JPH08162743A - 電子部品の接続方法及び接続装置 - Google Patents

電子部品の接続方法及び接続装置

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JPH08162743A
JPH08162743A JP6301755A JP30175594A JPH08162743A JP H08162743 A JPH08162743 A JP H08162743A JP 6301755 A JP6301755 A JP 6301755A JP 30175594 A JP30175594 A JP 30175594A JP H08162743 A JPH08162743 A JP H08162743A
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component
semiconductor device
connection
pressed
stage
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Akira Fujiwara
亮 藤原
Yasuo Iguchi
泰男 井口
Toshimitsu Yamashita
俊光 山下
Masao Ikehata
昌夫 池端
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Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 歩留まりを向上させることができるととも
に、高密度実装が可能な電子部品の接続方法及び接続装
置を提供する。 【構成】 導電性粒子11を分散した異方導電性接着剤
10を第1の部品と第2の部品との間に介在させ、第1
の部品を加圧して第2の部品に接着するものであって、
接続初期に第1の部品の接続面片側を加圧し、その後接
続面全体を略均一に加圧するようにし、接続初期に加圧
された接続面側から接着剤が流れ出すのを防止する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば回路基板と半導
体装置、半導体装置と半導体装置、回路基板と回路基板
との接続等に用いる接続方法及び接続装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】従来、このような電子部品を接続する方
法では、接着剤に異方導電性接着剤(通称「ACF」と
言う)を用いているものがある。この異方導電性接着剤
は、一般に接着剤内に微小な導電性粒子を混入させたも
のであり、導電性粒子としてはプラスチック粒子に金
(Au)等の金属性メッキを施したもの等が使用され、接
着剤としては高温時にも導電性粒子と電極の接触面積を
安定して保持できる熱硬化系や補修(リベア)性を有す
る熱硬化と熱可塑性の混合系が主に使用されている。
【0003】図13及び図14は、従来の異方導電性接
着剤を用いた回路基板と半導体装置を接続する方法の一
例を示したもので、図13は接続前の状態図、図14は
接続後の状態図である。この接続方法では、導電性粒子
51を分散してなるフィルム状に形成された異方導電性
接着剤52を使用する。また、回路基板53には基板電
極54a,54bが形成され、半導体装置55には基板
電極54a,54bに対応して半導体装置電極56a,
56bが形成されている。
【0004】そして、回路基板53上に半導体装置55
を接続する場合は、図13に示すように、ステージ57
上に載置された回路基板53と、この回路基板53に対
向して配置される半導体装置55との間に異方導電性接
着剤52を介在させ、さらに基板電極54a,54bと
半導体装置電極56a,56bとの位置合わせ、すなわ
ちアライメント(alignment )を行う。次いで、回路基
板53に対して半導体装置55を加圧する。すると、回
路基板53と半導体装置55との隙間を樹脂で埋めて異
方導電性接着剤52が入り込む。また、その後から加熱
すると硬化されて回路基板53と半導体装置55との間
が接続固定される。また、基板電極54a,54bと半
導体装置電極56a,56bとの間には導電性粒子51
が介在され、この導電性粒子51を介して基板電極54
a,54bと半導体装置電極56a,56bとの間の導
通が計られる。図14は、この状態を示している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の接続方法では、回路基板53と半導体装置55との
隙間を樹脂で十分に埋め尽くすようにするのに、異方導
電性接着剤52を厚く形成している。このため、回路基
板53に半導体装置55を強く押し付けると、実装後の
半導体装置55の周辺部分に異方導電性接着剤52がは
み出してしまうことが少なくない。また、このはみ出し
