JPH0758785A - アイパターンモニタ装置 - Google Patents
アイパターンモニタ装置Info
- Publication number
- JPH0758785A JPH0758785A JP21708193A JP21708193A JPH0758785A JP H0758785 A JPH0758785 A JP H0758785A JP 21708193 A JP21708193 A JP 21708193A JP 21708193 A JP21708193 A JP 21708193A JP H0758785 A JPH0758785 A JP H0758785A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eye pattern
- output
- signal
- mapping
- mapped
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 正確かつ俊敏にパターン観測を行うことがで
きるアイパターンモニタ装置を提供することを目的とす
る。 【構成】 アイパターン信号およびそれに対応する判定
信号を２次元座標の１または２つの象現へ写像する写像
器と、写像した上記判定信号の出力輝度を、写像した上
記アイパターン信号に比べて高める輝度高度化器を設け
たことにより、アイパターンの各観測ポイント距離を拡
大し、かつ同時に全ポイントの観測を可能とし、同時に
正規な判定ポイントの輝度を高めることにより、より正
確かつ俊敏にアイパターンの分散要因を観測可能にした
ものである。
きるアイパターンモニタ装置を提供することを目的とす
る。 【構成】 アイパターン信号およびそれに対応する判定
信号を２次元座標の１または２つの象現へ写像する写像
器と、写像した上記判定信号の出力輝度を、写像した上
記アイパターン信号に比べて高める輝度高度化器を設け
たことにより、アイパターンの各観測ポイント距離を拡
大し、かつ同時に全ポイントの観測を可能とし、同時に
正規な判定ポイントの輝度を高めることにより、より正
確かつ俊敏にアイパターンの分散要因を観測可能にした
ものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、位相変調や直交振幅変
調に対する変復調装置のアイパターンモニタ装置に関す
る。
調に対する変復調装置のアイパターンモニタ装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の情報通信技術の発展に伴って、よ
り高速なデータ伝送が実現してきている。
り高速なデータ伝送が実現してきている。
【０００３】この高速データ伝送の方式として、ＣＣＩ
ＴＴ勧告Ｖ．２７ｔｅｒ、Ｖ．２９、Ｖ．３３等で規格
化されている位相変調（ＰＳＫ）や直交振幅変調（ＱＡ
Ｍ）がある。そして、このような変調方式を用いたデー
タ伝送の核となるのが、変復調装置（モデム）である。
ＴＴ勧告Ｖ．２７ｔｅｒ、Ｖ．２９、Ｖ．３３等で規格
化されている位相変調（ＰＳＫ）や直交振幅変調（ＱＡ
Ｍ）がある。そして、このような変調方式を用いたデー
タ伝送の核となるのが、変復調装置（モデム）である。
【０００４】このモデムを有する伝送系において、モデ
ム自身の性能や伝送路による雑音、歪等の影響を観察す
る手段として、従来からアイパターンが用いられてい
る。
ム自身の性能や伝送路による雑音、歪等の影響を観察す
る手段として、従来からアイパターンが用いられてい
る。
【０００５】このアイパターンの例を図３（Ａ）および
（Ｂ）に示す。
（Ｂ）に示す。
【０００６】（Ａ）は、ＣＣＩＴＴ勧告Ｖ．２９で規定
される９６００ｂｐｓのアイパターンを示し、（Ｂ）は
ＣＣＩＴＴ勧告Ｖ．３３で規定される１４４００ｂｐｓ
のアイパターンを示している。
される９６００ｂｐｓのアイパターンを示し、（Ｂ）は
ＣＣＩＴＴ勧告Ｖ．３３で規定される１４４００ｂｐｓ
のアイパターンを示している。
【０００７】ＰＳＫ信号、ＱＡＭ信号は、以下の式で与
えられる。
えられる。
【０００８】 ｓ（ｔ）＝ａ1 （ｔ）ｓｉｎ（ｗC ｔ）＋ａ2 （ｔ）ｃｏｓ（ｗC ｔ） …（１）式 なお、ｓ（ｔ）は、時刻ｔにおける変調信号、ｗC は、
