JPH0812207B2 - 自動異常事象検出装置 - Google Patents
自動異常事象検出装置Info
- Publication number
- JPH0812207B2 JPH0812207B2 JP4151250A JP15125092A JPH0812207B2 JP H0812207 B2 JPH0812207 B2 JP H0812207B2 JP 4151250 A JP4151250 A JP 4151250A JP 15125092 A JP15125092 A JP 15125092A JP H0812207 B2 JPH0812207 B2 JP H0812207B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- trigger
- abnormal event
- signal
- input
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/32—Circuits for displaying non-recurrent functions such as transients; Circuits for triggering; Circuits for synchronisation; Circuits for time-base expansion
- G01R13/325—Circuits for displaying non-recurrent functions such as transients; Circuits for triggering; Circuits for synchronisation; Circuits for time-base expansion for displaying non-recurrent functions such as transients
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、テスト及び測定装置、
特に、異常事象が発生したときを自動的に検出し、かか
る異常事象を捕えるデジタル・オシロスコープ用の自動
異常事象検出装置に関する。
特に、異常事象が発生したときを自動的に検出し、かか
る異常事象を捕えるデジタル・オシロスコープ用の自動
異常事象検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】デジタル・オシロスコープにおいては、
当業者には周知の如く、入力アナログ信号をデジタイザ
に入力して、波形メモリに蓄積するようにデジタル・デ
ータに変換する。また、この入力アナログ信号をトリガ
回路にも入力して、このアナログ入力信号自体からトリ
ガ信号を得るか、又は、外部信号からトリガ信号を得
る。このトリガ信号の発生により、デジタル・オシロス
コープは、波形メモリ内で入力アナログ信号を一部を
「凍結」する。なお、この入力アナログ信号の一部は、
操作者が決めたトリガ信号の関数、即ち、プリ・トリ
ガ、ポスト・トリガ、又はこれらの組み合わせで決ま
る。
当業者には周知の如く、入力アナログ信号をデジタイザ
に入力して、波形メモリに蓄積するようにデジタル・デ
ータに変換する。また、この入力アナログ信号をトリガ
回路にも入力して、このアナログ入力信号自体からトリ
ガ信号を得るか、又は、外部信号からトリガ信号を得
る。このトリガ信号の発生により、デジタル・オシロス
コープは、波形メモリ内で入力アナログ信号を一部を
「凍結」する。なお、この入力アナログ信号の一部は、
操作者が決めたトリガ信号の関数、即ち、プリ・トリ
ガ、ポスト・トリガ、又はこれらの組み合わせで決ま
る。
【０００３】最新のデジタル・オシロスコープは、進歩
したトリガ回路（アドバンスド・トリガ回路）を具えて
おり、異常事象においてトリガ信号を発生できる。かか
るアドバンスド・トリガ回路によれば、時間条件を満た
した信号の検出、即ち、基準時間間隔より狭い幅のパル
ス信号（グリッチ）、基準時間間隔よりも広い幅のパル
ス信号、又は、基準時間間隔内又は外のパルス信号の検
出が可能である。また、この回路によれば、二重しきい
値を用いて、電圧条件を満たした信号の検出、即ち、信
号が一方のしきい値を交差しない間に、他方のしきい値
と交差し、更に再交差する時の検出（ラント）、又はこ
れら２つのしきい値の間のメタステーブル状態の検出も
可能である。
したトリガ回路（アドバンスド・トリガ回路）を具えて
おり、異常事象においてトリガ信号を発生できる。かか
るアドバンスド・トリガ回路によれば、時間条件を満た
した信号の検出、即ち、基準時間間隔より狭い幅のパル
