JPH0815501A - 赤外域用反射防止膜 - Google Patents

赤外域用反射防止膜

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JPH0815501A
JPH0815501A JP6147908A JP14790894A JPH0815501A JP H0815501 A JPH0815501 A JP H0815501A JP 6147908 A JP6147908 A JP 6147908A JP 14790894 A JP14790894 A JP 14790894A JP H0815501 A JPH0815501 A JP H0815501A
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Hajime Takeya
元 竹谷
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章 古谷
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 反射防止特性と耐久性に優れた赤外域用反射
防止膜を提供すること。 【構成】 赤外域用反射防止膜において、該反射防止膜
が基板側から順に、Al層、Ge層、ZnS層、
金属フッ化物層の4層であることを特徴とする赤外域用
反射防止膜。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、赤外域用反射防止膜に
関する。
【0002】
【従来の技術】最近、赤外線による光学機器の利用が盛
んになっており、たとえば夜間の監視や温度計測などに
活用されている。この応用の拡大に伴い、高性能な赤外
域用反射防止膜の開発が要望されている。ところで、赤
外域用反射防止膜の基板となるレンズ材料やウィンド材
料の屈折率は、かなり高い。これら屈折率の高い材料単
体では反射のロスが大きくそのままでは使い物にならな
い。とくに赤外域でのレンズ材料としてよく使われるの
は屈折率が4のGe、屈折率が3.4のSiであるが、
光学機器の高性能化にともない、屈折率が5のTe、屈
折率が3.3のGaAsおよびGe、Si、As、S
e、Teなどを調合することによってえられる屈折率が
3以上のカルコゲナイドガラスなどもレンズやウィンド
の材料として適用されてきている。したがってこれら屈
折率の高い基板材料に対する反射防止膜のコーティング
をいかに行なうかが一層重要となってきている。
【0003】従来、これらの反射防止膜の最も簡便な方
法としては、基板の屈折率をnsとしたとき、ns1/2
の屈折率の膜を、透過させたい波長のおよそ1/4の光
学膜厚(=屈折率×膜厚)で基板上にコーティングする
方法がある。ここで赤外線において透過させたい波長と
いうのは、水蒸気の吸収がなく遠方まで光線の透過がよ
い「大気の窓」と称される帯域で、2〜2.5μm、3
〜5μm、8〜12μmであり、その中心波長である
2.25μm、4μm、10μmのうちのどれかのおよ
そ1/4にその光学膜厚が合わされるのが常である。た
だし、この単層膜(1層の膜)による反射防止膜は容易
に作製できる反面、帯域全体に渡った反射防止の効果は
期待できない。
【0004】これらの解決策として、現在では多層の反
射防止膜によって帯域全体に渡る反射防止性を付与して
いる。たとえば、特開昭64−15703号公報、特開
平2−135401号公報、特公平2−11121号公
報、特公平2−13761号公報にあるように、基板側
から順に、ZnS層、Ge層、ZnS層、金属フッ化物
層の4層を形成するものや、一部これを改良したものが
知られている。特公平2−11121号公報では、上記
構成の最外層である金属フッ化物の上にさらにZnSを
積層しているが、これは耐久性に乏しい金属フッ化物を
保護するための改良を行なったものである。
【0005】また、特開平4−221901号公報は、
基板に一番近い1層目にSiOを配し、順次Ge、Z
nS、金属フッ化物の4層の膜を構成している。さらに
また、赤外域の反射防止膜の他の例として、特開平4−
136901号公報では、基板から順に金属フッ化物
層、SiまたはGe層、金属フッ化物層、MgFまた
はCaF層の4層により構成されている反射防止膜が
示されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】前記特開昭64−15
703号公報などの技術のばあいは、特開平4−221
901号公報ですでに指摘されているとおり、たとえば
該技術のZnSは基板との接着性がわるく、したがっで
該技術の膜構成は耐久性に難点がある。また、前記特開
平4−221901号公報の技術のばあいは、波長約2
〜3μmでの赤外光に対するSiO層の吸収が問題で
ある。この吸収はSiOに含有されるHOの吸収で
あり、通常使われる成膜法の電子ビーム蒸着法やスパッ
タ法ではこの吸収の発生は避けられず、この領域を含む
反射防止膜として高い特性は期待できない。さらに前記
特開平4−136901号公報の技術は、金属フッ化物
を多層化しているが、金属フッ化物を緻密な膜とするた
めには基板温度を高くして蒸着することが必要となる。
一般にこのばあい、膜の内部に発生する引っ張り応力は
高くなり、このように金属フッ化物を3層も積層すると
クラックが発生するなどの耐久性に欠ける問題がある。
【0007】すなわち、本発明は、前記問題を解消する
