JPS62169062A - Mounting and dismounting apparatus - Google Patents

Mounting and dismounting apparatus

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JPS62169062A
JPS62169062A JP61010072A JP1007286A JPS62169062A JP S62169062 A JPS62169062 A JP S62169062A JP 61010072 A JP61010072 A JP 61010072A JP 1007286 A JP1007286 A JP 1007286A JP S62169062 A JPS62169062 A JP S62169062A
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socket
workpiece
lid
attachment
transport system
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Shunichiro Fujioka
俊一郎 藤岡
Michio Tanimoto
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Abstract

PURPOSE:To improve work efficiency and reduce man-hours by automatically performing the insertion and/or takeout of a work for a lidded or lidless socket. CONSTITUTION:An aging substrate 3 with a lid 17 closed and provided with a plurality of sockets 7 is set to the supplying portion 4 of a mount 1. The substrate 3 is transferred to a lid opening portion 8 wherein a lid opening piece 26 is operated to release the lid 17 from a body 15. When the substrate 3 reaches a work takeout portion 9 in this condition wherein the lid is opened, a semiconductor device 2 that has been subjected to an aging is taken out from the socket 7 and accommodated in a work container 14 by a transfer system 12. The vacant socket 7 is fed to a work inserting portion 10 wherein another semiconductor device 2 that has not been subjected to the aging and transferred by the transfer system 12 is accommodated in the socket 7. The socket that has accommodated the semiconductor device 2 are fed to a lid closing portion 11 wherein the lid 17 is closed by a lid closing block to become a condition capable of the aging.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野〕 本発明は、半導体製造装置に係り、特に半導体のエージ
ング処理においてエージング処理用エージング基板に半
導体装置を挿入、取り出しするのに適用して有効な技術
に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to semiconductor manufacturing equipment, and is particularly applicable to inserting and removing a semiconductor device from an aging substrate for aging processing in semiconductor aging processing. It's about technology.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

エージングされる半導体装置を着脱するソケットなどは
、株式会社工業調査会、昭和60年11月20日発行、
[電子材料J 1986年版、P222〜P226に3
己載されてし)る。
Sockets for attaching and detaching aging semiconductor devices, etc., are published by Kogyo Kenkyukai Co., Ltd., November 20, 1985,
[Electronic Materials J 1986 edition, P222-3 on P226
(I was posted).

ところで、−Cに半導体装置はパッケージの両側にり(
部リードを下方へ折り曲げたD I L (DualI
n Line)タイプのパッケージおよびパッケージの
4辺より外側にリードが張り出しているフラットタイプ
たとえばP P P (Flat Plastic P
ackage)さらにはたとえばPl、CC(Plas
tic Leaded ChipCarrier)など
の面実装形パッケージよりなる半導体装置その他に分け
られる。
By the way, the semiconductor device is placed on both sides of the package at -C (
D I L (Dual I) with the lead bent downward.
n Line) type packages and flat types with leads protruding outside the four sides of the package, such as P P P (Flat Plastic P
ackage) Furthermore, for example, Pl, CC (Plas
It is divided into semiconductor devices consisting of surface mount type packages such as tic leaded chip carriers and others.

製品の品質検査の1手段として半導体製造工程において
、製品に動作電圧を印加しかつ高温に長時間放置するエ
ージング工程がある。
2. Description of the Related Art As a means of inspecting the quality of products, there is an aging process in the semiconductor manufacturing process in which an operating voltage is applied to the product and the product is left at a high temperature for a long period of time.

このエージング工程における作業は半導体装置を収納す
るための治具(以下ソケットと記す)を有するエージン
グ用25 +wを用い、従来は手作業にて半導体装置を
ソケットに挿入したり取り出していた。
The work in this aging process uses an aging 25+w having a jig (hereinafter referred to as a socket) for accommodating the semiconductor device, and conventionally, the semiconductor device was manually inserted into and taken out from the socket.

また、近年ではDSLタイプの半導体装置に関して、こ
のエージング基板ソケットへの挿入、取り出しを自動で
行う装置の出現を見ている。
Furthermore, in recent years, we have seen the emergence of devices that automatically insert and remove DSL type semiconductor devices into and from aging board sockets.

一方、フラットタイプの半導体装置に関しては、パッケ
ージの4辺よりリードが張り出していることから従来の
ソケットを用いて半導体装置もソケット本体の中の接触
端子の中に押し込む方式がとれない。
On the other hand, with respect to flat type semiconductor devices, since the leads protrude from the four sides of the package, it is not possible to use a conventional socket and push the semiconductor device into the contact terminals in the socket body.

そこで、フラットタイプの半導体装置を用いるときは、
半導体装置を挿入する時ソケット蓋ロック爪をソケット
蓋口、り開方向に動かし、次にソケット蓋をソケット盈
開方向に動かしてソケット本体へ挿入し、次いでソケッ
ト蓋をソケットM閉方向に動かし、次にソケットMロッ
ク爪をソケット蓋ロツク閉方向に1すJかしていた。ま
た、半導体装置をソケットより取り出す時は前記動作の
逆を行うことにより作業していた。
Therefore, when using a flat type semiconductor device,
When inserting a semiconductor device, move the socket lid lock claw in the socket lid opening direction, then move the socket lid in the socket opening direction and insert it into the socket body, then move the socket lid in the socket M closing direction, Next, the socket M lock claw was moved 1 J in the socket cover lock closing direction. Furthermore, when a semiconductor device is taken out from a socket, the operation is performed in reverse.

