JPH0761032A - Manufacture of electrostatic recording head - Google Patents

Manufacture of electrostatic recording head

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Publication number
JPH0761032A
JPH0761032A JP21594393A JP21594393A JPH0761032A JP H0761032 A JPH0761032 A JP H0761032A JP 21594393 A JP21594393 A JP 21594393A JP 21594393 A JP21594393 A JP 21594393A JP H0761032 A JPH0761032 A JP H0761032A
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JP
Japan
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cutting
control
original plate
grindstone
electrostatic recording
Prior art date
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Pending
Application number
JP21594393A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kimihiro Wakabayashi
公宏 若林
Yoshio Suzuki
良雄 鈴木
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Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Xerox Co Ltd filed Critical Fuji Xerox Co Ltd
Priority to JP21594393A priority Critical patent/JPH0761032A/en
Publication of JPH0761032A publication Critical patent/JPH0761032A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To highly precisely and efficiently cut a control base plate forming a slit-like ion stream leading portion, without producing chippings and the like, by opposingly arranging the control base plate apart at a fixed interval from reference electrodes, thereby providing a method capable of productively manufacturing high-quality electrostatic recording heads. CONSTITUTION:In obtaining a control base plate 2 by cutting and separating an original plate 1 for the control base plate, having a plurality of plates of control electrodes 3 formed on one face of the original plate 1, a cutting step is carried out, wherein the original plate 1 is grooved from the opposite face of the control electrode-forming face thereof up to a predetermined depth by a coarse-grained rotary grindstone 4 along a cutting reference line X. Accordingly, the cutting machining is divided into two stages of the aforementioned cutting step and a step of grooving the original plate from the control electrode- forming face thereof up to the predetermined depth by a fine-grained grindstone 6 along the cutting reference line X while applying an electric field dressing 8 to the outer peripheral face of the grindstone 6. These two cutting steps are carried out at a predetermined processing ratio though not simultaneously.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は静電記録ヘッドの製造
方法に係り、詳しくは、静電記録ヘッドにおけるイオン
流導出部を形成する制御基板を高精度で効率よく切断加
工して高品位な静電記録ヘッドを生産性よく製造する方
法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing an electrostatic recording head, and more particularly to a high quality by cutting a control substrate forming an ion flow lead-out portion in the electrostatic recording head with high accuracy and efficiency. The present invention relates to a method for manufacturing an electrostatic recording head with high productivity.

【0002】[0002]

【従来の技術】特開昭62−138250号公報等に示
される静電記録ヘッドは、一般に、ヘッド本体aの開口
部側に、高圧電源に接続された放電ワイヤbをその長手
方向に張設すると共に、画像情報に対応して駆動する制
御電源に接続される制御電極cが配設された制御基板d
と基準電極eとを一定間隔で対向配設することにより、
その制御基板dと基準電極eとで形成されるスリット状
のイオン導出部fを備えた構造が採用されている。図
中、gは絶縁部材を示す。そして、この静電記録ヘッド
は、近接配置された静電潜像受容体hに対し、画像情報
に応じてイオン導出部fを通過したイオンを照射して該
受容体h上で帯電させることにより静電潜像を形成する
ようになっている。静電潜像受容体h上の静電潜像は、
その後工程において現像により顕像化される。
2. Description of the Related Art In an electrostatic recording head disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 62-138250, a discharge wire b connected to a high voltage power source is generally stretched in the longitudinal direction on the opening side of a head body a. In addition, a control board d provided with a control electrode c connected to a control power source driven corresponding to image information.
By arranging the reference electrode e and the reference electrode e at regular intervals,
A structure including a slit-shaped ion derivation portion f formed by the control substrate d and the reference electrode e is adopted. In the figure, g indicates an insulating member. Then, the electrostatic recording head irradiates the electrostatic latent image receptor h arranged in close proximity with the ions having passed through the ion derivation part f according to the image information and charges the receptor. It is designed to form an electrostatic latent image. The electrostatic latent image on the electrostatic latent image receptor h is
In the subsequent step, it is visualized by development.

【0003】さて、このような静電記録ヘッドにおいて
は、通常、制御基板材料、例えば両面が研磨されたアル
カリフリーガラス(コーニング7059など)上に解像
度に応じた本数からなる細線状の制御電極を複数枚分な
らべて形成した制御基板用原板を予め製作した後、その
原板を制御基板単位ごとに切り離すことにより制御基板
を製造し、その切断分離した1枚の制御基板をそれぞれ
ヘッド本体の所定部位に取付けるという手順で組み立て
が行われている。
In such an electrostatic recording head, usually, fine control electrodes of a number corresponding to the resolution are provided on a control substrate material, for example, alkali-free glass whose both surfaces are polished (Corning 7059, etc.). A control board is prepared in advance by forming a plurality of control board master plates, and then the control boards are manufactured by cutting the master boards into individual control board units. Assembly is done by the procedure of attaching to.

