JPH0781811B2 - 電気を伝導する中空体の壁厚変化を検出する方法 - Google Patents

電気を伝導する中空体の壁厚変化を検出する方法

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JPH0781811B2 JP62506717A JP50671787A JPH0781811B2 JP H0781811 B2 JPH0781811 B2 JP H0781811B2 JP 62506717 A JP62506717 A JP 62506717A JP 50671787 A JP50671787 A JP 50671787A JP H0781811 B2 JPH0781811 B2 JP H0781811B2
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電気の導体である材料から作られた中空体の壁
における厚さの変化を検出するための方法に関するもの
である。
管状体の腐食を検出する問題は腐食が外部表面に現われ
る埋設された管状体の場合だけではなく腐食性の物質が
流れて内部表面に腐食が発生するような管状体の場合も
ある。この１つ或は他の場合においても、管状体の状態
についての視覚的検査を簡単に実行することは不可能で
ある。
このことは何故に管状体の壁の腐食の状態を示す特性信
号の取得を可能とする磁気的或は電気的なパラメータに
もとづく異った方法が提案されて来たかの理由である。
米国特許第4048558号にはその深さが電流の周波数に存
在している“表皮効果”（“1'effet de peau"）を使用
して管状体の壁の欠点の存在を検出することが既に提案
されて来ている。
この方法は管状体の表面に異る周波数の電流を供給する
ことそして周波数に依存したこの管状体のインピーダン
スの変化を測定することから構成されている。
この等の各々の測定は測定されるべき管状体のその部分
と等しい温度に維持された同じ管状体の他の部分か、或
は基準管状体のいづれかと比較される。この処理の方法
は比抵抗や管状体の金属とその温度に起因する透磁率ρ
及びμのパラメーターを取り除くことが可能となりそれ
によって比較処理中に現われる変化は必然的に二つの比
較されている管状体の部分の壁の構造上の差によるもの
となろう。
この処理方法はサンプルと基準の管状体において同一の
ρとμの値を持つことを必要としている。このことは埋
設された管状体の場合においては不可能であり、誰も埋
設された状態にあるものと同じ条件を基準の管状体上に
再生することは出来ないということは判っている。従っ
て、この場合には、知られていない可能性ある欠点ばか
りでなくパラメーターρとμも不可能である。
ヨーロッパ特許（EP）第0,175,257号もまた表皮効果を
用いることにより中空状導電体における欠点を検出する
ことを提案している。
この方法によれば、中空状導電体は与えられた方向に決
められた周波数の交流が供給され、与えられた方向を持
った磁束を発生させ、電圧降下が中空状の導電体に接触
している２つの測定線により与えられている距離だけ互
に離れておかれている２個の測定点を通して取り上げら
れ、第１の導電ループが測定線と出来るだけ小さな有用
な誘導表面を有する中空導電体とから形成され、第２の
導電ループは電流の方向と平行で又磁束の方向と直角に
形成され、該第２のループを用いて測定点に出来るだけ
近くの磁束の変化により生ずる誘導電圧の測定が行わ
れ、電圧降下と誘導電圧は電圧降下を測定するため電子
評価回路に供給されそして電圧降下と誘導電圧から測定
点間の中空導電体の部分的抵抗を推定する。
この方法は数メートルの長さの管状体部分に関する欠点
を測定するためには適合しないのであり、そしてその理
由から導電体の外部表面を聴診（auscultation）すると
いうような手段が必要とされるので、管状導電体のその
長さ全体に亘ってアクセスする必要がある。そしてそれ
は非常に短い部分についての測定のみが可能であり該聴
診装置は中空管状導電体に沿って移動せしめられること
を要求される。
埋設された管状体においては、管状体を被覆している土
の影響のため電気的な測定は難しく又不正確なものであ
