JPH08146320A - 二次元走査装置 - Google Patents

二次元走査装置

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JPH08146320A
JPH08146320A JP30701394A JP30701394A JPH08146320A JP H08146320 A JPH08146320 A JP H08146320A JP 30701394 A JP30701394 A JP 30701394A JP 30701394 A JP30701394 A JP 30701394A JP H08146320 A JPH08146320 A JP H08146320A
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JP
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scanning
scanned
light
light beam
lens
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JP30701394A
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English (en)
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Masayuki Suzuki
雅之 鈴木
Toshihiko Tsuji
俊彦 辻
Seiji Takeuchi
誠二 竹内
Kyoichi Miyazaki
恭一 宮崎
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Canon Inc
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Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 被走査面上を光スポットで二次元的に走査す
る際、小型で、かつ簡易な構成で歪みのない二次元画像
を得ることができる二次元走査装置を得ること。 【構成】 光源手段1から光変調を受けて出射した光ビ
ームを直交する二方向に関して二次元的に偏向可能な偏
向手段3を介して偏向させた後、走査レンズ4により被
走査面5上に導光して、該被走査面上を二次元的に走査
する際、該走査レンズの歪曲特性はf・sinθ特性を
成していること。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は二次元走査装置に関し、
特にf・sinθ特性を備えた走査レンズを利用して被
走査面上を光スポットで二次元的に走査することによ
り、歪みのない二次元画像を形成することができる二次
元走査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より被走査面上を光スポットで二次
元的に走査して二次元画像を形成する二次元走査装置
が、例えば特公昭44−9321号公報や特開昭51−
26050号公報等で種々と提案されている。
【0003】しかしながらこれらの公報で提案されてい
る二次元走査装置は光偏向器で偏向された光ビームを1
方向のみに偏向させて直線を描こうとした場合、被走査
面上での走査線は該被走査面の中心部を通過するもの以
外は全て曲線になってしまうという問題点があった。
【0004】又、本出願人は例えば特公昭62−205
25号公報で二次元走査装置を提案している。同公報で
は上記の走査歪を光学的及び機械的に補正することによ
り、この問題点を解決している。しかしながら被走査面
を二次元走査するには、結像手段としての走査レンズ自
体を光偏向器と同期させて回動しなければならず、その
為その回動機構が複雑化になる傾向があった。
【0005】又、特開平1−167718号公報で提案
されている二次元走査装置では上記の走査歪をテレセン
トリックレンズとシリンダー走査レンズとを用いて補正
している。しかしながら同公報では被走査面の長さと同
じ長さのミラー面を有する大型のポリゴンミラーを用い
なければならず、例えば被走査面が大きい場合には装置
全体が大型化するという問題点があった。
【0006】一方、特開平1−163717号公報や論
文Minoura,et.al,"A study on Laser scanning systems
using a monolithic arrayed Laser diode" , SPIE Pr
oceedings,vol.1079,PP462-474(1989)等では本発明で用
いるf・sinθレンズを利用した技術が種々と開示さ
れている。
【0007】しかしながらこれらで開示されている公報
や論文は何れも複数の光ビームで複数の走査線を同時に
形成する場合に、該複数の走査線を直線にすることを目
的としたものであり、二次元走査装置への応用には何ら
開示されていなかった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明の第1の目的は
