JPH0796365A - リフローはんだ付け装置 - Google Patents

リフローはんだ付け装置

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JPH0796365A
JPH0796365A JP24107293A JP24107293A JPH0796365A JP H0796365 A JPH0796365 A JP H0796365A JP 24107293 A JP24107293 A JP 24107293A JP 24107293 A JP24107293 A JP 24107293A JP H0796365 A JPH0796365 A JP H0796365A
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JP
Japan
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chamber
resistor
gas
reflow
solder
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JP24107293A
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English (en)
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Masabumi Wada
正文 和田
Haruo Sankai
春夫 三階
Satoshi Hachiman
聡 八幡
Mitsuo Fukuda
光男 福田
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Hitachi Plant Technologies Ltd
Original Assignee
Hitachi Techno Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 被処理物のはんだ付けを連続して行なっても
装置外部への不活性ガスの流出量を少なくし、ガス濃度
やガス温度の変動を少なくすることができ、良好なはん
だ付け性を得ることができるリフローはんんだ付け装置
を提供する。 【構成】 はんだを塗布した回路基板に電子部品を装着
してなる被処理物43をコンベア44により予熱室1,
2およびリフロー室4に搬送し、これら両室通過中に被
処理物43に所望の濃度の熱ガスを吹き付けて予熱およ
び本加熱を行い、前記はんだを溶融させ前記電子部品を
前記回路基板にはんだ付けする装置において、搬入側シ
ール室6の入口部および搬出側シール室7の出口部に設
置したガスの流れを妨げる羽根ブラシ状の抵抗体70に
よって、装置からのガス流出量およびガス流出量の変化
を少なくするようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、所望の濃度および温度
の各種不活性ガスを吹き付けて回路基板上に電子部品を
はんだ付けするリフローはんだ付け装置に係り、特に、
不活性ガス流出量を小さくし、不活性ガスの濃度および
温度の変動を少なくすることができ、良好なはんだ付け
性を得ることができるリフローはんだ付け装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】近年、実装基板の高密度化、表面実装化
が進み、電子部品を回路基板にはんだ付けするに当たっ
て、はんだ付けの信頼性や生産性の観点からリフロー法
が広く用いられるようになってきた。はんだ付けに用い
られるはんだペーストは、はんだ粒子が微細化し、フラ
ックス中の固形物が少なくなっている。はんだペースト
がこのようになると、従来の空気を用いたリフロー法に
より回路基板をはんだ付けすると、はんだ粒子の酸化や
活性剤の不足にともなうはんだボール、濡れ不良が多発
する。
【0003】そこで、空気に替えて窒素などの不活性ガ
スを用いるリフロー法が採用されるに至った。その代表
的なリフローはんだ付け装置は、一般に以下の構成より
なる。はんだを塗布した回路基板に電子部品を装着して
なる被処理物を、予備加熱を行う予熱領域(予熱室)お
