JPH08116111A - 光学回路の特性を分析するための方法及び装置 - Google Patents

光学回路の特性を分析するための方法及び装置

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JPH08116111A
JPH08116111A JP7203500A JP20350095A JPH08116111A JP H08116111 A JPH08116111 A JP H08116111A JP 7203500 A JP7203500 A JP 7203500A JP 20350095 A JP20350095 A JP 20350095A JP H08116111 A JPH08116111 A JP H08116111A
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optical
chopper
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amplifier
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JP7203500A
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Inventor
Rainer Patz
ライナー・パッツ
Emmerich Mueller
エンメリッヒ・ミュエラー
Christian Hentschel
クリスティアーン・ヘンチェル
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Hewlett Packard Co
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • G01M11/333Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using modulated input signals
    • G01M11/334Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using modulated input signals with light chopping means

Abstract

(57)【要約】 【課題】従来、光学増幅器の増幅自然放射(ASE)測定を
行うのに必要とされる、高精度の光学スイッチは入手不
可能であった。 【解決手段】本発明は、光信号が存在する際のエルビウ
ム・ドープのファイバ増幅器ASE雑音の測定方法及び装
置に関する。実際の信号波長でのASE測定の周知技法は
パルス回復技法と言い、増幅器の入射と出射レーザビー
ムに対して、短スイッチング時間を有し、両ビームを高
精度で同期してスイッチする、2つの高度な間欠光スイ
ッチを必要とする。本発明の方法には、第1光信号が阻
止手段(6)を介して光学回路(7)に供給され、光学回路で
発生される第2光信号が、阻止手段を介して第2信号を
分析する少なくとも1つの手段(2,10,12)に供給される
第1のステップと、第1光信号が阻止手段により阻止さ
れ、第2の光信号が、阻止手段を介して第2信号を分析
する手段に依然として供給される第2のステップとが含
まれる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学回路に関する
ものであり、更に特定すると、ゲート光源を用いる光信
号が存在する場合、増幅自然放出、及び利得を分析する
手段の雑音を測定することによって、光学増幅器のよう
な利得のある光学回路の特性を判定するための方法及び
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光学増幅器は、一般に、光通信システム
において利用される。光学増幅器を特徴づける際に重要
であるパラメータの1つは、光信号の存在する場合の、
増幅自然放出(ASE)雑音である。増幅自然放出雑音
は、光学増幅器内で発生し、増幅器によって増幅される
雑音信号を表している。ASE雑音は、一般に、光信号
