JPH08129773A

JPH08129773A - 光学ピックアップ装置

Info

Publication number: JPH08129773A
Application number: JP6265009A
Authority: JP
Inventors: Naoya Eguchi; 直哉江口; Bueruna Buihiman; ヴェルナヴィヒマン
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1994-10-28
Filing date: 1994-10-28
Publication date: 1996-05-21

Abstract

(57)【要約】【構成】レーザダイオード１から出射されたレーザ光
を、対物レンズ３とフォトディテクタ５との間に、斜め
に配設された一軸性複屈折を有する光学素子２の表面で
一部反射して、対物レンズ３に導いている。対物レンズ
３は、上記レーザ光を集光してディスク４の信号記録面
に照射する。また、ディスク４上の信号記録面で反射さ
れた戻り光は、対物レンズ３を介して再び一軸性複屈折
を有する光学素子２に達する。ここで、一軸性複屈折を
有する光学素子２は、上記戻り光の一部を透過させ、フ
ォトディテクタ５に入射させる。【効果】部品点数を削減し、光検出器の調整を不要と
し、かつ安定したサーボ信号を得られ、よって小型化と
低価格化を実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光源からの光を対物レ
ンズによって信号記録面に集光し、該信号記録面からの
戻り光を光検出手段によって検出する光学ピックアップ
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光磁気ディスク等の記録媒体に記録され
た光磁気信号を読み出す際には、記録媒体にレーザ光を
照射し、記録媒体からの戻り光の検出を行う光学ピック
アップ装置が用いられている。

【０００３】この光学ピックアップ装置の構成を図１５
に示す。光源であるレーザダイオード７１から出射され
たレーザ光束は、グレーティング７２によって３ビーム
とされ、コリメータレンズ７３によって平行光束とされ
てからビームスプリッタ７４に入射する。ビームスプリ
ッタ７４は、上記レーザ光束を透過させる。このビーム
スプリッタ７４を透過した上記平行なレーザ光束は、立
ち上げミラー７５で９０度折り曲げられ、対物レンズ７
６に達する。対物レンズ７６は、上記平行なレーザ光束
を集光してディスク上の信号記録面に照射する。

【０００４】ディスク上の信号記録面で反射された戻り
光は、対物レンズ７６で再び平行光束とされ、ビームス
プリッタ７４で一部連続反射され、ウォラストンプリズ
ム７７、コリメータレンズ７８、マルチレンズ７９を介
して光検出器であるフォトディテクタ８０に導かれる。

【０００５】ウォラストンプリズム７７は、上記戻り光
をそれぞれ直線偏光であるＰ偏光とＳ偏光に角度分離す
る。コリメータレンズ７８は、角度分離された戻り光を
平行光束とする。そして、この戻り光は、マルチレンズ
７９によりフォトディテクタ８０上に２スポットに分離
されて集光される。このとき、上記戻り光は、Ｐ偏光と
Ｓ偏光に空間分離される。このＰ偏光とＳ偏光の差動信
号が光磁気信号のＲＦ信号となる。また、このＰ偏光と
Ｓ偏光の和信号がＣＤ等のエンボスのＲＦ信号及びサー
ボ信号として使われる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、情報の増大
する現在、コンピュータの記録装置、コンパクトディス
ク、ビディオディスク等の音楽、画像情報のパッケージ
メディアとしての光ディスクは広範囲に普及している
が、今後さらなる普及を拡大するためには、より小型
で、より安価な光学ピックアップ装置が望まれている。
しかし、従来の光学ピックアップ装置では、上述したよ
うに部品点数が多く、光検出器の調整が必要であり、安
定したサーボ信号が得られないため、小型化と低価格化
を実現できなかった。

【０００７】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であり、部品点数を削減し、光検出器の調整を不要と
し、かつ安定したサーボ信号を得られ、よって小型化と
低価格化を実現できる光学ピックアップ装置の提供を目
的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光学ピック
アップ装置は、光源からの光を対物レンズによって信号
記録面に集光し、該信号記録面からの戻り光を光検出手
段によって検出する光学ピックアップ装置において、入
射光の光路を変更するウォークオフ効果を用いた複屈折
性を有する光学素子を上記対物レンズと上記光検出手段
との間に有し、上記複屈折性を有する光学素子は、上記
光源から出た光を表面にて反射して上記対物レンズに導
き、上記戻り光を透過して上記光検出手段に導くことに
より上記課題を解決する。

