JPH07502376A - processing system - Google Patents

processing system

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JPH07502376A
JPH07502376A JP5507566A JP50756693A JPH07502376A JP H07502376 A JPH07502376 A JP H07502376A JP 5507566 A JP5507566 A JP 5507566A JP 50756693 A JP50756693 A JP 50756693A JP H07502376 A JPH07502376 A JP H07502376A
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high pressure
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ジェフェリーズ,アンドリュー アイザック
ロバート グリーン,ゴードン
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トリコン テクノロジーズ リミティド
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Abstract

In order to subject a workpiece, such as a semiconductor wafer, to elevated pressures the workpiece is enclosed in a void (16) between two enclosure parts (6,7) which have been forced together by upper and lower actuators (12,13). The enclosure parts (6,7) are themselves enclosed in a vacuum chamber (1) evacuatable by a vacuum pumping system. The enclosure parts (6,7) are connected to the vacuum chamber by bellows (4,5). <IMAGE>

Description

【発明の詳細な説明】 処理システム 〔技術分野〕 本発明は、ワークピースを処理するための処理システムに関するものである。特 に、排他的ではないが、半導体ウニ/1のワークピースを処理する処理システム に関するものである。[Detailed description of the invention] processing system 〔Technical field〕 The present invention relates to a processing system for processing workpieces. Special and, but not exclusively, processing systems for processing semiconductor workpieces. It is related to.

〔従来技術〕[Prior art]

半導体ウェハ及び他の同様のワークピースの処理においては、しばしば、ウェハ 上の下方の層の小さな穴(バイアホール)を埋める層を形成する必要がある。理 解されるべきは、これらの穴を埋めることは、高圧力及びことによると高い温度 にウェハをさらすことによって達成され、上方層を変形させて穴を埋めるように する。 In the processing of semiconductor wafers and other similar workpieces, the wafer It is necessary to form a layer that fills the small holes (via holes) in the lower layer above. Reason It should be understood that filling these holes requires high pressure and possibly high temperature. This is accomplished by exposing the wafer to a do.

〔本発明の要旨〕[Summary of the invention]

我々の英国特許第9111440.5号において、我々は高圧力及び温度を使用 するこの方法によって穴を埋める方法を開示している。本発明は、特に英国特許 第9111440.5号で開示される穴を埋めるための構成で適用できるが他の 構成でも適用される。 In our UK Patent No. 9111440.5 we use high pressure and temperature This method discloses how to fill in the holes. The invention is particularly applicable to the British patent 9111440.5, but other Also applies to configurations.

従って、本発明は、半導体ウェハのようなワークピースが制御された状態で高圧 力にさらされるような設備を提供しようとする。Therefore, the present invention provides a method for applying high pressure to a workpiece, such as a semiconductor wafer, in a controlled manner. Attempt to provide facilities that are exposed to force.

概して、本発明は、一対の外被部分が一緒に押しつけられることができ、その対 向する面は、2つの外被部分が一緒に押しつけられる時に、封入空間を形成する ような形状をしている。それから、この封入空間は処理されるべきワークピース を収容する。Generally, the present invention provides that a pair of jacket portions can be pressed together; The facing surfaces form an enclosed space when the two envelope parts are pressed together. It has a shape like that. Then this enclosed space is the workpiece to be processed. to accommodate.

従って、外被部分の少なくとも1つに、1つ以上のダクトを備えることが普通必 要であり、そのダクトは、内部空間の壁を形成する対応した外被部分の面に延び 、圧力ガスを内部空間に供給して、圧力を上昇させる。その内部空間の内部分は 高圧力にさらされるので、外被部分を一緒に保持する力がその圧力に十分に抵抗 するようにすることが必要となる。It is therefore usually necessary to provide one or more ducts in at least one of the jacket parts. the duct extends into the plane of the corresponding envelope part forming the wall of the interior space. , supplying pressurized gas to the interior space to increase the pressure. The inner part of that internal space is Because it is exposed to high pressure, the forces holding the jacket parts together are sufficient to resist that pressure. It is necessary to do so.

好ましくは、内部空間が、2つの外被部分が、油圧、空気圧又は同様の手段によ って一緒に押しつけられ、2つの外被部分の境界で内部空間が形成されるように する。しかしながら、もっと多くの外被部分を使用するもっと複雑な構成もまた 可能である。Preferably, the interior space is such that the two jacket parts are hydraulically, pneumatically or similarly are pressed together so that an internal space is formed at the boundary between the two outer covering parts. do. However, more complex configurations using more envelope parts can also be used. It is possible.