よりも帯域幅が広い。ASE雑音の測定は、ASE雑音
によって性能が制限される可能性のある通信システムに
おける、ASEの増大だけでなく、光学増幅器の雑音指
数を判定する上でも重要である。
【0003】光学増幅器の出力には、狭帯域の光信号
と、増幅器内で発生するより広い帯域の雑音が含まれ
る。信号が存在しなければ、増幅器は、雑音を発生し
て、増幅する。しかし、光信号が存在すると、増幅器の
利得が低下するため、出力雑音レベルは、光信号が存在
しない場合の雑音レベルに比べて低下する。利得の低下
は、光信号の振幅に依存する。従って、増幅器の性能を
正確に特徴づけるために、ASE雑音は、通常の動作に
対応する光信号レベル及び波長で測定しなければならな
い。
【0004】実際の信号波長でASE測定を実施する周
知の技法は、パルス回復技法と呼ばれる。同調可能なレ
ーザ源に対し、高速(<1μs)立ち下がり時間でゲー
ト・オン及びゲート・オフが施される。ゲート・オン時
間は、エルビウム・ドープのファイバ増幅器(EDF
A)が、入力信号に関してその定常状態に安定化するよ
うに、十分に長いことが必要である。一度EDFAが定
常状態になると、スイッチが、EDFAに入射した信号
を急速に消去する。信号のゲート・オフ直後に、増幅器
の出力におけるASEレベルは、レーザ源によって発生
する誘発放出(SE)の悪影響のない、真のEDFA
ASEレベルに匹敵する。ASE遷移は、光学スペクト
ル・アナライザ(OSA)によって、または、OSAの
アナログ出力に接続されたオシロスコープに結合して記
録される。信号のゲート・オフ後に逃したASE遷移の
一部については、補外を利用して、所望のASE電力密
度を求めることが可能である。
【0005】光源信号がオンにスイッチングされると、
EDFA出力が、瞬時にピークに達し、次に、その定常
状態の電力レベルに戻る。光源信号がオフにスイッチン
グされると、EDFA出力信号が、降下し、次に、ED
FA ASE電力が、信号が存在しない場合の値まで上
昇する。実際のASE電力密度は、光源がオフにスイッ
チングさた直後のASE遷移応答を補外することによっ
て求められる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】開示されている技法に
は、増幅器の入射及び出射レーザ・ビームに関して、ス
イッチング時間が短く、両方のビームを高精度で同期し
てスイッチする、2つの高度な間欠光学スイッチが必要
になる。
【0007】必要な精度を備えるこうしたスイッチング
装置は、入手不可能であるので、必要な精度を得ること
が可能な方法及び装置に対する要求がある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、光学回路の特
性を分析するための方法及び装置に関する。
【0009】基本的に、本発明による方法には、第1の
光信号が、阻止手段を介して前記光学回路に供給され、
前記光学回路によって発生する第2の光信号が、前記阻
止手段を介して、前記第2の信号を分析するための少な
くとも1つの手段に供給される第1のステップと、前記
第1の光信号が、前記阻止手段によって阻止され、前記
第2の光信号は、依然として、前記阻止手段を介して、
前記第2の信号を分析するための前記手段に供給される
第2のステップとが含まれる。
【0010】特に留意しておくべきは、光が、可視光だ
けでなく、例えば、赤外光及び紫外光も意味するという
点である。阻止手段、とりわけ、チョッパ・ブレード
が、透明である少なくとも1つの領域と、用いられる特
定の形態の光を阻止するもう1つの領域とを、確実にも
たらすように選択されることが理解されるであろう。
【0011】好適な実施例によれば、前記光学回路は、
光学増幅器である。第1のステップにおいて、増幅器
は、その定常状態に安定化することが可能であり、増幅
率は、測定入力電力と測定出力電力を比較することによ
って、後で求めることが可能である。第2のステップの
開始時に、例えば、レーザ源のような光源によって発生
される第1の光信号が、チョッパによってオフにスイッ
チングされ、増幅自然放出(ASE)雑音が、光電変換
