JPH0743412B2 - Detachable device - Google Patents

Detachable device

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JPH0743412B2
JPH0743412B2 JP61010072A JP1007286A JPH0743412B2 JP H0743412 B2 JPH0743412 B2 JP H0743412B2 JP 61010072 A JP61010072 A JP 61010072A JP 1007286 A JP1007286 A JP 1007286A JP H0743412 B2 JPH0743412 B2 JP H0743412B2
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work
socket
lid
contact
attachment
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JP61010072A
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俊一郎 藤岡
道夫 谷本
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0743412B2 publication Critical patent/JPH0743412B2/en
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体製造装置に係り、特に半導体のエージ
ング処理においてエージング処理用エージング基板に半
導体装置を挿入、取り出しするのに適用して有効な技術
に関するものである。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus, and is particularly effective when applied to inserting and taking out a semiconductor device from an aging substrate for aging processing in semiconductor aging processing. It is about technology.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

エージングされる半導体装置を着脱するソケットなど
は、株式会社工業調査会、昭和60年11月20日発行、「電
子材料」1986年版、P222〜P226に記載されている。
Sockets for attaching / detaching semiconductor devices to be aged are described in "Electronic Materials", 1986 edition, P222-P226, published by Kogyo Kenkyukai Co., Ltd., November 20, 1985.

ところで、一般に半導体装置はパッケージの両側に外部
リードを下方へ折り曲げたDIL(Dual In Line)タイプ
のパッケージおよびパッケージの4辺より外側にリード
が張り出しているフラットタイプたとえばFPP(Flat Pl
astic Package)さらにはたとえばPLCC(Plastic Leade
d Chip Carrier)などの面実装形パッケージよりなる半
導体装置その他に分けられる。
By the way, generally, a semiconductor device is a DIL (Dual In Line) type package in which external leads are bent downward on both sides of the package, and a flat type such as an FPP (Flat Pl) that has leads protruding outside the four sides of the package.
astic Package) Furthermore, for example PLCC (Plastic Leade)
d Chip Carrier) and other semiconductor devices that consist of surface mount packages.

製品の品質検査の1手段として半導体製造工程におい
て、製品に動作電圧を印加しかつ高温に長時間放置する
エージング工程がある。
As one means of product quality inspection, in the semiconductor manufacturing process, there is an aging process in which an operating voltage is applied to the product and the product is left at a high temperature for a long time.

このエージング工程における作業は半導体装置を収納す
るための治具(以下ソケットと記す)を有するエージン
グ用基板を用い、従来は手作業にて半導体装置をソケッ
トに挿入したり取り出していた。
The work in this aging process uses a aging substrate having a jig (hereinafter referred to as a socket) for housing the semiconductor device, and conventionally, the semiconductor device is manually inserted into or taken out from the socket.

また、近年ではDILタイプの半導体装置に関して、この
エージング基板ソケットへの挿入、取り出しを自動で行
う装置の出現を見ている。
Further, in recent years, regarding the DIL type semiconductor device, a device for automatically inserting and removing the aging substrate socket has been seen.

一方、フラットタイプの半導体装置に関しては、パッケ
ージの4辺よりリードが張り出していることから従来の
ソケットを用いて半導体装置もソケット本体の中の接触
端子の中に押し込む方式がとれない。
On the other hand, regarding the flat type semiconductor device, since the leads are projected from the four sides of the package, the conventional socket cannot be used to push the semiconductor device into the contact terminal in the socket body.

そこで、フラットタイプの半導体装置を用いるときは、
半導体装置を挿入する時ソケット蓋ロック爪をソケット
蓋ロック開方向に動かし、次にソケット蓋をソケット蓋
開方向に動かしてソケット本体へ挿入し、次いでソケッ
ト蓋をソケット蓋閉方向に動かし、次にソケット蓋ロッ
ク爪をソケット蓋ロック閉方向に動かしていた。また、
半導体装置をソケットより取り出す時は前記動作の逆を
行うことにより作業していた。
Therefore, when using a flat type semiconductor device,
When inserting the semiconductor device, move the socket lid lock claw in the socket lid lock opening direction, then move the socket lid in the socket lid opening direction to insert into the socket body, then move the socket lid in the socket lid closing direction, and then The socket lid lock claw was being moved in the socket lid lock closing direction. Also,
When the semiconductor device is taken out from the socket, the work is performed by reversing the above operation.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

ところが、前記方法では作業工数が増大するばかりか作
業者による外部リードの変形など多くの問題が発生する
ことが本発明者により見い出された。
However, it has been found by the present inventors that the above-mentioned method not only increases the number of work steps, but also causes many problems such as the deformation of the external lead by the operator.

また、自動化においても、このソケット蓋の開閉動作が
ネックとなり容易に進まないことが本発明者によって見
い出された。
Further, it has been found by the inventor of the present invention that the opening / closing operation of the socket lid becomes a bottleneck and does not proceed easily even in automation.

