JPH0774224A - 異常処理装置及び異常処理方法 - Google Patents
異常処理装置及び異常処理方法Info
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- JPH0774224A JPH0774224A JP5238782A JP23878293A JPH0774224A JP H0774224 A JPH0774224 A JP H0774224A JP 5238782 A JP5238782 A JP 5238782A JP 23878293 A JP23878293 A JP 23878293A JP H0774224 A JPH0774224 A JP H0774224A
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Abstract
内で瞬時点に発生した場合に、測定条件や測定結果等の
テストデータを失う事なく、しかも稼働状態の復帰に時
間を費やすことのない異常処理装置と異常処理方法とを
提供する。 【構成】 IC試験装置2及び制御装置1の各種異常セ
ンサ14,22A,22Bと、その異常検出出力を処理する異常監
視回路15と、制御装置1の供給電力の異常を監視し、そ
の異常発生時には制御装置1に所定時間に渡って電力を
供給し動作中か否かを異常監視回路15へ知らせる無瞬断
電源装置3と、異常監視回路15より異常要因及び無瞬断
電源装置3の動作中か否かを読み取ってIC試験装置2
の稼働状態への復帰が可能かを判断する制御用コンピュ
ータ17と、制御用コンピュータ17の出力が電源制御回路
13を動作させて制御装置1の電源が動作状態のままIC
試験装置2の電源のみを断ち、IC試験装置2の電源を
停止状態から始動する手段とを備える。
Description
方法についてのものであり、特に、IC試験装置または
その制御装置において火災に発展する恐れのあるような
異常が発生した場合の異常処理を的確に行うことの出来
る処理装置及び処理方法についてのものである。
常処理装置の構成を図5に示す。IC試験装置2は制御
装置1により制御されてIC素子に対する各種試験を行
う。操作員が電源スイッチ12を制御して制御装置1の
各種電源11及びIC試験装置2の各種電源21を動作
状態にしたり停止状態にしたりすることができる。
サ、ファンセンサ等の火災に発展する恐れのあるような
異常を検出する各種異常センサ22が設けられ、また各
種電源21には各々その異常を検出する図示しないセン
サが内蔵されている。そして温度異常、発煙、電源異
常、ファン停止等の異常が発生すると該当する異常セン
サ22が動作し、その異常検出出力は異常監視回路15
で処理され、その出力により表示部16を動作させ、外
部へ異常発生を知らせる。表示部16は通常LED、ブ
ザー等で構成されており、操作員に視覚的、聴覚的に異
常発生を知らせることを目的とする。
タ17へ割り込み、制御用コンピュータ17は図6のフ
ローチャートに示すように、この割り込みが異常割り込
みであることを感知すると(S601)、その異常要因
を調べ(S602)、それを端末18に送って画面に表
示する(S603)。その後、電源制御回路13にOF
F命令を送って制御装置1の電源11及びIC試験装置
2の電源21を断つ(S604)。
御装置に影響のないような異常が発生した場合において
も、例えばIC試験装置への供給電力の瞬停により瞬時
的に異常が発生したが、供給電力の復帰と共に正常状態
に戻った場合等においても、IC試験装置及び制御装置
のすべての電源が断たれることになる。
生時にハードウエアに記憶されていた測定条件、測定結
果等の情報が失われてしまうという問題があった。また
いったん制御装置の電源を断ってしまうと、再びIC試
験装置を稼働状態に復帰させるためには分単位の比較的
長い時間がかかる。初期設定のためのオペレーションシ
ステムを外部記憶装置から取り込み、それを起動させな
くてはならないからである。
IC試験装置内で瞬時的に発生した後、直ちに正常状態
に戻ったような場合、IC試験装置内は火災発生の危険
性が回避された状態にもかかわらず、上記処理のために
操作員の作業が必要となり、時間を費やさなくてはなら
ないという問題があった。
異常が試験装置内で瞬時的に発生した場合に、測定条件
や測定結果等の情報を失う事なく、しかも稼働状態の復
帰に時間を費やすことのない異常処理装置と異常処理方
法とを提供することを目的とする。
に、この発明は、IC試験装置で火災に発展する恐れの
あるような異常が発生すると異常センサが動作し、その
異常検出出力を処理した異常監視回路の出力が制御用コ
ンピュータへ割り込み、制御用コンピュータがその異常