(発明が解決しようとする問題点〕 ところが、前記方法では作業工数が増大するばかりか作
業者による外部リードの変形など多くの問題が発生する
ことが本発明者により見い出された。
(Problems to be Solved by the Invention) However, the present inventors have found that the method described above not only increases the number of work steps but also causes many problems such as deformation of the external lead by the worker.

また、自動化においても、このソケットHの開閉動作が
ネックとなり容易に進まないことが本発明者によって見
い出された。
The inventors have also discovered that the opening and closing operations of the socket H become a bottleneck in automation, making it difficult to proceed easily.

本発明の目的は、半導体装置を外部リードの変形などな
くエージング基板上のソケットに自動的に挿入し、また
エージング基板上のソケットから取り出す装置を提供す
ることにより、作業効率の向上、工数の低減および高品
質化を容易にする技術手段を提供することにある。
An object of the present invention is to improve work efficiency and reduce man-hours by providing a device that automatically inserts a semiconductor device into a socket on an aging board without deforming external leads, and takes it out from a socket on an aging board. and to provide technical means to facilitate quality improvement.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。
A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、エージング基板に搭載した蓋付きのソケット
の蓋を酸エージング基板の搬送途中で自動的に開放また
は閉鎖可能とし、該ソケットに対するワークの挿入また
は取り出しの一方あるいは両方を自動的に行うものであ
る。
That is, the lid of a socket with a lid mounted on the aging board can be automatically opened or closed during the transportation of the acid-aged board, and a workpiece is automatically inserted into and/or taken out of the socket. .

また、他の発明によれば、エージング基板に搭載される
ソケットが苦を有しておらず、このソケットに対しては
、エージング基板の搬送途中で自動的に該ソケットに対
するワークの挿入または取り出しの一方または両方を行
うものである。
Further, according to another invention, the socket mounted on the aging board does not have any trouble, and the workpiece can be automatically inserted into or taken out from the socket while the aging board is being transported. It does one or both.

〔作用〕[Effect]

前記した手段によれば、蓋付きまたは蓋なしのソケット
に対するワークの挿入または取り出しの一方あるいは両
方を自動で行うことができ、手作業を要しないので、作
業効率の向上、工数の低減、さらには高品質化が可能ど
なる。
According to the above-mentioned means, it is possible to automatically insert and/or take out a workpiece into a socket with a lid or without a lid, and no manual work is required, thereby improving work efficiency, reducing man-hours, and High quality is possible.

〔実施例1〕 第1図は本発明の一実施例である着脱装置の概略的平面
図、第2図はそのソケット蓋開放操作を示す部分断面図
、第3図はソケット蓋閉鎖操作を示す部分断面図である
[Embodiment 1] Fig. 1 is a schematic plan view of an attachment/detachment device that is an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a partial cross-sectional view showing the socket lid opening operation, and Fig. 3 shows the socket lid closing operation. FIG.

本実施例1は、本発明をいわゆるフラットパッケージ形
半導体装置のソケットへの着脱に適用するものである。
In the first embodiment, the present invention is applied to attaching and detaching a so-called flat package type semiconductor device to and from a socket.

本実施例1において、着脱装置の基台1の上では、フラ
ットパッケージ形半導体gW (F P P形IC)2
(ワーク)をエージングにより検査するためのエージン
グ基板3が供給部4から矢印A方向、さらにはB方向を
経てエージング基板搬送系5にIQって、収納部6まで
順次搬送される。このエージング基板3の上には、FP
P形IC2の挿入、取り出しを受けるソケット7が多数
設置されている。各ソケット7にはそれぞれ1個ずつの
被エージングIC2が挿入され、所定のエージング検査
完了後に取り出されるものであり、これらの挿入、取り
出しなどは本実施例においてはすべて自動的に行われる
In the first embodiment, on the base 1 of the attachment/detachment device, a flat package type semiconductor gW (F P P type IC) 2
Aging substrates 3 for inspecting (workpieces) by aging are sequentially conveyed from a supply section 4 in the direction of arrow A and further in the direction of arrow B to an aging substrate conveyance system 5 to a storage section 6. On this aging board 3, there is an FP
A large number of sockets 7 are provided for inserting and removing P-type ICs 2. One IC 2 to be aged is inserted into each socket 7 and taken out after a predetermined aging test is completed, and these insertions and removals are all performed automatically in this embodiment.

