JPH08159916A - 変位付与試料ホルダ - Google Patents
変位付与試料ホルダInfo
- Publication number
- JPH08159916A JPH08159916A JP30662894A JP30662894A JPH08159916A JP H08159916 A JPH08159916 A JP H08159916A JP 30662894 A JP30662894 A JP 30662894A JP 30662894 A JP30662894 A JP 30662894A JP H08159916 A JPH08159916 A JP H08159916A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- micrometer
- holders
- opening amount
- spindle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Gripping Jigs, Holding Jigs, And Positioning Jigs (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な構造で開口量を高精度に読み取ること
ができる変位付与試料ホルダを提供すること。 【構成】 ベース部材１と、ベース部材１に互いに離接
する方向に移動可能に係合し、試料を挟み込み式に保持
する試料台１０，１１を有する一対の可動ホルダ５，６
と、ベース部材１より回転可能に支持されて一対の可動
ホルダ５，６の各々にねじ係合し、一対の可動ホルダ
５，６を互いに離接する方向に駆動する両ねじ棒２１
と、シンブル３２が回転可能に取り付けられた本体３０
がベース部材１に移動可能に取り付けられ、スピンドル
３１が両ねじ棒２１に連結されたマイクロメータ２９と
を設ける。
ができる変位付与試料ホルダを提供すること。 【構成】 ベース部材１と、ベース部材１に互いに離接
する方向に移動可能に係合し、試料を挟み込み式に保持
する試料台１０，１１を有する一対の可動ホルダ５，６
と、ベース部材１より回転可能に支持されて一対の可動
ホルダ５，６の各々にねじ係合し、一対の可動ホルダ
５，６を互いに離接する方向に駆動する両ねじ棒２１
と、シンブル３２が回転可能に取り付けられた本体３０
がベース部材１に移動可能に取り付けられ、スピンドル
３１が両ねじ棒２１に連結されたマイクロメータ２９と
を設ける。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試料を挟み込み式に保
持し、試料に所定方向の変位を与える変位付与試料ホル
ダに関する。
持し、試料に所定方向の変位を与える変位付与試料ホル
ダに関する。
【０００２】
【従来の技術】眼内レンズを顕微鏡により観察して検査
する際、眼内レンズは変位付与試料ホルダで保持され
る。この種の試料ホルダは、ベース部材と、ベース部材
に互いに離接する方向に移動可能に係合し、試料を挟み
込み式に保持する試料台を有する一対の可動ホルダと、
ベース部材より回転可能に支持されて一対の可動ホルダ
の各々にねじ係合し、一対の可動ホルダを互いに離接す
る方向に駆動する両ねじ棒とを有し、両開きの精密バイ
スと同じような構造になっている。
する際、眼内レンズは変位付与試料ホルダで保持され
る。この種の試料ホルダは、ベース部材と、ベース部材
に互いに離接する方向に移動可能に係合し、試料を挟み
込み式に保持する試料台を有する一対の可動ホルダと、
ベース部材より回転可能に支持されて一対の可動ホルダ
の各々にねじ係合し、一対の可動ホルダを互いに離接す
る方向に駆動する両ねじ棒とを有し、両開きの精密バイ
スと同じような構造になっている。
【０００３】この変位付与試料ホルダにおいては、両ね
じ棒をハンドルで回転させることにより、一対の可動ホ
ルダを互いに離接する方向に動かし、一対の可動ホルダ
の間隔を狭めることにより試料台に挟み込み式に保持さ
れている試料に圧縮方向の変位を与えることができる。
じ棒をハンドルで回転させることにより、一対の可動ホ
ルダを互いに離接する方向に動かし、一対の可動ホルダ
の間隔を狭めることにより試料台に挟み込み式に保持さ
