JPH07328190A - 弾球遊技機遊技盤の穴開け検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】穴開け工程の穴開け検査をただちに行うことに
より自動化ラインの量産性能に甚大な悪影響が出ないよ
うにする。 【構成】穴開け用位置決め穴９０に穴開け用位置決めピ
ン１５を差し込み位置決めして複数の加工用穴９１を開
けた遊技盤材料８を移送し、穴検査用位置決め穴９２に
穴検査用位置決めピン５６を差し込み検査位置に遊技盤
材料８を位置決めした遊技盤材料８の加工用穴９１に検
査用ピン３４を差込み検査用ピン３４の差込み具合によ
り加工穴９１の適正を検査し、加工穴９１が不適正であ
る場合に不適正信号６１を出力して穴開け工程を停止さ
せる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、弾球遊技機遊技盤の穴
開け検査方法に関する。パチンコ、スマートボールなど
弾球を弾発的に運動させながら得点を競う弾球遊技機を
製造する製造ライン中の遊技盤材料穴開け工程で開けら
れた穴の適正を検査するための弾球遊技機遊技盤の穴開
け検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】パチンコなど弾球遊技機のゲーム内容は
ますます複雑化し、多様化するに従って多機種化され
る。このような弾球遊技機の製造ラインの自動化は、加
工精度の向上とともに推進される。

【０００３】遊技盤面には、有機的な位置関係にある多
数の釘、風車、レールなどの固定、可動部材が配置され
ている。このような部材の組付を行う前に、多数の組付
用穴が多軸ボール盤により開けられる。このような穴開
けの自動化は、量産性を高め、精度を向上させるための
重要な要素である。穴開け工程で同時に用いられる細い
多数本のドリルの１本の破損に気づくことが遅れると、
多品種量産ラインを全体的に停止させたり、プログラム
の変更を余儀なくされて、量産効率に甚大な影響が出
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】量産ラインの比較的に
初めの方にある穴開け工程は、重要な工程である。この
重要な工程における加工不良による甚大な悪影響を回避
することは、全自動化ラインの量産性能を一定に維持す
るために重大な課題である。この発明は、前記した技術
的背景のもとで発明されたものであり、次のような目的
を達成する。

【０００５】この発明の目的は、穴開け工程の穴開け検
査をただちに行うことにより自動化ラインの量産性能に
甚大な悪影響を及ぼさないための弾球遊技機遊技盤の穴
開け検査方法を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明の弾球遊技機遊
技盤の穴開け検査方法は、遊技盤材料（８）を穴開け位
置に位置決めする穴開け位置決め工程と、前記位置決め
工程により位置決めされた遊技盤材料（８）に複数の加
工用穴（９１）を開ける穴開け工程と、前記穴開け工程
により加工用穴（９１）が開けられた遊技盤材料（８）
を移送する移送工程と、前記移送工程により移送された
遊技盤材料（８）の穴検査用位置決め穴（９２）に穴検
査用位置決めピン（５６）を差し込み検査位置に遊技盤
材料（８）を位置決めする位置決め工程と、前記位置決
め工程により位置決めされた遊技盤材料（８）の前記複
数の加工用穴（９１）に検査用ピン（３４）を差込み前
記検査用ピン（３４）の差込み具合により前記加工穴
（９１）の適正を検査する検査工程と、前記検査工程に
より前記加工穴（９１）が不適正である場合に不適正信
号（６１）を出力して次回穴開け工程を停止させる穴開
け停止工程とからなることを特徴としている。

【０００７】なお、前記で参照番号を併記したのは、実
施例との対応関係を明確にする便宜のためであり、本発
明を実施例に限定するためではない。

【０００８】

【作用】この発明の弾球遊技機遊技盤の穴開け検査方法
は、遊技盤材料の穴開け用位置決め穴に穴開け用位置決
めピンが差し込まれる。穴開け位置に固定され穴開機に
より複数の所定位置にそれぞれに複数の加工用穴が開け
られた遊技盤材料が検査機に移送される。移送された遊
技盤材料の穴検査用位置決め穴に穴検査用位置決めピン
が差込まれるとともに複数の加工用穴に検査用ピンが差
込まれる。

【０００９】穴開け用位置決め穴と穴検査用位置決め穴
とは、絶対的な位置関係（同一位置関係を含む）にあ
る。検査用ピンの加工穴に対する差し込みが不適正かど
うかが前記位置関係を基準として検知される。不適正で
ある場合に、不適正信号が出力される。このような不適
正信号により次回穴開け動作が禁止される。

【００１０】

【実施例】次に本発明の実施例を説明する。

【００１１】（実施例１）図１は、本発明の弾球遊技機
遊技盤の穴開け検査方法の実施例１を実施するための実
施機を示し、正面図である。実施機は、多軸ボール盤１
と検査機２と移送手段３と穴開け位置における位置決め
手段と検査位置における位置決め手段とから構成されて
いる。