た部分が隣接する別の半導体装置55の領域まで流出
し、隣接する位置に予定している半導体装置の実装がで
きなくなったり、あるいはLED(発光ダイオード)の
ような半導体素子を実装するような場合には、その流出
した一部がLED発光部に付着して不良品となり、歩留
まりが悪いと言う問題点があった。さらに、異方導電性
接着剤52のはみ出しによる影響を避けるために、電子
部品同志の間を大きく離して実装する必要があり、高密
度実装の妨げとなっている問題もあった。
【0006】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
のであり、その目的は歩留まりを向上させることができ
るとともに、高密度実装が可能な電子部品の接続方法及
び接続装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】この目的は、本発明にあ
っては、導電性粒子を分散した接着剤を第1の部品と第
2の部品との間に介在させ、前記第1の部品を加圧して
前記第2の部品に接着する電子部品の接続方法におい
て、接続初期に前記第1の部品の接続面片側を加圧し、
その後接続面全体を略均一に加圧するようにしたことに
よって達成される。
【0008】また、前記第1の部品の後から加圧される
接続面片側に対応して、前記第2の部品上に溝を設け、
加圧時に流れ出した前記接着剤の一部を前記溝で受ける
ようにすると、さらに好ましい接続方法が達成される。
【0009】以上に加えて、前記接続初期に前記第2の
部品を傾斜させて保持し、前記第1の部品が加圧される
と、この加圧に連動して前記第2の部品とともに平坦と
なる方向に回転し、前記第1の部品と第2の部品との接
続面全体を当接可能にするためのステージを使用した場
合には、さらに好ましい接続方法並びに接続装置が達成
される。
【0010】
【作用】これによれば、接続初期に、接続面の片側で第
1の部品を第2の部品に突き合わせ、その後から接続面
全体を加圧することによりに、接続面の片側に異方導電
性接着剤が流れ出すのを止めることができ、接続面の片
側と隣接している別の部品に影響を与えるのを無くすこ
とができる。
【0011】また、第1の部品の後から加圧される接続
面片側に対応して、前記第2の部品上に溝を設け、加圧
時に流れ出した前記接着剤の一部を前記溝で受けるよう
にした場合では、接続面全体を加圧したときに、後から
加圧される接続面片側よりはみ出した接着剤の一部を溝
で受け、この後からはみ出した接着剤の一部による影響
を無くすことができる。
【0012】さらに、接続初期に第2の部品を傾斜させ
て保持し、第1の部品が加圧されると、この加圧に連動
して第2の部品と共に平坦となる方向に回転し、第1の
部品と第2の部品との接続面全体を当接可能にするため
のステージを使用した場合には、上記接続方法の実施を
より簡単に実現することができる。
【0013】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
詳細に説明する。図1乃至図3は本発明の第1の実施例
を示す工程図である。図1乃至図3において、この第1
の実施例では、LED(発光ダイオード)1上に半導体
装置4を接続する場合を示している。そのLED1の表
面には、LED素子電極1aと、配線2と、発光素子3
が形成されており、半導体装置4側にはLED1側のL
ED素子電極1aと対応して半導体装置電極4aが形成
されている。また、LED1に半導体装置4を接続する
場合は、半導体装置4がステージ5の水平面上にLED
1が位置決めされた状態で配置され、この上に半導体装
置4が載せられて取り付けられることになる。さらに、
半導体装置4はツール6の先端に設けられた図示せぬエ
アチャック手段により吸着されて、ツール6により運ば
れて来てLED1上に載せられる。この場合、半導体装
置4の接続面(LED1の上面と対向される下面)に
は、異方導電性接着剤10が仮接着されて取り付けられ
ている。なお、この異方導電性接着剤10は、接着剤内
に微小な導電性粒子11を混入させたものであり、導電
性粒子11としてはプラスチック粒子に金(Au)等の金
属性メッキを施したもの等が使用され、接着剤としては
高温時にも導電性粒子11と電極(LED素子電極1
a,半導体装置電極4a)の接触面積を安定して保持で
きる熱硬化系や補修(リベア)性を有する熱硬化と熱可
塑性の混合系が主に使用される。
【0014】そして、LED1に半導体装置4を接続す
る方法としては、まず接続面に異方導電性接着剤10が
仮接着された半導体装置4をツール6により吸着し、こ
のツール6の軸中心6aをLED1に対して角度θ1 傾
ける(図2参照)。次に、LED素子電極1aと半導体
装置電極4aとの位置合わせ、すなわちアライメントを
行う。次いで、そのままツール6を真っ直ぐ下げる。す