【0004】従来、この制御基板用原板の切断分離に当
たっては、その原板表面の切断部分に予めカッター等に
より切筋を付けた後、その切筋の両側から荷重を加えて
切筋をきっかけとして割断するという切断方法(特開昭
63−297237号公報、特開平2−80337号公
報など)や、円盤状の研削砥石を高速回転させて研削切
断する切断方法が主に採用されている。
Conventionally, in cutting and separating the original plate for a control board, a cutting line is preliminarily attached to the cut portion of the original plate surface by a cutter or the like, and then a load is applied from both sides of the cutting line to cut the cutting line. A cutting method for cutting (Japanese Patent Laid-Open No. 63-297237, Japanese Patent Laid-Open No. 2-80337, etc.) and a cutting method for grinding and cutting a disc-shaped grinding wheel at high speed are mainly adopted.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
割断による切断方法の場合には、その切断部の直線性
(真直度)が悪く、また切断面が斜めになって寸法精度
に劣り、一方の研削切断による切断方法の場合には、そ
の切断部エッジ部にチッピングと呼ばれる貝殻形状の欠
損が発生しやすいため切断端縁部の直線性が悪かった
(図中、点線iがチッピングを示す)。従って、このよ
うな切断部の直線性に劣る制御基板を用いて静電記録ヘ
ッドを製造した場合、制御基板dと基準電極eとの対向
配置により形成されてるイオン導出部fのスリット幅s
が均一にならず、これにより、そのイオン導出部fから
照射されるイオンがスリット方向において不均一となる
ため静電潜像の電位にバラツキが生じ、ひいては現像画
像の濃度ムラが生じるという問題がある。このような問
題は、特に、イオン排出の均一性が要求される高画質ヘ
ッドや高解像度ヘッドにとっては品質低下を招き致命傷
となるため、その改善が強く望まれている。
However, in the case of the above-mentioned cutting method by cutting, the linearity (straightness) of the cut portion is poor, and the cut surface is slanted, resulting in poor dimensional accuracy. In the case of the cutting method by grinding cutting, the linearity of the cut edge portion was poor because a shell-shaped defect called chipping is likely to occur at the edge portion of the cut portion (dotted line i indicates chipping in the figure). Therefore, when an electrostatic recording head is manufactured using such a control substrate having a poor linearity of the cut portion, the slit width s of the ion derivation portion f formed by the opposing arrangement of the control substrate d and the reference electrode e.
Is not uniform, which causes the ions emitted from the ion derivation part f to be non-uniform in the slit direction, resulting in variations in the potential of the electrostatic latent image, which in turn causes uneven density in the developed image. is there. Such a problem causes a deterioration in quality and is fatal to a high-quality head or a high-resolution head which requires uniform ion ejection. Therefore, improvement thereof is strongly desired.

【0006】上記の問題を解決する手段として、本出願
人は先に、切筋を付した後のガラス板の両面にフィルム
を被覆した後、その切筋に沿うようにしてフィルムの両
側から突起物を押し当てることにより、フィルムが該突
起の押圧により潰され突起先端部を中心にして両側に押
し拡げられようとする現象を引張力としてガラス面に付
与し、この引張力を利用して割断するという切断方法を
提案している。しかしながら、この切断方法はある程度
の改善がなされるものの、真直度が100μm以下の切
断を行うことができず、特に高画質又は高解像度ヘッド
の製造手段として適用するには困難であった。
As a means for solving the above-mentioned problems, the present applicant first coated the film on both sides of the glass plate after the score line was formed, and then projected from both sides of the film along the cut line. When a film is pressed against the glass, the film is crushed by the pressing of the projection and the phenomenon that the film is about to be expanded to both sides around the tip of the projection is applied to the glass surface as a tensile force, and the glass is cut using this tensile force. We propose a cutting method of doing. However, although this cutting method is improved to some extent, it cannot cut a straightness of 100 μm or less, and it is difficult to apply it as a means for manufacturing a high image quality or high resolution head.

【0007】また、研削切断による切断方法を利用する
場合には、砥石として極めて微細な砥粒からなるものを
用いれば、その砥粒が被研削材料表面に切れ込む量が少
なくなりガラス等の硬脆材料であってもチッピングの発
生がきわめて少ない切断が可能であることが知られてい
る。しかしながら、このような微細砥粒の砥石を用いた
場合、目詰まりが起こりやすく研削を中断せざるを得
ず、効率が悪いという問題がある。
Further, in the case of utilizing a cutting method by grinding cutting, if a grindstone made of extremely fine abrasive grains is used, the amount of the abrasive grains cut into the surface of the material to be ground is reduced, and hard and brittle glass such as glass is used. It is known that even materials can be cut with very little chipping. However, when such a grindstone of fine abrasive grains is used, clogging is apt to occur, and grinding has to be interrupted, resulting in poor efficiency.