搬送波（キャリア）角周波数、ａ1 （ｔ）は、時刻ｔに
おける同相成分の振幅、ａ2 （ｔ）は、時刻ｔにおける
直交成分の振幅である。
搬送波（キャリア）角周波数、ａ1 （ｔ）は、時刻ｔに
おける同相成分の振幅、ａ2 （ｔ）は、時刻ｔにおける
直交成分の振幅である。
【０００９】アイパターンとは、（１）式の同相成分の
振幅ａ1 （ｔ）を横軸に、直交成分の振幅ａ2 （ｔ）を
縦軸にプロットしたものである。
振幅ａ1 （ｔ）を横軸に、直交成分の振幅ａ2 （ｔ）を
縦軸にプロットしたものである。
【００１０】図から分かるように、アイパターンのポイ
ント数は、Ｖ．２９時には１６ポイントであり、Ｖ．３
３時には１２８ポイントである。そして、伝送速度が増
すにつれて、ポイント数は指数的に増える。
ント数は、Ｖ．２９時には１６ポイントであり、Ｖ．３
３時には１２８ポイントである。そして、伝送速度が増
すにつれて、ポイント数は指数的に増える。
【００１１】また、このアイパターンとは、モデム受信
部の心臓部に当たる伝送路上の歪を補償する等化器の出
力信号を観測するもので、その部分の構成を図４に示
す。
部の心臓部に当たる伝送路上の歪を補償する等化器の出
力信号を観測するもので、その部分の構成を図４に示
す。
【００１２】通常モデムの内部はＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａ
ｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）等によるディ
ジタル信号処理により構成され、伝送路がアナログの場
合、モデム送信部の出口において、Ｄ／Ａ変換され、モ
デム受信部の入り口で、Ａ／Ｄ変換される。図は、これ
を想定したものである。
ｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）等によるディ
ジタル信号処理により構成され、伝送路がアナログの場
合、モデム送信部の出口において、Ｄ／Ａ変換され、モ
デム受信部の入り口で、Ａ／Ｄ変換される。図は、これ
を想定したものである。
【００１３】等化器１００は、入力信号から伝送路によ
り歪の影響を除去し、本来の送信信号を得るものであ
り、この出力信号は等化器で除去しきれなかった雑音等
の影響を除去するために、正規なポイントに判定器１０
１で判定される。
り歪の影響を除去し、本来の送信信号を得るものであ
り、この出力信号は等化器で除去しきれなかった雑音等
の影響を除去するために、正規なポイントに判定器１０
１で判定される。
【００１４】アイパターンは、この等化器出力信号（判
定器入力信号）を観測するもので、ディジタル信号であ
る上記信号の同相成分および直交成分を、Ｄ／Ａ変換器
１０２および１０３でアナログ信号とし、オシロスコー
プ１０４で図示のように観測するものである。
定器入力信号）を観測するもので、ディジタル信号であ
る上記信号の同相成分および直交成分を、Ｄ／Ａ変換器
１０２および１０３でアナログ信号とし、オシロスコー
プ１０４で図示のように観測するものである。
【００１５】図５（Ａ）〜（Ｃ）は、Ｖ．２９時の雑
音、位相ジッタおよびインパルス雑音が伝送路上で生じ
た場合のアイパターンを示している。
音、位相ジッタおよびインパルス雑音が伝送路上で生じ
た場合のアイパターンを示している。
【００１６】すなわち、（Ａ）は雑音、（Ｂ）は位相ジ
ッタ、（Ｃ）はインパルス雑音が生じたものである。図
示のように、アイパターンを観測すれば、伝送路上での
影響およびその影響をモデムがどこまで吸収しているか
等のモデムの性能を観測することができる。
ッタ、（Ｃ）はインパルス雑音が生じたものである。図
示のように、アイパターンを観測すれば、伝送路上での
影響およびその影響をモデムがどこまで吸収しているか
等のモデムの性能を観測することができる。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図３に
示したように、例えばＶ．３３等の、より高速なデータ
伝送を考えた場合、観測すべきポイント数は、膨大なも
のとなり、その全体を観測しながらの雑音、インパルス
雑音、ジッタ等の影響を判断することは、困難となって
いた。
示したように、例えばＶ．３３等の、より高速なデータ