ると、最初に半導体装置4の片側端4bが接触点aでL
ED1に突き当たって接触する(図1参照)。また、接
触したら半導体装置4の下面(接続面)がLED1の上
面(接続面)と略平行となるまでツール6を半導体装置
4の他端側4c側に回転させ、略平行となった位置で、
その平行度を合わせて全体を加圧する。これにより、半
導体装置4とLED1との隙間を樹脂で埋めて異方導電
性接着剤10が入り込むとともに、LED素子電極1a
と半導体装置電極4aとの間に導電性粒子11が入り込
んで、LED素子電極1aと半導体装置電極4aとの間
の導通が図られる。その後、加熱を行って硬化させる
と、LED1と半導体装置4との間が接続固定され、ま
たツール6の吸着が解かれる。図3は、この接続固定さ
れた状態を示している。
【0015】したがって、この第1の実施例では、ツー
ル6により半導体装置4を角度θ1傾け、この傾けた状
態で真っ直ぐ下げ(図1中の矢印7方向)、LED1の
発光素子3が設けられている部分とLED素子電極1a
が設けられている部分との間(接触点a)で半導体装置
4の片側端4bをLED1に押し付け、この後から図1
中の矢印8方向に半導体装置4を回転させ、LED1と
半導体装置4との平行度を合わせて接続面全体を略均一
に加圧するようにしているので、発光素子3側の異方導
電性接着剤10は半導体装置4の片側端4bがLED1
に押し付けられたときに他端側、すなわち発光素子3と
反対の方向に逃がされことになる。これにより、その
後、接続面全体が均一に加圧されても発光素子3側に流
れ出す異方導電性接着剤10を無くすことが可能にな
り、発光素子3の部分に異方導電性接着剤10が付着さ
れて不良品となるのを防ぐことができ、歩留まりを良く
することができる。さらに、LED素子電極1aと発光
素子3との間隔を狭くすることが可能となり、小さなL
ED1を使用することにより高密度実装が可能になり、
またLEDのコストダウンにもつながる。なお、この第
1の実施例では、LED1に半導体装置4を接続する場
合について説明したが、これに限ることなく、これ以外
の電子部品同志の接続を行う場合にも同様にして適用す
ることができるものである。
【0016】図4乃至図7は本発明の第2の実施例を示
す工程図である。図4乃至図7において図1乃至図3と
同一符号を付したものは図1乃至図3と同一のものを示
している。また、この第2の実施例では、配線基板12
上に半導体装置4を接続する場合を示している。そし
て、配線基板12上には、半導体装置4が接続される各
位置(図4中に示す領域S毎)に、半導体装置電極4a
に対応して基板電極13a,13bが形成されていると
ともに、領域Sと領域Sとの間には溝14が形成されて
いる。
【0017】そして、配線基板12に半導体装置4を接
続する方法としては、まず配線基板12が図示せぬステ
ージの水平面上に位置決めされて配置された状態におい
て、接続面に異方導電性接着剤10が仮接着された半導
体装置4をツール6により吸着し、このツール6の軸中
心6aを配線基板12に対して角度θ2 傾ける。次に、
基板電極13aと半導体装置電極4aとの位置合わせ、
すなわちアライメントを行う。次いで、そのままツール
6を真っ直ぐ下げる。すると、最初に半導体装置4の片
側端4bが接触点aで配線基板12に突き当たって接触
する(図5参照)。また、接触したら半導体装置4の下
面(接続面)が配線基板12の上面(接続面)と略平行
となるまでツール6を半導体装置4の他端側4c側に回
転させ、略平行となった位置で、その平行度を合わせて
全体を加圧する。これにより、半導体装置4と配線基板
12との隙間を樹脂で埋めて異方導電性接着剤10が入
り込むとともに、配線電極13a,13bと半導体装置
電極4aとの間に導電性粒子11が入り込んで、配線電
極13aと半導体装置電極4aとの間の導通が図られ
る。また、このとき半導体装置4の他端側4c側より流
出された異方導電性接着剤10は、溝14内に流れ込ん
で受けられ、隣接する領域S内まで流れて行くを確実に
防ぐことができる。そして、その後、加熱を行って硬化
させると、配線基板12と半導体装置4との間が接続固
定され、またツール6の吸着が解かれる。図6は、この
接続固定された状態を示している。
【0018】したがって、この第2の実施例では、ツー
ル6により半導体装置4を角度θ2傾け、この傾けた状
態で真っ直ぐ下げ、配線基板12の配線電極13bが設
けられている部分の外側の部分(接触点a)で半導体装
置4の片側端4bを配線基板12に押し付け、この後か
ら図5中の矢印15方向に半導体装置4を回転させ、配
線基板12と半導体装置4との平行度を合わせて接続面
全体を略均一に加圧するようにしているので、配線電極
13b側から異方導電性接着剤10が流れ出すのを押さ
えることができる。また、その後、半導体装置4の片側