留意すべきは、キャスティングを高圧力にさらして処理するため及び粉末を凝w i(焼結)するために、高圧室を設けることが知られている。しかしながら、下 方層の穴を埋めるために層の変形を起こすために、半導体ウェハを高圧力にさら すことは(我々の英国特許式9111440.5号を除いて)前には提案されて いなかった。It should be noted that since the casting is processed under high pressure and the powder is It is known to provide a high pressure chamber for sintering. However, below Semiconductor wafers are subjected to high pressure to cause layer deformation to fill holes in the horizontal layer. This has not been proposed before (with the exception of our British patent formula 9111440.5). did not exist.

ワークピースの加熱を生じさせるために、適切な加熱手段が封入空間内に、又は 隣接して設けられる。例えば、半導体ウェハを処理するならば、400°C以上 のオーダーの温度及び3000psi以上の圧力が適切であると分かっている。Suitable heating means are provided in the enclosed space or in order to cause heating of the workpiece. Located adjacent to each other. For example, if processing semiconductor wafers, the temperature should be 400°C or higher. Temperatures on the order of 3000 psi and pressures above 3000 psi have been found to be suitable.

本発明を利用した半導体ウェハの処理においては、アルミニウム及びその合金が 、恐らく1つ以上の層を形成する。この場合、このような1つの層、又は複数の 層は、普通スパッタリング又はエバポレーションによって形成される。それらの 層が空気に触れないようにしてあれば、その後で、穴を埋めるために高圧をかけ ることが最も有効である。層が空気に触れていると、層の表面を酸化し、穴が埋 められる前に穴にゆっくりと浸透する。従って、酸化は、高圧が供給される時、 材料が穴に変形するのを困難にする。これは酸化表面は延性か少ないからである 。In the processing of semiconductor wafers using the present invention, aluminum and its alloys are , possibly forming one or more layers. In this case, one such layer or multiple The layers are usually formed by sputtering or evaporation. Them If the layer is protected from air, then high pressure is applied to fill the holes. It is most effective to If the layer is exposed to air, it will oxidize the surface of the layer and fill the holes. Slowly penetrates the hole before being swallowed. Therefore, oxidation occurs when high pressure is supplied. Make it difficult for the material to transform into a hole. This is because oxidized surfaces are less ductile. .

従って、ダクト(又は恐らく幾つかのダクト)が封入空間に対して延びるように 設けられ、そのダクトは、封入空間内の適切な低圧(以下では真空)を達成する ために、適切なガスの排出手段と接続される又は接続可能であるのが好ましい。Thus, as the duct (or perhaps several ducts) extends into the enclosed space, provided that the duct achieves a suitably low pressure (hereinafter vacuum) within the enclosed space. For this purpose, it is preferably connected or connectable to suitable gas evacuation means.

それに代わって、又は更に付加的に、封入空間に供給されたガスは、酸化の問題 が避けられるように、不活性ガスである。Alternatively, or additionally, the gas supplied to the enclosed space may be subject to oxidation problems. is an inert gas so that it is avoided.

穴を埋めるために変形する層の形成においては、層は普通、高圧にさらされる前 に、穴を全体的に覆わなければならない。これは、低圧又は好ましくは真空のガ スが(シールされた)穴内に捕らえられ、圧力が及んだ時、覆っている層の変形 が比較的容易になるからである。もう1つの理由は、真空が、大気圧におりるガ スより小さい対加圧抵抗を提供するので、真空か封入空間内に形成されることを 許容する構成が好ましいからである。In forming a layer that deforms to fill a hole, the layer is usually The hole must be completely covered. This is a low pressure or preferably vacuum gas deformation of the overlying layer when the gas is trapped within the (sealed) hole and pressure is applied This is because it becomes relatively easy. Another reason is that the vacuum drops to atmospheric pressure. It offers a lower resistance to pressure than a vacuum, so it is less likely to be formed within a vacuum or enclosed space. This is because a configuration that allows this is preferable.

上記したように、外被部分を一緒に押しつけるための手段が、封入空間内に生じ た高圧に十分に対抗する力を及ぼすことが重要である。As mentioned above, means are provided within the enclosure for pressing the envelope parts together. It is important to exert sufficient force to counteract the high pressure applied.