ためになされたもので、反射防止特性と耐久性の優れた
反射防止膜を提供することを目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の赤外域用反射防
止膜は、該反射防止膜が基板側から順に、Al
層、Ge層、ZnS層、金属フッ化物層の4層が積層
されていることを特徴とする赤外域用反射防止膜であ
る。
【0009】また、前記金属フッ化物は、MgF、C
eF、YF、ThF、CaFおよびクライオラ
イトから選ばれた一種であることが好ましい。
【0010】また、該反射防止膜がコーティングされて
いる基板は、Ge、Si、GaAsおよびTeから選ば
れた一種であることが好ましい。
【0011】また、該反射防止膜がコーティングされる
他の基板は、屈折率が3以上のカルコゲナイドガラスで
あることが好ましい。
【0012】また、基板をGeとしたばあいには、各層
の光学膜厚の範囲を、Al層については45〜1
80nm、Ge層については180〜570nm、Zn
S層については400〜1300nm、金属フッ化物層
については640〜1160nmとした該反射防止膜が
好ましい。
【0013】また、基板をGeとした他のばあいは、各
層の光学膜厚の範囲を、Al層については35〜
90nm、Ge層については135〜300nm、Zn
S層については300〜800nm、金属フッ化物層に
ついては350〜700nmとした該反射防止膜が好ま
しい。
【0014】また、基板をGeとした他のばあいは、各
層の光学膜厚の範囲を、Al層については60〜
105nm、Ge層については270〜380nm、Z
nS層については710〜820nm、金属フッ化物層
については630〜800nmとした該反射防止膜が好
ましい。
【0015】また、基板をSiとしたばあいは、各層の
光学膜厚の範囲を、Al層については55〜22
0nm、Ge層については100〜470nm、ZnS
層については380〜1380nm、金属フッ化物層に
ついては615〜1170nmとした該反射防止膜が好
ましい。
【0016】また、基板をSiとした他のばあいは、各
層の光学膜厚の範囲を、Al層については40〜
130nm、Ge層については90〜230nm、Zn
S層については200〜870nm、金属フッ化物層に
ついては390〜680nmとした該反射防止膜が好ま
しい。
【0017】また、基板をSiとした他のばあいは、各
層の光学膜厚の範囲を、Al層については80〜
120nm、Ge層については220〜280nm、Z
nS層については760〜870nm、金属フッ化物層
については720〜790nmとした該反射防止膜が好
ましい。
【0018】また、基板をGaAsとしたばあいは、各
層の光学膜厚の範囲を、Al層については65〜
210nm、Ge層については110〜440nm、Z
nS層については480〜1300nm、金属フッ化物
層については810〜1130nmとした該反射防止膜
が好ましい。
【0019】また、基板をGaAsとした他のばあい
は、各層の光学膜厚の範囲を、Al層については
40〜140nm、Ge層については80〜230n
m、ZnS層については180〜840nm、金属フッ
化物層については400〜675nmとした該反射防止
膜が好ましい。
【0020】また、基板をGaAsとした他のばあい
は、各層の光学膜厚の範囲を、Al層については
85〜125nm、Ge層については210〜270n
m、ZnS層については770〜875nm、金属フッ
化物層については710〜785nmとした該反射防止
膜が好ましい。
【0021】また、基板をTeとしたばあいは、各層の
光学膜厚の範囲を、Al層については25〜14
0nm、Ge層については300〜950nm、ZnS
層については470〜1200nm、金属フッ化物層に
ついては750〜1200nmとした該反射防止膜が好
ましい。
【0022】
【作用】本発明の赤外域用反射防止膜は、該反射防止膜
が基板側から順にAl層、Ge層、ZnS層、金
属フッ化物層の4層を配したので、基板材料とAl
の強い接着力によって耐久性が向上するばかりでな
く、膜厚を適当に調整することにより、屈折率3以上の
基板については基板の屈折率によらず高い透過率を付与
することができる。
【0023】また、MgF、CeF、YF、Th
、CaFおよびクライオライト(NaAl
)は屈折率が低く、耐久性に優れているので、前記
金属フッ化物を用いると屈折率の低い膜を多層膜の最外
層に配置でき、そのため高い透過率を有し、しかも耐久
性の高い赤外域用反射防止膜がえられる。
【0024】また、Ge、Si、GaAsおよびTeは
高い赤外光透過性を有しているので、それらを基板に用
いると高い透過率を有する光学部品がえられる。
【0025】また、屈折率が3以上のカルコゲナイドガ
ラスは高い赤外光透過性を有しているので、それらを基
板に用いると高い透過率を有する光学部品がえられる。
【0026】また、該反射防止膜において、基板をGe
としたばあいに各層の光学膜厚の範囲を、Al
については45〜180nm、Ge層については180
〜570nm、ZnS層については400〜1300n
m、金属フッ化物層については640〜1160nmと
したので、該反射防止膜を該基板の両面に配したばあ
い、赤外域の3〜5μmの範囲で95%以上の平均透過
率を有することができる。
【0027】また、該反射防止膜において、基板をGe
としたばあいに各層の光学膜厚の範囲を、Al
については35〜90nm、Ge層については135〜