前記エージング)is板搬送系5に沿って搬送されるエ
ージング基牟反3」二のソケット7にFPP形IC2を
挿入したり、また取り出したりするため、該エージング
基板シ′没送系5に沿って第1図の左から右にかけて、
ソノ】−ノド7の蓋を開放するだめの蓋開放部8と、ソ
ゲノド7からFPP形IC2を取り出すためのワーク取
出部9と、ソケット7にFPP形[C2を挿入するため
のワーク挿入部10と、ソケッl−7の蓋を閉じる蓋閉
鎖部11とが順次配置されている。
In order to insert and take out the FPP type IC 2 into and out of the socket 7 of the aging board 3' transported along the aging board transport system 5, the aging board is transported along the aging board transport system 5. From left to right in Figure 1,
- A lid opening part 8 for opening the lid of the throat 7, a workpiece take-out part 9 for taking out the FPP type IC2 from the throat 7, and a workpiece insertion part 10 for inserting the FPP type IC2 into the socket 7. and a lid closing part 11 for closing the lid of the socket l-7 are arranged in this order.

一方、基台1の一■−には、前記エージング基板搬送系
5と平行に、エージングされるFPP形IC2を供給す
るワーク搬送系12が設けられている。
On the other hand, on one side of the base 1, a workpiece conveyance system 12 is provided in parallel with the aging substrate conveyance system 5 for supplying FPP type ICs 2 to be aged.

すなわち、このワーク搬送系12はエージング基板搬送
系5のエージング基板搬送方向とは逆方向にFPP形I
C2を矢印C,Dで示す如く、第1図の右から左に搬送
するものである。したがって、未エージングのFPP形
IC2の供給部であるワーク供給部13はワーク搬送系
12の右端に、またエージング完了後のFPP形IC2
を収納するワーク収納部14は左端側に位置している。
That is, this workpiece transfer system 12 is connected to the FPP type I in the opposite direction to the aging substrate transfer direction of the aging substrate transfer system 5.
C2 is conveyed from right to left in FIG. 1 as indicated by arrows C and D. Therefore, the work supply section 13, which is the supply section for the unaged FPP type IC2, is located at the right end of the workpiece conveyance system 12, and the FPP type IC2 after the aging is completed.
The work storage section 14 that stores the workpieces is located on the left end side.

次に、FPP形1c2を収納するソケット7について説
明すると、本実施例1のソケット7は、本体15と、こ
の本体15に軸16の回りで揺動可能に取付けた117
と、ソケット7の収納孔18に収納されたFPP形IC
2のリード端子19と接触する接触端子20と、117
の自由端側に軸21の回りで揺動可能に取付けられた係
止片22と、この係止片22の一端に設けられた係止突
起23と、この係止突起23と解除可能に係合して蓋1
7を本体15に係止する係止部24とを有している。ま
た、蓋開放部8には、前記ソケット7の前記係止片22
の解除型25と係合してM17を開放する蓋開放片26
が設けられている。この蓋開放片26は蓋17の開放の
ため、第2図にEで示す軌跡に沿って動作する。
Next, the socket 7 that accommodates the FPP type 1c2 will be explained. The socket 7 of the first embodiment includes a main body 15 and a 117 that is attached to the main body 15 so as to be able to swing around a shaft 16.
and an FPP type IC stored in the storage hole 18 of the socket 7.
A contact terminal 20 that contacts the lead terminal 19 of No. 2, and 117
A locking piece 22 is attached to the free end side so as to be swingable around a shaft 21, a locking protrusion 23 provided at one end of this locking piece 22, and a locking protrusion 23 is releasably engaged with the locking protrusion 23. Combine lid 1
7 to the main body 15. Further, the locking piece 22 of the socket 7 is provided in the lid opening part 8.
A lid opening piece 26 that engages with the release mold 25 to open M17.
is provided. The lid opening piece 26 moves along a trajectory indicated by E in FIG. 2 in order to open the lid 17.

一方、蓋閉鎖部11は、第3図に示すように、蓋閉積用
ころ27を有する型閉鎖ブロック28を備えている。こ
の型閉鎖ブロック28は第3図の軌跡Fに沿って動作す
ることによりソケット7のl117を閉鎖し、係止片2
2の係止突起23を本体15の係止部24と係合させて
117を本体15に対して口、りする。
On the other hand, the lid closing section 11 includes a mold closing block 28 having lid closing rollers 27, as shown in FIG. This mold closing block 28 closes l117 of the socket 7 by moving along the locus F in FIG.
The locking protrusion 23 of No. 2 is engaged with the locking portion 24 of the main body 15, so that the locking projection 117 is opened against the main body 15.

次に、本実施例の作用について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

まず、基台1の供給部4に、M17を閉鎖したソケット
7を複数設置したエージング基板3をセットし、またワ
ーク供給部13には、未エージングのFPP形IC2を
治具に入れた状態でセットする。その後、着脱装置を起
動させ、エージング基板3を矢印Aの方向にエージング
254反搬送系5に沿って搬送すると、エージング基板
3は順次蓋開放部8に到達する。
First, the aging board 3 with a plurality of sockets 7 with M17 closed is set in the supply section 4 of the base 1, and the unaged FPP IC 2 is placed in a jig in the workpiece supply section 13. set. Thereafter, when the attachment/detachment device is activated and the aging substrates 3 are conveyed along the aging 254 anti-conveying system 5 in the direction of arrow A, the aging substrates 3 sequentially reach the lid opening section 8.

