JPH0743480A

JPH0743480A - 時計用ｉｃ

Info

Publication number: JPH0743480A
Application number: JP18616893A
Authority: JP
Inventors: Koji Machida; 幸二町田
Original assignee: Seikosha KK
Current assignee: Seikosha KK
Priority date: 1993-07-28
Filing date: 1993-07-28
Publication date: 1995-02-14
Anticipated expiration: 2014-02-03
Also published as: JP2852331B2

Abstract

(57)【要約】（修正有）【目的】複数種類のモータに共通に使用可能な時計用
ＩＣを提供する。【構成】発振出力を分周する分周回路５の出力によっ
てモータ駆動パルスを生成するパルス制御回路６を有す
る時計用ＩＣ１に、内部動作評価用のテスト端子Ｔ1 〜
Ｔ3 と、このテスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の状態によって指定
された内部動作評価を行なうテスト回路８と、電源の投
入により端子Ａより出力を発するタイマ回路１０と、タ
イマ回路１０の出力を受けるとテスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の
状態に応じて上記モータ駆動パルスの条件を設定する設
定回路１１とを設ける。電源の投入によりタイマ回路１
０の端子Ａより出力が発せられる間、テスト回路８のテ
スト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の状態に応じて行なわれる内部評価
動作が禁止され、この間、設定回路１１により電源投入
時でのテスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の状態に応じてモータ駆動
パルスの条件が設定される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は時計用ＩＣ（集積回路）
に関し、特にそのモータ駆動パルス生成に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】現在、アナログ電子時計では、指針を駆
動する多種の時計ムーブメントが使用され、これに伴い
多種のモータが用いられている。モータの仕様に応じて
様々な電圧、周期およびパルス幅のモータ駆動パルスが
用いられている。例えば、一般に１秒毎に秒針を運針す
るものでは、時計ムーブメント内に設けられたモータ
は、通常、各パルス毎に極を転じる１Ｈｚのモータ駆動
パルスを受け、毎秒０．５回転にて駆動されている。ま
た、スウィープ運針させるものでは、例えば、異なる２
極のパルスより１周期をなす８Ｈｚのモータ駆動パルス
を受けるモータを用いている。以上のようなモータ駆動
パルスは時計ムーブメントに備えられた時計用ＩＣにて
生成される。この時計用ＩＣは、外付けされた水晶振動
子の発振出力を分周する分周回路、この分周回路の出力
によってモータ駆動パルスを生成するパルス制御回路等
を有し、目的の時計ムーブメントのモータの仕様に合っ
た一種類のモータ駆動パルスを生成し出力するものであ
る。このため、モータの仕様毎に専用の時計用ＩＣが用
いられている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】このような従来の時計
用ＩＣでは、時計ムーブメントの多様化に伴って時計用
ＩＣもそれだけの種類用意しなければならず、時計用Ｉ
Ｃは多品種少量生産とな開発コストがかさむ。

【０００４】そこで本発明の目的は、複数種類のモータ
に共通に使用可能な時計用ＩＣを提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】発振出力を分周する分周
回路と、この分周回路の出力によってモータ駆動パルス
を生成するパルス制御回路とを有する時計用ＩＣにおい
て、内部動作評価用のテスト端子と、このテスト端子に
よって指定された内部動作評価を行なうテスト回路と、
電源の投入により一定時間上記テスト回路による内部動
作評価を禁止するタイマ回路と、上記タイマ回路の出力
によって内部動作評価が禁止されている間に上記テスト
端子の状態に応じて、上記モータ駆動パルスの条件を設
定する設定回路とを設けることにより上記目的を達成す
る。

【０００６】

【実施例】次に本発明の一実施例の時計用ＩＣについて
図を参照しながら説明する。図１は本例の構成を示すブ
ロック図であり、同図において、１は時計用ＩＣであ
り、以下に述べる各回路から構成されており、時計ムー
ブメントに設けられる運針用のモータ２にモータ駆動パ
ルスを供給する。３は発振回路であり、外付けの水晶振
動子４に接続され基準クロックを発生する。５は分周回
路であり、基準クロックを所定の周波数に分周する。６
はパルス制御回路であり、分周回路５の出力を受けてモ
ータ駆動パルスを生成する。７はモータバッファであ
り、パルス制御回路６の出力を増幅してモータ２に出力
する。