る。このことは何故、測定し、測定した結果を記録する
ために装置全体が管状体（以下単にパイプと云う）の中
に挿入され、移動されパイプを流体の流れによるか或は
独立した推進手段によるかのいづれかにより引張られる
ことを意図している移動支持体に搭載することが提案さ
れて来ているかということの理由となっている。この技
術は超音波エコーグラフィー（chographie）のような
測定方法を使用するものである。
フーコー電流（courants de Foucault）及び磁界の分析
は複雑であり、そして欠点の捜査はこの移動支持体の変
位パラメーターについての正確な知識を必要とする。
本発明はパイプの壁における厚さの変化を検出するため
の方法を提案するものであって、その方法は、埋設され
ているパイプの場合には、記録要素が累進的にパイプ内
を前進するにつれて、厚さに依存した測定されたパラメ
ーターの変化（volution）を追跡しうるような方法に
よって、信号がパイプの外表面に伝達されることを可能
にするものであって、それにより、欠点の正確な検出と
その大きさについての知識をうることを可能とする。
然しながら、この方法においては、もし欠点が存在して
いる正確な場所のみを知りたい場合には、移動ピックア
ップ要素を持つことだけが必要であり、又単なる欠点の
存在及びその大きさは固定された要素によりピックアッ
プされうる。
この目的のために、本発明は請求の範囲１に従った方法
を有するものである。
本発明の本質的な利益はその感度、及び測定された信号
がパイプが存在している環境と独立したものであると云
う事実に存在している。
２つの電極によって測定されたパイプ壁の横方向インピ
ーダンス（1'impdance transversale）についての特
性電圧である信号は導電体によって、電極の前進と信号
の変化との間に直接的な相関関係を作ることを可能とす
るような方法でパイプの外部に伝達される。
添付の図面は本発明の主題である方法を実行するための
異るモードについてダイアグラム的で又実施例の形とし
て説明しているものである。
第１図は管状体（tube）の長手方向の部分をダイアグラ
ム的に示した図であり、図中には本発明の方法における
特性パラメーターが記入されている。
第２図と第３図は第１図のダイアグラムに関係したダイ
アグラムである。
第４図はピックアップされた信号の位相ダイアグラム
（diagramme de phase）である。
第５図はこの信号の処理に関するダイアグラムを表わし
ている図である。
第６図は測定装置のブロックダイアグラムである。
第７図及び第８図は本発明の方法の作動モードに関係す
るダイアグラムである。
第９図は本発明に係る方法の他の異る適用を示す斜視図
である。
本発明の方法は電気の導電体であるあらゆる材料に、そ
の材料を流れる電流の周波数に依存して現われる“表皮
効果”（“1'effect de peau）の利用に基づくものであ
る。
以下の説明において、第１図に示される管状体Ｔは通常
その外表面に補助の電流Ｉの供給を受けるということが
考慮される。
もし第１図から第３図までを第１に考慮するならば、電
流密度ｊと電界Ｅの双方は電流の周波数に依存して、同
じ方法で変化することが判るであろう。
実際に、パイプの壁における深さＸに依存した電流密度
ｊに関する一般式は、以下のようになる ｊ＝ｊoｅ−K/a ここで“a"は表皮効果の深さに対応するもので次のよう
に表わされる ａ＝ζ／πμＦ（ζは比抵抗、μは透磁率及びＦは周波
数である） ｊoはパイプの外表面における電流密度である。かかる
電流密度は主にｘ＞ａとしてパイプＴの外部表面から内
部表面に向けて急速に減少する。
この変化は以下の表に示されておりその表ではｅ−K/a
の値はｘi＝0,a,2a,4a等の如きものについて示されてい
る。
ｘi ｅKi/a ｅ−Ｋ（ｉ＋１）/a/e−Ki/a ０ 1.0 ａ 0.368 0.368 2a 0.135 0.368 4a 0.018 0.135 8a 3.35.10-7 0.0183 16a 1.125.10-17 3.35.10-4 対応する電界に関しては、次に与えられる式によって同
様に変化する Ｅ＝jzs ｚs：表面インピーダンス＝ωζμ （ω：付勢電流の脈動（pulsation du caurant d'excit