本発明の目的は、半導体装置を外部リードの変形などな
くエージング基板上のソケットに自動的に挿入し、また
エージング基板上のソケットから取り出す装置を提供す
ることにより、作業効率の向上、工数の低減および高品
質化を容易にする技術手段を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a device for automatically inserting a semiconductor device into a socket on an aging board without deformation of external leads and taking it out from the socket on the aging board, thereby improving work efficiency and reducing man-hours. And to provide technical means for facilitating high quality.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書に記述および添付図面から明らかになるであろ
う。
The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。
The outline of a typical invention among the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

すなわち、エージング基板に搭載した蓋付きのソケット
の蓋を該エージング基板の搬送途中で自動的に開放また
は閉鎖可能とし、該ソケットに対するワークの挿入また
は取り出しの一方あるいは両方を自動的に行うものであ
る。
That is, the lid of a socket with a lid mounted on an aging board can be automatically opened or closed during the transportation of the aging board, and one or both of insertion and removal of a work from the socket is automatically performed. .

また、他の発明によれば、エージング基板に搭載される
ソケットが蓋を有しておらず、このソケットに対して
は、エージング基板の搬送途中で自動的に該ソケットに
対するワークの挿入または取り出しの一方または両方を
行うものである。
According to another aspect of the invention, the socket mounted on the aging board does not have a lid, and the socket is automatically inserted or removed during the transportation of the aging board. One or both.

〔作用〕[Action]

前記した手段によれば、蓋付きまたは蓋なしのソケット
に対するワークの挿入または取り出しの一方あるいは両
方を自動で行うことができ、手作業を要しないので、作
業効率の向上、工数の低減、さらには高品質化が可能と
なる。
According to the above-mentioned means, one or both of insertion and removal of a work into and from a socket with or without a lid can be automatically performed, and manual work is not required, so that work efficiency is improved, man-hours are reduced, and further, Higher quality is possible.

〔実施例1〕 第1図は本発明の一実施例である着脱装置の概略的平面
図、第2図はそのソケット蓋開放操作を示す部分断面
図、第3図はソケット蓋閉鎖操作を示す部分断面図であ
る。
[Embodiment 1] FIG. 1 is a schematic plan view of an attaching / detaching device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partial sectional view showing a socket lid opening operation, and FIG. 3 shows a socket lid closing operation. FIG.

本実施例1は、本発明をいわゆるフラットパッケージ形
半導体装置のソケットへの着脱に適用するものである。
The first embodiment applies the present invention to the attachment / detachment of a so-called flat package type semiconductor device to / from a socket.

本実施例1において、着脱装置の基台1の上では、フラ
ットパッケージ形半導体装置(FPP形IC)2(ワーク)
をエージングにより検査するためのエージング基板3が
供給部4から矢印A方向、さらにはB方向を経てエージ
ング基板搬送系5に沿って、収納部6まで順次搬送され
る。このエージング基板3の上には、FPP形IC2の挿入、
取り出しを受けるソケット7が多数設置されている。各
ソケット7にはそれぞれ1個ずつの被エージングIC2が
挿入され、所定のエージング検査完了後に取り出される
ものであり、これらの挿入、取り出しなどは本実施例に
おいてはすべて自動的に行われる。
In the first embodiment, a flat package type semiconductor device (FPP type IC) 2 (workpiece) is mounted on the base 1 of the attachment / detachment device.
The aging substrate 3 for inspecting by aging is sequentially transported from the supply unit 4 to the storage unit 6 along the arrow A direction and further the B direction along the aging substrate transport system 5. On this aging board 3, insert FPP type IC2,
A large number of sockets 7 for receiving the takeout are installed. One IC 2 to be aged is inserted into each socket 7 and is taken out after completion of a predetermined aging inspection. In the present embodiment, these insertions and removals are all automatically performed.

前記エージング基板搬送系5に沿って搬送されるエージ
ング基板3上のソケット7にFPP形IC2を挿入したり、ま
た取り出したりするため、該エージング基板搬送系5に
沿って第1図の左から右にかけて、ソケット7の蓋を開
放するための蓋開放部8と、ソケット7からFPP形IC2を
取り出すためのワーク取出部9と、ソケット7にFPP形I
C2を挿入するためのワーク挿入部10と、ソケット7の蓋
を閉じる蓋閉鎖部11とが順次配置されている。
In order to insert or remove the FPP type IC 2 into or from the socket 7 on the aging board 3 conveyed along the aging board conveyance system 5, the FPP IC 2 is moved along the aging board conveyance system 5 from left to right in FIG. To the opening 7, a lid opening portion 8 for opening the lid of the socket 7, a work take-out portion 9 for taking out the FPP type IC 2 from the socket 7, and a FPP type I for the socket 7.
A work insertion portion 10 for inserting C2 and a lid closing portion 11 for closing the lid of the socket 7 are sequentially arranged.

