JP3016114B2 - オシロスコープ及び測定機器 - Google Patents
オシロスコープ及び測定機器Info
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
- G01R13/345—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies for displaying sampled signals by using digital processors by intermediate A.D. and D.A. convertors (control circuits for CRT indicators)
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- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/32—Circuits for displaying non-recurrent functions such as transients; Circuits for triggering; Circuits for synchronisation; Circuits for time-base expansion
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/17—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values giving an indication of the number of times this occurs, i.e. multi-channel analysers
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、異常事象を検出するオ
シロスコープ及び測定機器、特に、ブラインド（目隠
し）期間中の異常事象を検出するるオシロスコープ及び
測定機器に関する。
シロスコープ及び測定機器、特に、ブラインド（目隠
し）期間中の異常事象を検出するるオシロスコープ及び
測定機器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のアナログ実時間オシロスコープに
おいては、トリガ回路が、入力信号のトリガ事象を検出
して、このトリガ事象に続く掃引期間中に、入力信号波
形を表示するように、陰極線管（ＣＲＴ）の如き表示器
をイネーブルする。帰線及びホールド・オフ期間が掃引
期間に続き、これら期間中に、表示器がディスエーブル
され、ブランクされて、オシロスコープは信号波形を表
示できない。したがって、帰線期間及びホールド・オフ
期間からなるブラインド期間中に生じる異常事象は、ア
ナログ実時間オシロスコープでは表示されない。
おいては、トリガ回路が、入力信号のトリガ事象を検出
して、このトリガ事象に続く掃引期間中に、入力信号波
形を表示するように、陰極線管（ＣＲＴ）の如き表示器
をイネーブルする。帰線及びホールド・オフ期間が掃引
期間に続き、これら期間中に、表示器がディスエーブル
され、ブランクされて、オシロスコープは信号波形を表
示できない。したがって、帰線期間及びホールド・オフ
期間からなるブラインド期間中に生じる異常事象は、ア
ナログ実時間オシロスコープでは表示されない。
【０００３】デジタル・ストレージ・オシロスコープに
おいては、トリガ事象の発生により、取込み期間が開始
する。この取込み期間中に、入力信号がサンプルされ、
そのサンプル値がメモリに蓄積される。その信号の波形
を表示するために、クロック信号の制御下で、サンプル
値を処理し、垂直偏向回路に供給する。また、このクロ
ック信号は、水平偏向回路も駆動する。これら処理及び
表示期間中、オシロスコープは入力信号をサンプルでき
ないので、このブラインド期間中に生じた異常事象は検
出されない。典型的なアナログ実時間オシロスコープに
おいては、このブラインド期間は、少なくとも掃引期間
の１０分の１である。また、デジタル・ストレージ・オ
シロスコープにおいては、高周波信号を取り込むように
設定した際、このブラインド期間は、取込み期間の数倍
である。
おいては、トリガ事象の発生により、取込み期間が開始
する。この取込み期間中に、入力信号がサンプルされ、
そのサンプル値がメモリに蓄積される。その信号の波形
を表示するために、クロック信号の制御下で、サンプル
値を処理し、垂直偏向回路に供給する。また、このクロ
ック信号は、水平偏向回路も駆動する。これら処理及び
表示期間中、オシロスコープは入力信号をサンプルでき
ないので、このブラインド期間中に生じた異常事象は検
出されない。典型的なアナログ実時間オシロスコープに
おいては、このブラインド期間は、少なくとも掃引期間
の１０分の１である。また、デジタル・ストレージ・オ
シロスコープにおいては、高周波信号を取り込むように
設定した際、このブラインド期間は、取込み期間の数倍
である。
【０００４】狭いパルス、即ち、グリッチや、期待値よ
りも低いパルス（ラント・パルス）や、期待値よりも遅
