JPH0778954A - 画像化装置 - Google Patents

画像化装置

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JPH0778954A
JPH0778954A JP6158959A JP15895994A JPH0778954A JP H0778954 A JPH0778954 A JP H0778954A JP 6158959 A JP6158959 A JP 6158959A JP 15895994 A JP15895994 A JP 15895994A JP H0778954 A JPH0778954 A JP H0778954A
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electro
lens element
array
imaging
substrate
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JP6158959A
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Berkel Cornelis Van
ファン ベルケル コルネリス
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Koninklijke Philips NV
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Philips Electronics NV
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 焦点距離がレンズの構造に完全には依存せ
ず、焦点距離の調整を許容する画像化装置を提供する。 【構成】 第一の基板は画像化素子の配列を収容する。
レンズ素子の配列は各レンズ素子からなり、画像化素子
と少なくとも一つのレンズ素子との間の光路上を伝搬す
る光を集める少なくとも一つの画像化素子に関連する。
電気的に変更できる屈折率を有する電気光学物質が第二
の基板と画像化素子の一つとレンズ素子配列との間で規
定される空間内に設けられる。電極はレンズ素子の有効
焦点距離を合わせるために電気光学物質を横切る電気的
ポテンシャルを印加するために設けられる。レンズ素子
の焦点距離は斯くして電気光学物質を横切って印加され
るポテンシャルを印加又は変化させることにより調整で
き、それにより画像化装置の焦点はレンズ素子の性質及
び構造に完全に依存するわけではない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は画像化装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ヨーロッパ特許公開公報EP−A−15
4962号に、光電性素子配列を担持する第一の基板を
有する画像センサーの形の画像化装置が記述されてい
る。ヨーロッパ特許公開公報EP−A−154962号
に記述されている画像センサーでは、各光電性素子は関
連した光電性素子上のレンズ素子に入射する光を合焦す
るそれぞれのレンズ素子と協働する。ヨーロッパ特許公
開公報EP−A−154962号に記述されるように、
光電性素子は絶縁基板上のある表面上に薄膜技術により
形成され、レンズ素子は例えば基板の局所的に変更する
屈折率により同じ基板の他の表面上に形成される。この
ような場合、画像センサーの焦点距離はもちろんレンズ
の構造により決定され、実際レンズを形成するのに用い
られた技術により制限される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、焦点
距離がレンズの構造に完全には依存せず、焦点距離の調
整を許容する画像化装置を提供することである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、画像化
素子の配列を担持する第一の基板と、画像化素子間の光
