JPH0795188B2

JPH0795188B2 - 放射線画像情報読取方法

Info

Publication number: JPH0795188B2
Application number: JP60207599A
Authority: JP
Inventors: 久憲土野; 亜紀子加野; 中野　　邦昭; 幸二網谷; 文生島田
Original assignee: Konica Minolta Inc
Current assignee: Konica Minolta Inc
Priority date: 1985-09-18
Filing date: 1985-09-18
Publication date: 1995-10-11
Anticipated expiration: 2010-10-11
Also published as: JPS6266253A

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、放射線画像変換パネルに蓄積された放射線画
像情報の読取方法に関し、更に詳しくは該放射線画像を
正確に再現する読取方法に関する。

（発明の背景）放射線を輝尽性螢光体に照射すると放射線エネルギーが
該螢光体に蓄積され、この蓄積エネルギーは可視光等で
励起すると輝尽螢光を蓄積エネルギーに応じた強さで発
光することが知られている。

前記の特性を活かして、人体等の放射線画像情報を輝尽
性螢光体層を有する放射線画像変換パネル（以後変換パ
ネルと略称する）に潜像として蓄積し、該変換パネルを
レーザ光等の励起光で走査して輝尽発光させ、該輝尽発
光を光電変換して画像信号とし、これを可視化する方法
が、例えば米国特許3,859,527号、特開昭55−12144号等
に提案されている。

次に、前記の如き変換パネルを用いた放射線画像情報読
取装置を第５図を用いて説明する。

レーザ光源501を発しフィルター502を通った励起用レー
ザ光505はガルバノメータミラー504で一定振幅で振られ
ながら反射して放射線画像情報を潜像として蓄積した変
換パネル10を照射する。

この際変換パネル10はそれを設置している移動ステージ
509によって同時に振幅方向に直角に移動させられる。

即ち、変換パネル10は振幅方向（Ｘ方向）に主走査され
Ｙ方向に副走査され、変換パネル10の全域が走査され、
走査線上に輝尽発光する。

一方、振幅面と変換パネル表面の交線に近接して平行に
受光面506aを配置した集光体506が設置されており、該
集光体506は細長い平面切口をなす受光面506aから次第
に窄まりその終端、伝達面506bに於てほゞ円筒状となっ
て光検出器（例えばフォトマルチプライヤー等）507に
輝尽発光と励起用レーザ光とを分離するためのフィルタ
ー508を挾んで臨接する。

以上の構成によって走査線上に生じた輝尽発光は受光面
506aから集光体506に入り伝達面506bに到り光検出器507
に入って光電変換を受け電気信号510として画像表示装
置511に送られ、変換された画像情報が処理され、CRT或
は磁気テープまたは写真感光材料等を用いて可視像とし
て観察される。

こゝで注意すべきは、集光体506の受光面506aには受光
面506aに対して全反射角以内にある点からの光はすべて
集光体506の中に入射することであって走査線上でレー
ザ光505によって励起された輝尽発光のみならず、装置
外から迷光或は変換パネル10表面からのレーザ光の反射
光の一部もしくは残光等がすべて拾われ、画像情報を表
示する輝尽発光に混和し、正確な画像情報を混乱させる
ノイズ光となる。

前記ノイズ光の内装置外からの迷光及び変換パネル10表
面からのレーザ光の反射光は遮光、フィルター等により
排除できるから、ノイズ光としては変換パネル10表面か
らの残光が問題となる。

前記残光には放射線が変換パネルの輝尽性螢光体を刺戟
することによって発生する螢光の残光（以後螢光残光と
称す）と、放射線によって輝尽性螢光体が蓄積したエネ
ルギーをレーザ光等の励起光で励起することによって発
生する輝尽発光の残光（以後輝尽残光と称す）がある。

前記螢光残光は一般に第６図に示すような指数函数的減
衰曲線を示す。即ち、時刻t1からt2までのΔｔ時間放射
線を照射してt2で停止したとすると発光強度LOは直に０
に減衰することはない。その減衰状況は螢光体によって
異り、発光強度が1/eになる時定数はタングステン酸塩
では10^-6秒、希土類元素イオンやマンガンイオンを含む
螢光体では10^-3〜10^-1秒に及ぶことがある。また、螢光
残光は第６図の曲線ａで表わされる主な残光の他に同図
ｂで表わされるような従の残光が重り合っている場合が
多い。前記従の残光は一般に発光強度は弱いが減衰の時
定数が著しく大きい。