ス信号（グリッチ）、基準時間間隔よりも広い幅のパル
ス信号、又は、基準時間間隔内又は外のパルス信号の検
出が可能である。また、この回路によれば、二重しきい
値を用いて、電圧条件を満たした信号の検出、即ち、信
号が一方のしきい値を交差しない間に、他方のしきい値
と交差し、更に再交差する時の検出（ラント）、又はこ
れら２つのしきい値の間のメタステーブル状態の検出も
可能である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】トレーニングを受けて
いないユーザにとっては、このアドバンスド・トリガ回
路のこれら機能を用いるのは容易ではなく、また、簡単
にアクセスできない。アドバンスド・トリガ回路が検出
できる異常事象は、アナログ入力信号内に存在し、この
アナログ入力信号の平均繰り返しレートよりも非常に遅
い不定期発生レートで発生する。
いないユーザにとっては、このアドバンスド・トリガ回
路のこれら機能を用いるのは容易ではなく、また、簡単
にアクセスできない。アドバンスド・トリガ回路が検出
できる異常事象は、アナログ入力信号内に存在し、この
アナログ入力信号の平均繰り返しレートよりも非常に遅
い不定期発生レートで発生する。
【０００５】トレーニングを受けていないユーザ・レベ
ルであっても、かかるアドバンスド・トリガ回路の機能
を利用できるようにした自動異常事象検出装置が望まれ
ている。
ルであっても、かかるアドバンスド・トリガ回路の機能
を利用できるようにした自動異常事象検出装置が望まれ
ている。
【０００６】したがって、本発明の目的は、異常事象の
発生を検出し、この異常事象の１つの付近で、入力信号
のサンプルを自動的に取り込む自動異常事象検出装置の
提供にある。
発生を検出し、この異常事象の１つの付近で、入力信号
のサンプルを自動的に取り込む自動異常事象検出装置の
提供にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明によれ
ば、主カウンタ（メイン・カウンタ）が、正常事象のメ
イン・トリガ（第１トリガ）信号が発生する度に計数を
行ない、他のカウンタが、異常事象のトリガ（第２トリ
ガ）信号が発生する度に計数を行なうことを前提にして
いる。メイン・カウンタが所定の最大計数値に達する
と、他のカウンタの現在の計数値をテストして、この現
在の計数値が、ゼロより大きく、メイン・カウンタの最
大計数値を除数で割った値よりも小さい特定範囲内にあ
るかを判断する。異常事象のトリガ計数値が特定範囲内
の場合、次の異常事象トリガの発生により、オシロスコ
ープは入力アナログ信号のサンプルを取り込む。この方
法で、例えば、時間条件を満たす異常事象及び電圧条件
を満たす異常事象の両方を自動的に検出し、取り込む。
この際、第１パスで一方の異常事象が検出されないと、
時間条件の時間間隔及び／又は電圧条件のしきい値を増
やす方向に変化させて、この処理を繰り返す。
ば、主カウンタ（メイン・カウンタ）が、正常事象のメ
イン・トリガ（第１トリガ）信号が発生する度に計数を
行ない、他のカウンタが、異常事象のトリガ（第２トリ
ガ）信号が発生する度に計数を行なうことを前提にして
いる。メイン・カウンタが所定の最大計数値に達する
と、他のカウンタの現在の計数値をテストして、この現
在の計数値が、ゼロより大きく、メイン・カウンタの最
大計数値を除数で割った値よりも小さい特定範囲内にあ
るかを判断する。異常事象のトリガ計数値が特定範囲内
の場合、次の異常事象トリガの発生により、オシロスコ
ープは入力アナログ信号のサンプルを取り込む。この方
法で、例えば、時間条件を満たす異常事象及び電圧条件
を満たす異常事象の両方を自動的に検出し、取り込む。
この際、第１パスで一方の異常事象が検出されないと、
時間条件の時間間隔及び／又は電圧条件のしきい値を増
やす方向に変化させて、この処理を繰り返す。
【０００８】本発明の目的、利点及び新規な特徴は、添
付図を参照した以下の説明より明らかになろう。
付図を参照した以下の説明より明らかになろう。
【０００９】
【実施例】図１は、本発明の自動異常事象検出装置を実
施したデジタル・オシロスコープの一部を示すブロック
図である。アナログ入力信号をメイン・トリガ回路（第
１トリガ回路）１０及びアドバンスド・トリガ回路（第
２トリガ回路）２０に入力する。通常の機器回路の出力
端の近傍に設けたメイン・トリガ回路１０が発生するメ
イン・トリガ信号は、第１アンド・ゲート１２及び通常
の機器回路に入力する。また、アドバンスド・トリガ回
路２０が発生したアドバンスド・トリガ信号は、第２ア