路上を伝搬する光を集める少なくとも一つの画像化素子
と協働する各レンズ素子を有するレンズ素子配列と、少
なくとも一つのレンズ素子とからなる画像化装置であっ
て、電気的に変更できる屈折率を有する電気光学物質が
第二の基板と画像化素子の一つとレンズ素子配列との間
で画成される空間内に設けられ、レンズ素子の有効焦点
距離を調整するために電気光学物質を横切る電気的ポテ
ンシャルを印加するための手段が設けられることを特徴
とする画像化装置が提供される。
【0005】故に、本発明による画像化装置では、レン
ズの焦点距離は電気光学物質に印加されたポテンシャル
を印加又は変化することにより調整でき、それにより、
焦点距離はレンズ素子の性質及び構造に完全には依存し
ない。一例として、レンズ素子配列は第二の基板により
担持され、電気光学物質は画像化素子配列と第二の基板
間に設けられる。
【0006】他の例として、電気光学物質のための空間
はレンズ素子配列と第二の基板間に設けられる。電気光
学物質を横切る電気的ポテンシャルを印加するための手
段は電気光学物質に近接した第二の基板により担持され
た光ー透過性電極からなる。電気光学物質に横切る電気
的ポテンシャルを印加する手段は画像化素子配列の一つ
及びレンズ素子配列と協働する更なる光透過性電極から
なる。他の可能なものは、電気光学物質に電気的ポテン
シャルを印加するための手段は画像化素子配列の一つの
各素子及びレンズ素子配列と協働する更なる光ー透過性
電極からなり、該更なる各電極が該更なる電極と第二の
基板により担持された光ー透過性電極間の電気的ポテン
シャルの印加を制御するそれぞれのスイッチング素子と
協働する。これにより各レンズの焦点を別々に制御で
き、又は液晶を一以上の選択された光電性素子をマスク
するためのシャッター素子として用いうる。
【0007】通常、光電性材料は液晶、典型的にはねじ
れネマチック液晶からなるが、どのような適切な電気光
学物質でも用いうる。好ましくは、各レンズは単一の光
電性素子と協働する。各光電性素子はn−i−pダイオ
ードのような光電性ダイオードからなるが、光電性抵抗
又は光電性トランジスタのような他の光電性素子も用い
うる。
【0008】各光電性素子は光電性素子の動作を制御す
るためにそれぞれのスイッチング素子と協働する。好ま
しくは、光電性素子配列は薄膜光電性素子の二次元配列
からなり、典型的には、それぞれのスイッチング素子と
協働する各光電性素子を有するアクティブマトリックス
アドレス配列からなる。
【0009】光電性素子の配列は第二の基板に対向する
第一の基板の表面上に設けられる。ここで用いられる光
という言葉は人間の眼に可視及び近赤外の電磁気的放射
を含むものである。
【0010】
【実施例】以下に本発明の実施例を図を参照しながら説
明する。図はスケールどうりではなく、図の理解しやす
さの為に種々の尺度は、特に層の厚さは比較的に強調さ
れている。図を参照するに、特に非常に概略的な図1
で、画像化素子4の配列3を担持する第一の基板2と、
画像化素子4と少なくとも一つのレンズ素子6間の光路
上を伝搬する光Lを集める少なくとも一つの画像化素子
4と協働する各レンズ素子6を有するレンズ素子6の配
列5からなる。本発明によれば、電気的に変更しうる屈
折率を有する電気光学物質8は第二の基板7と画像化素
子の一つとレンズ素子配列3及び5との間で画成される
空間内に設けられ、手段8a、8bはレンズ素子6の有
効焦点距離を調整するために電気光学物質8に亘って電
気的ポテンシャルを印加するために設けられる。故にレ
ンズ素子6の焦点距離又は焦点は電気光学物質に印加さ
れたポテンシャルを印加又は変化することにより調整で
き、それにより、画像化素子の焦点はレンズ素子6の性
質及び構造に完全には依存しない。
【0011】図1に本発明による画像化装置1aの第一
の例の単純化した部分断面図を示す。この例で、画像化
素子4は絶縁性の第一の基板2上に薄膜技術を用いて、
例えば光電性p−i−nダイオードのような光電性素子
として形成される。絶縁性の第一の基板2は一般にガラ
スで形成されるが、一連のプロセスに耐え、必要な支持
