し、それぞれ出力端子
Y1〜Y4から信号RAS4〜RAS7としてSIMM
−Aに出力される。
【0045】2to1のセレクタ3の入力端子10A〜1
0Dには信号RA8〜RA11が、入力端子11A〜1
1Dには信号RA6,RA7,RA8,RA9がそれぞ
れ入力し、セレクタ信号の入力端子Sには図2に示した
容量信号MC8Aが入力している。セレクタ3の出力端
子ZA〜ZDからは、信号MC8Aがロー(アクティ
ブ)の時は入力端子10A〜10Dが選択されて信号R
A8〜RA11が、信号MC8Aがハイ(ノンアクティ
ブ)の時は入力端子11A〜11Dが選択されて信号R
A6〜RA9が、それぞれ信号RAS8〜RAS11と
してSIMM−Bにに出力される。
【0046】4to1のセレクタ4の入力端子10A,1
0Bには信号RA12,RA13が、入力端子11A,
12Aには信号RA10が、入力端子11B,12Bに
は信号RA11が、入力端子13A,13Bには信号R
A8,RA9が、それぞれ入力している。同様に、4to
1のセレクタ5の入力端子10A,10Bには信号RA
14,RA15が、入力端子11A,12Aには信号R
A12が、入力端子11B,12Bには信号RA13
が、入力端子13A,13Bには信号RA10,RA1
1が、それぞれ入力している。
【0047】セレクタ4(セレクタ5も全く同様)のセ
レクタ信号の入力端子S1,S0にはそれぞれ容量信号
MC8A,MC8Bが入力している。入力端子S1,S
0が共にローの時は入力端子10A,10Bに入力する
信号が、入力端子S1がローでS0がハイの時は入力端
子11A,11Bに入力する信号が、入力端子S1がハ
イでS0がローの時は入力端子12A,12Bに入力す
る信号が、入力端子S1,S0が共にハイの時は入力端
子13A,13Bに入力する信号が、選択されてそれぞ
れ出力端子ZA,ZBから出力される。
【0048】セレクタ4の出力端子ZA,ZBから出力
される信号はそれぞれ信号RAS12,RAS13とし
て、セレクタ5の出力端子ZA,ZBから出力される信
号はそれぞれ信号RAS14,RAS15として、共に
SIMM−Cに出力される。
【0049】したがって、入力端子S1,S0が共にロ
ー(信号MC8A,MC8Bが共にアクティブ)の時は
信号RA12〜15が、入力端子S1,S0のいずれか
一方がローで他方がハイ(信号MC8A,MC8Bのい
ずれかだけがアクティブ)の時は信号RA10〜RA1
3が、入力端子S1,S0が共にハイ(信号MC8A,
MC8Bが共にノンアクティブ)の時は信号RA8〜R
A11が、それぞれ信号RAS12〜15としてSIM
M−Cに出力される。
【0050】
【表1】
【0051】表1は、SIMMをスロットAから順に挿
着する条件と、SIMMのメモリ容量が4MBと8MB
との2種類であることから、SIMM−A乃至SIMM
−Cのすべての組合せ(15通り)を示したものであ
る。SIMM−A,B,Cの各左側の欄はメモリ容量、
各右側の欄はRAS信号として入力する信号RAの種類
を示し、MC8の欄は左からそれぞれ信号MC8A,M
C8B,MC8Cを示したもので、8MBであれば0、
4MB又はSIMMが挿着されていなければ1である。
セレクト信号の欄は、セレクト信号S1,S0すなわち
MC8の欄のA,B(上位2ビット)を10進数で示し
ている。
【0052】表1から明らかなように、SIMM−Aは
8MBの内蔵メモリに続くものであるから、スタートア
ドレスは常に8Mであり、信号RA4から割当てられ
る。SIMM−BはSIMM−Aが4MBか8MBかに
よって、スタートアドレスは12Mか16M、即ち信号
RA6又はRA8から割当てられる。SIMM−CはS
IMM−A及びSIMM−Bの容量に応じて、スタート
アドレスは16M,20M,24Mのいずれかであり、
それぞれ信号RA8又はRA10又はRA12から割当
てられる。
【0053】したがって、単にSIMM−A及びSIM
M−Bがそれぞれ8MBであるか否か、即ちMC8A,
MC8Bがそれぞれ0(ロー)か1(ハイ)かを検知す