い立上り時間又は立下り時間や、期待幅の外側の正又は
負のピークなどの種々の形式の異常事象の任意の１つに
応答するトリガ回路は、既に提案されている。よって、
これら異常事象の任意の１つを検出し、トリガを発生し
て、連続した測定期間や信号取込みを開始するようにオ
シロスコープを設定できる。
りも低いパルス（ラント・パルス）や、期待値よりも遅
い立上り時間又は立下り時間や、期待幅の外側の正又は
負のピークなどの種々の形式の異常事象の任意の１つに
応答するトリガ回路は、既に提案されている。よって、
これら異常事象の任意の１つを検出し、トリガを発生し
て、連続した測定期間や信号取込みを開始するようにオ
シロスコープを設定できる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】供給信号により影響さ
れる高感度電子回路にとっては、供給信号の特定異常事
象により、電子回路又はその部品が誤動作（フェイル）
する。残念なことに、特定の異常事象がたまにしか発生
しないと、従来のオシロスコープを用いて、この異常事
象を確実に検出することは、非常に困難である。また、
単一の異常事象を検出するように、即ち、シングル・シ
ョット・トリガ・モードにおいて異常事象を１回検出す
るように、オシロスコープを設定できる。しかし、オシ
ロスコープは、トリガを行い、異常事象の発生を指示す
るが、その後の異常事象の発生は指示しない。
れる高感度電子回路にとっては、供給信号の特定異常事
象により、電子回路又はその部品が誤動作（フェイル）
する。残念なことに、特定の異常事象がたまにしか発生
しないと、従来のオシロスコープを用いて、この異常事
象を確実に検出することは、非常に困難である。また、
単一の異常事象を検出するように、即ち、シングル・シ
ョット・トリガ・モードにおいて異常事象を１回検出す
るように、オシロスコープを設定できる。しかし、オシ
ロスコープは、トリガを行い、異常事象の発生を指示す
るが、その後の異常事象の発生は指示しない。
【０００６】したがって、本発明の目的は、ブラインド
期間中の異常事象の発生も検出できるオシロスコープ及
び測定機器の提供にある。
期間中の異常事象の発生も検出できるオシロスコープ及
び測定機器の提供にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の第１の観点によ
れば、オシロスコープは、入力信号に応答して、この入
力信号内の異常事象の発生を検出する少なくとも１個の
検出回路と、検出した異常事象の発生回数を報告する
（知らせる）手段とを具えている。
れば、オシロスコープは、入力信号に応答して、この入
力信号内の異常事象の発生を検出する少なくとも１個の
検出回路と、検出した異常事象の発生回数を報告する
（知らせる）手段とを具えている。
【０００８】本発明の第２の観点によれば、オシロスコ
ープは、トリガ事象に応答して入力信号の波形の表示を
開始するトリガ回路と、このオシロスコープの測定サイ
クルのブラインド期間中に、入力信号に応答してこの入
力信号内の異常事象の発生を検出する少なくとも１個の
検出回路を具えている。
ープは、トリガ事象に応答して入力信号の波形の表示を
開始するトリガ回路と、このオシロスコープの測定サイ
クルのブラインド期間中に、入力信号に応答してこの入
力信号内の異常事象の発生を検出する少なくとも１個の
検出回路を具えている。
【０００９】本発明の第３の観点によれば、オシロスコ
ープは、波形領域及びヒストグラム領域を有する表示器
と、このオシロスコープの測定サイクルのブラインド期
間中の入力信号のピーク振幅を検出する少なくとも１個
のピーク検出器と、検出したピーク振幅値の分布を指示
する表示をヒストグラム領域に行う手段とを具えてい
る。
ープは、波形領域及びヒストグラム領域を有する表示器
と、このオシロスコープの測定サイクルのブラインド期
間中の入力信号のピーク振幅を検出する少なくとも１個
のピーク検出器と、検出したピーク振幅値の分布を指示
する表示をヒストグラム領域に行う手段とを具えてい
る。
【００１０】本発明の第４の観点によれば、測定機器
は、トリガ事象に応答して入力信号の測定取込みを開始
するトリガ回路と、入力信号に応答してこの入力信号内
の異常事象の発生を検出する少なくとも１個の検出回路
とを具えている。なお、この異常事象は、トリガ事象と
は異なる。
は、トリガ事象に応答して入力信号の測定取込みを開始
するトリガ回路と、入力信号に応答してこの入力信号内
の異常事象の発生を検出する少なくとも１個の検出回路
とを具えている。なお、この異常事象は、トリガ事象と
は異なる。
【００１１】
【実施例】以下、添付図を参照して本発明の好適な実施
例を説明する。図１は、本発明を用いたアナログ実時間
オシロスコープのブロック図である。入力端子１０は、
例えば、被試験装置からの入力信号を受ける。従来のア
プリケーションにおいて、この入力信号は、トリガ条件
回路１２を介してトリガ比較器１４に供給される。この
比較器１４は、入力信号が所定方向で、選択したしきい
値レベルを通過すると、出力信号（トリガ信号）を発生
