JPH076538Y2 - Ｄｇ測定装置 - Google Patents
Ｄｇ測定装置Info
- Publication number
- JPH076538Y2 JPH076538Y2 JP10617687U JP10617687U JPH076538Y2 JP H076538 Y2 JPH076538 Y2 JP H076538Y2 JP 10617687 U JP10617687 U JP 10617687U JP 10617687 U JP10617687 U JP 10617687U JP H076538 Y2 JPH076538 Y2 JP H076538Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- subcarrier
- video
- frequency
- amplitude
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、ビデオ用DAコンバータにおけるDG（微分利
得）特性の測定を行う装置の改善に関するものである。
得）特性の測定を行う装置の改善に関するものである。
〔従来の技術〕 第４図と第５図を用いて従来技術を説明する。第４図は
従来のDG測定装置のブロック構成図であり、第５図はこ
の装置で使用される試験用ビデオ信号の波形例を示す図
である。
従来のDG測定装置のブロック構成図であり、第５図はこ
の装置で使用される試験用ビデオ信号の波形例を示す図
である。
第４図において、パターン発生器11からは例えは第５図
に示すようなビデオ信号波形を表わすデジタル信号がDU
T（device under test…ここではビデオ用DAコンバー
タ）14へ加えられる。DUT4は加えられたデジタル信号を
アナログ信号へ変換して第５図のようなビデオ信号を出
力する。第５図は一般的な試験用ビデオ信号を表わした
図である。同図において、（ａ）部はサブキャリアであ
り、3.58MHzの高周波信号である。そしてこの高周波の
サブキャリア信号が階段状波に重畳される。このような
第５図のビデオ信号では、振幅Ｙは“明るさ”を表わ
し、各階段状波に重畳しているサブキャリア信号は
“色”を表わしている。
に示すようなビデオ信号波形を表わすデジタル信号がDU
T（device under test…ここではビデオ用DAコンバー
タ）14へ加えられる。DUT4は加えられたデジタル信号を
アナログ信号へ変換して第５図のようなビデオ信号を出
力する。第５図は一般的な試験用ビデオ信号を表わした
図である。同図において、（ａ）部はサブキャリアであ
り、3.58MHzの高周波信号である。そしてこの高周波の
サブキャリア信号が階段状波に重畳される。このような
第５図のビデオ信号では、振幅Ｙは“明るさ”を表わ
し、各階段状波に重畳しているサブキャリア信号は
“色”を表わしている。
ここで、“色”情報は、各階段状波におけるサブキャリ
ア信号の振幅値と位相に組込まれている。一般にビデオ
用DAコンバータにおいて、第５図に示すＹの値、即ち低
周波成分の振幅（明るさ）が変動すると、サブキャリア
信号の振幅Ｃと位相Ｐもこれに影響されて変化する傾向
がある。この変化はテレビ画面の明暗が異なると、
“色”まで異なってしまうことを意味し好ましくない。
このようなビデオ用DAコンバータの性能を測る目的でDG
測定と、DP（微分位相）測定が行われる。DG測定は次式
の演算により行われる。
ア信号の振幅値と位相に組込まれている。一般にビデオ
用DAコンバータにおいて、第５図に示すＹの値、即ち低
周波成分の振幅（明るさ）が変動すると、サブキャリア
信号の振幅Ｃと位相Ｐもこれに影響されて変化する傾向
がある。この変化はテレビ画面の明暗が異なると、
“色”まで異なってしまうことを意味し好ましくない。
このようなビデオ用DAコンバータの性能を測る目的でDG
測定と、DP（微分位相）測定が行われる。DG測定は次式
の演算により行われる。
DG＝ΔC/ΔＹ 即ち、第５図の振幅Ｙの変動（ΔＹ）に対するサブキャ
リア信号の振幅Ｃの変動（ΔＣ）の割合で表わされる。
リア信号の振幅Ｃの変動（ΔＣ）の割合で表わされる。
一方、DP測定は次式の演算により行われる。
DP＝ΔP/ΔＹ 即ち、第５図の振幅Ｙの変動（ΔＹ）に対するサブキャ
リア信号の位相Ｐの変動（ΔＰ）の割合で表わされる。
ここで位相Ｐは、第５図（ａ）部のサブキャリア信号に
対する各階段状波部でのサブキャリアの位相である。
リア信号の位相Ｐの変動（ΔＰ）の割合で表わされる。
ここで位相Ｐは、第５図（ａ）部のサブキャリア信号に
対する各階段状波部でのサブキャリアの位相である。
このようなDG測定とDP測定を行うため、DUT14からの信
号を同期検波器12に導入し、そこで各階段状波ごとのサ
ブキャリアの振幅変化量と位相変化量を測定している。
号を同期検波器12に導入し、そこで各階段状波ごとのサ
ブキャリアの振幅変化量と位相変化量を測定している。
なお、クロック発生器13はパターン発生器11とDUT14の
タイミング制御に用いられる。
タイミング制御に用いられる。
本考案はDG測定に関する装置であるため、以下、DG測定
について述べる。
について述べる。
このような第４図の従来装置においては、同期検波器12
としてベクトルスコープや又は類似のビデオ用測定器を
用いる必要がある。しかしベクトルスコープ等の場合、
測定対象がビデオ信号用に専用化しているためサブキャ
リア周波数が3.58MHzにほぼ固定化されている。また、
試験装置の場合、パターン発生器11から出力されるデー