300nm、ZnS層については300〜800nm、
金属フッ化物層については350〜700nmとしたの
で、該反射防止膜を該基板の両面に配したばあい、赤外
域の2〜2.5μmの範囲で97%以上の平均透過率を
有することができる。
【0028】また、該反射防止膜において、基板をGe
としたばあいに各層の光学膜厚の範囲を、Al
については60〜105nm、Ge層については270
〜380nm、ZnS層については710〜820n
m、金属フッ化物層については630〜800nmとし
たので、該反射防止膜を該基板の両面に配したばあい、
赤外域の2〜5μmの範囲で93%以上の平均透過率を
有することができる。
【0029】また、該反射防止膜において、基板をSi
としたばあいに各層の光学膜厚の範囲を、Al
については55〜220nm、Ge層については100
〜470nm、ZnS層については380〜1380n
m、金属フッ化物層については615〜1170nmと
したので、該反射防止膜を該基板の両面に配したばあ
い、赤外域の3〜5μmの範囲で95%以上の平均透過
率を有することができる。
【0030】また、該反射防止膜において、基板をSi
としたばあいに各層の光学膜厚の範囲を、Al
については40〜130nm、Ge層については90〜
230nm、ZnS層については200〜870nm、
金属フッ化物層については390〜680nmとしたの
で、該反射防止膜を該基板の両面に配したばあい、赤外
域の2〜2.5μmの範囲で95%以上の平均透過率を
有することができる。
【0031】また、該反射防止膜において、基板をSi
としたばあいに各層の光学膜厚の範囲を、Al
については80〜120nm、Ge層については220
〜280nm、ZnS層については760〜870n
m、金属フッ化物層については720〜790nmとし
たので、該反射防止膜を該基板の両面に配したばあい、
赤外域の2〜5μmの範囲で93%以上の平均透過率を
有することができる。
【0032】また、該反射防止膜において、基板をGa
Asとしたばあいに各層の光学膜厚の範囲を、Al
層については65〜210nm、Ge層については1
10〜440nm、ZnS層については480〜130
0nm、金属フッ化物層については810〜1130n
mとしたので、該反射防止膜を該基板の両面に配したば
あい、赤外域の3〜5μmの範囲で95%以上の平均透
過率を有することができる。
【0033】また、該反射防止膜において、基板をGa
Asとしたばあいに各層の光学膜厚の範囲を、Al
層については40〜140nm、Ge層については8
0〜230nm、ZnS層については180〜840n
m、金属フッ化物層については400〜675nmとし
たので、該反射防止膜を該基板の両面に配したばあい、
赤外域の2〜2.5μmの範囲で97%以上の平均透過
率を有することができる。
【0034】また、該反射防止膜において、基板をGa
Asとしたばあいに各層の光学膜厚の範囲を、Al
層については85〜125nm、Ge層については2
10〜270nm、ZnS層については770〜875
nm、金属フッ化物層については710〜785nmと
したので、該反射防止膜を該基板の両面に配したばあ
い、赤外域の2〜5μmの範囲で93%以上の平均透過
率を有することができる。
【0035】また、該反射防止膜において、基板をTe
としたばあいに各層の光学膜厚の範囲を、Al
については25〜140nm、Ge層については300
〜950nm、ZnS層については470〜1200n
m、金属フッ化物層については750〜1200nmと
したので、該反射防止膜を該基板の両面に配したばあ
い、赤外域の3〜5μmの範囲で95%以上の平均透過
率を有することができる。
【0036】
【実施例】以下に本発明の反射防止膜について詳細に説
明する。図1は、本発明の反射防止膜の一実施例の構造
を示す断面説明図である。
【0037】本発明の赤外域用の反射防止膜は、たとえ
ば図1に示されるように、レンズやウィンドを基板1と
して、順番にAl層2、Ge層3、ZnS層4、
金属フッ化物層5を配したことに特徴がある。なお、本
発明における赤外域とは2〜5μmの範囲を意味し、ば
あいによっては大気の窓の2〜2.5μmと3〜5μm
の2つの範囲に分けて取り扱う。
【0038】基板からの1層目にAlを配したの
は、反射防止特性を向上させ、また基板材料とAl
の強い接着力によって反射防止膜の耐久性を向上させ
るためである。
【0039】4層目の金属フッ化物としては、Mg
、CeF、YF、ThF、CaF、クライ
オライト(NaAlF)、AlF、LiF、B
aF、LaF、NaFなどの金属フッ化物があげら
れるが、4層目としては屈折率が小さいことが望まし
く、また最外層としての耐久性を考慮すれば、Mg
、CeF、YF、ThF、CaF、クライ
オライトから選ばれた1種であることが好ましい。
【0040】1層目〜4層目の材料の形態や特性につい
ては、屈折率が所望の値に近いことのほかには、とくに
限定はされない。ただし、屈折率は膜の製造法や密度に
よってかわるため、1層目のAlについては屈折
率が1.53〜1.62、2層目のGeについては3.
8〜4.1、3層目のZnSについては2.15〜2.
25となることが好ましい。また、4層目の金属フッ化
物については、MgFが1.32〜1.37、CeF
とYFが1.53〜1.6、ThFが1.42〜
1.54、CaFとクライオライトが1.37〜1.