れている試料に圧縮方向の変位を与えることができる。
【０００４】この場合、試料に与える圧縮方向の変位量
を知るために、一対の可動ホルダの間隔、すなわち開口
量を読み取る。従来、この開口量の読み取りは、ベース
部材に設けられた目盛りを読み取るか、あるい両ねじ棒
の回転量をロータリエンコーダにより検出し、この回転
量と両ねじ棒のねじピッチより開口量を演算している。
を知るために、一対の可動ホルダの間隔、すなわち開口
量を読み取る。従来、この開口量の読み取りは、ベース
部材に設けられた目盛りを読み取るか、あるい両ねじ棒
の回転量をロータリエンコーダにより検出し、この回転
量と両ねじ棒のねじピッチより開口量を演算している。
【０００５】
【発明が解決しようする課題】しかしながら、ベース部
材に設けられた目盛りを読み取る方式では、開口量の読
み取り精度が悪く、開口量の読み取りに個人差が生じ
る。ロータリエンコーダによる方式では、開口量を高精
度に読み取ることができるが、ロータリエンコーダや演
算回路などが必要になり、コストアップとなる。
材に設けられた目盛りを読み取る方式では、開口量の読
み取り精度が悪く、開口量の読み取りに個人差が生じ
る。ロータリエンコーダによる方式では、開口量を高精
度に読み取ることができるが、ロータリエンコーダや演
算回路などが必要になり、コストアップとなる。
【０００６】本発明は、簡単にして廉価な構造で開口量
を高精度に読み取ることができる変位付与試料ホルダを
提供することを目的としている。
を高精度に読み取ることができる変位付与試料ホルダを
提供することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明による変位付与試料ホルダは、ベース部材
と、ベース部材に互いに離接する方向に移動可能に係合
し、試料を挟み込み式に保持する試料台を有する一対の
可動ホルダと、ベース部材より回転可能に支持されて一
対の可動ホルダの各々にねじ係合し、一対の可動ホルダ
を互いに離接する方向に駆動する両ねじ棒と、本体に対
してシンブルを回転することにより回転しながら本体に
対して進退するスピンドルを備え、本体がベース部材に
移動可能に取り付けられるとともに、スピンドルを両ね
じ棒に連結されたマイクロメータとを具備する。
めに、本発明による変位付与試料ホルダは、ベース部材
と、ベース部材に互いに離接する方向に移動可能に係合
し、試料を挟み込み式に保持する試料台を有する一対の
可動ホルダと、ベース部材より回転可能に支持されて一
対の可動ホルダの各々にねじ係合し、一対の可動ホルダ
を互いに離接する方向に駆動する両ねじ棒と、本体に対
してシンブルを回転することにより回転しながら本体に
対して進退するスピンドルを備え、本体がベース部材に
移動可能に取り付けられるとともに、スピンドルを両ね
じ棒に連結されたマイクロメータとを具備する。
【０００８】
【作用】マイクロメータのシンブルを回すことによって
スピンドルとともに両ねじ棒が回転し、この両ねじ棒の
回転により一対の可動ホルダが互いに離接する方向に移
動して開口量が変化する。このとき、マイクロメータの
本体に対してスピンドルが進退するから、その本体は可
動ホルダとともに移動する。開口量はシンブルの回転に
より変化し、マイクロメータの計測値は開口量を示すこ
とになる。
スピンドルとともに両ねじ棒が回転し、この両ねじ棒の
回転により一対の可動ホルダが互いに離接する方向に移
動して開口量が変化する。このとき、マイクロメータの
本体に対してスピンドルが進退するから、その本体は可
動ホルダとともに移動する。開口量はシンブルの回転に
より変化し、マイクロメータの計測値は開口量を示すこ
とになる。
【０００９】
【実施例】図１〜図３は本発明による変位付与試料ホル
ダの一実施例を示している。変位付与試料ホルダはベー
ス部材１を有しており、ベース部材１には逆台形状断面
のガイド部材２，３が各々ボルト４により互いに平行に
固定されている。ガイド部材２と３との間には一対の可
動ホルダ５，６が互いに離接する方向（図１、図２で見
て左右方向）に摺動可能に係合している。
ダの一実施例を示している。変位付与試料ホルダはベー
ス部材１を有しており、ベース部材１には逆台形状断面