れば、すべての組合せに対してアドレスが連続するよう
にRAS信号を割当てることが出来る。図1に示したア
ドレスコントローラは、このような論理を満足させる回
路の一例であって、容量信号MC8A,MC8Bに応じ
て、各SIMMに表1に示したようにRAS信号を割当
てることが出来る。
【0054】図3は第1実施例の効果を示すメモリマッ
プの一例を示す図であり、SIMM−A,B,Cはそれ
ぞれ図8に示した従来例と同じくメモリ容量4MB,8
MB,4MBの場合を示している。図3の(A),
(B)はそれぞれ図8の(A),(B)に対応し、図3
の(C)はすべてのメモリのアドレスが実効的に連続に
なったことを示している。
【0055】図3の(A)に示したように、SIMM−
A,B,Cのスタートアドレスとしては各SIMMがい
ずれも8MBであるとして、それぞれ当初800000
h(8M),1000000h(16M),18000
00h(24M)が割当てられ、内蔵メモリを含めて全
メモリ容量32MBである。同図の(B)に示したよう
にSIMM−A,B,Cを挿着すると、当初のスタート
アドレスであればSIMM−AとSIMM−Bとの間に
4MBのブランクが生じる。
【0056】しかしながら、第1実施例においてはハー
ド的にアドレス制御が行なわれて、SIMM−B及びS
IMM−CのスタートアドレスがそれぞれC00000
h(12M),1400000h(20M)に変換され
るから、図3の(C)に示したようにメモリ間のブラン
クが消滅して、互いに連続したアドレスになる。
【0057】したがって、情報の消失という大事故が発
生する恐れがなくなる。さらに、このアドレス変換はソ
フトでなく、ハード的に処理されるから、アクセスが遅
くなることがない。また、従来のようにメモリ容量の同
じSIMMしか挿入出来ないという制限がないから、メ
モリの増設が極めて容易になる。
【0058】図4はこの発明の第2実施例の構成を示す
回路図である。図4に示した第2実施例は、各SIMM
毎にそれぞれ構成するメモリ素子(IC)のアクセス速
度に応じた最適なアクセス速度でアクセスするもので、
タイミング発生回路20と、アクセス速度検知手段であ
りアクセス速度制御手段でもあるタイミング切換回路2
1と、RAM制御信号発生回路22とから構成されてい
る。
【0059】SIMM毎に設けた速度信号出力手段は、
図2に示した容量信号出力手段である端子部と同様に、
SIMMを構成するICのアクセス速度に対応してSI
MM側の端子をNCとするかグランドに落すものである
から図示及び説明を省略するが、一般にアクセス速度の
種類によってアクセス速度を示す速度信号は1ビット又
は2ビットあれば実用上十分である。
【0060】タイミング発生回路20はアクセス速度に
応じた周期の2種類又は4種類のパルスを発生して、タ
イミング切換回路21に出力する。タイミング切換回路
21は、図1に示した2to1又は4to1のセレクタから
なり、入力する速度信号をセレクト信号として、タイミ
ング発生回路20から入力するパルスを選択してRAM
制御信号発生回路22に出力する。RAM制御信号発生
回路22は入力するパルスの周期に同期して、RAS信
号,CAS信号等からなるRAM制御信号をRAM14
に出力し、情報の記録/再生が行われる。ここで、RA
M14は内蔵メモリやSIMMを線合して示したもので
ある。
【0061】この第2実施例によれば、アクセスしよう
とするSIMMのアクセス速度に応じた最適なアクセス
速度でアクセスするから、アクセス速度の速いICから
なるSIMMは速い速度でアクセスされる。従って各S
IMMの性能を十分に生かすことが出来、アクセス効率
が高まる。
【0062】図5はこの発明の第3実施例の構成を示す
回路図である。図5に示した第3実施例は、各SIMM
毎にそれぞれを構成するICが例えば高速ページモード
のような高速アクセス方式によりサポートされているか
否かを検知し、サポートされていればそのSIMMを高
速アクセス方式によるアクセスを行ない、サポートされ