42の範囲にあることが好ましい。純度についてはすべ
ての材料に対して99%以上、望ましくは99.9%以
上が好ましい。
【0041】基板1は、赤外用の光学部品として使うも
ので、平面板に限らず、曲率を有する板、レンズ、プリ
ズム、その他所定の形状をしていてもよい。
【0042】基板1の厚さとしては、とくに限定はされ
ないが0.1mm程度の赤外線ウィンドから、厚さ数c
mの肉厚レンズやプリズムがあり、これら基板に対し同
様の反射防止の効果が付与できる。
【0043】基板1の材料としては、赤外光をよく透過
するもので、屈折率が3以上のものであればとくに限定
はないが、たとえばGe、Si、GaAs、Te、カル
コゲナイドガラスは透過率の高い良質の材料が比較的安
価で容易に入手することができる点から好ましい。また
カルコゲナイドガラスは、Ge10As20Te70
屈折率3.55、Si15Ge10As25Te50
屈折率3.1、Ge30As17Te30Se23が屈
折率3.0というように、屈折率3以上の材料が比較的
容易に入手できる点から好ましい。
【0044】これらの基板は、プリズムなど単体の部品
として用いられたり、また赤外線カメラでは、レンズと
してこれらの2〜3種類の異なった材料を使うことによ
り色消し(基板の屈折率分散による収差の補正)を行っ
ている。
【0045】なお、基板の材料としては、赤外光学用に
使用できるものであればとくに限定されない。
【0046】各層の光学膜厚については、所望する波長
帯の透過率を上げるように決められればとくに限定はな
いが、Al層が25〜210nm、Ge層が20
〜950nm、ZnS層が180〜1380nm、金属
フッ化物層が350〜1200nmの範囲にあることが
好ましい。該反射防止膜を基板の両面に配したばあい、
赤外域の3〜5μm、2〜2.5μm、2〜5μmそれ
ぞれの波長帯で平均90%以上の透過率を有することが
できる。なお、本発明においては基板の厚さが0.1m
m程度から数cmまでの範囲では、透過率の値は基板の
厚さによらない。
【0047】赤外線の光学機器において最も利用される
大気の窓の2〜2.5μm、3〜5μm、およびその両
方をまたぐ2〜5μmの波長範囲に対して高い透過率を
付与したいばあい、下記の膜厚であることがさらに好ま
しい。
【0048】基板をGeとしたばあい、各層の光学膜厚
の範囲が、Al層については45〜180nmさ
らには60〜180nm、Ge層については180〜5
70nmさらには180〜390nm、ZnS層につい
ては400〜1300nmさらには400〜860n
m、金属フッ化物層については640〜1160nmさ
らには735〜880nmであることが赤外域の3〜5
μmでの透過率が高いという点から好ましく、該反射防
止膜を該基板の両面に配したばあい、赤外域の3〜5μ
mの範囲での平均透過率が95%好ましくは97%以上
となる。
【0049】同じく基板をGeとしたばあい、各層の光
学膜厚の範囲が、Al層については35〜90n
m、Ge層については135〜300nm、ZnS層に
ついては300〜800nm、金属フッ化物層について
は350〜700nmであることが赤外域の2〜2.5
μmでの透過率が高いという点から好ましく、該反射防
止膜を該基板の両面に配したばあい、赤外域の2〜2.
5μmの範囲での平均透過率が97%以上となる。
【0050】同じく基板をGeとしたばあい、各層の光
学膜厚の範囲が、Al層については60〜105
nm、Ge層については270〜380nm、ZnS層
については710〜820nm、金属フッ化物層につい
ては630〜800nmであることが赤外域の2〜5μ
mでの透過率が高いという点から好ましく、該反射防止
膜を該基板の両面に配したばあい、赤外域の2〜5μm
の範囲での平均透過率が93%以上となる。
【0051】また、基板をSiとしたばあい、各層の光
学膜厚の範囲が、Al層については55〜220
nmさらには55〜210nm、Ge層については10
0〜470nmさらには100〜257nm、ZnS層
については380〜1380nmさらには380〜92
0nm、金属フッ化物層については615〜1170n
mさらには840〜923nmであることが赤外域の3
〜5μmでの透過率が高いという点から好ましく、該反
射防止膜を該基板の両面に配したばあい、赤外域の3〜
5μmの範囲での平均透過率が95%好ましくは97%
以上となる。
【0052】同じく基板をSiとしたばあい、各層の光
学膜厚の範囲が、Al層については40〜130
nm、Ge層については90〜230nm、ZnS層に
ついては200〜870nm、金属フッ化物層について
は390〜680nmであることが赤外域の2〜2.5
μmでの透過率が高いという点から好ましく、該反射防
止膜を該基板の両面に配したばあい、赤外域の2〜2.
