JPH0744526A - 事例に基づく電子機器不良原因診断装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 診断対象電子機器の不良に関して過去に経験
した事例を記憶する事例ベース４と、不良現象データを
各入力項目の値として受け取る問題解析部５と、事例ベ
ース４に記憶した事例の中から当該不良現象データに該
当ないし類似する事例を検索する事例検索部６と、検索
された事例の記載事項を修正する事例修正部７と、修正
された新たな事例を事例ベースに記憶させる事例格納部
９と、修正された新たな事例の記載事項を再度修正する
事例修復部８とを備えた。 【効果】 熟練者でなくとも、あるいは特別な知識を有
しない作業者であっても、過去の該当ないし類似する事
例を参照して確実にかつ短時間に不良項目の原因を診断
することができ、しかもコンピュータシステムの専門家
でなくとも知識ベースの追加や変更を容易に行うことが
できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、自動販売機等の電子機
器の不良原因の診断を支援する事例に基づく電子機器不
良原因診断装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、自動販売機等の電子機器の製造ラ
インにおいては、作業者が完成した電子機器に対し、決
められた点検項目に関して作動チェックを行っている。
そして、不良項目が見つかると、過去のデータに基づい
て不良箇所を診断し、別途に用意した回路図や接続図等
を参照して不良原因を発見している。このような不良原
因の診断方法は、診断する電子機器に対する知識と診断
経験を蓄積した熟練者が必要であり、言わば熟練者の知
識と勘に頼って不良原因の診断を行っている。

【０００３】また、作業者による不良原因の診断作業を
支援するコンピューターシステムがある。このコンピュ
ーターシステムは、電子機器の不良原因の診断作業を遂
行するための各種の経験則を、条件部と動作部からなる
プロダクション・ルールで規定し、このプロダクション
・ルールを関係する不良項目別に、かつ階層的にクラス
・フレームとして順次分類して格納した知識ベースと、
この知識ベース内の前記プロダクション・ルールを解釈
して実行する推論エンジンとを、プログラムによって演
算制御装置上に機能回路として構成するものである。

【０００４】そして、演算装置に対し、入力媒体を介し
て不良項目の中から該当する不良項目を選択入力し、推
論エンジンによって前記不良項目に対応するクラス・フ
レームごとに各プロダクション・ルールを順次に解釈し
て実行し、実行したプロダクション・ルールの条件部に
規定する点検箇所を出力媒体に表示して点検を指示し、
この点検箇所に対する点検結果入力値が”正常”であれ
ば推論エンジンにより次のプロダクション・ルールを連
鎖的に解釈して実行し、点検結果入力値が”異常”であ
れば当該プロダクション・ルールの動作部に規定された
診断値を診断結果として出力媒体に出力する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記したよう
な不良原因の診断方法は熟練者を必要とするが、人手不
足のために作業者にパート工員や臨時工員が多く、熟練
作業者が育ち難い問題がある。また、診断作業を回路図
や接続図を参照しながら診断作業を行っているので、原
因追及に時間がかかる問題があった。さらに、作業者の
熟練度により診断時間や診断方法にムラが発生する問題
があった。

【０００６】また、上記のコンピューターシステムにお
いては、コンピューターシステムの専門家でないと知識
ベースの追加・変更を行い得ない問題があった。本発明
は上記課題を解決するもので、熟練した作業者の知識と
勘に頼っていた電子機器の診断を経験の少ない作業者で
も、熟練者とほぼ同等の診断を行うことができ、しかも
コンピュータシステムの専門家でなくとも知識ベースの
追加や変更を容易に行い得る事例に基づく電子機器不良
原因診断装置を提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の事例に基づく電子機器不良診断装置は、入
出力装置と演算処理装置とからなり、演算処理装置上
に、プログラムによって構成する機能回路として、診断
対象電子機器の不良に関して過去に経験した事例を記憶
する事例ベースと、不良現象データを入力するための入
力項目を診断対象電子機器に関する点検項目に即して関
係項目別に、かつ階層的に順次分類して入出力装置に表
示するとともに、不良現象データを各入力項目の値とし
て受け取る問題解析部と、問題解析部で受け取った入力
値に基づいて事例ベースに記憶した事例の中から当該不
良現象データに該当ないし類似する事例を検索する事例
検索部と、検索された事例の記載事項を修正する事例修
正部と、修正された新たな事例を事例ベースに記憶させ
る事例格納部と、修正された新たな事例の記載事項を再
度修正する事例修復部とを備えた構成としたものであ
る。