一方、基台1の上には、前記エージング基板搬送系5と
平行に、エージングされるFPP形IC2を供給するワーク搬
送系12が設けられている。すなわち、このワーク搬送系
12はエージング基板搬送系5のエージング基板搬送方向
とは逆方向にFPP形IC2を矢印C,Dで示す如く、第1図の
右から左に搬送するものである。したがって、未エージ
ングのFPP形IC2の供給部であるワーク供給部13はワーク
搬送系12の右端に、またエージング完了後のFPP形IC2を
収納するワーク収納部14は左端側に位置しており、ワー
ク搬送系12は基台1に設けられたエージング基板搬送系
5とほぼ同一の水平面内に設けられ、エージング基板3
に対して平行にワークを搬送する。
On the other hand, on the base 1, a work transfer system 12 for supplying the aged FPP type IC 2 is provided in parallel with the aging substrate transfer system 5. That is, this work transfer system
Numeral 12 is for carrying the FPP type IC 2 from the right to the left in FIG. 1 in the direction opposite to the aging board carrying direction of the aging board carrying system 5, as indicated by arrows C and D. Therefore, the work supply unit 13 which is a supply unit of the unaged FPP IC2 is located at the right end of the work transfer system 12, and the work storage unit 14 for housing the FPP IC2 after completion of aging is located on the left end side. The work transfer system 12 is provided in substantially the same horizontal plane as the aging substrate transfer system 5 provided on the base 1, and
The work is conveyed in parallel to.

次に、FPP形IC2を収納するソケット7について説明する
と、本実施例1のソケット7は、本体15と、この本体15
に軸16の回りで揺動可能に取付けた蓋17と、ソケット7
の収納孔18に収納されたFPP形IC2のリード端子19と接触
する接触端子20と、蓋17の自由端側に軸21の回りで揺動
可能に取付けられた係止片22と、この係止片22の一端に
設けられた係止突起23と、この係止突起23と解除可能に
係合して蓋17を本体15に係止する係止部24とを有してい
る。また、蓋開放部8には、前記ソケット7の前記係止
片22の解除爪25と接合して蓋17を開放する蓋開放片26が
設けられている。この蓋開放片26は蓋17の開放のため、
第2図にEで示す軌跡に沿って動作する。
Next, the socket 7 for accommodating the FPP type IC 2 will be described. The socket 7 of the first embodiment includes a main body 15 and the main body 15.
A lid 17 that is swingably mounted around a shaft 16 and a socket 7
The contact terminal 20 that comes into contact with the lead terminal 19 of the FPP type IC 2 housed in the housing hole 18 of the, the locking piece 22 attached to the free end side of the lid 17 so as to be swingable around the shaft 21, It has a locking projection 23 provided at one end of the stop piece 22, and a locking portion 24 that releasably engages with the locking projection 23 and locks the lid 17 to the main body 15. Further, the lid opening portion 8 is provided with a lid opening piece 26 which is joined to the release claw 25 of the locking piece 22 of the socket 7 to open the lid 17. This lid opening piece 26 is for opening the lid 17,
It operates along the locus indicated by E in FIG.

一方、蓋閉鎖部11は、第3図に示すように、蓋閉鎖用こ
ろ27を有する蓋閉鎖ブロック28を備えている。この蓋閉
鎖ブロック28は第3図の軌跡Fに沿って動作することに
よりソケット7の蓋17を閉鎖し、係止片22の係止突起23
を本体15の係止部24と係合させて蓋17を本体15に対して
ロックする。
On the other hand, the lid closing portion 11 is provided with a lid closing block 28 having a lid closing roller 27 as shown in FIG. The lid closing block 28 closes the lid 17 of the socket 7 by operating along the locus F of FIG.
Is engaged with the locking portion 24 of the main body 15 to lock the lid 17 with respect to the main body 15.

次に、本実施例の作用について説明する。Next, the operation of this embodiment will be described.

まず、基台1の供給部4に、蓋17を閉鎖したソケット7
を複数設置したエージング基板3をセットし、またワー
ク供給部13には、未エージングのFPP形IC2を治具に入れ
た状態でセットする。その後、着脱装置を起動させ、エ
ージング基板3を矢印Aの方向にエージング基板搬送系
5に沿って搬送すると、エージング基板3は順次蓋開放
部8に到達する。
First, the supply unit 4 of the base 1 has a socket 7 with a lid 17 closed.
A plurality of aging substrates 3 are set, and the work supply unit 13 is set with the unaged FPP type IC 2 in a jig. After that, when the attachment / detachment device is activated and the aging board 3 is conveyed in the direction of arrow A along the aging board conveyance system 5, the aging board 3 sequentially reaches the lid opening part 8.

この蓋開放部8においては、図示しない駆動手段により
蓋開放片26が解除爪25と係合して軌跡Eに沿って動作す
ることにより、係止片22の係止突起23を本体15の係止部
24から解除し、蓋17を軸16の回りで揺動させ、本体15か
ら開放する。
In the lid opening portion 8, the lid opening piece 26 engages with the release claw 25 and operates along the locus E by a driving means (not shown), so that the locking projection 23 of the locking piece 22 is engaged with the main body 15. Stop
It is released from 24 and the lid 17 is swung around the shaft 16 to release it from the main body 15.