のガイド部材２，３が各々ボルト４により互いに平行に
固定されている。ガイド部材２と３との間には一対の可
動ホルダ５，６が互いに離接する方向（図１、図２で見
て左右方向）に摺動可能に係合している。
【００１０】可動ホルダ５，６の上面部には各々試料台
取り付けブロック７，８がボルト９によって固定装着さ
れており、試料台取付ブロック７，８には試料台１０，
１１がボルト１３により取り付けられている。これらの
試料台１０，１１は、底板１０ａ，１１ａと、ねじ１２
によって底板１０ａ，１１ａに固定された上板１０ｃ，
１１ｃとから成り、上板１０ｃ，１ｃには半円状の切り
欠き部１０ｂ、１１ｂが形成されている。半円状の切り
欠き部１０ｂ，１１ｂにより試料装填部が形成され、装
填された試料は試料台１０，１１により両側より挟み込
まれるようにされている。
取り付けブロック７，８がボルト９によって固定装着さ
れており、試料台取付ブロック７，８には試料台１０，
１１がボルト１３により取り付けられている。これらの
試料台１０，１１は、底板１０ａ，１１ａと、ねじ１２
によって底板１０ａ，１１ａに固定された上板１０ｃ，
１１ｃとから成り、上板１０ｃ，１ｃには半円状の切り
欠き部１０ｂ、１１ｂが形成されている。半円状の切り
欠き部１０ｂ，１１ｂにより試料装填部が形成され、装
填された試料は試料台１０，１１により両側より挟み込
まれるようにされている。
【００１１】試料台１０の試料台取付ブロック７に対す
る取り付け位置は不変であるのに対し、試料台１１は、
試料台取付ブロック８に対して可動ホルダ５，６の離接
方向に取り付け位置を変更可能に取り付けられており、
調節ねじ１４により取り付け位置を微調整できるように
なっている。
る取り付け位置は不変であるのに対し、試料台１１は、
試料台取付ブロック８に対して可動ホルダ５，６の離接
方向に取り付け位置を変更可能に取り付けられており、
調節ねじ１４により取り付け位置を微調整できるように
なっている。
【００１２】ベース部材１には可動ホルダ５，６の両外
側位置にボルト１５，１６によって軸受けブロック１
７，１８が固定装着されている。軸受けブロック１７，
１８はブッシュ１９，２０によって両ねじ棒２１を回転
可能に支持している。
側位置にボルト１５，１６によって軸受けブロック１
７，１８が固定装着されている。軸受けブロック１７，
１８はブッシュ１９，２０によって両ねじ棒２１を回転
可能に支持している。
【００１３】両ねじ棒２１は、可動ホルダ５，６の離接
方向に延在して、右ねじ部２２にて可動ホルダ５のねじ
孔２３に貫通螺合し、左ねじ部２４にて可動ホルダ６の
ねじ孔２５に貫通螺合し、一方向に回転されることによ
り可動ホルダ５と６を互いに接近する方向へ駆動し、逆
方向に回転されることにより可動ホルダ５と６を互いに
離れる方向へ駆動する。
方向に延在して、右ねじ部２２にて可動ホルダ５のねじ
孔２３に貫通螺合し、左ねじ部２４にて可動ホルダ６の
ねじ孔２５に貫通螺合し、一方向に回転されることによ
り可動ホルダ５と６を互いに接近する方向へ駆動し、逆
方向に回転されることにより可動ホルダ５と６を互いに
離れる方向へ駆動する。
【００１４】ガイド部材２と３との間には、マイクロメ
ータ支持スライダ２６が可動ホルダ５，６の移動方向と
同方向に摺動可能に係合している。マイクロメータ支持
スライダ２６の端面部には半割形状のマイクロメータ取
付部材２７が固定されており、マイクロメータ取付部材
２７はボルト２８により締結されてマイクロメータ２９
の本体（スリーブ）３０を取り外し可能に支持してい
る。
ータ支持スライダ２６が可動ホルダ５，６の移動方向と
同方向に摺動可能に係合している。マイクロメータ支持
スライダ２６の端面部には半割形状のマイクロメータ取
付部材２７が固定されており、マイクロメータ取付部材
２７はボルト２８により締結されてマイクロメータ２９
の本体（スリーブ）３０を取り外し可能に支持してい
る。
【００１５】マイクロメータ２９は、一般的構造による
ティジタル表示式のものであり、本体３０にスピンドル
３１を回転させるシンブル３２が回転可能に設けられて
おり、また本体３０にはディジタル表示部３３とリセッ
ト、ホールドなどの機能ボタン３４を有するディジタル
表示ユニット３５が取り付けられている。
