JPH08118055A - Coaxial observation device in laser machining - Google Patents

Coaxial observation device in laser machining

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JPH08118055A
JPH08118055A JP6282839A JP28283994A JPH08118055A JP H08118055 A JPH08118055 A JP H08118055A JP 6282839 A JP6282839 A JP 6282839A JP 28283994 A JP28283994 A JP 28283994A JP H08118055 A JPH08118055 A JP H08118055A
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laser
laser light
light
visible
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Kyoji Koda
京司 国府田
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SHINOZAKI SEISAKUSHO KK
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Abstract

PURPOSE: To provide an observation device which eliminates waste time accompanied by an observation and errors related to mechanical operations, in a device which is installed in a nonvisible-laser beam machine in order to observe the irradiated position of a laser beam. CONSTITUTION: A visible laser beam 13 from a visible-laser generator 17 is transmitted to an object 11 to be machined through a beam compiler 25, on the same axis as the optical path axis of a nonvisible-laser beam 19 for machining. In addition, the object 11 is irradiated with the light 27 provided near a machining lens 9. Then, the reflected light from the position irradiated with the visible-laser beam and the reflected light from the object irradiated with the light are taken in a CCD camera 29 through the beam compiler 25. The image thus taken in is projected on a monitor 35 and processed with a personal computer 37 by the image processing technique with deviation from a target irradiation position calculated. On the basis of a signal for correcting this deviation, an XY table 13 on which the object to be machined is placed is controlled through an NC controller 39, and the deviation is thereby corrected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光により加工を
行うレーザ加工装置に設けられて、レーザ光の加工対象
物への照射位置を観測する観測装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an observing device which is provided in a laser machining apparatus for machining with a laser beam and observes the irradiation position of the laser beam on a workpiece.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、レーザ技術はいろいろな産業分野
に利用されている。レーザの種類にもレーザ発振の仕組
みから、ガスレーザ、固体レーザ、半導体レーザなど種
々のものがある。利用される産業分野にも、金属などの
材料に切断や穴開けなどを行う加工−熱プロセスを利用
する分野、光化学反応プロセスを利用する分野など種々
のものがある。特に、ガスレーザの一つであるCO2
ーザなどは、大出力で効率も高く、レーザ加工分野で重
用されている。
2. Description of the Related Art In recent years, laser technology has been used in various industrial fields. There are various types of lasers, such as gas lasers, solid-state lasers, and semiconductor lasers, depending on the mechanism of laser oscillation. There are various industrial fields that are used, such as a field that uses a processing-thermal process for cutting or punching a material such as metal, and a field that uses a photochemical reaction process. In particular, a CO 2 laser, which is one of the gas lasers, has a large output and a high efficiency, and is widely used in the laser processing field.

【0003】このCO2 レーザ加工装置の一例を図4に
示す。レーザ発振器1から出力されたレーザ光3は、し
かるべく光路を経て、マスク5に至り、マスク5でパタ
ーンを得て、全反射ミラー7で光路を屈曲させ、加工用
レンズ9を経て、加工対象物11の表面に結像する。加
工対象物11はXYテーブル13上に置かれ、加工が行
われる。
An example of this CO 2 laser processing apparatus is shown in FIG. The laser beam 3 output from the laser oscillator 1 passes through the optical path accordingly, reaches the mask 5, obtains a pattern by the mask 5, bends the optical path by the total reflection mirror 7, passes through the processing lens 9, and is processed. An image is formed on the surface of the object 11. The processing object 11 is placed on the XY table 13 and processed.

【0004】そして、従来は、このCO2 レーザは、微
細加工には不適とされていた。例えば、数百ミクロンメ
ータ以下のフィルム状のプラスチックに対する加工は、
焼け、焦げ、だれ、歪みなどが障害となってうまく行か
なかった。しかし、近年は開発が進んだ結果、レーザ光
自体はこのような微細加工も行われうるものになってき
た。
In the past, this CO 2 laser was unsuitable for fine processing. For example, the processing for film-shaped plastic with a thickness of less than several hundreds of micrometers is
Burning, scorching, who, distortion, etc. were obstacles and did not go well. However, as a result of progress in development in recent years, laser light itself has become capable of such fine processing.

【0005】しかし、このようなレーザ光は一般には非
可視光であるため、また加工が微細であるため、加工対
象物への照射位置を肉眼で直接に観測する事はできな
い。観測できないと、照射位置のズレの補正ができな
い。そこで、従来の非可視レーザ光の加工対象物への照
射位置を観測する装置としては、試しに照射した非可視
レーザ光の照射痕を、図4に示すように、ライト10を
備えたCCDカメラ12へ取り込み、取り込んだ画像を
モニタ14に拡大して写し観測する装置がある。このC
CDカメラ12は、加工対象物11近くに位置する加工
用レンズ9が設けられるステーションヘッドと干渉しな
いように、相互に移動できるオフセット方式がとられ
る。あるいは、CCDカメラ12とステーションヘッド
は移動せず、加工対象物11を載置するXYテーブル1
3をCCDカメラ12の下まで移動するオフセット方式
がとられる。そして、照射痕を観測した後、逆方向の移
動により位置を戻し、照射位置のズレの補正を行う。
However, since such laser light is generally invisible light and the processing is minute, it is not possible to directly observe the irradiation position on the object to be processed with the naked eye. If it cannot be observed, the deviation of the irradiation position cannot be corrected. Therefore, as a conventional device for observing the irradiation position of the invisible laser light on the object to be processed, a CCD camera provided with a light 10 as shown in FIG. There is a device that captures the image in 12 and enlarges the captured image on the monitor 14 to observe it. This C
The CD camera 12 adopts an offset method in which the CD camera 12 can move relative to each other so as not to interfere with the station head provided with the processing lens 9 located near the processing target 11. Alternatively, the CCD camera 12 and the station head do not move, and the XY table 1 on which the workpiece 11 is placed is placed.
An offset method is used in which 3 is moved to the bottom of the CCD camera 12. Then, after observing the irradiation mark, the position is returned by moving in the opposite direction, and the deviation of the irradiation position is corrected.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
オフセット方式の観測装置は、CCDカメラ12とステ
ーションヘッドの移動、または加工対象物11を載置す
るXYテーブル13の移動に時間がかかり、また、これ
らの移動に伴う検出や数値データ処理に時間がかかるも
のであった。これにより生じるロスタイムは、例えばコ
ンマ数秒であるが、多数の加工対象物を連続して加工す
る場合などには、大きなロスになる。
However, in the conventional offset type observation apparatus, it takes a long time to move the CCD camera 12 and the station head or the XY table 13 on which the workpiece 11 is placed, and Detection and numerical data processing accompanying these movements took time. The loss time caused by this is, for example, a few seconds, but becomes a large loss when a large number of processing objects are continuously processed.