を供しうる適切などのような材料によっても形成しう
る;例えば適切なプラスチック材料が用いうる。
【0012】画像化素子4は受動配列を構成しうるが、
この例では、画像化装置ば各画像化素子4が適切なスイ
ッチング素子を介して個々にアドレスされうる能動配列
からなる。また、本発明は配列と画像間の相対的な動き
を引き起こすことにより画像を感知するリニア配列に適
用できるが、本発明の場合には配列3が従来技術の光学
的カメラ又はディスプレーの画像形成と類似の方法で画
像を形成しうる二次元マトリックス配列3を構成するこ
とが好ましい。
【0013】図1では単純化のために、配列3の光電性
素子4のみを示す。しかしながら、当業者によれば、配
列はまた行及び列のアドレッシング導体と、アクティブ
マトリックスの場合は光電性素子4と協働するスイッチ
ング素子とを含む。配列3は皮膜保護層25により覆わ
れ、これはこの例ではポリアミド、酸化シリコン又は窒
化シリコン層であるが、画像化装置1aの動作波長で充
分な透過性のある適切などのような絶縁性材料でも用い
うる。例えばインジウムースズ酸化物(ITO)の光ー
透過性電極8aは皮膜保護層25上に設けられる。
【0014】この例では、レンズ素子配列5は第二の基
板7上に設けられるが、該配列は再び、以下に図4を参
照してより詳細に説明する知られた技術の適切などの様
なものを用いたどの様な適切なガラス又はプラスチック
材料基板でもありうる。第二の光ー透過性電極8bは、
再び例えばインジウムースズ酸化物で形成されるが、配
列5のレンズ素子6の反対側の第二の基板7の表面7a
上に設けられる。
【0015】電気光学物質8はこの例では一般にねじれ
ネマチック液晶である適切な液晶物質であり、液晶ディ
スプレーの製造に通常用いられるのと類似な方法で配列
3と第二の基板間に挟まれる。液晶ディスプレーの当業
者によれば、示されていない適切な向きの層、及び必要
ならフィルター層が第一及び第二の電極8a及び8bの
一方又は両方に設けられうる。
【0016】光電性素子4と関連したレンズ素子2の各
々は画像化装置1aの画素3aを画成する。図1に示す
ように、画像化装置1aの動作で、レンズ素子6は関連
した光電性素子5上に光を集める。例えば画像の焦点の
調整又は鮮明化のためにレンズ素子6と関連した光電性
素子4間の光学的経路長の変更が必要な場合、電気的ポ
テンシャルは第一及び第二の光ー透過性電極8a及び8
bに亘って印加され、それは電気光学物質8の屈折率
を、電気光学物質8を通過する有効光学的経路長を変
え、レンズ素子6の焦点を光電性素子4に向かうように
又はから離れるように動かすために変更する。レンズ素
子6の有効焦点の調整しうる度合いは電気光学物質の屈
折率が印加されたポテンシャル及び特定の必要に適合す
るように調整しうる電気光学物質8の厚さにより影響さ
れる度合いに依存するのは勿論である。
【0017】図2は図1に類似の本発明による画像化装
置1bの他の例の単純化した断面図である。画像化装置
1bは図1に示されたそれとは異なり、配列5のレンズ
素子6は配列3上に皮膜保護層25の上に直接、又は図
示するように皮膜保護層25上に設けられた分離基板7
0(これも再びガラス又はプラスチック基板)上のどち
らかに設けられる。この例では、第一の光ー透過性電極
8aは配列5のレンズ素子6の表面上に設けられる。第
二の光ー透過性電極8bは第二の基板7の表面7a上に
設けられる。この場合、電気光学物質8は第二の基板7
と、レンズ素子6を担持し、再び液晶ディスプレーの製
造に用いられるのと類似の技術を用いた更なる基板70
との間に挟まれる。電気光学物質の粘性に依存して、レ
ンズ素子配列6を担持する更なる基板70の周辺は適切
なUV(紫外線)硬化性接着剤を用いて、セル構造を真
空下で電気光学物質8に浸すことにより電気光学物質8
により満たされる基板7と70との間の空間を介したギ
ャップを空けて第二の基板7の周辺と接着される。一旦
セル構造が電気光学物質により満たされると、ギャップ
は密閉される。電気光学物質の性質によりその様な技術