ティジタル表示式のものであり、本体３０にスピンドル
３１を回転させるシンブル３２が回転可能に設けられて
おり、また本体３０にはディジタル表示部３３とリセッ
ト、ホールドなどの機能ボタン３４を有するディジタル
表示ユニット３５が取り付けられている。
【００１６】スピンドル３１は両ねじ棒２１と同一軸線
上に配置されており、ねじ止め式のカップリング３７に
よって両ねじ棒２１の軸端部３８に連結されている。両
ねじ棒２１の右ねじ部２２および左ねじ部２４のピッチ
は、マイクロメータ２９のシンブル３２の一回転当たり
のスピンドル移動量の半分の値に設定されている。
上に配置されており、ねじ止め式のカップリング３７に
よって両ねじ棒２１の軸端部３８に連結されている。両
ねじ棒２１の右ねじ部２２および左ねじ部２４のピッチ
は、マイクロメータ２９のシンブル３２の一回転当たり
のスピンドル移動量の半分の値に設定されている。
【００１７】なお、可動ホルダ５，６と、軸受けブロッ
ク１７と、マイクロメータ支持スライダ２６には各々、
ばね止め具３９〜４２が取り付けられており、ばね止め
具３９と４２、４０と４１との間には各々バックラッシ
ュ除去用の引っ張りばね４３，４４が取り付けられてい
る。
ク１７と、マイクロメータ支持スライダ２６には各々、
ばね止め具３９〜４２が取り付けられており、ばね止め
具３９と４２、４０と４１との間には各々バックラッシ
ュ除去用の引っ張りばね４３，４４が取り付けられてい
る。
【００１８】つぎに上述の構成よりなる変位付与試料ホ
ルダの初期調整の手順を説明する。先ず、マイクロメー
タ２９をマイクロメータ支持スライダ２６より取り外し
た状態で、既知の外径の基準丸棒を試料台１０，１１の
切り欠き部１０ｂ，１１ｂに入れ、両ねじ棒２１の回転
によって可動ホルダ５と６を互いに近づける方向へ移動
させるか、あるいは試料台１１の試料台取付ブロック８
に対する取付位置の調整により、試料台１０，１１によ
って基準丸棒を両側より挟み込む。
ルダの初期調整の手順を説明する。先ず、マイクロメー
タ２９をマイクロメータ支持スライダ２６より取り外し
た状態で、既知の外径の基準丸棒を試料台１０，１１の
切り欠き部１０ｂ，１１ｂに入れ、両ねじ棒２１の回転
によって可動ホルダ５と６を互いに近づける方向へ移動
させるか、あるいは試料台１１の試料台取付ブロック８
に対する取付位置の調整により、試料台１０，１１によ
って基準丸棒を両側より挟み込む。
【００１９】次にマイクロメータ２９の計測値が基準丸
棒の外径と同じ値になるようにシンブル３２を回し、こ
のマイクロメータ２９の初期設定完了後に、マイクロメ
ータ２９の本体３０をマイクロメータ取付部材２７によ
ってマイクロメータ支持スライダ２６に取り付け、カッ
プリング３７によってスピンドル３１を両ねじ棒２１の
軸端部３８に連結する。
棒の外径と同じ値になるようにシンブル３２を回し、こ
のマイクロメータ２９の初期設定完了後に、マイクロメ
ータ２９の本体３０をマイクロメータ取付部材２７によ
ってマイクロメータ支持スライダ２６に取り付け、カッ
プリング３７によってスピンドル３１を両ねじ棒２１の
軸端部３８に連結する。
【００２０】これにより可動ホルダ５と６の開口量とマ
イクロメータ２９の計測値とが一致し、初期調整が完了
する。なお、基準丸棒が試料の標準寸法と同じものであ
るような場合には、この初期調整完了段階で、マイクロ
メータ２９のディジタル表示部３３の表示値を零にリセ
ットしてもよい。
イクロメータ２９の計測値とが一致し、初期調整が完了
する。なお、基準丸棒が試料の標準寸法と同じものであ
るような場合には、この初期調整完了段階で、マイクロ
メータ２９のディジタル表示部３３の表示値を零にリセ
ットしてもよい。
【００２１】試料は基準丸棒に代えて試料台１０，１１
の切り欠き部１０ｂ，１１ｂに入れられる。試料に圧縮
方向の変位を与える場合には、マイクロメータ２９のシ
ンブル３２を回してスピンドル３１を回転させる。この
スピンドル３１の回転によって両ねじ棒２１が回転し、
可動ホルダ５と６が互いに接近する方向へ移動し、可動
ホルダ５と６の開口量が減少するとともに試料が試料台
１０，１１により挟まれ、試料に圧縮方向の変位が与え
られる。なお、このスピンドル３１の回転に伴い本体３
