JPH0811051A - 研磨布 - Google Patents

研磨布

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JPH0811051A
JPH0811051A JP14622094A JP14622094A JPH0811051A JP H0811051 A JPH0811051 A JP H0811051A JP 14622094 A JP14622094 A JP 14622094A JP 14622094 A JP14622094 A JP 14622094A JP H0811051 A JPH0811051 A JP H0811051A
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JP
Japan
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polishing
polishing cloth
groove
polished
cloth
Prior art date
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JP14622094A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Sato
弘 佐藤
Takashi Nagano
隆史 永野
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/11Lapping tools
    • B24B37/20Lapping pads for working plane surfaces
    • B24B37/26Lapping pads for working plane surfaces characterised by the shape of the lapping pad surface, e.g. grooved

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 研磨したい部分に研磨液を保持でき、これに
より研磨を均一に達成でき、品質のバラツキの抑制や研
磨歩留りの向上を図り、かつ研磨液も効率良く使用でき
てコストダウンが可能であり、かつ容易な構造で実現で
きる有利な研磨布を提供する。 【構成】 半導体基板等の被研磨材を、研磨剤を用いて
研磨する研磨布1であって、研磨布の研磨表面に溝2を
形成し、該溝は、研磨布表面の中心部から外周部へ向
い、かつ、研磨部分が、研磨の回転方向に対して、研磨
布の中心から外周を結んだ直線より後位置になる構成に
するなどのことにより、研磨状態において研磨剤が研磨
部分に滞溜しやすい構造で形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、研磨布(研磨クロス)
に関する。本発明は、各種研磨技術において用いる改良
した研磨布を提供するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、研磨技術において、図10に略示
するように、研磨定盤3に研磨布1を設置し、この研磨
布の上面において上定盤4に保持された被研磨材5(半
導体ウェーハ等)の被研磨面を研磨することが行われて
いる。被研磨材5は研磨布1に対して相対的に移動し
て、その被研磨面の研磨を行う。
【0003】従来の研磨布(研磨クロス)の構造として
は、研磨面に溝や孔の無いもの、あるいは溝もしくは孔
が形成されている構造のものとしては、溝の場合は図8
に示すような碁盤目状に溝をつけたものか、孔の場合は
図9に示すような全面に等間隔に孔を付けたものが知ら
れている。
【0004】従って溝の場合は、溝が直線的に外周迄つ
ながっているため、中心部に供給された研磨液は定盤回
転の遠心力で外周に向かって容易に流れ去り、よって研
磨したい部分に液を保持することができなかった。
【0005】また孔の場合は、孔には一時的に研磨液が
保持されるが、それ以外は溝や孔の無いクロスと同じで
ある。そのために、やはり研磨したい被研磨部分に液を
保持することができなかった。
【0006】更に研磨液の利用率も極めて悪く、大半は
系外へ廃棄されるものであった。
【0007】
【発明の目的】本発明は上記従来技術の問題点を解決し
て、研磨したい部分に研磨液を保持でき、これにより研
磨を均一に達成でき、品質のバラツキの抑制や研磨歩留
りの向上を図り、かつ研磨液も効率良く使用できてコス
トダウンが可能であり、かつ容易な構造で実現できる有
利な研磨布を提供することを目的とする。
【0008】
【目的を達成するための手段】本出願の請求項1の発明
は、被研磨材を、研磨剤を用いて研磨する研磨布であっ
て、研磨布の研磨表面に溝を形成し、該溝は研磨状態に
おいて研磨剤が研磨部分に滞溜しやすい構造で形成した
ものであることを特徴とする研磨布であって、これによ
り上記目的を達成するものである。
【0009】本出願の請求項2の発明は、前記研磨布が
被研磨材に対して相対的に回転するものであり、前記溝
は、研磨布表面の中心部から外周部へ向い、かつ、研磨
部分が、前記回転方向に対して、研磨布の中心から外周