【0007】さらに、移動に必要となる移動機構の例え
ば歯車のバックラッシュによる誤差など、機械動作に伴
う誤差も生じてしまうものであった。このような問題
は、CO2 レーザによる加工の場合のみならず、他の非
可視レーザ光による加工の場合にも生じる。本発明は、
以上の問題点を解決するためになされたもので、ロスタ
イムや機械動作に伴う誤差のない観測装置を提供するこ
とを目的とする。
Further, an error associated with the mechanical operation, such as an error due to the backlash of the moving mechanism of the moving mechanism necessary for the movement, occurs. Such a problem occurs not only in the case of processing by CO2 laser but also in the case of processing by other invisible laser light. The present invention
The present invention has been made in order to solve the above problems, and an object thereof is to provide an observation device that does not have an error due to a loss time or machine operation.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
めに、請求項1の発明は、レーザ発振器からの非可視レ
ーザ光を加工対象物へ導き加工を行うレーザ加工装置に
設けられ、前記非可視レーザ光の加工対象物への照射位
置を観測するレーザ加工における同軸観測装置であっ
て、前記非可視レーザ光の光路軸と同軸上にして可視レ
ーザ光を加工対象物へ送り、この可視レーザ光の反射光
をCCDカメラへ取り込み、取り込んだ画像をモニタに
写すことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the invention of claim 1 is provided in a laser processing apparatus for guiding an invisible laser beam from a laser oscillator to an object to be processed, A coaxial observation device in laser processing for observing an irradiation position of an invisible laser light on a processing object, wherein the visible laser light is sent to the processing object coaxially with the optical path axis of the invisible laser light, It is characterized in that reflected light of laser light is taken into a CCD camera and the taken image is displayed on a monitor.

【0009】請求項2の発明は、レーザ発振器からの非
可視レーザ光を加工用レンズを経て加工対象物へ導き加
工を行うレーザ加工装置に設けられ、前記非可視レーザ
光の加工対象物への照射位置を観測するレーザ加工にお
ける同軸観測装置であって、可視レーザ光を出力する可
視レーザ発振器と、出力した可視レーザ光を前記非可視
レーザ光の光路軸と同軸上にして加工対象物へ送るため
に、非可視レーザ光の光路軸に斜めに設けられ非可視レ
ーザ光を透過させ可視レーザ光を反射する性質のビーム
コンバイラーと、前記加工用レンズ付近に設けられ加工
対象物を照らすライトと、可視レーザ光による加工対象
物の照射位置からの反射光およびライトに照らされた加
工対象物からの反射光を前記ビームコンバイラーを介し
て取り込むCCDカメラと、CCDカメラへ向かう像の
光路と前記可視レーザ発振器からの可視レーザ光の光路
を分岐させるためのハーフミラーと、CCDカメラで取
り込んだ画像を写すモニタと、を備えたことを特徴とす
る。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a laser processing device for guiding and processing the invisible laser light from the laser oscillator to the object to be processed through the processing lens. A coaxial observation device in laser processing for observing an irradiation position, wherein a visible laser oscillator for outputting a visible laser light and an output visible laser light are sent to an object to be processed coaxially with an optical path axis of the invisible laser light. Therefore, a beam combiner having a property of obliquely provided on the optical path axis of the invisible laser light and transmitting the visible laser light and transmitting the invisible laser light, and a light provided near the processing lens and illuminating the object to be processed. A CCD that takes in the reflected light from the irradiation position of the processing object by the visible laser light and the reflected light from the processing object illuminated by the light via the beam combiner. A half mirror for branching the optical path of the image toward the CCD camera and the optical path of the visible laser light from the visible laser oscillator; and a monitor for displaying an image captured by the CCD camera. .

【0010】請求項3の発明は、更に、取り込まれた画
像を画像処理技術により処理して目標照射位置とのズレ
を演算しズレ補正信号を出力する演算処理手段と、ズレ
補正信号をもとに加工対象物を載置するXYテーブルを
制御してズレを補正する制御手段と、を備えたことを特
徴とする。
According to a third aspect of the present invention, there is further provided an arithmetic processing means for processing the captured image by an image processing technique to calculate a deviation from a target irradiation position and outputting a deviation correction signal, and based on the deviation correction signal. And a control unit that corrects the deviation by controlling the XY table on which the processing target is placed.

【0011】請求項4の発明は、レーザ加工装置が微細
加工用CO2 レーザ装置であることを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, the laser processing apparatus is a CO 2 laser apparatus for fine processing.

【0012】請求項5の発明は、加工対象物が加工位置
精度が要求されるFPC、成形品などであることを特徴
とする。
The invention of claim 5 is characterized in that the object to be machined is an FPC, a molded product or the like which requires a machining position accuracy.

【0013】[0013]

【作用】請求項1の発明では、加工を行なう非可視レー
ザ光の光路軸と同軸上に、可視レーザ光を加工対象物へ
送り、加工対象物からの前記可視レーザ光の反射光をC
CDカメラへ取り込み、取り込んだ画像をモニタに写
す。
According to the invention of claim 1, the visible laser light is sent to the object to be processed coaxially with the optical path axis of the invisible laser light to be processed, and the reflected light of the visible laser light from the object to be processed is C.
Capture it to a CD camera and display the captured image on the monitor.

