JPH08114540A - 走査型光学測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 標本上を光ビームで二次元走査して検出デー
タをコンピュータでデータ処理して走査画像データ及び
処理データを作成する場合における、検出データを効率
的にコンピュータへ転送して、コンピュータの処理効率
を向上させる。 【構成】 コンピュータ２２内の拡張スロットにメモリ
ボード４８ａ〜４８ｂを実装して、このメモリボードに
検出データを一旦記憶し、コンピュータはこのメモリボ
ードに記憶された検出データを読出してデータ処理す
る。また、実装されたメモリボード上にデータ記憶用の
メモリ回路を各々の光検出器毎に設け、各々のメモリ回
路を構成する一対のバンクメモリ５１ａ，５１ｂが、バ
ンクメモリ切換手段によって、データ転送手段からのデ
ータが書込可能状態と、コンピュータからのデータ読出
手段における読出可能状態とに、一定周期で交互に専従
するよう切換える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、標本上を光ビームで二
次元走査し、標本からの透過光、反射光、散乱光及び蛍
光等の検出光を測定して、走査画像データやこの走査画
像を画像処理した処理データを作成する走査型光学測定
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、走査型光学測定装置として、スラ
イドグラス上の細胞集団を光ビームを収束させたスポッ
トで走査し、この細胞集団の個々の細胞が発する蛍光等
を検出し、データ処理する走査型サイトメーターの技術
が特開平３−２５５３６５号公報に開示されている。

【０００３】この公報に開示された走査型サイトメータ
ーにおいては、細胞がスライドグラス上に静置されてお
りレーザスポットが光学的および機械的に走査される。
一方、フローサイトメーターは、レーザ及びこのレーザ
ビームを収束させたスポットが固定され、このスポット
上を単離浮遊液状態の細胞がジエット水流として流れ出
る。したがって、走査型サイトメーターはこの走査手法
の基本構成においてフローサイトメーターと異なる。

【０００４】しかし、走査型サイトメーターは、蛍光色
素で生化学的に標識された生物細胞集団にレーザスポッ
トを照射・励起し、個々の細胞の発する蛍光を測光し、
得られたデータを細胞集団の免疫学的特性、遺伝学的特
性、細胞増殖性等を表す統計的なデータとして提示する
ことを目的としている点においては、フローサイトメー
ターと同一である。

【０００５】この走査型サイトメーターに類似した機械
的構造を有した装置として走査型レーザ顕微鏡がある。
しかし、この走査型レーザ顕微鏡は細胞内の構造や細胞
の形態的特性を明らかにすることを目的としており、一
つ一つの細胞の画像を提示することを目的としている。
すなわち、その使用目的が異なる。走査型サイトメータ
ーにおいては、走査画像データは一旦コンピュータ等か
らなる画像処理装置内に形成されたバッファメモリに取
込まれるが、そのうちの細胞及びその近傍のデータだけ
が画像処理され、個々の細胞毎の蛍光値や、Ｘ、Ｙ座標
位置などの数値データのみが記録保持される。画像デー
タは、いわば“使い捨て”であり、細胞及びその近傍の
データが抽出処理された後は、次の走査領域の画像デー
タが収集さた時点で破棄される。

【０００６】しかし、光学系のみを見た場合には、走査
型サイトメーターは、非共焦点（ノンコンフォーカル）
の走査型レーザ顕微鏡と原理的に同じである。但し、走
査型サイトメーターにおいては、数千〜数万個の細胞を
スライドグラス上で走査するため、走査型レーザ顕微鏡
に対し、走査領域が広い（数十ｍｍ角程度）こと、標本
上でのレーザスポットサイズが大きい（約２〜４ミクロ
ン）こと、及び標本上でのサンプリング間隔（画素サイ
ズ）が大きい（約１〜２ミクロン）という特徴がある。

【０００７】このように、走査型サイトメーターでは走
査領域が広いため、走査画像データを記憶するバッファ
メモリの記憶容量に応じて走査画像の大きさを設定し、
画像一枚，一枚に相当する各走査領域を順次走査して処
理することを繰り返す必要がある。この画像一枚相当の
走査領域を“ストリップ”と称する。

【０００８】一方、タンパク質等の細胞内成分に対する
蛍光標識として、通常の蛍光顕微鏡用途でも実績のある
ＦＩＴＣ（Fluoresceln lsothiocyanate) が最も一般的
に用いられている。しかし、単一の蛍光標識では細胞の
細胞生物学的な特性の一つしか測定できない。

【０００９】これに対し、より多くの細胞生物学的情報
を得るため、分光特性の異なる異種・複数の蛍光色素を
ＦＩＴＣと併用してマルチパラメーター測定を行う手法
が細胞生物学の研究分野で主に採用されており、臨床医
学への応用が走査型レーザ顕微鏡やフローサイトメータ
ーなどで模索されており、走査型サイトメーターにおい
ても同様のマルチパラメーター測定を行うことが期待さ
れている。

【００１０】上述した特開平３−２５５３６５号公報に
開示されている走査型サイトメーターにおいては、デジ
タル化された走査中の光電信号データを、コンピュータ
内の拡張スロットに実装されたデータ収集ボード上のバ
ッファメモリに一旦記憶し、このバッファメモリから、
ＤＭＡ（ダイレクト・メモリ・アクセス）方式を用いて
前記データをコンピュータ上の主メモリへ転送してい
る。この方式は、例えば走査型レーザ顕微鏡のように走
査画像データ全体をコンピュータへ転送して画像として
表示したり、画面全体に均一な画像処理を行うことを前
提とした装置においては非常に有用である。

【００１１】しかし、走査型サイトメーターで測定対象
となる一般的な標本は、外科手術や内視鏡的手法による
穿刺生検において患者から採取された臨床組織標本をス
ライドグラス上にスタンプ（タッチ）するか塗抹（スメ
ア）して作成される。したがって、標本としての細胞は
スライドグラス上にランダムに散在している。

【００１２】このため、走査型サイトメーターにおいて
は、処理速度を向上させるために、走査画像の中にまば
らに点在する細胞領域のデータのみ抽出し、この細胞領
域のデータのみを画像処理することが必要であり、特開
平３−２５５３６５に開示されているような画像処理
（“近傍”による処理）方法が提唱された。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＤＭＡ
方式を用いてデータをコンピュータ上の主メモリへ転送
するデータ転送手法は、走査型レーザ顕微鏡のように走
査画像データ全部を転送・表示する目的には適するが、
走査型サイトメーターにおいて、標本が例えばスライド
グラス単位面積当たり細胞数の少ないまばらな場合のよ
うに、走査画像データのうちのごく一部の細胞とその近
傍の走査データのみを処理する目的には必ずしも効率的
な手法ではない。