【０００８】

【作用】上記した構成により、不良原因の診断を行うに
際して作業者は、発見した不良現象データを演算処理装
置に入出力装置を通して入力する。このとき、問題解析
部は、不良現象データを入力するための入力項目を診断
対象電子機器に関する点検項目に即して関係項目別に、
かつ階層的に順次分類して入出力装置に表示するので、
作業者は不良現象データの入力を容易に行うことができ
る。

【０００９】問題解析部は不良現象データを各入力項目
の値として受け取ると、当該値を事例検索部に渡す。事
例検索部は前記値を検索キーワードとして事例べースを
検索し、診断対象電子機器の不良に関して過去に経験し
た事例の中から当該不良現象データに該当ないし類似す
る事例を検索し、検索した事例を入出力装置に表示す
る。作業者は入出力装置に表示された過去の事例の記載
事項、すなわち現象、原因、対処方法等によって当該不
良現象の原因を診断するとともに、処置を施す。

【００１０】また、検索した過去の類似事例が新しい不
良現象にそのまま適用することができない場合には、入
出力装置を介して事例修正部において事例の記載事項を
不良現象に即して修正する。さらに、修正した事例の記
載事項に基づいて行った診断の結果が良好である場合に
は、当該事例の記載事項に結果が良好である旨の記載を
行うとともに、事例格納部を通して事例ベースに新たな
事例として追加する。

【００１１】そして、修正した事例の記載事項に基づい
て行った診断結果が不良である場合には、当該事例の記
載事項に結果が不良である旨の記載を行うとともに、事
例格納部を通して事例ベースに失敗の事例として追加す
る。

【００１２】したがって、熟練者でなくとも、あるいは
特別な知識を有しない作業者であっても、過去の該当な
いし類似する事例を参照して確実にかつ短時間に不良項
目の原因を診断することができ、しかもコンピュータシ
ステムの専門家でなくとも知識ベースの追加や変更を容
易に行うことができる。

【００１３】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図１は事例に基づく電子機器不良原因診断装置
１の概念図であり、電子機器不良原因診断装置１は入出
力装置（マンマシンインターフェース）２と演算処理装
置３とからなる。入出力装置２は出力媒体としてのディ
スプレーやプリンター等と、入力媒体としてのキーボー
ド等で構成されている。

【００１４】演算処理装置３には、プログラムによって
構成する機能回路として、事例ベース４と問題解析部５
と事例検索部６と事例修正部７と事例格納部９と事例修
復部８とを備えている。

【００１５】事例ベース４は、診断対象電子機器の不良
に関して過去に経験した事例を記憶する機能を有するも
のであり、図３に示すようなデータを記憶している。問
題解析部５は、不良現象データを入力するための入力項
目を、診断対象電子機器に関する点検項目に即して関係
項目別に、かつ階層的に順次分類して入出力装置２に表
示するとともに、不良現象データを各入力項目の値とし
て受け取る機能を有するものである。

【００１６】事例検索部６は、問題解析部５で受け取っ
た入力値に基づいて事例ベース４に記憶した事例の中か
ら当該不良現象データに該当ないし類似する事例を検索
する機能を有するものであり、事例修正部７は検索され
た事例の記載事項を修正する機能を有するものである。

【００１７】事例格納部９は、修正された新たな事例を
事例ベース４に記憶させる機能を有するものであり、事
例修復部８は、修正された新たな事例の記載事項を再度
修正する機能を有するものである。

【００１８】以下、上記構成における作用を、図２に示
すフローチャートに基づいて説明する。診断対象電子機
器の検査を行う作業者１０は、不良原因の診断を行うに
際し、発見した不良現象データを演算処理装置３に入出
力装置２を通して入力する（ステップ１）。