【0014】請求項2の発明では、可視レーザ発振器か
ら出力された可視レーザ光を、ビームコンバイラーを介
して、加工を行う非可視レーザ光の光路軸と同軸上にし
て加工対象物へ送る。この可視レーザ光が加工対象物の
照射位置からの反射する。また、加工用レンズ付近に設
けられたライトが加工対象物を照らす。そして、可視レ
ーザ光の照射位置からの反射光およびライトに照らされ
た加工対象物からの反射光を、前記ビームコンバイラー
を介して、CCDカメラに取り込む。取り込んだ画像は
モニタに写す。
According to the second aspect of the present invention, the visible laser light output from the visible laser oscillator is sent to the object to be processed through the beam combiner coaxially with the optical path axis of the invisible laser light to be processed. This visible laser light is reflected from the irradiation position of the object to be processed. A light provided near the processing lens illuminates the object to be processed. Then, the reflected light from the irradiation position of the visible laser light and the reflected light from the processing object illuminated by the light are taken into the CCD camera via the beam combiner. The captured image is displayed on the monitor.

【0015】請求項3の発明では、更に、取り込まれた
画像を画像処理技術により処理して目標照射位置とのズ
レを演算する。このズレ補正信号をもとに加工対象物を
載置するXYテーブルを制御し、ズレを補正する。
According to the third aspect of the invention, the captured image is further processed by the image processing technique to calculate the deviation from the target irradiation position. Based on this deviation correction signal, the XY table on which the object to be processed is placed is controlled to correct the deviation.

【0016】請求項4の発明では、レーザ加工装置が微
細加工用CO2 レーザ装置であり、照射位置の観測によ
り正確な微細加工ができる。
According to the invention of claim 4, the laser processing apparatus is a CO 2 laser apparatus for fine processing, and accurate fine processing can be performed by observing the irradiation position.

【0017】請求項5の発明では、加工対象物は、加工
位置精度が要求されるFPC、成形品などであり、正確
な位置で加工が行え、要求が満たされる。
According to the fifth aspect of the invention, the object to be machined is an FPC, a molded product or the like which requires a machining position accuracy, and the machining can be carried out at an accurate position and the requirement is satisfied.

【0018】[0018]

【実施例】 この発明の一実施例を、図1乃至図3に示
す。この実施例のレーザ加工装置は、紫外線領域であり
非可視レーザ光で、いわゆるマスクイメージ法による微
細加工を行う代表的なインパクト型TEACO2 レーザ
装置である。
Embodiment One embodiment of the present invention is shown in FIGS. The laser processing apparatus of this embodiment is a typical impact type TEACO 2 laser apparatus which performs fine processing by a so-called mask image method with an invisible laser light in the ultraviolet region.

【0019】レーザ発振器1から出力されたレーザ光3
は、しかるべく光路を経て、マスク5に至る。マスク5
でパターンを得たレーザ光3は、銅がベースとなって作
られた全反射ミラー7で90度に光路を屈曲させ、加工
用レンズ9を経て、加工対象物11の表面に結像する。
加工対象物11はXYテーブル13上に置かれ、X方向
またはY方向に移動され、所定の発振時間、周波数、シ
ョット数でレーザ光照射が行われ、所望の穴開けや溝作
成などの加工が行われる。
Laser light 3 output from the laser oscillator 1
Goes to the mask 5 through the optical path accordingly. Mask 5
The laser light 3 having the pattern obtained in (1) has its optical path bent 90 degrees by the total reflection mirror 7 made of copper as a base, passes through the processing lens 9, and forms an image on the surface of the processing target 11.
The object 11 to be processed is placed on the XY table 13, moved in the X direction or the Y direction, laser light irradiation is performed with a predetermined oscillation time, frequency, and number of shots, and processing such as desired drilling or groove formation is performed. Done.

【0020】このレーザ加工装置に、レーザ光の照射位
置を観測する同軸観測装置15が設けられる。前記レー
ザ発振器1とは別に、可視レーザ光(例えばHeNeレ
ーザ光など)を出力する可視レーザ発振器17が設けら
れる。出力した可視レーザ光を前記非可視レーザ光の光
路19軸と同軸上にして加工対象物11へ送るために、
全反射ミラー21、ハーフミラー23が設けられ、更に
ビームコンバイラー25が非可視レーザ光の光路19軸
に斜め45度に設けられる。このビームコンバイラー2
5は、非可視レーザ光を透過させ可視レーザ光を反射す
る性質を有する。
This laser processing apparatus is provided with a coaxial observation device 15 for observing the irradiation position of laser light. In addition to the laser oscillator 1, a visible laser oscillator 17 that outputs visible laser light (for example, HeNe laser light) is provided. In order to send the output visible laser light to the processing target 11 coaxially with the optical path 19 axis of the invisible laser light,
A total reflection mirror 21 and a half mirror 23 are provided, and a beam combiner 25 is provided at an angle of 45 degrees to the optical path 19 axis of the invisible laser light. This beam combiner 2
5 has the property of transmitting invisible laser light and reflecting visible laser light.

【0021】また、前記加工用レンズ9の下端周囲に加
工対象物11を照らすリングライト27が設けられる。
さらに、可視レーザ光による加工対象物11の照射位置
からの反射光、およびリングライト27に照らされた加
工対象物11からの反射光を、前記ビームコンバイラー
25に反射させハーフミラー23を透過させて取り込む
CCDカメラ29が設けられる。このハーフミラー23
は、CCDカメラ29へ向かう反射光の光路31と前記
可視レーザ発振器からの可視レーザ光の光路33を分岐
させるためのものである。CCDカメラ29には、取り
込んだ画像を写すモニタ35が接続されている。
A ring light 27 for illuminating the object 11 to be processed is provided around the lower end of the processing lens 9.
Further, the reflected light from the irradiation position of the object to be processed 11 by the visible laser light and the reflected light from the object to be processed 11 illuminated by the ring light 27 are reflected by the beam combiner 25 and transmitted through the half mirror 23. A CCD camera 29 for capturing is provided. This half mirror 23
Is for branching an optical path 31 of reflected light toward the CCD camera 29 and an optical path 33 of visible laser light from the visible laser oscillator. A monitor 35 that captures the captured image is connected to the CCD camera 29.