よび予備加熱後の被処理物を所望の濃度の熱ガスを吹き
付けて前記はんだを溶融させる本加熱領域(リフロー
室)、前記はんだを固化させる冷却域(冷却室)から構
成される。
【0004】本加熱領域(リフロー室)には、不活性ガ
ス濃度を一定に保つため不活性ガスが常時供給されてい
る。また、本加熱領域(リフロー室)は不活性ガスで満
たされ外気より僅かに高い圧力となる。しかして、本装
置においては、各室の圧力差に基づいて装置の出口およ
び入口に向かうガス流が発生する。このような装置で
は、はんだ付け性能を安定させるため、各室における不
活性ガス濃度および温度を一定に保つ必要がある。した
がって、装置から流出する不活性ガス量を少なくする必
要がある。
【0005】図7は、従来のリフローはんだ付け装置の
構成を示す略示断面図である。従来は、図7に示す装置
110のように、出口部分および入口部分に開閉機構と
してシャッタ111,112を設けた例が知られてい
た。図7に示すリフローはんだ付け装置は、はんだを塗
布した回路基板に電子部品105を装着してなる被処理
物104に対して予備加熱を行う予熱領域100、予備
加熱後の被処理物104を所望の濃度の熱ガスを吹き付
けて前記はんだを溶融させる本加熱領域101、前記は
んだを固化させる冷却域102から構成されている。
【0006】被処理物104はコンベア103にて装置
110内に搬送され、装置110内には、不活性ガス濃
度を一定に保つため不活性ガスとして窒素ガスNが常時
供給されている。窒素ガスNは、窒素ボンベ106から
ガス供給口119を経て装置内に供給され、ヒータ11
7により所望の温度に加熱され、送風機118により被
処理物104に吹き付ける。窒素ガスNの一部は、装置
110内から回収されコンデンサ107で溶剤成分を除
去され、窒素ガス供給手段108にて酸素ガスを分離し
たのち、再びガス供給ノズル109により装置内に供給
される。
【0007】シャッタ111,112は、被処理物10
4の搬送されるときのみ該当する側のシャッタを開閉
し、常時は閉めて置くことにより、装置110の入口,
出口からの不活性ガス流出量を抑えるものである。な
お、図7において、113,114は、入口部分におけ
る被処理物104の到着および搬入完了を検知するセン
サ、115,116は、出口部分における被処理物10
4の到着および搬出完了を検知するセンサである。
【0008】また、図7に示す装置110の入口部分お
よび出口部分のシャッタ111,112の代わりに、開
閉機構として、簡易的に暖簾状の弾性体を設けた例が知
られていた。このような従来装置としては、例えば、特
開平4−200862号公報記載のものが知られてい
る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】図7に示すように、装
置110の出入口部分にシャッタ111,112を設け
た場合は、被処理物104を連続的に搬送したときには
シャッタ111,112が開いたままとなり、したがっ
て、シャッタ111,112が無い場合と同様になる。
そのため、入口および出口から流出するガス量が増加
し、代って大気が流入し、装置110内部の不活性ガス
濃度や温度が変動するという問題があった。
【0010】一方、装置内部のガス濃度や温度を安定さ
せるためには、被処理物を内部の不活性ガス濃度や温度
が回復する時間を考慮した間隔で流す必要がある。この
ようにすると単位時間当りの処理量が低下する。そこ
で、この時間を短くするためには、多量の不活性ガスと
熱量の供給が必要となり経済的でなく、連続的に被処理
物を搬送するのには適さない。また、暖簾状の弾性体を
設けた従来例は、連続的に被処理物を搬送するのには適
当ではあるが、被処理物が入口を通過するときの抵抗が
大きく、特に、被処理物である回路基板上にはんだペー
ストのぬれ性で粘着している状態の電子部品をずらした
り倒したりする恐れがあった。
【0011】本発明は、上記従来技術の問題点を解決す
るためになされたもので、本発明の目的は、被処理物の
はんだ付けを連続して行なっても装置外部への不活性ガ
スの流出量は少なく、ガス濃度やガス温度の変動は少な
くて、良好なはんだ付け性を得ることができるリフロー