ていなければ通常のアクセスを行なうものである。
【0063】通常、メモリ素子であるDRAMをアクセ
スする時は、1バイト毎に先ずRAS信号を、次にCA
S信号を出力したのち情報の記録又は再生を行なって、
RAS信号,CAS信号の出力を停止することを繰返し
ている。高速ページモードでは、RAS信号を出力した
ままの状態でCAS信号のみを切換えながら情報の記録
又は再生を行なう。
【0064】一般に一連の情報はアドレスの連続した領
域に記憶されるものであり、この実施例では既に説明し
たように1本のRAS信号が2MBをカバーしているか
ら、一連の情報をアクセスする間にRAS信号が変るこ
とは先ず有得ない。従って、高速アクセス方式によれば
通常のアクセス方式に比べて情報を数倍の速度で入出力
することが出来る。
【0065】第3実施例は図5に示したように、識別検
知手段であり高速アクセス許可手段であるCPU25
と、CPU25がSIMM−A,B,Cからそれぞれの
識別信号を入力する際にゲートとして作用するI/Oポ
ート26a,26b,26cと、常時は通常のアクセス
方式でアクセスし、CPU25から高速アクセス方式に
よるアクセスを許可する許可信号が入力した時には高速
アクセス方式でアクセスするRAM制御信号発生回路2
7とから構成されている。
【0066】なお、各SIMM側に設けた識別信号出力
手段は、高速アクセス方式によりサポートされているS
IMMではロー、サポートされていない通常のSIMM
ではハイである1ビットの識別信号を出力するが、その
構成は第1実施例の容量信号出力手段と同様であるか
ら、第2実施例と同じく図示及び説明を省略する。
【0067】目的とするSIMMをアクセスしようとす
る場合、CPU25はそのSIMMに対応するI/Oポ
ートを開いて識別信号を入力する。例えばSIMM−B
をアクセスする時は、CPU25はI/Oポート26b
を開いてSIMM−Bが出力している識別信号を入力し
て、該信号がロー(アクティブ)であればRAM制御信
号発生回路27に許可信号を出力し、SIMM−Bを高
速アクセス方式でアクセスさせる。識別信号がハイであ
ればCPU25は許可信号を出力しないから、通常のア
クセス方式でアクセスされる。
【0068】第3実施例によれば、高速アクセス方式で
サポートされたICからなるSIMMは高速アクセス方
式でアクセスされるから、情報を高速度で入出力するこ
とが出来、アクセスの所要時間が大幅に短縮されてアク
セス効率が高くなる。
【0069】図6はこの発明の第4実施例の構成を示す
回路図である。図6に示した第4実施例は、各SIMM
毎に構成するICのリフレッシュ周期が通常の周期であ
るかロングリフレッシュ周期であるかを検知し、通常の
リフレッシュ周期例えば8msであればその周期で、ロ
ングリフレッシュ周期例えば64ms又は128msで
あればロング周期でそれぞれリフレッシュするものであ
る。
【0070】第4実施例は図6に示したように、リフレ
ッシュ周期検知手段であるCPU25と、CPU25が
SIMM−A,B,Cからそれぞれのリフレッシュ周期
を示す周期信号を入力する際にゲートとして作用するI
/Oポート26a,26b,26cと、常時は通常の周
期でリフレッシュし、CPU25からロングリフレッシ
ュ周期であることを指示されたSIMMに対しては、ロ
ングリフレッシュ周期でリフレッシュするリフレッシュ
制御手段であるDRAMコントローラ28とから構成さ
れている。なお、各SIMM側に設けた周期信号を出力
する信号出力手段は第2及び第3実施例と同じく図示及
び説明を省略する。
【0071】初期設定時に、CPU25はスロットに挿
着されているすべてのSIMMに対して対応するI/O
ポートを順に開いて、SIMMから出力される周期信号
がローであればロングリフレッシュ周期のSIMMであ
り、ハイであれば通常周期のSIMMであることを検知
し、SIMM別のリフレッシュ周期をDRAMコントロ
ーラ28に指示する。DRAMコントローラ28は、そ
れぞれ指示された周期で各SIMMをリフレッシュす
る。