【０００９】この場合、上記複屈折性を有する光学素子
は、一軸性複屈折結晶であることが好ましい。

【００１０】また、上記複屈折性を有する光学素子の光
線軸の向きと上記戻り光の偏光方向とが、上記戻り光の
光軸に垂直な平面上で、０度と９０度を除いた角度とな
るのがよい。特に、上記複屈折性を有する光学素子の光
線軸の向きと上記戻り光の偏光方向とが、上記戻り光の
光軸に垂直な平面上で、４５度の角度となることが好ま
しい。

【００１１】また、上記複屈折性を有する光学素子は、
平行平板であることが好ましい。

【００１２】また、上記複屈折性を有する光学素子は、
楔形状であってもよい。

【００１３】

【作用】本発明に係る光学ピックアップ装置は、複屈折
により入射光の光路を変更する複屈折性を有する光学素
子を上記対物レンズと上記光検出器の間に配設してな
る。従来であれば、ディスクからの戻り光である常光、
異常光の角度をウォラストンプリズムで分離してフォト
ディテクタ上に集光していた。このウォラストンプリズ
ムは、コリメータレンズを用いた平行光束中でしか使用
できなかった。また、収差はマルチレンズを用いること
により、発生していた。これに対し、本発明では、複屈
折性を有する光学素子を上記対物レンズと上記光検出器
との間に斜めに配設することにより、収差を生じさせる
のはもちろん、常光と異常光とを横にずらすことができ
るので、従来使用していたマルチレンズ、コリメータレ
ンズ、ウォラストンプリズム、ビームスプリッタを省略
できる。このため、少ない部品点数で戻り光を光源の出
射位置から離して光検出器に照射することができる。ま
た、光検出のための調整が不要となり、安定したサーボ
信号が得られる。このため、本発明の光学ピックアップ
装置は、小型化、低価格化を実現できる。

【００１４】

【実施例】以下、本発明に係る光学ピックアップ装置の
好ましい実施例について、図面を参照しながら説明す
る。

【００１５】この実施例は、図１に示すように、光源で
あるレーザダイオード１からのレーザ光を対物レンズ３
によってディスク４の信号記録面に集光し、該信号記録
面からの戻り光を光検出手段であるフォトディテクタ５
で検出し、サーボ信号とＲＦ信号を得る光学ピックアッ
プ装置であり、コリメータレンズを省いた有限倍率のシ
ンプルな構成とされている。特に、この光学ピックアッ
プ装置は、上記対物レンズ３と上記フォトディテクタ５
との間に一軸性複屈折を有する光学素子２を斜めに配設
してなる。

【００１６】そして、光学ピックアップ装置は、レーザ
ダイオード１から出射されたレーザ光を、対物レンズ３
とフォトディテクタ５との間に、斜めに配設された一軸
性複屈折を有する光学素子２の表面で一部反射して、対
物レンズ３に導いている。対物レンズ３は、上記レーザ
光を集光してディスク４の信号記録面に照射する。

【００１７】また、ディスク４上の信号記録面で反射さ
れた戻り光は、対物レンズ３を介して再び一軸性複屈折
を有する光学素子２に達する。ここで、一軸性複屈折を
有する光学素子２は、上記戻り光の一部を透過させ、フ
ォトディテクタ５に入射させる。フォトディテクタ５に
入射した光は、複屈折により電気ベクトルの方向が紙面
に垂直な常光であるＳ偏光と、電気ベクトルの方向が紙
面に平行な異常光であるＰ偏光という２つの偏光成分に
空間分離される。このＰ偏光とＳ偏光の差動信号が光磁
気のＲＦ信号として使われる。また、このＰ偏光とＳ偏
光の和信号がＣＤ等のエンボスのＲＦ信号及びサーボ信
号として使われる。この一軸性複屈折を有する光学素子
２の表面には、Ｐ偏光を例えば７０％反射する一方、例
えば３０％透過させると共に、Ｓ偏光を例えば１００％
透過させるような偏光膜コーティングが施されている。