【００１４】この場合、むしろ走査画像データ全部を転
送して処理するよりも、細胞近傍の走査データだけを抽
出して処理するほうが効率的であり、処理速度の向上が
期待できる。例えば、最も極端な場合、偶然にスライド
グラス上の走査領域に細胞が存在しなかった場合、ＤＭ
Ａ方式を採用した装置では走査画像データ全部を転送し
て画像処理しても細胞が発見できない事態となる。

【００１５】したがって、むしろ、走査画像データを転
送せずに画像処理で細胞の検出を行い、細胞が検出でき
なければ即座に次の領域を走査する手法が、広範囲を走
査し数千〜数万個に及ぶ多数の細胞を測定する用途に適
している。特に、複数の蛍光標識を用いたマルチパラメ
ーター測定においては、ＤＭＡ方式による転送データ量
は２倍、３倍、４倍とパラメーター数に比例して増え、
無駄なデータ転送を倍加させることになる。

【００１６】すなわち、走査型サイトメーターにおい
て、ＤＭＡ方式を用いて走査画像データをコンピュータ
上の主メモリへ転送することは、たとえ標本上の細胞が
まばらな場合であっても走査画像データ全体を転送する
ため、無駄なデータ転送が多くなる問題がある。

【００１７】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであり、各光検出器で検出されたデータを直接画
像処理用のコンピュータに転送しなくて、一旦メモリボ
ードに記憶保持し、このメモリボードに対してコンピュ
ータがランダムにアクセスできるように構成し、コンピ
ュータは必要なデータのみを取込んで処理でき、細胞集
団の測定を効率的にかつ高速に実施することができる走
査型光学測定装置を提供することを目的とする。

【００１８】

【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明は、標本上を光ビームで二次元走査し、標本か
らの透過光、反射光、散乱光及び蛍光等の複数の検出光
のうち少なくとも一つの検出光又は任意の組合せ検出光
を検出し、走査画像データ及びこの走査画像を画像処理
した処理データのうちの少なくとも一つのデータを作成
する走査型光学測定装置において、 標本からの各検出
光を光電変換する複数の光検出器と、この各光検出器か
らの光電信号をＡ／Ｄ変換する複数のＡ／Ｄ変換器と、
各光検出器毎にそれぞれ一対のバンクメモリを有したメ
モリ回路が形成されたメモリボードと、各Ａ／Ｄ変換器
にてＡ／Ｄ変換された各光電信号の各デジタルデータを
メモリボードへ転送するデータ転送手段と、メモリボー
ドが実装される拡張スロット及びメモリボードの各メモ
リ回路に記憶された各デジタルデータを読出すデータ読
出手段を有し、このデータ読出手段にて読出したデータ
に基づいて走査画像ダータ及び処理データを作成するコ
ンピュータと、一対のバンクメモリを、一つの期間内に
おいてデータ転送手段からのデータを一方のバンクメモ
リに書込可能状態に制御するとともに他方のバンクメモ
リに記憶されたデータをデータ読出手段における読出可
能状態に制御し、次の期間内において前記一方のバンク
メモリに記憶されたデータをデータ読出手段における読
出可能状態に制御するとともにデータ転送手段からのデ
ータを前記他方のバンクメモリに書込み可能状態に制御
するバンクメモリ切換手段とを備えている。

【００１９】また、別の発明においては、上記発明の走
査型光学測定装置において、メモリボード上に形成され
た一対のバンクメモリは、コンピュータからの制御信号
に従って、コンピュータのメモリアクセス領域から任意
に切離可能可能としている。

【００２０】さらに、別の発明においては、同じく上記
発明の走査型光学測定装置において、１枚のメモリボー
ド上に各光検出器に対応する複数のメモリ回路が実装さ
れている。

【００２１】別の発明においては、走査手段における走
査線一本当りの画素数の設定が可変である。また、別の
発明においては、前記走査手段は、光学的偏向手段によ
って光ビームを主走査方向に１次元走査し、この走査方
向と直交する副走査方向に標本を物理的又は機械的に移
動させてこの標本上を光ビームで二次元走査する。

【００２２】さらに、別の発明においては、標本は細胞
集団であり、個々の細胞が単独又は複数の蛍光標識で生
化学的に標識されており、光学的ビームで励起された各
蛍光標識からの蛍光を各細胞毎に同時測定する。

【００２３】

【作用】このように構成された走査型光学測定装置にお
いは、コンピュータ内の拡張スロットに実装されたメモ
リボード上にデータ記憶用のメモリ回路を各々の光検出
器毎に設け、各々のメモリ回路を構成する一対のバンク
メモリが、バンクメモリ切換手段によって、データ転送
手段からのデータが書込可能状態と、コンピュータから
のデータ読出手段における読出可能状態とに、交互に専
従するよう切換えられる。

【００２４】このように構成することにより、メモリボ
ート上のメモリのデータを全部コンピュータの主メモリ
へ転送する必要がなく、コンピュータが直接メモリボー
ド上のメモリにアクセスして必要な部分、すなわち細胞
およびその近傍領域のみのデータを読出して画像処理す
ることができる。

【００２５】また、一対のバンクメモリを、コンピュー
タがアクセスする用途と標本に対する新たな走査領域を
走査して走査データを書き込む用途とに交互に切り換え
ながら同時に使用している。したがって、コンピュータ
による一つの走査領域（ストリップ）のデータ処理と、
走査手段による次の走査領域（ストリップ）の走査処理
とが同時に並行して実行可能となる。よって、コンピュ
ータへの走査データの取込と取込んだデータの画像処理
とを効率よく高速に行うことが可能となる。

【００２６】また、別の発明においては、走査画像及び
処理画像を作成するコンピュータは、自己のメモリアク
セス領域から拡張スロットに装着されたメモリボードの
一対のバンクメモリのメモリ領域を外すことによって、
このバンクメモリを使用していない場合におけるアクセ
ス領域を他のメモリのメモリ領域に設定可能となり、コ
ンピュータのメモリアクセスの自由度が向上する。