ンド・ゲート２２及び通常の機器回路に入力する。アン
ド・ゲート１２及び２２の各々の出力信号は、カウンタ
１４及び２４のクロック入力端子に夫々入力する。メイ
ン・カウンタ１４のオーバフローにより、／ＭＡＸ・Ｃ
ＮＴ信号（／は、反転を意味する）が発生し、この信号
は、アンド・ゲート１２及び２２にイネーブル信号とし
て入力する。カウンタ１４及び２４の出力端子は、デー
タ・バス１６に接続され、計数値をプロセッサ（μＰ）
１８に伝送する。制御手段及び比較手段であるこのプロ
セッサ１８は、トリガ回路１０及び２０の夫々に設定値
を与え、メイン・カウンタ１４に初期計数値をロード
し、他のカウンタ２４をリセットする。なお、これら総
べては、インタフェース回路（Ｉ／Ｆ）２６を介した操
作者からの入力に応じて決める。メイン・カウンタ１４
からの／ＭＡＸ・ＣＮＴ信号は、プロセッサ１８に割り
込みをかけ、データ・バス１６からの計数値を読み取る
時点を知らせる。アナログ・デジタル（Ａ／Ｄ）変換器
２８は、アナログ信号をデジタル化し、プロセッサ１８
がトリガに応じて、デジタル化された信号を取込み、蓄
積する。なお、図示しないが、プロセッサ１８には、入
力信号を取り込む取込み手段が含まれている。
施したデジタル・オシロスコープの一部を示すブロック
図である。アナログ入力信号をメイン・トリガ回路（第
１トリガ回路）１０及びアドバンスド・トリガ回路（第
２トリガ回路）２０に入力する。通常の機器回路の出力
端の近傍に設けたメイン・トリガ回路１０が発生するメ
イン・トリガ信号は、第１アンド・ゲート１２及び通常
の機器回路に入力する。また、アドバンスド・トリガ回
路２０が発生したアドバンスド・トリガ信号は、第２ア
ンド・ゲート２２及び通常の機器回路に入力する。アン
ド・ゲート１２及び２２の各々の出力信号は、カウンタ
１４及び２４のクロック入力端子に夫々入力する。メイ
ン・カウンタ１４のオーバフローにより、／ＭＡＸ・Ｃ
ＮＴ信号（／は、反転を意味する）が発生し、この信号
は、アンド・ゲート１２及び２２にイネーブル信号とし
て入力する。カウンタ１４及び２４の出力端子は、デー
タ・バス１６に接続され、計数値をプロセッサ（μＰ）
１８に伝送する。制御手段及び比較手段であるこのプロ
セッサ１８は、トリガ回路１０及び２０の夫々に設定値
を与え、メイン・カウンタ１４に初期計数値をロード
し、他のカウンタ２４をリセットする。なお、これら総
べては、インタフェース回路（Ｉ／Ｆ）２６を介した操
作者からの入力に応じて決める。メイン・カウンタ１４
からの／ＭＡＸ・ＣＮＴ信号は、プロセッサ１８に割り
込みをかけ、データ・バス１６からの計数値を読み取る
時点を知らせる。アナログ・デジタル（Ａ／Ｄ）変換器
２８は、アナログ信号をデジタル化し、プロセッサ１８
がトリガに応じて、デジタル化された信号を取込み、蓄
積する。なお、図示しないが、プロセッサ１８には、入
力信号を取り込む取込み手段が含まれている。
【００１０】図２は、本発明の自動異常事象検出装置の
動作を表わす流れ図である。操作者が、正面パネルのボ
タンやスクリーン上の指示領域を押すなどして、自動異
常事象検出機能を開始すると、機器は、当業者に周知の
如き自動設定ルーチン５０を実行する。また、ステップ
５２において、異常事象の種類を表わす変数ＴＥＳＴを
ゼロに設定し、アドバンスド・トリガ回路２０に対して
パルス幅条件ＰＷを、入力アナログ信号の期待される名
目的なパルス幅ＭＩＮ未満に設定する。また、何回目か
の異常判断かを示す変数Ｔを１に設定する。このルーチ
ンを開始するには、プロセッサ１８が、ステップ５４
で、アドバンスド・カウンタ２４をリセットし、インタ
フェース回路２６を介して操作者が与えた除数（divide
r ）Ｄを含む計数値をメイン・カウンタ１４にロードす
る。操作者は、インタフェース回路２６を介して、この
除数Ｄをプリセットするか、又はこの除数Ｄを与えて、
異常事象の条件を満たすアドバンスド・トリガ信号を発
生する事象が生じる最大回数を定める。典型的には、除
数Ｄを１０００にプリセットするが、これは、操作者が
１０から１０＾６（１０の６乗）の範囲で変更できる。
メイン・カウンタ１４にロードすることにより、／ＭＡ
Ｘ・ＣＮＴ信号が高になり、アンド・ゲート１２及び２
２をイネーブルするので、ステップ５６において、カウ
ンタ１４及び２４は、メイン・トリガ信号パルス及びア
ドバンスド・トリガ信号パルスを計数する。／ＭＡＸ・
ＣＮＴ信号が低になり、メイン・カウンタ１４の計数が
終了したことを表わすと、アンド・ゲート１２及び２２
は、これ以上のトリガ・パルスをカウンタに送らないよ
うにディスエーブルされ、プロセッサ１８はこれらカウ
