JPH0750327A - レーザーダイオード素子外観検査装置 - Google Patents
レーザーダイオード素子外観検査装置Info
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- JPH0750327A JPH0750327A JP19717093A JP19717093A JPH0750327A JP H0750327 A JPH0750327 A JP H0750327A JP 19717093 A JP19717093 A JP 19717093A JP 19717093 A JP19717093 A JP 19717093A JP H0750327 A JPH0750327 A JP H0750327A
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- Japan
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Abstract
に於て、従来の作業者による手作業を自動化し、処理能
力と歩留を向上させることが目的である。 【構成】レーザーダイオード素子の外観を映像にするカ
メラ及びモニタテレビと、レーザーダイオード素子をハ
ンドリングするハンドリングアームと、その制御部と、
映像を順次切換える映像切換制御部と、良品整列トレイ
と、不良廃棄トレイとで構成される。 【効果】レーザーダイオード素子を自動的にハンドリン
グすることにより、処理能力及び歩留を向上せしめる効
果と、映像をモニタテレビ上に映し出すことにより、複
数の作業者が同様に状態を把握することが可能となり外
観検査基準を統一できる効果を有する。
Description
外観検査装置に関する。
査は、図3にに示すように手作業でレーザーダイオード
素子1を透明のトレイ13に収納し、そのトレイ13を
顕微鏡11の載置台12に載せて検査していた。又レー
ザーダイオード素子1の反対面を見る場合は図4に示す
ように透明トレイ13を裏返しトレイの外側から検査を
行なっていた。
端面を検査する場合は、図5に示すように、顕微鏡11
の載置台12を任意の角度で傾斜させて固定できる傾斜
載置台14となっており、その状態でレーザーダイオー
ド素子収納トレイ13を載せて検査を行なっていた。
るレーザーダイオード素子の外観検査方法では作業性が
悪く、検査に膨大な時間を要していた。
にばらつきがあり、正しい検査が行なわれないという問
題点がしばしば発生していた。
と良品素子の整列を行っており、その時点で外観不良を
引き起す要因にもなっていた。
ード素子外観検査装置は、レーザーダイオード素子のP
面,N面及び両発光端面を映像にするカメラ及びモニタ
テレビと、レーザーダイオード素子を1個ずつハンドリ
ングして供給及び収納,外観不良素子の廃棄を行なうハ
ンドラリングアームと、ハンドリングアームを制御する
制御部と、検査面の映像を順次切換える映像切換制御部
と、良品整列トレイと不良廃棄トレイとを備えている。
る。
る。
載置される。載置台12は素子搭載部が透明である。こ
の載置台12に隣接してハンドリングアーム10が設置
され、さらに、ハンドリングアーム10に近接して良品
整列トレイ9、不良品廃棄トレイ8が設置されている。
ハンドリングアーム10は従来から用いられているもの
が利用できる。この実施例では先端に素子吸着ノズルを
備えた真空吸着型のものを使用した。
3が配置されている。このCCDカメラ3は、レーザー
ダイオード素子1のP面,N面、発光面を映す為に、カ
メラ保持具4で保持され、レーザーダイオード素子1の
上下及び両脇に合計4台配置されている。各々のCCD
カメラ3は映像切換制御部(市販品、菱光社製、自動映
像切換器、TA−204A)5に接続されており、モニ
ターテレビ6に順次映像を映し出す。
各CCDカメラ3からの映像を順次目視検査し、不良と
判断した時点でハンドラー制御部7に信号を送る。ま
た、順次映し出される映像の最後の映像まで到達しても
不良が見つからない場合は、その素子は良品であるの
で、その旨ハンドラー制御部7に入力する。
ており、作業者により入力された信号に基づいてハンド
リングアーム10に制御信号を出力する。このハンドラ
ー制御部の動作を図6に示す。
7の制御信号に基づいて、素子上方へのアーム先端の移
動、素子吸着、アーム旋回、吸着解除の一連の動作を繰
返し、良品は良品整列トレイに整列し、不良品は不良品
廃棄トレイに排出した後、初期位置に復帰する。
る。この実施例は、カメラ保持具4が多関節ロボットと
なっており1台のCCDカメラ3でP面,N面,両発光
面を順次観子姿勢に自動的に切換る。この姿勢制御はハ
ンドラー制御で行う。この場合のハンドラー制御部は映
像切換制御部の機能を兼ね、図7に示す動作をする。
必要としない為映像切換制御部5が不要となり、メカ的
に簡易なものとなる。さらにカメラ3の設定角度を任意
に選択できる為、レーザーダイオード素子1の外観の発
見しにくい微細な傷等も判断できるという有意性があ
る。
ダイオード素子のP面,N面,両発光面の状態をカメラ