【0022】モニタ35には、パソコン37が接続され
る。パソコン37は、取り込まれた照射位置の画像を画
像処理技術により処理して、目標照射位置とのズレを演
算しズレ補正信号を出力する演算処理手段となる。パソ
コン37には、ズレ補正信号をもとに加工対象物11を
載置するXYテーブル13を制御してズレを補正する制
御手段としてのNC制御装置39が接続される。NC制
御装置39にはXYテーブル13が接続され、加工対象
物11が載置された状態のXYテーブル13を、X方向
またはY方向に移動する。
A personal computer 37 is connected to the monitor 35. The personal computer 37 serves as an arithmetic processing unit that processes the captured image of the irradiation position by an image processing technique, calculates a deviation from the target irradiation position, and outputs a deviation correction signal. An NC controller 39 is connected to the personal computer 37 as a control unit that controls the XY table 13 on which the workpiece 11 is placed based on the deviation correction signal to correct the deviation. The XY table 13 is connected to the NC control device 39, and the XY table 13 on which the workpiece 11 is placed is moved in the X direction or the Y direction.

【0023】以下、この実施例の作用を図1〜図3によ
り説明する。可視レーザ発振器17から出力された可視
レーザ光は、全反射ミラー21で90度に光路を屈曲さ
せ、さらにハーフミラー23で反対側に光路を90度屈
曲させ、その後にビームコンバイラー25を介して光路
を90度屈曲させ、加工を行う非可視レーザ光の光路1
9軸と光路33を同軸上にする。そして、加工用レンズ
9を介して加工対象物11へ送られ、照射がされる。こ
の可視レーザ光が加工対象物11の照射位置からの反射
する。また、加工用レンズ9付近に設けられたリングラ
イト27が加工対象物11全体を照らす。
The operation of this embodiment will be described below with reference to FIGS. The visible laser light output from the visible laser oscillator 17 bends the optical path at 90 degrees by the total reflection mirror 21, further bends the optical path at the opposite side by 90 degrees by the half mirror 23, and then through the beam combiner 25. Optical path 1 of invisible laser light for processing by bending the optical path by 90 degrees
The 9-axis and the optical path 33 are coaxial. Then, it is sent to the object 11 to be processed through the processing lens 9 and irradiated. This visible laser light is reflected from the irradiation position of the processing object 11. A ring light 27 provided near the processing lens 9 illuminates the entire processing target 11.

【0024】そして、可視レーザ光の照射位置からの反
射光、およびリングライト27に照らされた加工対象物
11からの反射光は、前記ビームコンバイラー25を介
して光路を90度屈曲させ、CCDカメラに取り込まれ
る。取り込まれた画像は、モニタ35に写される。
Then, the reflected light from the irradiation position of the visible laser light and the reflected light from the processing object 11 illuminated by the ring light 27 bends the optical path by 90 degrees through the beam combiner 25, and the CCD camera Is taken into. The captured image is displayed on the monitor 35.

【0025】更に、取り込まれた画像を、パソコン37
が画像処理技術により処理して、可視レーザ光の照射位
置と目標照射位置とのズレを演算する。このズレ補正信
号をもとに、NC制御装置35が、加工対象物11を載
置するXYテーブル13を制御してX方向およびY方向
に移動し、ズレを補正する。
Furthermore, the captured image is displayed on the personal computer 37.
Performs processing by image processing technology to calculate the deviation between the irradiation position of visible laser light and the target irradiation position. Based on this deviation correction signal, the NC control device 35 controls the XY table 13 on which the workpiece 11 is placed to move in the X and Y directions to correct the deviation.

【0026】このとき使用されうる画像処理技術には種
々のものがあり、可能であればいずれのものでもよい。
この実施例では、一例として窓枠内画素係数法とよばれ
るものを採用して説明する。即ち、図2に示すように、
加工対象物11およびレーザ光の断面画像41が表され
る画面には、目標照射位置43を示す十字を有する枠4
5が設けられる。レーザ光の断面画像41が目標照射位
置43の近傍にいるときには、断面画像41と十字を有
する枠45とで、AからHの8つの領域が形成される。
これらの領域の内、B、C、F、Gはレーザ光を受け白
くなり、A、D、E、H、は黒く見える。その結果、8
つの領域A(黒)、B(白)、C(白)、D(黒)、E
(黒)、F(白)、G(白)、H(黒)が形成される。
There are various image processing techniques that can be used at this time, and any one may be used if possible.
In this embodiment, as an example, a method called a pixel coefficient method in a window frame is adopted for description. That is, as shown in FIG.
A frame 4 having a cross indicating a target irradiation position 43 is displayed on the screen on which the cross-sectional image 41 of the processing object 11 and the laser light is displayed.
5 are provided. When the cross-sectional image 41 of the laser light is near the target irradiation position 43, the cross-sectional image 41 and the frame 45 having a cross form eight regions A to H.
Of these regions, B, C, F, and G receive laser light and become white, and A, D, E, and H appear black. As a result, 8
Areas A (black), B (white), C (white), D (black), E
(Black), F (white), G (white), and H (black) are formed.

【0027】そして、図3に示すように8つの領域内の
画素数a、b、c、d、e、f、g、hを計算する(S
1)。断面画像41が目標照射位置43に例えば水平方
向で一致すればaとd、bとcは同数である。または、
eとh、fとgは同数である。同様に、垂直方向で一致
すればaとe、bとfは同数である。または、dとh、
cとgは同数である。従って、これらが同数となるよう
に制御し補正を行えばよい。そこで、次の式によりF1
またはF2、F3またはF4を計算する(S2)。
Then, as shown in FIG. 3, the numbers of pixels a, b, c, d, e, f, g and h in the eight areas are calculated (S
1). If the cross-sectional image 41 coincides with the target irradiation position 43 in the horizontal direction, for example, a and d are the same and b and c are the same number. Or
The numbers e and h are the same, and the numbers f and g are the same. Similarly, if they match in the vertical direction, a and e are the same number, and b and f are the same number. Or d and h,
c and g are the same number. Therefore, it suffices to control and correct them so that they have the same number. Therefore, F1 is calculated by the following formula.
Alternatively, F2, F3 or F4 is calculated (S2).