ation）＝２πＦ） 上述した表のグラフ的表示を形成している第２図のダイ
アグラムに示されているように、壁の厚さが減少してい
る部分ＱBにおけるパイプＴの内部表面における適当に
選択された周波数で測定された電界Ｅ1と厚さが正常な
部分ＱAにおける電界との間の比率は壁の厚さに依存し
て強く変化する。
このことは、本発明がパイプの壁が薄くなっている欠点
の存在を示すために利用することを提案している現象で
ある。
パイプの内部表面で測定された信号でその表面の電界と
対応する信号は、本質的に比抵抗成分と誘導寄生電圧
（des tensions parasites induites）に部分的に依存
している誘導性成分の結果である。
このように比抵抗成分のみが表皮効果についての良好な
測定となる。かかる事実によって、この方法を操作する
ために意図されている測定装置は、電流と同相でない信
号の部分を拒絶するような方法で設計されなければなら
ないということが必要である。
この結果は位相相関増幅器（un amplificateur corr
lation de phase）或は周波数と位相応答分析器（un
analyseur rponse en frquence et en phase）
のいづれかによって得られる。実施例の形式によって、
位相相関増幅器を使用する装置について以下に説明す
る。第４図及び第５図を参照しながら以下の方法によっ
て作動する同期復調器（ｄmondlateur synchrone）と
して使用される増幅器を機能させるモードを説明する。
全ての信号Ｓ（第４図）は２つのベクトル、即ち１つは
基準と同相であるＳOと他はこの基準に対し直角に形成
されたＳ90とのベクトル和として考えられてもよい。
もし復調器が基準信号ＲSと同相に相互関連付けられて
いるならば、出力に現われる修正信号ＳRは第５図のダ
イアグラム上で判るようにＳ0と同相のみのベクトル関
数であろう、そこでは、修正信号ＳRを得るために、測
定信号Ｓをそれを通して修正するウィンドを鋼製する矩
形信号Ｆの形成を可能にする基準信号ＲSを引き続いて
みることが出来る。
第６図のブロックダイアグラムは実施例の形式におい
て、位相相関増幅器１タイプPAR128A、周波数発生機（u
n gｎrateur de frquence）２タイプWavetek 13
4、周波数カウンター３タイプHP5300A、パワー増幅機４
タイプBruel and Kjaer 2706、変圧比35と最大２次電流
20Aを示すトロイダル変圧器（un trans form atseur to
rodal）５最大電流10Aで10mΩの分流器６、電圧計７
タイプSolartron7040、低出力増幅器８タイプLevell TA
605及びスイッチボックス９を含んでいる装置に関する
ものである。
周波数は最大電流10Aで３から1000HZの間で変化しても
よい。
この装置の機能は電流を発電機２から増幅器４を経て変
圧器５に供給するものでありそれによってパイプＴに供
給することを目的とした電流を発生させ、そして分流器
６の端子における電圧を測定するものである。供給され
た電流の特性を表わすこの電圧は第１に十分な振幅をう
るために増幅器８によって10倍に増幅され次で、位相相
関増幅器１の基準入力に伝達される。
該増幅器８の出力は中間のスイッチボックス９を通して
位相相関増幅器１の測定入力と接続されている。この最
後の接続モードは位相制御のみならず電流増幅の測定と
制御を可能とすることが出来る。
パイプ上の信号の比抵抗成分は次で位相相関増幅器１の
差動入力ＡとＢにおける測定点に接続することによっ
て、そしてその信号の同相成分のみを測定することによ
って測定される。
かかる接続は内部電界（le champ interne）のみが測定
されるような方法で構成されなければならないしこのこ
とは、管状体から出るために外部磁束に感受性をもたな
い同軸ケーブルを使用することが必要であるということ
を意味している。
基準信号が供給された後においてパイプＴ上でピックア
ップされた信号そのものの測定は３つの異る方法により
実行される。
１つの測定点がパイプＴの内部表面上に固定されても良
く、そして他の点はこの同じ表面の長手方向に変位して
