JPH0787045A - Multi-frame pattern detection circuit - Google Patents

Multi-frame pattern detection circuit

Info

Publication number
JPH0787045A
JPH0787045A JP5231426A JP23142693A JPH0787045A JP H0787045 A JPH0787045 A JP H0787045A JP 5231426 A JP5231426 A JP 5231426A JP 23142693 A JP23142693 A JP 23142693A JP H0787045 A JPH0787045 A JP H0787045A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frame pattern
frame
pattern
subframe
pattern detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP5231426A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Kinoshita
裕之 木下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP5231426A priority Critical patent/JPH0787045A/en
Publication of JPH0787045A publication Critical patent/JPH0787045A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
  • Time-Division Multiplex Systems (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce the coincides return time of a frame pattern by forming a multi-frame pattern in a complete form based on a sub-frame. CONSTITUTION:The circuit is provided with n-sets of frame pattern detection sections 3-1 to 3-n comparing a sub-frame pattern from a frame pattern extract section 1 with a predetermined sub-frame pattern from frame pattern generating sections 2-1 to 2-n to detect a multi-frame pattern, an OR gate 4 Oring output signals of the frame pattern detection sections 3-1 to 3-n to output an output, and also with a protection circuit section 5 receiving an output signal of the OR gate 4 to take protection over a predetermined number of stages and using the result for a multi-frame coincidence output, and a reset pulse generating section 6 detecting a leading or a trailing of the output signal of each of the frame pattern detection sections 3-1 to 3-n to generate a pulse used to reset the protection circuit section 5.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はマルチフレームパタン検
出回路に関し、特に伝送装置等に於けるデータ信号中の
マルチフレームのパタンを検出し、保護をとることによ
りマルチフレームのパタンを検出する回路に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-frame pattern detection circuit, and more particularly to a circuit for detecting a multi-frame pattern in a data signal in a transmission device or the like and detecting the protection to detect the multi-frame pattern. It is a thing.

【0002】伝送装置の高信頼化・高品質化に伴い、送
信側と受信側との同期を取るため、単一のフレームパタ
ンではなく、複数のフレームパタンから成るマルチフレ
ームパタンが用いられるようになっており、この場合の
マルチフレームパタンを検出する回路が必要になってい
る。
With the increase in reliability and quality of transmission equipment, a multi-frame pattern composed of a plurality of frame patterns is used instead of a single frame pattern to synchronize the transmission side and the reception side. Therefore, a circuit for detecting the multi-frame pattern in this case is required.

【0003】[0003]

【従来の技術】このようなマルチフレームパタン検出回
路の従来の構成例が図16に示されており、図中、11
はフレームタイミングパルスFP1によりフレームパタ
ンを発生するフレームパタン発生部、12はフレームタ
イミングパルスFP1により受信データ中のフレームパ
タンを抽出するフレームパタン抽出部、13はフレーム
タイミングパルスFP1とフレームパタン発生部11及
びフレームパタン抽出部12の各出力信号によりフレー
ムパタンを検出して先頭フレームを示すパルスBを出力
するフレームパタン検出部、そして14はフレームパタ
ン検出部13の出力信号及びフレームタイミングパルス
FP2により所定のN段の保護を行ってフレームパタン
一致検出パルスAを出力する保護回路部である。
2. Description of the Related Art FIG. 16 shows a conventional configuration example of such a multi-frame pattern detection circuit.
Is a frame pattern generation unit that generates a frame pattern according to the frame timing pulse FP1, 12 is a frame pattern extraction unit that extracts a frame pattern in the received data according to the frame timing pulse FP1, 13 is a frame timing pulse FP1 and a frame pattern generation unit 11, and A frame pattern detection unit that detects a frame pattern from each output signal of the frame pattern extraction unit 12 and outputs a pulse B indicating the first frame, and 14 is a predetermined N according to the output signal of the frame pattern detection unit 13 and the frame timing pulse FP2. This is a protection circuit unit that protects the stages and outputs a frame pattern coincidence detection pulse A.

【0004】このマルチフレームパタン検出回路の動作
を図16及び図17のタイムチャートを参照して以下に
説明する。
The operation of this multi-frame pattern detection circuit will be described below with reference to the time charts of FIGS.

【0005】まず、フレームパタン発生部11は図示し
ない周知の手段から発生されるフレームタイミングパル
スFP1を利用してフレームパタンを生成すると共にフ
レームパタンの先頭を示すパルス(*で図示)を生成し
てフレームパタン検出部13に送出する。
First, the frame pattern generator 11 generates a frame pattern by using a frame timing pulse FP1 generated from a well-known means (not shown) and also generates a pulse (shown by *) indicating the beginning of the frame pattern. It is sent to the frame pattern detection unit 13.

【0006】また、フレームパタン抽出部12はフレー
ムタイミングパルスFP1を利用して受信データからフ
レームパタンを抽出しやはりフレームパタン検出部13
に送出する。
Further, the frame pattern extraction unit 12 extracts a frame pattern from the received data by using the frame timing pulse FP1 and also the frame pattern detection unit 13
Send to.

【0007】そして、フレームパタン検出部13では、
受信データから抽出したフレームパタンとフレームパタ
ン発生部11からのフレームパタンとを比較することに
より両者が一致しているか否かを検出する。また、この
フレームパタン検出部13からは先頭フレームを示唆す
るパルスBが出力される。
Then, in the frame pattern detector 13,
By comparing the frame pattern extracted from the received data with the frame pattern from the frame pattern generation unit 11, it is detected whether or not they match. Further, the frame pattern detection unit 13 outputs a pulse B indicating the first frame.

【0008】その結果をフレームタイミングパルスFP
2を利用して保護回路部14でN段の保護段で確認した
後、確実なパタン一致検出を行うが、図17の例ではフ
レームパタン検出部13の出力がパタン不一致を示して
から前方保護段Nだけ経由した後にパルスAはパタン一
致状態(Hレベル)からパタン不一致状態(Lレベル)
に変化している。
The result is the frame timing pulse FP
After confirming N protection stages in the protection circuit unit 14 using 2, the reliable pattern matching detection is performed, but in the example of FIG. 17, the output of the frame pattern detection unit 13 indicates the pattern mismatch, and then the forward protection is performed. After passing only the stage N, the pulse A changes from the pattern matching state (H level) to the pattern mismatching state (L level).
Has changed to.

【0009】また、図18に示すようにパタン一致を検
出するときには一致検出したときから後方N段の保護を
経由してパルスAはパタン不一致状態(Lレベル)から
パタン一致状態(Hレベル)に変化している。
Further, as shown in FIG. 18, when the pattern matching is detected, the pulse A is changed from the pattern non-matching state (L level) to the pattern matching state (H level) via the protection of the rear N stages from the time when the pattern matching is detected. Is changing.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】ところが、フレームパ
タン発生部11から出力するフレームパタンは1サイク
ルが1種類なので、パタン不一致を起こした時にハンチ
ングに入るが、1サブフレームのずれがあると1マルチ
フレームのハンチング時間を要し、そして後方保護をと
ってパタン一致状態となる。そのため、パタン一致復帰
時間が長くなってしまう。
However, since the frame pattern output from the frame pattern generation unit 11 has one type of cycle, hunting occurs when a pattern mismatch occurs, but one multi-frame occurs when there is a shift of one subframe. It takes hunting time for the frame, and protects the rear side to achieve the pattern matching state. Therefore, the pattern matching recovery time becomes long.

