JPH08101238A - プリント配線板 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プリント配線板にあって、基板上のパターン
の特性インピーダンスを正確に測定することができるよ
うにする。 【構成】 基板１上に特性インピーダンスの測定対象と
なるパターン２が形成されており、このパターン２の終
端部とアースの間の基板上にに平板状の印刷抵抗６を形
成する。この印刷抵抗６を測定時に特性インピーダンス
に合わせて削ることにより、抵抗値を調整することもで
きる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板にあっ
て、その配線パターンにおける特性インピーダンスを、
終端抵抗を接続した状態で測定が行えるようにするプリ
ント配線板に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】入、出力端子を備えたプリント配線板に
おいて、その周波数が高い場合、基板内の入、出力端子
から基板上の回路までの比較的短い配線パターンでさえ
も、特性インピーダンスが問題になる場合がある。この
ような場合、プリント配線板上にエッチング処理で形成
した配線パターンに任意の特性インピーダンスを持たせ
るマイクロ・ストリップ・ラインが用いられる。

【０００３】その構成例は、例えばＣＱ出版株式会社発
行、鈴木雅臣著「新・低周波／高周波回路設計マニュア
ル」２７９〜２８１頁に見ることができ、両面プリント
基板の片面をグランドプレーンとして用い、他面に一定
幅の配線パターンを入、出力信号線としてエッチングす
ることにより、所望の特性インピーダンスを得ることが
できる。

【０００４】このようなマイクロ・ストリップ・ライン
（または、これに類するもの）にあって、その特性イン
ピーダンスを測定する場合、マイクロ・ストリップ・ラ
インを形成するパターンの終端は、一般にオープンの状
態で行われている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たように、パターンの終端をオープンにして測定が行わ
れているため、特性インピーダンスの測定波形が乱れ、
正確なインピーダンス測定を行えないという問題があ
る。

【０００６】この問題を解決するには、特性インピーダ
ンスと同等の抵抗をパターンの終端に接続すればよい
が、この為には測定時に抵抗を半田付けせねばならず、
測定に際して予め抵抗を用意しておく必要があると共
に、作業が煩わしいという不便さがある。

【０００７】本発明は、基板上のパターンの特性インピ
ーダンスを正確に測定することのできるプリント配線板
を提供することを目的にしている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明は、特性インピーダンスの測定対象とな
るパターンが形成されているプリント配線板において、
前記パターンの終端部とアースの間の基板上に印刷抵抗
を設けるようにしている。

【０００９】前記パターンがストリップであるとき、こ
のストリップと前記印刷抵抗との接続をスルーホールを
介して行えば、ストリップに対しても本発明を適用可能
である。

【００１０】更に、抵抗値を変更できる様に、前記印刷
抵抗は削り取りが可能なように配設することが望まし
い。

【００１１】

【作用】上記した手段によれば、プリント配線板の完成
時点で印刷抵抗が形成されており、測定時に終端抵抗を
半田付けなどによって取り付ける必要はなく、測定器を
接続するのみで直ちに特性インピーダンスの測定を開始
することができると共に、終端抵抗が接続されているた
めに反射波が低減され、特性インピーダンスを正確に測
定することができる。

【００１２】パターンの種類によっては、パターンの途
中に印刷抵抗を形成できない場合がある。このような場
合、特性インピーダンスの測定対象のパターンに対し別
のパターンを接続し、その途中に印刷抵抗を設ければよ
い。この様な構成により、測定対象のパターンがストリ
ップであっても本発明を適用することができる。

【００１３】更に、印刷抵抗の周辺を削るなどして抵抗
値を変更することにより、特性インピーダンスを最適値
に合わせることが可能になる。

【００１４】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。

【００１５】〔実施例１〕図１は本発明によるプリント
配線板の一実施例を示す斜視図である。

【００１６】裏面全域にアースパターンが設けられてい
る基板１上には、特性インピーダンスの測定対象となる
所定長のパターン（マイクロストリップ）２が形成され
ており、その一端には信号接続用スルーホール３（アー
スパターンには非接続）が形成され、この信号接続用ス
ルーホール３の両脇には上記アースパターンに接続され
たアース接続用スルーホール４ａ，４ｂが設けられてい
る。