ンタの計数値を読み取る。
動作を表わす流れ図である。操作者が、正面パネルのボ
タンやスクリーン上の指示領域を押すなどして、自動異
常事象検出機能を開始すると、機器は、当業者に周知の
如き自動設定ルーチン５０を実行する。また、ステップ
５２において、異常事象の種類を表わす変数ＴＥＳＴを
ゼロに設定し、アドバンスド・トリガ回路２０に対して
パルス幅条件ＰＷを、入力アナログ信号の期待される名
目的なパルス幅ＭＩＮ未満に設定する。また、何回目か
の異常判断かを示す変数Ｔを１に設定する。このルーチ
ンを開始するには、プロセッサ１８が、ステップ５４
で、アドバンスド・カウンタ２４をリセットし、インタ
フェース回路２６を介して操作者が与えた除数（divide
r ）Ｄを含む計数値をメイン・カウンタ１４にロードす
る。操作者は、インタフェース回路２６を介して、この
除数Ｄをプリセットするか、又はこの除数Ｄを与えて、
異常事象の条件を満たすアドバンスド・トリガ信号を発
生する事象が生じる最大回数を定める。典型的には、除
数Ｄを１０００にプリセットするが、これは、操作者が
１０から１０＾６（１０の６乗）の範囲で変更できる。
メイン・カウンタ１４にロードすることにより、／ＭＡ
Ｘ・ＣＮＴ信号が高になり、アンド・ゲート１２及び２
２をイネーブルするので、ステップ５６において、カウ
ンタ１４及び２４は、メイン・トリガ信号パルス及びア
ドバンスド・トリガ信号パルスを計数する。／ＭＡＸ・
ＣＮＴ信号が低になり、メイン・カウンタ１４の計数が
終了したことを表わすと、アンド・ゲート１２及び２２
は、これ以上のトリガ・パルスをカウンタに送らないよ
うにディスエーブルされ、プロセッサ１８はこれらカウ
ンタの計数値を読み取る。
【００１１】ステップ５８において、アドバンスド・カ
ウンタ２４の計数値ＡＣＮＴが、ゼロより大きく、メイ
ン・カウンタ１４の最大計数値ＭＸＣＮＴを除数Ｄで割
った値よりも小さいとき（イエスＹの場合）、異常事象
が発生したことになる。そうでなければ（ノーＮの場
合）、異常事象は発生していない。すなわち、異常事象
ではなく通常の事象とみなせる事象がしばしば発生した
ことになる。異常事象が生じた場合、ステップ６０に
て、変数Ｔを１だけ増分し、ステップ６２でＴ＝３かを
判断した後、ステップ５４に戻る。そして、カウンタ１
４及び２４をリセットし、再ロードを行う。そして、こ
れら処理を繰返して、異常事象を確かめる。再び異常事
象が確認されると、Ｔ＝３のため、ステップ６２を介し
てステップ６４に進み、プロセッサ１８は、次のアドバ
ンスド・トリガを受け入れ、データを波形メモリ（プロ
セッサ１８に含まれる取込み手段）に取り込んで、観察
するためにこの異常事象を捕える。ステップ５８で、異
常事象が検出されないと、ステップ６５にて、Ｔ＝１か
を判断する。Ｔ＝１、即ち、１回目の異常判断ならば、
ステップ６６で、ＴＥＳＴ＝０かを判断した後、ステッ
プ６８に進む。すなわち、第１パス（Ｔ＝１のとき）で
異常事象が検出されないと、このステップ６８にて、ト
リガ回路２０のパルス幅条件の値ＰＷを増分して、パル
ス幅を前の値の９０％に短くし、また、Ｔを１だけ増分
して、ステップ５４に戻る。そして、この試験を繰返
す。
ウンタ２４の計数値ＡＣＮＴが、ゼロより大きく、メイ
ン・カウンタ１４の最大計数値ＭＸＣＮＴを除数Ｄで割
った値よりも小さいとき（イエスＹの場合）、異常事象
が発生したことになる。そうでなければ（ノーＮの場
合）、異常事象は発生していない。すなわち、異常事象
ではなく通常の事象とみなせる事象がしばしば発生した
ことになる。異常事象が生じた場合、ステップ６０に
て、変数Ｔを１だけ増分し、ステップ６２でＴ＝３かを
判断した後、ステップ５４に戻る。そして、カウンタ１
４及び２４をリセットし、再ロードを行う。そして、こ
れら処理を繰返して、異常事象を確かめる。再び異常事
象が確認されると、Ｔ＝３のため、ステップ６２を介し
てステップ６４に進み、プロセッサ１８は、次のアドバ
ンスド・トリガを受け入れ、データを波形メモリ（プロ
セッサ１８に含まれる取込み手段）に取り込んで、観察
するためにこの異常事象を捕える。ステップ５８で、異
常事象が検出されないと、ステップ６５にて、Ｔ＝１か
を判断する。Ｔ＝１、即ち、１回目の異常判断ならば、
ステップ６６で、ＴＥＳＴ＝０かを判断した後、ステッ
プ６８に進む。すなわち、第１パス（Ｔ＝１のとき）で
異常事象が検出されないと、このステップ６８にて、ト
リガ回路２０のパルス幅条件の値ＰＷを増分して、パル
ス幅を前の値の９０％に短くし、また、Ｔを１だけ増分
して、ステップ５４に戻る。そして、この試験を繰返