この蓋開放状態でエージング基板3がワーク取出部9に
来ると、ソケット7内にエージングを完了したFPP形IC2
があった時には、図示しない真空吸着手段などによりソ
ケット7から取り出し、矢印Gの方向にワーク搬送系12
まで搬送して空の治具の中に収納する。このようにして
エージング済みのFPP形IC2を収納した治具は矢印Dに示
す如く収納部14に収納される。
When the aging board 3 comes to the work take-out part 9 with the lid open, the FPP type IC2 that has completed aging in the socket 7
If there is, it is taken out from the socket 7 by a vacuum suction means (not shown), and the work transfer system 12 is moved in the direction of arrow G.
And store it in an empty jig. The jig in which the aged FPP type IC2 is stored is stored in the storage portion 14 as shown by an arrow D.

また、前記の如くFPP形IC2を取り出されて空になったソ
ケット7はワーク挿入部10に搬送される。そして、この
位置では、図示しない真空吸着手段などでワーク搬送系
12の治具から未エージングのFPP形IC2を矢印H方向に移
送し、そのリード端子19がソケット7の本体15の接触端
子20の上に載置されるようにしてソケット7内に収納す
る。
Further, the socket 7 emptied by taking out the FPP type IC 2 as described above is conveyed to the work insertion portion 10. At this position, the work transfer system is connected by a vacuum suction means (not shown).
The unaged FPP type IC2 is transferred from the jig 12 in the direction of arrow H, and is housed in the socket 7 so that its lead terminal 19 is placed on the contact terminal 20 of the body 15 of the socket 7.

ソケット7に未エージングのFPP形IC2を収納したエージ
ング基板3はさらに蓋閉鎖部11に送られ、ここでは第3
図に示す如く蓋閉鎖ブロック28を軌跡Fに沿って動作さ
せることにより、ソケット7の蓋17は軸16の回りで揺動
し、係止片22の係止突起23を本体15の係止部24に係合さ
せて蓋17を閉鎖する。それにより、蓋7の押さえ突起7a
がFPP形IC2のリード端子19を接触端子20に押圧して両端
子19と20を互いに導電接触させるので、エージング検査
が可能な状態となる。
The aging board 3 in which the unaged FPP type IC2 is housed in the socket 7 is further sent to the lid closing part 11, and here the third
By operating the lid closing block 28 along the locus F as shown in the drawing, the lid 17 of the socket 7 swings around the shaft 16, and the locking projection 23 of the locking piece 22 is locked by the locking portion of the main body 15. The lid 17 is closed by engaging with 24. Thereby, the pressing protrusion 7a of the lid 7
Presses the lead terminal 19 of the FPP type IC 2 against the contact terminal 20 to bring both terminals 19 and 20 into conductive contact with each other, so that an aging inspection is possible.

したがって、このソケット7をエージング基板3と共に
収納部6に収納される。
Therefore, the socket 7 is housed in the housing part 6 together with the aging board 3.

このように、本実施例1によれば、以下の効果を得るこ
とができる。
As described above, according to the first embodiment, the following effects can be obtained.

(1).エージング基板3上のソケット7へのFPP形IC2
の挿入および取り出しを自動的に行うことができるの
で、極めて効率的な着脱作業が可能である。
(1). FPP type IC2 to socket 7 on aging board 3
Since the insertion and removal can be automatically performed, extremely efficient attachment / detachment work is possible.

(2).前記(1)により、手作業での着脱により発生
していた外部リード端子の曲がり変形などを防止でき
る。
(2). According to the above (1), it is possible to prevent the bending and the like of the external lead terminal which is caused by the manual attachment and detachment.

(3).前記(1)により、作業工数の低減が可能であ
る。
(3). By the above (1), it is possible to reduce the number of work steps.

(4).前記(1)により、作業者の熟練度に左右され
ることなく、確実な作業を安定して行うことができる。
(4). According to the above (1), reliable work can be stably performed without being influenced by the skill level of the worker.

〔実施例2〕 第4図は本発明の他の実施例である着脱装置の平面図、
第5図はそのワーク保持状態を示す部分断面図、第6図
は接触端子開放状態を示す部分断面図である。
[Embodiment 2] FIG. 4 is a plan view of an attaching / detaching device according to another embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a partial sectional view showing the workpiece holding state, and FIG. 6 is a partial sectional view showing the contact terminal opened state.