器(OE)及びアナライザによって測定される。アナラ
イザとして、アナログ/デジタル変換器(A/D)と連
係したオシロスコープ、又はデータ処理装置を利用する
のが好適である。上記の測定が、他の任意の適切な分析
手段によって実施できることが理解されるであろう。
【0012】本発明の更なる実施例によれば、光学増幅
器は、エルビウム・ドープのファイバ増幅器(EDF
A)、又はプラセオジム・ドープのファイバ増幅器(P
DFA)である。光ファイバ増幅器は、一般に、光の散
乱及び吸収によって生じる信号の損失を補償するため
に、伝送リンクまたはネットワークに用いられる。これ
らの損失は、光学利得によって平衡をとることが可能で
ある。より大きな信号は、より小さな信号よりも少ない
利得しか受けないので、利得が圧縮されるその飽和領域
へと増幅器を動作させることによって、光電力の自己調
整を行うことが可能である。更に、電力増幅によって、
1つの送信器が、多数の光ファイバを並列駆動すること
が可能になる。
【0013】本発明の他の実施例には、第2の光信号
が、本発明によるチョッパ・ブレードによって阻止され
る第3のステップが含まれる。第3のステップにおい
て、分析手段の雑音が測定され、増幅率、及び/又はA
SE雑音の判定に考慮される。
【0014】本発明の実施例の1つによれば、第1〜第
3のステップは、1秒間に100回実行される。当業者
には明らかなように、この率は、実際の要件に応じて修
正可能である。
【0015】少なくとも第1と第2の光信号を阻止する
本発明による装置は、前記第1の光信号に関して、第1
の光入力手段、及び第1の光出力手段を備えた第1の光
路と、前記第2の光信号に関して、第2の光入力手段、
及び第2の光出力手段を備えた第2の光路と、前記第1
の光路、及び前記第2の光路内に配置される回転手段と
から構成される。
【0016】提案の装置によれば、1つの回転手段だけ
しか必要としない、増幅器の入射及び出射レーザ・ビー
ムに関する、2つの高度な間欠光学スイッチを構成する
ことが可能になる。短いスイッチング時間と、両方のビ
ームを備える回転手段は、高精度で、同期してスイッチ
される。
【0017】本発明の実施例の1つによれば、回転手段
は、0゜〜360゜の角度に沿った半径R1と、残りの
角度内の第2の半径R2を有するチョッパ・ブレードか
ら構成される。周知のように、円における全ての部分
は、半径Rと角度によって表すことが可能である。好適
には、角度は240゜で、第1と第2の光路は、互いに
変位し、これにより、両方の経路が半径R3に対し半径
方向に、R1<R3<R2で配置される。この実施例の
基礎をなす原理は、回転手段が、その回転時に、 a)第1の期間に、第1の光路は阻止されるが、第2の
光路は開放される、b)第2の時間間隔において、第1
と第2の光路は、開通される、c)第3の時間間隔にお
いて、第2の光路が、回転手段によって阻止される、と
いうように構成されることである。
【0018】本発明の好適な実施例によれば、第1及び
第2の光路は、互いに約120゜の角度だけ変位してい
る。従って、角度φが240゜の場合、上記3つの時間
間隔を同じ長さにすることができる。異なる長さの時間
間隔が必要であれば、当業者によって、他の角度及び半
径を与えることが可能であることが理解されよう。
【0019】他の実施例の1つによれば、チョッパ・ブ
レードは、その回転軸に対して傾斜しており、そのため
その軸は、約4゜傾斜している。回転手段、すなわちチ
ョッパ・ブレードの回転軸を傾斜させることによって、
第1の光入力手段からの光が、チョッパ・ブレードによ
って反射され、第1の光入力手段の領域から外れる。更
に、前記第2の光入力手段からの光が、反射されて、該
入力手段の領域から外れる。従って、両方の入力手段に
対するチョッパ・ブレードの影響は、最小限にとどめら
れる。
【0020】本発明の好適な実施例によれば、チョッパ
・ブレードは、駆動シャフトを介して、モータによって
駆動され、前記駆動シャフトに対して少なくとも垂直方
向に調整可能である。従って、チョッパ及びその部品の
製造公差を、補償することが可能である。
【0021】本発明の好適な実施例によれば、チョッパ