【0008】そのため、砥石面に対し電解ドレッシング
(目立て)を施して目詰まりを防止しながら研削切断を
行う方法が提案されている(特開平3−196968号
公報)が、このような電解ドレッシングと微細砥粒の砥
石を併用した研削切断を行う場合には次のような問題点
がある。すなわち、目詰まりが防止されて連続的な研削
が可能になるものの、極めて微量な切れ込み量で研削を
行うため多大な加工時間を必要とし、加工コストもアッ
プする。また、電解ドレッシングのため電解液を供給す
るため、制御基板上にアモルファスシリコンや多結晶シ
リコン等で作成された薄膜トランジスタ回路が付設され
た制御電極を形成した制御基板用原板を切断分離する場
合、その原板がアルカリイオンを含んだ電解加工液にさ
らされると、その回路のポリイミド樹脂等からなる保護
膜から回路内にわずかながら浸透して回路に大きなダメ
ージを与え、歩留りを悪化させる原因になる。
Therefore, a method has been proposed in which electrolytic grinding (grinding) is applied to the grindstone surface to perform grinding cutting while preventing clogging (Japanese Patent Laid-Open No. 3-196968). The following problems occur when performing grinding cutting using a grindstone of fine abrasive grains. That is, although clogging is prevented and continuous grinding is possible, a great amount of processing time is required because grinding is performed with an extremely small amount of cut, and the processing cost is also increased. Further, in order to supply the electrolytic solution for electrolytic dressing, when cutting and separating the control substrate original plate on which the control electrode formed with the thin film transistor circuit made of amorphous silicon or polycrystalline silicon or the like is formed on the control substrate, When the original plate is exposed to the electrolytic processing liquid containing alkali ions, it slightly penetrates into the circuit from the protective film of the circuit such as polyimide resin, which causes great damage to the circuit, which causes the yield to deteriorate.

【0009】なお、この場合、制御基板のガラス板等の
厚さを薄くして切断効率を高めるという対応策が考えら
れるが、以下の理由により採用することができない。つ
まり、薄膜トランジスタ回路や制御電極は写真工程によ
り作成されるため、その基板には極めて高い平滑度が要
求され、その高い平滑度を得るための研磨加工時に耐え
得る剛性を確保するためにある程度以上の厚さが必要に
なるからである。しかも、基板があまり薄いと写真固定
等においてハンドリングが悪く取り扱いにくくなり歩留
りが悪化するためである。
In this case, although a countermeasure to increase the cutting efficiency by reducing the thickness of the glass plate or the like of the control substrate can be considered, it cannot be adopted for the following reasons. That is, since the thin film transistor circuit and the control electrode are formed by a photolithography process, the substrate is required to have extremely high smoothness, and a certain level or more is required to secure rigidity that can be endured during polishing processing for obtaining the high smoothness. This is because the thickness is required. In addition, if the substrate is too thin, it is difficult to handle when it is fixed on a photograph and is difficult to handle, and the yield is deteriorated.

【0010】本発明は、上述の問題点を解決するために
されたもので、スリット状のイオン流導出部を形成する
制御基板をチッピング等がなく高精度にかつ効率よく切
断加工し、これにより高品位な静電記録ヘッドを生産性
よく製造することができる方法を提供することを目的と
する。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and a control substrate forming a slit-shaped ion flow lead-out portion is cut with high precision and efficiency without chipping or the like. An object is to provide a method capable of manufacturing a high-quality electrostatic recording head with high productivity.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の静電記録ヘッド
の製造方法は、イオン発生手段にて発生したイオン流を
導出するためのイオン流導出部を、制御電極が片面に配
設された制御基板と基準電極とを一定の間隔をおいて対
向配置させることによりスリット状に形成する静電記録
ヘッドの製造方法において、上記制御基板を、複数枚分
の制御電極がその片面に形成された制御基板用原板から
切断分離して得るに当たり、その原板の制御電極形成面
とは反対面から切断基準線に沿い粗い砥粒の回転砥石に
より所定の深さでまで溝加工する切断工程と、その原板
の制御電極形成面から切断基準線に沿い微細砥粒の回転
砥石によりその砥石外周面に電界ドレッシングを施しな
がら所定の深さでまで溝加工する切断工程との2段階に
分け、この2つの切断工程を所定の分配比率で前後させ
て行うことを特徴とするものである。
According to the method of manufacturing an electrostatic recording head of the present invention, the control electrode is disposed on one side of the ion flow derivation portion for deducing the ion flow generated by the ion generation means. In a method of manufacturing an electrostatic recording head in which a control substrate and a reference electrode are opposed to each other at a constant interval to form a slit shape, a plurality of control electrodes are formed on one side of the control substrate. When cutting and separating from the control substrate original plate, a cutting step of grooving to a predetermined depth by a rotating grindstone of coarse abrasive grains along a cutting reference line from the surface opposite to the control electrode forming surface of the original plate, and The cutting step of grooving to a predetermined depth while performing electric field dressing on the outer peripheral surface of the grindstone from the control electrode forming surface of the original plate along the cutting reference line with a rotating grindstone of fine abrasive grains It is characterized in that performed the cross-sectional process is back and forth in a predetermined distribution ratio.