置かれてもよい。この変位は可動部分の各移動ごとに供
給する電流の周波数を変えながら数回繰り返されても良
い。
厚さが減少している部分ＱBが作られており又パイプＴ
の他部分は一定の厚さＱAを示している。パイプ部分Ｔ
の場合においては、互いに離れている２つの点の距離Ｌ
に依存した電圧Ｖのダイアグラムは第７図に示されてい
る。パイプの検査のためには欠点は100HZの領域におい
て特に明白になってくることが判る。この測定は欠点の
大きさと長手方向の位置を１回でかつ同時に決定するこ
とを可能としている。
この測定処理の操作についての他の方法によれば、パイ
プＴの内部表面に関する信号を測定するための２つの点
は互に固定された距離で維持されており、共にこの内部
表面に沿って移動せしめられる。
この移動は基準信号を又構成している供給電流の周波数
を変えながらパイプの１つの及び同じ部分について繰返
されても良い。欠点の存在は第８図のダイアグラムにお
いて周波数に依存して変化するピークの形において直ち
に明らかになる。このピークは例えば100HZと200HZの間
で最大のものとなる。前に述べた場合のように、ピーク
値はパイプに沿った欠点の大きさと位置についての特性
値である。
これ等の解決方法における不便さは管状体の内部におい
て少くとも１つの信号のピックアップ点を変位させる必
要があることから生じている。このことは埋設されてい
るパイプの場合、移動可能なピックアップ点或は複数の
ピックアップ点を測定時に明らかにパイプ内に挿入され
実質的に引張られなければならない移送部材上に置くこ
とが必要である。
中空状管内における変位を意図しているかかる部材は既
に存在しているが、然しその解決を本発明が頼りとして
いる表皮効果の原理に基づかせているが、信号の測定を
固定された点の助けで可能としていることは又興味ある
ものであろう。これ等の状況において、パイプの内部表
面上で与えられた距離により分離された２つの測定点を
固定することが可能であり、又これ等を、外部の磁束を
ピックアップしないような手段で同軸時モードで配列さ
れた２つの導電体の組合体によって測定装置が接続され
た外部装置と接続することが可能である。
これ等２つの点の間における内部表面に存在する電界は
次で周波数に依存して測定される。
信号をピックアップするためのこの変形態様において、
掃引周波数（du balayagede frquennce）に依存して
いる記録された曲線はパイプの厚さにおける欠点の検出
を、該曲線をコンピューターの協力により追跡し、そし
て未知のパラメーター即ち比抵抗ζと透磁率μのような
非幾何学的パラメーターに変化を生じせしめることによ
って得られた一連の曲線と比較することによって、可能
とする。
もし腐蝕の深さを独断的に固定したとしても腐蝕された
部分の長さは未知であり、そしてこのように又変化を生
じることが必要な１つのパラメーターを構成するであろ
う。
測定された曲線により計算されたこれ等の曲線の比較は
欠点の存在を確めることを可能とするであろうし又一定
の限界内においてそれ等の大きさを推測することを可能
とするであろう。一方、２つの測定点間にある１つ又は
複数の欠点はこの場合には決定しえない。
かかる不利益は、かかる信号のピックアップ方法は明ら
かに操作のモードにおける単純化を構成する、パイプ内
部におけく電極の可動性を必要としないという事実によ
って補償されている。
新しい装置の場合には、パイプは信号をピックアップす
るための例えばケーブルシステムによって測定部に接続
されている内部電極を設けてもよい。
例えば都市のガス配管に関する現存する設備において、
住居に接続している異なる分岐接続部によりパイプライ
ンの内部にアクセスしうることが可能である。
これ等の同じ分岐接続部は上述したピックアップモード
に従ってパイプの内部に移動可能な電極を挿入するため
に使用されていることが出来る。
上述したように、上記の説明は管状体の内部における測
定が実行される場合を処理するものである。もし、管状
体の外表面についての測定を実行することが望まれるな
らば、管状体の内部において付勢が行われなければなら
ずそれによって、内部表面上に表皮効果そのものが現わ
れてくる。
然しながら、２つの固定点間の周波数に基づく電界の測