・ブレードは、ガラスのディスクであり、半径R1、R
2と角度φによって規定される構造が、チョッパ・ブレ
ードにコーティングを施すことによって構成される。こ
れらの処置によって、透明な領域と不透明な領域を備え
るチョッパ・ブレードを簡単に製造することが可能にな
り、それにより不平衡は無視される。好適には、不透明
なコーティングは、金のような金属、又は他の任意の不
透明な薄層である。
【0022】更に、不平衡を回避するための処置がとら
れる場合、チョッパ・ブレードは、非ディスク形状の形
態でアルミニウム、又は歪み取り黄銅によって構成する
ことが可能である。
【0023】更に、第1と第2の光路に光学レンズを設
けて、チョッパ・ブレードがビームを阻止する位置にビ
ームの焦点を合わせ、高速スイッチング時間の達成を保
証することも可能である。
【0024】理解し、特に留意しておくべきは、本発明
は、単独であれ、又は他の形態、すなわち任意の組み合
わせによるものであれ、上記で開示した特徴の有効且つ
新規の全ての組み合わせに関するものであるという点で
ある。更に、言及した全ての利点は、完全に、本発明に
よって解決される目的とみなすことも可能である。
【0025】本発明を更に良く理解するために、他の及
び更なる目的、利点、及び適応性と共に、参照として本
明細書に取り入れる、添付図面に対して参照がなされ
る。
【0026】
【発明の実施の形態】図1は、同調可能なレーザ源(T
LS)1、チョッパ6、エルビウム・ドープのファイバ
増幅器(EDFA)7、ラムダ・フィルタ8、光電変換
器11、及びオシロスコープ12から構成される、光信
号が存在する場合のASE雑音を測定するための本発明
によるシステムを示す。
【0027】入力ファイバ4aは、同調可能なレーザ源
1の出力1aをチョッパ6の第1の入力に接続する。フ
ァイバ4bは、チョッパ6の第1の出力を増幅器7の入
力7aに接続する。増幅器7の出力7bは、ファイバ5
aによって、チョッパ6の第2の入力に接続される。チ
ョッパ6の第2の出力は、ファイバ5bを介して、ラム
ダ・フィルタ8の入力8aに接続される。ラムダ・フィ
ルタ8の出力8bは、ファイバ13を介して、光電変換
器11の入力11aに接続される。光電変換器11の出
力11bは、電気ケーブル14を介して、オシロスコー
プ12の入力12aに接続される。
【0028】選択的に、第1の電力計2の入力2aが、
カプラ3を介して、ファイバ4aと接続され、第2の電
力計10の入力10aが、カプラ9を介して、ファイバ
13と接続される。
【0029】図2(A)及び図2(B)には、図1にお
けるチョッパ6のチョッパ・ブレード39の構造が示さ
れている。チョッパ・ブレード39は、透明領域40
と、金属をコーティングした円形リング41から成るデ
ィスク構造を有している。点線50は、チョッパ・ブレ
ードの回転角度tが0゜の位置を表し、点線51は、回
転角度t=120゜を表している。点線52において、
回転角度tは、240゜である。t=0゜において、フ
ァイバ4aは、チョッパ6の第1の入力に接続される。
チョッパ6の第1の入力の反対側で、ファイバ4b(図
2(B)を参照)が、チョッパ6の第1の出力に接続さ
れている。点線52で表される、t=240゜におい
て、ファイバ5aが、チョッパ6の第2の入力に接続さ
れ、ファイバ5b(図2(B)を参照)が、チョッパの
第2の入力の反対側で、チョッパ6の第2の出力に接続
されている。チョッパ6の第1の入力と第1の出力の
間、又は第2の入力と第2の出力の間のどちらかに、チ
ョッパ・ブレード39が矢印42の方向に回転する、エ
ア・ギャップが設けられている。チョッパ・ブレード3
9の回転時、チョッパ・ブレードの不透明領域41が、
チョッパ6の入力からその出力への光の順次通過を阻止
する。高速スイッチング時間を達成するために、ファイ
バ4a、bとファイバ5a、bとの間の光路には、光学
レンズ60a、b、及び61a、bが設けられている。
レンズは、チョッパ・ブレード39を通る各ビームの焦
点を、チョッパ・ブレードが各ビームを阻止する場所に
合わせる。
【0030】図2(A)では、ファイバ並びに金属コー
ティングを施した円形リング41が、ディスク形状のチ