【0012】上記の技術的手段において、2つの切断工
程は、一方の工程を先にある程度の深さまで行いその他
方の工程を残りの深さ分だけ後で行えばよいのである
が、その手順は適宜選定することができる。
In the above technical means, in the two cutting steps, one step may be performed first to a certain depth and the other step may be performed later by the remaining depth. The procedure is as follows. It can be appropriately selected.

【0013】このとき、各工程の研削量(分配比率)は
適宜設定することができるが、例えば、微細砥粒の回転
砥石による溝加工を少なくとも被加工部材の約1割程度
の厚さ分となる比率で行うようにすれば効率のよい切断
が可能になる。
At this time, the grinding amount (distribution ratio) in each process can be set as appropriate, but, for example, the groove processing by the rotary grindstone of the fine abrasive grains is made to be at least about 10% of the thickness of the workpiece. Efficient cutting becomes possible if the ratio is set.

【0014】また、微細砥粒の回転砥石による溝加工
は、真直度が10μm以下の切断部が得られるように条
件設定される。微細砥粒の回転砥石に対する電解ドレッ
シングとしては、公知の方法を適用することができる。
Further, the groove processing by the rotating grindstone of fine abrasive grains is set so as to obtain a cut portion having a straightness of 10 μm or less. A known method can be applied as the electrolytic dressing for the rotating grindstone of fine abrasive grains.

【0015】[0015]

【作用】上記の技術的手段は以下のように作用する。ま
ず、粗い砥粒の回転砥石による制御基板用原板の制御電
極形成面からの溝加工工程により、高速の溝入れ加工が
なされる。この際、制御基板用原板の制御電極形成面と
は反対面にはその研削された溝のエッジ部に大きなチッ
ピングが発生するが、その溝のエッジ部はイオン導出部
のスリット形成には何ら関与しないためイオン排出の均
一性に影響を与えることはない。
The above technical means operates as follows. First, a high-speed grooving process is performed by a grooving process from the control electrode forming surface of the control substrate original plate using a rotating grindstone of coarse abrasive grains. At this time, on the surface opposite to the control electrode forming surface of the control substrate original plate, large chipping occurs at the edge portion of the ground groove, but the edge portion of the groove does not contribute to the formation of the slit of the ion derivation portion. Therefore, it does not affect the uniformity of ion ejection.

【0016】一方、微細砥粒の回転砥石による制御基板
用原板の制御電極形成面とは反対面からの溝加工工程に
より、チッピングがほとんど発生しない高精度な溝入れ
加工がなされる。また、この溝加工は、電解ドレッシン
グを施しながら行うため目詰まりがなく連続して行うこ
とができる。この溝加工は比較的短い時間だけ行えばよ
く、これにより薄膜トランジスタ回路を有する制御電極
が形成された制御基板用原板の研削加工であっても、そ
の回路が電解加工液にさらされる時間が少なくて済むた
め、電解加工液による回路のダメージを最小限に抑える
ことができる。
On the other hand, a grooving process from the surface opposite to the control electrode forming surface of the control substrate original plate by the rotating grindstone of fine abrasive grains allows highly accurate grooving processing with almost no chipping. Further, this groove processing can be continuously performed without clogging because it is performed while performing electrolytic dressing. This grooving only needs to be performed for a relatively short time, so that even when grinding the control substrate original plate on which the control electrode having the thin film transistor circuit is formed, the circuit is not exposed to the electrolytic processing liquid for a short time. Therefore, the circuit damage due to the electrolytic processing liquid can be minimized.

【0017】そして、この2つの溝加工を所定の比率で
適宜前後させて行うことにより、制御基板用原板から制
御基板が切断分離される。これにより、制御電極形成面
にはチッピングがほとんどない真直度に優れた制御基板
が効率よく得られ、この制御基板を用いて静電記録ヘッ
ドを作成するこによりスリット幅が均一な高品位な静電
記録ヘッドを生産性良好に製造することができる。
Then, the control board is cut and separated from the control board original plate by carrying out these two groove processings back and forth at a predetermined ratio. As a result, it is possible to efficiently obtain a control substrate that is excellent in straightness with almost no chipping on the control electrode formation surface. By using this control substrate to create an electrostatic recording head, a high-quality static substrate with a uniform slit width can be obtained. The electrographic head can be manufactured with good productivity.