【００１８】次に、対物レンズ３とフォトディテクタ５
との間に斜めに配設された一軸性複屈折を有する光学素
子２について説明する。

【００１９】一軸性複屈折を有する光学素子２は、ウォ
ークオフ効果により入射光の光路を変更する。この一軸
性複屈折を有する光学素子２としては、例えば、複屈折
性結晶素子がある。この複屈折性結晶素子は、平で平行
な板とされて使用される。この複屈折性結晶素子として
は、ニオブ酸リチウム（ＬｉＮｂＯ₃）、バナジウム酸
イットリウム（ＹＶＯ₄）及び酸化テルル（ＴｅＯ₂）が
存在する。また、この他、一軸性複屈折を有する光学素
子２としては、ポリマー等による光学素子を用いてもよ
い。

【００２０】先ず、収束光中に上記複屈折性結晶素子の
平行平板を傾けて挿入する場合について図３を参照しな
がら説明する。収束光中に傾けた上記複屈折性結晶素子
の平行平板１１を挿入すると光軸ｚが横にずれ（図中光
軸ｚ’と示す。）、非点収差も発生する。平行平板１１
の厚さをｔ、屈折率をＮ、収束光束の開口数をsinα、
平行平板１１の法線と光軸ｚの成す角度をθとすると、
発生する非点隔差Δｚは、

【００２１】

【数１】

【００２２】となる。この（１）式は、集光レンズの開
口数によらずに成立し、平行平板１１の法線Ｈと光軸ｚ
で形成される平面内の収束点は、これに直交する平面内
の収束点の後方にできる。

【００２３】また、光軸ｚの横ずれ量Ｄ（光軸ｚから光
軸ｚ’への横ずれ量）は、

【００２４】

【数２】

【００２５】となる。

【００２６】したがって、複屈折性結晶素子の平行平板
１１を収束光束中に挿入すると、常光、異常光で屈折率
の差の分だけ非点隔差と横ずれ量の異なる２つの光束が
できる。これをティルト・プレート効果と呼んでいる。

【００２７】ここで、非点隔差の差（Δｚ_O−Δｚ_CO）
は、

【００２８】

【数３】

【００２９】で表される。

【００３０】また、横ずれ量の差（Ｄ_O−Ｄ_CO）は、

【００３１】

【数４】

【００３２】で表される。

【００３３】複屈折性結晶素子の平行平板１１を例えば
ＹＶＯ₄とした場合の非点隔差の差と横ずれ量の差を計
算してみる。厚みｔが１ｍｍ、平行平板１１の法線Ｈと
光軸ｚの成す角度θが４５度、常光の屈折率Ｎ_Oが１．
９７３４、異常光の屈折率Ｎ_COが２．１８９３６である
場合を考慮する。

【００３４】常光及び異常光の非点隔差Δｚ_O及びΔｚ
_COは、２３１μｍ及び２１３μｍとなり、非点隔差の差
分（Δｚ_O−Δｚ_CO）は１８μｍとなる。また、常光及
び異常光の横ずれ量Ｄ_O及びＤ_COは、４３６μｍ及び４
６６μｍとなり、横ずれ量の差分（Ｄ_O−Ｄ_CO）は３０
μｍとなる。次に、ＬｉＮｂＯ₃、ＹＶＯ₄であるような
複屈折性結晶素子の平行平板１１に図３のように収束光
Ｌ_Rが入射する場合を考慮する。ここでは、一軸性複屈
折を有する光学素子の光線軸ｃとａ軸が紙面に平行であ
るときを考慮する。これは、入射光Ｌ_Rが一軸性複屈折
を有する光学素子に対して常光、すなわち電気ベクトル
の方向が紙面に垂直であるような場合、該入射光Ｌ_Rは
上記光学素子による浮き上がりの影響しか受けないため
である。図中破線で示す透過光Ｌ₁は、複屈折性を有す
る光学素子が配設されていない場合の光束であって、上
記常光はこの透過光Ｌ₁より紙面に垂直な方向に浮き上
がる。

【００３５】しかし、図３の様に、入射する戻り光Ｌ_R
が複屈折性結晶素子の平行平板１１に対して異常光、つ
まり電気ベクトルＥの方向が紙面に対して平行である場
合、該戻り光にはウォークオフ効果による横ずれも生
じ、透過光Ｌ₂となる。また、この他上記透過光Ｌ₂に
は、非点収差も発生し、紙面に垂直な焦線と平行な焦線
ができる。ここで、透過光Ｌ₁と透過光Ｌ₂には、縦ずれ
Δと横ずれｄが生じている。