輝尽発光は前記したように励起光がある時刻に照射され
る極く小さな面積（画素に相当）から発するのに対し、
螢光残光は放射線が照射された全面から発光し、第５図
の集光体506の受光面506aの全反射角以内にある点から
の光はすべて集光される。

この場合、変換パネルの輝尽発光面積に比べて、集光体
506の集光面積が著しく大きいため、１画素当りの螢光
残光強度が輝尽発光強度と比較して無視できる程小さく
なったとしても、光検出器に伝達される光量として螢光
残光量は無視できなくなる。

例えば、集光体の集光面積を400mm×2mmとし、画素の大
きさを200μｍ×200μｍとすると集光体に集光される画
素数は２×10⁴個であり、１画素当りの螢光残光強度が
輝尽発光強度の10^-4程度であったとしても光検出器に伝
達される光量のうち螢光残光量と輝尽発光量との比は2:
1となってしまう。

このように、従来の放射線画像情報読取方法に於ては放
射線照射後、螢光残光強度が十分無視できる程度になる
まで待機する必要があり、迅速、大量に連続して画像情
報を読取ることが困難であった。特に、第６図の曲線ａ
に表わされる主な残光の時定数が大きな場合、あるいは
主な残光の時定数は小さくても同図曲線ｂで表わされる
時定数の大きな従の残光が存在する場合は致命的であっ
た。

一方、前記輝尽残光は第７図に示すような前記螢光残光
と同様な指数函数的減衰曲線を有する。この減衰曲線は
輝尽性螢光体によって異るが、いずれも例えば、時刻t4
からt5まで励起しt5で励起を停止すると発光強度SOから
急激に減衰するが間もなく減衰率が落ち指数函数的曲線
をなす。また輝尽残光は螢光残光と同様に第７図の曲線
Ｃに表わされる主な残光の他に同図曲線ｄに表わされる
ような従の残光が重なり合っている場合が多い。前記従
の残光は一般に発光強度は弱いが減衰の時定数は著しく
大きい。

輝尽発光は前記したように励起光がある時刻に照射され
る極く小さな面積（画素に相当）から発するのに対し、
輝尽残光は励起光が照射された全面から発光し、第５図
の集光体506の受光面506aの全反射角以内にある点から
の光はすべて集光される。

この場合、変換パネルの輝尽発光面積に比べて、集光体
506の集光面積が著しく大きいため、１画素当りの輝尽
残光の強度が輝尽発光の強度と比較して無視できる程小
さくなったとしても、光検出器に伝達される光量として
輝尽残光量は無視できなくなる。

尚、輝尽残光は励起光の照射によってはじめて現われる
ので、励起光走査の進行に伴い各画素の輝尽残光強度は
それぞれ励起光照射からの時間に応じて変化しており、
ある時刻に光検出器に伝達される輝尽残光量は集光体の
集光面積内に存在する画素の残光量の和である。このた
め、励起光の１画素当りの走査時間に対して輝尽残光の
減衰の時定数が十分小さい場合には輝尽残光は無視でき
る。

このように従来の放射線画像情報読取方法に於ては、第
７図曲線Ｃで表わされる主な輝尽残光の時定数が大きな
場合、あるいは主な輝尽残光の時定数は小さくても同図
曲線ｄに表わされる時定数の大きな従の輝尽残光が存在
する場合には、輝尽発光に大きな輝尽残光が加わり、こ
れが放射線画像のノイズ成分となり正確な放射線画像情
報の読取りが困難であった。

このような状況の中で、前述の欠点を改善する方法も提
案されている。例えば、特開昭59−232337号には励起光
が変換パネル上を走査している時に得られた画像信号か
ら、前記励起光が前記変換パネル上にない時に得られた
残光量に相当する信号を減じて補正された画像信号を得
る方法が示されている。

しかしこの方法では、残光量に相当する信号を検出でき
る期間は、励起光の往復主走査期間のうち、前記励起光
が変換パネル上にない時に限られるため、最大でも一ラ
インの走査に対し１回であり、残光量に対する正確な補
正は期待できなかった。