伝送を考えた場合、観測すべきポイント数は、膨大なも
のとなり、その全体を観測しながらの雑音、インパルス
雑音、ジッタ等の影響を判断することは、困難となって
いた。
【００１８】また、さらにモニタポイントの増大に伴
い、となり合うポイントとの距離が短くなり、正規の判
定ポイントが判断しずらくなることも、正確な観測を困
難にしていた。
い、となり合うポイントとの距離が短くなり、正規の判
定ポイントが判断しずらくなることも、正確な観測を困
難にしていた。
【００１９】すなわち、従来においては、正確かつ迅速
なパターン観測が困難であるという欠点を有していた。
なパターン観測が困難であるという欠点を有していた。
【００２０】そこで、本発明は、正確かつ俊敏にパター
ン観測を行うことができるアイパターンモニタ装置を提
供することを目的とする。
ン観測を行うことができるアイパターンモニタ装置を提
供することを目的とする。
【００２１】
【課題を解決するための手段】本発明は、アイパターン
信号およびそれに対応する判定信号を２次元座標の１ま
たは２つの象現へ写像する写像手段と、写像した上記判
定信号の出力輝度を、写像した上記アイパターン信号に
比べて高める輝度高度化手段を設けたことにより、アイ
パターンの各観測ポイント距離を拡大し、かつ同時に全
ポイントの観測を可能とし、同時に正規な判定ポイント
の輝度を高める手段を設けることにより、より正確かつ
俊敏にアイパターンの分散要因を観測可能にしたもので
ある。
信号およびそれに対応する判定信号を２次元座標の１ま
たは２つの象現へ写像する写像手段と、写像した上記判
定信号の出力輝度を、写像した上記アイパターン信号に
比べて高める輝度高度化手段を設けたことにより、アイ
パターンの各観測ポイント距離を拡大し、かつ同時に全
ポイントの観測を可能とし、同時に正規な判定ポイント
の輝度を高める手段を設けることにより、より正確かつ
俊敏にアイパターンの分散要因を観測可能にしたもので
ある。
【００２２】
【実施例】図１は、本発明の一実施例による構成を示す
ブロック図であり、図２は、本実施例により観測したア
イパターンを示す説明図である。
ブロック図であり、図２は、本実施例により観測したア
イパターンを示す説明図である。
【００２３】なお、図１は、従来例の図４に対比したも
ので、従来例と同一の構成については同一符号を付して
いる。
ので、従来例と同一の構成については同一符号を付して
いる。
【００２４】等化器１００は、通常は、復調されたベー
スバンド信号、同相および直交の２成分からなる受信信
号を入力し、その信号より、伝送路で付加された歪成分
を推定し、その成分を除去し、本来送信されたであろう
送信信号を出力するものである。なお、自動的に等化す
るものを適応等化器ともいう。
スバンド信号、同相および直交の２成分からなる受信信
号を入力し、その信号より、伝送路で付加された歪成分
を推定し、その成分を除去し、本来送信されたであろう
送信信号を出力するものである。なお、自動的に等化す
るものを適応等化器ともいう。
【００２５】判定器１０１は、等化器１００で除去しき
れなかった雑音等の影響を取り除くためのものであり、
通常のアイパターン観測とは従来例で示したように、こ
の信号を直接Ｄ／Ａ変換してオシロスコープ等で観測す
るものである。
れなかった雑音等の影響を取り除くためのものであり、
通常のアイパターン観測とは従来例で示したように、こ
の信号を直接Ｄ／Ａ変換してオシロスコープ等で観測す
るものである。
【００２６】また、写像器１０５、１０６は、本発明の
写像手段を実現するものである。写像器１０５、１０６
は、等化器１００の出力信号の同相成分と直交成分を各
々入力し、各成分を任意の決められた象現へ写像した信
号を出力するものであり、例えば第１象現へ写像する場
合は、入力の絶対値を出力するものである。
写像手段を実現するものである。写像器１０５、１０６
は、等化器１００の出力信号の同相成分と直交成分を各
々入力し、各成分を任意の決められた象現へ写像した信
号を出力するものであり、例えば第１象現へ写像する場
合は、入力の絶対値を出力するものである。
【００２７】例えば、上記絶対値法によれば、第２〜第
４象現上のポイントは、図３に示したアイパターンを各
々縦軸、横軸を中心に折り曲げ、全ポイントを第１象現