要因を端末に表示すると共に、電源制御回路を動作させ
てIC試験装置及びその制御装置の電源を断つIC試験
装置の異常処理装置において、異常要因の種類によって
分類されたIC試験装置及び制御装置の各種異常センサ
と、その異常検出出力を処理して制御用コンピュータへ
割り込む異常監視回路と、制御装置の供給電力の異常を
監視し、その異常発生時には制御装置に所定時間に渡っ
て電力を供給すると共に動作中か否かを異常監視回路へ
知らせる無瞬断電源装置と、異常監視回路より異常要因
及び無瞬断電源装置の動作中か否かを読み取ってIC試
験装置の稼働状態への復帰が可能かどうかを判断する制
御用コンピュータと、制御用コンピュータの出力が電源
制御回路を動作させて制御装置の電源が動作状態のまま
IC試験装置の電源のみを断ち、IC試験装置の電源を
停止状態から始動する手段とを備える。
験装置のテスト情報をいったん退避させて電源を所定時
間だけオフし、所定時間経過後に再びオンし、異常が検
出されない場合には退避させたテスト情報を特定の試験
装置に戻し、運転を再開する。
のブロック図を図1に示す。図1で、図5に示す従来の
装置と対応する部分には同一符号を付けてある。この発
明においては各種異常センサがその検出する異常要因の
種類によって分類される。制御装置1で発生した異常
と、IC試験装置2で発生した異常のうち制御装置1に
影響が及ぶと考えられる異常をランク1異常とし、IC
試験装置2で発生した異常のうち制御装置1に直接影響
が及ばないと考えられる異常をランク2異常とする。異
常センサ14、異常センサ22Aはランク1異常を検出
する各種異常センサであり、異常センサ22Bはランク
2異常を検出する各種異常センサである。電源11の異
常はランク1異常であり、電源21の異常はランク2異
常である。
異常、発煙、ファン停止等の異常を検出するものであ
る。異常センサ22AはIC試験装置2の内部の異常を
検出するセンサのうち、危険度が高く即座に火災に発展
する恐れのある、温度異常、発煙等の異常を検出するも
ので、これらの異常は制御装置1に影響が及ぶと考えら
れる。異常センサ22BはIC試験装置2の内部の異常
を検出するセンサのうち、比較的危険度が低く制御装置
1に影響が及ばないと考えられるファン停止等の異常を
検出するものである。
の間に、所定時間に渡って電力供給が可能な無瞬断電源
装置3が設けられる。制御装置1またはIC試験装置2
で火災に発展する恐れのあるような異常が発生すると、
その異常検出出力は異常監視回路15で処理され、その
出力により表示部16を動作させ、外部へ異常発生を知
らせる。同時に、無瞬断電源装置3は制御装置1の電源
11への供給電力の電圧を監視していて、これに異常あ
った場合はこれに代わって電源11への電力供給を開始
し、異常監視回路15に対して動作中の信号を出力す
る。また異常検出出力を処理した異常監視回路15は制
御用コンピュータ17へ割り込み、制御用コンピュータ
17は図2に示すような処理を行うが、異常要因を調べ
る(S202)処理までは図6のフローチャートに示す
従来の手順と同様である。
に従って説明する。次に制御用コンピュータ17は異常
がランク1異常なのかランク2異常なのかを、異常監視
回路15より異常要因を読み取って(S203)判別す
る。これは異常要因を調べることにより直ちに全ての電
源を断つ必要があるのか、それともIC試験装置2の稼
働状態への復帰の可能性があるのかを判断するためであ
る。
態への復帰の可能性は無いと見なして、従来と同様にそ
の異常要因を端末18に送ってそれを画面に表示した
(S204)後で、電源制御回路13にOFF命令を送
って制御装置1の電源11及びIC試験装置2の電源2
1を断って(S205)処理を終了する。この状態は従
来と同様で、異常を取り除いた後でIC試験装置2を稼
働状態に復帰させるためには、初期設定のためのオペレ
ーションシステムを外部記憶装置から取り込み、それを
起動させなくてはならない。
IC試験装置2の稼働状態への復帰の可能性があると見
なして、その際に失われては困るハードウエアレジスタ
のテスタ情報、例えば各種測定条件及び各種測定結果等
の情報を制御用コンピュータ17のメモリに退避し(S
206)、その異常要因を端末18に送ってそれを画面
に表示した(S207)後で、電源制御回路13にOF
F命令を送ってIC試験装置2の電源21のみを断つ
(S208)。この状態は制御装置1の電源11が動作
状態であり制御装置1は稼働状態を継続しているので、
IC試験装置2に対して処理をすることが可能である。
時間待つ(S209)。これは異常が瞬時的に終わるも
のであった場合は、この間にIC試験装置2は再び正常
な状態に戻るものと考えられる時間であり、例えば3秒