本実施例2は、ワークとしてPLCCなどの面実装形半導体
装置(面実装形IC)2aをエージング検査するためのワー
ク着脱に適用したものである。すなわち、この種のIC2a
の場合には外部リード端子が突出した構造ではないの
で、上下方向からのリード端子圧接挟持により接触端子
との導電接触を行うことができない。そこで、本実施例
2では、エージング基板3上に配設されるソケット30
は、前記実施例1のように蓋を有しておらず、ベース31
と、このベース31の上下方向に貫通して取付けられ、そ
の上端部が弾性的に開閉可能な二又状の分岐部33をそれ
ぞれ有する接触端子32と、この接触端子32の分岐部33に
対して嵌装された上プレート(接触解除部材)34と、こ
の上プレート34のワーク挿入用の開口35の外側に形成さ
れ、該プレート34が押し下げられた時に分岐部33の内側
部分を外側方向に押圧して面実装形IC2aの導電部を該分
岐部33を分離させるテーパ面36とを有している。この上
プレート34を下方に押動させる押動体としてのプッシャ
37は、たとえば面実装形IC2aを真空吸着して搬送するヘ
ッド(図示せず)に取付けて該プッシャ37と共に上下方
向に動作するものとすることができる。
The second embodiment is applied to work attachment / detachment for aging inspection of a surface mount semiconductor device (surface mount IC) 2a such as PLCC as a work. That is, this type of IC2a
In this case, since the external lead terminal does not project, the conductive contact with the contact terminal cannot be made by pressing and pinching the lead terminal from above and below. Therefore, in the second embodiment, the socket 30 arranged on the aging board 3 is used.
The base 31 does not have a lid as in the first embodiment.
And a contact terminal 32 that is attached so as to penetrate through the base 31 in the vertical direction, and has an upper end portion that has a bifurcated branch portion 33 that can be elastically opened and closed, and a branch portion 33 of the contact terminal 32. Formed on the outer side of the work insertion opening 35 of the upper plate (contact releasing member) 34 fitted in the upper plate 34, and when the plate 34 is pushed down, the inner portion of the branch portion 33 is directed outward. It has a taper surface 36 that presses the conductive portion of the surface-mounted IC 2a to separate the branch portion 33. A pusher as a pusher for pushing the upper plate 34 downward.
For example, 37 can be mounted on a head (not shown) that vacuum-sucks and conveys the surface-mounted IC 2a, and operates in the vertical direction together with the pusher 37.

このようなソケット30を使用する本実施例2の着脱装置
は第4図に示すように、ソケット30の蓋の開閉が不要で
あることにより、前記実施例1の蓋開放部8と蓋閉鎖部
11とを省略できるため構造が簡単となるが、それ以外は
実施例1と実質的に同じであるので、対応部分には実施
例1と同一の符号を付してその詳細な説明は省略する。
As shown in FIG. 4, the attaching / detaching device of the second embodiment using such a socket 30 does not require opening / closing of the lid of the socket 30, so that the lid opening part 8 and the lid closing part of the first embodiment are not necessary.
The structure is simple because 11 can be omitted, but the other parts are substantially the same as those in the first embodiment, and therefore, corresponding parts are denoted by the same reference numerals as in the first embodiment, and detailed description thereof is omitted. .

次に、本実施例2におけるソケット30へのワーク収納動
作について説明すると、ワークの一例である面実装形IC
2aはワーク取出部9では、第6図に示すように、上プレ
ート34をプッシャ37で押し下げることにより、該上プレ
ート34のテーパ面36によって接触端子32の分岐部33の内
側部分を外側に弾性的に撓ませ、接触端子32の分岐部33
を面実装形IC2aの導電部から分離させる。したがって、
この状態で真空吸着手段(図示せず)によってエージン
グ完了後の面実装形IC2aを開口35を経てソケット30から
取り出すことができる。
Next, the operation of storing a work in the socket 30 according to the second embodiment will be described. A surface mount type IC that is an example of the work
In the work take-out portion 9, as shown in FIG. 6, 2a pushes down the upper plate 34 with a pusher 37 so that the inner surface of the branch portion 33 of the contact terminal 32 is elastically moved outward by the tapered surface 36 of the upper plate 34. Of the contact terminal 32,
Is separated from the conductive portion of the surface mount type IC 2a. Therefore,
In this state, the surface mount type IC 2a after completion of aging can be taken out from the socket 30 through the opening 35 by the vacuum suction means (not shown).

一方、プッシャ37による押し下げ力を解除すると、第5
図に示す如く、上プレート34は接触端子32の分岐部33の
弾性復帰力とテーパ面36の働きにより内側に戻り、面実
装形IC2aの導電部と導電接触し、エージング検査を行う
ことが可能となる。
On the other hand, if the pushing down force of the pusher 37 is released,
As shown in the figure, the upper plate 34 returns to the inside due to the elastic restoring force of the branch portion 33 of the contact terminal 32 and the action of the tapered surface 36, and makes conductive contact with the conductive portion of the surface mount type IC 2a, so that the aging inspection can be performed. Becomes

このように、本実施例2によれば、以下の効果を得るこ
とができる。
As described above, according to the second embodiment, the following effects can be obtained.

(1).蓋のないソケット30と、分岐部33を持つ接触端
子32とを有することにより、面実装形IC2aを容易に自動
着脱してエージング検査することができる。
(1). By having the socket 30 without the lid and the contact terminal 32 having the branch portion 33, the surface mounting type IC 2a can be easily automatically attached / detached for the aging inspection.

(2).前記(1)により、装置の構造が極めて簡単と
なる。
(2). According to the above (1), the structure of the device becomes extremely simple.

(3).また、本実施例1では、前記実施例2により得
られる効果も併せて得ることができる。
(3). In addition, in the first embodiment, the effects obtained by the second embodiment can be obtained together.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the embodiments and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Nor.

