JP2001332711A - 固体撮像素子及びその製造方法 - Google Patents
固体撮像素子及びその製造方法Info
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Abstract
ズを最適化することが可能であり、また外部レンズのF
値による感度特性の変化が少ない固体撮像素子及びその
製造方法を提供する。 【解決手段】 強誘電体材料12により形成されたオン
チップレンズ10を有して成る固体撮像素子1を構成す
る。これは、第1の透明電極層11を形成して、この第
1の透明電極層11上に強誘電体膜12をレンズ10の
形状に加工し、この強誘電体膜12を覆って第2の透明
電極層13を形成して両透明電極層を通じてオンチップ
レンズ10に電界を印加し、屈折率を可変できる固体撮
像素子。
Description
チップマイクロレンズが形成されて成る固体撮像素子及
びその製造方法に係わる。
は、素子の小型化に伴い、素子内にカラーフィルターを
形成し、このカラーフィルターの上にさらにオンチップ
(マイクロ)レンズを形成した構造を採っている。
ンズで集光することにより、センサ部上以外の部分に入
射した光をも集光させて、センサ部に入射させることが
できる。従って、センサ部に入射する光量を増やして感
度を向上させることができる。
んオンチップレンズを作製してしまうと、その後ではオ
ンチップレンズに対して所望の光学特性を得る目的で最
適化を行うことができなかった。
画素では、外部レンズのF値により感度特性が変わって
くる。外部レンズのF値が大きいときには、周辺部の画
素と中央部の画素との感度の差は少ない。これに対し
て、外部レンズのF値が小さいときには、斜めに入射す
る光の割合が増えて、特に周辺部の画素においてはセン
サ部に入射しにくくなる。このため、周辺部の画素の感
度が低下し、中央部の画素との感度の差が大きくなる。
いては、所望の特性を得るようにオンチップレンズを最
適化することが可能であり、また外部レンズのF値によ
る感度特性の変化が少ない固体撮像素子及びその製造方
法を提供するものである。
は、強誘電体材料により形成されたオンチップレンズを
有して成るものである。
の透明電極層を形成する工程と、この第1の透明電極層
上に強誘電体膜を形成する工程と、この強誘電体膜をレ
ンズ形状に加工する工程と、この強誘電体膜を覆って第
2の透明電極層を形成する工程とを有するものである。
ば、強誘電体材料により形成されたオンチップレンズを
有することにより、オンチップレンズが電界を印加され
ることによりその屈折率を変化する、いわゆる電気光学
効果を有する。これにより、オンチップレンズに電界を
印加することによりその屈折率を変化させて、焦点距離
を変えることができる。
極層、レンズ形状の強誘電体膜、第2の透明電極層が順
次形成される。これにより、強誘電体膜から成るオンチ
ップレンズが形成されると共に、第1及び第2の透明電
極層を通じてオンチップレンズの強誘電体膜に電界を印
加して屈折率を変化させることが可能な構造の固体撮像
素子を製造することができる。
成されたオンチップレンズを有して成る固体撮像素子で
ある。
て、電界を印加することによりオンチップレンズの屈折
率を調整して焦点距離を変化させる構成とする。
程と、第1の透明電極層上に強誘電体膜を形成する工程
と、強誘電体膜をレンズ形状に加工する工程と、強誘電
体膜を覆って第2の透明電極層を形成する工程とを有す
る固体撮像素子の製造方法である。
固体撮像素子の概略構成図(センサ部付近の断面図)を
示す。このCCD固体撮像素子1は、例えばシリコン基
板から成る半導体基体2の表面に、フォトダイオードか
ら成るセンサ部(受光部)3が画素に対応してマトリク
ス状に多数配され、半導体基体2上にゲート絶縁膜5を
介して多結晶シリコンから成る転送電極6が形成されて
いる。この転送電極6上には層間絶縁膜7が形成されて
いる。
金属膜(例えばタングステンW、モリブデンMo、タン
タルTa)から成る遮光膜8が形成されている。この遮
光膜8には、センサ部3上に開口が形成されて、センサ
部3に光が入射するようになっている。
9が形成されている。平坦化膜9により平坦化された表
面上には、下部透明電極11及び強誘電体膜12及び上
部透明電極13とから成るオンチップレンズ10が形成
されている。