はんだ付け装置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係るリフローはんだ付け装置の構成は、は
んだを塗布した回路基板に電子部品を装着してなる被処
理物を、コンベアにて予熱室およびリフロー室を通過す
るように搬送し、前記予熱室通過中に被処理物の予熱を
予熱手段にて行い、前記リフロー室通過中に所定の濃度
の熱ガス雰囲気内にて予熱後の被処理物に本加熱を行な
って前記被処理物のはんだを溶融させ、前記リフロー室
に続く冷却室にてはんだを固化させて前記電子部品を前
記回路基板にはんだ付けするリフローはんだ付け装置に
おいて、前記リフローはんだ付け装置の出口および入口
の少なくとも一箇所に羽根ブラシ状の抵抗体を設け、こ
の抵抗体に回転軸を持たせ、前記コンベアの移動速度に
前記抵抗体外周部の移動速度が合うように回転駆動する
機構を設けたものである。
【0013】
【作用】上記技術的手段による働きは下記のとおりであ
る。予熱室あるいはリフロー室では、これら室内を所望
のガス濃度とするために常時ガスが供給されている。各
室へのガス供給量に応じて各室の内圧が定まり、内圧差
によりガス流が発生する。予熱室入口側のシール室入口
部と冷却室出口側のシール室出口部における抵抗体によ
り、常時装置の入口と出口は遮蔽されているので、装置
からの不活性ガスの流出は、抵抗体の微細な隙間から漏
れるガスのみとなるので少量となる。
【0014】すなわち、供給したガスに対する流出抵抗
が増加するために、内圧が前記抵抗体が無い場合に比べ
大きくなり、同じガス供給量でも高いガス濃度になり、
また各室のガス濃度差も小さくなる。したがって、常時
装置の入口と出口は遮蔽されているので、ガス濃度とガ
ス温度の変動を少なくすることができ、良好なはんだ付
け性を得ることができる。
【0015】また、装置入口および出口における抵抗体
は被処理物の通過に合わせ、被処理物が通過可能な形状
に変形し、前記コンベアの移動速度に合わせて回転する
ので被処理物の通過時における抵抗を小さくでき、被処
理物である回路基板上の電子部品をずらしたり倒したり
する恐れが少なく、電子部品を所望の位置にはんだ付け
することができる。
【0016】
【実施例】以下、本発明の各実施例を図1ないし図6を
参照して説明する。 〔実施例 1〕図1は、本発明の一実施例に係るリフロ
ーはんだ付け装置の構成を示す略示縦断面図、図2は、
図1のA−A矢視断面図、図3は、図1のB−B矢視断
面図、図4は、図1のリフローはんだ付け装置における
抵抗体の斜視図である。図1ないし図4において、符号
の添字a,bは、それぞれ各部品がコンベア44の上
側、下側にあることを示す。例えば、予熱室第一ゾーン
1における引用符号15aはコンベア44の上側に設け
られた赤外線ヒータ、15bはコンベア44の下側に設
けられた赤外線ヒータであり、総称する場合には添字
a,bを除き、例えば赤外線ヒータ15と称することに
する。
【0017】図1ないし図4に示すリフローはんだ付け
装置は、予熱第一ゾーン1、予熱第二ゾーン2、リフロ
ー室4、冷却室5、搬入側シール室6および搬出側シー
ル室7から構成されている。搬入側シール室6、予熱第
一ゾーン1、予熱第二ゾーン2、リフロー室4、冷却室
5、および搬出側シール室7を通して、被処理物43を
搬送するように、間隔幅を持たせて並行に一対のエンド
レスのチェーンコンベア(以下単にコンベアという)4
4が設けられており、駆動スプロケット46をモータ4
7で駆動して、被処理物43を、図1において左から右
へ搬送するようにコンベア44を駆動させる。
【0018】なお、45は、コンベア44のアイドラで
ある。コンベア44の間隔は、被処理物43の大きさに
合わせ、その幅を変更可能に構成されている。また、図
3に示すように、固定したレール38と移動する側のレ
ール39にそれぞれコンベア44が固定されている。
【0019】予熱第一ゾーン1には、赤外線ヒータ15
が装備されている。予熱第2ゾーン2およびリフロー室
4には、それぞれ貫流送風機16,30、不活性ガスを
加熱した熱ガス(以下単に熱ガスという)を吹き出す末
広ノズル17,31、および加熱ヒータ18,32から