安全性の理由で、弁の付いた出口が内部空間から設けられ、その弁は、封入空間 の圧力と、外被部分を一緒に保持するノJとの間の差によっC制御される。例え ば、少なくとも1つの外被部分が空気圧によって動かされるならば、空気圧にさ らされる室と封入空間との間の1つのワンウニイヌブリングリターン弁は、封入 空間内の圧力がそのワンウニイスブリー7グリターン弁のスプリングの力より大 きいところまでで、空気圧によって及ぼされた圧力を確実に越えないようにする 。For safety reasons, a valved outlet is provided from the internal space, which valve is connected to the enclosed space. is controlled by the difference between the pressure and the pressure that holds the jacket parts together. example For example, if at least one jacket portion is moved by air pressure, One ring return valve between the enclosed chamber and the enclosed space The pressure in the space is greater than the spring force of the return valve. Ensure that the pressure exerted by the air pressure is not exceeded at the maximum limit. .

本発明は、本発明の方法と装置の特徴に関するものである。The invention relates to features of the method and apparatus of the invention.

本発明に従った装置の好ましい形態においては、ヨーク構造内に支持された2つ の外被部分が存在する。手段が、封入空間を真空にするために設けられる。In a preferred form of the device according to the invention, two There is an outer covering part. Means are provided for applying a vacuum to the enclosed space.

ワークピースが真空下で装置に移送される時、装置の2つの外被部分は、ワーク ピースの周りの圧力抑制容器を形成するように一緒に動かされる。この容器は、 略円筒形形状の室(封入空間)に薄い平坦なワークピースを含むような形状をし ており、そして、シリンダの高さはその直径よりかなり小さい。不活性ガス、典 型的にはアルゴンは、油圧ポンプによって高圧(典型的には200から2000 バールの範囲)で室へ送り込まれる。高圧ガスは室の外被部分を一緒に押しつけ るのに使用され、互いにシールされた状態にする。When the workpiece is transferred to the equipment under vacuum, the two jacket parts of the equipment The pieces are moved together to form a pressure containment vessel around them. This container is The shape is such that a thin flat workpiece is contained in a roughly cylindrical chamber (enclosed space). and the height of the cylinder is significantly smaller than its diameter. Inert gas, standard Typically, argon is pumped to high pressures (typically 200 to 2000 (within the range of crowbars) into the chamber. The high pressure gas presses the envelope parts of the chamber together. used to separate and seal each other.

室は1つ以上の加熱要素と温度測定手段を含み、ワークピースを取り囲むガスの 温度が制御される。The chamber contains one or more heating elements and temperature measuring means to control the temperature of the gas surrounding the workpiece. Temperature controlled.

要求される正確な温度及び圧力は層材料しだいであり、材料を穴に押し込めるの に必要、且つ穴を完全に埋めるために材料にとって必要な時間を維持するレベル に制御される。The exact temperature and pressure required will depend on the layer material and will allow the material to be forced into the hole. level required for the material to fill the hole completely and for the time required for the material to fill the hole completely. controlled by.

高圧で十分な時間がたった後、ガスは圧力室から解放され、大気圧に近い値に戻 る。それはそれから真空ポンプを使用して真空にされ、圧力室の2つの外被部分 は離され、ワークピースが取り出される。一方、室部分は大気圧で離され、ワー クピースが取り出される。ワークピースは、取り出し又は更なる処理の、ための 装置が取り付けられた処理装置によって移送される。他の層が置かれるべきとこ ろでは、真空移送が、層表面の汚染を避けるので好ましい。After sufficient time at high pressure, the gas is released from the pressure chamber and returns to near atmospheric pressure. Ru. It is then evacuated using a vacuum pump and the two envelope parts of the pressure chamber is released and the workpiece is removed. On the other hand, the chamber part is separated by atmospheric pressure and the work area is separated by atmospheric pressure. The piece is removed. The workpiece is ready for removal or further processing. The device is transported by a processing device to which it is attached. where other layers should be placed In filters, vacuum transfer is preferred since it avoids contamination of the layer surface.

装置は、発生した非常に高い初期圧力による力を含むことができなければならな い。本発明は好ましくは、薄い平坦なワークピースを処理するために設計され、 装置は好ましくは、初期圧力によって生した力の殆どがワークピースの平面に垂 直であるようになっている。The device must be able to contain the forces due to the very high initial pressure generated. stomach. The invention is preferably designed for processing thin flat workpieces, The apparatus preferably ensures that most of the force developed by the initial pressure is normal to the plane of the workpiece. It's meant to be direct.