この蓋開放部8においては、図示しない駆動手段により
蓋開放片26が解除型25と係合して軌跡已に沿って動
作することにより、係止片22の係止突起23を本体1
5の係止部24から解除し、兼17を軸16の回りで揺
動させ、本体15から開放する。
In this lid opening part 8, the lid opening piece 26 engages with the release mold 25 and moves along the trajectory by a driving means (not shown), thereby moving the locking protrusion 23 of the locking piece 22 to the main body 1.
5 from the locking part 24, and swings the part 17 around the shaft 16 to release it from the main body 15.

この蓋開放状態でエージング基板3がワーク取出部9に
来ると、ソケット7内にエージングを完了したFPP形
IC2があった時には、図示しない真空吸着手段などに
よりソケット7から取り出し、矢印Gの方向にワーク搬
送系12まで移送して空の治具の中に収納する。このよ
うにしてエージング済みのFPP形IC2を収納した治
具は矢印りに示す如く収納部14に収納される。
When the aging board 3 comes to the workpiece take-out part 9 with the lid open, if there is an FPP type IC 2 that has completed aging in the socket 7, it is taken out from the socket 7 by a vacuum suction means (not shown) and moved in the direction of arrow G. The workpiece is transferred to the workpiece transport system 12 and stored in an empty jig. The jig containing the aged FPP IC 2 in this manner is stored in the storage section 14 as shown by the arrow.

また、前記の如< FPP形1c2を取り出されて空に
なったソケット7はワーク挿入部10に搬送される。そ
して、この位置では、図示しない真空吸着手段などでワ
ーク搬送系12の治具から未エージングのFPP形IC
2を矢印11方向に移送し、そのリード端子19がソケ
、ドアの本体15の接触端子20の上に載置されるよう
にしてソケット7内に収納する。
Further, the empty socket 7 from which the FPP type 1c2 has been taken out as described above is conveyed to the workpiece insertion section 10. At this position, the unaged FPP type IC is removed from the jig of the workpiece transfer system 12 using a vacuum suction means (not shown) or the like.
2 is transferred in the direction of arrow 11 and housed in the socket 7 so that its lead terminal 19 is placed on the contact terminal 20 of the main body 15 of the socket and door.

ソケット7に未エージングのFPP形TC2を収納した
エージング基板3はさらに蓋閉鎖部11に送られ、ここ
では第3図に示す如く型閉鎖ブロック28を軌跡Fに沿
って動作させることにより、ソケット7のM17は軸1
Gの回りで13動し、係止片22の係止突起23を本体
15の係止部24に係合させて蓋17を閉鎖する。それ
により、蓋7の押さえ突起7aがFPP形IC2のリー
ド端子19を接触端子20に押圧して両端子19と20
を互いに導電接触させるので、エージング検査が可能な
状態となる。
The aging board 3 containing the unaged FPP type TC2 in the socket 7 is further sent to the lid closing section 11, where the socket 7 is moved by moving the mold closing block 28 along the trajectory F as shown in FIG. M17 is axis 1
13 around G, the locking protrusion 23 of the locking piece 22 is engaged with the locking part 24 of the main body 15, and the lid 17 is closed. As a result, the pressing protrusion 7a of the lid 7 presses the lead terminal 19 of the FPP type IC 2 against the contact terminal 20, and both terminals 19 and 20
Since they are brought into conductive contact with each other, aging inspection becomes possible.

したがって、このソケット7をエージング基板3と共に
収納部6に収納される。
Therefore, this socket 7 is stored in the storage section 6 together with the aging board 3.

このように、本実施例1によれば、以下の効果を得るこ
とができる。
As described above, according to the first embodiment, the following effects can be obtained.

(1)、エージング基板3上のソケット7へのFPP形
IC2の挿入および取り出しを自動的に行うことができ
るので、極めて効率的な着脱作業が可能である。
(1) Since the FPP type IC 2 can be automatically inserted into and taken out from the socket 7 on the aging board 3, extremely efficient attachment/detachment work is possible.

(2)、前記+11により、手作業での着脱により発生
していた外部リード端子の曲がり変形などを防止できる
(2) The above +11 can prevent bending and deformation of the external lead terminals that would otherwise occur due to manual attachment and detachment.

(3)、前記(11により、作業工数の低減が可能であ
る。
(3) According to (11) above, it is possible to reduce the number of work steps.

(4)、前記(11により、作業者の熟練度に左右され
ることなく、確実な作業を安定して行うことができ〔実
施例2〕 第4図は本発明の他の実施例である着脱装置の平面図、
第5図はそのワーク保持状態を示す部分断面図、第6図
は接触端子開放状態を示す部分断面図である。
(4) According to the above (11), reliable and stable work can be performed without being affected by the skill level of the worker [Example 2] Fig. 4 shows another example of the present invention. A plan view of the attachment/detachment device;
FIG. 5 is a partial sectional view showing the workpiece holding state, and FIG. 6 is a partial sectional view showing the contact terminal open state.