【0072】第4実施例によれば、ロングリフレッシュ
素子からなるSIMMが必要以上にリフレッシュされる
ことがないからアクセス効率が向上すると共に、過大な
発熱による素子破壊の恐れがなく、無駄なリフレッシュ
電流がなくなるから電源の負担が軽減される。従って、
電源の電流容量が少なくなって、小型軽量化を計ること
が出来る。
【0073】この発明の第5実施例の構成は、図6に示
した第4実施例と全く同じであるから、図示を省略す
る。第5実施例が第4実施例と異なる所は、I/Oポー
ト26a〜26cを介して入力する信号が周期信号では
なく、SIMMを構成するメモリ素子の数を示す素子数
信号であることと、CPU25の作用が異なっているこ
とである。SIMM側に設けた素子数信号を出力する素
子数信号出力手段は、第2乃至第4実施例と同様に図示
及び説明を省略する。
【0074】第5実施例は、各SIMMが出力する素子
数信号を検知してメモリ素子の全数を求め、全素子数か
ら計算によって全リフレッシュ電流値を求め、該電流値
が電源の電流容量に応じて設定されている閾値を超えて
いれば、リフレッシュ電流値が閾値を超えないようにメ
モリを分割してリフレッシュするものである。
【0075】全素子数検知手段であると共に、リフレッ
シュ制御手段であるDRAMコントローラと共同してリ
フレッシュ制御手段の作用の一部を分担するCPU25
は、初期設定時にI/Oポート26a〜26cを順に開
いてSIMM−A,B,Cが出力している素子数信号を
検知し、スロットに挿着されているすべてのSIMMの
メモリ素子の全数を求める。
【0076】次に、求めた全素子数から全リフレッシュ
電流値を計算し、該電流値が電源の電流容量によって予
め設定された閾値(最大許容リフレッシュ電流値)以下
であれば全メモリ素子を同時にリフレッシュするよう
に、閾値を超えていればリフレッシュ電流が閾値以下に
なるように全メモリ素子を分割してその結果をDRAM
コントローラ28に指示する。
【0077】DRAMコントローラ28はCPU25か
らの指示に基いて、全メモリ素子を同時にリフレッシュ
するか、指示されたように分割して交互又はサイクリッ
クにリフレッシュする。従って、電源に過大な負荷をか
けることがなく、電源の電流容量を少なくして小型軽量
化又はコストダウンが計れることは、第4実施例と同様
である。
【0078】さらに、第4及び第5実施例を同時に行な
うことにより、リフレッシュ周期の長短によって全素子
をグループに分け、各グループ毎にリフレッシュ電流が
閾値を超えないように分割すれば、リフレッシュ電流の
ピーク値を更に低くすることが出来る。この場合に、長
い周期が短かい周期の整数倍又は簡単な分数比をなす時
は、各グループ又は分割単位のリフレッシュが同時に行
なわれないように、互いに位相をズラしておけば、その
効果は更に大きくなる。
【0079】この発明の第6実施例は、各スロット毎に
SIMMが挿着されているか否かを検知して、SIMM
が挿着されていないスロットに対しては初期設定時のメ
モリテストを行わないことにより、最大メモリ容量に略
比例して時間がかかるメモリテストの時間を短縮するも
のである。
【0080】そのため、SIMMの端子のうち予め定め
た特定な端子をグランドに落しておけば、例えば図5又
は図6に示した構成のうちCPU25をスロット別SI
MM検知手段並びにメモリテスト制御手段として、I/
Oポート26a〜26cを介してSIMMの特定な端子
に接続されたラインのレベルを検知し、ローであればS
IMMが挿着されて居り、ハイであればSIMMが挿着
されていないと判定して、ローであったスロットに装着
されたSIMMのみについてメモリテストを行なえばよ
い。
【0081】あるいは、図7に示すように3個のアンド
回路30a,30b,30cを設け、それぞれに図2に
示した回路により得られた各SIMMのメモリ容量を示
す信号、すなわちSIMM−Aの信号MC4A,MC8
A、SIMM−Bの信号MC4B,MC8B、SIMM
−Cの信号MC4C,MC8Cを入力させ、それぞれ出