ョッパ・ブレード39(図2(B)を参照)の周囲に配
置されている。円形リング41も、チョッパ6の入力か
ら出力に通る光を阻止することができるように配置され
る場合には、ファイバをもっと中央に近づけて配置可能
であることが理解されよう。更に、所定の時間間隔にお
いて、チョッパ6の入力から出力に通る光を阻止可能に
する、任意の回転素子を用いることは、本発明の範囲内
であることが理解されよう。好適には、不透明領域は、
金の層によってコーティングされるが、透明領域と不透
明領域を備える他の任意の回転素子を用いるのは、本発
明の範囲内であり、回転素子を非ディスク形状にするこ
とも可能であることが理解されよう。この場合、不平衡
に対して防止措置をとることが可能である。更に、本発
明によるガラスの透明ディスクのコーティングによっ
て、透明領域から不透明領域への明確な変化を構成する
ことが可能になる。
【0031】図3(A)には、チョッパ・ブレード39
の回転角度tの関数として、図1のレーザ源の出力信号
が示されている。レーザ源の信号20は、チョッパ・ブ
レード39の、矢印20aで示す0゜〜360゜の全回
転中、オン状態にある。
【0032】図3(B)には、チョッパ・ブレード39
の回転角度tの関数として、図1のエルビウム・ドープ
のファイバ増幅器(EDFA)の入力信号が示されてい
る。t=0゜からt=120゜までの間、チョッパ・ブ
レード39の不透明領域41は、点線52で示すt=2
40゜から、点線50で示すt=360゜まで移動す
る。不透明領域41が、ファイバ4aに達するまで、増
幅器の入力信号は、図3(B)のライン21で示すオン
状態にある。t=120゜から240゜までの間、ファ
イバ4aを出る光は、阻止され、チョッパ6の第1の出
力に到達できないので、増幅器の入力信号は、図3
(B)にライン22で示すオフ状態に、急速にスイッチ
される。立ち下がり時間は、矢印23で示す1μsであ
る。1μsの立ち下がり時間に達するため、図2に示す
チョッパ・ブレード39は、6000r.p.m.で回転
し、光ファイバは、互いに120゜、チョッパ・ブレー
ド39の中心から2.3cm離して配置される。より短
い、又はより長い立ち下がり時間を得るため、1つ以上
の前記パラメータを変更することは、本発明の範囲内で
あることが理解されよう。t=240゜において、不透
明領域41は、ファイバ4aを通過し、増幅器の入力信
号は、ライン24で示すようにオン状態にスイッチされ
る。
【0033】図3(C)には、チョッパ・ブレード39
の回転角度tの関数として、増幅器の出力信号が示され
ている。t=0゜からt=120゜までの間、レーザ源
1によって発生される光は、チョッパ6の第1の入力、
及び第1の出力を介して、増幅器の入力に送られる。こ
の結果、t=0゜からt=120゜までの間、ライン2
6によって示すように、増幅器7の強力な出力信号が生
じることになる。t=120゜において、不透明領域4
1は、チョッパ6の第1の入力と第1の出力との間のエ
ア・ギャップに達し、増幅器の入力信号をそのオフ状態
にスイッチする。この結果、図3(C)にライン27で
示すように、雑音信号レベルからASE信号レベルまで
上昇する出力信号となる。t=240゜において、不透
明領域41は、チョッパの第1の入力と第1の出力との
間のエア・ギャップを通過するので、ファイバ増幅器7
の入力は、そのオン状態になる。増幅器は、入力信号を
図3(C)にライン28示す信号まで増幅する。
【0034】図3(D)には、チョッパ・ブレードの回
転角度tの関数として、チョッパ・ブレード39を介し
てEDFA7によって発生される光の開放、又は阻止が
示されている。t=0゜からt=120゜までの間、チ
ョッパ・ブレード39の不透明領域41は、第2の入力
と第2の出力との間のエア・ギャップを通過するので、
ライン30で示すように、通過する光はない。t=12
0゜からt=360゜までの間、光は、ライン31で示
すように、チョッパ6の第2の入力から第2の出力まで
通過する。光が第2の入力から第2の出力まで通過する
ことが可能な時間間隔は、矢印32で示すように6.6
msである。
【0035】チョッパ・ブレード39が、6000r.p.