なぜならば、前記した集光体506の受光面506aに入射す
る前記螢光残光によるノイズ光量は副走査先頭から後端
に到る間に受光面506aに対する全反射角内に収る変換パ
ネル10表面の増大及び螢光残光強度の異る区域の出没に
より変動し、また輝尽残光も輝尽発光強度の変動に伴っ
て当然変動する。すなわち、走査読取中に混入するノイ
ズ光量は副走査及び主走査の進行時点に於て時々刻々の
変動を生じるからである。

この様子を第８図を用いて具体的に説明する。第８図
（ａ）は変換パネル10に、例えば、均一な厚さを有する
被写体801を記録したものを示し、第８図（ｂ）は、走
査線ｂに沿って励起光によって変換パネル10を走査した
とき得られる画像信号と励起光のビーム位置との関係を
示している。第８図（ｂ）に於て実際に走査によって得
られる画像信号はm1で示される。一方、残光量に相当す
る信号は前述の様に変換パネル10に記録された画像パタ
ーンと時間（励起光のビーム位置）の関数であり、m3で
示されるように時間とともに変化している。補正された
（真の）画像信号m2はそれぞれの位置に於て前記画像信
号m1から残光量に相当する信号m3を減じることによって
得られる。

しかし、ここで残光量に相当する信号を前記走査線ｂの
b1又はb3の位置で検出し、これを前記走査線ｂのb2領域
における残光量に相当する信号と看做す（m5に相当）
と、それぞれの位置に於て画像信号m1から残光量に相当
する信号と看做したm5を減じて得られる補正された画像
信号はm4の様になり真の画像信号m2と異なったものとな
ってしまうのである。

このように、螢光残光量及び輝尽残光量は変換パネルに
記録された画像パターンと時間の関数であり、一ライン
の走査に於て時々刻々と変化しているにもかかわらず、
一ラインの走査に対して最大１回だけ残光量に相当する
信号を検出し、この信号を用いて画像信号を補正しても
正確な補正ができないのは明らかである。

本発明は、前述のような従来の放射線画像読取方法の欠
点を鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、残光
量に相当する信号の検出精度を向上させることにより、
実際の画像に合った正確な画像信号を得て、正確な再生
画像を得ることのできる放射線画像情報読取方法を提供
することにある。

（発明の構成及び作用）前記本発明の目的は、輝尽性蛍光体層を有する放射線画
像変換パネル面上を励起光以外のノイズ光の入射が行わ
れない状態で励起光により走査して、該走査中の前記パ
ネルの発光を光電変換手段で読取って前記パネルに蓄積
された放射線画像情報を得る放射線画像情報の読取方法
に於て、前記励起光が照射と休止を順次繰返しながら前
記パネル面上を走査し、該励起光の照射時とその隣りの
休止時に読取った電気信号の差から前記画像情報を得る
ことを特徴とする放射線画像情報読取方法によって達成
できる。

すなわち、本発明は放射線画像変換パネルの走査読取中
に混入し、副走査及び主走査の進行時点に於て時々刻々
の変動するノイズ光量に対し、励起光の照射及び休止を
順次繰返すことによって、少なくとも実用的な許容範囲
で補正を加え正確な放射線画像情報を得るものである。

次に、前記本発明の方法を第１図により詳細に説明す
る。

第１図に於て、同図（ａ）は変換パネル10に均一な厚さ
を有する被写体101を画像として記録したものを示す。
Ｃは励起光（レーザ光）の走査線である。同図（ｂ）の
ｎはレーザ光の変調信号であり、１画素当り１回の割合
でレーザ光を変調している。同図（Ｃ）のは変調信号
ｎによって変調されたレーザ出力を示し、同図（ｄ）の
Ｐは変換パネル10から発せられた輝尽発光及び残光を光
検出器（フォトマルチプライヤー等）で光電変換して得
られた信号である。同図のP1,P3,P5,…はレーザ光が休
止しているとき（前記レーザ出力1,3,5,…に対
応）の信号で、残光量に相当する信号である。P2,P4,P
6,…はレーザ光が照射しているとき（前記レーザ出力
2,4,6,…に対応）の画像信号であり、真の画像信号
に残光量に相当する信号が加わったものである。

同図（ｅ）のＱは画像信号（P2,P4,P6,…）から残光量
に相当する信号（P1,P3,P5…）をそれぞれ差し引いて補
正された画像信号であり、真の画像信号に近似してい
る。