本実施例2は、ワークとしてPLCCなどの面実装形半
導体装置(面実装形IC)2aをエージング検査するた
めのワーク着脱に適用したものである。すなわち、この
種の1c2aの場合には外部リード端子が突出した構造
ではないので、上下方向からのリード端子圧接挟持によ
り接触端子との導電接触を行うことができない。そこで
、本実施例2では、エージング基板3上に配設されるソ
ケット30は、前記実施例1のように蓋を有しておらず
、ベース31と、このベース31の上下方向に貫通して
取付けられ、その上端部が弾性的に開閉可能な二叉状の
分岐部33をそれぞれ有する接触端子32と、この接触
端子32の分岐部33に対して嵌装された上プレート3
4と、この上ブレート34のワーク挿入用の開口35の
外側に形成され、該プレート34が押し下げられた時に
分岐部33の内側部分を外側方向に押圧して面実装形I
C2aの導電部を該分岐部33を分離させるテーパ面3
6とを有している。この上プレート34を下方に押動さ
せる押動体としてのブツシャ37は、たとえば面実装形
IC2aを真空吸着して搬送するヘッド(図示せず)に
取付けて該ブツシャ37と共に上下方向に動作するもの
とすることができる。
Embodiment 2 is applied to workpiece attachment/detachment for aging inspection of a surface-mounted semiconductor device (surface-mounted IC) 2a such as a PLCC as a workpiece. That is, in the case of this type of 1c2a, since the external lead terminal does not have a protruding structure, conductive contact with the contact terminal cannot be made by pressing and holding the lead terminal from above and below. Therefore, in the second embodiment, the socket 30 disposed on the aging board 3 does not have a lid as in the first embodiment, but extends through the base 31 in the vertical direction. Contact terminals 32 each having a bifurcated branch 33 whose upper end can be elastically opened and closed, and an upper plate 3 fitted onto the branch 33 of the contact terminal 32.
4, and is formed on the outside of the opening 35 for inserting a workpiece in the upper plate 34, and when the plate 34 is pushed down, the inner part of the branching part 33 is pressed outward to form a surface mount type I.
Tapered surface 3 that separates the conductive part of C2a from the branch part 33
6. The pusher 37, which serves as a pushing body for pushing the upper plate 34 downward, is attached to a head (not shown) that carries the surface mount IC 2a by vacuum suction, for example, and moves in the vertical direction together with the pusher 37. can do.

このようなソケット30を使用する本実施例2の着脱装
置は第4図に示すように、ソケット30の蓋の開閉が不
要であることにより、前記実施例1の蓋開放部8と蓋閉
鎖部11とを省略できるため構造が筒車となるが、それ
以外は実施例1と実質的に同しであるので、対応部分に
は実施例1と同一の符号を付してその詳細な説明は省略
する。
As shown in FIG. 4, the attachment/detachment device of the second embodiment using such a socket 30 eliminates the need to open and close the lid of the socket 30, so that the lid opening part 8 and the lid closing part of the first embodiment are not required. 11 can be omitted, so the structure becomes an hour wheel, but other than that, the structure is substantially the same as in Embodiment 1, so corresponding parts are given the same reference numerals as in Embodiment 1, and detailed explanation thereof will be omitted. Omitted.

次に、本実施例2におけるソケット30へのワーク収納
動作について説明すると、ワークの一例である面実装形
1c2aはワーク取出部9では、第6図に示すように、
上プレート34をブツシャ37で押し下げることにより
、該上プレート34のテーパ面36によって接触端子3
2の分岐部33の内側部分を外側に弾性的に撓ませ、接
触端子32の分岐部33を面実装形IC2aの導電部か
ら分離させる。したがって、この状態で真空吸着手段(
図示せず)によってエージング完了後の面実装形1c2
aを開口35を経てソケット30から取り出すことがで
きる。
Next, to explain the operation of storing a workpiece into the socket 30 in the second embodiment, the surface mount type 1c2a, which is an example of the workpiece, is placed in the workpiece take-out section 9 as shown in FIG.
By pushing down the upper plate 34 with the button 37, the contact terminal 3 is pushed down by the tapered surface 36 of the upper plate 34.
The inner portion of the branch portion 33 of the contact terminal 32 is elastically bent outward to separate the branch portion 33 of the contact terminal 32 from the conductive portion of the surface-mounted IC 2a. Therefore, in this state, the vacuum suction means (
surface mount type 1c2 after aging is completed by
a can be removed from the socket 30 through the opening 35.

一方、ブツシャ37による押し下げ力を解除すると、第
5図に示す如く、上プレート34は接触端子32の分岐
部33の弾性復帰力とテーパ面36の働きにより内側に
戻り、面実装形IC2aの導電部と導電接触し、エージ
ング検査を行うことが可能となる。
On the other hand, when the push-down force by the pusher 37 is released, the upper plate 34 returns inward due to the elastic restoring force of the branch portion 33 of the contact terminal 32 and the action of the tapered surface 36, as shown in FIG. This makes it possible to conduct an aging test by making conductive contact with the parts.

このように、本実施例2によれば、以下の効果を得るこ
とができる。
As described above, according to the second embodiment, the following effects can be obtained.