する。このトリガ信号は、スイッチ２２を介して、トリ
ガ・ラッチ１６に供給される。このトリガ・ラッチ１６
は、信号を掃引回路１８に供給するので、ＣＲＴ２０の
電子ビームの水平掃引を開始させる。そのために、掃引
回路１８からの掃引信号が水平チャンネル・スイッチ２
４を介してＣＲＴの水平偏向板に供給される。なお、ト
リガ条件回路１２、比較器１４及びトリガ・ラッチ１６
がトリガ回路を構成する。水平チャンネル・スイッチ２
４は、読出し表示プロセッサ２６が発生した水平読出し
信号に選択的に応答する。この読出し表示プロセッサ２
６は、垂直読出し信号を垂直チャンネル・スイッチ２８
に供給する。垂直チャンネル・スイッチ２８は、垂直読
出し信号及び入力信号間の選択を行う。垂直チャンネル
・スイッチ２８の出力信号は、垂直増幅器３０を介し
て、ＣＲＴ２０の垂直偏向板に供給する。読出し表示プ
ロセッサ２６が発生する信号により、ＣＲＴ２０は、入
力信号の波形３２を表示するばかりでなく、例えば、オ
シロスコープの設定を説明するアルファベット文字３
４、３６も表示する（ＣＲＴ２０の表示を示す図２を参
照）。掃引回路１８は、出力信号をＺ軸回路３８及びト
リガ・イネーブル回路４２に供給する。このＺ軸回路３
８は、電子ビームのブランキング及びアンブランキング
を制御し、トリガ・イネーブル回路４２は、掃引終了信
号に続く所定遅延後にラッチ１６をリセットし、このラ
ッチ１６が他のトリガを受け付けられるようにする。
例を説明する。図１は、本発明を用いたアナログ実時間
オシロスコープのブロック図である。入力端子１０は、
例えば、被試験装置からの入力信号を受ける。従来のア
プリケーションにおいて、この入力信号は、トリガ条件
回路１２を介してトリガ比較器１４に供給される。この
比較器１４は、入力信号が所定方向で、選択したしきい
値レベルを通過すると、出力信号（トリガ信号）を発生
する。このトリガ信号は、スイッチ２２を介して、トリ
ガ・ラッチ１６に供給される。このトリガ・ラッチ１６
は、信号を掃引回路１８に供給するので、ＣＲＴ２０の
電子ビームの水平掃引を開始させる。そのために、掃引
回路１８からの掃引信号が水平チャンネル・スイッチ２
４を介してＣＲＴの水平偏向板に供給される。なお、ト
リガ条件回路１２、比較器１４及びトリガ・ラッチ１６
がトリガ回路を構成する。水平チャンネル・スイッチ２
４は、読出し表示プロセッサ２６が発生した水平読出し
信号に選択的に応答する。この読出し表示プロセッサ２
６は、垂直読出し信号を垂直チャンネル・スイッチ２８
に供給する。垂直チャンネル・スイッチ２８は、垂直読
出し信号及び入力信号間の選択を行う。垂直チャンネル
・スイッチ２８の出力信号は、垂直増幅器３０を介し
て、ＣＲＴ２０の垂直偏向板に供給する。読出し表示プ
ロセッサ２６が発生する信号により、ＣＲＴ２０は、入
力信号の波形３２を表示するばかりでなく、例えば、オ
シロスコープの設定を説明するアルファベット文字３
４、３６も表示する（ＣＲＴ２０の表示を示す図２を参
照）。掃引回路１８は、出力信号をＺ軸回路３８及びト
リガ・イネーブル回路４２に供給する。このＺ軸回路３
８は、電子ビームのブランキング及びアンブランキング
を制御し、トリガ・イネーブル回路４２は、掃引終了信
号に続く所定遅延後にラッチ１６をリセットし、このラ
ッチ１６が他のトリガを受け付けられるようにする。
【００１２】上述の如く、図１に示したオシロスコープ
は、従来方式で動作し、掃引期間中に、入力信号の波形
を表示するが、掃引期間外の事象に関する情報を発生し
ない。
は、従来方式で動作し、掃引期間中に、入力信号の波形
を表示するが、掃引期間外の事象に関する情報を発生し
ない。
【００１３】図１に示すオシロスコープの入力端子１０
を、信号特徴化及びモニタ・サブシステム７６にも接続
する。このサブシステム７６は、正ピーク検出器４４、
負ピーク検出器４６、６個の異常事象検出器（検出回
路）５０ａ〜５０ｆにより構成される。これらピーク検
出器４４及び４６は、従来形式であり、各々は掃引期間
中にディスエーブルされる。また、これらピーク検出器
は、オシロスコープの各動作サイクルのブラインド期間
中に、正及び負のピークを夫々検出する。検出したピー
ク値をピーク検出器から読み出す一方、次のブラインド
期間が開始する前にこれらピーク検出器をリセットす
る。正及び負のピーク値をアナログ・デジタル変換器
（ＡＤＣ）５２及び５４に夫々供給して、これらＡＤＣ
の出力を読出し表示プロセッサ２６に供給する。
を、信号特徴化及びモニタ・サブシステム７６にも接続
する。このサブシステム７６は、正ピーク検出器４４、
負ピーク検出器４６、６個の異常事象検出器（検出回
路）５０ａ〜５０ｆにより構成される。これらピーク検
出器４４及び４６は、従来形式であり、各々は掃引期間
中にディスエーブルされる。また、これらピーク検出器
は、オシロスコープの各動作サイクルのブラインド期間
中に、正及び負のピークを夫々検出する。検出したピー
ク値をピーク検出器から読み出す一方、次のブラインド
期間が開始する前にこれらピーク検出器をリセットす
る。正及び負のピーク値をアナログ・デジタル変換器