【００３６】図４には、複屈折性結晶素子の平行平板１
１としてＹＶＯ₄を用いたときの波長７８０ｎｍにおけ
る厚み１ｍｍ当りの非点隔差量の変化を示す。この図４
で、縦軸は非点隔差量を示し、横軸は戻り光Ｌ_Rの光軸
と光線軸ｃの成す角度（以下、これを切り出し角度とい
う。）θ_Cを示している。この図４から非点隔差量は、
切り出し角度θ_Cが９０度の時最大となることが分か
る。

【００３７】図５には、複屈折性結晶素子の平行平板１
１としてＹＶＯ₄を用いたときの波長７８０ｎｍにおけ
る厚み１ｍｍ当りの横ずれ量の変化を示す。この図５
で、縦軸は横ずらし量を示し、横軸は上記切り出し角度
θ_Cを示している。ここで、上記非点隔差量が最大とな
った切り出し角度θ_Cは、９０度であったが、横ずれ量
は０となってしまう。また、切り出し角度θ_Cが０度の
時も横ずれ量は０となる。横ずれ量が最大となるのは、
切り出し角度θ_Cが４５度の時である。

【００３８】すなわち、上記複屈折結晶素子の平行平板
１１の光線軸の向きと上記戻り光の偏光方向とが、上記
戻り光の光軸に垂直な平面上で、０度と９０度を除いた
角度となるのがよく、特に、その角度が４５度となるの
が好ましい。

【００３９】例えば切り出し角度θ_Cが４５度の時、異
常光の非点隔差は４０μｍ、横ずれ量は１００μｍとな
る。

【００４０】上述のティルト・プレート効果、ウォーク
オフ効果の組合せにより、常光と異常光の非点隔差の差
分を２０μｍ程度に押え、常光と異常光の横ずれの差分
を１３０μｍ間で大きくすることができる。従って、常
光と異常光の非点隔差の値は２３０μｍ程度の大きさを
確保できる。

【００４１】ここで、図６を参照しながら本実施例に適
用される非点収差法の原理を説明しておく。収束光束中
に複屈折性結晶素子の平行平板１１を傾斜させて配置す
ると、上述したティルト・プレート効果、ウォークオフ
効果により、常光Ｌ_Sと異常光Ｌ_Pの２つの横ずれした光
束に分離される。分離されたそれぞれの光束Ｌ_S、Ｌ_Pに
対して、図６のように非点収差が発生し直交する二つの
焦線が現れる。常光Ｌ_Sに発生した非点収差により現れ
るのが焦線Ｆ_S1及びＦ_S2であり、異常光Ｌ_Pに現れるの
が焦線Ｆ_P1及びＦ_P2である。これらそれぞれ２つの焦線
の約中点には、最小錯乱円Ｆ_S0及びＦ_P0が現れる。この
最小錯乱円Ｆ_S0及びＦ_P0上に例えば４分割ディテクタ５
及び５’を配置する。この最小錯乱円Ｆ_S0及びＦ_P0はデ
ィスク４上でスポットが焦点位置で集光されている時の
最小錯乱円を使う。

【００４２】例えば、最小錯乱円Ｆ_S0上のフォトディテ
クタ５の光集光面において、戻り光の作るスポットが図
７の（ａ）のように、縦に長い楕円になると、ディスク
上でのスポットは、前ピントであることが判明する。ま
た、上記戻り光の作るスポットが図７の（ｂ）のよう
に、横に長い楕円になると、ディスク上でのスポット
は、後ピントであることが判明する。そして、戻り光の
作るスポットが図７の（ｃ）のように真円になると、デ
ィスク上でのスポットは合焦していることが判明する。
したがって、フォトディテクタの光集光面において、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）なる演算を行うことにより焦点誤差信号を検出すること
ができる。

【００４３】さらに、常光、異常光のそれぞれで、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）（Ａ’＋Ｃ’）−（Ｂ’＋Ｄ’）なる演算を行い、加算する。

【００４４】つまり、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）＋（Ａ’
＋Ｃ’）−（Ｂ’＋Ｄ’）なる演算を行う。これを焦点誤差信号として使うことが
できる。この焦点誤差信号は常光と異常光の加算信号な
ので、ディスク基板の２軸性複屈折性により偏光検波さ
れた光の空間的偏りの影響を取り除くことができ、安定
した焦点誤差信号を得ることができる。なお、トラッキ
ングは、プッシュプル法を適用して、（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ
＋Ｃ）の演算で実現することができる。また、スリース
ポット法で行う場合は、レーザダイオード１の上部にグ
レーティングを設置すればよい。