偏向手段として2次元偏向が可能な偏向手段を用いると
共に結像手段としてf・sinθ特性を有する走査レン
ズ(f・sinθレンズ)を利用することにより、簡易
な構成で小型化を図りつつ歪みのない走査が可能な二次
元走査装置の提供を目的とする。
【0009】本発明の第2の目的は偏向手段として偏向
方向が互いに異なる複数の光偏向器を用いると共に結像
手段としてf・sinθ特性を有する走査レンズ(f・
sinθレンズ)を利用することにより、簡易な構成で
小型化を図りつつ歪みのない走査が可能な二次元走査装
置の提供を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の二次元走査装置
は (1−イ)光源手段から光変調を受けて出射した光ビー
ムを直交する二方向に関して二次元的に偏向可能な偏向
手段を介して偏向させた後、走査レンズにより被走査面
上に導光して、該被走査面上を二次元的に走査する際、
該走査レンズの歪曲特性はf・sinθ特性を成してい
ることを特徴としている。
【0011】特に前記偏向手段は光ビームを第1の方向
に偏向する第1の回動部と、該第1の回動部で偏向され
た第1の方向に対して直角な第2の方向に偏向する第2
の回動部とを有し、該第1の回動部と該第2の回動部と
を制御手段により制御することにより、前記被走査面上
を該光ビームで二次元的に走査したことを特徴としてい
る。
【0012】(1−ロ)光源手段から光変調を受けて出
射した光ビームを第1の方向に偏向する第1の光偏向器
を介して偏向させた後、アフォーカルレンズ系を通して
該第1の光偏向器で偏向された第1の方向に対して直角
な第2の方向に偏向する第2の光偏向器を介して偏向さ
せた後、走査レンズにより被走査面上に導光して、該被
走査面上を二次元的に走査する際、該走査レンズの歪曲
特性はf・sinθ特性を成していることを特徴として
いる。
【0013】特に前記第1の光偏向器と前記第2の光偏
向器とを制御手段により制御することにより、前記被走
査面上を前記光ビームで二次元的に走査したことや、前
記第1の光偏向器のミラー部と前記第2の光偏向器のミ
ラー部とを前記アフォーカルレンズ系に関して光学的に
略共役関係となるように構成したこと等を特徴としてい
る。
【0014】
【実施例】図1は本発明の実施例1の要部概略図であ
る。
【0015】同図において1は光源手段であり、例えば
半導体レーザより成っている。2はコリメーターレンズ
であり、光源手段1から光変調を受けて出射した光ビー
ムを平行光束にしている。3は偏向手段としての光偏向
器(ガルバノ式スキャナー、以下「スキャナー」ともい
う。)であり、入射光束を第1の方向(主走査方向)に
偏向する第1の回動部としての水平回動部3aと、該第
1の方向に対して直角な第2の方向(副走査方向)に偏
向する第2の回動部としての垂直回動部3bと、ミラー
部3cとを有し、後述するように半導体レーザ1から出
射した光ビームを直交する二方向(主走査方向及び副走
査方向)に関して二次元的に偏向させている。
【0016】4は走査レンズ(結像手段)としてのf・
sinθレンズであり、スキャナー3で偏向された画像
情報に基づく光ビームを被走査面5上に結像させてい
る。このf・sinθレンズ4は光ビームの投射点の移
動量が光ビームの偏向角θの正弦(sin)に比例する
特性(f・sinθ特性)を有しており、これにより本
実施例では走査線の歪みが生じることなく走査ができる
ようにしている。6は被走査面5に形成された走査スポ
ット(光スポット)である。
【0017】7は画像信号、8は信号補正回路であり、
後述する制御装置10からの制御信号に基づいて画像信
号7の補正を行なっている。9は信号補正回路8から出
力され半導体レーザ1に入力する補正された画像信号で
ある。10は制御手段としての制御装置であり、後述す
るようにスキャナー3の水平回動部3aと垂直回動部3
bそして信号補正回路8等の各要素を制御している。
【0018】本実施例では後述するようにこの制御装置
10によりスキャナー3の水平回動部3a及び垂直回動
部3bとを制御することによって被走査面5上を走査ス
ポットで二次元的に走査できるように構成している。
【0019】次に走査レンズとしてf・sinθレンズ
を用いたときの主走査方向の走査線が直線になる原理に
ついて図3、図4、図5を用いて説明する。
【0020】先ずその為にはf・sinθレンズの入射
瞳中心に入射する主光線が像面上(被走査面上)の、ど
の位置に到達するかを導出する。入射瞳中心に原点Oを
もつ直角座標系を設定し、x軸をレンズの光軸、y軸を
主走査方向、z軸を副走査方向とし、y−z平面を入射
瞳面と一致させる。
【0021】主光線の角度はx−y面から垂直に測った
角度をθz 、該主光線のx−y面への射影がx軸となす
角度をθy とする。即ち、方位角がθy であり、高度
(角度)がθz である。
【0022】このときの光線(光ビーム)の様子を図3
に示す。同図では簡単の為、光線を単位ベクトルで示し
ている。
【0023】図4(A)はこの主光線のy−z平面、即
ち入射瞳平面への射影である。εはこの主光線の射影が
y軸となす角度である。又この主光線の射影の方向にh