【0011】言い換えると、フレームパタン発生部及び
フレームパタン検出部が1つであるため、フレームパタ
ンを早く捜すことが出来ず、パタン一致復帰に時間がか
かるという問題点を生じていた。
In other words, since there is only one frame pattern generation unit and one frame pattern detection unit, it is not possible to quickly search for a frame pattern, which causes a problem that it takes time to restore the pattern coincidence.

【0012】従って本発明は、フレームパタンの一致復
帰時間を短縮することのできるマルチフレームパタン検
出回路を提供することを目的とする。
Therefore, it is an object of the present invention to provide a multi-frame pattern detection circuit which can shorten the frame pattern coincidence recovery time.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段及び作用】〔1−1〕本発
明(その1)の手段:図1 上記の目的を達成するため、本発明に係るマルチフレー
ムパタン検出回路は、図1に原理的に示すように、フレ
ームタイミングパルスにより受信データからマルチフレ
ームを構成するn(nは2以上の自然数)個のサブフレ
ームパタンを抽出するフレームパタン抽出部1と、フレ
ームタイミングパルスにより互いに1サブフレーム分だ
け順次ずれたn個の所定サブフレームパタンを発生させ
るn個のフレームパタン発生部2−1〜2−nと、該フ
レームパタン抽出部1からのサブフレームパタンと該フ
レームパタン発生部2−1〜2−nからの該所定サブフ
レームパタンとを比較して該マルチフレームパタンを検
出するn個のフレームパタン検出部3−1〜3−nと、
各フレームパタン検出部3−1〜3−nの出力信号の論
理和を取って出力するORゲート4と、該ORゲート4
の出力信号を入力して所定段数の保護を取り、その結果
をマルチフレーム一致出力とする保護回路部5と、各フ
レームパタン検出部3−1〜3−nの出力信号の立ち上
がり又は立ち下がりを検出して該保護回路部5をリセッ
トするパルスを発生するリセットパルス発生部6とを備
えている。
[Means and Actions for Solving the Problems] [1-1]
Means for clarity (1): FIG. 1 In order to achieve the above object, the multi-frame pattern detection circuit according to the present invention constructs a multi-frame from received data by frame timing pulses as shown in principle in FIG. A frame pattern extraction unit 1 that extracts n (n is a natural number of 2 or more) subframe patterns, and n that generates n predetermined subframe patterns that are sequentially displaced from each other by one subframe by a frame timing pulse. Of the frame pattern generation units 2-1 to 2-n, the subframe pattern from the frame pattern extraction unit 1 and the predetermined subframe pattern from the frame pattern generation units 2-1 to 2-n. N frame pattern detection units 3-1 to 3-n for detecting the multi-frame pattern,
An OR gate 4 that outputs the logical sum of the output signals of the frame pattern detection units 3-1 to 3-n, and the OR gate 4
Of the output signal of each of the frame pattern detection units 3-1 to 3-n and the protection circuit unit 5 that outputs the output signal as a multi-frame coincidence output. A reset pulse generator 6 for detecting and generating a pulse for resetting the protection circuit unit 5 is provided.

【0014】そして、上記の場合、各フレームパタン検
出部3−1〜3−nは先頭サブフレームパタンの検出を
示すパルスをORゲート7を介して出力することができ
る。
In the above case, each frame pattern detecting section 3-1 to 3-n can output a pulse indicating the detection of the leading subframe pattern via the OR gate 7.

【0015】また、保護回路部5は、ORゲート4の出
力信号によりサブフレームパタンの不一致を検出したと
き各フレームパタン検出部3−1〜3−nをリセットし
てハンチングさせないようにすることができる。
Further, the protection circuit section 5 can reset each frame pattern detection section 3-1 to 3-n to prevent hunting when a subframe pattern mismatch is detected by the output signal of the OR gate 4. it can.

【0016】〔1−2〕本発明(その1)の作用:図2
〜図4 本発明は、端的に言えば、フレームパタン発生部及びフ
レームパタン検出部をn個のサブフレーム数分だけ持つ
ことにより、常に全てのサブフレームパタンを各フレー
ムパタン検出部で監視し検出することにより、常にn個
中のいずれかのフレームパタン検出部でサブフレームの
フレームパタンを検出しているためパタン一致復帰時間
を短くすることができ、更には電源立ち上げ時等におけ
るパタン不一致時にはハンチングせずにすぐに後方保護
に入るのでこの点からもパタン一致復帰時間を短くする
ことができる。
[1-2] Action of the present invention (No. 1): FIG.
4 to put it simply, the present invention has a frame pattern generation unit and a frame pattern detection unit for n subframes, so that all the subframe patterns are always monitored and detected by each frame pattern detection unit. By doing so, the pattern matching recovery time can be shortened because the frame pattern of the sub-frame is always detected by one of the n frame pattern detecting units. Since the rear protection is immediately started without hunting, the pattern matching return time can be shortened also from this point.

【0017】以下、これを図2〜図4を参照して詳述す
る。尚、これらの図においてカッコで示した波形は後述
する実施例において用いられるものである。
Hereinafter, this will be described in detail with reference to FIGS. The waveforms shown in parentheses in these figures are used in the examples described later.

【0018】まず、フレームパタン抽出部1はフレーム
タイミングパルスFP1を利用して受信データ中のサブ
フレームパタンを抽出してフレームパタン検出部3−1
〜3−nに送る。
First, the frame pattern extraction unit 1 extracts a sub-frame pattern in received data by using the frame timing pulse FP1 to detect a frame pattern detection unit 3-1.
~ Send to 3-n.

【0019】また、n個のフレームパタン発生部2−1
〜2−nはフレームタイミングパルスFP1により互い
に1サブフレーム分だけ順次ずれたn個の所定サブフレ
ームパタンを発生させる。
Further, n frame pattern generators 2-1
.About.2-n generate n predetermined subframe patterns which are sequentially shifted by one subframe from each other by the frame timing pulse FP1.

【0020】即ち、フレームパタン発生部2−1はマル
チフレームを第1サブフレームから第nサブフレームの
所定フレームパタンを発生し、フレームパタン発生部2
−2は第2サブフレームから第nサブフレーム及び第1
サブフレームのフレームパタンを発生し、同様にして最
後のフレームパタン発生部2−nは第nサブフレームか
ら第n−1サブフレームのフレームパタンを発生する
(図2参照)。
That is, the frame pattern generation unit 2-1 generates a predetermined frame pattern from the first subframe to the nth subframe of the multiframe, and the frame pattern generation unit 2
-2 is from the second sub-frame to the n-th sub-frame and the first
The frame pattern of the subframe is generated, and the last frame pattern generation unit 2-n similarly generates the frame pattern of the nth subframe to the (n-1) th subframe (see FIG. 2).