を結んだ直線より後位置になる構成にしたことを特徴と
する請求項1に記載の研磨布であって、これにより上記
目的を達成するものである。
【0010】本出願の請求項3の発明は、前記溝は、そ
の上面構造が、半円形、V字形、または台形であること
を特徴とする請求項1または2に記載の研磨布であっ
て、これにより上記目的を達成するものである。
【0011】本出願の請求項4の発明は、前記溝は、そ
の断面構造が、半円形、V字形、またはU字形であるこ
とを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の研
磨布であって、これにより上記目的を達成するものであ
る。
【0012】本出願の請求項5の発明は、前記溝が蛇行
状をなす構造で形成したものあることを特徴とする請求
項1ないし4のいずれかに記載の研磨布であって、これ
により上記目的を達成するものである。
【0013】本出願の請求項6の発明は、前記溝が被研
磨材との間で隘路をなすものであることを特徴とする請
求項1ないし5のいずれかに記載の研磨布であって、こ
れにより上記目的を達成するものである。
【0014】本出願の請求項7の発明は、前記隘路が、
突起により形成されたものであることを特徴とする請求
項6に記載の研磨布であって、これにより上記目的を達
成するものである。
【0015】本出願の請求項8の発明は、前記突起が、
研磨布の外周またはその付近に設けたものであることを
特徴とする請求項7に記載の研磨布であって、これによ
り上記目的を達成するものである。
【0016】
【作用】本発明によれば、研磨布の研磨表面に溝を形成
し、該溝は蛇行状にしたり隘路を設けたり、回転方向よ
り後位置に形成すること等によって研磨状態において研
磨剤が研磨部分に滞留しやすい構造で形成したものであ
るので、研磨したい部分に研磨液を保持できる。従って
これにより、研磨を均一に達成でき、品質のバラツキの
抑制や研磨歩留りの向上を図ることができる。かつ研磨
液も効率良く使用できて、コストダウンが可能である。
また本発明は、従来装置の簡単な改良などにより容易な
構造で実現できる。
【0017】
【実施例】以下本発明の実施例について、図面を参照し
て説明する。但し当然のことではあるが、本発明は図示
の実施例により限定を受けるものではない。
【0018】実施例1 この実施例は、本発明を半導体ウェーハを研磨液を用い
て研磨する場合に適用したものである。本実施例の構造
を、図1に平面図で示し、図2に断面図で示す。
【0019】この実施例は、図1に示すように、研磨布
1が被研磨材に対して相対的に回転するものであり、前
記溝2が研磨布1の表面の中心部から外周部へ向い、か
つ、研磨部分が、前記回転方向Rに対して、研磨布1の
中心から外周を結んだ直線より後位置になる構成になっ
ている。
【0020】この溝2の回転方向に対する関係を、図3
を参照して説明すると、次のとおりである。
【0021】図3中、符号2a,2b,2cで、溝を代
表して示す。溝2a,2b,2cは、研磨を行う部分に
おいて、研磨布1の中心から外周を結んだ直線6より回
転方向Rに対して後位置、即ち溝2a,2bでは図の下
側、溝2cでは図の右側に来る構成になっている。
【0022】溝は、図に示す中心部分の点をA点、周上
の点をB点として、その半径が(AB)/2から(A
B)の範囲の円弧をなすように構成するのがよい。図3
中、溝2aは半径が(AB)/2の弧であり、溝2bは
半径が(AB)の弧であり、溝3cはこの間に位置する
弧をなしている。なお(AB)は、AB間の距離であ
る。
【0023】本実施例では、上記の構造により、表面溝
を形成した研磨用布(研磨クロス)が、研磨液が研磨部
分に集まり易く、かつ逃げにくいクロス構造になってい
る。
【0024】この結果、被研磨材(ここでは半導体基
板)を研磨する場合、従来技術で問題であった研磨面へ
の研磨液の供給性と保持性が改善される。研磨液の節減
にもなる。
【0025】更に詳細に本実施例を説明する。図1は、
この実施例の構成を示す平面図、図2は断面図であっ
て、1は研磨布(研磨クロス)、2はクロス面の溝、3
は回転定盤を示す。
【0026】研磨方法は通常行われているミラーポリッ
シュ方法と同じである。
【0027】前記説明した図10の如く、保持具にセッ
トされた基板を被研磨材5として、研磨布1(クロス)
表面に押し当て、共に回転させる。クロス中心部より研
磨液が供給されて研磨が行われる。
【0028】本実施例においては、クロス表面の中心部
から外周部へ繋がる溝2において、該研磨部分が研磨定
盤の回転方向Rに対して、定盤3の中心から外周を結ん
だ直線より後位置になるように配設して構成した。
【0029】これによって、基板を研磨するとき、研磨
液が研磨面に効果的に供給及び保持されるようにして、
研磨レートの面無い均一性の向上を図った。
【0030】前記したように、溝2の半径を(AB)/
2〜(AB)とし、回転方向に対しAB点を結んだ線よ
り後方に位置する構成とするが、更に具体的には、本実
施例では、研磨用クロス表面に、例えば図1のような定
盤半径の約1/2の半径を持ち、定盤の中心と外周を結
んだ点を起点・終点とした半円弧の溝をクロス表面に作
る。半円弧の中心は定盤の回転方向に対して、両点より