タは第５図に示すような階段状波を使うことが多いの
で、DG測定における低周波信号のレベル（振幅）をゼロ
からフルまで均一にテストすることができない問題もあ
る。
としてベクトルスコープや又は類似のビデオ用測定器を
用いる必要がある。しかしベクトルスコープ等の場合、
測定対象がビデオ信号用に専用化しているためサブキャ
リア周波数が3.58MHzにほぼ固定化されている。また、
試験装置の場合、パターン発生器11から出力されるデー
タは第５図に示すような階段状波を使うことが多いの
で、DG測定における低周波信号のレベル（振幅）をゼロ
からフルまで均一にテストすることができない問題もあ
る。
本考案の目的は、DGの解析用にビデオ信号専用のベクト
ルスコープを用いないで調波解析によるDG測定装置を提
供することである。
ルスコープを用いないで調波解析によるDG測定装置を提
供することである。
本考案は、上記問題点を解決するために 低周波の正弦波にDGを測定すべき高周波のサブキャリア
を重畳したパターンのデジタルデータを発生させるパタ
ーン発生器と、 このパターン発生器の出力信号を導入し、これをアナロ
グ信号へ変換するビデオ用DAコンバータと、 このビデオ用DAコンバータの出力信号を導入し、サブキ
ャリア信号の各周波数成分ごとのAM成分を取出してDGを
算出する選択レベル計と、からなる手段を講じたもので
ある。
を重畳したパターンのデジタルデータを発生させるパタ
ーン発生器と、 このパターン発生器の出力信号を導入し、これをアナロ
グ信号へ変換するビデオ用DAコンバータと、 このビデオ用DAコンバータの出力信号を導入し、サブキ
ャリア信号の各周波数成分ごとのAM成分を取出してDGを
算出する選択レベル計と、からなる手段を講じたもので
ある。
以下、図面を用いて本考案を詳しく説明する。
第１図は、本考案に係るDG測定装置の一実施例を示した
ブロック図、第２図はパターン発生器１から出力される
データのパターンを説明する図、第３図はDUT4出力波形
と、選択レベル計２の動作を説明するための波形図であ
る。第１図において、１はパターン発生器であり、第４
図のパターン発生器11と異なり、第２図（１）に示すよ
うなパターンのデジタルデータを出力するものである。
第２図（１）のパターンは、第２図（２）に示す低周波
数f0の正弦波に対して第２図（３）に示す高い周波数f
scのサブキャリア信号を重畳したパターンである。
ブロック図、第２図はパターン発生器１から出力される
データのパターンを説明する図、第３図はDUT4出力波形
と、選択レベル計２の動作を説明するための波形図であ
る。第１図において、１はパターン発生器であり、第４
図のパターン発生器11と異なり、第２図（１）に示すよ
うなパターンのデジタルデータを出力するものである。
第２図（１）のパターンは、第２図（２）に示す低周波
数f0の正弦波に対して第２図（３）に示す高い周波数f
scのサブキャリア信号を重畳したパターンである。
このパターン発生器１のデータはクロック発生器３から
のクロックのタイミングにしたがってDUT4に加えられ
る。DUT4はもちろんビデオ用DAコンバータである。
のクロックのタイミングにしたがってDUT4に加えられ
る。DUT4はもちろんビデオ用DAコンバータである。
２は選択レベル計であり、DUT4の出力信号を導入し、サ
ブキャリア信号の各周波数成分ごとのAM（amplitude mo
dulation）成分を取出してDGを算出するものである。
ブキャリア信号の各周波数成分ごとのAM（amplitude mo
dulation）成分を取出してDGを算出するものである。
このような第１図の装置の動作を以下に説明する。
パターン発生器１から第２図（１）に示すようなパター
ンのデジタルデータをDUT4であるビデオ用DAコンバータ
へ加えると、DUT4からは第３図（１）に示すようなアナ
ログ波形が出力される。このように、本考案ではテスト
信号を構成する低周波の信号を従来の階段状波に代え
て、正弦波としている。第３図（１）に示すDUT4の出力
波形のサブキャリア成分は、DUT4のDGの影響によってそ
の振幅Ｃは変動している。第３図（２）は（１）図のサ
ブキャリア信号だけを取出して描いたものであり、この
図のようにDUT4の出力におけるサブキャリア信号はDGの
影響により周期1/f0の振幅変調を受けている。
ンのデジタルデータをDUT4であるビデオ用DAコンバータ
へ加えると、DUT4からは第３図（１）に示すようなアナ
ログ波形が出力される。このように、本考案ではテスト
信号を構成する低周波の信号を従来の階段状波に代え
て、正弦波としている。第３図（１）に示すDUT4の出力
波形のサブキャリア成分は、DUT4のDGの影響によってそ
の振幅Ｃは変動している。第３図（２）は（１）図のサ
ブキャリア信号だけを取出して描いたものであり、この
図のようにDUT4の出力におけるサブキャリア信号はDGの
影響により周期1/f0の振幅変調を受けている。
第３図（２）に示すようにサブキャリア信号の各振幅値
に符号C0,C1を付して説明すると、求めるDG（微分利
得）は、次式で表わされる。
に符号C0,C1を付して説明すると、求めるDG（微分利
得）は、次式で表わされる。
DG＝２・C1/C0 選択レベル計２はDUT4の出力を導入し、サブキャリア信
号の各周波数成分ごとのAM成分を取出してDGを算出して
いる。即ち、選択レベル計２としては、スペクトラムア
ナライザ的な機能を持った回路を使用することができ
る。第３図（２）の信号を周波数軸で見ると第３図