軸をとる。
【0024】又、図4(B)はこの主光線と光軸とを含
む面内、即ちx−h平面内で、この主光線を表わした説
明図である。ここでθ´は主光線が光軸(x軸)となす
角度である。これらの図に示した関係から図4(A)に
示した角度εは次式で与えられる。
【0025】
【数1】 又、図4(B)において角度θ´は次式で与えられる。
【0026】 cosθ´=cosθy ・cosθz ‥‥‥(2) 式(2)の関係を式(1)に代入することにより、角度
εを表わす式は次のように簡単になる。
【0027】
【数2】 図5は像平面内の様子を示す説明図であり、P´は主光
線の到達点(結像点)である。像面中心の光軸と交わる
点O´を原点とする直角座標O´−x´y´z´を設定
する。各座標軸x´,y´,z´は入射瞳中心に設けた
座標軸x,y,zと各々同一の方向を向いている。
【0028】f・sinθレンズの歪曲特性により、図
中の像高h´は該レンズの焦点距離をfとしたとき h´=f・sinθ´ ‥‥‥(4) で与えられる。
【0029】又、主光線の方向を表わす角度εは入射瞳
平面においても像平面においても変わらない。従って主
光線の像面での座標は
【0030】
【数3】 となり、これに式(4)と式(3)の関係を代入するこ
とにより最終的には
【0031】
【数4】 となる。
【0032】式(6)より座標z´は角度θz だけの関
数であることが分かり、角度θz を一定とすれば座標z
´は一定値となる。従って角度θz を一定とし、角度θ
y のみを変化させることにより走査軌跡は直線となる。
【0033】これはf・sinθレンズを用いた場合、
ミラー(ミラー部)を、z方向の角度を一定にしたまま
x−y面内で回動させることにより歪みのない直線走査
ができることを示している。
【0034】本発明では、この原理を利用したものであ
り、(イ)まず光線のz方向の角度をθz1に固定したま
まx−y面内での角度θyを変えることにより光ビーム
を直線走査し、(ロ)次に副走査方向のピッチに相当す
る分だけミラーのz方向の角度を変えて角度θz2にした
後、x−y面内での角度θy のみを変化させて光ビーム
を直線走査する、という動作を繰り返す。
【0035】この(イ),(ロ)の動作を繰り返して続
けることにより走査線が直線の2次元の画像を得ること
ができる。又この原理に加え副走査方向のピッチを該副
走査方向の位置によって任意に変化させ、更には主走査
方向の画像信号に電気的な補正を行なうことにより、歪
曲のない2次元走査を行なうことができる。
【0036】次に本実施例の動作について説明する。
【0037】本実施例において半導体レーザ1から光変
調を受けて出射した発散光束はコリメーターレンズ2に
より略平行光束とされスキャナー3のミラー部3cに入
射する。そしてミラー部3cで偏向された光ビームはf
・sinθレンズ4に入射し、収束作用を受け被走査面
5上に走査スポット6を形成する。そして走査スポット
6はスキャナー3の水平回動部3aと垂直回動部3bの
回動によって被走査面5上をそれぞれ水平方向(主走査
方向)と垂直方向(副走査方向)に移動する。
【0038】ここでミラー部3cの垂直方向の角度を一
定としたまま水平方向に回動を行なうと前述した原理に
より走査スポット6は水平方向(主走査方向)に直線状
に走査される。
【0039】この走査の方式は、まず垂直回動部3bを
固定にしたまま水平回動部3aによって水平方向の回動
を行なうことにより第1の直線状の走査線を形成し、次
に副走査方向のピッチに相当する分だけ垂直回動部3b
によってミラー部3cの垂直方向の角度を変えて固定
し、水平回動部3aによって水平方向の回動を行なうこ
とにより第2の直線状の走査線を形成する。
【0040】この動作を繰り返すことにより本実施例で
は被走査面5全域を2次元的に走査することができる。
【0041】又、本実施例では副走査方向のピッチを一
定にする為に垂直回動部3bによるミラー部3cの垂直
方向への角度変化のピッチを副走査座標z´(あるいは
主光線の垂直方向の角度θZ )によって変化させてい
る。
【0042】座標z´はf・sinθレンズ4の焦点距
離をfとしたとき、前述の式 z´=f・sinθz ‥‥‥(6a) を用いて表わされるので、この式(6a)を角度θz
ついて解いた式 θz =arcsin(z´/f) ‥‥‥(7) を用いて必要な角度θz の値を算出し、その角度θz
値になるように垂直回動部3bを動作させる。
【0043】あるいは式(6a)を微分することにより
得られる関係式 Δz´=f・cosθz ・Δθz ‥‥‥(8) を用いて、副走査方向のピッチを一定値Pにするための
光線の角度θz の変化量Δθz は Δθz =P/(f・cosθz ) ‥‥‥(9) と表わされるので、式(9)の変化量Δθz に相当する
分だけ光線の角度を変化させるように垂直回動部3bを
動作させても良い。
【0044】このときミラー部3cの回転角度は光線の
偏向角度の半分になるのでΔθz /2だけ垂直方向に回
転することになる。
【0045】制御装置10はこれら式(7)で求められ
た角度θz あるいは式(9)で求められた変化量Δθz