（ＡＤＣ）５２及び５４に夫々供給して、これらＡＤＣ
の出力を読出し表示プロセッサ２６に供給する。
【００１４】異常検出器５０ａ及び５０ｂは正及び負の
グリッチを検出し、検出器５０ｃ及び５０ｄは正及び負
のラント・パルスを検出し、検出器５０ｅ及び５０ｆは
低速の立上り及び立下り時間を検出する。これら検出器
の各々は、グリッチ・トリガ、ラント・トリガ及び低速
立上り時間トリガ用として従来のオシロスコープに用い
ている回路と同様に実現してもよい。検出器５０ａ〜５
０ｆの１個が異常事象を検出すると、カウンタ５６ａ〜
５６ｆの対応する１個を増分する。これらカウンタの出
力を読出し表示プロセッサ２６に供給する。読出し表示
プロセッサ２６により、ＣＲＴ２０の電子ビームは、デ
ータ読出し表示領域６０（図２）に偏向され（アドレス
指定され）、この表示領域６０のフィールド６２ａ〜６
２ｆ及び６４〜７２に情報を書き込む（表示する）。
グリッチを検出し、検出器５０ｃ及び５０ｄは正及び負
のラント・パルスを検出し、検出器５０ｅ及び５０ｆは
低速の立上り及び立下り時間を検出する。これら検出器
の各々は、グリッチ・トリガ、ラント・トリガ及び低速
立上り時間トリガ用として従来のオシロスコープに用い
ている回路と同様に実現してもよい。検出器５０ａ〜５
０ｆの１個が異常事象を検出すると、カウンタ５６ａ〜
５６ｆの対応する１個を増分する。これらカウンタの出
力を読出し表示プロセッサ２６に供給する。読出し表示
プロセッサ２６により、ＣＲＴ２０の電子ビームは、デ
ータ読出し表示領域６０（図２）に偏向され（アドレス
指定され）、この表示領域６０のフィールド６２ａ〜６
２ｆ及び６４〜７２に情報を書き込む（表示する）。
【００１５】このオシロスコープを使用する際、操作者
は、グリッチに対して最小期間しきい値を選択し、ラン
ト・パルスに対して最小振幅しきい値を選択し、立上り
及び立下り時間に対して最大期間しきい値を選択する。
入力信号が、最小しきい値よりも短い期間の（正又は負
の）グリッチを含んでいる場合、このグリッチをグリッ
チ検出器５０ａ又は５０ｂが検出し、カウンタ５６ａ又
は５６ｂが増分される。そして、新たな計数を読出し表
示プロセッサ２６に供給する。新たな計数を受けると、
読出し表示プロセッサ２６は、表示を更新し、表示フィ
ールド６２ａ又は６２ｂ内に、付加的なグリッチが検出
されたことを指示する。同様に、選択した最小しきい値
よりも小さな振幅の（正又は負の）ラント・パルスが検
出されると、カウンタ５６ｃ又は５６ｄが増分され、フ
ィールド６２ｃ又は６２ｄの表示が更新される。さら
に、遷移の立上り又は立下り時間が夫々の最大期間しき
い値よりも長いと、この事象の発生が検出され、カウン
タ５６ｅ又は５６ｆが増分される。新たな計数が読出し
表示プロセッサ２６に報告され、フィールド６２ｅ又は
６２ｆの表示が更新される。よって、読出し表示プロセ
ッサ２６は、異常事象の発生回数を知らせる手段として
作用する。
は、グリッチに対して最小期間しきい値を選択し、ラン
ト・パルスに対して最小振幅しきい値を選択し、立上り
及び立下り時間に対して最大期間しきい値を選択する。
入力信号が、最小しきい値よりも短い期間の（正又は負
の）グリッチを含んでいる場合、このグリッチをグリッ
チ検出器５０ａ又は５０ｂが検出し、カウンタ５６ａ又
は５６ｂが増分される。そして、新たな計数を読出し表
示プロセッサ２６に供給する。新たな計数を受けると、
読出し表示プロセッサ２６は、表示を更新し、表示フィ
ールド６２ａ又は６２ｂ内に、付加的なグリッチが検出
されたことを指示する。同様に、選択した最小しきい値
よりも小さな振幅の（正又は負の）ラント・パルスが検
出されると、カウンタ５６ｃ又は５６ｄが増分され、フ
ィールド６２ｃ又は６２ｄの表示が更新される。さら
に、遷移の立上り又は立下り時間が夫々の最大期間しき
い値よりも長いと、この事象の発生が検出され、カウン
タ５６ｅ又は５６ｆが増分される。新たな計数が読出し
表示プロセッサ２６に報告され、フィールド６２ｅ又は
６２ｆの表示が更新される。よって、読出し表示プロセ
ッサ２６は、異常事象の発生回数を知らせる手段として
作用する。
【００１６】オシロスコープの各動作サイクルのブライ
ンド期間中、ピーク検出器４４及び４６は、アナログ・
ピーク値をＡＤＣ５２及び５４に供給する。これらＡＤ
Ｃは、アナログ・ピーク値をデジタル化し、その結果の
デジタル値を読出し表示プロセッサ２６に供給する。好
適な実施例において、ＡＤＣ５２及び５４は、ＣＲＴ表
示の垂直１目盛りにつき８単位の分解能で量子化を行
い、読出し表示プロセッサ２６は、各量子化期間中のピ
ークの各発生を受けて記録し、各量子化期間中の計数を
累積する。記録を累積すると、読出し表示プロセッサ２
６は、表示領域６４に、受けた正及び負のピーク値の分
布を示すヒストグラムを発生する。よって、読出し表示
プロセッサ２６は、ヒストグラム表示手段としても動作
する。
ンド期間中、ピーク検出器４４及び４６は、アナログ・
ピーク値をＡＤＣ５２及び５４に供給する。これらＡＤ
Ｃは、アナログ・ピーク値をデジタル化し、その結果の
デジタル値を読出し表示プロセッサ２６に供給する。好
