JPH08153838A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH08153838A JPH08153838A JP29254294A JP29254294A JPH08153838A JP H08153838 A JPH08153838 A JP H08153838A JP 29254294 A JP29254294 A JP 29254294A JP 29254294 A JP29254294 A JP 29254294A JP H08153838 A JPH08153838 A JP H08153838A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- package
- heat sink
- sink attachment
- unevenness
- semiconductor device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
- H01L2924/1815—Shape
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、放熱容量の変更を容易にした半導
体装置を提供せんとするものである。 【構成】 上表面に凹凸8を設けたパッケージ2と、こ
のパッケージ2の凹凸8に嵌合する凹凸9を下表面に有
するヒートシンクアタッチメント1とからなり、凹凸8
を凹凸9嵌合してパッケージ2にヒートシンクアタッチ
メント1を重ねて成ることを特徴とする半導体装置。
体装置を提供せんとするものである。 【構成】 上表面に凹凸8を設けたパッケージ2と、こ
のパッケージ2の凹凸8に嵌合する凹凸9を下表面に有
するヒートシンクアタッチメント1とからなり、凹凸8
を凹凸9嵌合してパッケージ2にヒートシンクアタッチ
メント1を重ねて成ることを特徴とする半導体装置。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の放熱性の
向上を目的とする。
向上を目的とする。
【0002】
【従来の技術】従来のものとしては、半導体素子を封止
したパッケージの表面にヒートシンクアタッチメントを
埋設したものがある。
したパッケージの表面にヒートシンクアタッチメントを
埋設したものがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来例で
は、ヒートシンクアタッチメントの放熱容量が一定であ
ると言う欠点を有していた。
は、ヒートシンクアタッチメントの放熱容量が一定であ
ると言う欠点を有していた。
【0004】本発明は、上記の点に鑑みてなされたもの
であり、放熱容量の変更を容易にした半導体装置を提供
せんとするものである。
であり、放熱容量の変更を容易にした半導体装置を提供
せんとするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1記載のように、
表面に凹凸8を設けたパッケージ2と、このパッケージ
2の凹凸8に嵌合する凹凸9を有するヒートシンクアタ
ッチメント1とからなり、凹凸8を凹凸9嵌合してパッ
ケージ2にヒートシンクアタッチメント1を重ねて成る
ことを特徴とする半導体装置である。
表面に凹凸8を設けたパッケージ2と、このパッケージ
2の凹凸8に嵌合する凹凸9を有するヒートシンクアタ
ッチメント1とからなり、凹凸8を凹凸9嵌合してパッ
ケージ2にヒートシンクアタッチメント1を重ねて成る
ことを特徴とする半導体装置である。
【0006】請求項2記載のように、上表面に凹凸8を
設けたパッケージ2と、このパッケージ2の凹凸8に嵌
合する凹凸9を下表面に有するヒートシンクアタッチメ
ント1とからなり、凹凸8を凹凸9嵌合してパッケージ
2にヒートシンクアタッチメント1を重ねて成ることを
特徴とする半導体装置である。
設けたパッケージ2と、このパッケージ2の凹凸8に嵌
合する凹凸9を下表面に有するヒートシンクアタッチメ
ント1とからなり、凹凸8を凹凸9嵌合してパッケージ
2にヒートシンクアタッチメント1を重ねて成ることを
特徴とする半導体装置である。
【0007】請求項3記載のように、下表面に凹凸8を
設けたパッケージ2と、このパッケージ2の凹凸8に嵌
合する凹凸9を上表面に有するヒートシンクアタッチメ
ント1とからなり、凹凸8を凹凸9嵌合してパッケージ
2にヒートシンクアタッチメント1を重ねて成ることを
特徴とする半導体装置である。
設けたパッケージ2と、このパッケージ2の凹凸8に嵌
合する凹凸9を上表面に有するヒートシンクアタッチメ
ント1とからなり、凹凸8を凹凸9嵌合してパッケージ
2にヒートシンクアタッチメント1を重ねて成ることを
特徴とする半導体装置である。
【0008】請求項4記載のように、下表面に凹凸8を
設けたパッケージ2と、このパッケージ2の凹凸8に嵌
合する凹凸9を上表面に有するヒートシンクアタッチメ
ント1とからなり、ヒートシンクアタッチメント1を電
気回路基板7に貫通埋設し、凹凸8を凹凸9嵌合してパ
ッケージ2にヒートシンクアタッチメント1を重ねて成
ることを特徴とする半導体装置である。
設けたパッケージ2と、このパッケージ2の凹凸8に嵌