【００２７】また、１枚のメモリボードに複数のメモリ
回路を形成することによって、コンピュータ及び測定装
置全体のハード構成を簡素化できる。さらに、走査線一
本当りの画素数の設定が可変であるので、最終的に得ら
れる画像の解像度を任意に変更できる。

【００２８】さらに、例えばガルバノミラー等の光学的
偏向手段と例えば走査ステージ等でもって標本自体を移
動させる移動手段とを備えることによって、標本上を光
ビームで簡単に二次元走査可能となる。

【００２９】また、標本が細胞集団の場合は、個々の細
胞が単独又は複数の蛍光標識で生化学的に標識されてい
るので、光学的ビームで励起された各蛍光標識からの蛍
光を各細胞毎に同時測定することによって、より詳細に
標本を解析できる。

【００３０】

【実施例】以下本発明の一実施例を図面を用いて説明す
る。図１は実施例の走査型光学測定装置の機械的構成及
び光学的構成を示す模式図であり、図２は同装置の電気
的構成を示すブロック図であり、図３はコンピュータ内
の拡張スロットに実装されるメモリボードの詳細構成を
示すブロック図である。

【００３１】先ず、図１を用いて実施例装置の機械・光
学的構成を説明する。レーザ光源１から出射されたレー
ザビームは、スポット投影レンズ１８で適宜集光された
後、ダイクロイックミラー２で反射され、さらに紙面に
直交する回転軸を中心に回動するガルバノミラー３で反
射された後、瞳投影レンズ４で対物像面に結像し、その
後、光路切換ミラー５へ入射される。したがって、レー
ザビームは回動するガルバノミラー３の存在によって光
路切換ミラー５位置において紙面上の上下方向に走査さ
れる。

【００３２】レーザビームは光路切換ミラー５で反射さ
れた後、対物レンズ６に入射し、標本７上に結像され
る。よって、標本７上に結像されたレーザスポットは標
本７面で紙面の左右方向に走査される。レーザビームを
ガルバノミラー３による光学偏向手段で左右方向に走査
すると同時に、走査ステージ１７を紙面に直交する方向
に移動させることにより、標本７面はレーザスポットに
て二次元走査される。

【００３３】標本７上の細胞に予め生化学的に標識され
た蛍光色素は、このレーザ光（レーザスポット）によっ
て励起されて蛍光を放射する。標本７からの蛍光は、前
述した光路を逆に遡り、対物レンズ６、光路切換ミラー
５、瞳投影レンズ４、ガルバノミラー３を経てダイクロ
イックミラー２を上方へ透過する。ダイクロイックミラ
ー２を透過した蛍光はバリアフィルタ１３を通過し集光
レンズ１４で光電子倍管（ＰＭＴ１）１５の受光面に集
光される。

【００３４】一方、標本７上の細胞によって散乱された
散乱光は標本７を下方へ透過した光と共にコンデンサレ
ンズ８で集光され、ビームスプリッター９で反射された
後にリングスリット１０に入射する。リングスリット１
０は標本７からの透過光を遮光し、散乱光のみを通過さ
せて、フォトダイオード（ＰＤ）１１の受光面へ入射さ
せる。

【００３５】以上説明した機械的及び光学的構成を有し
た走査型光学測定装置においては、標本７上をレーザス
ポットで二次元走査し、この標本７からの蛍光および散
乱光は光電子倍管１５及びフォトダイオード１１で検出
される。

【００３６】なお、図１においては、一種類の蛍光色素
を用いる場合のみを示したが、ダイクロイックミラー
２、バリアフィルタ１３、光電子増倍管（ＰＭＴ２、Ｐ
ＭＴ３）１５を追加することによって、複数の蛍光色素
からの波長の異なる蛍光を同時に検出できる。

【００３７】前記光路切換ミラー５はレーザ光の光路に
対して挿脱可能に設けられており、この光路切換ミラー
５を光路から取り除くことにより、標本７の像を顕微鏡
観察光学系１６へ導くことができる。そして、透過照明
光源１２や落射照明光源１９による照明を用いて通常の
顕微鏡として用いることが可能である。その結果、観察
者は標本７の透過像や蛍光像を肉眼で顕微鏡観察したり
テレビカメラや写真撮影装置で顕微鏡投影することがで
きる。

【００３８】次に、図２を用いて実施例装置の電気的構
成を説明する。この実施例の走査型光学測定装置に組込
まれた電気回路は、図示するように、大きく分けて、３
本の光電子増倍管１５ａ，１５ｂ，１５ｃ（ＰＭＴ１、
２、３）から得られる各蛍光強度に対応する電気信号を
画像データに変換する３つの信号処理回路２０ａ．２０
ｂ．２０ｃと、フォトダイオード１１から得られる散乱
光強度に対応する電気信号を画像データに変換する信号
処理回路２０ｄと、各信号処理回路２０ａ〜２０ｄから
得られる画像データを処理して走査画像及び処理画像を
作成するコンピュータ２２と、標本７上をレーザスポッ
トで二次元走査させるための走査制御回路２３と、各信
号処理回路２０ａ〜２９ｄ及び走査制御回路２３の動作
を制御する本体制御部２４とで構成されている。

【００３９】先ず、信号処理回路２０ａを説明する。光
検出器としての光電子増倍管（ＰＭＴ１）１５ａで検出
した光電信号はヘッドアンプ２５で増幅された後、アナ
ログ積分器２６で高周波の雑音成分が除去される。雑音
成分が除去された光電信号はＡ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ）２
７で１２ビットのデジタル信号に変換された後、ＤＳＰ
（ディシダル・シグナル・プロセッサ）２８によって信
号処理される。

【００４０】このＤＳＰ２８による代表的な信号処理は
信号のデジタル加算である。このデジタル加算処理によ
り、例えば１２ビットのデジタル信号を１６回加算して
１６ビットまで拡張して測定精度を向上させる。この場
合、標本７上の同一位置を繰り返し走査するために前述
した走査ステージ１７の移動動作を一時停止させるか、
又は走査ステージ１７の移動速度を１６分の１に低下す
る。この加算演算は走査線一本分の信号を記憶するライ
ンバッファメモリを用いて実行される。よって、ＤＳＰ
２８にはこの信号処理を実行するためにＲＡＭ（ランダ
ム・アクセス・メモリ）２９とと処理プログラムを格納
するＲＯＭ（リード・オンリー・メモリ）３０とが接続
されている。ＤＳＰ２８にて信号処理されたデータはコ
ンピュータ２２へデータ転送される。

