JPH0792365B2 - 被測定物の位置検出方式 - Google Patents

被測定物の位置検出方式

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JPH0792365B2
JPH0792365B2 JP3223391A JP22339191A JPH0792365B2 JP H0792365 B2 JPH0792365 B2 JP H0792365B2 JP 3223391 A JP3223391 A JP 3223391A JP 22339191 A JP22339191 A JP 22339191A JP H0792365 B2 JPH0792365 B2 JP H0792365B2
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篤 切田
留男 南幅
淳 佐々木
千里 大島
敦弘 中野
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Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品等の被測定物
の位置を検出するのに有用な被測定物の位置検出方式に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、例えば、図３に示すような配線パ
ターン５を有した電子部品１を、他の電子部品に組み付
ける際などは、電子部品１の配線パターン５を基準線Ｋ
として、該基準線Ｋの標準線Ｈに対する位置（傾き等）
を顕微鏡で目視して検知し、その後、この標準線Ｈに対
して平行度を出して位置合せをし、この位置合せをした
電子部品１を他の電子部品に組み付けるようにするシス
テムがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の電子部品１の位置出しは、顕微鏡による目視によ
り、行なっているので、検出精度が悪くなっており、そ
のため、位置合せが不十分になり易くなるという問題が
あった。
【０００４】本発明は上記の問題点に鑑みてなされたも
ので、その課題は、被測定物の位置検出の精度を向上さ
せるようにした位置検出方式の提供にある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るための本発明の技術的手段は、
【０００６】基準線を有する被測定物をカメラ装置で撮
像し、この撮像結果から被測定物の標準線に対する位置
を検出する被測定物の位置検出方式において、基準線の
撮像画面であって標準線の傾きをゼロとした画素座標系
において標準線に直交する方向の画素の輝度を読み取る
輝度読取部と、隣接する画素の輝度の輝度差を算出する
輝度差算出部と、輝度差算出部が算出した輝度差が最大
となる画素座標を読み出す画素座標読出部と、画素座標
読出部が読み出した画素座標を上記輝度差を用いる以下
の数式１により補正し上記基準線の座標の演算を行なう
座標演算部とを備えたものである。
【数４】
【０００７】
【作用】上記構成からなる被測定物の位置検出方式によ
れば、カメラ装置で被測定物が撮像されると、標準線に
直交する方向の画素の輝度が読み取られ、隣接する画素
の輝度の輝度差が算出される。次に、輝度差が最大とな
る画素座標が読み出され、座標演算部において、輝度差
が最大となる画素座標を上記輝度差を用いる数式１によ
り補正した上記基準線の座標の演算が行なわれる。この
場合、求める座標は数式１において上下の輝度の重みを
考慮して補正されるので精度の高い座標が得られる。
【０００８】
【実施例】以下、添付図面に基づいて本発明の実施例に
係る被測定物の位置検出方式について説明する。実施例
に係る被測定物の位置検出方式は、上述した図３に示す
電子部品１の位置検出に適用され、電子部品１の配線パ
ターン５のエッジを基準線Ｋとし、標準線Ｈに対する位
置を検出するものである。
【０００９】この位置検出方式は、図１に示すように、
基準線Ｋを撮像するカメラ装置１０を備え、このカメラ
装置１０が撮像した配線パターン５の画像における輝度
の変化に着目し、基準線Ｋの撮像画面であって標準線Ｈ
の傾きをゼロとした画素座標系１１において標準線Ｈに
直交する方向の画素の輝度を読み取る輝度読取部１３
と、隣接する画素の輝度の輝度差を算出する輝度差算出
部１４と、輝度差算出部１４が算出した輝度差が最大と
なる画素座標を読み出す画素座標読出部１５と、画素座
標読出部１５が読み出した画素座標を上記輝度差を用い
て補正し基準線Ｋの座標の演算を行なう座標演算部１６
とを備えている。
【００１０】座標演算部１６は、以下の数式１によって
座標を算出する。
【００１１】
【数１】
【００１２】数式１において、Ｂn は輝度差が最大とな
る画素座標（実施例では座標の小さいほうを選択）、Ｄ
m は輝度差の最大値、Ｄm+1 は輝度差の最大値よりも１
つ座標の大きい側の輝度差、Ｄm+2 は輝度差の最大値よ
りも２つ座標の大きい側の輝度差、Ｄm-1 は輝度差の最
大値よりも１つ座標の小さい側の輝度差、Ｄm-2 は輝度