【0021】フレームパタン検出部3−1〜3−nは、
フレームパタン抽出部1からのサブフレームパタンと各
フレームパタン発生部2−1〜2−nからのフレームパ
タンをそれぞれ比較して一致した場合はHレベルとし不
一致の場合はLレベル(その逆でも可)とする。この結
果、必ず1つのフレームパタン検出部の出力はHレベル
となり、その他はLレベルとなる(図3参照)。
The frame pattern detectors 3-1 to 3-n are
The sub-frame patterns from the frame pattern extraction unit 1 and the frame patterns from the respective frame pattern generation units 2-1 to 2-n are compared with each other, and if they match each other, the H level is set. If they do not match, the L level (or vice versa is also possible). ). As a result, the output of one frame pattern detection unit is always at H level, and the other is at L level (see FIG. 3).

【0022】また、好ましくは各フレームパタン検出部
3−1〜3−nの内の1つの検出部からは、パタン一致
時に於いて、マルチフレームの第1サブフレームを示す
パルスa〜xを出力しORゲート7を介して先頭フレー
ムを示すパルスBを発生する。
Preferably, one of the frame pattern detecting units 3-1 to 3-n outputs pulses a to x indicating the first sub-frame of the multi-frame when the patterns match. Then, a pulse B indicating the first frame is generated via the OR gate 7.

【0023】各フレームパタン検出部3−1〜3−nの
出力信号はORゲート4で論理和を行った後、保護回路
部5に送られる。保護回路部5では06はORゲート4
からのフレームパタン検出結果を所定の保護段数を取っ
てパタン一致検出を行いパタン一致検出パルスAを出力
する。
The output signals of the frame pattern detectors 3-1 to 3-n are ORed by the OR gate 4 and then sent to the protection circuit unit 5. In the protection circuit section 5, 06 is an OR gate 4.
The frame pattern detection result is obtained by detecting a predetermined number of protection steps, and a pattern matching detection pulse A is output.

【0024】この場合、保護回路部5は図3及び図4に
示す如く、ORゲート4の出力がHレベルのパタン一致
を示したときから保護段数を取るのでは無くリセットパ
ルス発生部6からのリセットパルスが無くなったときか
ら保護段数を取る。
In this case, as shown in FIGS. 3 and 4, the protection circuit section 5 does not take the number of protection stages from when the output of the OR gate 4 shows the pattern matching of the H level, but rather from the reset pulse generation section 6. The number of protection steps is taken when the reset pulse is exhausted.

【0025】即ち、リセットパルス発生部6は各フレー
ムパタン検出部3−1〜3−nからの検出結果を入力
し、そのパルスの立ち上がりエッジ(又は立ち下がりエ
ッジ)を利用してリセットパルス(1クロック幅のパル
ス)を発生させ保護回路部5へ出力される。
That is, the reset pulse generator 6 receives the detection results from the respective frame pattern detectors 3-1 to 3-n and uses the rising edge (or falling edge) of the pulse to reset the reset pulse (1 A pulse having a clock width) is generated and output to the protection circuit unit 5.

【0026】このリセットパルスにより、フレームパタ
ン抽出部1から同一のフレームパタンが抽出されても保
護回路部5をリセットすることによりパタン一致状態に
なることを回避する。図3及び図4の例では、フレーム
パタン検出部3−4の出力パルスがパタン一致検出した
時点で始めて保護回路部5は保護動作を開始し、所定保
護段数を経てパタン一致検出パルスを出力している。
By this reset pulse, even if the same frame pattern is extracted from the frame pattern extraction unit 1, resetting the protection circuit unit 5 prevents the pattern matching state. In the example of FIGS. 3 and 4, the protection circuit unit 5 starts the protection operation only when the output pulse of the frame pattern detection unit 3-4 detects the pattern coincidence, and outputs the pattern coincidence detection pulse after a predetermined number of protection stages. ing.

【0027】尚、保護回路部5はパルスCを出力して電
源立ち上げ時時のパタン不一致時において各フレームパ
タン検出部3−1〜3−nをリセットしてハンチングし
なくてもよい状態にしてすぐに後方保護に入れるように
することが好ましい。
The protection circuit unit 5 outputs the pulse C to reset the frame pattern detection units 3-1 to 3-n when the power supply is turned off and the patterns are not matched, so that hunting does not have to be performed. It is preferable to immediately put it in the rear protection.

【0028】〔2−1〕本発明(その2)の手段:図5 本発明においては、図5に原理的に示すように、図1に
示した本発明(その1)におけるn個のフレームパタン
発生部2−1〜2−nの代わりに、1個のフレームパタ
ン発生部2と該フレームパタン発生部2から発生された
フレームパタンから互いに1サブフレーム分だけ順次ず
れたn−1個の所定サブフレームパタンを発生させるn
−1個の加算回路20−1〜20−n−1とを用いてい
る。
[2-1] Means of the present invention (No. 2): FIG. 5 In the present invention, as shown in principle in FIG. 5, n frames in the present invention (No. 1) shown in FIG. Instead of the pattern generating units 2-1 to 2-n, one frame pattern generating unit 2 and n-1 number of frame patterns generated from the frame pattern generating unit 2 are sequentially shifted by one subframe from each other. N for generating a predetermined subframe pattern
-1 adder circuits 20-1 to 20-n-1 are used.

【0029】〔2−2〕本発明(その2)の作用:図6
〜図8 本発明は、端的に言えば、フレームパタン発生部1つに
対してn−1ずつサブフレームパタンが移行する加算す
る加算回路をn−1個設けてn個のサブフレームパタン
発生を行い、そして、フレームパタン検出部をn個持つ
ことにより、常に全てのサブフレームパタンを各フレー
ムパタン検出部で監視し検出することにより常にn個中
のいずれかのフレームパタン検出部でサブフレームのフ
レームパタンを検出しているためパタン一致復帰時間を
短くすることができ、更には電源立ち上げ時等のパタン
不一致時にはハンチングせずにすぐに後方保護に入るの
でこの点からもパタン一致復帰時間を短くすることがで
きる。
[2-2] Action of the present invention (No. 2): FIG.
8 is, to put it simply, the present invention provides n-1 adder circuits for adding n-1 subframe patterns to one frame pattern generating unit to generate n subframe patterns. By having n number of frame pattern detectors, all the subframe patterns are always monitored and detected by each frame pattern detector, so that one of n frame pattern detectors always detects the subframe. Since the pattern match recovery time can be shortened because the frame pattern is detected, and in the case of pattern mismatch such as when the power is turned on, the rear protection immediately starts without hunting. Can be shortened.