【0018】なお、粗い砥粒の回転砥石による溝加工を
した後に微細砥粒の回転砥石による溝加工を行う場合、
微細砥粒の回転砥石による溝加工を反対方向から、即ち
制御基板用原板の制御電極形成面とは反対面(つまり、
先の加工による溝内面側)から行うと、その制御電極形
成面側のエッジ部には正規の方向から溝加工を行う場合
に比べて約10倍の大きさのチッピングが発生してしま
い、好ましくない。
When grooving with a rotating grindstone of fine abrasive grains after grooving with a rotating grindstone of coarse abrasive grains,
Groove processing by a rotating grindstone of fine abrasive grains from the opposite direction, that is, the surface opposite to the control electrode formation surface of the control substrate original plate (that is,
When it is performed from the inner side of the groove formed by the previous processing), chipping of about 10 times the size is generated at the edge portion on the control electrode formation surface side compared with the case where the groove processing is performed from the normal direction, which is preferable. Absent.

【0019】[0019]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図1は、本発明の一実施例に係る制御基板
用原板を切断分離する各工程を示すものである。図中1
は制御電極基板用原板を示し、この原板1は制御基板
(材料)2と制御電極3とで構成されている。4は回転
軸5に取り付けられた粗い砥粒の回転砥石を示し、4a
は砥石4の回転支持体である。6は回転軸7に取り付け
られた微細砥粒の回転砥石を示し、6aは砥石6の回転
支持体である。8は回転砥石6に対して設置される電解
ドレッシング装置を示し、この装置8は砥石6の外周面
に近接配置されるドレッシング電極9と電解電源10と
でその主要部が構成されている。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows each step of cutting and separating a control board original plate according to an embodiment of the present invention. 1 in the figure
Represents a control electrode substrate original plate, and the original plate 1 is composed of a control substrate (material) 2 and a control electrode 3. Reference numeral 4 denotes a rotary grindstone of coarse abrasive grains attached to the rotary shaft 5, and 4a
Is a rotary support of the grindstone 4. Reference numeral 6 denotes a rotary grindstone of fine abrasive grains attached to the rotary shaft 7, and 6a denotes a rotary support of the grindstone 6. Reference numeral 8 denotes an electrolytic dressing device installed on the rotary grindstone 6, and the main part of this device 8 is constituted by a dressing electrode 9 and an electrolytic power source 10 which are arranged close to the outer peripheral surface of the grindstone 6.

【0020】この実施例では、厚さ1.1mmのほうけ
い酸ガラス基板2上に複数枚分の制御電極3が形成され
た制御電極基板用原板1に対して、先に粗い砥粒の回転
砥石4による溝加工をし、次に微細砥粒の回転砥石6に
よる溝加工をするという工程順で切断作業することによ
り制御基板を分離する場合について示す。
In this embodiment, the rough abrasive grains are first rotated with respect to the control electrode substrate original plate 1 in which a plurality of control electrodes 3 are formed on a borosilicate glass substrate 2 having a thickness of 1.1 mm. A case where the control substrate is separated by performing a cutting operation in the order of the steps of performing the groove processing by the grindstone 4 and then the groove processing by the rotary grindstone 6 of the fine abrasive grains will be described.

【0021】まず、回転砥石4としてメッシュサイズ#
270のダイヤモンド砥粒からなる厚さ0.8mmの円
板状ブレード砥石を用い、図1(a)に示すように、こ
の砥石を回転軸5により回転数12000rpmで回転
させ、切り込み深さ(r1)0.7mm、送り速度10
0mm/minという研削条件で、原板1の制御電極3
が形成された面とは反対面から切断基準線Xに沿って溝
入れ加工を行った。
First, as the rotary grindstone 4, mesh size #
Using a disk-shaped blade grindstone having a thickness of 0.8 mm and made of 270 diamond abrasive grains, as shown in FIG. 1A, this grindstone was rotated by a rotating shaft 5 at a rotation speed of 12000 rpm, and a cutting depth (r 1 ) 0.7 mm, feed rate 10
The control electrode 3 of the original plate 1 under the grinding condition of 0 mm / min.
Grooving was performed along the cutting reference line X from the surface opposite to the surface on which was formed.

【0022】これにより、原板1には0.4mmの板厚
を残して深さ0.7mmの研削溝11が形成される。ま
た、このとき研削溝11のエッジ部には200〜300
μm程度の大きさのチッピングが発生していた。
As a result, a grinding groove 11 having a depth of 0.7 mm is formed on the original plate 1 leaving a plate thickness of 0.4 mm. At this time, the edge of the grinding groove 11 has 200 to 300
Chipping with a size of about μm occurred.