の値に応じて垂直回動部3bを動作させる。それによっ
て走査スポット6は副走査方向ヘ所望のピッチ分だけ移
動する。
【0046】次に主走査方向の走査についてであるが、
これは2通りの方法を適用することができる。
【0047】まず第1の方法としては走査スポット6が
被走査面5上で等速走査するように制御装置10がその
信号を作り出し、水平回動部3aを動作させるという方
法である。このときには信号補正回路8は動作せず、半
導体レーザ1に入力される補正された信号9が画像信号
7そのものになる。
【0048】次に第2の方法としては制御装置10が水
平回動部3aを、例えば等速回転や正弦波振動等のよう
なスキャナー3に適した方法で動作させ、その結果生じ
る走査スポット6の非等速走査による画像の歪を、例え
ば画像信号7を不等時間間隔に補正することにより正す
という方法である。
【0049】この等時間間隔の画像信号7を不等時間間
隔の画像信号9に変換する回路が信号補正回路8であ
る。
【0050】本実施例においては第1の方法又は第2の
方法、何れを用いても適用することができるが、どちら
の方法を用いるにしても副走査方向の位置によって補正
のための信号は異なってくる。
【0051】このように本実施例においては前述の如く
走査レンズ(結像手段)としてf・sinθレンズ4を
用いることにより直線走査を可能とし、又ミラー部3c
の副走査方向の角度ピッチを不等間隔にすることにより
被走査面6上での副走査方向のピッチを等間隔として副
走査方向の走査線の歪曲を除去し、更に主走査方向の走
査を等速にするか、又は画像信号7を不等時間間隔にす
るかによって主走査方向の走査線の歪曲を除去してい
る。これにより画像信号7に応じた半導体レーザ1の点
滅(ON/OFF)により歪のない良好なる2次元画像
を得ている。
【0052】又、本実施例では偏向手段(スキャナー
3)として水平回動部3aと垂直回動部3bとを含む二
次元走査が可能なものを用いている為、装置全体の小型
化を図ることができるという効果もある。
【0053】図2は本発明の実施例2の要部概略図であ
る。同図において図1に示した要素と同一要素には同符
番を付している。
【0054】本実施例において前述の実施例1と異なる
点は、実施例1では偏向手段(光偏向器)として1個の
スキャナーを用いて主走査方向(水平方向)と副走査方
向(垂直方向)に対して二次元的に偏向を行なったが、
本実施例では副走査方向に偏向可能な第1の光偏向器と
しての第1のスキャナー11と主走査方向に偏向可能な
第2の光偏向器としての第2のスキャナー13との2個
を用いて偏向を行なうと共に該第1のスキャナー11の
ミラー部11aと該第2のスキャナー13のミラー部1
3aとが該2つのスキャナー11,13間の光路中に設
けたアフォーカルレンズ系12に関して光学的に略共役
関係となるように構成したことである。その他の構成及
び光学的作用は実施例1と略同様であり、これにより1
個のスキャナーを用いて2次元的に偏向するときと同様
な効果を得ている。
【0055】即ち、同図において11は第1のスキャナ
ーであり、副走査方向に光ビームを偏向させている。1
1aは第1のスキャナー11のミラー部、11bは第1
のスキャナー11の垂直回動部である。12はアフォー
カルレンズ系であり、第1のスキャナー11と第2のス
キャナー13との間の光路中に設けている。13は第2
のスキャナーであり、主走査方向に光ビームを偏向させ
ている。13aは第2のスキャナー13のミラー部、1
3bは第2のスキャナー13の水平回動部である。
【0056】20は制御装置であり、第1のスキャナー
11の垂直回動部11bと第2のスキャナー13の水平
回動部13bそして信号補正回路8とをそれぞれ制御し
ている。本実施例ではこの制御装置20により第1のス
キャナー11の垂直回動部11bと第2のスキャナー1
3の水平回動部13bとを制御することによって被走査
面5上を走査スポット6で二次元的に走査できるように
している。
【0057】本実施例において半導体レーザ1から光変
調を受けて出射した発散光束はコリメーターレンズ2に
より略平行光束とされ第1のスキャナー11のミラー部
11aに入射する。そしてミラー部11aで偏向された
光ビームはアフォーカルレンズ系12を通過し第2のス
キャナー13のミラー部13aで偏向された後、f・s
inθレンズ4に入射し収束作用を受け、被走査面5上
に走査スポット6を形成する。そして走査スポット6は
第1のスキャナー11の垂直回動部11bと第2のスキ
ャナー13の水平回動部13bとの回動によって被走査
面5上を、それぞれ副走査方向(垂直方向)と主走査方
向(水平方向)とに移動する。これによって被走査面5
上を走査スポット6で2次元的に走査している。
【0058】尚、本実施例において走査の方式や副走査
方向のピッチそして主走査方向の走査線の補正等に関し
ては前述した実施例1と同一であり、これにより実施例
1と同様に歪のない良好なる2次元画像を得ている。
【0059】又、本実施例では垂直偏向用と水平偏向用
とで、それぞれ専用のスキャナー(光偏向器)を使用し
ているので、該スキャナーの回転軸に対して直角方向の
軸ブレが少なく、前述の実施例1に比べてより精密な二