【0030】以下、これを図6〜図8を参照して説明す
る。尚、これらの図においてカッコで示した波形は後述
する実施例において用いられるものである。
This will be described below with reference to FIGS. 6 to 8. The waveforms shown in parentheses in these figures are used in the examples described later.

【0031】まず、フレームパタン抽出部1はフレーム
タイミングパルスFP1を利用して受信データ中のサブ
フレームパタンを抽出してフレームパタン検出部3−1
〜3−nに送る。
First, the frame pattern extraction unit 1 extracts the sub-frame pattern in the received data by using the frame timing pulse FP1 to detect the frame pattern detection unit 3-1.
~ Send to 3-n.

【0032】また、1個のフレームパタン発生部2はフ
レームタイミングパルスFP1により第1サブフレーム
から第nサブフレームのフレームパタンを発生してフレ
ームパタン検出部3−1並びにn−1個の加算回路20
−1〜20−n−1に与える。
Further, one frame pattern generator 2 generates a frame pattern of the first sub-frame to the n-th sub-frame by the frame timing pulse FP1 to generate a frame pattern detector 3-1 and n-1 adder circuits. 20
-1 to 20-n-1.

【0033】加算回路20−1では、それぞれフレーム
パタン発生部2からのフレームパタンを1サブフレーム
分だけ順次ずらすことにより、第2サブフレームから第
nサブフレーム及び第1サブフレームのフレームパタン
を発生する。また加算回路20−2では第3サブフレー
ムから第2サブフレームのフレームパタンを発生する。
同じようにして最後の加算回路20−n−1は第nサブ
フレームから第n−1サブフレームのフレームパタンを
発生する(図6参照)。
In the adder circuit 20-1, the frame patterns from the frame pattern generating section 2 are sequentially shifted by one subframe to generate the frame patterns of the second subframe to the nth subframe and the first subframe. To do. Further, the adder circuit 20-2 generates a frame pattern of the third subframe to the second subframe.
Similarly, the final adder circuit 20-n-1 generates a frame pattern from the nth subframe to the (n-1) th subframe (see FIG. 6).

【0034】このようにしてフレームパタン発生部2並
びに加算回路20−1〜20−n−1から発生された互
いに1サブフレーム分だけ順次ずれたn個の所定サブフ
レームパタンはフレームパタン抽出部1からのサブフレ
ームパタンとそれぞれ比較され一致の場合はHレベルと
し不一致の場合はLレベル(その逆でも可)とする。
In this way, the n predetermined sub-frame patterns generated by the frame pattern generator 2 and the adder circuits 20-1 to 20-n-1 and sequentially shifted from each other by one sub-frame are the frame pattern extractor 1. The sub-frame patterns from are compared with each other, and if they match, the H level is set, and if they do not match, the L level is set (or vice versa).

【0035】以下の動作は図7及び図8に示す通り、図
3及び図4に示した本発明(その1)の例と同様である
ので説明は省略する。
The following operation is the same as that of the example of the present invention (No. 1) shown in FIGS. 3 and 4, as shown in FIGS. 7 and 8, and therefore its explanation is omitted.

【0036】〔3−1〕本発明(その3)の手段:図9 本発明においては、図9に原理的に示したように、図1
に示したn個のフレームパタン発生部2−1〜2−nの
代わりに、互いに1サブフレーム分だけ順次ずれたn個
の所定サブフレームパタンを発生させる1個のフレーム
パタン発生部2を用いている。
[3-1] Means of the Present Invention (Part 3): FIG. 9 In the present invention, as shown in principle in FIG.
Instead of the n frame pattern generation units 2-1 to 2-n shown in FIG. 1, one frame pattern generation unit 2 for generating n predetermined subframe patterns sequentially shifted by one subframe from each other is used. ing.

【0037】〔3−2〕本発明(その3)の作用:図1
0〜図12 本発明は、端的に言えば、n種類のサブフレーム周期が
違うフレームパタン発生させる1個のフレームパタン発
生部とフレームパタン検出部をn個持つことにより、常
に全てのサブフレームパタンを各フレームパタン検出部
で監視し検出することににより、常にn個中のいずれか
のフレームパタン検出部でサブフレームのフレームパタ
ンを検出しているため、パタン一致復帰時間を短くする
ことができ、更には電源立ち上げ時等のパタン不一致時
にはハンチングせずにすぐに後方保護に入るのでこの点
からもパタン一致復帰時間を短くすることができる。
[3-2] Action of the present invention (No. 3): FIG.
0 to FIG. 12 In short, the present invention has n frame pattern generating units and n frame pattern detecting units that generate frame patterns of different n types of subframe periods, so that all subframe patterns are always maintained. By monitoring and detecting each of the frame pattern detecting units, the frame pattern of the subframe is always detected by any one of the n frame pattern detecting units, so that the pattern matching recovery time can be shortened. In addition, since the rear protection is immediately started without hunting when the patterns do not match when the power is turned on, the pattern matching return time can be shortened from this point as well.

【0038】これを図10〜図12により以下に説明す
る。尚、これらの図においてカッコで示した波形は後述
する実施例において用いられるものである。
This will be described below with reference to FIGS. The waveforms shown in parentheses in these figures are used in the examples described later.

【0039】フレームパタン抽出部1は上記の場合と同
様にフレームタイミングパルスFP1を利用して受信デ
ータ中のフレームパタンを抽出してフレームパタン検出
部3−1〜3−nへ送出する。
The frame pattern extraction unit 1 extracts the frame pattern in the received data using the frame timing pulse FP1 and sends it to the frame pattern detection units 3-1 to 3-n as in the above case.

【0040】一方、フレームパタン発生部2は、互いに
1サブフレーム分ずれたマルチフレームパタンをn本発
生する。即ち、このフレームパタン発生部2は、第1サ
ブフレームから第nサブフレームのマルチフレームパタ
ン、第2サブフレームから第nサブフレームそして第1
サブフレームまでのマルチフレームパタン、同様にして
最後に第nサブフレームから第n−1サブフレームまで
のマルチフレームパタンを順次発生してフレームパタン
検出部3−1〜3−nにそれぞれ与える(図10参
照)。
On the other hand, the frame pattern generator 2 generates n multi-frame patterns which are offset by one sub-frame from each other. That is, the frame pattern generation unit 2 includes a multiframe pattern from the first subframe to the nth subframe, a second subframe to the nth subframe, and a first subframe.
Multiframe patterns up to subframes, similarly, finally, multiframe patterns from the nth subframe to the (n-1) th subframe are sequentially generated and given to the frame pattern detection units 3-1 to 3-n respectively (see FIG. 10).

【0041】以下の動作は図11及び図12に示す通
り、図3及び図4に示した本発明(その1)の例と同様
であるので説明は省略する。
The following operation is the same as that of the example of the present invention (No. 1) shown in FIGS. 3 and 4, as shown in FIGS. 11 and 12, and therefore its explanation is omitted.