が不適切な場合は、電気光学物質は従来技術をもちいる
ことにより基板7及び70の一つ及び基板7及び70に
適用され、それからまとめられ、基板7及び70の周辺
に位置する類似のUV硬化性接着剤により密閉される。
【0018】再び電極8a及び8bに電気的ポテンシャ
ルを印加することにより、電気光学物質8の屈折率を調
整することができ、それ故レンズ素子6の焦点距離は以
下の式により調整されうる: fm = fa.nm (n1 )/(n1 −nm ) ここでfmは電気光学物質8内のレンズ素子6の焦点距
離であり、faは空気中でのレンズ素子6の焦点距離で
あり、n1 はレンズ素子6の屈折率であり、nm はレン
ズ素子6上へ入射するまでに伝搬する光Lが通る媒体の
屈折率である。
【0019】図3に画像化装置1a又は1b内で用いら
れる光電性素子配列3にアドレスされた適切な能動的マ
トリックスの一例の回路配置図を示す。この例で、光電
性素子4は光電性ダイオード(フォトダイオード)であ
り、配置3は典型的には200μm(マイクロメータ
ー)以下のピッチと、約400x400mmまでの全体
の大きさを有するフォトダイオード4の二次元配列から
なる。利便性のため、全体の配列の一部分のみを図3に
示す。
【0020】各フォトダイオード4はこの場合ダイオー
ド4の渦流又は自己容量を表すが、検出器のダイナミッ
クレンジを改善する付加的なコンデンサーもまた含むコ
ンデンサー4aと平行に示される。フォトダイオード4
はマトリックス配列内に配置され、各々はこの例ではト
ランジスタ10であるそれぞれのスイッチング素子と協
働する。
【0021】トランジスタ10は1ーm行及び1ーn列
(3行及び3列のみ示した)のマトリックス内に配置さ
れ、所定の行内の各トランジスタのゲートは行ドライバ
ー又はデコーダー/アドレッシング回路12の所定の行
導体11に接続され、所定の列内の各トランジスタ10
のソースは適切な従来型の読み出し増幅器を含む列検出
器/アドレッシング回路14の所定の列導体13に接続
される。破線15は光検出器配列の電磁気放射検出領域
の延長を示す。
【0022】各光電性ダイオード4(ダイオードのカソ
ードにより表されている)の第一の電極41は共通線1
6に接続され、一方で各光電性ダイオード(ダイオード
のアノードにより表されている)の第二の電極42は関
連したスイッチング素子10の主電極に、この例では関
連したトランジスタ10のドレイン電極10dに接続さ
れる。
【0023】光電性配列3の他の形は本発明による画像
化装置内で用いられることが評価されるのは勿論であ
る。例えば、ヨーロッパ特許公開公報EP−A2331
04,EP−A237365,アメリカ特許明細書US
−A4395736,US−A4609824,US−
A4945242,US−A4952788のいずれに
記載されている薄膜光電性配列回路配置のいずれも用い
うる。特に、適切なアドレッシングで各ダイオードはま
たスイッチング素子として動作し、それにより付加的な
スイッチング素子は必要とされない;例えばヨーロッパ
特許公開公報EP−A233104を参照。
【0024】図4に、図3に示された配置を有する光電
性配列3を組み込んだ本発明による画像化装置1cの一
画像化素子3aの一例の部分を図1又は図2に比べてよ
り以上に詳細に示す。図4に示された例で、第一の基板
2は一般にガラス層の絶縁性の基板であり、該層は、行
導体11をより高い金属被覆に接続しうるためのトラン
ジスタ10、ゲート線又は行導体11及び必要な接続領
域11aの制御又はゲート電極10aを設けた第一の金
属被覆平面を画成するために堆積及びパターン化され
る。第一の金属被覆はトランジスタゲート絶縁を形成す
るために絶縁層16により覆われ、その部分のアモルフ
ァスシリコン層17はトランジスタ導体チャンネル領域
10bを形成する。
【0025】保護絶縁層は、一般に窒化シリコン層であ
り、上に重なる絶縁物の厚さを増加するために列導体1
1上に領域18a及び接続領域11aを設け、それによ
り渦流の容量を減少させ、第一の金属被覆平面とそれに