同図（ｆ）のＲは補正された（真の）画像信号（Q1,Q2,
Q3…）を基にレーザ光の休止していた部分の信号を補間
した信号を表わす。

前記第１図（ｅ）の処理はアナログ信号のまま行なって
もよいし、デジタル信号に変換した後行なってもよい。
デジタル信号の場合にはリアルタイム処理する必要はな
く、一旦メモリー等に収納した後必要時に処理してもよ
い。また同図（ｆ）の処理はアナログ信号のまま行なっ
てもよいし、デジタル信号に変換した後行なってもよ
い。デジタル信号の場合にはリアルタイム処理する必要
はなく、一旦メモリー等に収納した後、必要時に行なっ
てもよい。

また第２図（ａ）に示すように実用的許容範囲として１
画素におけるレーザ照射の時間と休止時間の比は第１図
（Ｃ）のように1:1である必要はなく、どちらかが短く
てもよいが、休止の時間は短い方が好ましい。更にまた
第２図（ｂ）に示すように残光量に相当する信号は１画
素毎に求めなくてもよく、１回の主走査に対し２回以上
求めればよいが、最適な回数は残光量、減衰の速さ、レ
ーザ光の走査速度等によって変化する。

本発明によれば、前述のように時々刻々と変化する螢光
残光量及び輝尽残光量を常に正確に検出し、該残光量に
相当する信号を画像信号から取除くことができるので、
実際の画像に対応した正確な画像信号を得ることができ
る。

また本発明によれば、１画素毎に画像信号を補正するこ
とにより、前記輝尽残光に起因する画素間の干渉を除去
できるので、画像の鮮鋭性が向上する。

次に第３図（ａ），（ｂ）及び（Ｃ）に画像信号から残
光量に相当する信号を減じるためのアナログ回路の一例
を示す。

同図（ａ）に於て光検出器301で光電変換された信号は
電流−電圧変換器302で電圧に変換された後、増幅器303
によって増幅され、差動増幅器304の（＋）側に入力さ
れる。差動増幅器の出力側にはサンプルホールド回路
（Ａ）305,（Ｂ）306が置かれ、差動増幅器304の（−）
側にはサンプルホールド回路（Ａ）305からの信号が入
力される。また、サンプルホールド回路（Ｂ）306の出
力は対数変換器309により対数変換されて出力される。

同期信号発生器308は励起光であるレーザ光の変調（照
射と休止）とサンプルホールド回路（Ａ），（Ｂ）によ
るサンプルホールドのタイミングとを同期させるための
ものである。

制御回路307とサンプルホールド回路（Ａ）305とは、同
期信号発生器308からの同期信号によりレーザ光の休止
時に同期して差動増幅器304の出力信号が零となるよう
に差動増幅器304の（−）側に入力される電圧を決定
し、その電圧を次のレーザ光休止時まで保持する。また
制御回路307とサンプルホールド回路（Ｂ）306とは、同
期信号発生器308からの同期信号によりレーザ光の照射
時に同期して差動増幅器304の出力信号を検出しレーザ
光休止時の信号を補間するように保持する。

このようにレーザ光が変換パネル上を照射して得られる
画像信号のうち、残光量に相当する信号はサンプルホー
ルド回路（Ａ）305から差動増幅器304の（−）側に入力
される電圧として減じられるので、対数変換器309を介
して取出される画像信号310は実際の画像に対応した正
確なものとなる。

サンプルホールド回路（Ｂ）306は、レーザ光休止時の
画像信号を補間するためのものであり、必ずしも設ける
必要はない。また、前記サンプルホールド回路（Ｂ）は
対数変換器309の前でもよいし、後であってもよいが、
対数変換器309の周波数特性の点から前に入れる方が好
ましい。

同図（ｂ）に於ては、光検出器301で光電変換された信
号は電流−電圧変換器302で電圧に変換された後、増幅
器303によって増幅される。

増幅器303の出力信号はサンプルホールド回路（Ａ）30
5,（Ｂ）306を介してそれぞれ差動増幅器304の（−）側
及び（＋）側に入力される。また差動増幅器304の出力
は対数変換器309により対数変換されて出力される。