5μmの範囲での平均透過率が95%以上となる。
【0053】同じく基板をSiとしたばあい、各層の光
学膜厚の範囲が、Al層については80〜120
nm、Ge層については220〜280nm、ZnS層
については760〜870nm、金属フッ化物層につい
ては720〜790nmであることが赤外域の2〜5μ
mでの透過率が高いという点から好ましく、該反射防止
膜を該基板の両面に配したばあい、赤外域の2〜5μm
の範囲での平均透過率が93%以上となる。
【0054】さらに、基板をGaAsとしたばあい、各
層の光学膜厚の範囲が、Al層については65〜
210nm、Ge層については110〜440nm、Z
nS層については480〜1300nm、金属フッ化物
層については810〜1130nmであることが赤外域
の3〜5μmでの透過率が高いという点から好ましく、
該反射防止膜を該基板の両面に配したばあい、赤外域の
3〜5μmの範囲での平均透過率が95%以上となる。
【0055】また、基板をGaAsとしたばあい、各層
の光学膜厚の範囲が、Al層については40〜1
40nm、Ge層については80〜230nm、ZnS
層については180〜840nm、金属フッ化物層につ
いては400〜675nmであることが赤外域の2〜
2.5μmでの透過率が高いという点から好ましく、該
反射防止膜を該基板の両面に配したばあい、赤外域の2
〜2.5μmの範囲での平均透過率が97%以上とな
る。
【0056】また、基板をGaAsとしたばあい、各層
の光学膜厚の範囲が、Al層については85〜1
25nm、Ge層については210〜270nm、Zn
S層については770〜875nm、金属フッ化物層に
ついては710〜785nmであることが赤外域の2〜
5μmでの透過率が高いという点から好ましく、該反射
防止膜を該基板の両面に配したばあい、赤外域の2〜5
μmの範囲での平均透過率が93%以上となる。
【0057】さらに、基板をTeとしたばあい、各層の
光学膜厚の範囲が、Al層については25〜14
0nm、Ge層については300〜950nm、ZnS
層については470〜1200nm、金属フッ化物層に
ついては750〜1200nmであることが赤外域の3
〜5μmでの透過率が高いという点から好ましく、該反
射防止膜を該基板の両面に配したばあい、赤外域の3〜
5μmの範囲での平均透過率が95%以上となる。
【0058】また、基板を屈折率3.4〜3.55のカ
ルコゲナイドガラスとしたばあい、各層の光学膜厚の範
囲が、Al層については55〜220nm、Ge
層については100〜470nm、ZnS層については
380〜1380nm、金属フッ化物層については61
5〜1170nmであることが赤外域の3〜5μmでの
透過率が高いという点から好ましく、該反射防止膜を該
基板の両面に配したばあい、赤外域の3〜5μmの範囲
での平均透過率が95%以上となる。
【0059】同じく基板を屈折率3.4〜3.55のカ
ルコゲナイドガラスとしたばあい、各層の光学膜厚の範
囲が、Al層については40〜130nm、Ge
層については90〜230nm、ZnS層については2
00〜870nm、金属フッ化物層については390〜
680nmであることが赤外域の2〜2.5μmでの透
過率が高いという点から好ましく、該反射防止膜を該基
板の両面に配したばあい、赤外域の2〜2.5μmの範
囲での平均透過率が95%以上となる。
【0060】同じく基板を屈折率3.4〜3.55のカ
ルコゲナイドガラスとしたばあい、各層の光学膜厚の範
囲が、Al層については80〜120nm、Ge
層については220〜280nm、ZnS層については
760〜870nm、金属フッ化物層については720
〜790nmであることが赤外域の2〜5μmでの透過
率が高いという点から好ましく、該反射防止膜を該基板
の両面に配したばあい、赤外域の2〜5μmの範囲での
平均透過率が93%以上となる。
【0061】さらに、基板を屈折率3.3のカルコゲナ
イドガラスとしたばあい、各層の光学膜厚の範囲が、A
層については65〜210nm、Ge層につい
ては110〜440nm、ZnS層については480〜
1300nm、金属フッ化物層については810〜11
30nmであることが赤外域の3〜5μmでの透過率が
高いという点から好ましく、該反射防止膜を該基板の両
面に配したばあい、赤外域の3〜5μmの範囲での平均
透過率が95%以上となる。
【0062】また、基板を3.3のカルコゲナイドガラ
スとしたばあい、各層の光学膜厚の範囲が、Al
層については40〜140nm、Ge層については80
〜230nm、ZnS層については180〜840n
m、金属フッ化物層については400〜675nmであ
ることが赤外域の2〜2.5μmでの透過率が高いとい
う点から好ましく、該反射防止膜を該基板の両面に配し
たばあい、赤外域の2〜2.5μmの範囲での平均透過
率が97%以上となる。
【0063】また、基板を3.3のカルコゲナイドガラ
スとしたばあい、各層の光学膜厚の範囲が、Al
層については85〜125nm、Ge層については21
0〜270nm、ZnS層については770〜875n
m、金属フッ化物層については710〜785nmであ
ることが赤外域の2〜5μmでの透過率が高いという点
から好ましく、該反射防止膜を該基板の両面に配したば
あい、赤外域の2〜5μmの範囲での平均透過率が93
%以上となる。
【0064】前記反射防止膜は、プリズムや赤外線カメ
ラのレンズなどの用途に好ましく用いられる。
【0065】反射防止膜の形成法については、とくに限
定されないが、たとえば真空蒸着法、イオンプレーティ
ング法、スパッタリング法、CVD法などがあげられ
る。なかでも光学多層膜の形成を目的とした真空蒸着法
が膜厚のコントロールと膜厚の均一性の点から好まし
い。下記に該方法および該方法を実施するばあいの真空
蒸着装置について図にもとづいて説明する。図2はその
蒸着装置の一例の断面説明図を示す。図2において6は
高真空をうるための真空容器、7は蒸着すべき基板1を
取付けるための基板取付けドームで、蒸着中は膜の均一
性を向上させるために回転される。8は蒸着物質を入れ
るるつぼで、るつぼ回転ステージ9によって、蒸着され