+11.iのないソケy l・30と、分岐部33を持
つ接触端子32とを存することにより、面実装形IC2
aを容易に自動着脱してエージング検査することができ
る。
+11. By having a socket y 30 without an i and a contact terminal 32 having a branch part 33, the surface mount type IC 2
A can be easily automatically attached and detached for aging inspection.

+2+、 iij記(1)により、装Hwの構造が掻め
て簡単とな机 (3)、また、本実施例1では、前記実施例2により得
られる効果も併せて得ることができる。
+2+, By (1), the structure of the mounting Hw can be simplified (3), and in the present Example 1, the effects obtained by the above-mentioned Example 2 can also be obtained.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更Fi
J能であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained based on Examples above, the present invention is not limited to the above Examples, and various modifications may be made without departing from the gist of the invention.
Needless to say, it is J-Noh.

たとえば、ワークの着脱手段や搬送手段などとしては任
意のものを使用できる。
For example, any means can be used as the workpiece attachment/detachment means, conveyance means, etc.

また、本発明の着脱装置はワークの取り出しまたは挿入
のいずれか一方にのみに専用の装置として構成してもよ
い。すなわち、本発明は着脱装置のみならず、挿入装置
、抜取装置の各専用装置とすることができる。
Further, the attachment/detachment device of the present invention may be configured as a device exclusively for either taking out or inserting a workpiece. That is, the present invention can be applied not only to the attachment/detachment device but also to dedicated devices for the insertion device and the extraction device.

また、ソケットの接触端子形状は本実施例に限定される
ものではなく、ワンタッチで開閉ができるものであれば
種々の形態のものが使用できる。
Further, the shape of the contact terminal of the socket is not limited to this embodiment, and various shapes can be used as long as the socket can be opened and closed with one touch.

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその利用分野であるFPP形およびPLCC形半導体
装置の着脱に適用した場合について説明したが、それに
限定されるものではなく、たとえば、それ以外のパッケ
ージ形式の半導体装置などに適用してもよい。
In the above description, the invention made by the present inventor was mainly applied to the field of application of the invention, which is the attachment and detachment of FPP type and PLCC type semiconductor devices, but is not limited thereto. It may also be applied to other types of semiconductor devices.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を節単に説明すれば、下記の通りである
A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、ワークの着脱を自動的に行うことができ、作
業効率を向」ニさせることができる。また、リードの曲
がり変形などを防止し、確実な作業を安定して行うこと
ができる。
That is, the workpiece can be automatically attached and detached, and work efficiency can be improved. In addition, bending and deformation of the lead can be prevented, and work can be performed reliably and stably.

なお、本明細書において使用した用語である“着脱装置
”は、“挿入装置”または“抜取装置”をも含む広い意
味である。
Note that the term "detachable device" used in this specification has a broad meaning that also includes "insertion device" or "extraction device."

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例である着脱装置の概略的平面
図、 第2図はそのソケット蓋開放操作を示す部分断面図、 第3図はソケット蓋閉鎖操作を示す部分断面図、第4図
は本発明の他の実施例である着脱装置の平面図、 第5図はそのワーク保持状態を示す部分断面図、第6図
は接触端子開放状態を示す部分断面図である。 1・・・基台、2・・・フラットパッケージ形半導体装
置(FPP形I C)(ワーク)、2a−−・面実装形
半導体装置(面実装形I C)(ワーク)、3・・・エ
ージング基板、4・・・供給部、5・・・エージング基
板搬送系、6・・・収納部、7・・・ソケット、7a・
・・押さえ突起、8・・・蓋開放部、9・・・ワーク取
出部、10・・・ワーク挿入部、11・・・蓋閉鎖部、
12・・・ワーク搬送系、13・ ・ワーク供給部、1
4・・・ワーク収納部、15・・・本体、16・・・軸
、17・・ 冷、18・・・収納孔、19・・・リード
端子、20・・・接触端子、21・・・軸、22・・・
係止片、23・・・係止突起、24・・・係止部、25
・・・解除爪、26・・・蓋開放片、27・・・蓋閉鎖
部ころ、28・・・蓋閉鎖ブロック、30・・・ソケッ
ト、31・・・ベース、33・・・分岐部、34・・・
上プレート、35・・・開口、36・・・テーパ面、3
7・・・ブツシャ(押動体)。 第  1  図 3−1−:゛゛〜7〜7 ギ゛秋収鵞内部 竿  2  図 !!−′−一 26+  、、、、、/ □F ム        Y 第4図 第  5  図 第  6  図
FIG. 1 is a schematic plan view of an attachment/detachment device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partial sectional view showing the socket lid opening operation, FIG. 3 is a partial sectional view showing the socket lid closing operation, and FIG. FIG. 4 is a plan view of an attachment/detachment device according to another embodiment of the present invention, FIG. 5 is a partial sectional view showing the workpiece holding state, and FIG. 6 is a partial sectional view showing the contact terminal in the open state. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Base, 2... Flat package type semiconductor device (FPP type IC) (work), 2a-- Surface mount type semiconductor device (surface mount type IC) (work), 3... Aging board, 4... Supply unit, 5... Aging board transfer system, 6... Storage unit, 7... Socket, 7a.
... Holding projection, 8... Lid opening part, 9... Workpiece take-out part, 10... Workpiece insertion part, 11... Lid closing part,
12... Workpiece conveyance system, 13... Workpiece supply section, 1
4... Work storage part, 15... Main body, 16... Shaft, 17... Cold, 18... Storage hole, 19... Lead terminal, 20... Contact terminal, 21... Axis, 22...
Locking piece, 23... Locking protrusion, 24... Locking portion, 25
...Release claw, 26...Lid opening piece, 27...Lid closing part roller, 28...Lid closing block, 30...Socket, 31...Base, 33... Branch part, 34...
Upper plate, 35... Opening, 36... Tapered surface, 3
7...butsusha (pushing body). 1st Figure 3-1-:゛゛~7~7 Ghi Autumn Harvest Goose Inner Rod 2 Figure! ! −′−126+ 、、、、/ □F M Y Figure 4 Figure 5 Figure 6