程度である。次に異常監視回路15に無瞬断電源装置3
から動作中の信号が入力されているかどうかを調べるこ
とによって、その後の制御装置1の稼働の継続が可能か
どうかを判断する(S210)。これはIC試験装置2
の稼働状態への復帰のためには制御装置1が稼働を継続
することが条件となるからである。
は、電源11への本来の供給電力が停止したと見なして
制御装置1の稼働の継続は不可能と判断し、制御用コン
ピュータ17のメモリに記憶されている試験プログラム
等のファイル及び前述の退避されたハードウエアレジス
タの情報を、外部記憶装置に保存して(S211)処理
を終了する。この状態は従来と同様で、異常を取り除い
た後でIC試験装置2を稼働状態に復帰させるために
は、初期設定のためのオペレーションシステムを外部記
憶装置から取り込み、それを起動させなくてはならな
い。しかし外部記憶装置に上記処理により記憶さたファ
イル、情報を読み出すことによって、異常発生時の測定
状態を再現することができる。
場合には、引続き以下に示す処理が行われる。電源11
への供給電力には異常はなかったと見なして制御装置1
の稼働の継続は可能と判断し、IC試験装置2を稼働状
態へ復帰させるため電源制御回路13にON命令を送っ
てIC試験装置2の電源21を投入させる(S21
2)。この状態でさらに所定時間待つ(S213)。こ
の間に再び異常が発生するかどうかで、その異常が瞬時
的なものであったか継続的なものであったかを判断する
(S214)ためであり、例えば20秒程度である。
視回路15が制御用コンピュータ17へ割り込み、制御
用コンピュータ17がこの割り込みが異常割り込みであ
ることを感知した場合は、異常は継続的なものであった
と見なして直ちにその異常要因を調べ(S216)、そ
れを端末18に送って画面に表示した(S217)後
で、電源制御回路13にOFF命令を送ってIC試験装
置2の電源21を断って(S218)処理を終了する。
この状態は制御装置1が稼働を継続し、制御用コンピュ
ータ17は、IC試験装置2の電源21が投入された時
に前述のメモリに退避した情報を再びハードウエアレジ
スタに転送するように待機しているため、異常を取り除
い後でIC試験装置2を稼働状態に復帰させるために
は、操作員は電源スイッチ12を操作してIC試験装置
2の電源21を投入させればよい。
発生しなかった場合は、制御用コンピュータ17は異常
が瞬時的なものであったと見なして前述のメモリに退避
した情報を再びハードウエアレジスタに転送し(S21
5)、IC試験装置2を稼働状態に復帰させて処理を終
了する。この状態では異常発生時までの測定結果等の情
報は制御用コンピュータ17のメモリに記憶されてお
り、ハードウエアは異常発生時の測定条件が再現されて
いるため、操作員は直ちに試験を実行することができ
る。
装置のブロック図を示したものである。図1の実施例に
示すIC試験装置2に該当する装置としてテスト制御装
置架31・32が設けられており、架内には図示しない
異常センサが取付けられている。異常が発生するとアラ
ームを発生する。テスト制御装置架31・32から発生
したアラームはアラーム解析部プロセッサ33に伝達さ
れ、ここで集中的にアラーム内容の解析と各種処理が行
なわれる。図1の装置の異常監視回路15と制御用コン
ピュータ17に相当する。
の制御信号に応答してテスト制御装置架31・32の電
源オン、オフ制御する。またプロセッサ33は特定のテ
スト制御装置架からアラームを受付けると、その架に蓄
積されているテストデータをいったんテストデータ退避
/復帰制御部35に退避させた後、パワー制御回路34
に該当する架の電源をオフするよう指令する。テストデ
ータ退避/復帰制御部35に退避したデータはメモリ3
6に格納されて保持される。特定架の電源がオフになっ
た後、一定期間の状態安定待ちを行った後、特定架の電
源を再度オンし、その後再度アラーム解析を行いアラー
ムが再発生しないようならば、テストデータ退避/復帰
制御部35を通じてメモリ36に退避されているテスト
データをテスト制御装置架31・32へ復帰させる。こ
れらの制御方式を実行させることにより、一部のアラー
ムはシステムを停止させることなくテスティングを継続
させることができる。
ャートである。テスト制御装置架31・32からアラー
ムが発生すると、アラーム解析部プロセッサ33で観測
を行い(S401)、アラーム発生か否かを判定する
(S402)。アラーム発生の時には、発生架の特定を
行い(S403)、その特定架に蓄積されているテスト
情報を制御部35にいったん退避させる(S404)。
さらに、システムに含まれる各架のパワーオン状態の退
避(S405)を行い、アラーム要因によるアラーム発