たとえば、ワークの着脱手段や搬送手段などとしては任
意のものを使用できる。
For example, arbitrary means can be used as the work attaching / detaching means, the conveying means, and the like.

また、本発明の着脱装置はワークの取り出しまたは挿入
のいずれか一方にのみに専用の装置として構成してもよ
い。すなわち、本発明は着脱装置のみならず、挿入装
置、抜取装置の各専用装置とすることができる。
Further, the attachment / detachment device of the present invention may be configured as a device dedicated to only one of taking out and inserting a work. That is, the present invention can be applied not only to the attachment / detachment device but also to dedicated devices for the insertion device and the extraction device.

また、ソケットの接触端子形状は本実施例に限定される
ものではなく、ワンタッチで開閉ができるものであれば
種々の形態のものが使用できる。
Further, the contact terminal shape of the socket is not limited to this embodiment, and various shapes can be used as long as they can be opened and closed with one touch.

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその利用分野であるFPP形およびPLCC形半導体装置の
着脱に適用した場合について説明したが、それに限定さ
れるものではなく、たとえば、それ以外のパッケージ形
式の半導体装置などに適用してもよい。
In the above description, the case where the invention made by the present inventor is mainly applied to the attachment / detachment of the FPP type and PLCC type semiconductor devices, which are the fields of use of the invention, is not limited thereto, and, for example, other packages. It may be applied to a semiconductor device of the type.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りであ
る。
The following is a brief description of an effect obtained by the representative one of the inventions disclosed in the present application.

すなわち、ワークの着脱を自動的に行うことができ、作
業効率を向上させることができる。また、リードの曲が
り変形などを防止し、確実な作業を安定して行うことが
できる。
That is, the work can be attached and detached automatically, and the work efficiency can be improved. Further, it is possible to prevent the lead from being bent and deformed, so that reliable work can be stably performed.

なお、本明細書において使用した用語である“着脱装
置”は、“挿入装置”または“抜取装置”をも含む広い
意味である。
The term "attaching / detaching device" used in this specification has a broad meaning including "insertion device" or "drawing device".

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例である着脱装置の概略的平面
図、 第2図はそのソケット蓋開放操作を示す部分断面図、 第3図はソケット蓋閉鎖操作を示す部分断面図、 第4図は本発明の他の実施例である着脱装置の平面図、 第5図はそのワーク保持状態を示す部分断面図、 第6図は接触端子開放状態を示す部分断面図である。 1……基台、2……フラットパッケージ形半導体装置
(FPP形IC)(ワーク)、2a……面実装形半導体装置
(面実装形IC)(ワーク)、3……エージング基板、4
……供給部、5……エージング基板搬送系、6……収納
部、7……ソケット、7a……押さえ突起、8……蓋開放
部、9……ワーク取出部、10……ワーク挿入部、11……
蓋閉鎖部、12……ワーク搬送系、13……ワーク供給部、
14……ワーク収納部、15……本体、16……軸、17……
蓋、18……収納孔、19……リード端子、20……接触端
子、21……軸、22……係止片、23……係止突起、24……
係止部、25……解除爪、26……蓋開放片、27……蓋閉鎖
用ころ、28……蓋閉鎖ブロック、30……ソケット、31…
…ベース、33……分岐部、34……上プレート(接触解除
部材)、35……開口、36……テーパ面、37……プッシャ
(押動体)。
FIG. 1 is a schematic plan view of an attaching / detaching device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partial sectional view showing a socket lid opening operation, and FIG. 3 is a partial sectional view showing a socket lid closing operation. FIG. 4 is a plan view of an attaching / detaching device according to another embodiment of the present invention, FIG. 5 is a partial sectional view showing a work holding state thereof, and FIG. 6 is a partial sectional view showing a contact terminal opened state. 1 ... Base, 2 ... Flat package type semiconductor device (FPP type IC) (work), 2a ... Surface mount type semiconductor device (surface mount IC) (work), 3 ... Aging board, 4
…… Supply part, 5 …… Aging board transfer system, 6 …… Storage part, 7 …… Socket, 7 a …… Pressing protrusion, 8 …… Lid opening part, 9 …… Work take-out part, 10 …… Work insertion part , 11 ……
Lid closing part, 12 …… Work transfer system, 13 …… Work supply part,
14 …… Work storage, 15 …… Main body, 16 …… Axis, 17 ……
Lid, 18 ... Storage hole, 19 ... Lead terminal, 20 ... Contact terminal, 21 ... Shaft, 22 ... Locking piece, 23 ... Locking protrusion, 24 ...
Locking part, 25 ... Release claw, 26 ... Lid opening piece, 27 ... Lid closing roller, 28 ... Lid closing block, 30 ... Socket, 31 ...
… Base, 33 …… Branch, 34 …… Upper plate (contact release member), 35 …… Opening, 36 …… Tapered surface, 37 …… Pusher (pushing body)