続いて上に重なる金属被覆とエッチングの停止として作
用するためのエッチングトランジスタ10の中央部分上
の更なる領域18bとの間の電気的ショートの可能性を
減少させる。ドープされた、一般にn導電性型の半導体
層19は第二の金属被覆平面又は層20を伴って堆積さ
れる。
【0026】ドープされた半導体層19は真性半導体層
17と同じ材料、例えばアモルファス又は多結晶シリコ
ンで形成される。第二の金属被覆層20はクロム層であ
る。それから更なる半導体層が堆積される。一般にこれ
らは、例えばインジウムースズ酸化物(ITO)層及び
次のプロセス中にITO層を保護する作用を有する更な
るクロム層などの透過性導電性層を伴ったn導電性型
層、真性型層及びp導電性型層からなる。これらの層は
第三の単一マスクを用いて順次パターン化されるが、各
光電性素子4が共に光電性素子4の第二の電極42を形
成する各光電性素子4が透過性ITO及びクロム電極部
分42b及び42aを有する透過性ITO電極部分42
b及びクロム電極部分42aを伴った第二の金属被覆層
20の上端にn−i−p能動デバイス領域4bダイオー
ド構造(図の斜線しない部分)からなるように、光電性
素子4を画成する異なるエッチングプロセスを用いる。
【0027】それから第四のマスクが設けられ、第二の
金属被覆平面20、ドープされた半導体層19及び真性
半導体層17が、各光電性素子4の第一の電極41と同
様に各薄膜トランジスタ10に対してソース及びドレイ
ン電極10c及び10d、ソース及びドレインn導電性
型接触領域19a及び真性導電チャンネル領域10びを
画成する適切なフォトリソグラフィック及びエッチング
技術を用いて順次パターン化される。ソース及びドレイ
ン接触領域19aは、層19が省略される場合必ずしも
設けられる必要はない。それから最後の金属被覆層が行
導体11に接触できるようにするためゲート絶縁層16
が配列の周辺に近接する接続領域11aの11a部分か
ら除去されうるように第五のマスク(図示せず)が用い
られる。
【0028】それから窒化シリコン又はポリイミドのよ
うな適切などのような絶縁材料から形成される絶縁層2
2が堆積され、イネーブリングのために接触窓を画成
し、光電性素子4上に開口Dを画成する従来技術を用い
てパターン化される。それから最後の金属被覆平面が、
一般にアルミニウムであるが、堆積され、ソース電極1
0cのそれぞれの列を接触する列導体13と、それぞれ
のドレイン電極10dと、この場合配列の端で接続領域
11を接触する上部ダイオード電極42及び金属被覆2
4aとの間の電気的相互接続24とを画成するためにパ
ターン化される。最後の金属被覆平面のパターン化中
に、クロム電極部分42aの部分は光が光電性素子4上
に入射しうるように光電性素子4の第二の電極42上に
開口を残すため除去される。
【0029】それからフォトダイオード4により検出さ
れる光を透過させうる保護絶縁層25は構造上に設けら
れる。上記のように、保護層25は例えばポリイミド、
二酸化シリコン又は窒化シリコンのような適切などんな
電気的絶縁材料によっても設けられる。ポリイミド又は
類似の流動可能で設定可能な層が保護層を形成するため
に用いられ、それは表面を平滑化するという付加的な利
点を提供する。これは可能な歪みを減少させる助けにな
る。
【0030】この例では、電気光学物質8は光電性配列
3と別の第二の基板7上に担持された配列5のレンズ素
子6との間に設けられる。上記のように、光電性材料は
一般にねじれネマチック液晶からなるが、電気的に制御
可能な複屈折性を有する他のどの様な適切な電気光学物
質でも用いうる。図1及び2を参照して上述したよう
に、例えば配列3上でより鮮明に合焦するために特定の
画像を光電性配列により検出されうるために、単に全て
の画素3aの焦点距離を同時に調整しうることが必要と
され、それで電気光学物質8は、電気的ポテンシャルが
液晶物質8を横切って印加されうるように図1に示した
ように液晶ディスプレーに用いられるのと同様の方法で
第一及び第二の基板2及び7間の反対側の表面上に設け
られるそれぞれの透過性電極、一般にインジウムースズ