【００１７】更に、パターン２の他端（終端でもある）
には抵抗接続用スルーホール５（アースパターンに接
続）が設けられている。この抵抗接続用スルーホール５
の近傍のパターン２の途中には、所望の特性インピーダ
ンスよりやや小さい値の印刷抵抗６がプリント配線技術
によって基板表面に形成されている。この終端抵抗は印
刷抵抗であるため、高周波特性にも優れている。このよ
うに、印刷抵抗６はパターン２の終端とアース間に接続
されたことになる。

【００１８】以上の構成において、パターン２の特性イ
ンピーダンスを測定しようとする場合、信号接続用スル
ーホール３及びアース接続用スルーホール４ａ，４ｂと
測定装置の測定端子間を同軸ケーブルで接続し、測定が
行われる。このとき、ＴＤＲ（Time Domain Refrectio
n：時間領域反射）を見ながら、印刷抵抗６の一部をナ
イフ等で削り取れば、印刷抵抗６を任意の抵抗値にする
ことができる。このような印刷抵抗６を設けたことによ
り、測定時の抵抗の後付けを不要にし、パターン２のイ
ンピーダンス測定時の反射を抑えることができ、特性イ
ンピーダンスの測定を正確に行うことができる。

【００１９】〔実施例２〕図２は本発明によるプリント
配線板の他の実施例を示す斜視図である。なお、図２に
おいては、図１に示したと同一であるものには、同一引
用数字を用いたので、以下においては重複する説明を省
略する。

【００２０】本実施例においては、ストリップ（基板に
埋設された状態に形成されたパターン）構造のパターン
７の一端に信号接続用スルーホール３を設けて接続する
と共に、上記パターン７の他端に信号接続用スルーホー
ル８を設けて接続し、この信号接続用スルーホール８と
抵抗接続用スルーホール５を結ぶ様にパターン９が設け
られ、このパターン９の途中に印刷抵抗６が設けられて
いる。この実施例においても、印刷抵抗６は特性インピ
ーダンスよりやや小さい値に設定される。

【００２１】この実施例では、印刷抵抗６のホットエン
ド側に信号接続用スルーホール８を設けたことにより、
ストリップ構造のパターンであっても印刷抵抗６による
終端処理が可能になる。この場合の特性インピーダンス
の測定法は、上記第１実施例と全く同じであり、ＴＲＤ
を見ながら印刷抵抗６の一部をナイフ等で削りながらパ
ターン７の所望の特性インピーダンスに抵抗値を合わせ
ればよい。

【００２２】なお、上記実施例においては、特性インピ
ーダンスの測定対象が、マイクロストリップまたはスト
リップであるとしたが、プリント基板上に形成されるあ
らゆるパターンについて対象可能である。

【００２３】

【発明の効果】以上説明した通り、この発明は、特性イ
ンピーダンスの測定対象となるパターンが形成されてい
るプリント配線板において、前記パターンの終端部とア
ースの間の基板上に印刷抵抗を設けるようにしたので、
特性インピーダンスを正確に測定することが可能にな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるプリント配線板の一実施例を示す
斜視図である。

【図２】本発明によるプリント配線板の他の実施例を示
す斜視図である。

【符号の説明】

１ 基板 ２ パターン ５ 抵抗接続用スルーホール ６ 印刷抵抗 ７ ストリップ構造のパターン ８ 信号接続用スルーホール

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 特性インピーダンスの測定対象となるパ
   ターンが形成されているプリント配線板において、 前記パターンの終端部とアースの間の基板上に印刷抵抗
   を設けたことを特徴とするプリント配線板。
2. 【請求項２】 前記パターンがストリップであるとき、
   該ストリップと前記印刷抵抗との接続をスルーホールを
   介して行うことを特徴とする請求項１記載のプリント配
   線板。
3. 【請求項３】 前記印刷抵抗は、削り取りが可能に配設
   することを特徴とする請求項１または２記載のプリント
   配線板。