（３）のように表わすことができる。この図のようにサ
ブキャリア成分の他にDGの影響による振幅変調によって
サイドバンド成分Ａが生じている。即ち、サブキャリア
の周波数fSCにおいては、成分レベルがC0であり、この
中心周波数fSCからf0離れた所のサイドバンドの成分はC
1である。この第３図（３）に示す成分C0,C1を選択レベ
ル計２で測定し、上記した演算を行うことによりDGの平
均的な値を得ることができる。
号の各周波数成分ごとのAM成分を取出してDGを算出して
いる。即ち、選択レベル計２としては、スペクトラムア
ナライザ的な機能を持った回路を使用することができ
る。第３図（２）の信号を周波数軸で見ると第３図
（３）のように表わすことができる。この図のようにサ
ブキャリア成分の他にDGの影響による振幅変調によって
サイドバンド成分Ａが生じている。即ち、サブキャリア
の周波数fSCにおいては、成分レベルがC0であり、この
中心周波数fSCからf0離れた所のサイドバンドの成分はC
1である。この第３図（３）に示す成分C0,C1を選択レベ
ル計２で測定し、上記した演算を行うことによりDGの平
均的な値を得ることができる。
なお、以上のことは輝度に対するゲインの変化が直線的
である場合について述べたものであるが、変化が曲線的
である場合、C0,C1の他にC2,C3，…を含めて演算するこ
とでDGの値を得ることができる。
である場合について述べたものであるが、変化が曲線的
である場合、C0,C1の他にC2,C3，…を含めて演算するこ
とでDGの値を得ることができる。
以上述べたように本考案によれば、ベクトルスコープを
用いず、選択レベル計を用いることで、DGの平均的な値
を測定できるので、サブキャリアの周波数の自由度がま
した。また、階段状波の代りに連続的な変化の正弦波を
用いているため、総べてのレベルにわたってDG測定がで
きる。
用いず、選択レベル計を用いることで、DGの平均的な値
を測定できるので、サブキャリアの周波数の自由度がま
した。また、階段状波の代りに連続的な変化の正弦波を
用いているため、総べてのレベルにわたってDG測定がで
きる。
第１図は本考案に係るDG測定装置の一実施例を示したブ
ロック図、第２図はパターン発生器１から出力されるデ
ータのパターンを説明する図、第３図はDUT4の出力波形
と選択レベル計２の動作を説明するための波形図、第４
図は従来のDG測定装置のブロック構成図、第５図は従来
の装置で使用される試験用ビデオ信号の波形例を示す図
である。 １……パターン発生器、２……選択レベル計、３……ク
ロック発生器、４……DUT。
ロック図、第２図はパターン発生器１から出力されるデ
ータのパターンを説明する図、第３図はDUT4の出力波形
と選択レベル計２の動作を説明するための波形図、第４
図は従来のDG測定装置のブロック構成図、第５図は従来
の装置で使用される試験用ビデオ信号の波形例を示す図
である。 １……パターン発生器、２……選択レベル計、３……ク
ロック発生器、４……DUT。
Claims (1)
- 【請求項１】低周波の正弦波にDGを測定すべき高周波の
サブキャリアを重畳したパターンのデジタルデータを発
生させるパターン発生器と、 このパターン発生器の出力信号を導入し、これをアナロ
グ信号へ変換するビデオ用DAコンバータと、 このビデオ用DAコンバータの出力信号を導入し、サブキ
ャリア信号の各周波数成分ごとのAM成分を取出してDGを
算出する選択レベル計と、を備えたことを特徴とするDG
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10617687U JPH076538Y2 (ja) | 1987-07-10 | 1987-07-10 | Ｄｇ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10617687U JPH076538Y2 (ja) | 1987-07-10 | 1987-07-10 | Ｄｇ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6415981U JPS6415981U (ja) | 1989-01-26 |
| JPH076538Y2 true JPH076538Y2 (ja) | 1995-02-15 |
Family
ID=31339451
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10617687U Expired - Lifetime JPH076538Y2 (ja) | 1987-07-10 | 1987-07-10 | Ｄｇ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH076538Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0766424A (ja) | 1993-08-20 | 1995-03-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
-
1987
- 1987-07-10 JP JP10617687U patent/JPH076538Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6415981U (ja) | 1989-01-26 |
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