合する凹凸9を上表面に有するヒートシンクアタッチメ
ント1とからなり、ヒートシンクアタッチメント1を電
気回路基板7に貫通埋設し、凹凸8を凹凸9嵌合してパ
ッケージ2にヒートシンクアタッチメント1を重ねて成
ることを特徴とする半導体装置である。
【0009】
【作 用】請求項1記載の発明によれば、パッケージ2
にヒートシンクアタッチメント1が、凹凸8を凹凸9嵌
合して重合わせられる。
にヒートシンクアタッチメント1が、凹凸8を凹凸9嵌
合して重合わせられる。
【0010】請求項2記載の発明によれば、パッケージ
2の上表面にヒートシンクアタッチメント1が、凹凸8
を凹凸9嵌合して重合わせられる。
2の上表面にヒートシンクアタッチメント1が、凹凸8
を凹凸9嵌合して重合わせられる。
【0011】請求項3記載の発明によれば、パッケージ
2の下表面にヒートシンクアタッチメント1が、凹凸8
を凹凸9嵌合して重合わせられる。
2の下表面にヒートシンクアタッチメント1が、凹凸8
を凹凸9嵌合して重合わせられる。
【0012】請求項4記載の発明によれば、パッケージ
2の下表面に電気回路基板7に貫通埋設したヒートシン
クアタッチメント1が、凹凸8を凹凸9嵌合して重合わ
せられる。
2の下表面に電気回路基板7に貫通埋設したヒートシン
クアタッチメント1が、凹凸8を凹凸9嵌合して重合わ
せられる。
【0013】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づき説明する。
【0014】図1および図2に本発明の一実施例である
半導体装置を示す。この半導体装置は、上表面に凹凸8
を設けた薄い箱型のパッケージ2と、このパッケージ2
の凹凸8に嵌合する凹凸9を下表面に有する薄い箱型の
ヒートシンクアタッチメント1とからなり、凹凸8を凹
凸9嵌合してパッケージ2にヒートシンクアタッチメン
ト1を重ねて成る。
半導体装置を示す。この半導体装置は、上表面に凹凸8
を設けた薄い箱型のパッケージ2と、このパッケージ2
の凹凸8に嵌合する凹凸9を下表面に有する薄い箱型の
ヒートシンクアタッチメント1とからなり、凹凸8を凹
凸9嵌合してパッケージ2にヒートシンクアタッチメン
ト1を重ねて成る。
【0015】パッケージ2は、合成樹脂製で、ダイパッ
ド5の上に半導体素子4を搭載したもの、リード端子3
の内端部等を封止している。
ド5の上に半導体素子4を搭載したもの、リード端子3
の内端部等を封止している。
【0016】ヒートシンクアタッチメント1は、銅、ア
ルミニュウム等の放熱性の良い金属で造られる。そし
て、その大きさは、放熱すべき容量に対応して形成され
る。
ルミニュウム等の放熱性の良い金属で造られる。そし
て、その大きさは、放熱すべき容量に対応して形成され
る。
【0017】凹凸8、9はともに、低い四角柱状の突起
を並設して凸とし、突起間を凹として形成し、凹凸8、
9が相互に緊密に嵌合するようにしている。
を並設して凸とし、突起間を凹として形成し、凹凸8、
9が相互に緊密に嵌合するようにしている。
【0018】この実施例のヒートシンクアタッチメント
1は、上表面にも凹凸10を設け、放熱面積を拡大して
放熱性を高めている。
1は、上表面にも凹凸10を設け、放熱面積を拡大して
放熱性を高めている。
【0019】図3および図4に本発明の他の実施例であ
る半導体装置を示す。この半導体装置は、下表面に凹凸
8を設けた薄い箱型のパッケージ2と、このパッケージ
2の凹凸8に嵌合する凹凸9を上表面に有する薄い箱型
のヒートシンクアタッチメント1とからなり、ヒートシ
ンクアタッチメント1の底部を電気回路基板7に貫通埋
設し、凹凸8を凹凸9嵌合してパッケージ2にヒートシ
ンクアタッチメント1を重ねて成る。
る半導体装置を示す。この半導体装置は、下表面に凹凸
8を設けた薄い箱型のパッケージ2と、このパッケージ
2の凹凸8に嵌合する凹凸9を上表面に有する薄い箱型
のヒートシンクアタッチメント1とからなり、ヒートシ
ンクアタッチメント1の底部を電気回路基板7に貫通埋
設し、凹凸8を凹凸9嵌合してパッケージ2にヒートシ
ンクアタッチメント1を重ねて成る。
【0020】この半導体装置では、ヒートシンクアタッ
チメント1からの放熱は、主として電気回路基板7を貫
通して裏面に露出した部分から行われ、表面側の半導体
素子4への熱影響を少なくしている。
チメント1からの放熱は、主として電気回路基板7を貫
通して裏面に露出した部分から行われ、表面側の半導体
素子4への熱影響を少なくしている。
【0021】パッケージ2は、合成樹脂製で、ダイパッ
ド5の上に半導体素子4を搭載したもの、リード端子3
の内端部等を封止している。
ド5の上に半導体素子4を搭載したもの、リード端子3
の内端部等を封止している。
【0022】ヒートシンクアタッチメント1は、銅、ア
ルミニュウム等の放熱性の良い金属で造られる。そし
て、その大きさは、放熱すべき容量に対応して形成され
る。
ルミニュウム等の放熱性の良い金属で造られる。そし
て、その大きさは、放熱すべき容量に対応して形成され
る。
【0023】凹凸8、9はともに、低い四角柱状の突起
を並設して凸とし、突起間を凹として形成し、凹凸8、
9が相互に緊密に嵌合するようにしている。
を並設して凸とし、突起間を凹として形成し、凹凸8、