電体膜12を有して構成されているため、電界が与えら
れると屈折率が変化する電気光学効果を有する。従っ
て、下部透明電極11と上部透明電極13間に電位差を
与えて、強誘電体膜12に電界を印加することにより、
オンチップレンズ10の屈折率を変化させることができ
る。
ル4が形成され、また図示しないがセンサ部3と垂直転
送チャネル4の間に、読み出しゲート部やチャネルスト
ップ領域が形成される。
膜12の強誘電体材料としては、任意の強誘電体を用い
ることができる。例えばKDP(KH2 PO4 )、Li
NbO3 、DMNP(ジメチルニトロフェノールパラゾ
ール:(CH3 )2 C6 H3 −O−C6 H4 NO2 :C
14H13NO3 )、BaTiO3 、LiTaO3 等を用い
ることができる。
は、透明導電材例えばITO(インジウム鉛酸化物)、
SnO2 、ZnO等を用いることができる。例えばIT
Oを用いた場合には、スパッタ法や蒸着法により形成す
ることができる。
変化について、さらに詳しく説明する。
平行光が入射する場合を考える。例えば図2Aに示すよ
うに、主面に垂直な方向で入射した平行光がオンチップ
レンズ10によって集光されて、センサ部3より深い位
置に焦点25を結んでいると仮定する。このとき、オン
チップレンズ10の曲率半径をr、屈折率の初期値をN
0とすると、焦点距離Rは、次式で示される。 R=r・N0/(N0−1)
11との間に電界Eを印加すると、強誘電体膜12の電
気光学効果により、オンチップレンズ10の屈折率は初
期値N0からN´に変化する。即ちN´=N0+N
(E)で表される。
点距離が変化して、焦点25の位置が移動する。例えば
図2Aの場合と比較して焦点距離が短くなって、図2B
に示すようにセンサ部3内に焦点25を結ぶようにな
る。このときの焦点距離R´は、次式で示される。 R´=r・N´/(N´−1)
焦点距離R´を調整することができることがわかる。こ
れにより、集光状態をより最適化して、感度の向上を図
ることができる。
子の主面に垂直に入射する光がセンサ部3に集光するよ
うにオンチップレンズ10を最適化している場合(焦点
距離R1)には、斜めから入射する光に対しては、図3
Bに示すようにセンサ部3に集光されなくなってしま
う。
化させて焦点距離を調節することにより、図3Bの焦点
距離R2から図3Cに示す焦点距離R3に変化させて、
センサ部3に集光させるようにすることができる。即ち
この斜め光に対する感度を改善することが可能になる。
Eの大きさを変更して焦点距離を変化させることによ
り、斜めに入射する光に対しても感度を向上させること
ができる。
平坦化層9との界面に入射する際に光が多少屈折する
が、これら図2及び図3では説明を簡単にするために、
この界面における屈折は考慮しない模式的な図としてい
る。
するためには、CCD固体撮像素子1の撮像領域の中央
部から撮像領域の周辺部へ向かうにつれて、オンチップ
レンズ10に印加する電界Eの大きさを変更する。
電極11のうち少なくとも一方について、撮像領域の中
央部から周辺部に向かって、複数の領域に分離されたパ
ターンとする。そして、それぞれの領域の透明電極11
及び/又は13に対して、センサ部3への光の入射を妨
げないように配線を配置することにより、各領域に異な
る電位を印加することを可能にする。
の周辺部における集光状態を重点的に補正することが可
能になる。このため、例えば外部レンズのF値が小さく
なって斜めに入射する光の割合が増大したとしても、効
率的にセンサ部3へ集光させて感度の低下を抑制するこ
とが可能になる。従って、外部レンズのF値による感度
低下を低減することが可能になる。
さらにレンズ10とセンサ部3との平面位置をずらして
配置することにより、斜めの入射光を集光してセンサ部
3に効率よく入射するように構成してもよい。
に、遮光膜8を下部電極としてレンズ10の強誘電体膜
12にかかる電界を変化させる構成とすることも可能で
ある。
例えば次のようにして製造することができる。まず、遮
光膜8までの各層を形成し、センサ部3上の遮光膜8に
開口を形成する。
透明平坦化層9を形成する。そして、平坦化工程を施
す、或いは透明平坦化層9の材料の特性により自動的
に、透明平坦化層9の表面を平坦化する。
た表面上に、透明導電材の膜を形成して下部透明電極1
1を形成する。さらに、下部透明電極11上に強誘電体