酸化物を有する第一及び第二の基板2及び7間に単に挟
まれるだけである。
【0031】しかしながら、例えば画像のある領域の焦
点をぼかしたり拡大することにより特殊な効果を生ずる
ための、また各個別の画素3aの焦点を調整しうるよう
にレンズの製造に用いられるプロセスのために個別のレ
ンズ間の差を補正するための理由がある。これはアドレ
スされた液晶ディスプレーの能動的マトリックス内で用
いられる記憶(reminiscent)構造内に液晶
物質を設けることにより達成される。
【0032】図4にその様な構造を示す。図4に示され
る例で、液晶物質8は、示された例ではトランジスタ1
0と類似の構造のトランジスタであるが、MIMs又は
ダイオードのような適切な任意の非線形素子であるスイ
ッチング素子31のマトリックスを含む構造の上端に設
けられる。保護層25は一連のプロセスに耐えうるの
で、スイッチング素子31は保護層25上に直接形成し
うる。その代わりに、スイッチング素子31は保護層2
5に適切な接着剤により固定された別の基板40上に図
示するように形成される。スイッチング素子31はこの
場合光電性配列として示したものと類似の構造なので、
ここでは以下の点を除いて詳細には記述しない。各トラ
ンジスタ31のITOダイオード電極31aは、各画素
がそれ自身の下部電極8’aを有するようと協働したレ
ンズ素子4及び光電性素子4により形成された対応する
画素3aと協働した保護層25の領域上に延在する下部
電極8aを形成するために延在される。下部電極8’a
及びトランジスタは絶縁層33により覆われ、その上に
液晶ディスプレーで知られた方法でポリマー材料の配向
(orientetion)層34が設けられる。
【0033】上記代わりの場合に、単一の下部電極は全
体の光電性配列3を覆い、それで構造は単にトランジス
タ31の省略により異なるのは勿論であるが、それによ
り下部電極8’a、絶縁層33及び配向層34が光電性
配列3全体を覆うように保護層25(又は分離基板)上
に順次設けられる。適切な液晶物質、一般にねじれネマ
チック液晶物質である8は、配向層と一般にはITOで
ある共通の透過性電極8bを担持する上部基板との間に
挟まれるように配向層34上に設けられる。共通電極8
aは別の基板により担持されうるが、この場合はそれは
レンズ素子6も担持する基板により担持される。液晶物
質及び空間の密閉に対する空間を画成するための光電性
配列3から第二の基板の間隔の決定が液晶ディスプレー
技術の従来技術を用いて実施される。
【0034】透過性共通電極8bは絶縁性の材料の光遮
蔽領域36のマトリックスの形をとる光遮蔽を担持し、
該絶縁性の材料は入射光が有る場合それからスイッチン
グ素子31を遮蔽する作用をし、また光電性素子4を関
連するレンズ素子により光電性素子4上に合焦されない
光からの迷光又は散乱光から遮蔽する。共通電極8bは
また知られた方法で配列された赤、緑、青のフィルター
材料の近接フィルター領域のマトリックスを画成するカ
ラーフィルター層37を担持し、それにより3つの画像
要素の対応するグループからの出力はカラー画像を作る
ために組み合わされうる。更なる配向層38は液晶物質
と光遮蔽領域36との間に設けられる。
【0035】レンズ素子6を担持し、この例ではまた共
通電極35も担持する第二の基板7は光電性素子により
検出された透過光を受容しうる任意の適切な絶縁性材料
により形成される。しかしながら、第二の基板7の実際
の性質はレンズ素子6が形成された方法に依存する。図
1から4を参照して上述した各例で、レンズ素子6は上
記ヨーロッパ特許公開公報EP−A154962に記述
されるように変更しうる屈折率の領域を画成するために
基板7の適切な領域をドープすることにより、又は該特
許に記述されている方法で基板7上のフレネルレンズ素
子を画成することにより形成される。しかしながら本発
明による例で好ましくは、レンズ素子6は光電性レジス
トの層で第二の基板7をコーティングし、露光し、それ
からレンズの所望の各位置に円形マスク領域の配列を画