なる熱ガス吹き付け手段としての熱ガス循環手段22,
36が装備されている。リフロー室4には、さらに赤外
線ヒータ37が設けられている。これらはコンベア44
の上下に対称的に配置されている。
【0020】冷却室5には、内部に冷却水を通しガスを
冷却する冷却チューブ40と、冷却したガスを吹き出す
貫流送風機33とが装備されている。所望のガス濃度に
するために不活性ガスは、リフロー室入口およびリフロ
ー室出口側の不活性ガス供給ノズル52からリフロー室
4に常時供給されている。不活性ガス供給ノズル52か
ら供給される不活性ガスは、コンベア44の下側で斜め
下方に吹き出される。これは、コンベア44上の被処理
物43に冷えた不活性ガスが直接当らないようにするた
めである。また、下流側の不活性ガス供給ノズルからは
上流に向けて、また上流側の不活性ガス供給ノズル52
からは下流に向けて不活性ガスが吹き出される。このた
め、リフロー室4内は最も高い不活性ガス濃度となる。
【0021】貫流送風機16,30の羽根車48(図2
に48aを示す)は、軸受49(図2に49aを示す)
に支持され、モータ50(図2に50aを示す)により
駆動される。貫流送風機16,30は、加熱ヒータ1
8,32側にガス吸込口があり、羽根車48で昇圧され
たガスは、末広ノズル17,31からコンベア44で搬
送されて来る被処理物43に向けて吹き出すようになっ
ている。
【0022】図1において、抵抗体10,11,12
a,13a,14aはラビリンス状のものであり、1
9,20,21はシャッタ状のもので、コンベア44面
の上側または下側に取り付けられ、各室境界部への熱ガ
スの流れを妨げるものである。図4に抵抗体70の外観
を示す。抵抗体70(図3に70a,70bを示す)
は、円筒形状のブラシ状のものである。この抵抗体70
は、抵抗体構成要素81(図4では81aを示す)を回
転軸80の軸方向にコンベアの最大間隔幅以上の幅を保
って放射状に隙間無く直線的に並べたものである。前記
抵抗体構成要素81は、耐熱性および摩擦による静電気
の発生を防止するための導電性があり、柔軟で形状の復
元性がある一定長さを持つ繊維状の形状をした樹脂から
なっている。
【0023】前記アイドラ45の軸からタイミングベル
ト74を介して駆動されるプーリ86と駆動ギア84、
およびアイドラギア85により、抵抗体70は、コンベ
ア44の移動速度と抵抗体70の外周の移動速度とが合
うように回転している。円筒形状の抵抗体70の各軸
は、軸受87,88により支持される。前記抵抗体70
は、搬入側シール室6および搬出側シール室7に取り付
けられ、被処理物43が通過するために必要な開口部を
遮蔽し、大気の侵入を防止し、外部への熱ガスの流出を
妨げるものである。また、抵抗体70の抵抗体構成要素
81は、被処理物43が通過する際、被処理物43によ
り通過にともない変形するようになっている。
【0024】次に、このようにして構成されたリフロー
はんだ付け装置の動作を、不活性ガス供給ノズル52か
ら供給されるガスを窒素ガスとして説明する。被処理物
43はコンベア44で搬送され、予熱第一ゾーン1にお
いてコンベア44の上下に設けられた赤外線ヒータ15
の輻射熱で加熱昇温される。予熱第二ゾーン2では、窒
素ガスが加熱ヒータ18により予熱に適した温度に加熱
され、貫流送風機16に吸い込まれて羽根車48により
昇圧され末広ノズル17を通して被処理物43に吹き付
けられ、被処理物43を加熱して僅かに降温し、再び、
加熱ヒータ18で加熱される循環動作を繰り返す。
【0025】リフロー室4では、熱ガスの循環は予熱第
二ゾーン2とほぼ同様に行われるが、さらに、コンベア
44の上下に赤外線ヒータ37があることによって、窒
素ガスの温度を、予熱第二ゾーン2における温度より高
くし、はんだを溶融させはんだ付けに適した値になるよ
うにしてある。冷却室5では、内部に冷却水を通した冷
却チューブ40と、貫流送風機33とにより、リフロー
室4から流出した熱ガスは冷やされ、被処理物43を冷
却してはんだを固化させ、はんだ付けが完成する。
【0026】ガス供給ノズル52からリフロー室4に窒
素ガスが供給されるために、リフロー室4内は窒素濃度
の高い雰囲気に保たれる。そして、リフロー室4の窒素
