JPH08148544A - 部品剥離方法 - Google Patents

部品剥離方法

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JPH08148544A
JPH08148544A JP28634694A JP28634694A JPH08148544A JP H08148544 A JPH08148544 A JP H08148544A JP 28634694 A JP28634694 A JP 28634694A JP 28634694 A JP28634694 A JP 28634694A JP H08148544 A JPH08148544 A JP H08148544A
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JP
Japan
Prior art keywords
adhesive tape
component
chip
adhesive
tape
Prior art date
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Pending
Application number
JP28634694A
Other languages
English (en)
Inventor
Shingo Okuyama
晋吾 奥山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP28634694A priority Critical patent/JPH08148544A/ja
Publication of JPH08148544A publication Critical patent/JPH08148544A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68318Auxiliary support including means facilitating the separation of a device or wafer from the auxiliary support
    • H01L2221/68322Auxiliary support including means facilitating the selective separation of some of a plurality of devices from the auxiliary support

Landscapes

  • Specific Conveyance Elements (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 テープ基材の性質に影響されることなく、粘
着テープからの部品の剥離を確実に行うことが可能な部
品の剥離方法を実現する。 【構成】 ダイシングカットの後、粘着テープ11表面
には所定の隙間をもって複数の部品12が接着されてい
る。この状態で、部品12の側面を押圧プレート13を
スライドさせることにより押圧し、部品12を粘着テー
プ11表面に沿う方向に移動させ、粘着テープ11との
接着力を低下させる。その後、吸引チャック15により
吸引することにより粘着テープ11から部品12をピッ
クアップする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、粘着テープに接着され
たセラミックウェーハ等をダイシング等によって個々の
チップに分割した後、該チップを粘着テープから剥離さ
せるための部品剥離方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えばセラミック電子部品などの
製造工程においては、セラミックウェーハを切断して個
々のチップを得る方法が用いられている。この方法にお
いては、セラミックウェーハを粘着テープ表面に貼り付
けた状態でダイシング等による切断処理が施される。そ
して、チップを粘着テープ表面から剥離して取り出し、
次工程に供給していた。粘着テープからチップを剥離さ
せて取り出す方法としては、以下のような方法が用いら
れている。
【0003】その第1の方法を図3に模式的に示す。こ
の方法は、個々に切断されて上方に取り出すべきチップ
2aが接着されている粘着テープ1の下面側から突き上
げピン3を上方に突き上げてチップ2aを剥離させる方
法である。突き上げピン3を粘着テープ1の下面側から
上方に突き上げると、チップ2aの下面側と粘着テープ
1との接着が剥がれ始め、接着面積が少なくなり粘着力
が低下する。この状態で、吸引チャック4によりチップ
2aを上方に吸引し、粘着テープ1表面から部品2aを
剥離させて取り出す。そして、1つのチップ2aのピッ
クアップが終了すると、粘着テープ1を移動させて次の
チップ2bの処理に移行する。以下、これを全ての部品
に対して行う。
【0004】また、チップの取り出し方法の他の従来例
を図4に模式的に示す。この方法は、粘着テープ1の下
面側から突き上げ針5を上方に突き上げることによって
チップ2を剥離させるものである。突き上げ針5を上方
に突き上げると、その先端部は、粘着テープ1を貫通し
てチップ2の下面を上方に押し上げる。これによりチッ
プ2が粘着テープ1から剥がれることになる。そして、