【0023】次に、回転砥石6としてメッシュサイズ#
4000のダイヤモンド砥粒と青銅ボンドからなる厚さ
0.5mmの円板状ブレード砥石を用い、図1(b)に
示すように、この砥石を回転軸7により回転数2000
0rpmで回転させ、送り速度30mm/minという
条件で、原板1の制御電極3が形成された面から切断基
準線Xに沿って溝入れ加工を行った。また、この加工中
の回転砥石6に対しては、電解ドレッシング装置8によ
り電解加工液12を供給しながら砥石6外周面のドレッ
シングを行った。このときの切り込み深さは、少なくと
も残り板厚(r2)0.4mmより大きければよいが、
ここでは0.8mmとした。
Next, the mesh size of the rotary grindstone 6 is #
A disc-shaped blade grindstone having a thickness of 0.5 mm and made of 4000 diamond abrasive grains and bronze bond was used. As shown in FIG.
Grooving was performed along the cutting reference line X from the surface of the original plate 1 on which the control electrodes 3 were formed under the condition of rotating at 0 rpm and a feed rate of 30 mm / min. Further, with respect to the rotating grindstone 6 being processed, dressing of the outer peripheral surface of the grindstone 6 was performed while the electrolytic processing liquid 12 was supplied by the electrolytic dressing device 8. The cutting depth at this time may be at least larger than the remaining plate thickness (r 2 ) 0.4 mm,
Here, it is 0.8 mm.

【0024】これにより、原板1は残り板厚部分が研削
溝13によって研削切断され、その結果として、図1
(c)に示すような互いに切断分離された制御基板2
a、2bが得られた。また、この回転砥石6による溝加
工は、残り板厚(r2)分という薄い厚さ部分を加工す
ればよいため、このガラス基板3の全体厚さ1.1mm
を同じ条件で切断加工する場合に比べて約3倍速い送り
速度で行うことができた。しかも、この研削溝13のエ
ッジ部13aにはほとんどチッピングがなく、エッジ部
13aの真直度も約3μmという優れたものであった。
As a result, the remaining plate thickness portion of the original plate 1 is ground and cut by the grinding groove 13, and as a result, as shown in FIG.
Control board 2 cut and separated from each other as shown in FIG.
a and 2b were obtained. Further, since the groove processing by the rotary grindstone 6 only needs to process a thin portion corresponding to the remaining plate thickness (r 2 ), the entire thickness of the glass substrate 3 is 1.1 mm.
It was possible to carry out at a feed rate about 3 times faster than that in the case of cutting under the same conditions. Moreover, the edge portion 13a of the grinding groove 13 had almost no chipping, and the straightness of the edge portion 13a was excellent, ie, about 3 μm.

【0025】なお、この実施例において、回転砥石4の
厚さ(幅)は0.8mmに限定されず任意に設定するこ
とができるが、好ましくは0.1〜1.0mmである。
一方の回転砥石6の厚さ(幅)についても任意に設定す
ることができるが、少なくとも砥石4の厚さ同じか或い
は薄目である必要があり、好ましくは砥石4の厚さより
薄目である。回転砥石6の厚さが砥石4の厚さよりも厚
いと、切断分離された制御基板において砥石4による加
工部が砥石6による加工部よりも突出した形態となり、
静電記録ヘッドとして使用する段階において、その砥石
4による加工先端部が静電潜像受容体の表面に接触する
おそれがあるため好ましくない。
In this embodiment, the thickness (width) of the rotary grindstone 4 is not limited to 0.8 mm and can be set arbitrarily, but is preferably 0.1 to 1.0 mm.
The thickness (width) of one of the whetstones 6 can also be set arbitrarily, but it is necessary that at least the thickness of the whetstone 4 be the same or thinner, and preferably it is thinner than the thickness of the whetstone 4. When the thickness of the rotary grindstone 6 is thicker than the thickness of the grindstone 4, the processed portion of the grindstone 4 in the cut and separated control substrate is projected from the processed portion of the grindstone 6,
At the stage of use as an electrostatic recording head, the processing tip of the grindstone 4 may contact the surface of the electrostatic latent image receptor, which is not preferable.

【0026】上記のようにして得られた制御基板(例え
ば、2a)を用い、図3に示すように、放電ワイヤ21
を開口部内部に張設したヘッド本体22に対し、この制
御基板2aと基準電極23を対向させてそれぞれ設置す
ることによりスリット状のイオン導出部24を形成し、
これにより静電記録ヘッド20を作製した。図中25は
絶縁部材を示す。上記の放電ワイヤ21は高圧電源に、
制御電極3は記録情報信号により駆動する制御電源にそ
れぞれ接続されている。また、ヘッド本体22の開口部
内には不図示の導入口から圧縮空気が送り込まれるよう
になっている。
Using the control board (for example, 2a) obtained as described above, as shown in FIG.
The slit-shaped ion derivation portion 24 is formed by installing the control substrate 2a and the reference electrode 23 so as to face each other with respect to the head main body 22 stretched inside the opening.
This produced the electrostatic recording head 20. In the figure, 25 indicates an insulating member. The above discharge wire 21 is used for a high voltage power source,
The control electrodes 3 are each connected to a control power source driven by a recording information signal. Further, compressed air is fed into the opening of the head main body 22 from an inlet (not shown).