本発明の封入空間の容積は好ましくは、室を真空と高圧の間でサイクルするのに かかる時間が最少限になるように最小限にされる。The volume of the enclosed space of the present invention is preferably large enough to cycle the chamber between vacuum and high pressure. The time taken is minimized to the minimum.

真空から高圧、そして真空に戻る典型的なサイクル時間の範囲は、数分から一分 より短い。Typical cycle times from vacuum to high pressure and back to vacuum range from a few minutes to a minute. shorter.

ワークピースが半導体ウェハであるところでは、ワークピースに在る粒子又は他 の汚染物が殆どないことが重要である。本発明の装置は、好ましくは、粒子を発 生(5うるウェハの近く又は上方に最小動作部分のある清潔な初期表面を有する ように設計されるべきである。装置を加圧するのに使用されるガスは濾過され、 できるだけ多くの粒子か取り除かれる。ガスは、ウェハの汚染を引き起こすこと なく又はウェハに付着した層と反応することのないような、高純度の不活性ガス であることか望ましい。Where the workpiece is a semiconductor wafer, particles or other It is important that there are very few contaminants. The device of the invention preferably emits particles. A clean initial surface with minimal motion near or above the raw (5-μm) wafer. should be designed as such. The gas used to pressurize the device is filtered and As many particles as possible are removed. Gas may cause wafer contamination High purity inert gas that does not react with the layers deposited on the wafer It is desirable that

〔図面の簡単な説明〕[Brief explanation of the drawing]

本発明の実施例は、添付の図面を参照して、例を用いて、詳細にg己述される。 Embodiments of the invention will now be described in detail, by way of example, with reference to the accompanying drawings, in which: FIG.

図1は、本発明の第1実施例に従ったワークピースを処理する装置を示している 。FIG. 1 shows an apparatus for processing workpieces according to a first embodiment of the invention .

図2は図1の装置の詳細を示している。FIG. 2 shows details of the device of FIG.

図3は本発明の第2実施例に従ったワ・−クピースを処理する装置を示している 。FIG. 3 shows an apparatus for processing workpieces according to a second embodiment of the invention. .

J実施例の説明〕 図1を参照してみると、略環状の真空室1は、真空で薄い平坦なワークピースを 通路2を通って移送するためのシステムを含み且つワークピースに層を付着する ための手段を含む装置(図示せず)に取り付けられている。真空ポンプシステム 3(略図的に示す)は真空室lに取り付けられている。その真空室lは、圧力容 器を形成する下方外被部分6及び下方外被部分7のそれぞれを取り囲み、且つF 方ベローズ4及び上方ベローズ5を介して下方外被部分6及び上方外被部分7の それぞれに連結される。Description of J Example] Referring to Figure 1, a generally annular vacuum chamber 1 is used to vacuum a thin flat workpiece. including a system for transporting through the passage 2 and depositing the layer on the workpiece The device is attached to a device (not shown) that includes means for. vacuum pump system 3 (shown schematically) is attached to the vacuum chamber l. The vacuum chamber l is a pressure volume surrounding each of the lower jacket part 6 and the lower jacket part 7 forming the container, and F of the lower jacket part 6 and the upper jacket part 7 via the lower bellows 4 and the upper bellows 5. connected to each other.

下方外被部分自体は、後でより詳細に記述されるように、2つの部分6a、6b に分割されている。The lower mantle part itself consists of two parts 6a, 6b, as will be described in more detail later. It is divided into.

ベローズ4.5は、圧力容器の2つの外被部分6.7が真空室1に関して垂直に 動けるようにする。圧力容器の下方外被部分6は、接続チューブ8を介して空気 圧で作動するシリンダ9に取り付けられており、そのシリンダは、下方外被部分 6を下降させて、ワークピース(図2の参照番号10)を容器の下方外被部分6 に配置するために使用される。ワークピースは下方外被部分6に取り付けられた 支持部(図2の参照番号11)に配置される。The bellows 4.5 ensures that the two envelope parts 6.7 of the pressure vessel are perpendicular to the vacuum chamber 1. Allow it to move. The lower jacket part 6 of the pressure vessel is supplied with air via a connecting tube 8. It is attached to a pressure-actuated cylinder 9 which is connected to the lower jacket part. 6 and lower the workpiece (reference numeral 10 in FIG. 2) into the lower envelope part 6 of the container. used to place. The workpiece was attached to the lower jacket part 6 The support part (reference number 11 in FIG. 2) is arranged.