【００４５】次に、上記実施例である光学ピックアップ
装置のいくつかの具体例について図８乃至図１４を参照
しながら説明する。各具体例は、光線軸ｃ軸の方向とレ
ーザ光の偏光方向（電気ベクトルの方向）の位置関係を
異ならせることにより区別されている。

【００４６】先ず、第１の具体例は、複屈折性結晶素子
の平行平板１１のｃ軸の方向とレーザ光の偏光方向の位
置関係（電気ベクトルの方向、図中Ｅで示す。）が図８
に示すようになっている。各光学素子の配置は上記図１
に比べて、複屈折性を有する光学素子２として複屈折性
結晶素子の平行平板１１を用いていることのみが異な
る。また、複屈折性結晶素子の平行平板１１の表面に
は、Ｐ偏光を例えば７０％反射する一方、例えば３０％
透過させると共に、Ｓ偏光を例えば１００％透過させる
ような偏光膜コーティングが施されている。図９にはデ
ィスク側から見た図を、図１０には側面から見た図を示
す。特に、図９はディスクへの入射光軸に対して垂直な
平面に射影した位置関係が示してある。すなわち、この
第１の具体例では、レーザ光の偏光方向がディスク４へ
の入射光軸と平行となっている。ディスク４で反射した
光の偏光方向に対して、複屈折性結晶素子の平行平板１
１のｃ軸の方向は、ディスク４への入射光軸に対して垂
直な平面に射影して４５度の角度を持っている。

【００４７】次に、第２の具体例は、一軸性複屈折素子
のｃ軸の方向とレーザ光の偏光方向（電気ベクトルの方
向、図中Ｅで示す。）の位置関係が図１１に示すように
なっている。各光学素子の配置は、上記図８と同様であ
る。図１２にはディスク側から見た図を、図１３には側
面から見た図を示す。特に、図１２はディスクへの入射
光軸に対して垂直な平面に射影した位置関係が示してあ
る。すなわち、この第２の具体例では、レーザ光の偏光
方向がディスクへの入射光軸と４５度の関係となってい
る。ディスクで反射した光の偏光方向に対して、複屈折
性結晶素子の平行平板１１のｃ軸の方向は、ディスクへ
の入射光軸に対して垂直な平面に射影して４５度の角度
を持っている。

【００４８】以上より、本実施例の光学ピックアップ装
置は、対物レンズと光検出器との間に複屈折性を有する
光学素子を配設してなるだけの簡単な構成で光磁気信号
を検出できる。すなわち、この実施例の光学ピックアッ
プ装置は、少ない部品点数で戻り光を光源の出射位置か
ら離して光検出器に照射することができるので、低価格
化と小型化を達成できる。また、光検出のための調整が
不要となり、安定した焦点誤差検出信号を得ることがで
きる。

【００４９】また、本発明に係る光学ピックアップ装置
は、例えば図１４に示す様な構成の他の光学ピックアッ
プ装置でもよい。この他の実施例の光学ピックアップ装
置は、側面を傾斜面２１ａとした複屈折性結晶素子２１
を用いている。すなわち、この複屈折性結晶素子２１
は、楔形状とされている。複屈折性結晶素子２１は、そ
の傾斜面２１ａでレーザダイオード１からのレーザ光
を、９０度に反射し、ディスクに導く。ディスクで反射
した光は、傾斜面を通ってフォトディテクタ５に導かれ
る。その時、楔形状効果と、ウォークオフ効果で常光Ｌ
_S、異常光Ｌ_Pの２つの光束に分離される。それらの差動
信号を光磁気のＲＦ信号として使う。また、それらの和
信号をＣＤ等のエンボスのＲＦ信号及びサーボ信号とし
て使う。

【００５０】以上より、この他の実施例も、少ない部品
点数で戻り光を光源の出射位置から離して光検出器に照
射することができるので、低価格化と小型化を達成でき
る。また、光検出のための調整が不要となり、安定した
焦点誤差検出信号を得ることができる。

【００５１】なお、上記光検出器であるフォトディテク
タのパターンは、４分割パターンであることはもちろ
ん、３分割パターンでもよい。また、上記フォトディテ
クタと光源とを一体化してもよい。また、フォトディテ
クタと複屈折性を有する光学素子とを一体化してもよ
い。