定の場合、又上述したように、得られた曲線をコンピュ
ーターの協力の下に追跡され又未知の非幾何学的パラメ
ーターを変化させることによって得られた一連の曲線と
比較する場合に、パイプの同じ側の測定を実行すること
により、それによって電流の供給を実行している方法と
同じ方法を使用することが可能となる。
次で測定された信号は事実、パイプを通じて送られる電
流の周波数に依存した電界の変化の信号となるであろ
う。
従って、埋設されているパイプに関する測定はこれ等の
パイプの壁の外表面に単に接触させることによって可能
となる。以下にかかる比較操作を用いた異なる処理方法
について少し詳しく説明する。腐蝕の結果であるこれ等
のパラメーターについての変化を除いてパイプについて
の全てのパラメーターは知られているものと仮定する。
一方、誰れも温度とか管状体が作られている材料につい
ての電気的特性や環境の影響については知られていない
が故に電気的なパラメーターは未知である。
使用される数学的モデルは、パイプのインピーダンスを
（１）直流或は非常に低い周波数（＜1HZ）で、（２）
表皮効果が全体的となる、即ち表皮効果自身がパイプの
壁の厚さの範囲で完全に現われるような高周波数で、及
び（３）パイプ壁の厚さを越して表皮効果が発生する中
間周波数で、計算するための適切な３つの式に基づいて
いる。これ等の３つの式は上記の順番で以下に示され
る。
ここでLoは対象のパイプの長さを表わし、 Saは外側半径ｒと内側半径ｑを有する断面積を表わし、
ζは比抵抗を表わしている。
ここでζは比抵抗であり、μは透磁率であり又Ｆは周波
数である。
第３の式はH.B.Durightの「絶縁されたチューブにおけ
る表皮効果についての正確な計算方法」より導出された
単位長さＺ当りのインピーダンスを与える。
でかつ ここでＲDCは直流に対するパイプの抵抗である。ｊは虚
数 である。
従来の表皮効果における深さｄは によるｍに関係している。
ｆは周波数、 μは導電体の透磁率、 ζは導電体の比抵抗、 ｒはパイプの外周半径、 ｑはパイプの内周半径、 berとbeiは第１のタイプのケルビン関数（la fonction
de kelvin）の真数部分と虚数部分をそれぞれ表わして
おり、kerとkeiは第２のタイプのケルビン関数の真数部
分と虚数部分をそれぞれ表わしており、４個の全ての値
は零の位数である。
bar′,bei′及びkei′は対応するケルビン関数について
の導関数である。
従ってLo,r及びｑは既知の幾何学的パラメーターであ
り、腐蝕された区域におけるパイプの外周半径に加えて
ζとμは未知のパラメーターである。
異った供給電流周波数に基づいて測定された長手方向の
インピーダンスとかかる数学的モデルとの間の相互関係
を形成し分析するために多くの異なる処理方法が求めら
れるかも知れない。
実施例の形により、この問題を解決する可能性のある３
つの異なる処理方法について言及する。第１の実施例に
おいて、検査対象のパイプ部分は腐蝕が全くなく、モデ
ルの完全な適用を包含している。
式（１）は次で、腐蝕されていないパイプに対応するζ
の値を計算することを可能としている。
次に、Ｚ′/RDC＞１となるための各々の周波数fiについ
て磁気透磁率μｉの値を計算するため式（３）を用い
る。
もしこのζからスタートしてかように計算された連続的
なμｉの値が一定であるか或はパイプを製造するために
使用された金属の透磁率に対応する法則に従うものであ
れば、このパイプは腐蝕されていないとする頭初の推測
は確認されたものと判る。これと反対の場合、パイプは
２つの測定点の間で腐蝕されていると結論されうる。本
発明に係る中空管状体の壁厚変化検出方法の上記した一
具体例の構成を要約すると以下の通りとなる 即ち、
（ａ）電流による表皮効果が実質的に異なる予め定めら
れた少なくとも２種類の周波数領域にある付勢電流を使
用して管状体のインピーダンスを計算する為の数式モデ
ルを準備する工程、 （ｂ） 該管状体の壁部の一つの表面に基準交流電流を
供給する工程、 （ｃ） 該予め定められた周波数領域に従って該基準交
流電流の周波数を変化される工程、 （ｄ） 管状体の一つの表面上で、且つ長手方向に沿っ
て互いに離れて配置された２つの電極間に於いて、該基
準交流電流の個々の周波数に於ける電界効果に付いての