圧力容器の上方及び下方外被部分7.6は、それぞれ頂部及び底部において、上 方シリンダアクチュエータ12及び下方シリンダアクチュエータ13が適合する ような形状をしている。ワークピースが配置された後、圧油は、装置に取り付け られた油圧システムからパイプ14を通り下方シリンダアクチュエータ13へ供 給される。The upper and lower jacket parts 7.6 of the pressure vessel are arranged at the top and at the bottom, respectively. The upper cylinder actuator 12 and the lower cylinder actuator 13 are compatible. It has a shape like that. After the workpiece is placed, the pressure oil is attached to the equipment The hydraulic system is supplied to the lower cylinder actuator 13 through a pipe 14. be provided.

その圧力は、上方及び下方外被部分7.6が一緒に押しつけられ、略円筒形の封 入空間16の周りの線15に沿ってシールが形成されるのに十分な圧力になって いる。留意すべきは、線15で適合する上方及び下方外被部分6.7の表面は適 合する1円錐台の形状をしている、つまり本実施例において、上方及び下方外被 部分か動く軸線に対して線15が傾いている。後で記述するように、線15は動 きの軸線に対して略垂直である。The pressure causes the upper and lower jacket portions 7.6 to be pressed together, creating a generally cylindrical seal. Sufficient pressure is created to form a seal along line 15 around entry space 16. There is. It should be noted that the surfaces of the upper and lower skin portions 6.7 that match line 15 are In this example, the upper and lower outer shells are shaped like a truncated cone. Line 15 is inclined relative to the axis of movement of the part. Line 15 is dynamic, as will be described later. It is approximately perpendicular to the axis of the axis.

それからガスか、更なる圧力源40(略図的に示されている)からパイプ17を 通って上方アクチュエータ12に、そして他のパイプ18を通って封入空間16 へ供給される。ガス圧は、下方アクチュエータ13へ供給する圧油パイプ14の 遮断弁28を作動する。The pipe 17 is then connected to the gas or from a further pressure source 40 (schematically shown). through to the upper actuator 12 and through another pipe 18 to the enclosed space 16. supplied to The gas pressure is from the pressure oil pipe 14 that supplies the lower actuator 13. Activate the shutoff valve 28.

従ってこの下方アクチュエータ13は、圧油が殆ど圧縮されないので 所定位置 (、二固定されzo ■一方アクチュj゛−夕の水平頌域は、封入空間160水 平領1Jよりも広いので52つの外被部分の間の表面15におけるン・・ルを維 持する正味の閉鎖力が生じる。Therefore, this lower actuator 13 is held at a predetermined position since the pressure oil is hardly compressed. (2) On the other hand, the horizontal area of the actuator is the enclosed space 160 water. Since it is wider than Hirayo 1J, it is necessary to maintain the n-ru on the surface 15 between the 52 outer covering parts. A net closing force of

上方アクチュエータ12はF万端部部材19T支持され、下方アンプ・ユエータ 13はF右端部部材20 ’t’支持される。この端部部材は、′3.−り21 にねじ込まわる。Tクチュエータ12及びj3の高圧4こよる力は殆どg!、a であり、端部部材19及び20を介してヨーク21で支持される。シス升ムが1 000バールまで加圧されると、ヨ・−りによ−て支持される力は、封入空間が 直径200mmのワークピースを十分に収容する大きさである時、おおよそ50 MNである。The upper actuator 12 is supported by the F end part member 19T, and the lower amplifier/yuator 13 is supported by the F right end member 20't'. This end member is '3. -ri21 Screwed into. The force caused by the high pressure 4 of T actuator 12 and j3 is almost g! ,a and is supported by a yoke 21 via end members 19 and 20. The system is 1 When pressurized to 000 bar, the forces supported by the yaws will cause the enclosed space to When large enough to accommodate a 200mm diameter workpiece, approximately 50 It is MN.

安全バルブ22は、アクチュエータ13の圧油漏れが生じても表面15のシール が突然間いてしまわないように、封入空間16から上方への力がアクチュエータ 12の下方への力を越えないように適合される。The safety valve 22 seals the surface 15 even if pressure oil leaks from the actuator 13. The upward force from the enclosed space 16 is applied to the actuator to prevent sudden separation. It is adapted not to exceed a downward force of 12.

何故ならば、安全バルブ22のスプリング力は、封入空間16とアクチュエ・− タエ2との間の圧力差が、dlがアクチュエー・夕12の直径、d2が封入空間 16の直径、モしてPが封入空間J6の圧d、2 より小さい値に制■されるように選ばれるからである。This is because the spring force of the safety valve 22 is due to the force between the enclosed space 16 and the actuator. The pressure difference between the actuator and the actuator 2, dl is the diameter of the actuator 12, and d2 is the enclosed space. 16 diameter, P is the pressure d of the enclosed space J6, 2 This is because it is selected to be constrained to a smaller value.

