JPH0815045B2 - Crtランデイング測定器 - Google Patents

Crtランデイング測定器

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JPH0815045B2
JPH0815045B2 JP61164919A JP16491986A JPH0815045B2 JP H0815045 B2 JPH0815045 B2 JP H0815045B2 JP 61164919 A JP61164919 A JP 61164919A JP 16491986 A JP16491986 A JP 16491986A JP H0815045 B2 JPH0815045 B2 JP H0815045B2
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清彦 手塚
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、CRTの製造工程におけるCRTランディング
測定器やカラーテレビ製造工程におけるCRTランディン
グ測定時に用いることができるCRTランディング測定器
に関するものである。
従来の技術 従来のCRTランディング測定器は第3図のような構造
になっていた。即ち、顕微鏡21に強制磁界印加コイル22
をとりつけ、その強制磁界印加コイル22は極性切換スイ
ッチ23を通し直流電源24に接続される。
測定時は、第4図に示すように、先ず測定しようとす
るCRTの管面31の測定したいポイントに顕微鏡21をあ
て、焦点を合せ、第1図の極性切換スイッチ23を+方向
にたおし、第4図のCRT管面31に強制磁界を上から下方
向に印加し、電子ビームを故意に左方向へ振り、第5図
aに示す螢光体33の発光幅l1を得る。次に第3図の極性
切換スイッチ23を一方向にたおし、第4図のCRT管面31
に強制磁界を下から上方向に印加し、電子ビームを故意
に右方向へ振り、第5図bのように螢光体33の発光幅l2
を得る。
この差の半分が第5図cのように螢光体33への電子ビ
ームの着地状態、即ちランディングである。数式を用い
れば、ランディングlはl=(l1−l2)×1/2で求めら
れ、ランディングlが正ならこの場合右方向へ、負なら
左方向へずれている事になる。
発明が解決しようとする問題点 ところが、螢光体の発光幅は実際は第6図aの発光部
41のように、特にシャドウマスクの影となるべき部分42
は凹凸がはげしく、どこを読みとるべきか、難かしいも
のであった。又、第6図bのようにその境界43ははっき
りとしたものなく徐々に明るくみえる部分44から発光し
ない部分45へ幅をもっている。
更に顕微鏡21の倍率により可能読みとり精度が限定さ
れるという問題点があった。
そこで本発明は上記問題点に鑑み、螢光体の発光部分
の面積、ひいてはランディング位置を正確に求めること
ができるCRTランディング測定器を提供しようとするも
のである。
問題点を解決するための手段 本発明によるCRTランディング測定器は、互いに逆方
向に偏向された電子ビームに基く螢光体の発光部の光学
像を顕微鏡付カメラで電気信号に変換し、この電気信号
を入力し発光部の凹凸の著しい部分を平均化して平均的
な横方向の寸法を求める手段と、上記電子ビームを一方
向に偏向したとき得られる発光部の横方向の寸法と、電
子ビームを他方向に偏向したとき得られる発光部の横方
向の寸法との差からランディングを求める手段とを備え
たことを特徴とする。
作用 この技術的手段による作用は次のようになる。
すなわち、顕微鏡からの光学映像をカメラで電気信号
にかえ、その信号を画像処理する事により、境界をとり
出し、凹凸の激しい部分を平均化して発光幅とするた
め、発光部分の面積を正確に求めることができるもので
ある。
実施例 以下、本発明の一実施例を添付図面にもとづいて説明
する。
第1図において、1は顕微鏡で、これに強制磁界印加
コイル2が取り付けられている。
顕微鏡2の焦点調整は表示部6をみて行える。この顕
微鏡2を通して得られるCRT管面の適切な光学像をカメ
ラ3で電気信号に変換する。その信号を画像処理部4で
受けとり、演算部5との連携動作をする。7は磁界制御
部で、ランディングを求めるため、磁界発生を制御でき
るものである。8は信号発生部で、赤,青,緑のテレビ
信号を発生する。9はCRT管面の螢光体である。
次に、この一実施例の構成における作用を説明する。
先ず信号発生部8より緑のテレビ信号を発生し、緑の螢
光体を発光させる。そこで、顕微鏡1を被測定CRTの測
定したい部分に装着し、表示部6をみて焦点を合せる。
磁界制御部7から強制磁界印加コイル2に電流を流し、
まず電子ビームを左へ振り、螢光体9に対し第2図aの
発光部10をえる。その光学像をカメラ3で電気信号にか