9が相互に緊密に嵌合するようにしている。
【0024】
【発明の効果】以上のように、この出願に係る請求項1
記載の発明によれば、パッケージ2にヒートシンクアタ
ッチメント1が、凹凸8を凹凸9嵌合して重合わせられ
るので放熱性に優れ、パッケージ2に必要な放熱容量の
ヒートシンクアタッチメント1を取りつけられる。
記載の発明によれば、パッケージ2にヒートシンクアタ
ッチメント1が、凹凸8を凹凸9嵌合して重合わせられ
るので放熱性に優れ、パッケージ2に必要な放熱容量の
ヒートシンクアタッチメント1を取りつけられる。
【0025】請求項2記載の発明によれば、パッケージ
2の上表面に必要な放熱容量のヒートシンクアタッチメ
ント1が、凹凸8を凹凸9嵌合して重合わせられる。
2の上表面に必要な放熱容量のヒートシンクアタッチメ
ント1が、凹凸8を凹凸9嵌合して重合わせられる。
【0026】請求項3記載の発明によれば、パッケージ
2の下表面に必要な放熱容量のヒートシンクアタッチメ
ント1が、凹凸8を凹凸9嵌合して重合わせられる。
2の下表面に必要な放熱容量のヒートシンクアタッチメ
ント1が、凹凸8を凹凸9嵌合して重合わせられる。
【0027】請求項4記載の発明によれば、凹凸8を凹
凸9嵌合して重合わせるヒートシンクアタッチメント1
を電気回路基板7に貫通埋設して実装時のコンパクト化
を図ることができる。
凸9嵌合して重合わせるヒートシンクアタッチメント1
を電気回路基板7に貫通埋設して実装時のコンパクト化
を図ることができる。
【図 1】本発明の一実施例を示す分解斜視図。
【図 2】同上の断面図。
【図 3】本発明の異なる実施例を示す分解斜視図。
【図 4】同上の断面図。
1 ヒートシンクアタッチメント 2 パッケージ 3 リード端子 4 半導体素子 5 ダイパッド 7 電気回路基板 8 凹凸 9 凹凸
Claims (4)
- 【請求項1】 表面に凹凸8を設けたパッケージ2と、
このパッケージ2の凹凸8に嵌合する凹凸9を有するヒ
ートシンクアタッチメント1とからなり、凹凸8を凹凸
9嵌合してパッケージ2にヒートシンクアタッチメント
1を重ねて成ることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】 上表面に凹凸8を設けたパッケージ2
と、このパッケージ2の凹凸8に嵌合する凹凸9を下表
面に有するヒートシンクアタッチメント1とからなり、
凹凸8を凹凸9嵌合してパッケージ2にヒートシンクア
タッチメント1を重ねて成ることを特徴とする半導体装
置。 - 【請求項3】 下表面に凹凸8を設けたパッケージ2
と、このパッケージ2の凹凸8に嵌合する凹凸9を上表
面に有するヒートシンクアタッチメント1とからなり、
凹凸8を凹凸9嵌合してパッケージ2にヒートシンクア
タッチメント1を重ねて成ることを特徴とする半導体装
置。 - 【請求項4】 下表面に凹凸8を設けたパッケージ2
と、このパッケージ2の凹凸8に嵌合する凹凸9を上表
面に有するヒートシンクアタッチメント1とからなり、
ヒートシンクアタッチメント1を電気回路基板7に貫通
埋設し、凹凸8を凹凸9嵌合してパッケージ2にヒート
シンクアタッチメント1を重ねて成ることを特徴とする
半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29254294A JPH08153838A (ja) | 1994-11-28 | 1994-11-28 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29254294A JPH08153838A (ja) | 1994-11-28 | 1994-11-28 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08153838A true JPH08153838A (ja) | 1996-06-11 |
Family
ID=17783136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29254294A Withdrawn JPH08153838A (ja) | 1994-11-28 | 1994-11-28 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08153838A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008153069A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Toyota Motor Corp | 接続装置 |
-
1994
- 1994-11-28 JP JP29254294A patent/JPH08153838A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008153069A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Toyota Motor Corp | 接続装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020205 |