特性電圧を示す信号を測定し、且つ該測定された信号の
一部で且つ該基準交流電流と同相でない信号部分を除外
する工程、 （ｅ） 当該壁部の厚みの変化を任意に推定する工程、 （ｆ） 未知のパラメータを特定する為に、該第１の周
波数領域内にある一の周波数に応答して測定された一つ
の測定信号と該厚み変化に関する推測値とを用いて該数
式モデルの第１の式を解く工程、 （ｇ） 他の未知のパラメータを特定する為に、該第２
の周波数領域内にある一の周波数に応答して測定された
他の測定信号と前記工程で得られたパラメータとを用い
て該数式モデルの第２の式を解く工程、 （ｈ） 該厚みに関する上記の値が正しいか否かを決定
する為に該他のパラメータの変化をチェックする工程、
及び （ｉ） もし、該厚みに関する上記の値が正しくない場
合には、厚み変化に関する他の値が選択された後に上記
の工程（ｅ）〜（ｈ）が繰り返され、そして当該得られ
た厚み変化値が正しいと証明される迄この工程が繰り返
される工程、 とから構成された事を特徴とする電気導電体材料で作ら
れた管状体の壁の厚さ変化を検出する方法である。
第２の実施例に従えば、パイプは例えば欠点がそのパイ
プの外部表面上にリング状の形で拡がっていて、その幅
は未知であるような限定された幾何学的な腐蝕区域を含
んでいるものと仮定され又、その腐蝕はその壁の厚さの
半分に対して影響を与えているということを推定して考
えられている。
この新しい状況に対して数学的モデルに適用される。こ
のケースでは相互の関係とその判断は２つの変形を含ん
でおり１つは簡略化された変形で正確性が低く又他は高
い正確性を持つ変形でより複雑化されているものであ
る。
第１の変形においては、ζ・μの積を決定するために全
体的な表皮効果に関係するＲACの値は腐蝕欠点の存在と
は実際的には独立していくということを示している式
（２）が使用される。
式（３）の補助によって、掃引ループの補助と共に、表
皮効果が環状の分布をもった仮定的な腐蝕（50％）に留
っている厚さに対応する壁の厚さに限定されるように選
択された限定的な周波数において測定されたインピーダ
ンス値に対応するμ（？）の値を捜す。
前述したものを含んでもよい第２の掃引ループの補助の
下に又仮定的幾何学上の欠点に依存するように適合され
ている式（３）の補助の下に腐蝕された区域と思われる
処の幅が決定される。そしてその幅はその幅に対して、
測定された長手方向のインピーダンスの値が再び見出さ
れるものに対応したものである。
この方法の欠点は、相対的に高周波数におけるζ・μの
積についての欠点は既に周波数によって影響を受けてい
るかも知れないμの値を考慮しなければならないという
事実から生じている。μについてのループのために１つ
の単一周波数を使用することは単に利用可能な情報の一
部を使用することになる。最後に、調査を腐蝕欠点につ
いてのあるタイプに一方的に基礎をおくという事実はパ
イプの腐蝕が他のタイプのものであるかも知れないとい
う事実を考慮していない。
この相互関係についてのモードの変形によれば、腐蝕発
生についての多くの異なるタイプに対応した一連の数学
的モデルを使用する。更に、この相互関係は一方では周
波数に依存するμの変化の影響を減少せしめるような方
法で高周波数に対応する測定の結果を考慮することを避
けながら表皮効果の影響が現われた時から周波数に依存
するインピーダンス変化を考慮しなければならない。
第９図により示されている変形態様は引張りテストサン
プル10に関する割れ目の伝播の検出について本発明によ
る処理の応用を示している。
引張り作用のために割れ目が生じているテストサンプル
の区域10aは該テストサンプル10の両側に折り重ねられ
ていて、該テストサンプル10と中空のケース11との間に
電気的接続が形成されるように作用する銅の組物12のよ
うな変形可能な挿入物を介して中空状の金属ケース11内
に１体化せしめられており、該ケースはテストサンプル
に加えられる引張り力には関係せしめられていない。
本発明の方法が実行される場合、テストサンプル10をも
ったケース11は内部或は外部表面の１つを介して電流が
供給され、他の表面上の電界が測定される。この電界は
テストサンプル上にクラックが現われ進行する、横方向