端4aが配線基板12に押し付けられたときに他端側、
すなわち配線電極13b側から異方導電性接着剤10が
流れ出した場合には、この流れ出した一部は溝14内で
受けられ、隣接する領域S内まで流れて行くことがなく
なり、各領域S内に異方導電性接着剤10を止めておく
ことができる。これにより、隣接する領域S内に異方導
電性接着剤10が流れ込んで不良品となるのを防ぐこと
ができ、歩留まりを良くすることができる。さらに、各
半導体装置4との間の間隔を狭くすることが可能とな
り、高密度実装が可能になる。なお、この第2の実施例
では、配線基板12に半導体装置4を接続する場合につ
いて説明したが、これに限ることなく、これ以外の電子
部品同志の接続を行う場合にも同様にして適用すること
ができるものである。
【0019】図7乃至図9は本発明の第3の実施例を示
す工程図である。図7乃至図9において図1乃至図6と
同一符号を付したものは図1乃至図6と同一のものを示
している。また、この第3の実施例では、配線基板16
上に半導体装置4を接続する場合を示している。そし
て、配線基板16上には、半導体装置4が接続される位
置に、半導体装置電極4aに対応して基板電極16a,
16bが形成されている。また、この第3の実施例に示
す方法を実施するに当たっては、この実施を容易にする
ための接続装置17が使用される。
【0020】この接続装置17は、一端側が枢軸19で
装置本体18上に取り付けられ、枢軸19を支点として
上下方向に回動自在に配されているステージ20と、こ
のステージ20の他端側を常に上方に向かって回動付勢
させている圧縮スプリング21とを有して構成されてい
る。そして、ステージ20は、上方から加圧されない状
態では圧縮スプリング21の反発力で押し上げられて角
度θ3 だけ傾斜された状態となっており、圧縮スプリン
グ21の反発力に打ち勝つ力が上方より加えられると、
枢軸19を支点として下方に回動されてステージ20と
同じ水平な位置まで移動され、さらに圧縮スプリング2
1の反発力に打ち勝つ力が取り除かれると再び上方に回
動される状態となっている。
【0021】次に、この接続装置17を用いての接続方
法を説明すると、まず装置本体18に対して角度θ3 だ
け傾斜されているステージ20上に配線基板16を位置
決めさせて載せる。したがって、この状態では、配線基
板16もステージ20に対して角度θ3 だけ傾斜された
状態となっている。そして、接続面に異方導電性接着剤
10が仮接着された半導体装置4をツール6により吸着
し、ツール6を傾けずに軸中心を真っ直ぐ上下方向に向
けたままの状態で、基板電極16a,16bと半導体装
置電極4aとの位置合わせ、すなわちアライメントを行
う(図7参照)。次いで、そのままツール6を真っ直ぐ
下げる。すると、最初に半導体装置4の片側端4bが接
触点aで配線基板16に突き当たって接触する(図8参
照)。さらに、ツール6を下降させると、半導体装置4
及び配線基板16を介して圧縮スプリング21の付勢力
に抗した下方への力がステージ20に作用し、このステ
ージ20が配線基板16と共に下方に回転される。ま
た、ステージ20が水平まで回転されると、半導体装置
4と配線基板16とが略平行となり、さらにツール6が
下降されると半導体装置4と配線基板16との間の全体
が平均して加圧される。これにより、半導体装置と配線
基板16との間の隙間を樹脂で埋めて異方導電性接着剤
10が入り込むとともに、配線電極13a,13bと半
導体装置電極4aとの間に導電性粒子11が入り込ん
で、配線電極16aと半導体装置電極4aとの間の導通
が図られる。そして、その後、加熱を行って硬化させる
と、配線基板1と半導体装置4との間が接続固定され、
またツール6の吸着が解かれる。図9は、この接続固定
された状態を示している。
【0022】したがって、この第3の実施例では、ステ
ージ20により角度θ3 だけ傾けられている配線基板1
6に対して、ツール6に吸着されて水平な状態で真っ直
ぐ下降されてくる半導体装置4は、接続初期には配線基
板16に対して角度θ3 だけ傾いた状態で押し付けら
れ、さらに下降されるとステージ20を回転させながら
半導体装置4と配線基板16を平行にし、その接続面全
体を略均一に加圧するようにしているので、半導体装置
4の片側端4bが配線基板16に押し付けられたときに
異方導電性接着剤10は他端側と反対の方向に逃がされ
ることになる。これにより、その後、接続面全体が均一
に加圧されても片側端4bにより外側に流れ出す異方導
電性接着剤10を無くすことが可能になり、他の部分に
異方導電性接着剤10が付着されて不良品となるのを防
ぐことができ、歩留まりを良くすることができる。さら
に、他の部品との間隔を狭くすることが可能となり、高
密度実装が可能になる。なお、この第3の実施例では、
配線基板16に半導体装置4を接続する場合について説