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、蓋付きのソケットを搭載したエージング基板を搬送
するエージング基板搬送系と、前記ソケットに着脱され
るワークを搬送するワーク搬送系と、前記エージング基
板搬送系の途中において前記ソケットの蓋を自動開放ま
たは閉鎖し、該ソケットに対してワークの挿入または取
り出しを行うワーク着脱部とを備えてなる着脱装置。 2、前記ソケットは、ソケット本体と、このソケット本
体に揺動開閉自在に取付けられた蓋と、ワークの端子と
導電可能に接触する接触端子と、軸の回りで揺動し、前
記ソケット本体の係止部と係合可能な係止突起を有する
係止片とを備えてなることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の着脱装置。 3、前記ワーク着脱部が、前記ソケットの前記係止片の
一部と係合して該係止片を揺動させることにより、前記
係止突起を前記ソケット本体の前記係止部から離脱させ
かつ前記蓋を開放するよう動作する蓋開放手段を有する
ことを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の着脱装置
。 4、前記ワーク着脱部が、前記ソケットの前記係止片と
当接して押動することにより、前記蓋を閉鎖方向に揺動
させて閉鎖するよう動作する蓋閉鎖手段を有することを
特徴とする特許請求の範囲第2項記載の着脱装置。 5、ワークがフラットパッケージ形半導体装置であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第4項記載
のいずれか1つに記載の着脱装置。 6、蓋付きのソケットを搭載したエージング基板を搬送
するエージング基板搬送系と、前記ソケットに着脱され
るワークを搬送するワーク搬送系と、前記エージング基
板搬送系の途中に設けられ、前記ソケットの蓋を開放す
る蓋開放部と、蓋を開放された前記ソケットからワーク
を取り出すワーク取出部と、前記ワーク搬送系に沿って
搬送されて来たワークを前記ソケット内に挿入するワー
ク挿入部と、ワークを挿入された前記ソケットの蓋を閉
鎖する蓋閉鎖部とを備えてなる着脱装置。 7、前記ソケットは、ソケット本体と、このソケット本
体に揺動開閉自在に取付けられた蓋と、ワークの端子と
導電可能に接触する接触端子と、軸の回りで揺動し、前
記ソケット本体の係止部と係合可能な係止突起を有する
係止片とを備えてなることを特徴とする特許請求の範囲
第6項記載の着脱装置。 8、前記蓋開放部が、前記ソケットの前記係止片の一部
と係合して該係止片を振動させることにより、前記係止
突起を前記ソケット本体の前記係止部から離脱させかつ
前記蓋を開放するよう動作する蓋開放手段を有すること
を特徴とする特許請求の範囲第6項または第7項記載の
着脱装置。 9、前記蓋閉鎖部が、前記ソケットの前記係止片と当接
して押動することにより、前記蓋を閉鎖方向に揺動させ
て閉鎖するよう動作する蓋閉鎖手段を有することを特徴
とする特許請求の範囲第7項記載の着脱装置。 10、ワークがフラットパッケージ形半導体装置である
ことを特徴とする特許請求の範囲第6項ないし第9項の
いずれか1つに記載の着脱装置。 11、ソケットを搭載したエージング基板を搬送するエ
ージング基板搬送系と、前記ソケットに着脱されるワー
クを搬送するワーク搬送系と、前記エージング基板搬送
系の途中において前記ソケットに対してワークの挿入ま
たは取り出しを行うワーク着脱部とを備えてなる着脱装
置。 12、前記ソケットは、ベースと、このベースに設けら
れ、ワーク挿入側が開閉可能な分岐部を有する接触端子
と、ワークを受け入れる開口を有し、前記ベースに向け
て押動される時にはワークの端子を前記接触端子から分
離させかつ非押動時にはワークの端子を前記接触端子と
導電接触させる押動体とからなることを特徴とする特許
請求の範囲第11項記載の着脱装置。 13、ワークが面実装形半導体装置であることを特徴と
する特許請求の範囲第11項または第12項記載の着脱
装置。 14、ソケットを搭載したエージング基板を搬送するエ
ージング基板搬送系と、前記ソケットに着脱されるワー
クを搬送するワーク搬送系と、前記エージング基板搬送
系の途中において前記ソケット内にワークを挿入するワ
ーク挿入部と、前記エージング基板搬送系の途中におい
て前記ソケットからワークを取り出すワーク取出部と、
このワーク取出部で前記ソケットの押動体をベースに向
けて押動してワークを該ソケットの接触端子と導電接触
状態から分離させる押動手段とからなる着脱装置。 15、前記ソケットの接触端子はワーク挿入側が開閉可
能な分岐部を有し、この分岐部は、前記押動体が前記ベ
ースに向けて押動される時にはワークの端子を該分岐部
から分離させかつ非押動時にはワークの端子を該分岐部
を導電接触させるよう開閉することを特徴とする特許請
求の範囲第14項記載の着脱装置。 16、ワークが面実装形半導体装置であることを特徴と
する特許請求の範囲第14項または第15項記載の着脱
装置。
[Scope of Claims] 1. An aging board transport system that transports an aging board equipped with a socket with a lid; a work transport system that transports a workpiece to be attached to and removed from the socket; A workpiece attachment/detachment device comprising a workpiece attachment/detachment section that automatically opens or closes a socket lid and inserts or takes out a workpiece into or out of the socket. 2. The socket includes a socket body, a lid attached to the socket body so as to be able to swing open and close, and a contact terminal that is in conductive contact with the terminal of the workpiece, and which swings around an axis and is connected to the socket body. The attachment/detachment device according to claim 1, further comprising a locking piece having a locking protrusion that can be engaged with the locking portion. 3. The work attachment/detachment part engages with a part of the locking piece of the socket and swings the locking piece, thereby detaching the locking protrusion from the locking part of the socket body. The attachment/detachment device according to claim 2, further comprising a lid opening means that operates to open the lid. 4. The workpiece attachment/detachment section has a lid closing means that operates to swing and close the lid in a closing direction by abutting and pushing the locking piece of the socket. An attachment/detachment device according to claim 2. 5. The attachment/detachment device according to any one of claims 1 to 4, wherein the workpiece is a flat package type semiconductor device. 