０の全体がマイクロメータ支持スライダ２６にともに軸
線方向へ移動することになる。
の切り欠き部１０ｂ，１１ｂに入れられる。試料に圧縮
方向の変位を与える場合には、マイクロメータ２９のシ
ンブル３２を回してスピンドル３１を回転させる。この
スピンドル３１の回転によって両ねじ棒２１が回転し、
可動ホルダ５と６が互いに接近する方向へ移動し、可動
ホルダ５と６の開口量が減少するとともに試料が試料台
１０，１１により挟まれ、試料に圧縮方向の変位が与え
られる。なお、このスピンドル３１の回転に伴い本体３
０の全体がマイクロメータ支持スライダ２６にともに軸
線方向へ移動することになる。
【００２２】両ねじ棒２１の右ねじ部２２および左ねじ
部２４のピッチを、マイクロメータ２９のシンブル３２
の一回転当たりのスピンドル移動量の半分の値に設定す
ることにより、シンブル３２の一回転によって可動ホル
ダ５と６が各々マイクロメータ２９のシンブル３２の一
回転当たりのスピンドル移動量の半分だけ移動する。こ
れにより、マイクロメータ２９の計測値は常に可動ホル
ダ５と６の開口量あるいはそれに対応する値を示し、可
動ホルダ５と６の開口量はマイクロメータ２９の計測精
度をもって正確に検出される。
部２４のピッチを、マイクロメータ２９のシンブル３２
の一回転当たりのスピンドル移動量の半分の値に設定す
ることにより、シンブル３２の一回転によって可動ホル
ダ５と６が各々マイクロメータ２９のシンブル３２の一
回転当たりのスピンドル移動量の半分だけ移動する。こ
れにより、マイクロメータ２９の計測値は常に可動ホル
ダ５と６の開口量あるいはそれに対応する値を示し、可
動ホルダ５と６の開口量はマイクロメータ２９の計測精
度をもって正確に検出される。
【００２３】試料ホルダを眼内レンズの検査用に使用す
る場合には、眼内レンズの周縁から突出しているＪ字状
の部分をホルダで左右から圧縮し、そのとき、レンズ部
分がその中心軸に沿って膨出したり、縮小することを光
学顕微鏡で観察する。
る場合には、眼内レンズの周縁から突出しているＪ字状
の部分をホルダで左右から圧縮し、そのとき、レンズ部
分がその中心軸に沿って膨出したり、縮小することを光
学顕微鏡で観察する。
【００２４】なお、デジタル式表示器を備えないマイク
ロメータを使用してもよい。この場合、ゼロリセット機
能がないから、試料を装填した時の初期値と、試料台を
移動した時のマイクロメータの計測値との差を求めて、
試料の変位量を知ることになる。また、眼内レンズの検
査用試料ホルダとして説明したが、試料は眼内レンズに
限定されず、種々の試料のホルダとして使用でき、顕微
鏡で観察するためのホルダにも限定されない。たとえ
ば、材料試験機における曲げ試験の支点の移動機構にも
使用できる。
ロメータを使用してもよい。この場合、ゼロリセット機
能がないから、試料を装填した時の初期値と、試料台を
移動した時のマイクロメータの計測値との差を求めて、
試料の変位量を知ることになる。また、眼内レンズの検
査用試料ホルダとして説明したが、試料は眼内レンズに
限定されず、種々の試料のホルダとして使用でき、顕微
鏡で観察するためのホルダにも限定されない。たとえ
ば、材料試験機における曲げ試験の支点の移動機構にも
使用できる。
【００２５】
【発明の効果】以上の説明から理解されるように、本発
明による変位付与試料ホルダによれば、マイクロメータ
のシンブルを回すことによってスピンドルとともに両ね
じ棒が回転し、この両ねじ棒の回転により一対の可動ホ
ルダが互いに離接する方向に移動して開口量が変化する
から、簡単な構造でマイクロメータの計測値から開口量
を高精度に読み取ることができる。
明による変位付与試料ホルダによれば、マイクロメータ
のシンブルを回すことによってスピンドルとともに両ね
じ棒が回転し、この両ねじ棒の回転により一対の可動ホ
ルダが互いに離接する方向に移動して開口量が変化する
から、簡単な構造でマイクロメータの計測値から開口量
を高精度に読み取ることができる。
【図１】本発明による変位付与試料ホルダの一実施例を
示す平面図である。
示す平面図である。
【図２】図１の線Ａ−Ａによる断面図である。
【図３】図１の線Ｂ−Ｂによる断面図である。