え画像処理部4で受けとる。演算部5は画像処理部4と
信号やデータをやりとりし、横幅が螢光体9のそれより
広い面積計算枠11内の計算対象部12の面積を計算する。
この場合、面積計算枠11の横幅はブラックストライプ部
分の略中央までとする。面積計算枠11の縦方向の長さは
一定であるので、先程求めた面積を縦方向の長さで割れ
ば、発光部10の形の不揃いを解消した平均的な横方向の
長さが求まる。
同様に磁界制御部7から強制磁界印加コイル2に先程
と反対方向に電流を流し、電子ビームを右へ振る。その
時、発光部13は第2図bのようになり、面積計算枠11内
の計算対象部14の面積計算を上記と同様に行い、平均的
な横方向の長さを求める。
この2つの求められた長さの差の半分が電子ビームの
着地状態、即ちランディングが求まる。その差を求めた
時、正や負の値となるが、その符号がランディングが螢
光体9の中心に対し左右のズレ方向をあらわす。
以上の結果、たとえばランディングの方向と数値を表
示部6に表示する事により、容易にランディングが測定
できるようになった。
また以上の説明でわかるように従来例においては、拡
大光学像の計算対象部を求めるのに、顕微鏡1を微妙に
位置合せするのが困難である。
そこで、本構成では拡大光学像の電気信号を使用し、
画像処理された段階で最適部分を計算対象部12とするよ
うサーチ機能をもたせ、面積計算枠11を最適部分に設定
させている。また従来、ランディングは緑の映像に対し
てのみ評価してきたが、本構成では信号発生部8を内蔵
し、且つ画像処理に適するよう画像処理部4内にレベル
コントロール手段を備え、赤や青の映像に対しても容易
にランディングが測定可能としている。
なお、本実施例では表示部6に光学像の画像処理され
たものと、ランディングの方向と数値を表示させてい
る。
発明の効果 本発明は、ランディングを自動測定するもので、高精
度(0.1ミクロン分解能)で、ランディングの上下,左
右方向について測定できる。
しかも次の様な効果も奏する。
すなわち本発明では、測定する部分に微妙に顕微鏡を
装着しなくても、必要部分を自動的に求める機能を有す
るため操作が容易である。
更に、従来は顕微鏡目測の不便さの余りできなかった
赤や青の映像に対しても測定可能となった。また、応用
的な使い方として、くりかえし測定可能なため、ランデ
ィングの時間的変化を容易にとらえる事ができるという
利点も有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例におけるCRTランディング測
定器のブロック図、第2図a,bは同測定器の作用を説明
するための図、第3図は従来のCRTランディング測定器
の構成図、第4図は顕微鏡の使用状態を示す斜視図、第
5図a,b,cは従来例の機能を説明するための図、第6図
a,bは従来例の問題点を説明するための図である。 1……顕微鏡、2……強制磁界印加コイル、3……カメ
ラ、4……画像処理部、5……演算部、6……表示部、
7……磁界制御部、8……信号発生部。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】CRT管面上の任意の測定箇処における蛍光
    体の偏向電子ビームに基づく発光部の光学像を拡大する
    手段と、 前記拡大された蛍光体の発光部の光学像を電気信号に変
    換する手段と、 前記拡大手段に近接して配設された強制磁界印加手段
    と、 前記強制磁界印加手段の印加磁界を制御する磁界制御手
    段と、 前記蛍光体の発光部の拡大光学像に対応する電気信号を
    入力し所定枠内の前記蛍光体の発光部面積を求める演算
    手段と、 前記蛍光体発光部の拡大光学像の電気信号に対して面積
    計算の対象となる領域として設定された所定枠が前記拡
    大光学像の最適部分が計算対象となるようにサーチする
    サーチ機能手段と、 前記演算手段からのデータを表示する表示手段とを備
    え、 前記磁界制御手段により強制磁界印加手段の磁界の方向
    を前記電子ビームを互いに逆方向に偏向するように切換
    え制御して、前記電子ビームを一方向に偏向したときに
    得られる所定枠内の蛍光体の発光部面積と、前記電子ビ
    ームを他方向に偏向したときに得られる所定枠内の蛍光
    体の発光部面積との差に対応した値から前記演算手段に
    よりランディングの値を求め、前記表示手段に表示する
    ようにしたことを特徴とするCRTランディング測定器。
  2. 【請求項2】緑、赤、青の各ビームについてランディン
    グを測定可能とした特許請求の範囲第1項記載のCRTラ
    ンディング測定器。
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