力する信号をSIMM検知信号として、ローならばSI
MMが挿着されており、ハイならば挿着されていないと
検知することが出来る。
【0082】さらに、図1及び図2に示した第1実施例
によれば、図3の(C)に示したように実効的にメモリ
のアドレスが連続になり、6個の容量信号MC4A,M
C8A,MC4B,MC8B,MC4C,MC8Cから
得られる各SIMMのメモリ容量を合計してSIMMの
全メモリ容量を求めればエンドアドレスが分るから、ス
タートアドレス800000h(8M)からエンドアド
レスまでメモリテストを行えば、全く無駄がなく、最短
時間でメモリテストを行なうことが出来る。
【0083】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明による情報
処理装置のメモリ増設システムは、情報処理装置本体の
スロットに挿着されたSIMMを構成するメモリ素子の
特性を生かしてアクセスを高速化し、アクセス効率を高
めることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1実施例である情報処理装置のメ
モリ増設システムの構成を示す回路図である。
【図2】図1に示した第1実施例の他の部分の構成を示
す回路図である。
【図3】図1及び図2に示した第1実施例の効果の一例
を示すメモリマップである。
【図4】この発明の第2実施例の構成を示す回路図であ
る。
【図5】この発明の第3実施例の構成を示す回路図であ
る。
【図6】この発明の第4実施例の構成を示す回路図であ
る。
【図7】この発明の第6実施例の構成を示す回路図であ
る。
【図8】従来例により発生する課題の一例を示すメモリ
マップである。
【符号の説明】
10:情報処理装置本体 11:SIMM−A 12:SIMM−B 13:SIMM−C 21:タイミング切換回路(アクセス速度検知手段,ア
クセス速度制御手段) 25:CPU(識別検知手段,高速アクセス許可手段,
リフレッシュ周期検知手段) 28:DRAMコントローラ(リフレッシュ制御手段)

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 情報処理装置の本体に複数のスロットを
    備え、該スロットにメモリモジュールであるSIMMを
    選択的に挿着することによりメモリ容量を増加させるよ
    うにした情報処理装置のメモリ増設システムにおいて、 前記SIMM毎に、そのメモリ容量を示す容量信号を出
    力する容量信号出力手段を設け、 前記情報処理装置本体に、前記スロットに挿着された前
    記SIMMの容量信号出力手段が出力する容量信号によ
    ってそのメモリ容量を検知するメモリ容量検知手段と、
    該手段が検知したメモリ容量に応じて前記スロットに挿
    着されたすべてのSIMMのメモリアドレスが互いに連
    続になるように制御するアドレス制御手段とを設けたこ
    とを特徴とする情報処理装置のメモリ増設システム。
  2. 【請求項2】 情報処理装置の本体に複数のスロットを
    備え、該スロットにメモリモジュールであるSIMMを
    選択的に挿着することによりメモリ容量を増加させるよ
    うにした情報処理装置のメモリ増設システムにおいて、 前記SIMM毎に、そのメモリのアクセス速度を示す速
    度信号を出力する速度信号出力手段を設け、 前記情報処理装置本体に、前記スロットに挿着された前
    記SIMMの速度信号出力手段が出力する速度信号によ
    ってそのメモリのアクセス速度を検知するアクセス速度
    検知手段と、該手段が検知したアクセス速度に応じて前
    記スロットに挿着されたSIMMを最適なアクセス速度
    でアクセスするように制御するアクセス速度制御手段と
    を設けたことを特徴とする情報処理装置のメモリ増設シ
    ステム。
  3. 【請求項3】 情報処理装置の本体に複数のスロットを
    備え、該スロットにメモリモジュールであるSIMMを