【0028】[0028]

【数1】 [Equation 1]

【0029】[0029]

【数2】 [Equation 2]

【0030】[0030]

【数3】 (Equation 3)

【0031】[0031]

【数4】 [Equation 4]

【0032】これらF1またはF2,F3またはF4に
基づく信号を、ズレ補正信号として出力する。このズレ
補正信号をもとに、NC制御装置39が働く。まず、F
1またはF2が0に近づく方向へ、XYテーブル13を
用いて、図2の画面の水平方向(例えばX軸方向)への
補正を行う(S6)。F1またはF2が十分に0に近く
なれば(S7)、水平方向の補正を終了する(S8)。
次に、F3またはF4が0に近づく方向へ、XYテーブ
ル13を用いて、図2の画面の垂直方向(例えばY軸方
向)への補正を行う(S9)。F1またはF2が十分に
0に近くなれば(S10)、垂直方向の補正を終了する
(S11)。このようにしてズレを補正する。
A signal based on these F1 or F2, F3 or F4 is output as a deviation correction signal. The NC control device 39 operates based on this deviation correction signal. First, F
By using the XY table 13 in the direction in which 1 or F2 approaches 0, correction is performed in the horizontal direction (for example, the X-axis direction) of the screen in FIG. 2 (S6). When F1 or F2 is sufficiently close to 0 (S7), the horizontal correction is finished (S8).
Next, in the direction in which F3 or F4 approaches 0, correction is performed in the vertical direction (for example, the Y-axis direction) of the screen of FIG. 2 using the XY table 13 (S9). If F1 or F2 is sufficiently close to 0 (S10), the vertical correction is finished (S11). In this way, the deviation is corrected.

【0033】また、レーザ光の断面画像41が目標照射
位置43の近傍にいないときには、断面画像41と十字
を有する枠45とで、8つの領域が形成されないので、
補助的に別の方法を用意する。即ち、8つの領域が形成
されない時は、領域B,C,F,Gの少なくともいづれ
かの画素数が0になる(S3)。そのときは、次の式の
ベクトルVを考え、ベクトルVの大きさを計算する(S
4)。
Further, when the cross-sectional image 41 of the laser beam is not near the target irradiation position 43, the cross-sectional image 41 and the frame 45 having a cross do not form eight regions.
Prepare another method as a supplement. That is, when eight areas are not formed, the number of pixels of at least one of the areas B, C, F, and G becomes 0 (S3). In that case, the vector V of the following equation is considered and the magnitude of the vector V is calculated (S
4).

【0034】[0034]

【数5】 (Equation 5)

【0035】[0035]

【数6】 (Equation 6)

【0036】そして、Vの大きさが0となる方向、即ち
小さくなる方向へ補正を行う(S5)。この補助的な方
法により、断面画像45が目標照射位置47の近傍に位
置するようになった後に、前記方法(S6)〜(S1
1)により補正を行い、ズレを補正する。
Then, correction is performed in the direction in which the magnitude of V becomes 0, that is, in the direction in which it decreases (S5). By this auxiliary method, after the cross-sectional image 45 comes to be located near the target irradiation position 47, the methods (S6) to (S1) are performed.
The correction is performed according to 1) to correct the deviation.

【0037】このようにしてズレが補正され、可視レー
ザ光の断面画像41の中心が目標照射位置43に一致す
ると、可視レーザ発振器17からの可視レーザ光の出力
が停止され、次に直ちに、レーザ発振器1から出力され
た非可視レーザ光3が、所定の光路を通り、加工用レン
ズ9を経て、加工対象物11の表面に結像する。加工対
象物11は、XYテーブル13によりX方向またはY方
向に移動され、所望の穴開けや溝作成などの加工が行わ
れる。
When the deviation is corrected in this way and the center of the cross-sectional image 41 of the visible laser light coincides with the target irradiation position 43, the output of the visible laser light from the visible laser oscillator 17 is stopped, and immediately after that, the laser is immediately emitted. The invisible laser light 3 output from the oscillator 1 passes through a predetermined optical path, passes through the processing lens 9, and forms an image on the surface of the processing target 11. The processing object 11 is moved in the X direction or the Y direction by the XY table 13, and processing such as desired drilling and groove formation is performed.

【0038】以上のように、この実施例によれば、可視
レーザ光と非可視レーザ光との切り替えは直ちに行える
ので、従来のようなCCDカメラ29の移動、加工用レ
ンズ9やリングライト27を備えたステーションヘッド
の移動、または加工対象物を載置するXYテーブルの移
動は、全く必要ない。従って、これらの移動に伴う検出
や数値データ処理に時間がかかるということもない。ま
た、移動に必要となる移動機構も設ける必要がなく、機
械動作に伴う誤差も生じない。
As described above, according to this embodiment, the switching between the visible laser light and the invisible laser light can be performed immediately, so that the conventional CCD camera 29 is moved, the processing lens 9 and the ring light 27 are provided. There is no need to move the station head or the XY table on which the workpiece is placed. Therefore, detection and numerical data processing associated with these movements do not take time. Further, it is not necessary to provide a moving mechanism necessary for moving, and errors due to mechanical operation do not occur.

【0039】また、モニタ35でレーザ光の断面画像を
観測しつつ補正作業が行われるので、ズレ量の限界値の
設定、即ちF1またはF2、F3またはF4がどれだけ
0に近付けば十分に「0」に近いと判断させるのかなど
の設定は、マスク5ごとに、つまり加工条件ごとに設定
できる。
Further, since the correction work is performed while observing the cross-sectional image of the laser light on the monitor 35, it is sufficient to set the limit value of the deviation amount, that is, how close F1 or F2, F3 or F4 is to "0". Settings such as whether to determine that the value is close to "0" can be set for each mask 5, that is, for each processing condition.

【0040】また、この実施例の同軸観測装置15は、
レーザ加工装置の運転が行われている間も、連続して機
能させることができ、ズレ補正を連続して続けられる。
Further, the coaxial observation device 15 of this embodiment is
Even while the laser processing apparatus is operating, the laser processing apparatus can be continuously operated and the deviation correction can be continuously performed.