のインピーダンスに依存することが示されていることか
ら測定された電界はより高い周波数に関しては、周波数
限界が高ければ割れ目も深いという周波数限界まで増加
する。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 コルンマン ミシェル スイス国，ツェーハー―1212 グラン―ラ ンシ，シェマン デ パレット，31 (72)発明者 ゴール ディエテル フランス国，エフ―38500 ボワロン，ア ベニュ エデュアル エリオ，５ (56)参考文献 特開 昭61−80039（ＪＰ，Ａ) 米国特許4048558（ＵＳ，Ａ)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】管状体の壁の１つの表面に基準交流電流を
    供給する工程、 該壁の他の表面上に於いて、互に長手方向に隔てられて
    いる２つの電極の間の電界についての特性電圧の変化を
    示す信号を測定する工程、 該測定された信号の一部で且つ該基準交流電流と同相で
    ない信号部分を除外する工程、 電極間の距離、該管状体に沿って配置された２つの電極
    の長手方向の位置及び付勢電流の周波数のうちから選択
    された少くとも１つのパラメータを変更する工程、 とから構成された事を特徴とする電気導電体材料で作ら
    れた管状体の壁の厚さ変化を検出する方法。
  2. 【請求項２】当該基準交流電流の周波数は200Hz以下で
    ある事を特徴とする請求項１記載の管状体の壁の厚さ変
    化を検出する方法。
  3. 【請求項３】（ａ） 電流による表皮効果が実質的に異
    なる予め定められた少なくとも２種類の周波数領域にあ
    る付勢電流を使用して管状体のインピーダンスを計算す
    る為の数式モデルを準備する工程、 （ｂ） 該管状体の壁部の一つの表面に基準交流電流を
    供給する工程、 （ｃ） 該予め定められた周波数領域に従って該基準交
    流電流の周波数を変化される工程、 （ｄ） 管状体の一つの表面上で、且つ長手方向に沿っ
    て互いに離れて配置された２つの電極間に於いて、該基
    準交流電流の個々の周波数に於ける電界効果に付いての
    特性電圧を示す信号を測定し、且つ該測定された信号の
    一部で且つ該基準交流電流と同相でない信号部分を除外
    する工程、 （ｅ） 当該壁部の厚みの変化を任意に推定する工程、 （ｆ） 未知のパラメータを特定する為に、該第１の周
    波数領域内にある一の周波数に応答して測定された一つ
    の測定信号と該厚み変化に関する推測値とを用いて該数
    式モデルの第１の式を解く工程、 （ｇ） 他の未知のパラメータを特定する為に、該第２
    の周波数領域内にある一の周波数に応答して測定された
    他の測定信号と前記工程で得られたパラメータとを用い
    て該数式モデルの第２の式を解く工程、 （ｈ） 該厚みに関する上記の値が正しいか否かを決定
    する為に該他のパラメータの変化をチェックする工程、
    及び （ｉ） もし、該厚みに関する上記の値が正しくない場
    合には、厚み変化に関する他の値が選択された後に上記
    の工程（ｅ）〜（ｈ）が繰り返され、そして当該得られ
    た厚み変化値が正しいと証明される迄この工程が繰り返
    される工程、 とから構成された事を特徴とする電気導電体材料で作ら
    れた管状体の壁の厚さ変化を検出する方法。
  4. 【請求項４】管状体の壁の１つの表面に交流電流が供給
    され、該壁の他の表面上で互に長手方向に隔てられてい
    る２つの電極の間の電界についての特性電圧の変化を、
    付勢電流の周波数を変更することにより測定し、そし
    て、それによって得られた曲線を、推定される厚さの変
    化に対して比抵抗と透磁率更に又厚さが変化している部
    分の長さを変化させて計算することにより得られた一連
    の曲線と比較することにより特徴付けられる電気導電体
    材料で作られた管状体の壁の厚さ変化を検出する方法。
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