同期信号発生器308はレーザ光の変調とサンプルホール
ド回路によるサンプルホールドのタイミングとを同期さ
せるためのものである。

制御回路307とサンプルホールド回路（Ａ）305とは、同
期信号発生器308からの同期信号によりレーザ光の休止
時に同期して残光量に相当する信号を検出し、次のレー
ザ光休止時まで保持する。また制御回路307とサンプル
ホールド回路（Ｂ）306とは同期信号発生器からの同期
信号により、レーザ光の照射時に同期して残光量に相当
する信号を含んだ画像信号を検出し、レーザ光休止時の
信号を補間するように保持する。尚、サンプルホールド
回路（Ｂ）306はレーザ光休止時の画像信号を補間する
ためのものであり、第３図（ｂ）に示した位置にある必
要はなく、差動増幅器304の後でもよいし、対数変換器3
09の後であってもよい。また必ずしも設ける必要はな
い。

このように、レーザ光が変換パネル上を照射して得られ
る画像信号のうち、残光量に相当する信号はサンプルホ
ールド回路（Ａ）305により保持され、差動増幅器304の
（−）側に入力されることにより減じられるので、対数
変換器309を介して取出される画像信号310は実際の画像
に対応した正確なものとなる。

同図（Ｃ）に於ては、光検出器で光電変換された信号は
対数変換器309及びフォトカプラ311のフォトダイオード
側311aと接続される。

前記フォトカプラー311の発光ダイオード側311bに信号
が入力されると発光ダイオードが発光し、この光量に応
じて光検出器301からの電流信号は一部フォトダイオー
ド側に流れ、残りが対数変換器309に入力される。対数
変換器309の出力はサンプルホールド回路（Ａ）305を介
してフォトカプラ311の発光ダイオード側に入力される
と同時にサンプルホールド回路（Ｂ）306を介して画像
信号として出力される。制御回路307とサンプルホール
ド回路（Ａ）305とは同期信号発生器308からの同期信号
によりレーザ光の休止時に同期して残光量に相当する信
号を検出し、対数変換器309の出力信号が零となるよう
にフォトカプラ311の発光ダイオード側に入力される電
圧を決定し、その電圧を次のレーザ光休止時まで保持す
る。また制御回路とサンプルホールド回路（Ｂ）とは同
期信号発生器308からの同期信号により、レーザの照射
時に同期して対数変換器309からの出力信号を検出し、
レーザ光休止時の信号を補間するように保持する。尚、
サンプルホールド回路（Ｂ）306はレーザ光休止時の画
像信号を補間すためのものであり、第３図（Ｃ）の位置
にある必要はなく、また必ずしも設ける必要はない。

このようにレーザ光が変換パネル上を照射して得られる
画像信号のうち残光量に相当する信号はフォトカプラ31
1のフォトダイオード311aを通ってアースされ、対数変
換器、サンプルホールド回路（Ｂ）を介して出力される
画像信号310は実際の画像に対応した正確なものとな
る。

次に本発明の励起用レーザ光を間歇させながら走査し、
逐次ノイズ光補正を行う放射線画像情報読取装置の例を
示す。

第４図（ａ）は励起用レーザ光の照射及びその休止の間
歇作動を音響光学変調器（AOMと記号表示する）による
例であり、同図（ｂ）は半導体レーザに直接変調をかけ
るタイプである。

尚、本発明の方法は前記２つの装置に限られることはな
い。

第４図（ａ）に於て、401はレーザ光源、402はフィルタ
ー、403はレーザ光源401からのレーザ光405を変調する
為の音響光学変調器（AOM）、410はAOMを駆動するため
の変調回路である。

同図（ａ）に於てレーザ光405は変調回路410からの変調
信号によりAOM403によって変調（照射−休止）された
後、例えばガルバノメータミラー404で一定振幅で振ら
れながら振幅方向（Ｘ方向）に反射して変換パネル10上
に照射される。

この際、変換パネル10はそれを設置している移動ステー
ジ409によって同時に振幅方向に直角に移動され、該変
換パネル10の全域が走査され、走査線上に輝尽発光す
る。

前記輝尽光は集光体406の受光面406aで集光され、伝達
面406bに到り、フィルター408によってレーザ光と分離
された後、光検出器407で光電変換される。

412は、前記光検出器からの電気信号を検出し、補正さ
れた（真の）画像信号414を求めるための、例えば第３
図に示した回路を含む信号検出・演算回路であり、411
は信号検出・演算回路412からの画像信号を可視画像と
して表示するための画像表示装置である。

光検出器からの電気信号は、信号検出・演算回路412に
入力され、同期信号発生器413からの同期信号によって
前記レーザ光405の変調（照射−休止）に同期して、レ
ーザ光405の照射時の画像信号からレーザ光405の休止時
の残光量に相当する信号を減じて補正された（真の）画
像信号とされ、画像表示装置411によって可視画像とし
て表示される。