【0042】[0042]

【実施例】〔1〕本発明(その1)の実施例:図13,
図2及び図3 この実施例では、図1に示した原理図において、マルチ
フレームを構成する各サブフレームの下位2ビットが、
「00」,「01」,「10」,「11」と変化するも
のとし、これによりフレームパタン抽出部1は4種類の
フレームパタンを抽出する。また、これに合わせて4個
のフレームパタン発生部2−1〜2−4と4個のフレー
ムパタン検出部3−1〜3−4とが設けられている。ま
た、フレームパタン抽出部1から各フレームパタン検出
部3−1〜3−4には受信データから抽出したフレーム
パタンと共にこれらのフレームパタンを読み込むために
必要な読み込みパルス(図13及び図2中で*で図示)
を発生している。
EXAMPLE [1] Example of the present invention (No. 1): FIG.
2 and 3 In this embodiment, in the principle diagram shown in FIG. 1, the lower 2 bits of each sub-frame forming a multi-frame are
The frame pattern extraction unit 1 extracts four types of frame patterns by changing the values to “00”, “01”, “10”, and “11”. In addition, four frame pattern generators 2-1 to 2-4 and four frame pattern detectors 3-1 to 3-4 are provided in accordance with this. In addition, the frame pattern extraction unit 1 to each of the frame pattern detection units 3-1 to 3-4, together with the frame patterns extracted from the received data, read pulse necessary for reading these frame patterns (in FIGS. 13 and 2). (Illustrated by *)
Is occurring.

【0043】フレームパタン発生部2−1〜2−4はカ
ウンタで構成されており、それぞれサブフレームパタン
00→11,01→00,10→01,11→00を発
生すると共に該サブフレームパタンの先頭を示すパルス
(図13及び図2中で*で図示)を出力して各フレーム
パタン検出部3−1〜3−4に与える。
The frame pattern generators 2-1 to 2-4 are composed of counters, which generate subframe patterns 00 → 11, 01 → 00, 10 → 01, 11 → 00, respectively, and generate subframe patterns of the subframe patterns. A pulse indicating the beginning (indicated by * in FIGS. 13 and 2) is output and given to each frame pattern detection unit 3-1 to 3-4.

【0044】フレームパタン検出部3−1〜3−4で
は、フレームパタン抽出部1からのフレームパタンと各
カウンタ2−1〜2−4からのフレームパタンをそれぞ
れ比較し、一致の場合はHレベルとし不一致の場合はL
レベルとしている。この結果、出力は必ず1つのフレー
ムパタン検出部の結果がHレベルとなり、その他はLレ
ベルとなる。
In the frame pattern detection units 3-1 to 3-4, the frame pattern from the frame pattern extraction unit 1 and the frame patterns from the counters 2-1 to 2-4 are compared with each other. If there is a mismatch, L
It has a level. As a result, the output of one frame pattern detection unit is always at the H level, and the other outputs are at the L level.

【0045】また、各フレームパタン検出部3−1〜3
−4では、パタン一致検出時に於いて、マルチフレーム
の第1サブフレームを示すパルスa〜dを発生する。各
フレームパタン検出部3−1〜3−4の検出結果及びマ
ルチフレームの第1サブフレームを示すパルスa〜d
は、保護回路部5から出力されるパルスC(図3参照)
により制御される。
Further, each frame pattern detector 3-1 to 3
At -4, pulses a to d indicating the first subframe of the multiframe are generated at the time of pattern coincidence detection. Pulses a to d indicating the detection result of each frame pattern detection unit 3-1 to 3-4 and the first subframe of the multiframe
Is a pulse C output from the protection circuit unit 5 (see FIG. 3)
Controlled by.

【0046】このパルスCはパルス一致検出時に各フレ
ームパタン検出部3−1〜3−4を有効にし、電源立ち
上げ時等のパルス不一致検出時にはフレームパタン検出
部3−1〜3−4の結果及びマルチフレームの第1サブ
フレームを示すパルス出力をインヒビットする。
This pulse C validates each frame pattern detection unit 3-1 to 3-4 at the time of detecting the pulse coincidence, and the result of the frame pattern detection unit 3-1 to 3-4 at the time of detecting the pulse disagreement at the time of power-on. And inhibit the pulse output indicating the first sub-frame of the multi-frame.

【0047】また、リセットパルス発生部6は微分回路
で構成され、フレームパタン検出部3−1〜3−4から
の検出結果〜を入力して立上がりエッジ(又は立ち
下がりエッジ)を利用して1クロック幅のリセットパル
スを発生させるものである(図3参照)。
The reset pulse generator 6 is composed of a differentiating circuit, receives the detection results 1 to 3 from the frame pattern detectors 3-1 to 3-4, and uses the rising edge (or the falling edge) to make 1 A reset pulse having a clock width is generated (see FIG. 3).

【0048】このリセットパルス発生部6からのリセッ
トパルスは、上述の如く、保護回路部5へ出力され、フ
レームパタン抽出部1から同一のフレームパタンが一時
的に抽出されても、完全にサブフレームパタンが一致検
出されるまで保護回路部5をリセットすることによりパ
タンの不完全一致状態になることを回避させている。
The reset pulse from the reset pulse generating section 6 is output to the protection circuit section 5 as described above, and even if the same frame pattern is temporarily extracted from the frame pattern extracting section 1, it is completely subframed. By resetting the protection circuit unit 5 until a pattern match is detected, incomplete pattern match state is avoided.

【0049】保護回路部5では、フレームパタン検出部
3−1〜3−4での検出結果をフレームタイミングパル
スFP2(図3参照)を利用して、前方及び後方に5段
の保護段数を取り、パタン一致検出を行いパタン一致検
出パルスAを出力している。
The protection circuit section 5 uses the frame timing pulse FP2 (see FIG. 3) to detect the detection results of the frame pattern detection sections 3-1 to 3-4 and obtains five protection steps forward and backward. , Pattern coincidence detection is performed and a pattern coincidence detection pulse A is output.

【0050】また、各フレームパタン検出部3−1〜3
−4からのマルチフレームの第1サブフレームを示すパ
ルスa〜dをORゲート7により論理和を行い、パタン
一致状態時において、マルチフレームの第1サブフレー
ムを示すパルスBを出力する。
Further, each frame pattern detector 3-1 to 3
The pulses a to d indicating the first sub-frame of the multi-frame from -4 are ORed by the OR gate 7, and the pulse B indicating the first sub-frame of the multi-frame is output in the pattern matching state.