明したが、これに限ることなく、これ以外の電子部品同
志の接続を行う場合にも同様にして適用することができ
るものである。また、第2の実施例の場合と同様に、半
導体装置4が取り付けられる領域との間に溝を設けた構
造にしても勿論良いものである。
【0023】図10乃至図12は本発明の第4の実施例
を示す工程図である。図10乃至図12において図1乃
至図9と同一符号を付したものは図1乃至図9と同一の
ものを示している。また、この第4の実施例では、第3
の実施例の場合と同様に配線基板16上に半導体装置4
を接続する場合を示している。そして、配線基板16上
には、半導体装置4が接続される位置に、半導体装置電
極4aに対応して基板電極16a,16bが形成されて
いる。また、この第4の実施例に示す方法を実施するに
当たっては、この実施を容易にするため第3の実施例で
使用したものと同じ構造をした接続装置17が使用され
る。
【0024】次に、この第4の実施例における接続方法
を説明すると、まず装置本体18に対して角度θ3 だけ
傾斜されているステージ20上に、異方導電性接着剤1
0により仮接着されて半導体装置4が配線基板16に予
め位置決めされている状態にして載せる。したがって、
この状態では、配線基板16及び半導体装置4もステー
ジ20に対して角度θ3 だけ傾斜された状態となってい
る(図10参照)。次いで、ツール26を傾けずに軸中
心を真っ直ぐ上下方向に向けたままの状態で、ツール2
6を下降させる。すると、最初にツール26の一部が半
導体装置4の片側端4bにおける接触点bで半導体装置
4に突き当たって接触する(図11参照)。さらに、ツ
ール26を下降させると、半導体装置4及び配線基板1
6を介して圧縮スプリング21の付勢力に抗した下方へ
の力がステージ20に作用し、ステージ20が配線基板
16と共に下方に回転される。また、ステージ20が水
平まで回転されると、半導体装置4と配線基板16とが
略平行となり、さらにツール26が下降されると半導体
装置4と配線基板16との間の全体が平均して加圧され
る。これにより、半導体装置と配線基板16との間にお
ける隙間を樹脂で埋めて異方導電性接着剤10が入り込
むとともに、配線電極13a,13bと半導体装置電極
4aとの間に導電性粒子11が入り込んで、配線電極1
6aと半導体装置電極4aとの間の導通が図られる。そ
して、その後、加熱を行って硬化させると、配線基板1
6と半導体装置4との間が接続固定される。図12は、
この接続固定された状態を示している。
【0025】したがって、この第4の実施例でも、接続
初期には半導体装置4を介してツール26が配線基板1
6に角度θ3 だけ傾いた状態で押し付けられ、さらに下
降されるとステージ20を回転させながら半導体装置4
と配線基板16とを平行にし、その接続面全体を略均一
に加圧するようにしているので、接続初期には異方導電
性接着剤10の一部は接続面の内側方向に逃がされるこ
とになる。これにより、その後、接続面全体が均一に加
圧されても片側端4bにより外側に流れ出す異方導電性
接着剤10を無くすことが可能になり、他の部分に異方
導電性接着剤10が付着されて不良品となるのを防ぐこ
とができ、歩留まりを良くすることができる。さらに、
他の部品との間隔を狭くすることが可能となり、高密度
実装が可能になる。なお、この第4の実施例も、配線基
板16に半導体装置4を接続する場合について説明した
が、これに限ることなく、これ以外の電子部品同志の接
続を行う場合にも同様にして適用することができるもの
である。また、第2の実施例の場合と同様に、半導体装
置4が取り付けられる領域との間に溝を設けた構造にし
ても勿論良いものである。
【0026】さらに、上記第1乃至第4の各実施例にお
いては、熱硬化型の異方導電性接着剤10を用いた場合
に付いて説明したが、紫外線硬化型の異方導電性接着剤
10を用いても差し支えないものである。
【0027】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
接続初期に、接続面の片側で第1の部品を第2の部品に
突き合わせ、その後から接続面全体を加圧することによ
りに、接続面の片側に異方導電性接着剤が流れ出すのを
止め、接続面の片側と隣接している別の部品に影響を与
えるのを無くすことができる。これにより、高密度実装
が可能になるとともに、歩留まりも向上する。また、第
1の部品の後から加圧される接続面片側に対応して、前
記第2の部品上に溝を設け、加圧時に流れ出した前記接
着剤の一部を前記溝で受けるようにした場合では、接続
面全体を加圧したときに、後から加圧される接続面片側
よりはみ出した接着剤の一部を溝で受け、この後からは
み出した接着剤の一部による影響をも無くすことができ
る。これにより、さらに高密度実装が可能になるととも