【００１２】移送手段３ 移送手段３として、各種公知のコンベア装置を用いるこ
とができる。搬送面は、ローラチェーンにより形成され
ている。移送手段３により形成される移送路の搬送面
は、後述する穴開機械である多軸ボール盤１の上流側か
らその下流側へ連続しさらに検査機２の上流側を経てそ
の下流側に水平に連続している。

【００１３】移送路には、搬送面の上下部位間で往復動
する複数のストッパ（後述）が昇降自在に設けられてい
る。複数のストッパは、多軸ボール盤１の近くで上流側
及び下流側に１つずつが、また、検査機２の近くで上流
側及び下流側に設けられている。

【００１４】穴開け位置における位置決め手段５ 図３、図４に示すように、昇降台昇降用駆動装置６が本
体台４上に設けられている。昇降台昇降用駆動装置６の
駆動部である昇降ピストンの上端に昇降台７が取り付け
られている。昇降台７の上面は、移送手段３の搬送面の
上下部位間を往復動する。上昇位置の昇降台７上の遊技
盤材料８は、前方ストッパ９と進退自在な押し具１０に
挟持され第１次的に位置決めされる。

【００１５】昇降台７と同体に昇降する複数の位置決め
用シリンダ１２が設けられている。位置決め用シリンダ
１２のピストン１３と同体に昇降台７に対して昇降する
クランプ用アーム１４が取り付けられている。昇降台７
と同体のピン保持体１４ａに穴開け用位置決めピン１５
が昇降自在に挿入されている。このような穴開け用位置
決めピン１５が複数体設けられている。

【００１６】このような位置決めは、位置決めピン１５
を用いないで、搬送面上に出没する後述のストッパを用
いて、移送手段３上の遊技盤材料８を定位置に停止さ
せ、停止した遊技盤材料８を昇降台７により上動させて
から、穴開けを行うようにしてもよい。このようにして
開けた複数の穴の相対的位置関係を基準として後工程で
位置決めをすることができる。

【００１７】多軸ボール盤１ 穴開機として、多軸ボール盤１が用いられている。図２
に示すように、多軸ボール盤１は、地面に支持された本
体台４の上面に立ち上がるコラム２０とコラム２０に対
してリニア軸受を介して案内され昇降自在に支持される
主軸ヘッド２１と主軸ヘッド２１に取り付けられた主軸
モータ２２と複数のドリル駆動軸２３，２３，…，２３
から構成されている。ドリル駆動軸２３，２３，…，２
３にそれぞれにドリル２４，…，２４が交換自在に取り
付けられる。

【００１８】多軸ボール盤１は、よく知られているよう
に、１つの主軸に動力伝達装置を介して多数のドリル駆
動軸２３，２３，…，２３が回転的に連結している。複
数のドリル駆動軸２３，２３，…，２３は、互いの相対
的位置関係が可変的に設けられているので、各ドリル駆
動軸２３はそれ以外のドリル駆動軸２３に対して位置の
変更が可能である。

【００１９】図３に示すように、シリンダ２９により昇
降駆動されるドリル案内盤２５が設けられている。ドリ
ル案内盤２５には、複数のドリル通し穴２６，２６…，
２６が明けられている。断面円錐状のドリル通し穴２
６，２６…，２６の下端の狭小径部には、ドリル通し用
ブッシュ２７，２７…，２７がそれぞれに挿入されてい
る。

【００２０】これらのドリル通し用ブッシュ２７，２７
…，２７は、これらの相対的位置関係が前記ドリル駆動
軸２３，２３，…，２３の相対的位置関係と同一になる
ように配置され、また、各ドリル通し用ブッシュ２７が
各ドリル２４に対して鉛直方向（主軸ヘッド２１の昇降
方向）に一致するように、ドリル案内盤２５が支持台２
４に位置決めされて取り付けられている。

【００２１】検査機２ 図１、図５に示すように、移送手段３の移送路が穴開け
機１から連続して進行する前方に検査機２が設けられて
いる。検査機２は、図１、図２及び図５に示すように、
本体台３０と、検査用昇降装置取付台３１と、検査用昇
降装置取付台３１に取り付けられた検査用昇降装置３２
と、検査用昇降装置３２により昇降駆動される検査用ピ
ン取付昇降台３３と、検査用ピン取付昇降台３３に取り
付けられた検査用ピン３４，３４，…，３４及び複数の
検査用位置決めピン３５，３５とから構成されている。