m.を超えるか、あるいは、それ未満で回転する場合、又
は第1と第2の入力及び出力が、チョッパ・ブレード3
9の中心に対する距離をより長くするか、あるいは、よ
り短くして配置される場合、この時間間隔は簡単に修正
可能であることが理解されよう。
【0036】図3(E)は、チョッパ・ブレードの回転
角度tの関数として、オシロスコープによって示される
信号のグラフである。t=0゜からt=120゜までの
間、チョッパ・ブレード39の不透明領域41は、光
が、チョッパ6の第2の入力から第2の出力に通過でき
ないようにする。従って、図3(E)のライン35で示
すように、有害雑音だけが、オシロスコープ12によっ
て表示される。t=120゜から240゜の間、増幅器
7のASE信号は、チョッパ6の第2の入力と第2の出
力を介して通過することができる。関連する時間間隔に
おいて、不透明領域41は、チョッパ6の第1の入力か
ら第1の出力への光の通過を阻止し、増幅器は、ライン
36で示す、測定される増幅自然放出(ASE)を発生
する。この測定を実施して、増幅器の雑音指数が計算可
能になる。t=240゜からt=360゜の間、光は、
チョッパ6の第1の入力及び第1の出力を介して、ある
いは、第2の入力及び第2の出力を介して通過すること
ができる。増幅器7の入力信号は、そのオン状態にあ
り、増幅器は、ライン37で示すように、コヒーレント
光を発生する。この測定を実施して、増幅器の光学利得
の計算が可能になる。
【0037】以下に、本発明の実施態様を列挙する。
【0038】1.光学回路の特性を分析するための方法
において、第1の光信号が、阻止手段を介して前記光学
回路に供給され、該光学回路によって発生される第2の
光信号が、前記阻止手段を介して、前記第2の信号を分
析するための少なくとも1つの手段に供給される第1の
ステップと、前記第1の光信号が、前記阻止手段によっ
て阻止され、前記第2の光信号は、依然として、前記阻
止手段を介して、前記第2の信号を分析するための前記
手段に供給される第2のステップと、を含む方法。
【0039】2.前記光学回路が光学増幅器であり、そ
の増幅率が、第1の分析手段による前記第1のステップ
において測定され、その増幅自然放出(ASE)雑音
が、前記第1の分析手段、又は第2の分析手段による前
記第2のステップにおいて測定されることを特徴とす
る、前項1に記載の方法。
【0040】3.前記光学増幅器が、エルビウム・ドー
プのファイバ増幅器(EDFA)、又はプラセオジム・
ドープのファイバ増幅器(PDFA)であることを特徴
とする、前項1または2に記載の方法。
【0041】4.前記第1のステップにおいて、前記光
学増幅器は、その増幅率、又は増幅自然放出雑音が測定
される前に、定常状態に安定化することを特徴とする、
前項2に記載の方法。
【0042】5.前記第2の光信号が、前記阻止手段に
よって阻止される第3のステップが含まれることを特徴
とする、前項1に記載の方法。
【0043】6.前記第3のステップにおいて、前記第
1または第2の分析手段の雑音が測定されることを特徴
とする、前項5に記載の方法。
【0044】7.前記第1、第2、及び/又は第3のス
テップが、例えば、1秒間に約100回(100H
z)、順次実施されることを特徴とする、前項5に記載
の方法。
【0045】8.少なくとも第1、及び第2の光信号を
阻止するための装置において、前記第1の光信号に関し
て、第1の光入力手段、及び第1の光出力手段を備えた
第1の光路と、前記第2の光信号に関して、第2の光入
力手段、及び第2の光出力手段を備えた第2の光路と、
前記第1の光路、及び前記第2の光路内に配置される回
転手段と、から構成される装置。
【0046】9.前記回転手段が、角度0<φ<360
゜に沿った半径R1と、360゜−φの角度に沿った半
径R2を備え、R2>R1であり、円上の全ての点が、
半径Rと角度φによって表現可能である、チョッパ・ブ
レードから構成されることを特徴とする、前項8に記載
の装置。
【0047】10.前記角度φが240゜であることを
特徴とする、前項9に記載の装置。
【0048】11.前記第1の光路、及び前記第2の光
路が互いに変位され、前記第1の光路、及び前記第2の
光路が、R1<R3<R2である半径R3で半径方向に
配置されることを特徴とする、前項8に記載の装置。
【0049】12.前記第1の光路と前記第2の光路