へ写像したものとなる。
４象現上のポイントは、図３に示したアイパターンを各
々縦軸、横軸を中心に折り曲げ、全ポイントを第１象現
へ写像したものとなる。
【００２８】さらに、本発明における正規な判定ポイン
トの高輝度出力手段は、前述の写像器１０５、１０６と
同様の働きをする写像器１０７、１０８とシンボルレー
トクロック毎に入力信号を切り変えるセレクタ１０９、
１１０で構成される。
トの高輝度出力手段は、前述の写像器１０５、１０６と
同様の働きをする写像器１０７、１０８とシンボルレー
トクロック毎に入力信号を切り変えるセレクタ１０９、
１１０で構成される。
【００２９】アイパターンの正規なポイントである判定
器１０１の出力信号の同相成分、直交成分は各々写像器
１０７、１０８で任意の象現へ写像される。この写像器
１０７、１０８は、前述の写像器１０５、１０６と全く
同様なもので、例えば第１象現への写像器であれば、入
力の絶対値を出力するものである。
器１０１の出力信号の同相成分、直交成分は各々写像器
１０７、１０８で任意の象現へ写像される。この写像器
１０７、１０８は、前述の写像器１０５、１０６と全く
同様なもので、例えば第１象現への写像器であれば、入
力の絶対値を出力するものである。
【００３０】さらに、等化器１００の出力信号の同相成
分の写像器１０５の出力信号と、判定器１０１の出力信
号の同相成分の写像器１０７の出力信号は、セレクタ１
０９へ入力される。
分の写像器１０５の出力信号と、判定器１０１の出力信
号の同相成分の写像器１０７の出力信号は、セレクタ１
０９へ入力される。
【００３１】同様に、等化器１００の出力信号の直交成
分の写像器１０６の出力信号と、判定出力信号の直交成
分の写像器１０８の出力信号は、セレクタ１１０に入力
される。
分の写像器１０６の出力信号と、判定出力信号の直交成
分の写像器１０８の出力信号は、セレクタ１１０に入力
される。
【００３２】このセレクタ１０９、１１０は、等化器１
００の出力および判定器１０１の出力を入力とし、選択
信号により、入力信号を選択的に出力するものであり、
この選択信号としてシンボルインターバル（間隔）を周
期とするシンボルレートクロックを用い、例えば、同ク
ロックが‘Ｈｉｇｈ’期間の時、セレクタ１０９、１１
０は、等化器１００の出力信号を出力とし、同クロック
が‘Ｌｏｗ’の期間は、判定器１０１の出力信号を出力
するものである。
００の出力および判定器１０１の出力を入力とし、選択
信号により、入力信号を選択的に出力するものであり、
この選択信号としてシンボルインターバル（間隔）を周
期とするシンボルレートクロックを用い、例えば、同ク
ロックが‘Ｈｉｇｈ’期間の時、セレクタ１０９、１１
０は、等化器１００の出力信号を出力とし、同クロック
が‘Ｌｏｗ’の期間は、判定器１０１の出力信号を出力
するものである。
【００３３】このようにして、セレクタ１０９、１１０
の出力信号は、１シンボルインターバル毎に、等化器１
００の出力信号と正規なポイントを表す判定器１０１の
出力信号を交互に出力することになり、その出力信号
を、Ｄ／Ａ変換器１０２および１０３でアナログ信号へ
変換し、図１においては、図示しないオシロスコープで
観測する。
の出力信号は、１シンボルインターバル毎に、等化器１
００の出力信号と正規なポイントを表す判定器１０１の
出力信号を交互に出力することになり、その出力信号
を、Ｄ／Ａ変換器１０２および１０３でアナログ信号へ
変換し、図１においては、図示しないオシロスコープで
観測する。
【００３４】ここで、等化器１００の出力信号と判定器
１０１の出力信号のとり得る値を考えてみる。
１０１の出力信号のとり得る値を考えてみる。
【００３５】前述したように、等化器１００の出力信号
は、雑音、位相ジッタ等の成分が加わったもので、表示
するパターンの２次元平面におけるほとんど全てのポイ
ントを出力する、すなわち出力値は、無限大に近い場合
が考えれる。これに対し、判定器１０１の出力信号は、
図３に示したように、Ｖ．２９およびＶ．３３で各々１
６点、１２８点しかもたない。
は、雑音、位相ジッタ等の成分が加わったもので、表示
するパターンの２次元平面におけるほとんど全てのポイ
ントを出力する、すなわち出力値は、無限大に近い場合
が考えれる。これに対し、判定器１０１の出力信号は、