適な実施例において、ＡＤＣ５２及び５４は、ＣＲＴ表
示の垂直１目盛りにつき８単位の分解能で量子化を行
い、読出し表示プロセッサ２６は、各量子化期間中のピ
ークの各発生を受けて記録し、各量子化期間中の計数を
累積する。記録を累積すると、読出し表示プロセッサ２
６は、表示領域６４に、受けた正及び負のピーク値の分
布を示すヒストグラムを発生する。よって、読出し表示
プロセッサ２６は、ヒストグラム表示手段としても動作
する。
【００１７】所定のトリガ事象の関連したアクティブ掃
引期間が続くブラインド期間中のみのピーク値を、ピー
ク検出器４４、４６が取り込めるが、異常事象検出器５
０は、アクティブ掃引期間及びブラインド期間の両方の
期間中に動作するのが好ましい。よって、ブラインド期
間中に、グリッチ、ラント・パルス、低速立上り時間又
は低速立下り時間の事象が生じると、この事象は、適切
な検出器で検出され、記録され、報告されて、表示領域
６０内で、データ読出し表示が更新される。
引期間が続くブラインド期間中のみのピーク値を、ピー
ク検出器４４、４６が取り込めるが、異常事象検出器５
０は、アクティブ掃引期間及びブラインド期間の両方の
期間中に動作するのが好ましい。よって、ブラインド期
間中に、グリッチ、ラント・パルス、低速立上り時間又
は低速立下り時間の事象が生じると、この事象は、適切
な検出器で検出され、記録され、報告されて、表示領域
６０内で、データ読出し表示が更新される。
【００１８】ヒストグラム表示領域に含まれる電圧値の
範囲は、波形表示領域の電圧値範囲と同じである。よっ
て、新たな最大正ピーク値又は新たな最小負ピーク値を
生じ、そのピーク値が波形表示の電圧範囲外ならば、ヒ
ストグラム表示領域に積極的に報告されない。しかし、
データ読出し表示領域は、最大及び最小電圧値を表示す
るフィールド６６、７２を含んでいる。新たな最大正ピ
ーク値又は最小負ピーク値に達する度に、フィールド６
６又は７２が更新されて、新たな値を反映する。よっ
て、新たな正又は負のピーク値が、表示された電圧の範
囲外ならば、それにも関わらず、この事象は、報告さ
れ、ユーザが観察できる。
範囲は、波形表示領域の電圧値範囲と同じである。よっ
て、新たな最大正ピーク値又は新たな最小負ピーク値を
生じ、そのピーク値が波形表示の電圧範囲外ならば、ヒ
ストグラム表示領域に積極的に報告されない。しかし、
データ読出し表示領域は、最大及び最小電圧値を表示す
るフィールド６６、７２を含んでいる。新たな最大正ピ
ーク値又は最小負ピーク値に達する度に、フィールド６
６又は７２が更新されて、新たな値を反映する。よっ
て、新たな正又は負のピーク値が、表示された電圧の範
囲外ならば、それにも関わらず、この事象は、報告さ
れ、ユーザが観察できる。
【００１９】また、読出し表示プロセッサ２６は、フィ
ールド６８及び７０に、特定の試験の総合経過時間と、
第１（最初の）異常（フォルト）事象までの経過時間を
報告するクロック回路を含んでいる。
ールド６８及び７０に、特定の試験の総合経過時間と、
第１（最初の）異常（フォルト）事象までの経過時間を
報告するクロック回路を含んでいる。
【００２０】図１において、検出器５０の出力をオア・
ゲート７４の入力端に夫々供給している。このオア・ゲ
ート７４の出力は、信号特徴化モニタ・サブシステム７
６の事象検出出力であり、スイッチ２２の第２端子に供
給される。スイッチ２２がオア・ゲート７４の出力を選
択した場合、このオア・ゲートの出力は、トリガ・ラッ
チ１６へのトリガ入力となるので、第１（最初の）異常
事象がＣＲＴ２０の掃引を開始させ、このＣＲＴに最初
の異常事象直後の入力信号波形を表示させる。遅延線が
入力端子１０及び垂直チャンネル・スイッチ２８間に設
けられていれば、オシロスコープは、この異常事象を表
示できる。この機能により、ユーザは後で異常事象を観
察できるので、これは、直視型蓄積オシロスコープにと
っては非常に好ましい。
ゲート７４の入力端に夫々供給している。このオア・ゲ
ート７４の出力は、信号特徴化モニタ・サブシステム７
６の事象検出出力であり、スイッチ２２の第２端子に供
給される。スイッチ２２がオア・ゲート７４の出力を選
択した場合、このオア・ゲートの出力は、トリガ・ラッ
チ１６へのトリガ入力となるので、第１（最初の）異常
事象がＣＲＴ２０の掃引を開始させ、このＣＲＴに最初
の異常事象直後の入力信号波形を表示させる。遅延線が
入力端子１０及び垂直チャンネル・スイッチ２８間に設
けられていれば、オシロスコープは、この異常事象を表
示できる。この機能により、ユーザは後で異常事象を観
察できるので、これは、直視型蓄積オシロスコープにと
っては非常に好ましい。
【００２１】上述は、本発明の好適な実施例についての
み説明したが、本発明の要旨を逸脱することなく、種々
の変形変更が可能である。例えば、本発明は、アナログ
実時間オシロスコープの利用に限定されるものではな
く、デジタル・ストレージ・オシロスコープにも適用で
きる。また、本発明は、上述の特定の異常事象を検出す
る検出器の使用に限定されず、特定のアプリケーション
においては、検出器５０ａ〜５０ｆの１個以上を除去し