    選択的に挿着することによりメモリ容量を増加させるよ
    うにした情報処理装置のメモリ増設システムにおいて、 前記SIMM毎に、そのメモリ素子が高速アクセス方式
    によりサポートされているか否かを示す識別信号を出力
    する識別信号出力手段を設け、 前記情報処理装置本体に、前記スロットに挿着された前
    記SIMMの識別信号出力手段が出力する識別信号を検
    知する識別検知手段と、該検知手段が検知した識別信号
    に応じて前記メモリ素子が前記高速アクセス方式により
    サポートされていると判定されたSIMMに対しては前
    記高速アクセス方式によるアクセスを許可する高速アク
    セス許可手段とを設けたことを特徴とする情報処理装置
    のメモリ増設システム。
  4. 【請求項4】 情報処理装置の本体に複数のスロットを
    備え、該スロットにメモリモジュールであるSIMMを
    選択的に挿着することによりメモリ容量を増加させるよ
    うにした情報処理装置のメモリ増設システムにおいて、 前記SIMM毎に、そのメモリのリフレッシュ周期を示
    す信号を出力する信号出力手段を設け、 前記情報処理装置本体に、前記スロットに挿着された前
    記SIMMの信号出力手段が出力する信号によってその
    メモリのリフレッシュ周期を検知するリフレッシュ周期
    検知手段と、該手段が検知したリフレッシュ周期に応じ
    て前記スロットに挿着されたすべてのSIMMをそれぞ
    れ最適なリフレッシュ周期でリフレッシュするように制
    御するリフレッシュ制御手段とを設けたことを特徴とす
    る情報処理装置のメモリ増設システム。
  5. 【請求項5】 情報処理装置の本体に複数のスロットを
    備え、該スロットにメモリモジュールであるSIMMを
    選択的に挿着することによりメモリ容量を増加させるよ
    うにした情報処理装置のメモリ増設システムにおいて、 前記SIMM毎に、該SIMMを構成するメモリ素子の
    数を示す素子数信号を出力する素子数信号出力手段を設
    け、 前記情報処理装置本体に、前記スロットに挿着された前
    記SIMMの素子数信号出力手段が出力する素子数信号
    を検知して前記メモリ素子の全数を求める全素子数検知
    手段と、該検知手段が検知した全素子数から全リフレッ
    シュ電流値を計算し、該電流値が予め設定された閾値以
    下ならば全メモリ素子を同時に、閾値を超えていればリ
    フレッシュ電流が前記閾値以下になるように全メモリ素
    子を分割してそれぞれリフレッシュするように制御する
    リフレッシュ制御手段とを設けたことを特徴とする情報
    処理装置のメモリ増設システム。
  6. 【請求項6】 情報処理装置の本体に複数のスロットを
    備え、該スロットにメモリモジュールであるSIMMを
    選択的に挿着することによりメモリ容量を増加させるよ
    うにした情報処理装置のメモリ増設システムにおいて、 前記情報処理装置本体に、前記スロット別に前記SIM
    Mが挿着されているか否かを検知するスロット別SIM
    M検知手段と、メモリテストの時に該SIMM検知手段
    が前記スロットに挿着されていることを検知したSIM
    Mについてのみメモリテストを行うように制御するメモ
    リテスト制御手段とを設けたことを特徴とする情報処理
    装置のメモリ増設システム。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009146027A (ja) * 2007-12-12 2009-07-02 Seiko Epson Corp 電子装置、半導体記憶装置、印刷記録材収容体および制御装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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