成するためにレジストを現像し、それから結果として生
じた構造をレジストが溶け、表面張力により引かれてレ
ンズの形になる温度の140°C(セッ氏の度数)に加
熱することにより製造される。その様な技術は他と共に
Mike Hutley,Richard Steve
ns, DanDaly著の総説「Microns A
rrays」、Physics World 1991
年7月27ー32頁に記載されている。レジストの元の
厚さはレンズ素子6の焦点距離を決定する。
【0036】光遮蔽領域36が存在する所は、第一の基
板2が自動的にレンズ素子6を整列させるためのマスク
として光遮蔽領域36が用いられるにもかかわらず、レ
ンズ素子を形成するレジストが露光しうる可能性があ
る。レンズ素子6の有効焦点距離を増加しうる本発明に
よる画像化装置では、レンズ素子6は再流動化した光電
性レジストにより形成されるという特有の利点を有す
る。何故ならばその様な方法で形成されたレンズ素子の
焦点距離はレンズ素子の直径の約2.5倍に束縛され、
それは最大焦点距離が光電性素子のピッチ(及び故にレ
ンズ素子の大きさ)に応じて減少することを意味するか
らである。この理由により、表面張力による表面エネル
ギーの減少は特性比(レジストの島のレジストの厚さに
対する幅/直径の比)が臨界値(0.075)より低い
場合に球形のキャップ(cap)を形成するのに最早充
分ではない。しかしながら、本発明による画像化装置で
は、製造されたレンズ素子6の焦点距離は電気的ポテン
シャルを電極8a及び8bに印加することにより調整で
き、例えば単純なレンズ素子5により達成しうるのに比
べてより長い焦点距離が達成できる。
【0037】本発明による画像センサーの動作におい
て、レンズ素子6に入射する光は関連する光電性配列3
上にそれらにより合焦される。例えば画像を鮮明化する
ために画像センサーの焦点を調整するために、電気的ポ
テンシャルが電極8a(又は8a’)及び8bに印加さ
れ、一般にポッケルス効果の効力により液晶物質が複屈
折するようになり、それで交互にそれは光を屈折し、故
に斯くしてレンズ素子6及び光電性素子4間の光路長を
変更し、レンズの焦点を調節する液晶を通して光路長を
変更する必要がある。図4に示した例により、液晶物質
8は別の画素電極8a’のマトリックス配列によりそれ
ぞれのレンズ素子6と協働した各1つの別の制御できる
部分に概念的に分割され、それから個別に選択されたレ
ンズ素子6と協働した光電性素子4との間の光路は画像
の選択された部分で焦点を制御するように調整される。
【0038】上記例で、レンズ素子6が光電性素子4か
ら向きがそれていても、第二の配列5はレンズ素子6が
光電性素子4に向くように反転しうる。また上記例で、
画像化素子は光電性素子であり、画像化素子の任意の適
切な形が用いられる。故に例えば、画像化素子は第一の
配列が例えば画像センサー配列というよりもむしろLC
Dディスプレーのようなディスプレーを形成し、又は各
画像化素子が光電性及びディスプレー素子の両方からな
るようなディスプレー素子からなる。
【0039】本発明による開示から、他の改良及び変形
は当業者にとって明白である。その様な改良及び変形は
従来技術により既に知られている及び代わりに用いられ
ている他の特徴を含み、又は加えるに既にここで述べら
れた特徴を含む。請求項は本願では特徴の特定の組み合
わせに対して記載されているが、本願の開示の範囲はま
たいかなる新たな特徴又は明示され又はされないか、ど
の請求項で現在請求されるのと同じ発明に関するか否
か、及び本発明でなされたのと同様な技術的問題の幾つ
か又は全てを緩和するか否かによらずここで開示された
特徴のいかなる新たな組み合わせをも含むことを理解す
べきである。これによって本出願人は新たな請求項を本
出願又はそれから得られる更なる出願の実施中の特徴及
び/又は特徴の組み合わせで記載しうる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による画像化装置の第一の例の非常に概
略的に単純化した部分断面図を示す。