【００５２】さらに、屈折性を有する光学素子として
は、上述したようにＬｉＮｂＯ₃、ＹＶＯ₄及びＴｅＯ₂
等の複屈折性結晶素子の他、ポリマー等による光学素子
を用いてもよい。

【００５３】また、本発明に係る光学ピックアップ装置
では、光源を戻り光の検出を行うＭＰＤ（マイクロプリ
ズムディテクタ）と一体化するようにしてもよい。

【００５４】また、対物レンズとして無限倍率の対物レ
ンズを用いてもよい。

【００５５】

【発明の効果】本発明に係る光学ピックアップ装置は、
本発明に係る光学ピックアップ装置は、光源からの光を
対物レンズによって信号記録面に集光し、該信号記録面
からの戻り光を光検出手段によって検出する光学ピック
アップ装置において、入射光の光路を変更するウォーク
オフ効果を用いた複屈折性を有する光学素子を上記対物
レンズと上記光検出手段との間に有し、上記複屈折性を
有する光学素子は、上記光源から出た光を表面にて反射
して上記対物レンズに導き、上記戻り光を透過して上記
光検出手段に導くので、部品点数を削減し、光検出器の
調整を不要とし、かつ安定したサーボ信号を得られ、よ
って小型化と低価格化を実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光学ピックアップ装置の実施例の
概略構成図である。

【図２】図１に概略構成を示した光学ピックアップ装置
で行われているような、複屈折性を有する光学素子の平
行平板を収束中に傾けて挿入した場合の効果を説明する
ための図である。

【図３】図１に概略構成を示した光学ピックアップ装置
に用いられる複屈折性を有する光学素子のウォークオフ
による横ずらしを説明するための図である。

【図４】複屈折性を有する光学素子の非点隔差と切り出
し角度の関係を示す特性図である。

【図５】複屈折性を有する光学素子のウォークオフによ
る横ずれ量と切り出し角度の関係を示す特性図である。

【図６】非点収差による焦点誤差検出を説明するための
図である。

【図７】非点収差を説明するための図である。

【図８】本発明の実施例の光学ピックアップ装置の第１
の具体例の概略構成図である。

【図９】上記第１の具体例をディスク側から見た図であ
る。

【図１０】上記第１の具体例を側面から見た図である。

【図１１】本発明の実施例の光学ピックアップ装置の第
２の具体例の概略構成図である。

【図１２】上記第２の具体例をディスク側から見た図で
ある。

【図１３】上記第２の具体例を側面から見た図である。

【図１４】本発明の他の実施例の光学ピックアップ装置
の概略構成図である。

【図１５】従来の光学ピックアップ装置の概略構成図で
ある。

【符号の説明】

１レーザダイオード２一軸性複屈折を有する光学素子３対物レンズ４ディスク５フォトディテクタ１１複屈折光学結晶素子２１楔形状の複屈折光学結晶素子

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光源からの光を対物レンズによって信号
記録面に集光し、該信号記録面からの戻り光を光検出手
段によって検出する光学ピックアップ装置において、入射光の光路を変更するウォークオフ効果を用いた複屈
折性を有する光学素子を上記対物レンズと上記光検出手
段との間に有し、上記複屈折性を有する光学素子は、上記光源から出た光
を表面にて反射して上記対物レンズに導き、上記戻り光
を透過して上記光検出手段に導くことを特徴とする光学
ピックアップ装置。
【請求項２】上記複屈折性を有する光学素子は、一軸
性複屈折結晶であることを特徴とする請求項１記載の光
学ピックアップ装置。
【請求項３】上記複屈折性を有する光学素子の光線軸
の向きと上記戻り光の偏光方向とが、上記戻り光の光軸
に垂直な平面上で、０度と９０度を除いた角度となるこ
とを特徴とする請求項１記載の光学ピックアップ装置。
【請求項４】上記複屈折性を有する光学素子の光線軸
の向きと上記戻り光の偏光方向とが、上記戻り光の光軸
に垂直な平面上で、４５度の角度となることを特徴とす
る請求項１記載の光学ピックアップ装置。
【請求項５】上記複屈折性を有する光学素子は、平行
平板であることを特徴とする請求項１記載の光学ピック
アップ装置。
【請求項６】上記複屈折性を有する光学素子は、楔形
状であることを特徴とする請求項１記載の光学ピックア
ップ装置。