【0051】〔2〕本発明(その2)の実施例:図1
4,図6及び図7 この実施例においても、図5に示した原理図において、
図13の実施例と同様にマルチフレームの各サブフレー
ムの下位2ビットが、「00」,「01」,「10」,
「11」と変化するものとし、フレームパタン抽出部1
は4種類のフレームパタンを抽出し、また、フレームパ
タン検出部2に必要な読み込みパルス(図14及び図6
中で*で図示)を発生して4つのフレームパタン検出部
3−1〜3−4にそれぞれ送出する。
[2] Embodiment of the present invention (Part 2): FIG.
4, FIG. 6 and FIG. 7 In this embodiment also, in the principle diagram shown in FIG.
Similar to the embodiment of FIG. 13, the lower 2 bits of each subframe of the multiframe are “00”, “01”, “10”,
The frame pattern extraction unit 1 is assumed to change to “11”.
Extract four types of frame patterns, and read pulses necessary for the frame pattern detection unit 2 (see FIGS. 14 and 6).
(Indicated by * in the figure) is generated and sent to each of the four frame pattern detection units 3-1 to 3-4.

【0052】1個のみ設けられているフレームパタン発
生部2は、00→11を発生するカウンタで構成されて
おり、3つの加算回路20−1〜20−3は、カウンタ
2の出力値「11」にそれぞれ加算して、01→00,
10→01,11→00のサブフレームパタンを発生す
ると共に該サブフレームパタンの先頭を示すパルス(図
14及び図6中で*で図示)を出力して各フレームパタ
ン検出部3−1〜3−4に与える。
The frame pattern generator 2 provided with only one is composed of a counter for generating 00 → 11, and the three adder circuits 20-1 to 20-3 have the output value "11" of the counter 2. ], And add 01 → 00,
10 → 01, 11 → 00 subframe patterns are generated, and a pulse (indicated by * in FIGS. 14 and 6) indicating the beginning of the subframe patterns is output to output each frame pattern detection unit 3-1 to 3-3. Give to -4.

【0053】フレームパタン検出部3−1〜3−4で
は、フレームパタン抽出部1からのフレームパタンとフ
レームパタン発生部1及び加算回路20−1〜20−3
からのフレームパタンをそれぞれ比較し、一致の場合は
Hレベル出力とし不一致の場合はLレベル出力としてい
る。
In the frame pattern detecting units 3-1 to 3-4, the frame pattern from the frame pattern extracting unit 1, the frame pattern generating unit 1 and the adding circuits 20-1 to 20-3 are included.
The frame patterns from 1 to 3 are compared with each other, and if they match, the H level is output, and if they do not match, the L level is output.

【0054】その他は、図6及び図7に示すように、図
13の実施例並びに図2及び図3の場合と同様であり、
説明は省略する。
Others are the same as in the embodiment of FIG. 13 and FIGS. 2 and 3, as shown in FIGS. 6 and 7,
The description is omitted.

【0055】〔3〕本発明(その3)の実施例:図1
5,図10及び図11 この実施例においても、図9に示した原理図において、
図13の実施例と同様にマルチフレームの各サブフレー
ムの下位2ビットが、「00」,「01」,「10」,
「11」と変化するものとし、フレームパタン抽出部1
は4種類のフレームパタンを抽出し、また、フレームパ
タン検出部3−1〜3−4に必要な読み込みパルス(図
15及び図10中で*で図示)を発生してそれぞれに送
出する。
[3] Embodiment of the present invention (Part 3): FIG.
5, FIG. 10 and FIG. 11 Also in this embodiment, in the principle diagram shown in FIG.
Similar to the embodiment of FIG. 13, the lower 2 bits of each subframe of the multiframe are “00”, “01”, “10”,
The frame pattern extraction unit 1 is assumed to change to “11”.
Extracts four types of frame patterns, generates necessary read pulses (indicated by * in FIGS. 15 and 10) for the frame pattern detection units 3-1 to 3-4, and sends them to each.

【0056】フレームパタン発生部2としては1個のシ
フトレジスタを用い、1つのサブフレーム周期分だけ順
次ずれたフレームパタンP1〜P4(00→11、01
→00、10→01、11→00)を発生すると共に該
サブフレームパタンの先頭を示すパルスP1*〜P4*
(図15及び図10参照)を出力して各フレームパタン
検出部3−1〜3−4に与える。
One shift register is used as the frame pattern generator 2, and frame patterns P1 to P4 (00 → 11, 01) sequentially shifted by one sub-frame period are used.
→ 00, 10 → 01, 11 → 00) and indicates the beginning of the subframe pattern P1 * to P4 *
(See FIGS. 15 and 10) is output and given to each frame pattern detection unit 3-1 to 3-4.

【0057】フレームパタン検出部3−1〜3−4で
は、フレームパタン抽出部1からのフレームパタンとフ
レームパタン発生部2からのフレームパタンP1〜P4
をそれぞれ比較して一致の場合はHレベル出力とし、不
一致の場合はLレベル出力としている。
In the frame pattern detectors 3-1 to 3-4, the frame patterns from the frame pattern extractor 1 and the frame patterns P1 to P4 from the frame pattern generator 2 are used.
Are compared with each other, and if they match, an H level output is given, and if they do not match, an L level output is given.

【0058】その他は、図10及び図11に示すよう
に、図13及び図14の実施例の場合と同様であり、説
明は省略する。
Others are the same as those of the embodiment shown in FIGS. 13 and 14, as shown in FIGS. 10 and 11, and the description thereof will be omitted.

【0059】[0059]

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るマル
チフレームパタン検出回路によれば、マルチフレームを
構成するサブフレームの数だけフレームパタンを発生す
ると共にこれらのフレームパタンを受信データから抽出
したフレームパタンと比較することにより、常にマルチ
フレームパタンをサブフレームに基づいて完全な形で検
出するように構成したので、パタン一致検出までの復帰
時間を短縮することができ伝送装置等に於いて高信頼
性、高品質化に寄与するところが大きい。
As described above, according to the multi-frame pattern detection circuit of the present invention, the frame patterns are generated by the number of sub-frames forming the multi-frame and these frame patterns are extracted from the received data. By comparing with the frame pattern, the multi-frame pattern is always detected in perfect form based on the sub-frame, so the recovery time until pattern matching detection can be shortened, and it is possible to reduce It greatly contributes to reliability and quality improvement.

【0060】また、電源立ち上げ時等のパタン不一致検
出状態に於いて、フレームパタンの検出を停止させてハ
ンチングしなくてもいいような状態にすることもでき、
このような場合にはすぐに後方保護に入れるため、より
一層のパタン一致検出までの復帰時間を短縮することが
できる。
Further, in the pattern mismatch detection state such as when the power is turned on, the detection of the frame pattern can be stopped so that the hunting does not have to be performed.
In such a case, the backward protection is immediately put into effect, so that it is possible to further shorten the recovery time until the pattern matching is detected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その1)の原理構成を示したブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a principle configuration of a multi-frame pattern detection circuit (No. 1) according to the present invention.

【図2】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その1)の動作を説明するためのタイムチャート図
(1)である。
FIG. 2 is a time chart diagram (1) for explaining the operation of the multi-frame pattern detection circuit (No. 1) according to the present invention.