膜12を形成する。
トレジストを堆積し、このフォトレジストを画素に対応
したパターンに加工する。続いて、リフローを行うこと
により、フォトレジストをレンズ形状にする。
をエッチバックして、フォトレジストのレンズ形状を強
誘電体膜12に転写してレンズ10を形成する。そし
て、レンズ10を覆って透明導電材の膜を形成して、上
部透明電極13を形成する。
レンズ10が強誘電体膜12を有して成ることにより、
電気光学効果を有し、電界を変化させることによりオン
チップレンズ10の屈折率を変化させることができる。
そして、強誘電体膜12の上下に、下部透明電極11及
び上部透明電極13が形成されていることにより、これ
らの電極11,13にそれぞれ電圧を与えて、強誘電体
膜12に電界Eを印加することが可能になる。
体膜12に電界Eを印加することにより、光の入射を最
適化して、例えば図2Bや図3Cに示すように、センサ
部3に集光させることができる。
体撮像素子1の感度の向上を図ることができる。
Eの大きさを変更して焦点距離を調節することにより、
センサ部3に集光させることができる。即ち光の入射す
る角度に応じて、電界Eの大きさを変更することによ
り、集光の状態を最適化することができる。
いて、外部レンズのF値が小さくなり斜めに入射する光
が増えても、集光の状態を最適化して充分な感度が得ら
れるようにすることができる。従って、CCD固体撮像
素子1の周辺部における感度の、外部レンズのF値依存
を低減することができる。
撮像素子に本発明を適用したが、本発明はその他の構成
の固体撮像素子、例えばMOS型の固体撮像素子にも同
様に適用することができる。
同様に本発明を適用して、固体撮像素子のセンサ部上に
強誘電体材料から成るオンチップレンズを形成すること
により、レンズによる入射光の集光状態の最適化を図る
ことが可能になる効果が得られる。
ものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲でその他
様々な構成が取り得る。
有する強誘電体材料によりオンチップレンズを形成する
ことにより、オンチップレンズに電界を印加してオンチ
ップレンズの屈折率を変化させることができる。これに
より、焦点距離を変えてセンサ部への集光を最適化する
ことができる。従って、固体撮像素子の感度の向上を図
ることができる。
部への集光を最適化することができるため、固体撮像素
子の周辺部における感度の外部レンズのF値依存を低減
することができる。
要部の概略断面図である。
変化することを説明する模式図である。 A 電界を印加していない場合である。 B 電界を印加した場合である。
点距離を最適化させることを説明する模式図である。
部、4 垂直CCDチャネル、5 ゲート絶縁膜、6
転送電極、7 層間絶縁膜、8 遮光膜、9 平坦化
膜、10 オンチップレンズ、11 下部透明電極、1
2 強誘電体膜、13 上部透明電極、r レンズの曲
率半径、R,R´,R1,R2,R3 焦点距離
Claims (3)
- 【請求項1】 強誘電体材料により形成されたオンチッ
プレンズを有して成ることを特徴とする固体撮像素子。 - 【請求項2】 電界を印加することにより上記オンチッ
プレンズの屈折率を調整して焦点距離を変化させること
を特徴とする請求項1に記載の固体撮像素子。 - 【請求項3】 第1の透明電極層を形成する工程と、 上記第1の透明電極層上に強誘電体膜を形成する工程
と、 上記強誘電体膜をレンズ形状に加工する工程と、 上記強誘電体膜を覆って第2の透明電極層を形成する工
程とを有することを特徴とする固体撮像素子の製造方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000146708A JP2001332711A (ja) | 2000-05-18 | 2000-05-18 | 固体撮像素子及びその製造方法 |
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JP2000146708A Pending JP2001332711A (ja) | 2000-05-18 | 2000-05-18 | 固体撮像素子及びその製造方法 |
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