第４図（ｂ）に於て、415は半導体レーザ、416は半導体
レーザの変調回路であり、半導体レーザを直接変調する
以外は同図（ａ）と同様である。半導体レーザはレーザ
光を直接変調できるため装置の小型化等に好都合であ
る。また半導体レーザはレーザ光の休止時におけるレー
ザ光のもれがないためより正確な補正を画像信号に加え
ることが可能である。

尚、前記例示装置の同期、変調、補正については前記第
３図を用いて説明した回路例を参照すればよい。

本発明の方法は、放射線画像情報を変換パネルへ記録
後、長時間経過して螢光残光が無視できるような場合に
適用すれば、残光量に相当する信号は輝尽残光だけとな
る。

これに対し、励起光が変換パネル上を走査するスピード
が遅くて輝尽残光が無視できるような場合に適用すれ
ば、残光量に相当する信号は螢光残光だけとなる。

また、本発明の方法は、螢光残光及び輝尽残光以外のノ
イズ光が存在しても前記残光の補正と同時にその補正が
なされる。

尚、前述の実施態様においては励起光による変換パネル
上の走査を往復して行なう例を示したが、帰線（復路）
を消去して片方向だけの走査を行なう場合も、全く同様
である。

更に、前述の実施態様においては、変換パネルとして輝
尽性螢光体を用いた例を示したが、例えば特開昭54−31
219号等に示されているように、変換パネルとして光導
電体を用い、静電潜像を利用してこれを励起光で読取る
様にした方法に於ても、本発明の読取方法が利用でき
る。

（発明の効果）本発明を用いることにより簡便、且つ正確に螢光残光及
び輝尽残光に起因するノイズを除去することができる。

また、本発明を用いることにより簡便、且つ正確に装置
外からの迷光或はレーザ光等に起因するノイズを除去す
ることができる。

更に、本発明を用いることにより、輝尽残光に起因する
画像の鮮鋭性の劣化を改善することができる。

以上のように本発明によれば、実際の画像に対応した正
確な再現性の良い、且つ鮮鋭性の良い可視画像が得ら
れ、放射線画像による信頼性の高い診断が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は走査に励起光の照射を間歇的に行い
逐次ノイズ光補正を行う本発明の手順を説明する図であ
る。第３図は、本発明の具現する回路例を示すブロック図で
ある。第４図は、本発明に則った放射線画像情報読取装置の例
の概要斜視図である。第５図は、従来の方法による読取装置図である。第６図は、放射線照射による螢光残光、第７図は、励起
光による輝尽残光の減衰曲線を示す図である。第８図は、放射線画像によって生ずる輝尽発光強度とノ
イズ光及び実際に読取られる光の強度の関係を示す概念
図である。 10……放射線画像変換パネル、301,407,507……光検出
器、304……差動増幅器、305,306……サンプルホールド
回路、307……制御回路、308,415……同期信号発生器、
309……対数変換器、311……フォトカプラ、401,501…
…レーザ光源、402,502……フィルター、403……AOM、4
04,504……ガルバノメータミラー、406,506……集光
体、408,508……フィルター、409,509……移動ステー
ジ、410,416……変調回路、411,511……画像表示装置、
412……信号検出・演算回路、413……同期信号発生器、
415……半導体レーザ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者島田文生東京都日野市さくら町１番地小西六写真工業株式会社内審判の合議体審判長石井勝徳審判官綿貫章審判官小菅一弘 (56)参考文献特開昭54−143166（ＪＰ，Ａ) 特開昭54−154351（ＪＰ，Ａ) 特開昭60−86539（ＪＰ，Ａ) 特開昭60−46166（ＪＰ，Ａ)

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】輝尽性蛍光体層を有する放射線画像変換パ
ネル面上を励起光以外のノイズ光の入射が行われない状
態で励起光により走査して、該走査中の前記パネルの発
光を光電変換手段で読取って前記パネルに蓄積された放
射線画像情報を得る放射線画像情報の読取方法に於て、
前記励起光が照射と休止を順次繰返しながら前記パネル
面上を走査し、該励起光の照射時とその隣りの休止時に
読取った電気信号の差から前記画像情報を得ることを特
徴とする放射線画像情報読取方法。