【０００７】Ｔ1 〜Ｔ3 はテスト端子であり、それぞれ
プルダウン抵抗Ｒ〜Ｒを接続してある。テスト端子Ｔ1
〜Ｔ3 は、それぞれ外部スイッチＳＷ1 〜ＳＷ2 のオ
ン、オフにより“１”、“０”に保持される。なお、外
部スイッチＳＷ1 〜ＳＷ2 はプロービィングに用いる試
験用接点を模式的に示したものである。

【０００８】８はテスト回路であり、テスト端子Ｔ1 〜
Ｔ3 の“１”、“０”に応じて内部動作評価を行なう。
ここで、テスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の“１”、“０”の状態
と内部動作評価のテストモードとの対応を図２ａに示
す。ここで、通常モードとは、内部動作評価およびモー
タの駆動条件設定を禁止し、モータの駆動パルスを出力
し、本来の機能を実行するモードであり、製品の出荷時
においてはこの状態に保持される。他のテストモード１
〜７はそれぞれ製造段階で行なわれる８種類の内部動作
評価を表したものである。９はテスト回路により評価さ
れる時計用ＩＣ１内の各回路部である。

【０００９】１０はタイマ回路であり、時計用ＩＣ１の
電源スイッチＳＷ0 がオンとされ電源投入されてから一
定時間端子Ａより出力を発してテスト回路の内部動作評
価を禁止するとともに、後述の設定回路に出力を発す
る。

【００１０】１１は設定回路であり、複数のモータ駆動
パルスの周期およびパルス幅等の条件を設定するデータ
を納めたＲＯＭ（図示せず。）およびこのＲＯＭから読
み出した所望のデータが書き込まれる書込み可能なＲＯ
Ｍ（図示せず。）等よりなり、タイマ回路１０の端子
Ａ、テスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 に接続されており、端子Ａよ
りの出力とを受けると、その時点のテスト端子Ｔ1 〜Ｔ
3 の“１”、“０”の状態に応じたモータ駆動パルスを
設定する。ここで、テスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の“１”、
“０”の状態とモータ駆動パルス条件との対応を図２ａ
に示す。ここで、モータ駆動パルス条件１〜８はそれぞ
れ周期またはパルス幅の異なるモータ駆動パルスの設定
条件を表し、例えば、モータ駆動パルス条件１は周期が
１Ｈｚでパルス幅が２７．３４μＳのステップ用のモー
タ駆動パルスを設定し、モータ駆動パルス条件２は周期
が８Ｈｚでパルス幅が６２．５μＳのスイープ用のモー
タ駆動パルスを設定する等である。

【００１１】次に本例の動作について上述の図１、図２
ａ、図２ｂに示す本例の動作タイミングを示すタイミン
グチャートおよび図３に示す本例の動作を示すフローチ
ャートを参照しながら説明する。ここでは、予めテスト
端子Ｔ1 〜Ｔ3 がそれぞれ、“０”、“１”、“０”に
設定されていることとして、電源スイッチＳＷ0 がオン
（ＳＴＡＲＴ）して電源が投入されると、タイマ回路は
端子Ａより図２Ａのように出力を発する。この端子Ａの
出力を受けたテスト回路８はその間テスト動作が禁止さ
れる（ステップＡ）。また、端子Ａの出力を受けた設定
回路１２はその立下がりによりテスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の
状態に応じてモータ駆動パルス設定される。ここでは、
テスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 がそれぞれ、“０”、“１”、
“０”であるので、ＲＯＭのこのアドレスに格納されて
いるモータ駆動パルス条件３が設定され、書込み可能な
ＲＯＭ内に書き込まれるて、図２ａに示されるようにモ
ータ駆動パルス条件３が設定される。例えば、ここで、
テスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 がそれぞれ、“０”、“０”、
“０”であれば、モータ駆動パルス条件１が選択され、
テスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 がそれぞれ、“０”、“０”、
“１”であれば、モータ駆動パルス条件１が選択され
る。、このようにテスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の状態“０”、
“０”、“０”〜“１”、“１”、“１”に対してモー
タ駆動パルスの条件はモータ駆動パルス条件１〜８より
選択的に設定される（ステップＢ）。ここでは設定回路
１１によりモータ駆動パルス条件３が設定され、パルス
制御回路６は設定３に準じたモータ駆動パルスの生成を
開始する。このモータ駆動パルスはモータバッファによ
り増幅され、モータ４を駆動する。