【００４１】信号処理回路２０ａ内のＣＰＵバス３１は
本体制御部２４のＣＰＵバス３２に接続されている。そ
して、本体制御部２４のＣＰＵ３３は、ＣＰＵバス３
１，３２を介して前記光電子増倍（ＰＭＴ１）１５ａの
陰極へＤ／Ａ変換器３４を介して電圧を印加して増倍率
を制御する。さらに、ＣＰＵ３３は、光電子増倍管（Ｐ
ＭＴ１）１５ａで検出した光電信号のオフセット調整電
圧をＤ／Ａ変換器３５を介して光電気信号に印加する。

【００４２】他の光電子増倍管（ＰＴＭ２，ＰＴＭ３）
１５ｂ，１５ｃに対する信号処理回路２０ｂ，２０ｃは
上述した光電子増倍管（ＰＴＭ１）１５ａに対する信号
処理回路２０ａと同一構成であるので説明を省略する。
また、フォトダイオード１１に対する信号処理回路２０
ｄも他の信号処理回路２０ａ〜２０ｃとほぼ同一である
が、この信号処理回路２９ｄには陰極電圧印加用のＤ／
Ａ変換器３４は備えられていない。

【００４３】次に、本体制御部２４及び走査制御回路２
３を説明する。本体制御部２４のＣＰＵバス３２には、
前記ＣＰＵ３３，コンピュータ２２との間で各種通信を
行うためのＧＰＩＢインタフェース制御回路（ＧＰＩＢ
Ｉ／Ｆ）３６，ＲＣＵ３７，入出力回路３８が接続さ
れている。さらに、ＣＰＵバス３２には、走査ステージ
１７をＸ軸、Ｙ軸方向へ移動させる２個のステッピング
モータ３９，４０の駆動回路４１，４２を制御するモー
タ制御回路４４，４５、ガルバノミラー３を駆動する波
形を生成する波形発生回路、生成された波形をガルバノ
ミラー３へ印加するためのＤ／Ａ変換器４６等が接続さ
れている。

【００４４】したがって、本体制御部２４は、走査制御
回路２３を介して、走査ステージ１７及びガルバノミラ
ー３の動作を制御することによって、標本７上をレーザ
スポットで任意に二次元走査させることが可能となる。

【００４５】次に、コンピュータ２２を説明する。この
コンピュータ２２には、ＩＥＥＥ・４８８規格に基づく
ＧＰＩＢ制御を行うＧＰＩＢボード４７が設けられてお
り、本体制御部２４側のＧＰＩＢインタフェース制御回
路３６を介して、本体制御部２４のＣＰＵ３３と間で通
信を行うことが可能である。

【００４６】実施例測定装置で用いるコンピュータ２２
は、ＩＢＭ社ＰＣ／ＡＴ又はその互換機であり、コンピ
ュータ・モニタディスプレイ用のビデオ・グラフィック
・アダプター（ＶＧＡ）ボード以外に三つの１６ビット
ＩＳＡ（Industry StandardArchitecture) 拡張スロッ
トを有している。三つの拡張スロットは２枚のメモリー
ボード４８ａ，４８ｂと前述した１枚のＧＰＩＢボード
４７が実装される。

【００４７】このコンピュータ２２及びこのコンピュー
タ関連部品として実施測定装置で採用した市販品は、コ
ンピュータ２２がGateway 社（ＵＳＡ）の４ＤＸ−３３
Ｖ型（Intel 社製ＣＰＵ、８０４８６ＤＸ−３３を使
用）ＰＣコンピュータであり、ＧＰＩＢボード４７がNa
tional Instruments社（ＵＳＡ）製のＡＴ−ＧＰＩＢ型
ボードである。

【００４８】また、２枚のメモリボード４８ａ，４８ｂ
は１６ビットＩＳＡ拡張スロットに適合する形状に設計
してあり、このメモリボードに２チャンネル分のメモリ
回路が実装されている。一枚のメモリボード４８ａ，４
８ｂに複数チャンネル分のメモリ回路を実装することに
より、限られた数の拡張スロットを有効利用でき、小型
で拡張スロット数の少ないコンピュータ２２を用いても
実施例測定装置のシステムを構築することが可能であ
る、そして、図示するように、一方のメモリボード４８
ａのチャンネル１のメモリ回路に信号処理回路２０ａか
らの転送データが入力され、チャンネル２のメモリ回路
に信号処理回路２０ｂからの転送データが入力される。
さらに。他方のメモリボード４８ｂのチャンネル３のメ
モリ回路に信号処理回路２０ｃからの転送データが入力
され、チャンネル４のメモリ回路に信号処理回路２０ｄ
からの転送データが入力される。

【００４９】図３にコンピュータ２２の拡張スロットに
実装された一方のメモリボード４８ａの１チャンネル分
のメモリ回路のブロック図を示す。メモリ回路の一方側
には図２に示した信号処理回路２０ａ内のＤＳＰ２８に
対する信号を入出力するコネクタ４９が設けられてお
り、メモリ回路の他方側にはコンピュータ本体に接続さ
れる１６ビットＩＳＡスロットプラットホーム（コネク
タ）５０が設けられている。

【００５０】このメモリ回路は、２メガバイト（２Ｍ
Ｂ）の容量を有した２個のバンクメモリ５１ａ，５１ｂ
が組込まれている。１データ長は１６ビットであるので
１バンクメモリ５１ａ，５１ｂ当り１メガワード（１Ｍ
Ｗ）の画像データを記憶できる。したがって、１走査線
当り５１２画素で画像を構成する場合、５１２×２０４
８画素分の走査領域が走査の単位（ストリップ）であ
る。ここで、１走査線当りの画素数を１０２４、５１
２、２５６、１２８と設定可変にすれば、１つのストリ
ップの画素構成１０２４×１０２４、５１２×２０４
８、２５６×４０９６、１２８×８１９２と可変するこ
とが可能である。