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】蓋付きのソケットを搭載したエージング基
板を搬送するエージング基板搬送系と、前記ソケットに
着脱されるワークを搬送するワーク搬送系と、前記エー
ジング基板搬送系の途中において前記ソケットの蓋を自
動開放または閉鎖し、該ソケットに対してワークの挿入
または取り出しを行うワーク着脱部とを備えてなる着脱
装置。
1. An aging board carrying system for carrying an aging board equipped with a socket with a lid, a work carrying system for carrying a work to be attached to and detached from the socket, and a lid for the socket in the middle of the aging board carrying system. And a work attaching / detaching unit for automatically inserting or removing the work and inserting or removing the work into or from the socket.
【請求項2】前記ソケットは、ソケット本体と、このソ
ケット本体に揺動開閉自在に取付けられた蓋と、ワーク
の端子と導電可能に接触する接触端子と、軸の回りで揺
動し、前記ソケット本体の係止部と係合可能な係止突起
を有する係止片とを備えてなることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の着脱装置。
2. A socket body, a lid mounted on the socket body so as to be capable of swinging open / close, a contact terminal for conductively contacting a terminal of a work, and a swinging shaft, The attachment / detachment device according to claim 1, further comprising: a locking piece having a locking projection capable of being engaged with the locking portion of the socket body.
【請求項3】前記ワーク着脱部が、前記ソケットの前記
係止片の一部と係合して該係止片を揺動させることによ
り、前記係止突起を前記ソケット本体の前記係止部から
離脱させかつ前記蓋を開放するよう動作する蓋開放手段
を有することを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の
着脱装置。
3. The work attachment / detachment portion engages with a part of the locking piece of the socket to swing the locking piece, whereby the locking projection is fixed to the locking portion of the socket body. The attachment / detachment device according to claim 2, further comprising a lid opening means that is operated so as to be detached from the lid and open the lid.
【請求項4】前記ワーク着脱部が、前記ソケットの前記
係止片と当接して押動することにより、前記蓋を閉鎖方
向に揺動させて閉鎖するよう動作する蓋閉鎖手段を有す
ることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の着脱装
置。
4. The work attaching / detaching portion has a lid closing means that operates to swing and close the lid in a closing direction by abutting and pushing the engaging piece of the socket. The attachment / detachment device according to claim 2, which is characterized.
【請求項5】ワークがフラットパッケージ形半導体装置
であることを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第
4項のいずれか1つに記載の着脱装置。
5. The attachment / detachment device according to claim 1, wherein the work is a flat package type semiconductor device.
【請求項6】蓋付きのソケットを搭載したエージング基
板を搬送するエージング基板搬送系と、前記ソケットに
着脱されるワークを搬送するワーク搬送系と、前記エー
ジング基板搬送系の途中に設けられ、前記ソケットの蓋
を開放する蓋開放部と、蓋を開放された前記ソケットか
らワークを取り出すワーク取出部と、前記ワーク搬送系
に沿って搬送されて来たワークを前記ソケット内に挿入
するワーク挿入部と、ワークを挿入された前記ソケット
の蓋を閉鎖する蓋閉鎖部とを備えてなる着脱装置。
6. An aging board carrying system for carrying an aging board equipped with a socket with a lid, a work carrying system for carrying a work to be attached to and detached from the socket, and an aging board carrying system provided in the middle of the aging board carrying system. A lid opening portion that opens the lid of the socket, a workpiece ejection portion that takes out a workpiece from the socket with the lid opened, and a workpiece insertion portion that inserts the workpiece conveyed along the workpiece conveyance system into the socket. And a lid closing part for closing the lid of the socket into which the work is inserted.
【請求項7】前記ソケットは、ソケット本体と、このソ
ケット本体に揺動開閉自在に取付けられた蓋と、ワーク
の端子と導電可能に接触する接触端子と、軸の回りで揺
動し、前記ソケット本体の係止部と係合可能な係止突起
を有する係止片とを備えてなることを特徴とする特許請
求の範囲第6項記載の着脱装置。
7. The socket includes a socket body, a lid attached to the socket body so as to be capable of swinging open / close, contact terminals for conductively contacting a terminal of a work, and a swinging shaft, 7. The attachment / detachment device according to claim 6, further comprising: a locking piece having a locking projection capable of being engaged with the locking portion of the socket body.
【請求項8】前記蓋開放部が、前記ソケットの前記係止
片の一部と係合して該係止片を揺動させることにより、
前記係止突起を前記ソケット本体の前記係止部から離脱
させかつ前記蓋を開放するように動作する蓋開放手段を
有することを特徴とする特許請求の範囲第6項または第
7項記載の着脱装置。
8. The lid opening portion engages with a part of the locking piece of the socket to swing the locking piece,
8. The attachment / detachment according to claim 6 or 7, further comprising a lid opening means that operates to detach the locking protrusion from the locking portion of the socket body and open the lid. apparatus.
【請求項9】前記蓋閉鎖部が、前記ソケットの前記係止
片と当接して押動することにより、前記蓋を閉鎖方向に
揺動させて閉鎖するよう動作する蓋閉鎖手段を有するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第7項記載の着脱装置。