【図2】本発明による画像化装置の第二の例の非常に概
略的に単純化した部分断面図を示す。
【図3】本発明による画像化装置内で用いるのに適切な
光電性素子配列の一例の概略回路配置図を示す。
【図4】本発明による画像化装置の他の実施例の一画素
(ピクセル)の主な部分の断面図を示す。
【符号の説明】
1a 画像化装置 2、7 基板 3、5 配列 3a 画素 4 画像化素子 6 レンズ素子 7a 表面 8 電気光学物質 8a、8b 電極 10 トランジスタ 10a ゲート電極 10b トランジスタ導体チャンネル領域 10c、10d ドレイン電極 11 行導体 11a 接続領域 12 デコーダー/アドレッシング回路 13 列導体 14 列検出器/アドレッシング回路 16 共通線 17 アモルファスシリコン層 18a 領域 19 半導体層 19a ソース及びドレインn半導体型接触領域 20 金属被覆層 22 絶縁層 24 金属被覆 25 皮膜保護層 31 トランジスタ 31a ITOダイオード電極 33 絶縁層 34 配向層 36 光遮蔽領域 37 カラーフィルター層 41、42 電極 42a クロム電極部分 70 分離基板 L 光

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 画像化素子の配列を担持する第一の基板
    と、画像化素子と少なくとも一つのレンズ素子との間の
    光路上を伝搬する光を集める少なくとも一つの画像化素
    子と協働する各レンズ素子を有するレンズ素子配列とか
    らなる画像化装置であって、電気的に変更できる屈折率
    を有する電気光学物質が第二の基板と画像化素子の一つ
    とレンズ素子配列との間で画成される空間内に設けら
    れ、レンズ素子の有効焦点距離を調整するために電気光
    学物質を横切る電気的ポテンシャルを印加するための手
    段が設けられていることを特徴とする画像化装置。
  2. 【請求項2】 レンズ素子配列は第二の基板により担持
    され、電気光学物質は画像化素子配列と第二の基板間に
    設けられる請求項1記載の画像化装置。
  3. 【請求項3】 電気光学物質用の空間はレンズ素子配列
    と第二の基板間に設けられる請求項1記載の画像化装
    置。
  4. 【請求項4】 電気光学物質に電気的ポテンシャルを印
    加するための手段は電気光学物質に近接した第二の基板
    により担持された光ー透過性電極からなる請求項1乃至
    3のうちいずれか一項記載の画像化装置。
  5. 【請求項5】 電気光学物質に電気的ポテンシャルを印
    加するための手段は画像化素子配列の一つ及びレンズ素
    子配列と協働する更なる光ー透過性電極からなる請求項
    4記載の画像化装置。
  6. 【請求項6】 電気光学物質に電気的ポテンシャルを印
    加する手段は画像化素子配列及びレンズ素子配列の一つ
    の各素子と協働する更なる各電極からなり、該更なる各
    電極は該更なる電極と第二の基板により担持された光ー
    透過性電極間の電気的ポテンシャルの印加を制御するそ
    れぞれのスイッチング素子と協働する請求項4記載の画
    像化装置。
  7. 【請求項7】 電気光学物質は液晶からなる請求項1乃
    至6のうちいずれか一項記載の画像化装置。
  8. 【請求項8】 各レンズは単一の画像化素子と協働する
    請求項1乃至7のうちいずれか一項記載の画像化装置。
  9. 【請求項9】 各画像化素子は光電性ダイオードからな
    る請求項1乃至8のうちいずれか一項記載の画像化装
    置。
  10. 【請求項10】 画像化素子配列は薄膜画像化素子の二
    次元配列からなる請求項1乃至9のうちいずれか一項記
    載の画像化装置。
JP6158959A 1993-07-12 1994-07-11 画像化装置 Withdrawn JPH0778954A (ja)

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