【００５１】ガルバノミラー３の走査周波数を上げるこ
とには一定限度があるが、走査角度を広くしたり狭くし
たりして走査線毎の画素数を加減することが可能であ
り、これにより単位時間当たりのデータ収集量を変化さ
せることができる。このとき、装置本体側のレーザスポ
ットで標本７を走査する速度と一つのストリップをコン
ピュータ２２が画像処理を行う処理速度の兼ね合いで、
走査速度が処理速度より早ければ１走査線当りの画素数
を減らして細長く走査させて単位時間当りのデータ収集
量を減らす。一方、走査速度が処理速度より遅ければ１
走査線当りの画素数を増やして太短く走査させて単位時
間当たりのデータ収集量を増やす。そして、走査速度と
処理速度とがバランスした時に、システム全体としては
装置本体側でもコンピュータ２２側で処理待ち時間及び
走査待ち時間がなくなり、細胞計測を最も高速に行うこ
とができる。

【００５２】信号処理回路２０ａのＤＳＰ２８からメモ
リ回路の制御回路５３へ送信される信号は、１６ビット
データ、データ転送クロック、メモリ回路のデータ入力
部を初期化するセットアップ信号、メモリボート４８ａ
上の書込アドレスカウンタ５４をクリアするカウントク
リア信号、データ転送が終了したことを示すデータエン
ド信号、データ転送中における異常発生有無を示すエラ
ー信号である。

【００５３】逆に、メモリ回路の制御回路５３から信号
処理回路２０ａのＤＳＰ２８へ送信する信号は、バンク
メモリ５１ａ，５１ｂに対するデータ書込みが待ち状態
になったことを示すリクエスト信号である。

【００５４】また、メモリ回路の制御回路５３からコン
ピュータ２２への信号伝達は予め割付けたＩ／Ｏ５２の
アドレス（Ｉ／Ｏアドレス）のデータをコンピュータ２
２が読取ることで実施される。

【００５５】一方、コンピュータ２２からメモリ回路の
制御回路５３への信号伝達は同じく予め割付けたＩ／Ｏ
５２のアドレス（Ｉ／Ｏアドレス）のデータをコンピュ
ータ２２がこのＩ／Ｏ５２に書込むことで実施される。
このとき、書込まれたデータの最下位ビットが０か１か
（例えばデータ×０_H と×１_H ）を認識することで信号
の確認を行う。

【００５６】Ｉ／Ｏ５２で授受されるメモリ回路の制御
回路５３からコンピュータ２２への信号は、メモリ回路
のいずれか一方のバンクメモリ５１ａ，５１ｂががコン
ピュータ２２側からアクセス可能状態に移行したことを
示すイネーブル信号、及びデータ転送中又はデータ書込
中における異常発生の有無を示すエラー信号である。

【００５７】逆に、Ｉ／Ｏ５２で授受されるコンピュー
タ２２からメモリ回路の制御回路５３への信号は、コン
ピュータ２２側からメモリ回路を初期化するセットアッ
プ信号、及びモリ回路からのイネーブル信号をコンピュ
ータ２２側で確認した後イネーブル信号をクリアするク
リア信号である。また、コンピュータ２２側が一つのバ
ンクメモリ５１ａ，５１ｂに記憶された１ストリップ分
の画像データ処理を行っている状態を知らせるプロセス
エンド信号及び前記セットアップ信号はバンク切換回路
５６へ入力される。

【００５８】バンク切換回路５６は、制御回路５３から
のバンク選択信号に基づいて、コンピュータ２２に接続
されたバングメモリ５１ａと１６ビットＩＳＡプラット
ホーム（コネクタ）５０との間に介挿されたゲートバッ
ファ５５ａを遮断／導通させる。同様に、バングメモリ
５１ｂと１６ビットＩＳＡプラットホーム５０との間に
介挿されたゲードバッファ５５ｂを導通／遮断させる。
なお、各ゲードバッファ５５ａ，５５ｂを同時に導通状
態及び同時に遮断状態にしない。

【００５９】このような構成のメモリ回路において、信
号処理回路２０ａのＤＳＰ２８からデータ転送された１
６ビットのデータは制御回路５３がメモリライト（書
込）信号で指定するいずれか一方のバンクメモリ５１
ａ，５１ｂにおける書込アドレスカウンタ５４がＭＰＸ
（マルチプレクサ）５７を介して指定するアドレスに書
込まれる。

【００６０】また、コンピュータ２２がデータを読出す
場合は、ＭＰＸ５７を介して読出アドレスを指定し、制
御回路５３がバンク選択信号で指定するいずれか一方の
バンクメモリ５１ａ，５１ｂからゲートバッファ５５
ａ，５５ｂを介して指定したアドレスのデータを読取
る。

【００６１】また、このメモリボード４８ａには、メモ
リボードの仕様を設定する図示しないジャンパーピンコ
ネクタが設けられている。そして、技術者はこのジャン
パーピンコネクタを用いて、Ｉ／Ｏのベースアドレス
と、実装した２枚のメモリボード４８ａ，４８ｂを識別
するボード番号とをコンピュータ２２への実装時にジャ
ンパービンの挿入位置によって設定する。

【００６２】Ｉ／Ｏ５２のベースアドレスは、メモリ回
路の制御回路５３とコンピュータ２２との間での信号の
授受に用いる前記Ｉ／Ｏアドレスを設定するもので、コ
ンピュータ２２に接続された例えば主メモリ等の他の機
器と重複しないように適宜設定する。例えば、０×７０
０_H で使用し、これをベースアドレスとしてＩ／Ｏ５２
で授受する各信号を、０×７００_H から順次、０×７０
１_H 、０×７０２_H 、０×７０３_H …の各アドレスへ割
付ける。

【００６３】ボード番号の設定は、コンピュータ２２の
拡張スロット内に実装した２枚のメモリボード４８ａ，
４８ｂ、すなわち、各メモリボード４８ａ，４８ｂにそ
れぞれ２チャンネル分のメモリ回路を実装しているので
合計４チャンネル分のデータをコンピュータ２２がアク
セスするときのアドレス設定を決定する。

【００６４】各メモリボード４８ａ，４８ｂにおける１
〜４の各チャンネルのアドレスは、コンピュータ２２の
全アドレス領域内において、図４に示すように割付けら
れている。例えば、メモリボード４８ａのチャンネル１
のメモリ回路は［0800000 ］_H から［ 0A00000］_H まで
の２ＭＢの領域に割付けられており、メモリ回路を構成
する各バンクメモリ５１ａ，５１ｂは当然同一アドレス
値が割付けられている。そして、コンピュータ２２から
一方のバンクメモリ５１ａ，５１ｂがアクセス可能状態
になっている時に、対応するバンクメモリの該当アドレ
スのデータがコンピュータ２２で読取られてデータ処理
される。

