JPH0814874A - 測定装置 - Google Patents

測定装置

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JPH0814874A
JPH0814874A JP16742894A JP16742894A JPH0814874A JP H0814874 A JPH0814874 A JP H0814874A JP 16742894 A JP16742894 A JP 16742894A JP 16742894 A JP16742894 A JP 16742894A JP H0814874 A JPH0814874 A JP H0814874A
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JP
Japan
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measuring
measurement
probe
measuring device
time
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JP16742894A
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English (en)
Inventor
Kazuo Sugihara
和男 杉原
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Nidec Tosok Corp
Original Assignee
Nidec Tosok Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定値が正しい値に安定するまでの応答時間
が短い測定装置を提供する。 【構成】 弾性体により支持された測定アーム4の一端
に測子3を設け、測子3が変位したときの変位量を測定
アーム4を介して検出する構造の測定装置11にバイブ
レータ38を設ける。測定時にバイブレータ38を作動
させて、測定アーム4を支持する弾性体に、測子3を変
位させない程度の振動エネルギーを与える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、測定値が正しい値に安
定するまでの応答時間が短い測定装置に関し、例えば電
気マイクロメータに用いられる。
【0002】
【従来の技術】従来、主として微小な長さの測定に用い
られる測定装置である電気マイクロメータにあっては、
例えば図2に示すような検出機構部1を備えたものがあ
る。すなわち、この検出機構部1は図外の装置本体にス
ライド可能に設けられた支持部2を有しており、支持部
2には、一端に測子3が設けられた測定アーム4が連結
部材5を介して取り付けられている。
【0003】連結部材5は、幅約15mmの弾性体から
なり、図3にも示すように、支持部2に固定された固定
部5aと、測定アーム4が固定された可動部5bとを一
体形成されている。また固定部5aと可動部5bとの間
には間隙6が設けられるとともに、双方が連続する部分
には、隙間6により一部が切り欠かれた円形状の穴7が
設けられている。これにより、連結部材5の可動部5b
側にはその厚さLが約0.2mmの板ばね部5cが形成
されており、連結部材5が、穴7が収縮又は拡開するよ
う弾性変形することにより、板ばね部5cを支点として
前記測定アーム4が回動するようになっている。また、
連結部材5の固定部5bには、測定アーム4の他端部の
変位量を検出するための差動トランス8が設けられてい
る。
【0004】そして、かかる検出機構部1を備えた電気
マイクロメータでは、前記支持部2を測定方向に所定量
だけスライドさせて測子3を測定対象Wに当接させ、こ
のとき測定アーム4の他端部における変位量を差動トラ
ンス8により電気的な変量に変換することにより、測定
対象の内径や外径等を測定することができる。また、上
記のように弾性体(連結部材5)により測定アーム4が
支持された構成においては、例えばベアリングを用いて
測定アーム4を回動自在に支持させる場合と比べて、1
μm以下での測定精度が優れていることが経験的に知ら
れている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の電気マイクロメータにあっては、前述したよ
うに測定精度が優れている反面、0.01μmの感度で
測定を行う場合、測定値が正しい値に安定するまでの時
間つまり応答時間が長いという欠点があった。すなわち
図4は、前記電気マイクロメータにおける測定値と、測
定にかかる時間との関係を示すグラフであって、測定値
Q0は、変化曲線aに従って正しい値Q1に向かって徐
々に変化しやがてその値Q1で安定する。また、測定ア
ーム4の測子3が測定対象Wに当接した時点をT0、正
しい値Q1に達した時点をT1とすると、測定値が安定
するまでに要する時間T1−T0が10秒程度となって
いた。
【0006】一方、工場内の生産ラインにおいては、1
つのワーク毎の測定作業に要する時間が限られており、
またその時間は可能な限り短くすることが要求されてい
る。したがって、電気マイクロメータにあっては、前述
した応答時間を如何に短くするかが問題となっていた。
【0007】本発明は、このような従来の課題に鑑みて
なされたものであり、応答時間が短い測定装置を提供す
ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明にあっては、弾性体により支持された測定アー
ムの一端に測子を設け、該測子が変位したときの変位量
を前記測定アームを介して検出することにより測定を行
う測定装置において、前記測子を変位させない程度の振
動エネルギーを測定時の前記弾性体に与える振動発生手
段を設けたことを特徴としている。
【0009】
【作用】前記構成において、測定時に検出される変位量
又はそれに基づく測定値は、測子が測定対象に当接され
その変位が終了した時点からある時間つまり応答時間を
経過したのちに正しい値に安定するが、測定時に、振動
発生手段によって測子を変位させない程度の振動エネル
ギーを弾性体に与えると、上記の応答時間が、振動エネ
ルギーを与えない場合に比べて短くなり、同時に測定結
果のバラツキ幅が減少する。
【0010】これは、以下の理由によると考えられる。
すなわち、測子が変位するとき測定アームを支持する弾
性体は、測子にかかる測定圧と変形量の相関を含めて弾
性変形する。このとき、弾性体には、弾性体に残留する
エネルギー、つまり自らの弾性抵抗により平衡状態に達
することを遅らせようとする力が残留しており、その影
響によって回動した測定アームはそのエネルギーを放出
する時間だけ微動するが、そのとき弾性体に振動エネル
ギーが与えられていると、前記エネルギーの消費が促進
されることによって、弾性体における平衡状態への移行
速度が加速される。その結果、測定アームがより短かい
時間で平衡状態となり停止される。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図にしたがって説
明する。すなわち図1は、本発明に係る工場内に設置さ