従って、仮にアクチュエータ13から圧油漏れか生じたとしても、外被部分6及 び7はアクチュエータ12のもっと大きい力で一緒に下降し、表面15における シールはIlt侍される。Therefore, even if pressure oil leaks from the actuator 13, the outer covering portion 6 and and 7 are lowered together by the greater force of the actuator 12, and the The seal is Ilt samurai.

ヒータ、上方熱ii対及び下方勢電対(略図的に参照番号41..42′?′− 示ず)が、圧ノJ容器1の上方及び下方外被部分7.6に適合され 封入7間1 (′iの加gガスの制御され1.:、加ωへを提供し、従っ−?−15封入ZZ 間1Gのガスの同流t−,4*ヱワーク[−−スの温度を副書する穴に押11. 込まυ7九睦月料のな(わにf分机自是頃支びJ(:力でワークピースが十分な 時間維持された(′4′!、、tす大空間16及びアクチュエータ12の圧力ガ スは、パ・tグ18及び17を通り解放される。封入(−間1Gは、バイブ2G を通り略鷹空にされる。このバ・イブは自動遮断弁(図示ぜ、(= )を経由し 、°ζ真空ポンプシス1ム3に連結され、圧力のある時にガスが逃げるのを防ぐ 。それから遮断弁28が開いてアクチュエータi3の油圧圧油が出で、そして空 気圧アクチュエータ9は、線15におけるシールを解放1.なから圧力容器の下 方外被部分6を下降するために使用される。Heaters, upper thermal couple and lower electrical couple (schematically referenced 41..42'?'- (not shown) are fitted to the upper and lower jacket parts 7.6 of the pressurized J-container 1, and between the enclosures 7 and 1 (1.) of the added gas of 'i' is controlled to provide the added gas to ω, thus -?-15 enclosed ZZ 11. Press the same flow of gas at 1G between t-, 4*work [-- into the hole where the temperature of the gas is subwritten. Including υ 7 nine months' worth of fees The pressure gas in the large space 16 and the actuator 12 was maintained for a period of time ('4'!, t). The gas is released through paths 18 and 17. Enclosed (-1G is a vibe 2G The sky is emptied by the hawk. This valve is connected via an automatic shutoff valve (as shown in the figure). , °ζ Connected to vacuum pump system 1m3 to prevent gas from escaping when under pressure . Then the isolation valve 28 opens and the hydraulic fluid of actuator i3 comes out, and then the Pneumatic actuator 9 releases the seal at line 15 1. Under the pressure vessel It is used to lower the jacket part 6.

封入空間16は、真空室工に対して開かれ、更に1、真空ポンプシステム3によ って翼背にされる。真空室1の圧力は、真空圧力センサ27で監視される。真空 圧力が十分に低くなると、ワークピース10は、装置2から移送機構によって取 り出される。The enclosed space 16 is open to the vacuum chamber operator 1 and is further supplied by the vacuum pump system 3. That's why I'm being criticized. The pressure in the vacuum chamber 1 is monitored by a vacuum pressure sensor 27. vacuum When the pressure is low enough, the workpiece 10 is removed from the device 2 by a transfer mechanism. be taken out.

封入空間16の周りの表面15におけるシー・ルは、図2を参照してここでより 詳細17記述する。図2から男かるように、下方外被部分6の2つの部分6a、 6bは、隣接面31.32が一緒に傾くような形状をしている。図2におけるこ の傾きは理解しやフくするために大げさに示さ41.2つの面31.,32が線 33において適合しごいる。封入空間16が高圧にさらされると、上方外被部分 6の部分6aは僅かに矢印34、の方に変形し、部分6bに関しては、面31が 線33の周りで枢動し5、従ってこの線33は視点と(、て働く。The seal at the surface 15 around the enclosed space 16 is further described herein with reference to FIG. Describe details 17. As can be seen from FIG. 2, two parts 6a of the lower jacket part 6, 6b is shaped such that the adjacent surfaces 31, 32 are tilted together. This in Figure 2 The slope of 41. is exaggerated for the sake of understanding and clarification. , 32 is a line Applicable at 33. When the enclosed space 16 is exposed to high pressure, the upper jacket portion The portion 6a of 6 is slightly deformed in the direction of the arrow 34, and the surface 31 of the portion 6b is It pivots around a line 33, 5 and thus this line 33 acts as a viewpoint.