【0027】この静電記録ヘッド20は、静電潜像受容
体30に所定の間隔をあけて設置される。そして、放電
ワイヤ21で発生したイオンが導入された圧縮空気によ
りイオン流となり、イオン導出部24において制御電極
3と基準電極23の間に形成される電界によりその通過
を画像情報に応じて制御し、通過したイオンが静電潜像
受容体30に照射されることにより、該受容体30上に
静電潜像を形成するようになっている。
The electrostatic recording head 20 is installed on the electrostatic latent image receptor 30 with a predetermined space. The compressed air into which the ions generated in the discharge wire 21 are introduced forms an ion flow, and the passage of the ions is controlled by the electric field formed between the control electrode 3 and the reference electrode 23 in the ion derivation unit 24 according to the image information. By irradiating the electrostatic latent image receptor 30 with the ions that have passed therethrough, an electrostatic latent image is formed on the receptor 30.

【0028】このとき、イオン導出部24を形成する制
御基板2aの先端部は、微細砥粒の回転砥石6により研
削されてチッピングがほとんどなく真直度に優れたエッ
ジ部13aを位置させるため、きわめて均一なスリット
幅が確保されたイオン導出部24が形成されることにな
る。その結果、この静電記録ヘッド20によれば、イオ
ン排出もきわめて均一となるため静電潜像電位が一定
し、画像濃度にバラツキがない高品位な画像を得ること
ができる。
At this time, since the tip portion of the control substrate 2a forming the ion derivation portion 24 is ground by the rotary grindstone 6 of fine abrasive grains and has almost no chipping, the edge portion 13a excellent in straightness is positioned. Thus, the ion derivation portion 24 having a uniform slit width is formed. As a result, according to the electrostatic recording head 20, the ion ejection is also extremely uniform, so that the electrostatic latent image potential is constant and a high-quality image having no variation in image density can be obtained.

【0029】なお、上記の実施例では先に粗い砥粒の回
転砥石4による溝加工を行う場合の例について示した
が、本発明においては、図2に示すように、最初に電解
ドレシングを施しながら微細砥粒の回転砥石6による溝
加工を切り込み深さ(r3)で行い(同図a)、次いで
粗い砥粒の回転砥石4による溝加工を残り板厚分だけ行
い(同図b)、この工程順にて制御基板を切断分離する
こともできる(同図c)。
In the above embodiment, an example of the case where the groove processing of the coarse abrasive grains by the rotary grindstone 4 was carried out was shown previously, but in the present invention, as shown in FIG. 2, electrolytic dressing is first performed. However, grooving with the rotary grindstone 6 for fine abrasive grains is performed at the cutting depth (r 3 ) (a in the figure), and then grooving with the rotary grindstone 4 for coarse abrasive grains is performed for the remaining plate thickness (b) in the same figure. It is also possible to cut and separate the control board in this order of steps (FIG. 7C).

【0030】このように粗い砥粒の回転砥石4による溝
加工を後段で行う場合、粗い砥粒の回転砥石4として図
2に例示するような砥石先端の断面形状が楔形状のもの
を使用することができる他、その砥石先端の断面形状が
左右対称のものを使用することが望ましい。
In the case where the grooving of the coarse abrasive grains by the rotary grindstone 4 is performed in the subsequent stage, the coarse abrasive grain rotary grindstone 4 having a wedge-shaped cross-sectional shape as shown in FIG. 2 is used. In addition, it is desirable to use a grindstone whose tip has a bilaterally symmetrical cross-sectional shape.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
スリット状のイオン流導出部を形成する制御基板を、複
数枚分の制御電極が形成された制御基板用原板から2段
階の切断工程により切断分離して得るようにしたため、
制御基板を少なくともそのスリット形成に関与するエッ
ジ部分にはチッピング等がなく高精度にかつ効率よく切
断分離して得ることができる。特に、その全体としての
生産効率は飛躍的に向上する。その結果、イオン流導出
部のスリット幅が均一な高品質の静電記録ヘッドを生産
性よく製造することができる。
As described above, according to the present invention,
Since the control substrate forming the slit-shaped ion flow derivation portion is obtained by cutting and separating from the control substrate original plate on which a plurality of control electrodes are formed by the two-step cutting process,
It is possible to obtain the control substrate by cutting and separating it with high precision and efficiency without chipping or the like at least at the edge portion involved in the slit formation. Especially, the production efficiency as a whole is dramatically improved. As a result, a high-quality electrostatic recording head in which the slit width of the ion flow outlet is uniform can be manufactured with high productivity.