てもよい。また、他の異常事象に応答する検出器を、更
に設けてもよいし、これら検出器５０ａ〜５０ｆの１個
以上の代わりに用いてもよい。例えば、端子１０の信号
と第２信号との両方に応答するタイミング比較回路を設
けて、設定や保持に対する異常の如き事象を検出し、報
告できるようにしてもよい。さらに、図１では、単一チ
ャンネルのオシロスコープに対するアプリケーションを
開示しているが、本発明は多チャンネル・オシロスコー
プにも適用できる。この場合、オシロスコープの各チャ
ンネルに、信号モニタ及び特徴化（即ち、信号特徴化モ
ニタ）サブシステムを設ければよい。上述の如く、信号
モニタ及び特徴化サブシステムがタイミング比較回路を
含んでいる場合、所定のタイミング比較回路に供給され
た第２信号は、他のチャンネルの入力信号又は外部信号
でもよい。信号特徴化及びモニタ・サブシステムの各々
が、図１のオア・ゲート７４が発生するのと同様な事象
検出出力を発生すると仮定すると、いくつかの事象検出
出力をオア・ゲート処理して、信号特徴化及びモニタ・
サブシステムの任意のものが検出した最初の異常事象に
て、トリガできるようになる。
み説明したが、本発明の要旨を逸脱することなく、種々
の変形変更が可能である。例えば、本発明は、アナログ
実時間オシロスコープの利用に限定されるものではな
く、デジタル・ストレージ・オシロスコープにも適用で
きる。また、本発明は、上述の特定の異常事象を検出す
る検出器の使用に限定されず、特定のアプリケーション
においては、検出器５０ａ〜５０ｆの１個以上を除去し
てもよい。また、他の異常事象に応答する検出器を、更
に設けてもよいし、これら検出器５０ａ〜５０ｆの１個
以上の代わりに用いてもよい。例えば、端子１０の信号
と第２信号との両方に応答するタイミング比較回路を設
けて、設定や保持に対する異常の如き事象を検出し、報
告できるようにしてもよい。さらに、図１では、単一チ
ャンネルのオシロスコープに対するアプリケーションを
開示しているが、本発明は多チャンネル・オシロスコー
プにも適用できる。この場合、オシロスコープの各チャ
ンネルに、信号モニタ及び特徴化（即ち、信号特徴化モ
ニタ）サブシステムを設ければよい。上述の如く、信号
モニタ及び特徴化サブシステムがタイミング比較回路を
含んでいる場合、所定のタイミング比較回路に供給され
た第２信号は、他のチャンネルの入力信号又は外部信号
でもよい。信号特徴化及びモニタ・サブシステムの各々
が、図１のオア・ゲート７４が発生するのと同様な事象
検出出力を発生すると仮定すると、いくつかの事象検出
出力をオア・ゲート処理して、信号特徴化及びモニタ・
サブシステムの任意のものが検出した最初の異常事象に
て、トリガできるようになる。
【００２２】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、オシロス
コープや測定機器のブラインド期間中に発生する異常事
象も検出できる。
コープや測定機器のブラインド期間中に発生する異常事
象も検出できる。
【図１】本発明を用いたオシロスコープのブロック図で
ある。
ある。
【図２】図１に示すオシロスコープによる典型的な表示
を示す図である。
を示す図である。
１２ トリガ条件回路 １６ トリガ・ラッチ １８ 掃引回路 ２０ 表示器 ２４ 水平チャンネル・スイッチ ２６ 読出し表示プロセッサ（異常事象発生回数報告手
段／ヒストグラム表示手段） ２８ 垂直チャンネル・スイッチ ３０ 垂直増幅器 ３８ Ｚ軸回路 ４２ トリガ・イネーブル回路 ４４ 正ピーク検出器 ４６ 負ピーク検出器 ５０ 異常事象検出器 ５２、５４ アナログ・デジタル変換器 ５６ カウンタ ７４ オア・ゲート
段／ヒストグラム表示手段） ２８ 垂直チャンネル・スイッチ ３０ 垂直増幅器 ３８ Ｚ軸回路 ４２ トリガ・イネーブル回路 ４４ 正ピーク検出器 ４６ 負ピーク検出器 ５０ 異常事象検出器 ５２、５４ アナログ・デジタル変換器 ５６ カウンタ ７４ オア・ゲート
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 13/32
Claims (4)
- 【請求項１】 入力信号の所定事象であるトリガ事象を
上記入力信号から検出し、検出した上記トリガ事象に応
答して入力信号波形の表示開始を制御するトリガ回路
と、 該トリガ回路による表示開始の制御に応じて、掃引期間
中に上記入力信号波形の表示を行う表示手段と、 上記トリガ回路と独立し、上記入力信号に応答し、測定
サイクル内の上記入力信号波形の表示を行わない帰線期
間及びホールド・オフ期間から成るブラインド期間中
に、上記入力信号内の異常事象の発生を検出する少なく
とも１個の検出回路と、 上記異常事象の発生を記録するか、又は、上記異常事象
の発生を知らせることにより、上記異常事象の発生に応
答する手段とを具えたオシロスコープ。 - 【請求項２】 トリガ事象に応答して、入力信号波形の
表示を行う掃引期間を開始するトリガ回路と、 上記入力信号に応答して、測定サイクル内の上記入力信
号波形の表示を行わない帰線期間及びホールド・オフ期
間から成るブラインド期間中に、上記入力信号内の異常