す。
【００１２】上述の処理において、ステップ５８の２回
目の異常判断でも、時間条件を満たす信号の異常事象が
検出されないと、ステップ６５及び７０を介してステッ
プ７２に進み、プロセッサ１８がアドバンスド・トリガ
回路２０の設定を、電圧条件を満たす信号異常事象の検
出に変える。すなわち、しきい値ＴＨ１を最小トップ・
レベル値ＶＴＯＰ未満とし、しきい値ＴＨ２を最大ボト
ム・レベル値ＶＢＯＴより大きくする。そして、ＴＥＳ
Ｔ及びＴを１に設定し、ステップ５４に戻る。上述の如
く処理を繰返し、第１パス（Ｔ＝１）において、異常事
象が検出されなければ（ステップ５８にてノーなら
ば）、ステップ６５及び６６を介して、ステップ７４に
進み、しきい値ＴＨ１及びＴＨ２を増分すと共に、Ｔを
１だけ増分して、ステップ５４に戻る。時間及び電圧条
件を満たす信号異常事象の両方のテストにおいて異常事
象が検出されないと、ステップ７６にて、異常事象がな
いことを示すエラー・メッセージを出力する。
目の異常判断でも、時間条件を満たす信号の異常事象が
検出されないと、ステップ６５及び７０を介してステッ
プ７２に進み、プロセッサ１８がアドバンスド・トリガ
回路２０の設定を、電圧条件を満たす信号異常事象の検
出に変える。すなわち、しきい値ＴＨ１を最小トップ・
レベル値ＶＴＯＰ未満とし、しきい値ＴＨ２を最大ボト
ム・レベル値ＶＢＯＴより大きくする。そして、ＴＥＳ
Ｔ及びＴを１に設定し、ステップ５４に戻る。上述の如
く処理を繰返し、第１パス（Ｔ＝１）において、異常事
象が検出されなければ（ステップ５８にてノーなら
ば）、ステップ６５及び６６を介して、ステップ７４に
進み、しきい値ＴＨ１及びＴＨ２を増分すと共に、Ｔを
１だけ増分して、ステップ５４に戻る。時間及び電圧条
件を満たす信号異常事象の両方のテストにおいて異常事
象が検出されないと、ステップ７６にて、異常事象がな
いことを示すエラー・メッセージを出力する。
【００１３】
【発明の効果】上述の如く本発明の自動異常事象検出装
置によれば、時間又は電圧などの異常事象条件を満たす
異常事象を検出し、かかる異常事象を含む入力アナログ
信号の部分を取り込むことができる。
置によれば、時間又は電圧などの異常事象条件を満たす
異常事象を検出し、かかる異常事象を含む入力アナログ
信号の部分を取り込むことができる。
【図１】本発明の自動異常事象検出装置を用いたデジタ
ル・オシロスコープの一部のブロック図である。
ル・オシロスコープの一部のブロック図である。
【図２】図１の動作を説明する流れ図である。
１０ メイン・トリガ回路（第１トリガ回路） １４、２４ カウンタ手段 １８ プロセッサ（比較手段、取り込む手段） ２０ アドバンスド・トリガ回路（第２トリガ回路） ２８ Ａ／Ｄ変換器
Claims (1)
- 【請求項１】 入力信号が所定のトリガ条件を満足した
ときに第１トリガ信号を発生する第１トリガ回路と、 上記入力信が所定の異常事象条件を満足したときに第２
トリガ信号を発生する第２トリガ回路と、 上記第１及び第２トリガ信号を計数するカウンタ手段
と、 該カウンタ手段による上記第１トリガ信号の計数値が所
定値に達したとき、上記カウンタ手段による上記第２ト
リガ信号の計数値を特定範囲と比較して、異常事象の発
生を検出する比較手段と、 該比較手段が上記異常事象の発生を検出したときに、上
記第２トリガ信号の発生に関連した上記入力信号の一部
を取り込む取込み手段とを具えた自動異常事象検出装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/702,572 US5123034A (en) | 1991-05-20 | 1991-05-20 | Automatic anomalous event detection |
| US702572 | 1991-05-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05264594A JPH05264594A (ja) | 1993-10-12 |
| JPH0812207B2 true JPH0812207B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=24821778
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4151250A Expired - Fee Related JPH0812207B2 (ja) | 1991-05-20 | 1992-05-20 | 自動異常事象検出装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5123034A (ja) |