【００６５】次に、上述したように構成された図２〜図
３に示す電気回路の動作を順番に説明する。測定装置の
電源が投入されると、所定の初期化処理が実行される。
この初期化処理において、信号処理回路２０ａのＤＳＰ
２８はメモリボード４８ａのチャンネル１の図３に示す
メモリ回路の制御回路５３へメモリ書込みを待状態にさ
せるセットアップ信号を送り、メモリ回路におけるデー
タ入力部を初期化する。コンピュータ２２は、メモリの
セットアップ信号をＩ／Ｏ５２を介してメモリ回路の制
御回路５３へ送出して、メモリ回路のゲートバッファ５
５ａ，５５ｂ等のコンピュータアクセス部を初期化す
る。

【００６６】コンピュータ２２は、先ずメモリ回路のプ
ロセスエンド信号に相当するＩ／Ｏアドレスにデータ×
１_H を書込んでコンピュータ２２がバンクメモリ５１
ａ，５１ｂをアクセスしないことを伝達した後、予め設
定した座標位置の１ストリップ分の走査領域を走査しデ
ータを収集するＧＰＩＢコマンドを本体制御部２４のＣ
ＰＵ３３へ送出する。そして、コンピュータ２２は、収
集したデータがアクセス可能状態になることを確認する
ために、メモリ回路のイネーブル信号に該当するＩ／Ｏ
アドレスのデータを繰返しアクセスして待機する（ポー
リング状態）。

【００６７】メモリ回路の制御回路５３はコンピュータ
２２からのプロセスエンド信号を受けて、信号処理回路
２０ａのＤＳＰ２８へメモリ書込み待ち状態に移行した
ことを示すリクエスト信号を送出する。

【００６８】以上の準備処理が終了すると、本体制御部
２４のＣＰＵ３３は、走査制御回路２３を駆動して走査
ステージ１７を走査開始座標へ移動させた後、ガルバノ
ミラー３へ印加する走査波形を発生させながら走査ステ
ージ１７を移動させて標本７上をレーザ光で走査させ
る。

【００６９】信号処理回路２０ａのＤＳＰ２８は、ＣＰ
Ｕバス３２，３１を介して本体制御部２４のＣＰＵ３３
からのデータ収集命令をうけた後、メモリ回路から出力
されている前述したリクエスト信号を確認する。そし
て、ＤＳＰ２８は、図３に示すメモリボード４８ａのメ
モリ回路の書込アドレスカウンタ５４をクリアするカウ
ントクリア信号をメモリ回路に送って書込アドレスを初
期化した後、走査と同期してデータ転送クロックと共に
１６ビットデータをメモリ回路へ転送して、制御回路５
３が指定した一方のバンクメモリ５１ａに順次データを
書込む。

【００７０】標本７上の１ストリップ分の走査領域を走
査し終わったら、ＤＳＰ２８はメモリ回路にデータ転送
が終了したことを知らせるデータエンド信号を送る。デ
ータエンド信号を受けたメモリ回路の制御回路５３は、
バンク選択信号を送出して走査データが書込まれた一方
のバンクメモリ４８ａをコンピュータ２２がアクセスで
きる状態に切換えた後、イネーブル信号に該当するＩ／
Ｏアドレスのデータを書換える。

【００７１】すると、コンピュータ２２は、メモリ回路
のイネーブル信号に該当する１／Ｏアドレスのデータが
変更になったことを読込む。そして、コンピュータ２２
は、データ転送中又はデータ書込中における異常発生有
無を示すエラー信号のＩ／Ｏアドレスを読込んで異常無
しを確認すると、プロセスエンド信号に相当するＩ／Ｏ
アドレスにデータ×０_H を書込んでコンピュータ２２が
一方のバンクメモリ４８ａをアクセスしていることをメ
モリ回路の制御回路５３へ通知する。

【００７２】その後、コンピュータ２２は、イネーブル
信号をクリアし、次の１ストリップ分の走査領域を走査
してデータを収集するＧＰＩＢコマンドを本体制御部２
４のＣＰＵ３３へ送出する。コンピュータ２２は、収集
したデータがアクセスできる状態になることを確認する
ために、メモリ回路のイネーブル信号に該当するＩ／Ｏ
アドレスのデータを繰返しアクセスし（ボーリング状
態）、転送されたデータをアクセスして所定の画像演算
処理を行う。

【００７３】メモリ回路の制御回路５３はコンピュータ
２２からのイネーブル信号がクリアされると、メモリラ
イト信号を送出して他方のバンクメモリ５１ｂをＤＳＰ
２８からの書込可能な状態に移行させて、ＤＳＰ２８へ
メモリ書込待状態に移行したことを示すリクエスト信号
を送出する。

【００７４】本体制御部２４のＣＰＵ３３では、走査ス
テージ１７を次のストリップの走査開始座標へ移動させ
た後、カルバノミラー３への走査波形を発生させながら
走査ステージ１７を移動させて標本７上をレーザ光で走
査させる。信号処理回路２０ａのＤＳＰ２８は、ＣＰＵ
３３からのデータ収集命令を受領した後、メモリ回路か
らのリクエスト信号を確認し、メモリボード４８ａ上の
書込アドレスカウンタ５４をクリアするカウントクリア
信号をメモリ回路に送ってアドレスを初期化した後、走
査と同期してデータ転送クロックと共に１６ビットデー
タを送り、前回と反対側のバンクメモリ５１ｂに順次デ
ータを書込む。

【００７５】標本７上の１ストリップ分の走査領域の走
査処理か終了すると、ＤＳＰ２８はメモリ回路の制御回
路５３へデータ転送終了を示すデータエンド信号を送出
する。

【００７６】このデータエンド信号を送出した時点で、
コンピュータ２２の処理状態及び本体側の走査状況にお
いて２つの状態が想定される。１つは最初の１ストリッ
プ分のデータ処理をコンピュータ２２がまだ終了してい
ないのに次のストリップの走査が終了している状態であ
り、もう１つは次のストリップの走査が終了した時には
最初の１ストリップ分のデータ処理をコンピュータ２２
が既に終了している場合である。