事象の発生を検出する少なくとも１個の検出回路とを具
えたオシロスコープ。 - 【請求項３】 波形領域及びヒストグラム領域を有する
表示器と、 測定サイクルのブラインド期間中に入力信号のピーク振
幅を検出する少なくとも１個のピーク検出器と、 検出したピーク振幅値の分布を示す表示を上記ヒストグ
ラム領域に行う手段とを具え、上記ブラインド期間が、帰線期間及びホールド・オフ期
間から成るか、又は取込んだ入力信号の処理期間である
ことを特徴とする オシロスコープ。 - 【請求項４】 トリガ事象に応答して入力信号のメモリ
への測定取込みを制御するトリガ回路と、 上記入力信号に応答して、測定サイクルのブラインド期
間中に、上記入力信号内の異常事象の発生を検出する少
なくとも１個の検出回路とを具え、上記ブラインド期間が上記メモリ内に取込まれた上記入
力信号の処理期間であることを特徴とする 測定機器。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US8896993A | 1993-07-07 | 1993-07-07 | |
| US08/088969 | 1993-07-07 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP6177508A Expired - Fee Related JP3016114B2 (ja) | 1993-07-07 | 1994-07-06 | オシロスコープ及び測定機器 |
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| US6275257B1 (en) * | 1998-10-16 | 2001-08-14 | Tektronix, Inc. | Holdoff by TV fields |
| WO2003044543A2 (en) * | 2001-08-22 | 2003-05-30 | Wavecrest Corporation | Method and apparatus for measuring a waveform |
| US6892150B2 (en) * | 2002-05-24 | 2005-05-10 | Tektronix, Inc. | Combined analog and DSP trigger system for a digital storage oscilloscope |
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| US7765086B2 (en) * | 2004-12-09 | 2010-07-27 | Tektronix, Inc. | Modulation domain trigger |
| JP5705395B2 (ja) * | 2006-07-21 | 2015-04-22 | テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー | 信号分析装置 |
| US7723976B2 (en) * | 2006-08-03 | 2010-05-25 | Tektronix, Inc. | Self-adjusting hold-off trigger |
| JP5024598B2 (ja) * | 2006-10-30 | 2012-09-12 | 横河電機株式会社 | マルチチャネルアナライザ |
| US8024140B2 (en) * | 2007-08-23 | 2011-09-20 | Amherst Systems Associates, Inc. | Waveform anomoly detection and notification systems and methods |
| US7816904B2 (en) * | 2007-10-09 | 2010-10-19 | Tektronix, Inc. | Modulation signature trigger |
| US8046183B2 (en) * | 2008-03-04 | 2011-10-25 | Tektronix, Inc. | Pre-trigger and post-trigger acquisition for no dead time acquisition system |
| CN101620242B (zh) * | 2009-07-21 | 2011-01-26 | 深圳市鼎阳科技有限公司 | 示波器窗口局部放大方法 |
| CN103207296B (zh) * | 2012-01-16 | 2016-09-07 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种用于显示异常波形的数字示波器 |
| US20130317776A1 (en) * | 2012-05-24 | 2013-11-28 | Tektronix, Inc. | Time-domain density triggering in a test and measurement instrument |