従って、部分6aのに方部分は、面31が線33の周りで枢動するので、僅かに 外側下方に動く。Therefore, the side part of part 6a is slightly Move outward and downward.

この変形は、部分6aの上方面のリップ35を矢印36の方向−1外側に動かし 、従って、ノー・ル面15において上方外被部分7にしっかりと押しつける。従 って、シールの強さは、封入空間16の上昇した圧力に比例して高くなる。正確 な変形を起こすために、部分6aは部分6b及び外被部分7の両方まりも薄なっ ているので、圧力fでより変形する。This deformation moves the lip 35 on the upper surface of the portion 6a outward in the direction of the arrow 36 -1. , thus pressing firmly against the upper jacket part 7 at the knoll surface 15. subordinate Thus, the strength of the seal increases in proportion to the increased pressure in the enclosed space 16. correct In order to cause a significant deformation, the portion 6a is thinned as are both the portion 6b and the jacket portion 7. , so it deforms more under pressure f.

従って、装置のこの構造は封入空間16の良好なシールを確実なものとする。This structure of the device thus ensures a good sealing of the enclosed space 16.

図3は、本発明の第2実施例を示している。この実施例と図1及び図2の実施例 との違いは、ヨークの構造に関してのみであり、この装置の他の部分は、第1実 施例のものと実質的に同一である。一致する部分は同一の参照番号で示され、バ イブのような幾つかの構造的特徴は、説明を理解しやすいように省略されている 。FIG. 3 shows a second embodiment of the invention. This example and the example of FIGS. 1 and 2 The difference is only in the structure of the yoke; the other parts of this device are the same as in the first example. It is substantially the same as that of the example. Matching parts are indicated by the same reference number and are Some structural features, such as Eve, have been omitted to make the explanation easier to understand. .

図3の実施例においては、ヨーク40は、装置の残りの部分を囲むリングの形状 をしており、従って側部部材及び端部部材に分離(7ていない。このタイプのヨ ークは、作成が容易であり、第1実施例のヨークより軽いか、アクセス及びメン テナンスのためには、装置の残りの部分からヨーク40を横へ摺動させなければ ならないという不利なりを有する。更に、装置全体の大きさは大きい。In the embodiment of FIG. 3, the yoke 40 is in the form of a ring surrounding the remainder of the device. Therefore, it is not separated into side members and end members (7). The yoke is easier to make, lighter than the yoke of the first embodiment, and easier to access and maintain. For maintenance purposes, the yoke 40 must be slid sideways away from the rest of the equipment. It has the disadvantage of not being able to do so. Furthermore, the overall size of the device is large.

」ニ記の実施例に対する多くの変更例が本発明の範囲内で可能である。例えば、 上方及び下方外被部分が、円錐台によって形成された傾いた面よりむしろ、移動 方向に対して垂直な面で適合するようなものか可能である。このような垂直面は 、円錐台を使用するのと同様な良好なノールは提供しないか、このようなシール でも多くの目的にとって十分であり、円錐台を避けることによって、不整列及び 高さの不整合をより許容し、従って、実用的な利点を提供する。Many modifications to the embodiments described above are possible within the scope of the invention. for example, The upper and lower mantle portions move rather than an inclined surface formed by a truncated cone. It is possible to have something that fits in a plane perpendicular to the direction. Such a vertical plane , a good knoll similar to using a truncated cone does not provide or a seal like this is sufficient for many purposes and avoids misalignment and truncated cones. It is more tolerant of height mismatches and therefore provides practical advantages.

前述したように、油圧圧油は、例えば、油圧圧力システムから下方アクチュエー タ13に供給される。本発明の発展において、更にガス圧を上昇して望まれる高 圧を達成するためには例えば別の面積のピストンのある更なる油圧システムを使 用する必要が普通ある(ブれどら、その油圧圧力ノスy−ムは、内部空間16i こ供給されるべきガスの初期圧縮を提供するために使用される。As previously mentioned, hydraulic fluid is e.g. 13. In the development of the present invention, the gas pressure can be further increased to achieve the desired height. To achieve the pressure, for example, a further hydraulic system with a piston of a different area can be used. It is usually necessary to use the hydraulic pressure nozzle in the internal space 16i. This is used to provide initial compression of the gas to be supplied.