【００７７】先ず、第１の状態、すなわち、最初の１ス
トリップ分のデータ処理をコンピュータ２２がまだ終了
していないのに次のストリップの走査が終了している状
態になったときは、コンピュータ２２は最初の１ストリ
ップ分のデータ処理を続行し、この間、本体側はコンピ
ュータのデータ処理が終了するまで待ち状態となる。コ
ンピュータ２２におけるデータ処理が終了すると、メモ
リ回路のプロセスエンド信号に相当するＩ／Ｏアドレス
にデータ×１_H を書込んでコンピュータ２２がバンクメ
モリ５１ａ（５１ｂ）をアクセスしない情報をメモリ回
路の制御回路５３へ伝える。

【００７８】メモリ回路の制御回路４５は、この情報を
受けて次のバンクメモリ５１ｂ（５１ａ）をコンピュー
タ２２がアクセス可能に切換えた後、イネーブル信号に
該当するＩ／Ｏアドレスのデータを書換える。コンピュ
ータ２２はメモリ回路のイネーブル信号に該当するＩ／
Ｏアドレスのデータが変更したことを読込む。そして、
コンピュータ２２は、データ転送中又は書込み中におけ
る異常発生の有無を示すエラー信号のＩ／Ｏアドレスを
読込んで異常無しを確認し、プロセスエンド信号に相当
するＩ／Ｏアドレスにデータ×０_H を書込んでコンピュ
ータ２２がバンクメモリ５１ｂをアクセスしていること
を制御回路５３に伝えた後、イネーブル信号をクリアす
る。

【００７９】さらに、コンピュータ２２は、次の１スト
リップ分の走査領域を走査してデータ収集のＧＰＩＢコ
マンドを本体制御部２４のＣＰＵ３３へ発行し、収集し
たデータがアクセスできる状態になることを確認するた
めに、メモリ回路のイネーブル信号に該当するＩ／Ｏア
ドレスのデータを繰返しアクセス（ボーリング状態）し
ながら、バンクメモリ５１ｂ（５１ａ）に転送されたデ
ータをアクセスして清算処理を行う。

【００８０】次に、第２の状態、すなわち、次のストリ
ップの走査が終了した時には最初の１ストリップ分のデ
ータ処理をコンピュータ２２が既に終了している状態に
なるとき、コンピュータ２２はデータ処理を終了したら
直ちにメモリ回路のプロセスエンド信号に相当するＩ／
Ｏアドレスにデータ×１_H を書込んでコンピュータ２２
がバンクメモリにアクセスしないことをメモリ回路の制
御回路５３へ伝達する。

【００８１】このとき、メモリ回路の制御回路５３はＤ
ＳＰ２８からデータエンド信号が送られてくるまで待ち
状態になり、コンピュータ２２へイネーブル信号を送出
しないので、コンピュータ２２は本体側の走査処理が終
了するまで待ち状態となる。本体側が次のストリップ分
の走査領域を走査し終わったら、ＤＳＰ２８はメモリ回
路の制御回路５３へデータ転送が終了したことを示すデ
ータエンド信号を送出する。このデータエンド信号を受
領したメモリ回路の制御回路５３は、走査データの記憶
されたバンクメモリ５１ｂ（５１ａ）をコンピュータ２
２がアクセスできる状態に切換えた後、イネーブル信号
に該当するＩ／Ｏアドレスのデータを書換える。

【００８２】コンピュータ２２は、メモリ回路のイネー
ブル信号に該当するＩ／Ｏアドレスのデータが変更した
ことを読込み、データ転送中又は書込中における異常発
生の有無を示すエラー信号のＩ／Ｏアドレスを読込んで
異常無しを確認し、プロセスエンド信号に相当するＩ／
Ｏアドレスにデータ×０_H を書込んでコンピュータ２２
がバンクメモリ５１ｂ（５１ａ）をアクセスしているこ
とを制御回路５３に伝えた後、イネーブル信号をクリア
する。

【００８３】そして、コンピュータ２２は、次の１スト
リップ分の走査領域を走査してデータを収集するＧＰＩ
Ｂコマンドを本体制御部２４のＣＰＵ３３へ送出し、収
集したデータがアクセスできる状態に移行することを確
認するために、メモリ回路のイネーブル信号に該当する
Ｉ／Ｏアドレスのデータを繰返しアクセス（ボーリング
状態）しながら、バンクメモリ５１ｂ（５１ａ）に転送
されているデータをアクセスして清算処理を行う。

【００８４】このように、第１，第１のいずれの状態で
も本体側の走査処理とコンピュータ２２のデータ処理と
のいずれか遅い方を一方が待ちながら、予め設定した標
本７上の走査領域を一つ一つのストリップ単位毎に走査
しデータ処理を行っていくことができる。よって、測定
装置全体の処理能率を大幅に向上できる。

【００８５】さらに、このように構成された走査型光学
測定装置においては、前述したように、走査線一本当た
りの画素の数の設定が可変であるので、一つ一つのスト
リップ単位ごとの装置の走査時間とコンピュータのデー
タ処理時間とのバランスをとることができ、待ち時間の
ない状態に設定できる。すなわち、本発明の走査型光学
測定装置を細胞計測システムとして使用した場合におい
て測定効率を最大化し最高速化できる。

【００８６】また、待ち時間のない状態では、二つのバ
ンクメモリ５１ａ．５１ｂが走査測光データ書込用とコ
ンピュータデータ処理用とに交互に切り替わることで、
走査測光データの転送とコンピュータによるデータ処理
とを同時に行うことができる。

【００８７】また、走査測光データを記憶したメモリを
コンピュータ２２が直接アクセスできるため、走査画像
の内の細胞およびその近傍だけを処理し、細胞のない部
分は処理を大幅に省略することができる。

【００８８】また、初期化状態および最後に走査された
データをコンピュータ２２が処理終了し、メモリ回路の
プロセスエンド信号に相当するＩ／Ｏアドレスにデータ
×１ｈを書き込んだ後、ＤＳＰ２８からのデータ転送が
なければ（データエンド信号が来るまで）、２つのバン
クメモリ５１ａ，５１ｂはいずれもコンピュータ２２か
らアクセスできる状態にはない。