9. The lid closing portion has a lid closing means that operates to swing and close the lid in a closing direction by abutting and pushing the locking piece of the socket. The attachment / detachment device according to claim 7, which is characterized.
【請求項10】ワークがフラットパッケージ形半導体装
置であることを特徴とする特許請求の範囲第6項ないし
第9項のいずれか1つに記載の着脱装置。
10. The attachment / detachment device according to claim 6, wherein the work is a flat package type semiconductor device.
【請求項11】ワークに接触する弾性変形自在の接触端
子が設けられたベースと前記接触端子のワークに対する
接触を解除する接触解除部材とを有するソケットを搭載
したエージング基板を搬送するエージング基板搬送系
と、このエージング基板搬送系に対してほぼ同一の水平
面内に設けられ、前記ソケットに着脱されるワークを前
記エージング基板と逆の方向に平行に搬送するワーク搬
送系と、前記エージング基板搬送系の途中において前記
ベースに向けて前記接触解除部材を押動手段により押動
して前記ソケットに対してワークの挿入または取り出し
を行う着脱部とを備えてなる着脱装置。
11. An aging substrate transport system for transporting an aging substrate having a socket having a base provided with elastically deformable contact terminals for contacting a work and a contact releasing member for releasing contact of the contact terminal with the work. And a work transfer system which is provided in substantially the same horizontal plane with respect to the aging board transfer system and which transfers a work to be attached to and detached from the socket in parallel to a direction opposite to the aging board, and an aging board transfer system. A mounting / demounting device comprising a mounting / demounting unit that pushes the contact release member toward the base by a pushing unit to insert or remove a work into or from the socket.
【請求項12】前記ソケットは、ベースと、このベース
に設けられ、ワーク挿入側が開閉可能な分岐部を有する
接触端子と、ワークを受け入れる開口を有し、前記ベー
スに向けて押動される時にはワークの端子を前記接触端
子から分離させかつ非押動時にはワークの端子を前記接
触端子と導電接触させる接触解除部材とからなることを
特徴とする特許請求の範囲第11項記載の着脱装置。
12. The socket has a base, a contact terminal provided on the base and having a branch portion capable of opening and closing the work insertion side, and an opening for receiving the work, and when pushed toward the base. 12. The attachment / detachment device according to claim 11, further comprising: a contact releasing member that separates the work terminal from the contact terminal and electrically contacts the work terminal with the contact terminal when the work terminal is not pushed.
【請求項13】ワークが面実装形半導体装置であること
を特徴とする特許請求の範囲第11項または第12項記載の
着脱装置。
13. The attachment / detachment device according to claim 11 or 12, wherein the work is a surface-mounted semiconductor device.
【請求項14】ワークに接触する弾性変形自在の接触端
子が設けられたベースと前記接触端子のワークに対する
接触を解除する接触解除部材とを有するソケットを搭載
したエージング基板を搬送するエージング基板搬送系
と、このエージング基板搬送系に対してほぼ同一の水平
面内に設けられ、前記ソケットに着脱されるワークを前
記エージング基板と逆の方向に平行に搬送するワーク搬
送系と、前記エージング基板搬送系の途中において前記
ソケット内にワークを挿入するワーク挿入部と、前記エ
ージング基板搬送系の途中において前記ソケットからワ
ークを取り出すワーク取出部と、このワーク取出部で前
記ソケットの接触解除部材を前記ベースに向けて押動し
てワークを該ソケットの接触端子と導電接触状態から分
離させる押動手段とからなる着脱装置。
14. An aging substrate carrying system for carrying an aging substrate equipped with a socket having a base provided with elastically deformable contact terminals for contacting a work and a contact releasing member for releasing contact of the contact terminal with the work. And a work transfer system which is provided in substantially the same horizontal plane with respect to the aging board transfer system and which transfers a work to be attached to and detached from the socket in parallel to a direction opposite to the aging board, and an aging board transfer system. A work insertion part for inserting a work into the socket on the way, a work take-out part for taking out a work from the socket in the middle of the aging board transfer system, and a contact release member of the socket facing the base at the work take-out part Pushing means for pushing and separating the work from the contact terminal of the socket from the conductive contact state; Ranaru removable devices.
【請求項15】前記ソケットの接触端子はワーク挿入側
が開閉可能な分岐部を有し、この分岐部は、前記押動手
段が前記接触解除部材に向けて押動される時にはワーク
の端子を該分岐部から分離させかつ非押動時にはワーク
の端子を該分岐部を導電接触させるよう開閉することを
特徴とする特許請求の範囲第14項記載の着脱装置。
15. The contact terminal of the socket has a branch portion that can be opened and closed on the workpiece insertion side, and the branch portion connects the work terminal when the pushing means is pushed toward the contact releasing member. 15. The attachment / detachment device according to claim 14, wherein the attachment / detachment device is separated from the branch portion and the terminal of the work is opened / closed so as to electrically contact the branch portion when not pushed.
【請求項16】ワークが面実装形半導体装置であること
を特徴とする特許請求の範囲第14項または第15項記載の
着脱装置。
16. The attachment / detachment device according to claim 14 or 15, wherein the work is a surface-mounted semiconductor device.
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