【図3】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その1)の動作を説明するためのタイムチャート図
(2)である。
FIG. 3 is a time chart diagram (2) for explaining the operation of the multi-frame pattern detection circuit (No. 1) according to the present invention.

【図4】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その1)の動作を説明するためのタイムチャート図
(3)である。
FIG. 4 is a time chart diagram (3) for explaining the operation of the multi-frame pattern detection circuit (No. 1) according to the present invention.

【図5】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その2)の原理構成を示したブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a principle configuration of a multi-frame pattern detection circuit (No. 2) according to the present invention.

【図6】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その2)の動作を説明するためのタイムチャート図
(1)である。
FIG. 6 is a time chart diagram (1) for explaining the operation of the multi-frame pattern detection circuit (No. 2) according to the present invention.

【図7】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その2)の動作を説明するためのタイムチャート図
(2)である。
FIG. 7 is a time chart diagram (2) for explaining the operation of the multi-frame pattern detection circuit (No. 2) according to the present invention.

【図8】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その2)の動作を説明するためのタイムチャート図
(3)である。
FIG. 8 is a time chart diagram (3) for explaining the operation of the multi-frame pattern detection circuit (No. 2) according to the present invention.

【図9】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その3)の原理構成を示したブロック図である。
FIG. 9 is a block diagram showing a principle configuration of a multi-frame pattern detection circuit (No. 3) according to the present invention.

【図10】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その3)の動作を説明するためのタイムチャート図
(1)である。
FIG. 10 is a time chart diagram (1) for explaining the operation of the multi-frame pattern detection circuit (No. 3) according to the present invention.

【図11】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その3)の動作を説明するためのタイムチャート図
(2)である。
FIG. 11 is a time chart diagram (2) for explaining the operation of the multi-frame pattern detection circuit (No. 3) according to the present invention.

【図12】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その3)の動作を説明するためのタイムチャート図
(3)である。
FIG. 12 is a time chart diagram (3) for explaining the operation of the multi-frame pattern detection circuit (part 3) according to the present invention.

【図13】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その1)の実施例を示したブロック図である。
FIG. 13 is a block diagram showing an embodiment of a multi-frame pattern detection circuit (No. 1) according to the present invention.

【図14】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その2)の実施例を示したブロック図である。
FIG. 14 is a block diagram showing an embodiment of a multi-frame pattern detection circuit (No. 2) according to the present invention.

【図15】本発明に係るマルチフレームパタン検出回路
(その3)の実施例を示したブロック図である。
FIG. 15 is a block diagram showing an embodiment of a multi-frame pattern detection circuit (part 3) according to the present invention.

【図16】従来例の構成を示したブロック図である。FIG. 16 is a block diagram showing a configuration of a conventional example.

【図17】従来例の動作を説明するためのタイムチャー
ト図(1)である。
FIG. 17 is a time chart (1) for explaining the operation of the conventional example.

【図18】従来例の動作を説明するためのタイムチャー
ト図(2)である。
FIG. 18 is a time chart (2) for explaining the operation of the conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 フレームパタン抽出部 2,2−1〜2−n フレームパタン発生部 20−1〜20−3 加算回路 3−1〜3−n フレームパタン検出部 4,7 ORゲート 5 保護回路部 6 リセットパルス発生部 図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。 1 frame pattern extraction unit 2, 2-1 to 2-n frame pattern generation unit 20-1 to 20-3 addition circuit 3-1 to 3-n frame pattern detection unit 4, 7 OR gate 5 protection circuit unit 6 reset pulse Generation unit In the drawings, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 フレームタイミングパルスにより受信デ
ータからマルチフレームを構成するn(nは2以上の自
然数)個のサブフレームパタンを抽出するフレームパタ
ン抽出部(1)と、 フレームタイミングパルスにより互いに1サブフレーム
分だけ順次ずれたn個の所定サブフレームパタンを発生
させるn個のフレームパタン発生部(2−1〜2−n)
と、 該フレームパタン抽出部(1)からのサブフレームパタ
ンと該フレームパタン発生部(2−1〜2−n)からの
該所定サブフレームパタンとを比較して該マルチフレー
ムパタンを検出するn個のフレームパタン検出部(3−
1〜3−n)と、 各フレームパタン検出部(3−1〜3−n)の出力信号
の論理和を取って出力するORゲート(4)と、 該ORゲート(4)の出力信号を入力して所定段数の保
護を取り、その結果をマルチフレーム一致出力とする保
護回路部(5)と、 各フレームパタン検出部(3−1〜3−n)の出力信号
の立ち上がり又は立ち下がりを検出して該保護回路部
(5)をリセットするパルスを発生するリセットパルス
発生部(6)と、 を備えたことを特徴とするマルチフレームパタン検出回
路。
1. A frame pattern extraction unit (1) for extracting n (n is a natural number of 2 or more) subframe patterns constituting a multiframe from received data by a frame timing pulse, and one subframe each by a frame timing pulse. N frame pattern generators (2-1 to 2-n) that generate n predetermined sub-frame patterns that are sequentially displaced by the number of frames
And detecting the multi-frame pattern by comparing the sub-frame pattern from the frame pattern extraction unit (1) with the predetermined sub-frame pattern from the frame pattern generation units (2-1 to 2-n). Frame pattern detectors (3-
1 to 3-n) and an OR gate (4) for taking the logical sum of the output signals of the frame pattern detection units (3-1 to 3-n), and outputting the output signal of the OR gate (4). The protection circuit unit (5) that inputs and protects a predetermined number of stages and outputs the result as a multi-frame coincidence output and the rising or falling of the output signal of each frame pattern detection unit (3-1 to 3-n). A multi-frame pattern detection circuit, comprising: a reset pulse generator (6) for detecting and resetting the protection circuit (5).
【請求項2】 該n個のフレームパタン発生部(2−1
〜2−n)の代わりに、1個のフレームパタン発生部
(2)と該フレームパタン発生部(2)から発生された
フレームパタンから互いに1サブフレーム分だけ順次ず
れたn−1個の所定サブフレームパタンを発生させるn
−1個の加算回路(20−1〜20−n−1)とを用い
ることを特徴とした請求項1に記載のマルチフレームパ
タン検出回路。
2. The n frame pattern generators (2-1)
.. 2-n) instead of one frame pattern generator (2) and n-1 predetermined numbers sequentially shifted from the frame patterns generated by the frame pattern generator (2) by one subframe. N to generate a subframe pattern
The multi-frame pattern detection circuit according to claim 1, wherein one adder circuit (20-1 to 20-n-1) is used.
【請求項3】 該n個のフレームパタン発生部(2−1
〜2−n)の代わりに、互いに1サブフレーム分だけ順
次ずれたn個の所定サブフレームパタンを発生させる1
個のフレームパタン発生部(2)を用いることを特徴と
した請求項1に記載のマルチフレームパタン検出回路。
3. The n frame pattern generators (2-1)
~ 2-n), instead of generating n predetermined sub-frame patterns that are sequentially displaced from each other by 1 sub-frame 1
2. The multi-frame pattern detection circuit according to claim 1, wherein one frame pattern generation unit (2) is used.
【請求項4】 各フレームパタン検出部(3−1〜3−
n)が先頭サブフレームパタンの検出を示すパルスをO
Rゲート(7)を介して出力することを特徴とした請求
項1乃至3のいずれかに記載のマルチフレームパタン検
出回路。
4. Each frame pattern detection unit (3-1 to 3-)
n) is a pulse indicating the detection of the first subframe pattern
4. The multi-frame pattern detection circuit according to claim 1, wherein the multi-frame pattern detection circuit outputs the signal via an R gate (7).
【請求項5】 該保護回路部(5)が、該ORゲート
(4)の出力信号によりサブフレームパタンの不一致を
検出したとき各フレームパタン検出部(3−1〜3−
n)をリセットしてハンチングさせないことを特徴とし
た請求項1乃至4のいずれかに記載のマルチフレームパ
タン検出回路。
5. When the protection circuit section (5) detects a subframe pattern mismatch based on the output signal of the OR gate (4), each frame pattern detection section (3-1 to 3−).
5. The multi-frame pattern detection circuit according to claim 1, wherein n) is reset to prevent hunting.
JP5231426A 1993-09-17 1993-09-17 Multi-frame pattern detection circuit Withdrawn JPH0787045A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5231426A JPH0787045A (en) 1993-09-17 1993-09-17 Multi-frame pattern detection circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5231426A JPH0787045A (en) 1993-09-17 1993-09-17 Multi-frame pattern detection circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0787045A true JPH0787045A (en) 1995-03-31