るべき物質の入ったるつぼ8が電子銃10から放出され
る電子ビームの当たる位置に移動される。電子ビームに
よって加熱され、蒸発した物質は基板1の表面に蒸着さ
れ、膜となる。この蒸着膜の厚さは、真空容器6の上方
に取り付けられた反射式光学膜厚計11により、モニタ
ー用ガラス基板12の膜厚を計測することによって測定
され、所望の厚さになったときシャッター13が閉じ
る。以下、同様にして順次異なる層の蒸着膜を所定の厚
さだけ形成することによって、本発明の反射防止膜がえ
られる。
【0066】なお、後述する各実施例における電子ビー
ム蒸着法は、前記方法により行なった。
【0067】また、蒸着物質の加熱には、電子ビーム法
だけでなく、金属製のるつぼに電流を流して加熱する抵
抗加熱法も用いることができる。また、光学式膜厚計と
しても、反射式だけでなく、真空容器の下部に光源を設
けた透過式光学膜厚計も用いることができる。
【0068】つぎに、具体的な実施例により、本発明の
赤外域用反射防止膜についてさらに詳細に説明する。
【0069】[実施例1〜23および比較例1〜2]直
径30mmφ、厚さ1mmの両面を研磨した表1、2記
載の材料からなる円板状の基板を蒸着装置の基板取付け
ドームに取付け、真空度1×10-4torr以下で、電
子ビーム蒸着法によって基板から順に表1、2記載の材
料と光学膜厚を有する第1層、第2層、第3層、第4層
を積層して赤外域用反射防止膜を形成した。
【0070】基板の反対の面についても同じ手順により
蒸着を行ない、赤外域反射防止膜を両面に形成した基板
をそれぞれえた。
【0071】なお、カルコゲナイドガラスは、Ge30
As17Te30Se23(屈折率3.0)を用いた。
【0072】えられた基板の耐久性試験としてテープ剥
離試験および耐湿試験さらに赤外線透過率試験を下記方
法により実施した。結果を表1、2および図3〜15に
示す。 (テープ剥離試験)米国軍規格MIL−C−48497
Aに準じて、セロハンテープ(ニチバン(株)製、幅1
2mm)を基板の膜面に約10mmの長さで貼付け、垂
直に素早く引き剥がす操作を1回行ない、膜の剥離状態
を観察した。 (耐湿試験)温度50℃、相対湿度95〜100%の恒
温・恒湿槽に基板を24時間放置し、基板の膜面を目視
にて観察し、しみ、曇り、剥離などの有無を調べた。 (赤外線透過率試験)赤外分光光度計(日本分光(株)
製、IR−810)により分光透過率曲線を測定した。
【0073】
【表1】
【0074】
【表2】 図3〜図15に示す透過率の測定結果から、本発明の実
施例のばあいには、所望する透過帯域(3〜5μm:実
施例1〜12、20〜23、2〜2.5μm:実施例1
3〜16、2〜5μm:実施例17〜19など)におい
て高い透過率がえられていることがわかる。また比較例
2では波長3μmの近傍において、吸収があり、透過率
が低いことがわかる。
【0075】また表1、2に示す耐久性試験の結果か
ら、実施例1〜23では全く異常が認められなかった
が、比較例1ではテープ剥離試験により一部剥離が発生
した。
【0076】
【発明の効果】本発明による赤外域用反射防止膜によれ
ば、基板から順にAl層、Ge層、ZnS層、金
属フッ化物層の4層によって反射防止膜を形成したの
で、反射防止特性と耐久性に優れている。
【0077】また、前記金属フッ化物がMgF、Ce
、YF、ThF、CaFおよびクライオライ
ト(NaAlF)から選ばれた一種であるばあい、
高い透過率を有し、しかも耐久性の高い赤外域用反射防
止膜がえられる。
【0078】また、基板がGe、Si、GaAsおよび
Teから選ばれた一種であるので、高い透過率を有する
赤外域用反射防止膜がえられる。
【0079】また、基板が屈折率3以上のカルコゲナイ
ドガラスであるばあい、高い透過率を有する赤外域用反
射防止膜がえられる。
【0080】また、基板がGeであり、各層の光学膜厚
の範囲が、Al層については45〜180nm、
Ge層については180〜570nm、ZnS層につい
ては400〜1300nm、金属フッ化物層については
640〜1160nmとしたばあい、該反射防止膜を該
基板の両面に配すると、該基板は赤外域の3〜5μmの
範囲で95%以上の平均透過率を有する。
【0081】また、基板がGeであり、各層の光学膜厚
の範囲が、Al層については35〜90nm、G
e層については135〜300nm、ZnS層について
は300〜800nm、金属フッ化物層については35
0〜700nmとしたばあい、該反射防止膜を該基板の
両面に配すると、該基板は赤外域の2〜2.5μmの範
囲で97%以上の平均透過率を有する。
【0082】また、基板がGeであり、各層の光学膜厚
の範囲が、Al層については60〜105nm、
Ge層については270〜380nm、ZnS層につい
ては710〜820nm、金属フッ化物層については6
30〜800nmとしたばあい、該反射防止膜を該基板
の両面に配すると、該基板は赤外域の2〜5μmの範囲
で93%以上の平均透過率を有する。
【0083】また、基板がSiであり、各層の光学膜厚
の範囲が、Al層については55〜220nm、
Ge層については100〜470nm、ZnS層につい
ては380〜1380nm、金属フッ化物層については
615〜1170nmとしたばあい、該反射防止膜を該
基板の両面に配すると、該基板は赤外域の3〜5μmの
範囲で95%以上の平均透過率を有する。
【0084】また、基板がSiであり、各層の光学膜厚
の範囲が、Al層については40〜130nm、
Ge層については90〜230nm、ZnS層について
は200〜870nm、金属フッ化物層については39
0〜680nmとしたばあい、該反射防止膜を該基板の
両面に配すると、該基板は赤外域の2〜2.5μmの範
囲で95%以上の平均透過率を有する。
【0085】また、基板がSiであり、各層の光学膜厚
の範囲が、Al層については80〜120nm、
Ge層については220〜280nm、ZnS層につい
ては760〜870nm、金属フッ化物層については7
20〜790nmとしたばあい、該反射防止膜を該基板
の両面に配すると、該基板は赤外域の2〜5μmの範囲