【0041】また、この実施例のレーザ加工装置は微細
加工用CO2 レーザ装置であり、照射位置の観測によ
り、さらに用途を広げて正確な微細加工ができるように
なる。即ち、従来はCO2 レーザによる微細加工、例え
ば数百ミクロンメータ以下のフィルム状のプラスチック
に対する微細加工は、焼け、焦げ、だれ、歪みなどが障
害となってうまく行かなかった。しかし、近年は開発が
進んだ結果、このような微細加工も行われうるものにな
ってきていた。ところが非可視レーザ光であることなど
から照射位置の観測がうまくいかず、特に加工開始の照
射位置である加工原点を自動的に百分台、千分台の位置
の精度で設定することができなかった。従って、加工対
象物が、加工位置精度の要求されるFPC、カメラや時
計などの精密工業製品を構成する成形品、プリンタや複
写機などに用いられ表面がグレービング加工されるゴム
ローラなどである場合には、微細加工ができず、結局、
微細加工の用途が限定されていた。しかし、この実施例
によれば、モニタ35で可視レーザ光の断面画像を自在
に拡大して観測して、前記加工原点設定が容易に行わ
れ、加工位置精度の要求を十分に満たすことができる。
Further, the laser processing apparatus of this embodiment is a CO 2 laser apparatus for fine processing, and by observing the irradiation position, the application can be further expanded and accurate fine processing can be performed. That is, conventionally, microfabrication using a CO 2 laser, for example, microfabrication for film-shaped plastic having a thickness of several hundreds of micrometers or less, has not been successful due to burns, charring, sagging, distortion, and the like. However, as a result of the progress of development in recent years, such fine processing has become possible. However, because of the invisible laser light, observation of the irradiation position does not work well, and in particular, the processing origin, which is the irradiation position at the start of processing, can be automatically set with the accuracy of the hundreds or thousands position. There wasn't. Therefore, when the object to be processed is an FPC that requires processing position accuracy, a molded product that constitutes a precision industrial product such as a camera or a clock, or a rubber roller that is used for a printer or a copying machine and whose surface is graved. Can't be micromachined,
The applications for microfabrication were limited. However, according to this embodiment, the cross-sectional image of the visible laser light is freely magnified and observed by the monitor 35, the machining origin is easily set, and the requirement of machining position accuracy can be sufficiently satisfied. .

【0042】なお、以上の実施例では、図2に示すよう
に、画面にはレーザ光の断面画像41のみならず加工対
象物11の輪郭も写っている。そこで、この輪郭をもと
に目標照射位置43を示す十字を有する枠45が容易に
設けられうる。しかし、画面に加工対象物11の輪郭な
どが写らない場合には、加工対象物11や治工具などに
認識マークなどの基準となるものを複数箇所に付けてお
くとよい。
In the above embodiment, as shown in FIG. 2, not only the cross-sectional image 41 of the laser beam but also the contour of the object 11 to be processed is shown on the screen. Therefore, the frame 45 having a cross indicating the target irradiation position 43 can be easily provided based on this contour. However, if the contour of the object 11 to be machined is not displayed on the screen, it is advisable to attach reference marks such as recognition marks to the object 11 and jigs at a plurality of locations.

【0043】また、より高度な加工位置精度が要求され
る加工対象物11を加工する場合には、XYテーブル1
3に角度補正機能を備えたものを使用すると、加工が容
易である。
Further, in the case of processing the processing object 11 which requires a higher processing position accuracy, the XY table 1 is used.
If an item having an angle correction function in 3 is used, processing is easy.

【0044】また、以上の実施例では、マスク5を用い
てXYテーブル13上の加工対象物を加工するマスクイ
メージ法による2次元加工であったが、他の実施例で
は、レーザマーキングにも、3次元ロボットにも応用で
きる。
Further, in the above embodiments, the two-dimensional processing by the mask image method for processing the object to be processed on the XY table 13 using the mask 5 is carried out, but in other embodiments, the laser marking is also performed. It can also be applied to 3D robots.

【0045】また、以上の実施例では、反射した可視レ
ーザ光は前記ビームコンバイラー25を介して光路を9
0度屈曲させCCDカメラ29に取り込まれるが、他の
実施例では90度ではなく他の角度で屈曲させてもよ
い。これにより、CCDカメラ29を加工対象物11に
対し斜めに取り付けることができる。
Further, in the above embodiments, the reflected visible laser light travels through the beam combiner 25 to the optical path 9
Although it is bent by 0 degree and taken into the CCD camera 29, it may be bent by another angle instead of 90 degrees in other embodiments. As a result, the CCD camera 29 can be obliquely attached to the workpiece 11.

【0046】[0046]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1、2、
3、4、または5の発明によれば、加工を行なう非可視
レーザ光の光路軸と同軸上に、可視レーザ光を加工対象
物へ送り、加工対象物からの前記可視レーザ光の反射光
をCCDカメラへ取り込み、取り込んだ画像をモニタに
写すことで、可視レーザ光の照射位置、ひいては間接的
に非可視レーザ光の照射位置が観測できる。そして、可
視レーザ光と非可視レーザ光との切り替えは直ちに行え
るので、あるいは切り替えを行わないまま加工を行いな
がら観測を続けられるので、従来のようなCCDカメラ
の移動などは、全く必要ない。従って、これらの移動に
伴う検出や数値データ処理に時間がかかりロスタイムが
発生するということもない。また、移動に必要となる移
動機構も設ける必要がなく、機械動作に伴う誤差も生じ
ない。
As described above, the first and second aspects of the present invention are as follows.
According to the invention of 3, 4, or 5, the visible laser light is sent to the object to be processed coaxially with the optical path axis of the invisible laser light to be processed, and the reflected light of the visible laser light from the object is processed. The irradiation position of the visible laser light, and hence the irradiation position of the invisible laser light, can be indirectly observed by capturing the image in the CCD camera and displaying the captured image on the monitor. Since the visible laser light and the invisible laser light can be switched immediately, or because the observation can be continued while the processing is performed without switching, the conventional movement of the CCD camera is not necessary at all. Therefore, detection and numerical data processing accompanying these movements do not take time and no loss time occurs. Further, it is not necessary to provide a moving mechanism necessary for moving, and errors due to mechanical operation do not occur.

【0047】請求項2の発明によれば、更に、加工用レ
ンズ付近に設けられたライトが加工対象物を照らすこと
で、加工対象物の像を鮮明に取り込む事ができ、観測が
容易となる。そして、従来のようなCCDカメラの移
動、加工用レンズやライトを備えたステーションヘッド
の移動、または加工対象物を載置するXYテーブルの移
動は、全く必要ない。
According to the second aspect of the present invention, the light provided near the processing lens illuminates the object to be processed, so that the image of the object to be processed can be captured clearly and the observation becomes easy. . Then, the conventional movement of the CCD camera, movement of the station head equipped with the processing lens and light, or movement of the XY table on which the processing target is placed is not necessary at all.