【００１９】このとき、問題解析部５は、不良現象デー
タを入力するための入力項目を診断対象電子機器に関す
る点検項目に即して関係項目別に、かつ階層的に順次分
類して入出力装置２に表示するので、作業者１０は入出
力装置２に表示される画面を順次選択するだけで問題の
特徴付けを行ないながら、当該不良現象データを入力す
べき入力項目に速やかに到達するとともに、不良現象デ
ータの入力を容易に行うことができる（ステップ２）。

【００２０】問題解析部５は不良現象データを各入力項
目の値として受け取ると、当該値を事例検索部６に渡
す。事例検索部６は前記値を検索キーワードとして事例
べース４を検索し、診断対象電子機器の不良に関して過
去に経験した事例の中から当該不良現象データに該当な
いし類似する事例を検索し、検索した事例、例えば図３
に示すような情報を入出力装置２に表示する（ステップ
３）。

【００２１】作業者１０は入出力装置２に表示された過
去の事例の記載事項を評価し、検索した事例が当該不良
現象に適用可能であると判断した場合には、事例の記載
事項、つまりの現象、原因、対処方法等によって当該不
良現象の原因を診断するとともに、処置を施す（ステッ
プ４）。

【００２２】また、作業者１０は検索した過去の類似事
例が新しい不良現象にそのまま適用することができない
場合には、入出力装置２を介して事例修正部７において
事例の記載事項を不良現象に即して修正する。例えば、
不良現象としてつり銭切れランプが点灯しない場合に、
類似する事例として図３に示すような事例を検索した場
合に、現象項目の記載事項をつり銭切れランプに修正す
るとともに、原因項目の記載事項を相応するコネクター
番号に修正する（ステップ５）。

【００２３】そして、修正した事例の記載事項に基づい
て診断を行い（ステップ６）、行った診断の結果が良好
である場合には、当該事例の適応結果事項に結果が良好
である旨の記載を行う（ステップ７）とともに、事例格
納部９を通して事例ベース４に新たな事例として追加す
る（ステップ９）。

【００２４】また、修正した事例の記載事項に基づいて
行った診断結果が不良である場合には、事例修復部８に
おいて当該事例の適応結果事項に結果が不良である旨の
記載を行う（ステップ８）とともに、事例格納部９を通
して事例ベース４に失敗の事例として追加する（ステッ
プ９）。

【００２５】

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、不良
原因の診断を行うに際して作業者が、熟練者でなくと
も、あるいは特別な知識を有しない作業者であっても、
過去の該当ないし類似する事例を参照して確実にかつ短
時間に不良項目の原因を診断することができ、しかもコ
ンピュータシステムの専門家でなくとも知識ベースの追
加や変更を容易に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例における電子機器不良原因診
断装置の概念図である。

【図２】同実施例における診断手順を示すフローチャー
トである。

【図３】同実施例における事例のサンプルを示す図であ
る。

【符号の説明】

１ 電子機器不良診断装置 ２ 入出力装置 ３ 演算処理装置 ４ 事例ベース ５ 問題解析部 ６ 事例検索部 ７ 事例修正部 ８ 事例修復部 ９ 事例格納部 １０ 作業者

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入出力装置と演算処理装置とからなり、
   演算処理装置上に、プログラムによって構成する機能回
   路として、診断対象電子機器の不良に関して過去に経験
   した事例を記憶する事例ベースと、不良現象データを入
   力するための入力項目を診断対象電子機器に関する点検
   項目に即して関係項目別に、かつ階層的に順次分類して
   入出力装置に表示するとともに、不良現象データを各入
   力項目の値として受け取る問題解析部と、問題解析部で
   受け取った入力値に基づいて事例ベースに記憶した事例
   の中から当該不良現象データに該当ないし類似する事例
   を検索する事例検索部と、検索された事例の記載事項を
   修正する事例修正部と、修正された新たな事例を事例ベ
   ースに記憶させる事例格納部と、修正された新たな事例
   の記載事項を再度修正する事例修復部とを備えたことを
   特徴とする事例に基づく電子機器不良原因診断装置。