でとらえて、それを順次モニタテレビ上に映像として、
自動的に1個ずつあらわすことによって、わずらわしい
手作業を排除することが可能となった。またレーザーダ
イオード素子1個ずつ自動的にハンドリングしてピンセ
ットによって外観を損うことなく良品を整列し、不良品
を廃棄することが可能となり、処理能力と歩留を向上せ
しめる効果を有する。さらにモニタテレビ上に映像を映
し出せることによって、複数の作業者が同時に状態を把
握することが可能となり、作業者間のが間検査基準のば
らつきをなくすることができる効果を有する。
図。
す断面図。
図。
図。
図。
Claims (1)
- 【請求項1】 レーザーダイオード素子のP面,N面及
び両発光端面を映像にするカメラ及びモニタテレビと、
レーザーダイオード素子を1個ずつハンドリングして供
給及び収納,外観不良素子の廃棄を行なうハンドリング
アームと、ハンドリングアームを制御する制御部と、検
査面の映像を順次切換える映像切換え制御部分と、良品
整列トレイと、不良廃棄トレイとを少くとも備えたこと
を特徴とするレーザーダイオード素子外観検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5197170A JP2972495B2 (ja) | 1993-08-09 | 1993-08-09 | レーザーダイオード素子外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5197170A JP2972495B2 (ja) | 1993-08-09 | 1993-08-09 | レーザーダイオード素子外観検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0750327A true JPH0750327A (ja) | 1995-02-21 |
JP2972495B2 JP2972495B2 (ja) | 1999-11-08 |
Family
ID=16369962
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5197170A Expired - Fee Related JP2972495B2 (ja) | 1993-08-09 | 1993-08-09 | レーザーダイオード素子外観検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2972495B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100371314B1 (ko) * | 2000-01-20 | 2003-02-07 | 엘지전자 주식회사 | 레이저 다이오드의 검사 장치 및 방법 |
KR100547656B1 (ko) * | 2003-05-27 | 2006-01-31 | (주) 핸들러월드 | 마이크로 모듈 검사용 핸들러 장치 |
JP2007019237A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 両面発光素子用プロービング装置 |
KR20110024963A (ko) * | 2009-09-03 | 2011-03-09 | (주)제이티 | 소자검사장치 및 검사방법 |
WO2016153916A1 (en) * | 2015-03-20 | 2016-09-29 | Applied Materials, Inc. | Failure detection of laser diodes |
-
1993
- 1993-08-09 JP JP5197170A patent/JP2972495B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100371314B1 (ko) * | 2000-01-20 | 2003-02-07 | 엘지전자 주식회사 | 레이저 다이오드의 검사 장치 및 방법 |
KR100547656B1 (ko) * | 2003-05-27 | 2006-01-31 | (주) 핸들러월드 | 마이크로 모듈 검사용 핸들러 장치 |
JP2007019237A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 両面発光素子用プロービング装置 |
KR20110024963A (ko) * | 2009-09-03 | 2011-03-09 | (주)제이티 | 소자검사장치 및 검사방법 |
WO2016153916A1 (en) * | 2015-03-20 | 2016-09-29 | Applied Materials, Inc. | Failure detection of laser diodes |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2972495B2 (ja) | 1999-11-08 |
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