【0048】請求項3の発明によれば、更に、取り込ま
れた照射位置の画像を画像処理技術により処理して目標
照射位置とのズレを演算し、このズレ補正信号をもとに
加工対象物を載置するXYテーブルを制御し、自動的に
ズレを補正できるので、正確な位置精度を伴った微細加
工ができる。
According to the third aspect of the present invention, the captured image of the irradiation position is further processed by the image processing technique to calculate the deviation from the target irradiation position, and the object to be processed is calculated based on this deviation correction signal. Since the XY table on which is mounted can be controlled and the deviation can be automatically corrected, fine processing with accurate position accuracy can be performed.

【0049】請求項4の発明によれば、更に、レーザ加
工装置は微細加工用CO2 レーザ装置であり、従来でき
なかった加工開始の照射位置である加工原点を高い位置
精度で設定する事がこの発明で可能となり、微細加工用
CO2 レーザ装置の微細加工の用途を広げることができ
る。
Further, according to the invention of claim 4, the laser processing apparatus is a CO 2 laser apparatus for fine processing, and it is possible to set the processing origin, which is the irradiation position of the processing start, which could not be conventionally achieved with high positional accuracy. This is made possible by the present invention, and it is possible to expand the application of fine processing of the CO 2 laser device for fine processing.

【0050】請求項5の発明によれば、更に、加工対象
物は、加工位置精度が要求されるFPC、成形品などで
あり、この発明による効果を十分に発揮でき、正確な位
置で加工が行え、要求が満たされる。
According to the invention of claim 5, the object to be machined is an FPC, a molded product or the like which requires machining position accuracy, and the effect of the present invention can be sufficiently exerted so that machining can be carried out at an accurate position. You can do it and your requirements are met.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の実施例に係る装置の全体ブロック図
である。
FIG. 1 is an overall block diagram of an apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の制御方法を説明するための図である。FIG. 2 is a diagram for explaining the control method of FIG.

【図3】図1の制御フロー図である。FIG. 3 is a control flow chart of FIG. 1.

【図4】従来例に係る装置の全体ブロック図である。FIG. 4 is an overall block diagram of an apparatus according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ発振器 3 レーザ光 5 マスク5 7 全反射ミラー 9 加工用レンズ 11 加工対象物 13 XYテーブル 15 同軸観測装置 17 可視レーザ発振器 19 非可視レーザ光の光路 21 全反射ミラー 23 ハーフミラー 25 ビームコンバイラー 27 リングライト(ライト) 29 CCDカメラ 31 反射光の光路 33 可視レーザ光の光路 35 モニタ 37 パソコン(演算処理手段) 39 NC制御装置(制御手段) 1 Laser Oscillator 3 Laser Light 5 Mask 5 7 Total Reflection Mirror 9 Processing Lens 11 Object to be Processed 13 XY Table 15 Coaxial Observation Device 17 Visible Laser Oscillator 19 Optical Path of Invisible Laser Light 21 Total Reflection Mirror 23 Half Mirror 25 Beam Combiner 27 ring light (light) 29 CCD camera 31 optical path of reflected light 33 optical path of visible laser light 35 monitor 37 personal computer (arithmetic processing means) 39 NC control device (control means)