で93%以上の平均透過率を有する。
【0086】また、基板がGaAsであり、各層の光学
膜厚の範囲が、Al層については65〜210n
m、Ge層については110〜440nm、ZnS層に
ついては480〜1300nm、金属フッ化物層につい
ては810〜1130nmとしたばあい、該反射防止膜
を該基板の両面に配すると、該基板は赤外域の3〜5μ
mの範囲で95%以上の平均透過率を有する。
【0087】また、基板がGaAsであり、各層の光学
膜厚の範囲が、Al層については40〜140n
m、Ge層については80〜230nm、ZnS層につ
いては180〜840nm、金属フッ化物層については
400〜675nmとしたばあい、該反射防止膜を該基
板の両面に配すると、該基板は赤外域の2〜2.5μm
の範囲で97%以上の平均透過率を有する。
【0088】また、基板がGaAsであり、各層の光学
膜厚の範囲が、Al23層については85〜125n
m、Ge層については210〜270nm、ZnS層に
ついては770〜875nm、金属フッ化物層について
は710〜785nmとしたばあい、該反射防止膜を該
基板の両面に配すると、該基板は赤外域の2〜5μmの
範囲で93%以上の平均透過率を有する。
【0089】また、基板がTeであり、各層の光学膜厚
の範囲が、Al層については25〜140nm、
Ge層については300〜950nm、ZnS層につい
ては470〜1200nm、金属フッ化物層については
750〜1200nmとしたばあい、該反射防止膜を該
基板の両面に配すると、該基板は赤外域の3〜5μmの
範囲で95%以上の平均透過率を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の赤外域用反射防止膜の一実施例の構
造を示す断面説明図である。
【図2】 本発明の赤外域用反射防止膜の製造に用いら
れる蒸着装置の一例の断面説明図である。
【図3】 本発明の実施例1、2でえられた赤外域用反
射防止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す図であ
る。
【図4】 本発明の実施例3でえられた赤外域用反射防
止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す図である。
【図5】 本発明の実施例4でえられた赤外域用反射防
止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す図である。
【図6】 本発明の実施例5、6でえられた赤外域用反
射防止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す図であ
る。
【図7】 本発明の実施例7、8でえられた赤外域用反
射防止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す図であ
る。
【図8】 本発明の実施例9でえられた赤外域用反射防
止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す図である。
【図9】 本発明の実施例10〜12でえられた赤外域
用反射防止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す図
である。
【図10】 本発明の実施例13、14でえられた赤外
域用反射防止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す
図である。
【図11】 本発明の実施例15、16でえられた赤外
域用反射防止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す
図である。
【図12】 本発明の実施例17〜19でえられた赤外
域用反射防止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す
図である。
【図13】 本発明の実施例20、21でえられた赤外
域用反射防止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す
図である。
【図14】 本発明の実施例22、23でえられた赤外
域用反射防止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す
図である。
【図15】 本発明の比較例1、2でえられた赤外域用
反射防止膜を有する基板の赤外線分光透過率を示す図で
ある。
【符号の説明】
1 基板(レンズまたはウィンド)、2 Al
層、3 Ge層、4 ZnS層、5 金属フッ化物
層。

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 赤外域用反射防止膜において、該反射防
    止膜が基板側から順に、Al層、Ge層、ZnS
    層、金属フッ化物層の4層であることを特徴とする赤外
    域用反射防止膜。
  2. 【請求項2】 金属フッ化物がMgF、CeF、Y
    、ThF、CaFおよびクライオライト(Na
    AlF)から選ばれた一種である請求項1記載の赤
    外域用反射防止膜。
  3. 【請求項3】 基板がGe、Si、GaAsおよびTe
    から選ばれた一種である請求項1記載の赤外域用反射防
    止膜。
  4. 【請求項4】 基板が屈折率3以上のカルコゲナイドガ
    ラスである請求項1記載の赤外域用反射防止膜。
  5. 【請求項5】 基板がGeであり、各層の光学膜厚の範
    囲が、Al層については45〜180nm、Ge
    層については180〜570nm、ZnS層については
    400〜1300nm、金属フッ化物層については64
    0〜1160nmである請求項1記載の赤外域用反射防
    止膜。
  6. 【請求項6】 基板がGeであり、各層の光学膜厚の範
    囲が、Al層については35〜90nm、Ge層
    については135〜300nm、ZnS層については3
    00〜800nm、金属フッ化物層については350〜
    700nmである請求項1記載の赤外域用反射防止膜。