6. An aging board transport system that transports an aging board equipped with a socket with a lid, a work transport system that transports a work to be attached to and removed from the socket, and a lid for the socket provided in the middle of the aging board transport system. a lid opening section that opens the lid, a workpiece takeout section that takes out the workpiece from the socket with the lid open, a workpiece insertion section that inserts the workpiece that has been transported along the workpiece transport system into the socket; and a lid closing part for closing the lid of the socket into which the socket is inserted. 7. The socket includes a socket body, a lid attached to the socket body so as to be able to swing open and close, and a contact terminal that is in conductive contact with the terminal of the workpiece, and which swings around an axis and is connected to the socket body. 7. The attachment/detachment device according to claim 6, further comprising a locking piece having a locking protrusion that can be engaged with the locking portion. 8. The lid opening part engages with a part of the locking piece of the socket and vibrates the locking piece, thereby detaching the locking protrusion from the locking part of the socket body and 8. The attachment/detachment device according to claim 6, further comprising a lid opening means that operates to open the lid. 9. The lid closing part is characterized by having a lid closing means that operates to swing and close the lid in the closing direction by abutting and pushing the locking piece of the socket. An attachment/detachment device according to claim 7. 10. The attachment/detachment device according to any one of claims 6 to 9, wherein the workpiece is a flat package type semiconductor device. 11. An aging board transport system that transports an aging board with a socket mounted thereon, a work transport system that transports a workpiece to be attached to and removed from the socket, and inserting or removing a workpiece into or out of the socket during the aging board transport system. A workpiece attachment/detachment device comprising a workpiece attachment/detachment section. 12. The socket has a base, a contact terminal provided on the base and having a branch part that can be opened and closed on the workpiece insertion side, and an opening for receiving the workpiece, and when pushed toward the base, the socket contacts the terminal of the workpiece. 12. The attachment/detachment device according to claim 11, further comprising a pushing body which separates the workpiece from the contact terminal and brings the terminal of the workpiece into conductive contact with the contact terminal when not being pushed. 13. The attachment/detachment device according to claim 11 or 12, wherein the workpiece is a surface-mounted semiconductor device. 14. An aging board transport system that transports an aging board with a socket mounted thereon, a work transport system that transports a workpiece to be attached to and removed from the socket, and a workpiece insertion system that inserts a workpiece into the socket midway through the aging board transport system. a workpiece take-out part for taking out the workpiece from the socket in the middle of the aging board transport system;
An attachment/detachment device comprising a pushing means that pushes the pushing body of the socket toward the base in the workpiece take-out portion to separate the workpiece from a conductive contact state with the contact terminal of the socket. 15. The contact terminal of the socket has a branch part that can be opened and closed on the workpiece insertion side, and this branch part separates the terminal of the workpiece from the branch part when the pushing body is pushed toward the base. 15. The attachment/detachment device according to claim 14, wherein when the workpiece is not pushed, the terminal of the workpiece is opened and closed so as to bring the branch part into conductive contact. 16. The attachment/detachment device according to claim 14 or 15, wherein the workpiece is a surface-mounted semiconductor device.
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