ガスは予熱第二ゾーン2あるいは冷却室5側に流出し、
リフロー室4以外の予熱第1ゾーン1、予熱第二ゾーン
2、冷却室5は、その流出漏洩量に応じた窒素濃度とな
る。すなわち、酸素を含んだ窒素雰囲気となるが、搬入
側シール室6の入口側および搬出側シール室7の出口側
に設けられた抵抗体70は、開口面積を最小としている
ため、熱ガスの流出抵抗が最大となり、搬入側シール室
6、予熱第一ゾーン1、予熱第二ゾーン2、リフロー室
4、冷却室4、搬出側シール室7の内圧は大気圧に対し
て高くなる。これにより、微小な隙間からの空気の侵入
が阻止できる。この結果、各室の窒素濃度は、抵抗体7
0が無い場合に比べ高い窒素濃度となり、各室間の内圧
差も小さくなるため各室間の窒素濃度差も小さくでき
る。
【0027】抵抗体70は、コンベア44の移動速度と
抵抗体70の外周の回転速度とが同期され、かつ、変形
可能となっているものである。被処理物43がコンベア
44にて搬送され、搬入側シール室6入口部および搬出
側シール室7出口部を通過する場合、抵抗体70の外周
におけるコンベア44上の被処理物43に対する相対速
度は抵抗体70との接触部分でほぼ0となる。したがっ
て、被処理物43がコンベア44にて搬送され、搬入側
シール室6入口部および搬出側シール室7出口部を通過
する場合、被処理物43における電子部品の上にある抵
抗体構成要素81により被処理物43をコンベア44と
垂直方向に押え込む力が主に働く。また、このとき電子
部品の上にある抵抗体構成要素81以外のものは、電子
部品の脇では変形せずに原形を保っているため、ずれ防
止の作用を持つ。
【0028】前記の作用により、被処理物43上の電子
部品をずらすことなく装置内へ搬送することができる。
また、被処理物43の搬送抵抗を小さくできるので、抵
抗体構成要素81の塑性変形や破断がなくなり抵抗体7
0の長寿命化を図ることができる。さらに、抵抗体70
は回転しているので、連続して被処理物43をコンベア
44で装置内を搬送でき、生産性が高い。
【0029】〔実施例 2〕次に、本発明の他の実施例
を図5を参照して説明する。図5は、本発明の他の実施
例に係るリフローはんだ付け装置の抵抗体の斜視図であ
る。図中、図1ないし図4と同一符号のものは先の実施
例と同等部分であるから、その説明を省略する。図5に
示す実施例では、抵抗体構成要素82aは、回転軸80
aの軸方向に、かつ放射状に隙間なく並べたものを回転
方向に一定の割合でずらした形状、すなわち螺旋状に取
り付けているものである。
【0030】抵抗体71(図5に71aを示す)におい
ては、被処理物43がコンベア44にて搬送され搬入側
のシール室6および搬出側シール室7を通過する場合、
先の実施例の抵抗体70aの抵抗体構成要素81aが回
転軸80aに並行な直線上に一列づつ接触するのに対
し、図5に示す抵抗体71aの抵抗体構成要素82a
は、回転軸80aに対し一定角度を有する直線上を抵抗
体構成要素82aの一定幅の部分が前記の直線上を移動
しながら接触するので、抵抗体構成要素82aの接触し
ている長さを少なくでき、被処理物43の搬送抵抗を図
4に示した抵抗体70aに比べさらに小さくでき、被処
理物43上の電子部品の位置ずれがなく、信頼性が向上
する。
【0031】〔実施例 3〕図6は、本発明のさらに他
の実施例に係る抵抗体の略示配置図である。本実施例に
おいては、回転軸80を二個所としたエンドレスのベル
ト90を設け、抵抗体を構成する要素83を前記のベル
ト90にほぼ直立するように取り付けて抵抗体72とし
たものである。本実施例によれば、抵抗体構成要素83
がコンベア44に沿って移動する距離が長くなるので、
抵抗体70a,71aに比べさらに空気の侵入を妨げる
機能が向上する。抵抗体構成要素83の密度を低下させ
れば被処理物43の搬送抵抗が、図4,図5の抵抗体7
0a,71aに比べてさらに小さくなり、被処理物43
上の電子部品の位置ずれがなく、さらに信頼性が向上す
る。
【0032】また、図示しないが、図1における抵抗体
70をコンベア44に対して装置の搬出側シール室7の
上下と搬入側シール室6の下側に設けたものとしても良
い。このように抵抗体70の設定個所は限定されない。