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザ発振器からの非可視レーザ光を加
工対象物へ導き加工を行うレーザ加工装置に設けられ、
前記非可視レーザ光の加工対象物への照射位置を観測す
るレーザ加工における同軸観測装置であって、前記非可
視レーザ光の光路軸と同軸上にして可視レーザ光を加工
対象物へ送り、この可視レーザ光の反射光をCCDカメ
ラへ取り込み、取り込んだ画像をモニタに写すことを特
徴とするレーザ加工における同軸観測装置。
1. A laser processing apparatus for guiding an invisible laser beam from a laser oscillator to an object to be processed,
A coaxial observation device in laser processing for observing the irradiation position of the invisible laser light on the object to be processed, and sending the visible laser light to the object to be processed coaxially with the optical path axis of the invisible laser light, A coaxial observation device in laser processing, characterized in that reflected light of visible laser light is captured by a CCD camera and the captured image is displayed on a monitor.
【請求項2】 レーザ発振器からの非可視レーザ光を加
工用レンズを経て加工対象物へ導き加工を行うレーザ加
工装置に設けられ、前記非可視レーザ光の加工対象物へ
の照射位置を観測するレーザ加工における同軸観測装置
であって、可視レーザ光を出力する可視レーザ発振器
と、出力した可視レーザ光を前記非可視レーザ光の光路
軸と同軸上にして加工対象物へ送るために、非可視レー
ザ光の光路軸に斜めに設けられ非可視レーザ光を透過さ
せ可視レーザ光を反射する性質のビームコンバイラー
と、前記加工用レンズ付近に設けられ加工対象物を照ら
すライトと、可視レーザ光による加工対象物の照射位置
からの反射光およびライトに照らされた加工対象物から
の反射光を前記ビームコンバイラーを介して取り込むC
CDカメラと、CCDカメラへ向かう像の光路と前記可
視レーザ発振器からの可視レーザ光の光路を分岐させる
ためのハーフミラーと、CCDカメラで取り込んだ画像
を写すモニタと、を備えたことを特徴とするレーザ加工
における同軸観測装置。
2. A laser processing apparatus that guides invisible laser light from a laser oscillator to a processing target through a processing lens and performs processing, and observes the irradiation position of the invisible laser light on the processing target. A coaxial observation device in laser processing, a visible laser oscillator that outputs a visible laser light, and the output visible laser light invisible to send to an object to be processed coaxially with the optical path axis of the invisible laser light. A beam combiner that is provided obliquely to the optical path axis of the laser light and that transmits the invisible laser light and reflects the visible laser light, a light that is provided near the processing lens and illuminates the object to be processed, and a visible laser light The reflected light from the irradiation position of the processing target object and the reflected light from the processing target object illuminated by the light are taken in through the beam combiner C
A CD camera, a half mirror for branching an optical path of an image toward the CCD camera and an optical path of visible laser light from the visible laser oscillator, and a monitor for displaying an image captured by the CCD camera. Coaxial observation device for laser processing.
【請求項3】 取り込まれた画像を画像処理技術により
処理して目標照射位置とのズレを演算しズレ補正信号を
出力する演算処理手段と、ズレ補正信号をもとに加工対
象物を載置するXYテーブルを制御してズレを補正する
制御手段と、を備えたことを特徴とする請求項1または
2記載のレーザ加工における同軸観測装置。
3. An arithmetic processing means for processing the captured image by an image processing technique to calculate a deviation from a target irradiation position and outputting a deviation correction signal, and placing a processing object on the basis of the deviation correction signal. 3. The coaxial observation device in laser processing according to claim 1, further comprising: a control unit that controls the XY table to correct the deviation.
【請求項4】 レーザ加工装置が微細加工用CO2 レー
ザ装置である請求項1、2、または3記載のレーザ加工
における同軸観測装置。
4. The coaxial observation device in laser processing according to claim 1, 2, or 3, wherein the laser processing device is a CO 2 laser device for fine processing.
【請求項5】 加工対象物が加工位置精度が要求される
FPC、成形品などであることを特徴とする請求項1、
2、3、または4記載のレーザ加工における同軸観測装
置。
5. The object to be machined is an FPC, a molded product, or the like, which requires a machining position accuracy.
A coaxial observation device in laser processing according to 2, 3, or 4.
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002033539A (en) * 2000-07-18 2002-01-31 Nec Corp Drilling apparatus for green sheet
JP2002210578A (en) * 2001-01-17 2002-07-30 Sumitomo Heavy Ind Ltd Device for laser beam irradiation and method for laser beam machining
KR100364403B1 (en) * 2000-02-24 2002-12-11 주식회사 이오테크닉스 Optical head apparatus for fabricating of articles
KR20040033781A (en) * 2002-10-16 2004-04-28 싸이언택(주) unmanned automatic laser processing system by remote control
KR100500973B1 (en) * 1997-08-28 2005-10-04 삼성중공업 주식회사 Laser Strain Sensor for Weld Seam Tracking
JP2007237221A (en) * 2006-03-07 2007-09-20 Hokkaido Univ Laser beam machining apparatus and method
JP2008030092A (en) * 2006-07-28 2008-02-14 National Institute Of Advanced Industrial & Technology Laser beam machining apparatus and detection method of workpiece position
US8164027B2 (en) 2006-07-19 2012-04-24 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Laser processing system and laser processing method
JP2014186056A (en) * 2013-03-21 2014-10-02 Sumitomo Chemical Co Ltd Detector, laser beam irradiation device, and manufacturing apparatus of optical member laminate
JP2017028030A (en) * 2015-07-17 2017-02-02 株式会社ディスコ Laser processing device
CN110411713A (en) * 2019-07-09 2019-11-05 北京空间机电研究所 A kind of same in-orbit attitude measurement system of camera shaft primary and secondary mirror
CN115389538A (en) * 2022-08-09 2022-11-25 深圳市埃芯半导体科技有限公司 X-ray analysis apparatus and method

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5577989A (en) * 1978-12-11 1980-06-12 Citizen Watch Co Ltd Beam position detecting device in laser machine
JPS62161491A (en) * 1986-01-09 1987-07-17 Mitsubishi Electric Corp Laser trimming device for optical device
JPH01233083A (en) * 1988-03-11 1989-09-18 Mitsubishi Electric Corp Position correcting device for laser beam machining
JPH0246991A (en) * 1988-08-04 1990-02-16 Mitsubishi Electric Corp Laser device
JPH03238190A (en) * 1990-02-16 1991-10-23 Hoya Corp Laser beam machine
JPH05115991A (en) * 1991-10-23 1993-05-14 Nec Corp Laser beam machine

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5577989A (en) * 1978-12-11 1980-06-12 Citizen Watch Co Ltd Beam position detecting device in laser machine
JPS62161491A (en) * 1986-01-09 1987-07-17 Mitsubishi Electric Corp Laser trimming device for optical device
JPH01233083A (en) * 1988-03-11 1989-09-18 Mitsubishi Electric Corp Position correcting device for laser beam machining
JPH0246991A (en) * 1988-08-04 1990-02-16 Mitsubishi Electric Corp Laser device
JPH03238190A (en) * 1990-02-16 1991-10-23 Hoya Corp Laser beam machine
JPH05115991A (en) * 1991-10-23 1993-05-14 Nec Corp Laser beam machine

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100500973B1 (en) * 1997-08-28 2005-10-04 삼성중공업 주식회사 Laser Strain Sensor for Weld Seam Tracking
KR100364403B1 (en) * 2000-02-24 2002-12-11 주식회사 이오테크닉스 Optical head apparatus for fabricating of articles
JP2002033539A (en) * 2000-07-18 2002-01-31 Nec Corp Drilling apparatus for green sheet
JP2002210578A (en) * 2001-01-17 2002-07-30 Sumitomo Heavy Ind Ltd Device for laser beam irradiation and method for laser beam machining
KR20040033781A (en) * 2002-10-16 2004-04-28 싸이언택(주) unmanned automatic laser processing system by remote control
JP2007237221A (en) * 2006-03-07 2007-09-20 Hokkaido Univ Laser beam machining apparatus and method
US8164027B2 (en) 2006-07-19 2012-04-24 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Laser processing system and laser processing method
JP2008030092A (en) * 2006-07-28 2008-02-14 National Institute Of Advanced Industrial & Technology Laser beam machining apparatus and detection method of workpiece position
JP2014186056A (en) * 2013-03-21 2014-10-02 Sumitomo Chemical Co Ltd Detector, laser beam irradiation device, and manufacturing apparatus of optical member laminate
JP2017028030A (en) * 2015-07-17 2017-02-02 株式会社ディスコ Laser processing device
CN110411713A (en) * 2019-07-09 2019-11-05 北京空间机电研究所 A kind of same in-orbit attitude measurement system of camera shaft primary and secondary mirror
CN115389538A (en) * 2022-08-09 2022-11-25 深圳市埃芯半导体科技有限公司 X-ray analysis apparatus and method
CN115389538B (en) * 2022-08-09 2023-12-29 深圳市埃芯半导体科技有限公司 X-ray analysis device and method

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