次元走査を行なうことができるという効果を得ている。
【0060】
【発明の効果】本発明によれば前述の如く2次元偏向が
可能な偏向手段を用いると共に結像手段として歪曲特性
がf・sinθ特性である走査レンズ(f・sinθレ
ンズ)を利用することにより、簡易な構成で小型化を図
りつつ歪みのない走査が可能な二次元走査装置を達成す
ることができる。
【0061】又、本発明によれば前述の如く偏向手段と
して偏向方向が互いに異なる複数の光偏向器を用いると
共に結像手段として歪曲特性がf・sinθ特性である
走査レンズ(f・sinθレンズ)を利用することによ
り、簡易な構成で小型化を図りつつ歪みのない走査が可
能な二次元走査装置を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例1の要部概略図
【図2】 本発明の実施例2の要部概略図
【図3】 本発明の実施例1で直線走査が可能な原理を
説明する説明図
【図4】 本発明の実施例1で直線走査が可能な原理を
説明する説明図
【図5】 本発明の実施例1で直線走査が可能な原理を
説明する説明図
【符号の説明】
1 光源手段 2 コリメーターレンズ 3 偏向手段 3a 第1の回動部 3b 第2の回動部 3c ミラー部 4 走査レンズ 5 被走査面 6 走査スポット 7 画像信号 8 信号補正回路 9 補正後の画像信号 10,20 制御装置 11 第1の光偏向器 13 第2の光偏向器 12 アフォーカルレンズ系
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮崎 恭一 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源手段から光変調を受けて出射した光
    ビームを直交する二方向に関して二次元的に偏向可能な
    偏向手段を介して偏向させた後、走査レンズにより被走
    査面上に導光して、該被走査面上を二次元的に走査する
    際、 該走査レンズの歪曲特性はf・sinθ特性を成してい
    ることを特徴とする二次元走査装置。
  2. 【請求項2】 前記偏向手段は光ビームを第1の方向に
    偏向する第1の回動部と、該第1の回動部で偏向された
    第1の方向に対して直角な第2の方向に偏向する第2の
    回動部とを有し、該第1の回動部と該第2の回動部とを
    制御手段により制御することにより、前記被走査面上を
    該光ビームで二次元的に走査したことを特徴とする請求
    項1の二次元走査装置。
  3. 【請求項3】 光源手段から光変調を受けて出射した光
    ビームを第1の方向に偏向する第1の光偏向器を介して
    偏向させた後、アフォーカルレンズ系を通して該第1の
    光偏向器で偏向された第1の方向に対して直角な第2の
    方向に偏向する第2の光偏向器を介して偏向させた後、
    走査レンズにより被走査面上に導光して、該被走査面上
    を二次元的に走査する際、 該走査レンズの歪曲特性はf・sinθ特性を成してい
    ることを特徴とする二次元走査装置。
  4. 【請求項4】 前記第1の光偏向器と前記第2の光偏向
    器とを制御手段により制御することにより、前記被走査
    面上を前記光ビームで二次元的に走査したことを特徴と
    する請求項3の二次元走査装置。
  5. 【請求項5】 前記第1の光偏向器のミラー部と前記第
    2の光偏向器のミラー部とを前記アフォーカルレンズ系
    に関して光学的に略共役関係となるように構成したこと
    を特徴とする請求項3の二次元走査装置。
JP30701394A 1994-11-15 1994-11-15 二次元走査装置 Pending JPH08146320A (ja)

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JP (1) JPH08146320A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6795223B2 (en) 2002-09-30 2004-09-21 Olympus Corporation Scanning optical system
US6980367B2 (en) 2002-10-17 2005-12-27 Canon Kabushiki Kaisha Scanning type display optical system
US7256917B2 (en) 2003-11-27 2007-08-14 Canon Kabushiki Kaisha Two-dimensional scanning apparatus and scanning type image displaying apparatus using the same
CN111273315A (zh) * 2018-11-19 2020-06-12 百度(美国)有限责任公司 用于自动驾驶车辆的、具有多面镜和棱镜的lidar装置

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