  7. 【請求項7】 基板がGeであり、各層の光学膜厚の範
    囲が、Al層については60〜105nm、Ge
    層については270〜380nm、ZnS層については
    710〜820nm、金属フッ化物層については630
    〜800nmである請求項1記載の赤外域用反射防止
    膜。
  8. 【請求項8】 基板がSiであり、各層の光学膜厚の範
    囲が、Al層については55〜220nm、Ge
    層については100〜470nm、ZnS層については
    380〜1380nm、金属フッ化物層については61
    5〜1170nmである請求項1記載の赤外域用反射防
    止膜。
  9. 【請求項9】 基板がSiであり、各層の光学膜厚の範
    囲が、Al層については40〜130nm、Ge
    層については90〜230nm、ZnS層については2
    00〜870nm、金属フッ化物層については390〜
    680nmである請求項1記載の赤外域用反射防止膜。
  10. 【請求項10】 基板がSiであり、各層の光学膜厚の
    範囲が、Al層については80〜120nm、G
    e層については220〜280nm、ZnS層について
    は760〜870nm、金属フッ化物層については72
    0〜790nmである請求項1記載の赤外域用反射防止
    膜。
  11. 【請求項11】 基板がGaAsであり、各層の光学膜
    厚の範囲が、Al層については65〜210n
    m、Ge層については110〜440nm、ZnS層に
    ついては480〜1300nm、金属フッ化物層につい
    ては810〜1130nmである請求項1記載の赤外域
    用反射防止膜。
  12. 【請求項12】 基板がGaAsであり、各層の光学膜
    厚の範囲が、Al層については40〜140n
    m、Ge層については80〜230nm、ZnS層につ
    いては180〜840nm、金属フッ化物層については
    400〜675nmである請求項1記載の赤外域用反射
    防止膜。
  13. 【請求項13】 基板がGaAsであり、各層の光学膜
    厚の範囲が、Al層については85〜125n
    m、Ge層については210〜270nm、ZnS層に
    ついては770〜875nm、金属フッ化物層について
    は710〜785nmである請求項1記載の赤外域用反
    射防止膜。
  14. 【請求項14】 基板がTeであり、各層の光学膜厚の
    範囲が、Al層については25〜140nm、G
    e層については300〜950nm、ZnS層について
    は470〜1200nm、金属フッ化物層については7
    50〜1200nmである請求項1記載の赤外域用反射
    防止膜。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100314090B1 (ko) * 1996-10-16 2001-12-12 윤종용 음향광 변조 장치 및 그 제조 방법
JP2010169918A (ja) * 2009-01-23 2010-08-05 Alps Electric Co Ltd 光学素子アレイ及びその製造方法
WO2016052079A1 (ja) * 2014-09-30 2016-04-07 富士フイルム株式会社 反射防止膜及びレンズ並びに撮像装置
JP2019048752A (ja) * 2017-09-12 2019-03-28 日本電気硝子株式会社 カルコゲナイドガラス材
CN110879430A (zh) * 2019-11-04 2020-03-13 广东先导先进材料股份有限公司 红外硫系玻璃镜片及其制备方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106835030A (zh) * 2016-12-13 2017-06-13 西南技术物理研究所 大角度多波段红外高增透膜结构及其制备方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100314090B1 (ko) * 1996-10-16 2001-12-12 윤종용 음향광 변조 장치 및 그 제조 방법
JP2010169918A (ja) * 2009-01-23 2010-08-05 Alps Electric Co Ltd 光学素子アレイ及びその製造方法
WO2016052079A1 (ja) * 2014-09-30 2016-04-07 富士フイルム株式会社 反射防止膜及びレンズ並びに撮像装置
JPWO2016052079A1 (ja) * 2014-09-30 2017-07-06 富士フイルム株式会社 反射防止膜及びカルコゲナイドガラスレンズ並びに撮像装置
US9841535B2 (en) 2014-09-30 2017-12-12 Fujifilm Corporation Antireflection film, lens, and imaging device
JP2019048752A (ja) * 2017-09-12 2019-03-28 日本電気硝子株式会社 カルコゲナイドガラス材
CN111094201A (zh) * 2017-09-12 2020-05-01 日本电气硝子株式会社 硫属化物玻璃材料
EP3683196A4 (en) * 2017-09-12 2021-06-02 Nippon Electric Glass Co., Ltd. CHALCOGENIDE GLASS MATERIAL
US11643357B2 (en) 2017-09-12 2023-05-09 Nippon Electric Glass Co., Ltd. Chalcogenide glass material
CN110879430A (zh) * 2019-11-04 2020-03-13 广东先导先进材料股份有限公司 红外硫系玻璃镜片及其制备方法

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