Family

ID=16923395

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5231426A Withdrawn JPH0787045A (en) 1993-09-17 1993-09-17 Multi-frame pattern detection circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0787045A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220155345A (en) 2020-03-17 2022-11-22 가부시키가이샤 에네오스 마테리아루 Binder for all-solid-state secondary batteries, binder composition for all-solid-state secondary batteries, slurry for all-solid-state secondary batteries, solid electrolyte sheet for all-solid-state secondary batteries and method for manufacturing the same, and all-solid-state secondary battery and method for manufacturing the same
KR20220155590A (en) 2020-03-17 2022-11-23 가부시키가이샤 에네오스 마테리아루 Binder composition for all-solid-state secondary battery, slurry for all-solid-state secondary battery, solid electrolyte sheet for all-solid-state secondary battery and manufacturing method thereof, and all-solid-state secondary battery and manufacturing method thereof
KR20230137408A (en) 2021-01-29 2023-10-04 가부시키가이샤 에네오스 마테리아루 Binder for all-solid-state secondary batteries, binder composition for all-solid-state secondary batteries, slurry for all-solid-state secondary batteries, solid electrolyte sheets for all-solid-state secondary batteries and methods for manufacturing the same, and all-solid-state secondary batteries and methods for manufacturing the same.
KR20230137409A (en) 2021-01-29 2023-10-04 가부시키가이샤 에네오스 마테리아루 Binder for all-solid-state secondary batteries, binder composition for all-solid-state secondary batteries, slurry for all-solid-state secondary batteries, solid electrolyte sheets for all-solid-state secondary batteries and methods for manufacturing the same, and all-solid-state secondary batteries and methods for manufacturing the same.
KR20240031140A (en) 2022-08-31 2024-03-07 가부시키가이샤 에네오스 마테리아루 Binder for all-solid-state secondary batteries, binder composition for all-solid-state secondary batteries, slurry for all-solid-state secondary batteries, solid electrolyte sheet for all-solid-state secondary batteries and method for producing same, and all-solid-state secondary battery and method for producing same

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220155345A (en) 2020-03-17 2022-11-22 가부시키가이샤 에네오스 마테리아루 Binder for all-solid-state secondary batteries, binder composition for all-solid-state secondary batteries, slurry for all-solid-state secondary batteries, solid electrolyte sheet for all-solid-state secondary batteries and method for manufacturing the same, and all-solid-state secondary battery and method for manufacturing the same
KR20220155590A (en) 2020-03-17 2022-11-23 가부시키가이샤 에네오스 마테리아루 Binder composition for all-solid-state secondary battery, slurry for all-solid-state secondary battery, solid electrolyte sheet for all-solid-state secondary battery and manufacturing method thereof, and all-solid-state secondary battery and manufacturing method thereof
KR20230137408A (en) 2021-01-29 2023-10-04 가부시키가이샤 에네오스 마테리아루 Binder for all-solid-state secondary batteries, binder composition for all-solid-state secondary batteries, slurry for all-solid-state secondary batteries, solid electrolyte sheets for all-solid-state secondary batteries and methods for manufacturing the same, and all-solid-state secondary batteries and methods for manufacturing the same.
KR20230137409A (en) 2021-01-29 2023-10-04 가부시키가이샤 에네오스 마테리아루 Binder for all-solid-state secondary batteries, binder composition for all-solid-state secondary batteries, slurry for all-solid-state secondary batteries, solid electrolyte sheets for all-solid-state secondary batteries and methods for manufacturing the same, and all-solid-state secondary batteries and methods for manufacturing the same.
KR20240031140A (en) 2022-08-31 2024-03-07 가부시키가이샤 에네오스 마테리아루 Binder for all-solid-state secondary batteries, binder composition for all-solid-state secondary batteries, slurry for all-solid-state secondary batteries, solid electrolyte sheet for all-solid-state secondary batteries and method for producing same, and all-solid-state secondary battery and method for producing same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6226103B2 (en)
JPH0787045A (en) Multi-frame pattern detection circuit
US5309449A (en) Electronic circuit for generating error detection codes for digital signals
JP2944319B2 (en) Parallel deployment type frame synchronization method
US6307904B1 (en) Clock recovery circuit
JPS58123261A (en) Frame synchronism detecting circuit
JPH04329721A (en) Data reception method
JPH09149015A (en) Clock phase adjustment circuit
JP2697560B2 (en) CRC error detection circuit
JPS62213337A (en) Frame synchronizing protection system
JP3157536B2 (en) Multi-frame detection circuit
SU1205190A1 (en) Device for restoring synchronization of reproduction signals recorded by modified phase modulation method
JPS6085640A (en) Frame synchronization circuit
JPH0218777B2 (en)
SU1001478A1 (en) Majority-redundancy device
JPH04137937A (en) Synchronizing signal detection circuit
JPS61108238A (en) Frame synchronizing circuit
JPS62147832A (en) Frame synchronization method
JP2000092028A (en) Random error generating circuit
JPH0568030A (en) Synchronizing circuit
JPH05244146A (en) Frame synchronization detecting circuit
JPH02211729A (en) Synchronization detecting circuit
JPH06252911A (en) Timing extracting circuit for cmi signal
JPH0821923B2 (en) Synchronous circuit
JPH04245734A (en) Synchronizing circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20001128