【0032】また、薄膜トランジスタ回路を含む制御電
極が形成された制御基板を得る場合であっても、その回
路部分等がアルカリイオンを含んだ研削液にさらされる
時間が短くなるため薄膜トランジスタ回路のダメージに
よる歩留りの低下を防ぐことができる。
Further, even when a control substrate having a control electrode including a thin film transistor circuit is obtained, the circuit portion and the like are exposed to a grinding liquid containing alkali ions for a short time, which causes damage to the thin film transistor circuit. It is possible to prevent a decrease in yield.

【0033】さらに、本発明によれば微細砥粒による研
削切断により制御基板用原板には切断部が切断基準線を
対称にして左右2箇所できるため、制御電極等を切断基
準線をはさんで左右両側に対称に形成しておくことによ
り、一度の切断作業によって2つの制御基板を得ること
ができ、その生産性がさらに向上する。なお、制御電極
は切断基準線をまたぐように連続させて左右対称に形成
することができる他、切断基準線から互いに所定距離だ
け離した位置から左右対称に形成することもできる。
Further, according to the present invention, since the cutting portion can be formed in two positions on the left and right of the control substrate original plate by grinding cutting with fine abrasive grains, the control electrode and the like are sandwiched between the cutting reference lines. By forming symmetrically on the left and right sides, two control boards can be obtained by one cutting operation, and the productivity is further improved. The control electrodes may be formed so as to be bilaterally symmetrical so as to stride over the cutting reference line, or may be formed bilaterally symmetrically from a position separated from each other by a predetermined distance from the cutting reference line.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施例に係る製造方法を示す各工
程図である。
FIG. 1 is a process chart showing a manufacturing method according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の他の実施例に係る製造方法を示す各
工程図である。
FIG. 2 is a process drawing showing a manufacturing method according to another embodiment of the present invention.

【図3】 本発明により得られる静電記録ヘッドを示す
概略断面図である。
FIG. 3 is a schematic sectional view showing an electrostatic recording head obtained by the present invention.

【図4】 従来の静電記録ヘッドを示す概略断面図であ
る。
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a conventional electrostatic recording head.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…制御基板用原板、2…制御基板、3…制御電極、4
…粗い砥粒の回転砥石、6…微細砥石砥粒の回転、8…
電解ドレッシング装置、20…静電記録ヘッド、24…
イオン導出部、X…切断基準線。
1 ... Control board original plate, 2 ... Control board, 3 ... Control electrode, 4
… Rotating stones with coarse grains, 6… Rotating fine grains, 8…
Electrolytic dressing device, 20 ... Electrostatic recording head, 24 ...
Ion derivation part, X ... Cutting reference line.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B24B 53/00 D 9422−3C B41J 2/395 G03G 15/05 G03G 15/00 115 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI Technical display location B24B 53/00 D 9422-3C B41J 2/395 G03G 15/05 G03G 15/00 115

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 イオン発生手段にて発生したイオン流を
導出するためのイオン流導出部を、制御電極が片面に配
設された制御基板と基準電極とを一定の間隔をおいて対
向配置させることによりスリット状に形成する静電記録
ヘッドの製造方法において、 上記制御基板を、複数枚分の制御電極がその片面に形成
された制御基板用原板から切断分離して得るに当たり、
その原板の制御電極形成面とは反対面から切断基準線に
沿い粗い砥粒の回転砥石により所定の深さでまで溝加工
する切断工程と、その原板の制御電極形成面から切断基
準線に沿い微細砥粒の回転砥石によりその砥石外周面に
電界ドレッシングを施しながら所定の深さでまで溝加工
する切断工程との2段階に分け、この2つの切断工程を
所定の分配比率で前後させて行うことを特徴とする静電
記録ヘッドの製造方法。
1. An ion flow derivation unit for deriving an ion flow generated by an ion generating means is arranged such that a control substrate having a control electrode on one side and a reference electrode are opposed to each other with a constant gap. In the method of manufacturing an electrostatic recording head formed in a slit shape by the above, in obtaining the control board by cutting and separating from the control board original plate in which a plurality of control electrodes are formed on one surface thereof,
A cutting process of grooving from the surface opposite to the control electrode formation surface of the original plate along the cutting reference line to a predetermined depth with a rotating grindstone of coarse abrasive grains, and along the cutting reference line from the control electrode forming surface of the original plate It is divided into two steps, a cutting step of making a groove to a predetermined depth while performing electric field dressing on the outer peripheral surface of the grinding wheel with a fine grinding grain rotating wheel, and these two cutting steps are performed in a predetermined distribution ratio before and after. A method of manufacturing an electrostatic recording head, comprising:
JP21594393A 1993-08-31 1993-08-31 Manufacture of electrostatic recording head Pending JPH0761032A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002326157A (en) * 2001-04-27 2002-11-12 Kyocera Corp Plate for polishing wafer, and method for machining the same

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