吸引チャック4により部品2を吸引することによって部
品2を粘着テープ1表面から取り出す。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
方法では、粘着テープ1のテープ材料の種類によっては
種々の問題が生じる。例えば、図3に示した突き上げピ
ン3を用いる方法では、テープ基材がポリエチレン樹脂
などのように伸びの非常に少ない材料の場合には、粘着
テープ1の突き上げには大きな力が必要となり、突き上
げに困難を伴う。また、突き上げピン3により突き上げ
られた場合でも、粘着テープ1が伸びにくいため、部品
2と粘着テープ1との接着面間のずれが少なく、剥離が
十分に行われにくい。
【0006】また、図4に示した突き上げ針5を用いた
方法では、テープ基材の種類によっては突き上げ針5が
刺さりにくく、このような場合にはチップ2の突き上げ
が不十分となる。
【0007】そして、上記いずれの方法においても剥離
が不十分な場合には吸引チャック4での吸引が困難とな
り、粘着テープ1上にピックアップできなかったチップ
が残存してしまうという問題が生じた。
【0008】さらに、突き上げピン3あるいは突き上げ
針5を用いる上記の方法では、それらを一度に多数の部
品2に対して動作させることが難しく、チップの取り出
し処理を高速化することが難しかった。
【0009】本発明の目的は、粘着テープ表面から確実
に部品を剥離させることが可能な部品剥離方法を提供す
ることである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、粘着テープ表
面に接着された部品を粘着テープ表面から剥がせて取り
出すための部品剥離方法であり、まず、粘着テープに接
着されたウェーハを用意し、ウェーハを個々の部品に切
断する。そして、粘着テープ表面に接着された部品の側
面を部品と粘着テープとの接着面に沿う方向に押圧する
ことによって、部品と粘着テープ表面との接着力を低下
させ、剥離させることを特徴とするものである。
【0011】また、本発明の他の局面に従う部品剥離方
法においては、粘着テープの粘着剤層として紫外線照射
により粘着力の低下する粘着剤を用い、粘着テープ表面
に形成された粘着剤層に紫外線照射を行うことによって
粘着力を低下させた後、部品の側面を押圧することを特
徴とするものである。
【0012】なお、本発明における「部品」とは、例え
ば、セラミック電子部品などの半製品あるいは完成品を
構成する要素部品であって、以下の実施例等において使
用される「チップ」はこれに相当する。
【0013】
【作用】本発明では、粘着テープ表面に接着された部品
は、例えばセラミックウェーハなどをダイシング等によ
りカットすることによって、カット幅に相当するような
一定の隙間を隔てて配列される。この状態で、部品の側
面を押圧すると、部品は粘着テープ表面から浮きあが
り、あるいは粘着テープ表面に沿って相対的にずれる方
向に移動する。この部品の浮き上がりや移動は、隣接す
る部品との間の隙間によって許容される。そして、部品
の移動等によって、粘着テープ表面との接着力が低下し
た状態となる。このため、この部品をピックアップする
際は、粘着テープの粘着力の影響をほとんど受けること
なく容易に取り出すことができる。
【0014】また、粘着テープ表面の粘着剤層に紫外線
照射を行って粘着力を低下させた場合には、部品のずれ
方向への移動等によって、より容易に、かつ確実に部品
と粘着テープとの接着力を低下させることができる。従
って、部品のピックアップ処理を容易にかつ確実に行わ
せることができる。
【0015】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。図1は、セラミック電子部品などの
製造工程において、本実施例の部品剥離方法が適用され
る工程を模式的に示したものである。図1(a)に示す
ように、多数の素子が形成されたセラミックウェーハ1
0は粘着テープ11の表面に接着される。粘着テープ1
1はテープ基材として、伸びが小さいもの、例えばポリ
エチレンあるいはポリエステルなどのフィルムを用い、
その表面に粘着剤層を形成することにより構成されてい
る。粘着剤層の材料としては、好ましくは紫外線(U
V)照射により粘着力が低下する性質を有する材料、例
えば、アクリル系樹脂が用いられる。
【0016】粘着テープ11表面に接着されたセラミッ
クウェーハ10は、ダイシング加工あるいは切断刃によ
る剪断加工によって個々のチップ12に分割される。次
に、図1(b)に示すように、ダイシング加工などの後
に、紫外線を照射し、粘着テープ11の粘着剤層の粘着
力を低下させる。この状態では、チップ12は粘着テー
プ11の表面に密着しており、吸引などの方法によって
は、まだチップ12を剥離させにくい状態である。
【0017】さらに、図1(c)に示すように、押圧プ
レート13に対してチップ12及び粘着テープ11が互
いに図示のような水平な位置関係となるように粘着テー
プ11を設定する。押圧プレート13は粘着テープ11
表面上のチップ12の側面に対面しており、例えば空気
圧あるいは油圧シリンダ14によって水平方向に移動可
能に構成されている。
【0018】その後、図1(d)に示すように、シリン
ダ14を駆動し、押圧プレート13をチップ12の側面