| EP (1) | EP0515028B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0812207B2 (ja) |
| DE (1) | DE69206194D1 (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5268851A (en) * | 1991-10-21 | 1993-12-07 | Tektronix, Inc. | Detection of metastability in triggers |
| US5469364A (en) * | 1993-03-15 | 1995-11-21 | Hughey; Bradley W. | Apparatus and methods for measuring and detecting variations in the value of a capacitor |
| JP3016114B2 (ja) * | 1993-07-07 | 2000-03-06 | テクトロニクス・インコーポレイテッド | オシロスコープ及び測定機器 |
| US5530454A (en) * | 1994-04-13 | 1996-06-25 | Tektronix, Inc. | Digital oscilloscope architecture for signal monitoring with enhanced duty cycle |
| US5999163A (en) * | 1996-11-01 | 1999-12-07 | Tektronix, Inc. | Digital oscilloscope with high live time recording of signal anomalies and method |
| US6219029B1 (en) * | 1998-04-03 | 2001-04-17 | Tektronix, Inc. | Emphasizing infrequent events in a digital oscilloscope having variable intensity rasterizer and variable intensity or color display |
| US6301547B2 (en) | 1998-11-02 | 2001-10-09 | Agilent Technologies Inc. | Method and apparatus for automatically acquiring a waveform measurement |
| US6947043B1 (en) * | 2000-03-27 | 2005-09-20 | Tektronix, Inc. | Method of operating an oscilloscope |
| US7227349B2 (en) * | 2002-02-11 | 2007-06-05 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for the digital and analog triggering of a signal analysis device |
| US6892150B2 (en) * | 2002-05-24 | 2005-05-10 | Tektronix, Inc. | Combined analog and DSP trigger system for a digital storage oscilloscope |
| JP4896063B2 (ja) * | 2008-03-31 | 2012-03-14 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 信号処理装置 |
| US8386208B2 (en) * | 2008-05-08 | 2013-02-26 | Teledyne Lecroy, Inc. | Method and apparatus for trigger scanning |
| US8190392B2 (en) | 2008-05-08 | 2012-05-29 | Lecroy Corporation | Method and apparatus for multiple trigger path triggering |
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