| RU2684203C1 (ru) * | 2017-11-21 | 2019-04-04 | Акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва" | Способ интеллектуального анализа осциллограмм |
| RU2741762C1 (ru) * | 2020-02-04 | 2021-01-28 | Акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф.Решетнёва" | Способ обучения системы распознавания немонотонности сигналов |
Family Cites Families (11)
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|---|---|---|---|---|
| US4072851A (en) * | 1976-03-26 | 1978-02-07 | Norland Corporation | Waveform measuring instrument with resident programmed processor for controlled waveform display and waveform data reduction and calculation |
| US4495642A (en) * | 1982-02-26 | 1985-01-22 | Hewlett-Packard Company | Timing analyzer with combination transition and duration trigger |
| US4670711A (en) * | 1985-02-04 | 1987-06-02 | The Boeing Company | High-speed transient pulse height counter |
| US5003248A (en) * | 1986-11-10 | 1991-03-26 | Hewlett-Packard Company | Probability density histogram display |
| US4763067A (en) * | 1987-10-08 | 1988-08-09 | Tektronix, Inc. | Oscilloscope having a displayed trigger indicator |
| DE3744398A1 (de) * | 1987-12-29 | 1989-07-13 | Asea Brown Boveri | Verfahren und vorrichtung zur registrierung von signalkurven |
| US4975636A (en) * | 1989-05-01 | 1990-12-04 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for selecting and displaying a high resolution window from a main display |
| US5043927A (en) * | 1989-09-18 | 1991-08-27 | Tektronix, Inc. | Digital signal quality analysis using simultaneous dual-threshold data acquisition |
| US5250935A (en) * | 1990-09-24 | 1993-10-05 | Snap-On Tools Corporation | Waveform peak capture circuit for digital engine analyzer |
| US5160892A (en) * | 1990-10-05 | 1992-11-03 | Bear Automotive Service Equipment Company | Engine analyzer waveform display with a buffer region |
| US5123034A (en) * | 1991-05-20 | 1992-06-16 | Tektronix, Inc. | Automatic anomalous event detection |
-
1994
- 1994-07-06 JP JP6177508A patent/JP3016114B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-02-17 US US08/390,907 patent/US5841286A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07151790A (ja) | 1995-06-16 |
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