に当接する方向に移動させる。これにより、チップ12
は水平方向に押され、粘着テープ11表面から浮き上が
り、あるいは粘着テープ11の表面に沿ってずれる方向
に移動する。この際、チップ12は、隣接するチップ1
2との間にダイシングカットなどによってできた隙間が
存在することにより、その移動が阻害されない。このた
め、チップ12は粘着テープ11表面と剪断剥離を生じ
る。ここで、粘着テープ11の基材として伸びの少ない
材料を用いた場合には、チップ12の剪断方向への相対
移動がより大きくなることにより確実に剥離が行われ
る。そして、剥離して接着力の低下したチップ12を吸
引チャック15などを用いてピックアップする。これに
より、粘着テープ11表面からチップ12を容易に取り
出すことができる。1つのチップ12のピックアップが
終了すると、再び次のチップ12に対して図1(c)及
び図1(d)の工程を繰り返し行ない、粘着テープ11
表面上の全てのチップ12をピックアップする。
【0019】ここで、上記の押圧プレート13は、1つ
のチップ12のみの側面に対応したものに限らず、複数
のチップ12の側面を同時に押圧し得る構造のものであ
ってもよい。そのような押圧プレート13の構造を図2
に模式的に示す。図示の例は、1つのシリコンウェーハ
の一辺に沿って分割して配列されたチップ列の側面を押
圧し得る長さに押圧プレート13の長さが設定されてい
るものである。このように構成することにより、押圧プ
レート13の一度の押圧動作により、ウェーハの側面に
沿った1列のチップ12を一度に剥離させることができ
る。従って、粘着テープ11表面から複数のチップの取
り出し処理を同時に行うことが可能となり、チップのピ
ックアップ処理の高速化を図ることができる。
【0020】なお、上記実施例において、粘着テープ1
1表面に接着されるウェーハは、焼結後のセラミックウ
ェーハに限定されるものではなく、焼結前の状態であっ
ても、また半製品であっても完成品であっても本発明の
部品剥離方法を適用することは可能である。また、セラ
ミックウェーハに限定されるものではなく、例えばシリ
コンウェーハを切断して得られたチップのピックアップ
処理に対しても適用することができる。
【0021】さらに、押圧プレート13の移動機構とし
ては、上記における油圧や空気圧シリンダーに限定され
るものではなく、他の機構を用いたものであってもよ
い。
【0022】
【発明の効果】このように、本発明による部品剥離方法
においては、粘着テープ上の部品に対して側面からの押
圧動作によって部品の接着力を低下させ、剥離させ易い
ように構成したため、従来の方法によって問題となった
テープの伸びや硬さに起因する剥離不良といった問題を
生ずることなく確実に部品の剥離を行わせることができ
ることにより、部品のピックアップ作業の生産性を向上
させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例による部品剥離方法の各工程
(a)〜(d)を示す工程模式図。
【図2】本発明の実施例における押圧プレートの構成例
を示す構成模式図。
【図3】従来の部品の剥離方法の一例を示す模式図。
【図4】従来の部品剥離方法の他の例を示す模式図。
【符号の説明】
10…セラミックウェーハ 11…粘着テープ 12…部品(チップ) 13…押圧プレート 14…シリンダ 15…吸引チャック

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 粘着テープ表面に接着された部品を前記
    粘着テープ表面から剥がせて取り出すための部品剥離方
    法において、 前記粘着テープに接着されたウェーハを用意する工程
    と、 前記ウェーハを個々の部品に切断する工程と、 前記粘着テープ表面に接着された前記部品の側面を前記
    部品と前記粘着テープの接着面に沿う方向に押圧するこ
    とによって前記部品と前記粘着テープとの接着力を低下
    させる工程とを備えたことを特徴とする、部品剥離方
    法。
  2. 【請求項2】 前記粘着テープの粘着剤層として紫外線
    照射により粘着力の低下する粘着剤を用い、前記粘着テ
    ープ表面に形成された前記粘着剤層に紫外線照射を行っ
    て粘着力を低下させた後、前記部品の側面を押圧するこ
    とを特徴とする、請求項1に記載の部品剥離方法。
JP28634694A 1994-11-21 1994-11-21 部品剥離方法 Pending JPH08148544A (ja)

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JP28634694A JPH08148544A (ja) 1994-11-21 1994-11-21 部品剥離方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018177399A (ja) * 2017-04-05 2018-11-15 アルプス電気株式会社 剥離方法及びプログラム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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