が、互いに、約120゜の角度だけ変位されることを特
徴とする、前項11に記載の装置。
【0050】13.前記チョッパ・ブレードが、その回
転軸に対して傾斜していることを特徴とする、前項9に
記載の装置。
【0051】14.前記チョッパ・ブレードが、約4゜
傾斜していることを特徴とする、前項13に記載の装
置。
【0052】15.前記チョッパ・ブレードが、駆動シ
ャフトを介し、モータによって駆動されることを特徴と
する、前項9に記載の装置。
【0053】16.前記チョッパ・ブレードが、前記駆
動シャフトに対し少なくとも垂直方向に調整可能である
ことを特徴とする、前項15に記載の装置。
【0054】17.前記チョッパ・ブレードが、ガラス
のディスクであり、前記半径R1、R2及び前記角度φ
によって規定される構造が、前記チョッパ・ブレードに
コーティングを施して構成されることを特徴とする、前
項9に記載の装置。
【0055】18.前記コーティングが、金のような金
属であることを特徴とする、前項17に記載の装置。
【0056】19.チョッパ・ブレードが、アルミニウ
ム、又は歪み取り黄銅によって構成されることを特徴と
する、前項9に記載の装置。
【0057】
【発明の効果】本発明は、以上のように構成したので、
透明領域、及び不透明領域からなるチョッパ・ブレード
を用いることにより、1つの回転手段だけしか必要とし
ない、増幅器の入射及び出射レーザ・ビームに関する、
2つの高度な間欠光学スイッチを構成することが可能に
なり、短いスイッチング時間と、両方のビームを備える
回転手段が、高精度で、同期してスイッチされるASE
測定により、光学増幅器の雑音指数、及び光学利得の計
算が可能になるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光信号が存在する場合の、ASE
雑音を測定するためのシステムのブロック図である。
【図2】(A)は不透明領域と透明領域を備えたガラス
で構成される、図1のチョッパ・ブレードの構成を示
す。(B)は図1のチョッパのより詳細なブロック図で
ある。
【図3】(A)はチョッパ・ブレードの回転角度tの関
数としての図1の光源の出力信号のグラフである。
(B)はチョッパ・ブレードの回転角度tの関数として
の図1のエルビウム・ドープのファイバ増幅器(EDF
A)の入力信号のグラフである。(C)はチョッパ・ブ
レードの回転角度tの関数としての図1のEDFAの出
力信号のグラフである。(D)はチョッパ・ブレードの
回転角度tの関数としての図1のチョッパ・ブレードを
介して、EDFAによって発生される光の開放、又は阻
止を示すグラフである。(E)はチョッパ・ブレードの
回転角度tの関数としての図1のオシロスープによって
表示される信号のグラフである。
【符号の説明】
1 レーザ源 2 第1の電力計 4,5 ファイバ 6 チョッパ 7 EDFA 8 ラムダ・フィルタ 10 第2の電力計 11 光電変換器 12 オシロスコープ 13 ファイバ 14 電気ケーブル 39 チョッパ・ブレード 40 透明領域 41 不透明領域 60 レンズ 61 レンズ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光学回路の特性を分析するための方法にお
    いて、 第1の光信号が、阻止手段を介して前記光学回路に供給
    され、該光学回路によって発生される第2の光信号が、
    前記阻止手段を介して、前記第2の信号を分析するため
    の少なくとも1つの手段に供給される第1のステップ
    と、 前記第1の光信号が、前記阻止手段によって阻止され、
    前記第2の光信号は、依然として、前記阻止手段を介し
    て、前記第2の信号を分析するための前記手段に供給さ
    れる第2のステップと、 を含む方法。
JP7203500A 1994-08-16 1995-08-09 光学回路の特性を分析するための方法及び装置 Pending JPH08116111A (ja)

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EP0702437B1 (en) 1998-05-27
US5596440A (en) 1997-01-21
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