１ ベース部材 ５，６ 可動ホルダ １０，１１ 試料台 ２１ 両ねじ棒 ２６ マイクロメータ支持スライダ ２９ マイクロメータ ３０ 本体 ３１ スピンドル ３２ シンブル ３５ ディジタル表示ユニット
Claims (1)
- 【請求項１】 ベース部材と、前記ベース部材に互いに
離接する方向に移動可能に係合し、試料を挟み込み式に
保持する試料台を有する一対の可動ホルダと、前記ベー
ス部材より回転可能に支持されて前記一対の可動ホルダ
の各々にねじ係合し、前記一対の可動ホルダを互いに離
接する方向に駆動する両ねじ棒と、本体に対してシンブ
ルを回転することにより回転しながら前記本体に対して
進退するスピンドルを備え、前記本体が前記ベース部材
に移動可能に取り付けられるとともに、前記スピンドル
が前記両ねじ棒に連結されたマイクロメータとを具備す
ることを特徴とする変位付与試料ホルダ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30662894A JP3312510B2 (ja) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | 変位付与試料ホルダ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30662894A JP3312510B2 (ja) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | 変位付与試料ホルダ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08159916A true JPH08159916A (ja) | 1996-06-21 |
| JP3312510B2 JP3312510B2 (ja) | 2002-08-12 |
Family
ID=17959384
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30662894A Expired - Fee Related JP3312510B2 (ja) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | 変位付与試料ホルダ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3312510B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106767225A (zh) * | 2017-03-09 | 2017-05-31 | 吉林大学 | 一种多模式螺旋测微器及测量方法 |
| JP2020062711A (ja) * | 2018-10-16 | 2020-04-23 | 株式会社イマオコーポレーション | クランプ装置およびクランプシステム |
| JP2021133452A (ja) * | 2020-02-26 | 2021-09-13 | 株式会社ナベヤ | クランプ中心可変バイス |
-
1994
- 1994-12-09 JP JP30662894A patent/JP3312510B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106767225A (zh) * | 2017-03-09 | 2017-05-31 | 吉林大学 | 一种多模式螺旋测微器及测量方法 |
| CN106767225B (zh) * | 2017-03-09 | 2019-04-19 | 吉林大学 | 一种多模式螺旋测微器及测量方法 |
| JP2020062711A (ja) * | 2018-10-16 | 2020-04-23 | 株式会社イマオコーポレーション | クランプ装置およびクランプシステム |
| JP2021133452A (ja) * | 2020-02-26 | 2021-09-13 | 株式会社ナベヤ | クランプ中心可変バイス |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3312510B2 (ja) | 2002-08-12 |
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