生架の電源をオフする(S406)。そして、一定時間
状態安定待ちを行い(S407)、ついで電源を再投入
する(S408)。アラーム解析部プロセッサ33で再
びアラームが発生するか否かの観測を行い(S40
9)、同一要因による再アラームか否かを判断する(S
410)。
の架は復帰可能と判断し、テストデータ退避/復帰制御
部35に退避させておいたテストデータを架に復帰させ
る(S411)。再アラームが発生する場合には、その
架は復帰不可能と判断し、電源をオフする(S41
2)。そして、図示しない警報ブザーを鳴らし(S41
3)、システムを停止させる(S414)。
以上の割合を示す電源瞬断等の一時的なアラームを救済
できるため、量産体制で行なわれている半導体試験の稼
働率アップに大いに貢献する事ができる。
に、その異常が制御装置に影響の及ばないものであれ
ば、制御装置は稼働状態を継続できるので、ハードウエ
ア情報が失われることはなく、さらに異常が瞬時的なも
のであった場合には試験装置を短時間で自動で稼働状態
に復帰させることができるので、操作員は異常が瞬時的
なものであったことが解ると共に、異常発生前と同様な
測定条件のもとに直ちに試験を実行することが可能であ
る。
を示すブロック図である。
示すフローチャートである。
成を示すブロック図である。
理を示すフローチャートである。
ある。
を示すフローチャートである。
Claims (2)
- 【請求項1】 異常発生を検出する異常センサと、この
異常センサからの異常検出出力を処理する異常監視回路
(15)と、この異常監視回路(15)からの割り込み信号に応
答して異常要因を端末(18)に通知すると共に試験装置
(2) 又は試験装置(23)と制御装置(1) の電源を断つ制御
用コンピュータ(17)とを備えた異常処理装置において、 前記制御装置(1) 及び試験装置(2) に配設された危険度
の高い異常を検出するランク1異常センサ(14,22A)と、 危険度の低い異常を検出するランク2異常センサ(22B)
と、 前記制御装置(1) の電源(11)の供給電力の異常を監視
し、その異常発生時には前記制御装置(1) に所定時間に
渡って電力を供給すると共に動作中か否かを示す信号を
前記異常監視回路に知らせる無瞬断電源装置(3) と、 前記ランク2異常センサ(22B)の異常検出出力発生時に
前記無瞬断電源装置(3)が非動作中の場合に前記試験装
置(2) のみの電源(21)を断とし、所定時間経過後に再び
オンするよう制御する前記制御用コンピュータとを設け
た事を特徴とする異常処理装置。 - 【請求項2】 ランク2の異常が検出された場合に、特
定の試験装置のテスト情報をいったん退避させて電源を
所定時間だけオフし、所定時間経過後に再びオンし、異
常が検出されない場合には前記退避させたテスト情報を
前記特定の試験装置に戻し、運転を再開する事を特徴と
する異常処理方法。
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---|---|---|---|
JP23878293A JP3348479B2 (ja) | 1993-08-31 | 1993-08-31 | 異常処理装置及び異常処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23878293A JP3348479B2 (ja) | 1993-08-31 | 1993-08-31 | 異常処理装置及び異常処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH0774224A true JPH0774224A (ja) | 1995-03-17 |
JP3348479B2 JP3348479B2 (ja) | 2002-11-20 |
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ID=17035204
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP23878293A Expired - Fee Related JP3348479B2 (ja) | 1993-08-31 | 1993-08-31 | 異常処理装置及び異常処理方法 |
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1993
- 1993-08-31 JP JP23878293A patent/JP3348479B2/ja not_active Expired - Fee Related
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