図３に示したように、Ｖ．２９およびＶ．３３で各々１
６点、１２８点しかもたない。
【００３６】従って、オシロスコープで観測した場合、
当然判定器１０１の出力である正規へポイントが出力さ
れる率が高く、相対的に輝度が高く見える。
当然判定器１０１の出力である正規へポイントが出力さ
れる率が高く、相対的に輝度が高く見える。
【００３７】図２は、この様子を示したものであり、写
像する象現として第１象現を選択した場合の観測例を示
したものである。
像する象現として第１象現を選択した場合の観測例を示
したものである。
【００３８】図示のように、正規なポイント（判定器出
力信号）の部分の輝度が増し、さらに第２〜第４象現の
ポイントが第１象現に写像されていることが分かり、こ
れにより、全アイパターンの分散程度が正確に判断でき
るようになる。
力信号）の部分の輝度が増し、さらに第２〜第４象現の
ポイントが第１象現に写像されていることが分かり、こ
れにより、全アイパターンの分散程度が正確に判断でき
るようになる。
【００３９】なお、以上の実施例においては、写像象現
として、第１象現を選択したが、例えば、写像手段によ
る入力信号の絶対値化を、等化器出力、判定器出力の直
交成分のみとし、同信号の同相成分では、写像せずに入
力そのものを出力するようにすれば、結果として観測さ
れるパターンは、元来のパターンを横軸で折り返した第
１、第２象現のみのものとなる。
として、第１象現を選択したが、例えば、写像手段によ
る入力信号の絶対値化を、等化器出力、判定器出力の直
交成分のみとし、同信号の同相成分では、写像せずに入
力そのものを出力するようにすれば、結果として観測さ
れるパターンは、元来のパターンを横軸で折り返した第
１、第２象現のみのものとなる。
【００４０】この場合、隣接ポイントとの距離は短くな
るが、より全体のパターン分散を観測する場合には有効
である。
るが、より全体のパターン分散を観測する場合には有効
である。
【００４１】さらに、上記実施例においては、本発明の
手段（写像手段、輝度高度化手段）は、ハードウェア
で、かつモデム装置の外部にあるイメージで説明した
が、本発明は、これに限るわけでは無く、同手段を装置
内部に設けても良い。
手段（写像手段、輝度高度化手段）は、ハードウェア
で、かつモデム装置の外部にあるイメージで説明した
が、本発明は、これに限るわけでは無く、同手段を装置
内部に設けても良い。
【００４２】例えばモデム装置の場合、内部の処理は通
常ディジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）を用いたソ
フトウェアで行われる場合が多く、この場合、本発明の
手段の一部または全てがソフトウェアで構成される。
常ディジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）を用いたソ
フトウェアで行われる場合が多く、この場合、本発明の
手段の一部または全てがソフトウェアで構成される。
【００４３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
オシロスコープ等によるアイパターン観測時に観測され
るポイント間の距離を拡げ、全てのポイントを、その正
規なポイントの輝度を高めて表示することを可能とした
ので、例えばＣＣＩＴＴ勧告のＶ．３３のような、多く
のポイントを有するアイパターンを確実に観測できる効
果がある。
オシロスコープ等によるアイパターン観測時に観測され
るポイント間の距離を拡げ、全てのポイントを、その正
規なポイントの輝度を高めて表示することを可能とした
ので、例えばＣＣＩＴＴ勧告のＶ．３３のような、多く
のポイントを有するアイパターンを確実に観測できる効
果がある。
【００４４】このため、多ポイントのアイパターンの観
測においても、パターンの分散度合い（正規なポイント
との距離）を確実に観測でき、分散の原因（雑音、位相
ジッタ、インパルス雑音等）を的確かつ俊敏に把握する
ことができ、例えばモデム製造時の評価やフィールド上
でのモデム評価を、より容易かつ的確に行うことが可能
となる。
測においても、パターンの分散度合い（正規なポイント
との距離）を確実に観測でき、分散の原因（雑音、位相