に、歩留まりもさらに向上する。また素子等に樹脂をは
み出さなくすることができるので、部品を小さくするこ
とができコストダウンにもつながる。さらに、接続初期
に第2の部品を傾斜させて保持し、第1の部品が加圧さ
れると、この加圧に連動して第2の部品と共に平坦とな
る方向に回転し、第1の部品と第2の部品との接続面全
体を当接可能にするためのステージを使用した場合に
は、上記接続方法の実施をより簡単に実現することが可
能になる、等の効果が期待できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を説明するための図であ
る。
【図2】本発明の第1の実施例を説明するための図であ
る。
【図3】本発明の第1の実施例を説明するための図であ
る。
【図4】本発明の第2の実施例を説明するための図であ
る。
【図5】本発明の第2の実施例を説明するための図であ
る。
【図6】本発明の第2の実施例を説明するための図であ
る。
【図7】本発明の第3の実施例を説明するための図であ
る。
【図8】本発明の第3の実施例を説明するための図であ
る。
【図9】本発明の第3の実施例を説明するための図であ
る。
【図10】本発明の第4の実施例を説明するための図で
ある。
【図11】本発明の第4の実施例を説明するための図で
ある。
【図12】本発明の第4の実施例を説明するための図で
ある。
【図13】従来の接続方法を説明するための図である。
【図14】従来の接続方法を説明するための図である。
【符号の説明】
1 LED(第2の部品) 4 半導体装置 6 ツール 10 異方導電性
接着剤 11 導電性粒子 12 配線基板
(第2の部品) 14 溝 16 配線基板
(第2の部品) 17 接続装置 20 ステージ 26 ツール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 池端 昌夫 東京都港区虎ノ門1丁目7番12号 沖電気 工業株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導電性粒子を分散した接着剤を第1の部
    品と第2の部品との間に介在させて、前記第1の部品を
    前記第2の部品に対して押し付け、前記第1の部品と前
    記第2の部品を接着する電子部品の接続方法において、 接続初期に前記第1の部品の接続面片側を前記第2の部
    品に押し付け、その後接続面全体を略均一に加圧するこ
    とを特徴とする電子部品の接続方法。
  2. 【請求項2】 前記第1の部品の後から加圧される接続
    面片側に対応して、前記第2の部品上に溝を設け、加圧
    時に流れ出した前記接着剤の一部を前記溝で受けるよう
    にした請求項1に記載の電子部品の接続方法。
  3. 【請求項3】 前記接続初期に前記第2の部品を傾斜さ
    せて保持し、前記第1の部品が前記第2の部品に対して
    押し付けられると、この押し付けに連動して前記第2の
    部品と共に平坦となる方向に回転し、前記第1の部品と
    前記第2の部品との接続面全体を略均一に加圧するため
    のステージを使用してなる請求項1または2に記載の電
    子部品の接続方法。
  4. 【請求項4】 導電性粒子を分散した接着剤を第1の部
    品と第2の部品との間に介在させ、前記第1の部品を加
    圧して前記第2の部品に接着する電子部品の接続装置に
    おいて、 接続初期に前記第2の部品を傾斜させて保持して前記第
    1の部品の接続面片側が前記第2の部品に当接されるの
    を許容し、前記第1の部品が前記第2の部品に押し付け
    られると、この押し付けに連動して前記第2の部品と共
    に平坦となる方向に回転し、前記第1の部品と前記第2
    の部品との接続面全体を略均一に加圧するためのステー
    ジを設けたことを特徴とする電子部品の接続装置。
JP6301755A 1994-12-06 1994-12-06 電子部品の接続方法及び接続装置 Pending JPH08162743A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011014931A (ja) * 2010-10-06 2011-01-20 Sony Chemical & Information Device Corp 接続方法及び接続構造体

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011014931A (ja) * 2010-10-06 2011-01-20 Sony Chemical & Information Device Corp 接続方法及び接続構造体

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