後位置になるような方向に作る。
【0031】また上面から見た溝の形状は、前記の半円
形(弧状)に限定されるものではなく、V字形をなして
いてもよい。台形等を用いることもできる。
【0032】一方溝の断面形状についても、図2、図4
(a)のようなV字形に限定されるものではなく、図4
(b)のようなU字形等を用いることもできる。
【0033】なお、回転数(周速)によって、円弧の半
径を変えて設計することができる。
【0034】このような溝形状及び溝の断面形状の研磨
クロスを用いると、従来のクロスで問題となっていた研
磨液の研磨面への供給不足による研磨むらを防止できる
ため、面内均一性の良い研磨ができる。
【0035】この構成のもう一つの利点は、研磨液の利
用効率が良く、研磨液節減も可能であることである。即
ち、回転する研磨クロス上に中心部より研磨液を供給す
ると、遠心力により外周へ向かって素早く流れ去るた
め、大量の研磨液を常時供給する必要があり、研磨液の
有効利用率が極めて低かった。
【0036】しかし本実施例によれば、これが前記の溝
の効果により、研磨液が研磨面へ供給され易く、しかも
研磨面付近に保持される(集まり易い)ため、研磨液の
有効利用率が高まる。
【0037】従って研磨液の供給量が少なくて済むよう
になり、研磨液の消費量を大幅に節減することができ
る。
【0038】本実施例によれば、次のような具体的効果
がもたらされる。 研磨レートの面内均一性が向上する。 研磨液の節減によるコストダウンができる。 品質のバラツキが減少する。 研磨歩留りが向上する。 通常の研磨装置に応用できる。
【0039】実施例2 この実施例は、図5に示すように、溝2が蛇行状をなす
構造で形成したものである。溝は、曲線状の溝2Aで
も、直線状の溝2Bでもよい。
【0040】実施例3 この実施例は、図6に示すように、溝2Cが被研磨材と
の間で、溝の流路を平面上でせばめられることにより隘
路2Dをなすものであり、特にこの隘路2Dは研磨布の
外周またはその付近に設けたものである。
【0041】実施例4 この実施例は、図7に示すように、溝2が被研磨材5と
の間で隘路2Dをなし、この隘路2Dが、突起2Eによ
り形成されたものである。この突起2Eは、研磨布の外
周またはその付近に設けたものである。
【0042】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
研磨したい部分に研磨液を保持でき、これにより研磨を
均一に達成でき、品質のバラツキの抑制や研磨歩留りの
向上を図り、かつ研磨液も効率良く使用できてコストダ
ウンが可能であり、かつ容易な構造で実現できる有利な
研磨布を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1の構成を示す平面図である。
【図2】実施例1の構成を示す断面図である。
【図3】実施例1の溝の構成の説明図である。
【図4】溝の形状例を示す断面図である。
【図5】実施例2の説明図である。
【図6】実施例3の説明図である。
【図7】実施例4の説明図である。
【図8】従来技術を示す。
【図9】従来技術を示す。
【図10】従来技術を示す。
【符号の説明】
1 研磨布 2 溝 2a〜2c 溝 2A〜2C 溝 2D 隘路 2E 突起 3 定盤

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被研磨材を、研磨剤を用いて研磨する研磨
    布であって、 研磨布の研磨表面に溝を形成し、該溝は研磨状態におい
    て研磨剤が研磨部分に滞溜しやすい構造で形成したもの
    であることを特徴とする研磨布。
  2. 【請求項2】前記研磨布が被研磨材に対して相対的に回
    転するものであり、前記溝は、研磨布表面の中心部から
    外周部へ向い、かつ、研磨部分が、前記回転方向に対し
    て、研磨布の中心から外周を結んだ直線より後位置にな
    る構成にしたことを特徴とする請求項1に記載の研磨
    布。
  3. 【請求項3】前記溝は、その上面構造が、半円形、V字
    形、または台形であることを特徴とする請求項1または
    2に記載の研磨布。
  4. 【請求項4】前記溝は、その断面構造が、半円形、V字
    形、またはU字形であることを特徴とする請求項1ない
    し3のいずれかに記載の研磨布。
  5. 【請求項5】前記溝が蛇行状をなす構造で形成したもの
    あることを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記
    載の研磨布。
  6. 【請求項6】前記溝が被研磨材との間で隘路をなすもの
    であることを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに
    記載の研磨布。
  7. 【請求項7】前記隘路が、突起により形成されたもので
    あることを特徴とする請求項6に記載の研磨布。
  8. 【請求項8】前記突起が、研磨布の外周またはその付近
    に設けたものであることを特徴とする請求項7に記載の
    研磨布。
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