【００１２】また、端子Ａの出力の立下がりによりモー
タ駆動パルス条件が設定されるとともに、テスト回路８
のテスト動作の禁止が解除される（ステップＣ）。続い
て、テスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の状態が“０”、“０”、
“０”であるか判断が行なわれる（ステップＤ）。ここ
で、テスト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の状態が“０”、“０”、
“０”である場合には、通常モードとされる（ステップ
Ｅ）。この通常モードでは、上記で設定されたモータ駆
動条件３に準じたモータ駆動パルスが発生することにな
る。ここでテストを行なう場合には、テスト端子Ｔ1 〜
Ｔ3 を実行したいテストモードの状態に設定する。これ
により所望のテストモードが設定され実行される（ステ
ップＦ）。例えば、ここで、内部動作評価のため、テス
ト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の状態を“０”、“１”、“１”とす
れば、テストモード６が設定され実行され、時計用ＩＣ
１内の各回路部９の動作が評価される。このようにテス
ト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の状態“０”、“０”、“１”〜
“１”、“１”、“１”に対してテスト回路８のテスト
モードはテストモード１〜テストモード７より選択的に
設定され、所定の内部動作評価が行なえる。なお、この
間、設定回路８は設定３を保持しており、テスト端子Ｔ
1 〜Ｔ3 の状態が変化してもモータ駆動パルス条件は変
化しない。のが出力される。

【００１３】以上のように、本例は、電源投入時のテス
ト端子Ｔ1 〜Ｔ3 の状態により所定の８種類のモータ駆
動パルス条件の内より選択的に一つのモータ駆動パルス
条件が設定される。このため、既存のモータの仕様に応
じた複数のモータ駆動パルスの条件設定データ、または
将来使用されるであろうモータの仕様に応じた複数のモ
ータ駆動パルスの条件設定データを設定回路１１内のＲ
ＯＭに納めておき、時計ムーブメンに組み込まれる際
に、それに使用されるモータの仕様に応じてテスト端子
Ｔ1 〜Ｔ3 の状態を選択することにより、一つの時計用
ＩＣ１で複数のモータに対応することが可能となる。こ
れにより、同時に、多種の仕様のモータに応じて多種の
時計用ＩＣを生産する必要がなくなり、大量生産が可能
となり、コストを低減できる。

【００１４】また、モータ駆動パルスはテスト端子Ｔ1
〜Ｔ3 の状態により設定されるため、特別な設定用端子
を必要としないため、回路規模の増大が避けられる。ま
た、本例ではテスト端子数を３とし、モータ駆動パルス
の条件設定数を８としたがこれに限るものではなく、テ
スト端子の数に応じてモータ駆動パルス条件の設定数も
変更可能である。

【００１５】

【発明の効果】本発明の時計用ＩＣによれば、複数種類
のモータに共通に使用できるため、大量生産が可能とな
り、コスト低減を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の時計用ＩＣの構成を示すブ
ロック図。

【図２】図１の動作説明のための説明図。

【図３】図１の動作説明のためのフローチャート。

【符号の説明】

１時計用ＩＣ５分周回路６パルス制御回路８テスト回路１０タイマ回路１１設定回路Ｔ1 〜Ｔ3 テスト端子

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】発振出力を分周する分周回路と、この分
周回路の出力によってモータ駆動パルスを生成するパル
ス制御回路とを有する時計用ＩＣにおいて、内部動作評価用のテスト端子と、このテスト端子によっ
て指定された内部動作評価を行なうテスト回路と、電源
の投入により一定時間上記テスト回路による内部動作評
価を禁止するタイマ回路と、上記タイマ回路の出力によ
って内部動作評価が禁止されている間に上記テスト端子
の状態に応じて、上記モータ駆動パルスの条件を設定す
る設定回路とを設けたことを特徴とする時計用ＩＣ。