【００８９】すなわち、コンピュータ２２から見れば図
４の［0000000 ］_H から［0FFFFFF］_H まで全アドレス
領域のうち前記バンクメモリ５１ａ，５１ｂ該当するア
ドレス領域が一時的に未使用状態になり、たとえコンピ
ュータ２２内の拡張スロットにメモリボード４８ａ，４
８ｂが実装されていても、必要に応じてこの未使用状態
のアドレス領域を他の用途に使用することが可能とな
る。

【００９０】なお、以上の動作説明においては、４つの
検出信号のうち１チャンネル分の信号処理について説明
したが、装置の電気系ハードウェアはチャンネル１から
４までの各チャンネル毎に同一のものを装備しており、
また、Ｉ／Ｏアドレスとデータアドレスを各チャンネル
毎に互いに重複しないよう設定しているので、４チャン
ネルまでの複数パラメータ測定を実行できることは言う
までもない。

【００９１】また、前述したように、各チャンネル毎の
メモリ回路をコンピュータのアドレスアクセスから切離
すことができるので、４チャンネル分のメモリーボード
４８ａ，４８ｂを実装していても、実際に使用するチャ
ンネルだけをコンピュータアクセスさせて使用すること
ができる。

【００９２】

【発明の効果】以上説明したように本発明の走査型光学
測定装置においては、各光検出器で検出されたデータを
直接画像処理用のコンピュータに転送しなくて、一旦メ
モリボードに記憶保持している。さらに、メモリボード
上の形成避されたメモリ回路を一対のバンクメモリで構
成している。したがって、コンピュータは必要なデータ
のみを取込んで処理でき、細胞集団等の測定を効率的に
かつ高速に実施することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施例に係わる走査型光学測定装
置の機械的及び光学的構成を示す模式図

【図２】 同実施例装置の電気的構成を示すブロック図

【図３】 同実施例装置のコンピュータに装着されるメ
モリボードの概略構成を示すブロック図

【図４】 同実施例装置のコンピュータにおけるアドレ
ス領域を示す模式図

【符号の説明】

１…レーザ光源、２…ダイクロックミラー、３…ガルバ
ノミラー、４…瞳東栄レンズ、５…光路切換ミラー、６
…対物レンズ、７…標本、８…コンデンサレンズ、９…
ビームスプリッタ、１０…リングスリット、１１…フォ
トダイオード、１２…透過照明光源、１３…バリアフィ
ルタ、１４…集光レンス、１５，１５ａ〜１５ｃ…光電
子増倍管，１６…顕微鏡観察光学系、１７…走査テーブ
ル、１８…スポット投影レンズ、１９…落射照明光源、
２０ａ〜２０ｄ…信号処理入回路、２２…コンピュー
タ、２３…走査制御回路、２４…本体制御部、２５…ヘ
ッドアンプ、２６…アナログ積分器、２７…Ａ／Ｄ変換
器、２８…ＤＳＰ（デジタル・シグナル・プロセッ
サ）、３３…ＣＰＵ、４８ａ，４８ｂ…メモリボード、
４９…コネクタ、５０…１６ビットＩＳＡプラットホー
ム、５１ａ，５１ｂ…バンクメモリ、５２…Ｉ／Ｏ、５
３…制御回路、５４…書込アドレスカウンタ、５５ａ，
５５ｂ…ゲートバッファ、５６…バンク切換回路、５７
…ＭＰＸ（マルチプレクサ）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 リー・ディー・カメントスキー アメリカ合衆国、マサチューセッツ州 02174、アーリントン、ドッジ・ストリー ト 32

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 標本上を光ビームで二次元走査し、標本
   からの透過光、反射光、散乱光及び蛍光等の複数の検出
   光のうち少なくとも一つの検出光又は任意の組合せ検出
   光を検出し、走査画像データ及びこの走査画像を画像処
   理した処理デーのうちの少なくとも一つのデータを作成
   する走査型光学測定装置において、 前記標本からの各検出光を光電変換する複数の光検出器
   と、 この各光検出器からの光電信号をＡ／Ｄ変換する複数の
   Ａ／Ｄ変換器と、 前記各光検出器毎にそれぞれ一対のバンクメモリを有し
   たメモリ回路が形成されたメモリボードと、 前記各Ａ／Ｄ変換器にてＡ／Ｄ変換された各光電信号の
   各デジタルデータを前記メモリボードへ転送するデータ
   転送手段と、 前記メモリボードが実装される拡張スロット及び前記メ
   モリボードの各メモリ回路に記憶された各デジタルデー
   タを読出すデータ読出手段を有し、このデータ読出手段
   にて読出したデータに基づいて前記走査画像データ及び
   処理データを作成するコンピュータと、 前記一対のバンクメモリを、一つの期間内において前記
   データ転送手段からのデータを一方のバンクメモリに書
   込可能状態に制御するとともに他方のバンクメモリに記
   憶されたデータを前記データ読出手段における読出可能
   状態に制御し、次の期間内において前記一方のバンクメ
   モリに記憶されたデータを前記データ読出手段における
   読出可能状態に制御するとともにデータ転送手段からの
   データを前記他方のバンクメモリに書込み可能状態に制
   御するバンクメモリ切換手段とを備えた走査型光学測定
   装置。
2. 【請求項２】 前記メモリボード上に形成された前記一
   対のバンクメモリは、前記コンピュータからの制御信号
   に従って、前記コンピュータのメモリアクセス領域から
   切離されることを特徴とする請求項１記載の走査型光学
   測定装置。
3. 【請求項３】 １枚のメモリボード上に前記各光検出器
   に対応する複数のメモリ回路が実装されることを特徴と
   する請求項１記載の走査型光学測定装置。
4. 【請求項４】 前記走査手段における走査線一本当りの
   画素数の設定が可変であることを特徴とする請求項１記
   載の走査型光学測定装置。
5. 【請求項５】 前記走査手段は、光学的偏向手段によっ
   て光ビームを主走査方向に１次元走査し、この走査方向
   と直交する副走査方向に前記標本を物理的又は機械的に
   移動させて標本上を光ビームで二次元走査することを特
   徴とする請求項１記載の走査型光学測定装置。
6. 【請求項６】 前記標本は細胞集団であり、個々の細胞
   が単独又は複数の蛍光標識で生化学的に標識されてお
   り、光学的ビームで励起された各蛍光標識からの蛍光を
   各細胞毎に同時測定することを特徴とする請求項１記載
   の走査型光学測定装置。