差の最大値よりも２つ座標の小さい側の輝度差である。
【００１３】従って、この位置検出方式によれば、先
ず、図１に示す基準線Ｋの上記撮像画面であって標準線
Ｈの傾きをゼロとした画素座標系１１において、輝度読
取部１３によって、Ｘ座標のいくつかの点の標準線Ｈに
直交する方向の画素の輝度が読み取られる。その読み取
り結果（２ケ所）の例を図２に示す。次に、輝度差算出
部１４によって、隣接する画素の輝度の輝度差が算出さ
れる。その結果も図２に示す。その後、画素座標読出部
１５によって、輝度差算出部１４が算出した輝度差が最
大となる画素座標が読み出される。
【００１４】そして、座標演算部１６によって、画素座
標読出部１５が読み出した画素座標を上記輝度差を用い
て補正し基準線Ｋの座標の演算が行なわれる。今、図２
中Ｘ1 の点における場合について説明すると、輝度差が
最大となる画素座標Ｂn は１１５となり、その算出結果
は、以下のとおりである。
【００１５】
【数２】
【００１６】このようにしてＸ座標のいくつかの点にお
けるＹ座標が求められる。この場合、この座標は、上下
の輝度の重みを考慮して補正されているので、精度が高
いものになる。その後、座標演算部１６が演算した座標
に基づいて基準線Ｋの角度θを演算して傾きを求める等
する。
【００１７】そして、算出した角度分だけ、電子部品１
を回転させれば、基準線Ｋを標準線Ｈと平行にする位置
合せを行なうことができる。この場合上記算出された角
度の精度が高いので、誤差を少なくすることができる。
【００１８】尚、上記実施例において、基準線Ｋを配線
パターン５のエッジに設定したが、必ずしもこれに限定
されるものではなく、他の部分に設定しても良い。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の被測定物
の位置検出方式によれば、カメラ装置で被測定物を撮像
し、座標演算部において、輝度差が最大となる画素座標
を輝度差を用いる数式１により補正して、基準線の座標
の演算を行なうので、求める座標が上下の輝度の重みを
考慮して補正されることから、精度の高い座標が得ら
れ、特に、単に画素座標の読み取りではプラスマイナス
１画素の量子化誤差の発生が避けられないが、本発明に
よれば、量子化誤差を１画素以下にすることができ、そ
れだけ、精度の高い座標を得ることができる。その結
果、被測定物の位置検出の精度を大幅に向上させること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の被測定物の位置検出方式の構成を示す
ブロック図である。
【図２】実施例に係る位置検出方式の読取り及び算出デ
ータの一例を示す図である。
【図３】電子部品の一例を模式的に示す図である。
【符号の説明】
１ 電子部品 ５ 配線パターン Ｋ 基準線 Ｈ 標準線 １０ カメラ装置 １１ 画素座標系 １３ 輝度読取部 １４ 輝度差算出部 １５ 画素座標読出部 １６ 座標演算部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 南幅 留男 岩手県紫波郡都南村津志田26地割17の２ 岩手県工業試験場内 (72)発明者 佐々木 淳 岩手県紫波郡都南村津志田26地割17の２ 岩手県工業試験場内 (72)発明者 大島 千里 岩手県岩手郡滝沢村字滝沢野沢62−536 (72)発明者 中野 敦弘 岩手県盛岡市加賀野三丁目12番29号 審査官 篠崎 正

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 基準線を有する被測定物をカメラ装置で
    撮像し、この撮像結果から被測定物の標準線に対する位
    置を検出する被測定物の位置検出方式において、基準線
    の撮像画面であって標準線の傾きをゼロとした画素座標
    系において標準線に直交する方向の画素の輝度を読み取
    る輝度読取部と、隣接する画素の輝度の輝度差を算出す
    る輝度差算出部と、輝度差算出部が算出した輝度差が最
    大となる画素座標を読み出す画素座標読出部と、画素座
    標読出部が読み出した画素座標を上記輝度差を用いる以
    下の数式１により補正し上記基準線の座標の演算を行な
    う座標演算部とを備えたことを特徴とする被測定物の位
    置検出方式。【数３】
JP3223391A 1991-08-07 1991-08-07 被測定物の位置検出方式 Expired - Lifetime JPH0792365B2 (ja)

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JPH0540014A JPH0540014A (ja) 1993-02-19
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JP5278207B2 (ja) * 2009-07-09 2013-09-04 三菱電機ビルテクノサービス株式会社 エレベータの主ロープテンション点検装置

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