れた内径測定装置11を示す図であって、内径測定装置
11は工場内の床面に固定された架台12と、その上部
にエアクッション13,13を介して固定されたベッド
14とを有している。ベッド14の上部には測定部21
と測定コラム31とが設置されている。測定部21は、
ベット14に固定された測定部本体22を有している。
測定部本体22は、従来例で説明したものと同一の検出
機構部1を有する4基の電気マイクロメータを備えてお
り、その上部には、互いに直行するX軸とY軸とに沿っ
て支持部2が一対づつスライド可能に設けられるととも
に、各々の支持部2に、上端に測子3を有する測定アー
ム4が連結部材5を介して支持されている。
【0012】他方、測定コラム31は垂直断面が略コ字
状をなす強固なフレーム32と、その正面側にエアベア
リング式のスライダ33を介して支持された、昇降自在
なワーク受け台34とを有している。なお、ワーク受け
台34は、前記測定部21に起立する4本の測定アーム
4の直上に位置されている。前記フレーム32の上部に
はプーリー33,33が設けられており、その一方側が
図示しない回転機構により正逆双方向に回転されるよう
構成されている。また、フレーム32の内側には支持ロ
ッド34が立設されており、これに昇降自在に外挿され
たバランスウエイト35に、前記プーリー33,33に
架け渡され、かつ一端が前記ワーク受け台34に連結さ
れたワイヤロープ36の他端が連結されている。これに
より、一方のプーリー33を小さな回転力で回転させる
だけでワーク受け台34を昇降させることができるよう
になっている。
【0013】さらに、フレーム32の内側には、底部に
設けられたブラケット37を用いて本発明の振動発生手
段であるバイブレータ38が固定されている。このバイ
ブレータ38は、部品をばら積み状態に貯蔵したホッパ
に高周波振動を与えることにより、前記部品を整列搬送
する周知の振動ポッパフィーダに用いられるものであっ
て、内径測定装置11の作動に伴い作動されるようにな
っている。またバイブレータ38が発生する振動数は5
0Hzであって、後述する測定時に、前記測子3を変位
させない程度の振動エネルギーを前記連結部材5に与え
ることができるよう、内径測定装置11における設置位
置をその起振性能に応じて選定されている。
【0014】以上の構成からなる内径測定装置において
は、図外の供給装置によってワークWがワーク受け台3
4に供給されると、ワーク受け台34が降下し4本の測
定アーム4の外側にワークWが遊挿される。すると4本
の測定アーム4が互いが離間する方向に決められた距離
(0.01mm〜0.03mm)だけ移動し、各測子3
がワークWの内周面に当接し、このときの各測子3の変
位が検出されることによって、X軸及びY軸方向におけ
るワークWの内径が測定される。より具体的には、検出
した各測子3の変位と、予めマスターゲージに対して測
定作業を行ったときの各測子3の変位とを比較すること
により内径が測定され、図示しない表示器に測定値が表
示される。
【0015】一方、かかる測定時には、バイブレータ3
8が作動しており、その振動エネルギーがブラケット3
7から、フレーム32、ベット14、測定部本体22、
支持部2を介して測定アーム4を支持する連結部材5へ
与えられている。このため、測定時に表示される測定値
は、図4に変化曲線bに示したように変化し、各測子3
・・・がワークWに当接した時点における測定値Q0か
ら正しい値Q1に達するまでの時間T1−T0を1〜3
秒程度とすることができる。つまり応答時間を短くする
ことができる。これと同時に測定結果のバラツキ幅が、
20回の繰り返し測定に於いてバイブレータ38を作動
させない場合に比べ0.8μm程度減少する。この事
は、作動させない場合は10秒の応答時間でも完全に安
定した平衡状態になった訳ではなく、0.8μmに相当
する残留エネルギーが放出されない事を意味する。
【0016】よって、本実施例の内径測定装置11にお
いては、測定値が正しい値に安定するまでの時間、つま
り応答時間が従来よりも短かいため、1つのワークW毎
の測定作業に要する時間を短縮することが可能となる。
その結果、単位時間当たりの測定回数を上げる等、測定
効率を向上させることができる。しかも測定結果のバラ
ツキを減少させることにより、信頼性を向上させること
もできる。
【0017】なお、前記バイブレータ38は、前述した
測定作業の全工程を通じて作動させる必要はなく、例え
ば4本の測定アーム4がX軸及びY軸方向への移動を終
了した時点で作動させるようにしてもよい。また、本実
施例では、バイブレータ38を測定コラム31のフレー
ム32に固定したものについて説明したが、バイブレー
タ38の設置位置はその起振性能に応じて選定されるも
のであり、測定時に、前記測子3を変位させない程度の
振動エネルギーを連結部材5に与えるような箇所であれ
ばどこであっても構わない。また、前述したバイブレー
タ38を用いることなく、他の機器又は方法により測定
アーム4を支持する連結部材5に振動エネルギーを与え
るようにしてもよい。
【0018】また、本実施例では、4基の電気マイクロ
メータを備えた内径測定装置11を例に取り説明した
が、これに限らず、弾性体により支点を支持された測定
アームの一端に測子を設け、その測子が変位したときの
変位量を測定アームを介して検出することにより測定を
行う検出構造を有するものであれば、他の測定装置であ
っても、前述した効果を奏することができる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように本発明にあっては、
測定アームを支持している測定時の弾性体に、振動発生
手段によって測子を変位させない程度の振動エネルギー
を与える構成としたことから、従来と比べてその応答時
間を短くすることができる。その結果、単位時間当たり
の測定回数を上げる等、測定効率を向上させることがで
きる。しかも、測定結果のバラツキが減少するため、測
定装置の信頼性を向上させることも可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である内径測定装置を示す一
部断面図である。
【図2】同内径測定装置及び従来の測定装置における検
出機構部を示す図である。
【図3】図2の要部拡大図である。
【図4】同内径測定装置及び従来の測定装置における測
定値と、測定にかかる時間との関係を示すグラフであ
る。
【符号の説明】
1 検出機構部 3 測子 4 測定アーム 5 連結部材(弾性体) 5c 板ばね部 11 内径測定装置 38 バイブレータ(振動発生手段)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 弾性体により支持された測定アームの一
    端に測子を設け、該測子が変位したときの変位量を前記
    測定アームを介して検出することにより測定を行う測定
    装置において、 前記測子を変位させない程度の振動エネルギーを測定時
    の前記弾性体に与える振動発生手段を設けたことを特徴
    とする測定装置。
JP16742894A 1994-06-27 1994-06-27 測定装置 Pending JPH0814874A (ja)