更に、ガスを員失を最小源にするために、真空システム3によっでバイブ26を 通って内部空間から抜かれたガスは、更なる圧力源にリサイクルされる。Furthermore, the vacuum system 3 is used to remove the vibrator 26 to minimize gas loss. The gas removed from the interior space through is recycled to a further pressure source.

図1において、上方及び下方端部部材19.20はヨーク21にねし込まれるこ とか注目される。一方で、突起のある適合部材が使用される。In FIG. 1, the upper and lower end members 19.20 are screwed into the yoke 21. It gets noticed. On the one hand, matching parts with protrusions are used.

C′−+J I40 補正書の翻訳文提出書 (特許法第1134条の8) 平成6年4月22日C'-+J I40 Submission of translation of written amendment (Patent Law Article 1134-8) April 22, 1994

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1.複数の外被部分(6.7)と、 該外被部分(6.7)を押圧して当接させるための第1手段(12.13)と、 該外被部分(6.7)は該外被部分(6.7)が前記第1手段(12.13)に よって押圧して当接される時にワークピースのための封入空間(16)を形成す るような形状をしており前記ワークピースを高圧力にさらすことによって前記ワ ークピースを処理するために前記内部空間(16)に加圧ガスを供給する第2手 段(18.40)とを有するワークピース用処理システム。 2.複数の前記外被部分(6.7)によって部分的に形成された圧力容器(4. 5.6.7)と、該圧力容器(6.7)の排気を行う手段(3)とを有する請求 項1に記載の処理システム。 3.前記内部空間(16)を加熱する手段(41.42)を有し、それによって 前記ワークピースを加熱する請求項1に記載の処理システム。 4.共通の軸線に沿って反対方向に動くことができる2つの外被部分(6.7) を有する請求項1に記載の処理システム。 5.前記外被部分の各々が前記軸腺に対して傾いたシール面を有し、該シール面 は前記外被部分(6.7)が押圧して当接する時にシール状態で抑圧して当接す る請求項4に記載の処理システム。 6.前記外被部分の1つが、変形して、それによって前記取付け面をシール状態 で押圧して当接させるような形状(31.32.33)になっている請求項5に 記載の処理システム。 7.前記内部空間の高圧力を制御するために、前記内部空間から、弁を付けられ た出口(22)を有する請求項1に記載の処理システム。 8.第1外被部分に前記ワークピースを取付け、前記第1外被部分及び第2外被 部分を押圧して当接させ、該外被部分(6.7)は該外被部分(6.7)が押圧 して当接される時に前記ワークピースのための封入空間(16)を形成するよう な形状をしており、 前記ワークピースを高圧力にさらすことによって前記ワークピースを処理するた めに加圧ガスを前記内部空間(16)に供給するワークピース処理方法。[Claims] 1. a plurality of jacket parts (6.7); first means (12.13) for pressing the jacket portion (6.7) into abutment; The outer covering portion (6.7) is connected to the first means (12.13). Thus, when pressed and abutted, it forms an enclosed space (16) for the workpiece. By exposing the workpiece to high pressure, the workpiece is a second hand for supplying pressurized gas to said internal space (16) for treating the work piece; processing system for workpieces having stages (18.40). 2. A pressure vessel (4. 5.6.7) and means (3) for evacuating said pressure vessel (6.7). The processing system according to item 1. 3. means (41.42) for heating said interior space (16), thereby The processing system of claim 1, wherein the processing system heats the workpiece. 4. two jacket parts (6.7) that can move in opposite directions along a common axis The processing system according to claim 1, comprising: 5. Each of said jacket portions has a sealing surface inclined relative to said shaft gland, said sealing surface When the outer covering part (6.7) presses and contacts, it presses and contacts in a sealed state. 5. The processing system according to claim 4. 6. One of the jacket portions is deformed to thereby seal the mounting surface. Claim 5 has a shape (31, 32, 33) such that it can be pressed and brought into contact with Processing system described. 7. A valve is attached from the interior space to control the high pressure in the interior space. 2. Processing system according to claim 1, having an outlet (22). 8. attaching the workpiece to a first envelope portion, and attaching the workpiece to the first envelope portion and the second envelope portion; The outer covering portion (6.7) is pressed against the outer covering portion (6.7). so as to form an enclosed space (16) for said workpiece when brought into contact with said workpiece. It has a shape, for treating the workpiece by subjecting the workpiece to high pressure; A method for processing a workpiece, in which pressurized gas is supplied to the internal space (16) for the purpose of processing the workpiece.
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