本実施例によれば、被処理物43は装置入口において抵
抗を受けることがないので、被処理物43上の電子部品
が移動したり倒れたりしやすいものであっても装置内へ
搬入することができる。
【0033】一方、装置出口においては、被処理物43
上の電子部品は、はんだが固化していることにより抵抗
体70の影響は少ない。装置出口側からのガスの流出量
は抵抗体70により僅かになるので、抵抗体70を設け
ない場合に比べて不活性ガス量を少なくできる。リフロ
ー室内の高い熱エネルギーを持つ熱ガスの流出量は、抵
抗値の差に基づき装置入口側にて多くなるので、装置入
口側では、被処理物43を予熱する効果が、装置出口側
の流出ガス量が低下することにより装置出口側では冷却
が速やかに行われる効果があり熱量が節約できる。
【0034】なお、上記各実施例においては、抵抗体7
0を搬入側シール室6の入口、搬出側シール室7の出口
の両方に設けた例を説明したが、前記入口および出口の
いずれか一方に設けても相応の効果が得られることは言
うまでもない。
【0035】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、被処理物のはんだ付けを連続して行なっても装
置外部への不活性ガスの流出量を少なくし、ガス濃度や
ガス温度の変動を少なくすることができ、良好なはんだ
付け性を得ることができるリフローはんんだ付け装置を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係るリフローはんだ付け装
置の構成を示す略示断面図である。
【図2】図1のA−A矢視断面図である。
【図3】図1のB−B矢視断面図である。
【図4】図1のリフローはんだ付け装置における抵抗体
の斜視図である。
【図5】本発明の他の実施例に係るリフローはんだ付け
装置の抵抗体の斜視図である。
【図6】本発明のさらに他の実施例に係る抵抗体の略示
配置図である。
【図7】従来のリフローはんだ付け装置の構成を示す略
示断面図である。
【符号の説明】
1…予熱第一ゾーン、2…予熱第二ゾーン、4…リフロ
ー室、5…冷却室6…搬入側シール室、7…搬出側シー
ル室、9,10,11,12,13,14…抵抗体、1
9,20,21…抵抗体、15,37…赤外線ヒータ、
16,30,33…貫流送風機、17,31…末広ノズ
ル、18,32…加熱ヒータ、22,36…熱ガス循環
手段、38,39…レール、40…冷却コイル、43…
被処理物、44…コンベア、52…不活性ガス供給ノズ
ル、70,71,72…抵抗体、81,82,83…抵
抗体構成要素。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 八幡 聡 茨城県竜ヶ崎市向陽台5丁目2番 日立テ クノエンジニアリング株式会社開発研究所 内 (72)発明者 福田 光男 茨城県竜ヶ崎市向陽台5丁目2番 日立テ クノエンジニアリング株式会社開発研究所 内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 はんだを塗布した回路基板に電子部品を
    装着してなる被処理物を、コンベアにて予熱室およびリ
    フロー室を通過するように搬送し、前記予熱室通過中に
    被処理物の予熱を予熱手段にて行い、前記リフロー室通
    過中に所定の濃度の熱ガス雰囲気内にて予熱後の被処理
    物に本加熱を行なって前記被処理物のはんだを溶融さ
    せ、前記リフロー室に続く冷却室にてはんだを固化させ
    て前記電子部品を前記回路基板にはんだ付けするリフロ
    ーはんだ付け装置において、 前記リフローはんだ付け装置の出口および入口の少なく
    とも一箇所に羽根ブラシ状の抵抗体を設け、この抵抗体
    に回転軸を持たせ、前記コンベアの移動速度に前記抵抗
    体外周部の移動速度が合うように回転駆動する機構を設
    けたことを特徴とするリフローはんだ付け装置。
JP24107293A 1993-09-28 1993-09-28 リフローはんだ付け装置 Pending JPH0796365A (ja)

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