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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006047060A (ja) * 2004-08-03 2006-02-16 Nsk Ltd 円形の周面を有する部材の直径測定方法及び測定装置
JP2010185836A (ja) * 2009-02-13 2010-08-26 Nsk Ltd 軸受用軌道輪の溝径測定装置及び測定方法
WO2013118918A1 (ja) * 2012-02-09 2013-08-15 株式会社Ihi 内径測定装置及び内径測定方法
US9145924B2 (en) 2012-02-09 2015-09-29 Ihi Corporation Rotation restricting device for rotation machine
US9372073B2 (en) 2012-02-09 2016-06-21 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
US9372061B2 (en) 2012-02-09 2016-06-21 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
US9410795B2 (en) 2012-02-09 2016-08-09 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
US9429409B2 (en) 2012-02-09 2016-08-30 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
US9518817B2 (en) 2012-02-09 2016-12-13 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
US9612109B2 (en) 2012-02-09 2017-04-04 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
JP2021025988A (ja) * 2019-08-02 2021-02-22 方小剛 セメント管内部に対する隙間測定装置

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006047060A (ja) * 2004-08-03 2006-02-16 Nsk Ltd 円形の周面を有する部材の直径測定方法及び測定装置
JP4496879B2 (ja) * 2004-08-03 2010-07-07 日本精工株式会社 円形の周面を有する部材の直径測定方法及び測定装置
JP2010185836A (ja) * 2009-02-13 2010-08-26 Nsk Ltd 軸受用軌道輪の溝径測定装置及び測定方法
WO2013118918A1 (ja) * 2012-02-09 2013-08-15 株式会社Ihi 内径測定装置及び内径測定方法
JP2013164272A (ja) * 2012-02-09 2013-08-22 Ihi Corp 内径測定装置及び内径測定方法
US9145924B2 (en) 2012-02-09 2015-09-29 Ihi Corporation Rotation restricting device for rotation machine
US9372073B2 (en) 2012-02-09 2016-06-21 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
US9372061B2 (en) 2012-02-09 2016-06-21 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
US9410795B2 (en) 2012-02-09 2016-08-09 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
US9429409B2 (en) 2012-02-09 2016-08-30 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
US9470509B2 (en) 2012-02-09 2016-10-18 Ihi Corporation Inner diameter measuring device and inner diameter measuring method
US9518817B2 (en) 2012-02-09 2016-12-13 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
US9612109B2 (en) 2012-02-09 2017-04-04 Ihi Corporation Inner diameter measuring device
JP2021025988A (ja) * 2019-08-02 2021-02-22 方小剛 セメント管内部に対する隙間測定装置

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