ジッタ、インパルス雑音等）を的確かつ俊敏に把握する
ことができ、例えばモデム製造時の評価やフィールド上
でのモデム評価を、より容易かつ的確に行うことが可能
となる。
【図１】本発明の一実施例によるアイパターンモニタ装
置を示すブロック図である。
置を示すブロック図である。
【図２】上記実施例により観測したアイパターンを示す
説明図である。
説明図である。
【図３】モデム伝送系におけるアイパターンの例を示す
説明図である。
説明図である。
【図４】従来のアイパターンモニタ装置を示すブロック
図である。
図である。
【図５】雑音、位相ジッタおよびインパルス雑音が伝送
路上で生じた場合のアイパターンを示す説明図である。
路上で生じた場合のアイパターンを示す説明図である。
１００…等化器、 １０１…判定器、 １０２、１０３…Ｄ／Ａ変換器、 １０４…オシロスコープ、 １０５〜１０８…写像器、 １０９、１１０…セレクタ。
Claims (4)
- 【請求項１】 多値変調のアイパターンモニタ装置であ
って、 アイパターン信号およびそれに対応する判定信号を２次
元座標の１または２つの象現へ写像する写像手段と；写
像した上記判定信号の出力輝度を、写像した上記アイパ
ターン信号に比べて高める輝度高度化手段と；を設けた
ことを特徴とするアイパターンモニタ装置。 - 【請求項２】 請求項１において、 上記多値変調は、多値位相変調または多値直交振幅変調
であることを特徴とするアイパターンモニタ装置。 - 【請求項３】 請求項１において、 上記写像手段は、モニタすべき信号の同相成分、直交成
分の双方または片方の符号を変換する手段であることを
特徴とするアイパターンモニタ装置。 - 【請求項４】 請求項１において、 輝度の高度化手段は、１データのシンボル間隔内に各々
写像したアイパターン信号と判定信号とを交互に出力す
る手段であることを特徴とするアイパターンモニタ装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21708193A JPH0758785A (ja) | 1993-08-09 | 1993-08-09 | アイパターンモニタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21708193A JPH0758785A (ja) | 1993-08-09 | 1993-08-09 | アイパターンモニタ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0758785A true JPH0758785A (ja) | 1995-03-03 |
Family
ID=16698533
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21708193A Pending JPH0758785A (ja) | 1993-08-09 | 1993-08-09 | アイパターンモニタ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0758785A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009272831A (ja) * | 2008-05-02 | 2009-11-19 | Tektronix Japan Ltd | コンスタレーション表示方法及び装置 |
-
1993
- 1993-08-09 JP JP21708193A patent/JPH0758785A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009272831A (ja) * | 2008-05-02 | 2009-11-19 | Tektronix Japan Ltd | コンスタレーション表示方法及び装置 |
| JP4512835B2 (ja) * | 2008-05-02 | 2010-07-28 | テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー | コンスタレーション表示方法及び装置 |
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