【００２２】複数の検査用ピン３４，３４，…，３４
は、互いの相対的位置関係が可変的に設けられているの
で、各検査用ピン３４はそれ以外の検査用ピン３４に対
して位置の変更が可能である。検査用ピン３４，３４，
…，３４は、これらの相対的位置関係が前記ドリル駆動
軸２３，２３，…，２３の相対的位置関係と同一になる
ように配置されている。

【００２３】検査用ピン３４，３４，…，３４は、１軸
検査ピンユニット４３ａ、２軸１体型検査ピンユニット
４３ｂ、３軸検査ピンユニット４３ｃにそれぞれに設け
られている。図６，７は、１軸検査ピンユニットを示し
ている。検査用ピン取付昇降台３３に貫通して検査用ピ
ン取付昇降台３３にユニット本体３５が固定されてい
る。ユニット本体３５にシリンダ３６が内蔵され、シリ
ンダ３６内で昇降棒３７が昇降する。

【００２４】昇降棒３７の下方部に鍔３８が設けられて
いる。鍔３８とユニット本体３５との間にコイルスプリ
ング３９が介設されている。昇降棒３７の下端面から突
出して検査用ピン３４が取り付けられ、検査用ピン３４
は固定用ネジ５７により昇降棒３７に固定されている。

【００２５】ユニット本体３５に取り付けられた支持板
４０に固定側検知手段４１ａと昇降棒３７の上端に取り
付けられた可動側検知手段４１ｂとで、１組の非接触型
検知手段４１が設けられている。この検知手段４１は、
基準位置に対する昇降棒３７の上昇位置を検出すること
ができる。その上昇位置が基準位置に適合しているかど
うかの適正・不適正電気信号を電磁コイルなどにより出
力するための不適正信号発生手段４２が設けられてい
る。

【００２６】図８，図９は、２軸１体型検査ピンユニッ
トを示している。２軸１体型検査ピンユニットは、ユニ
ット本体３５に、２体のシリンダ３６，３６、昇降棒３
７，３７、コイルスプリング３９により下方に付勢され
る昇降棒３７，３７、支持板４０に支持された固定側検
知手段４１ａ、昇降棒３７，３７に固定された可動側検
知手段４１ｂ，４１ｂが１組ずつ設けられている。各可
動側検知手段４１ｂ，４１ｂの上昇位置が基準位置に適
合しているかどうかの適正・不適正電気信号を電磁コイ
ルなどにより出力するための不適正信号発生手段４２，
４２が設けられている。

【００２７】図１０，１１は、検査用位置決めピンユニ
ット４９を示している。検査用ピン取付昇降台３３に貫
通して検査用ピン取付昇降台３３にユニット本体５０が
固定されている。ユニット本体５０にシリンダ５１が内
蔵され、シリンダ５１内で昇降棒５２が昇降する。昇降
棒５２の上方部にばね受け５３が設けられている。ばね
受け５３とユニット本体５０の上端に取り付けられてい
る筒５４の天井壁との間にコイルスプリング５５が介設
されている。

【００２８】昇降棒５２の下端面から突出して検査用位
置決めピン５６が取り付けられ、検査用位置決めピン５
６は固定用ネジ５７により昇降棒５２に固定されてい
る。ユニット本体５０に取り付けられた固定側検知手段
５８ａと昇降棒５２の上端に取り付けられた可動側検知
手段５８ｂとで、１組の非接触型の検知手段５８が設け
られている。この検知手段５８は、基準位置に対する昇
降棒５２の上昇位置を検出することができる。

【００２９】その上昇位置が基準位置に適合しているか
どうかの適正・不適正電気信号を電磁コイルなどにより
出力するための不適正信号発生手段５９が設けられてい
る。このような検査用位置決めピンユニット４９及び前
記１軸検査ピンユニット４３ａ、２軸１体型検査ピンユ
ニット４３ｂ、３軸検査ピンユニット４３ｃが図１２に
示すように配置されている。検査用位置決めピンユニッ
ト４９は２組が設けられている。

【００３０】制御回路 図１３は、多軸ボール盤１と検査機２との間の動作関係
を制御するための制御回路を示している。各不適正信号
発生手段４２から出力される各加工用穴不適正信号６１
及び不適正信号発生手段５９から出力される各位置決め
穴不適正信号６２は、第１のシーケンサ６０に入力され
る。第１のシーケンサ６０はＯＲ回路になるようにプロ
グラムされている。第１のシーケンサ６０からの第１の
出力信号６３は、第２のシーケンサ６４に入力される。

【００３１】第２のシーケンサ６４からの第１の出力信
号６５は、リレー６６に入力され、主軸モータ７への電
力供給が中断される。第２のシーケンサ６４からの第２
の出力信号６７はリレー６８に入力され、第１のソレノ
イド弁６９を復帰方向に動作させる。第１のシーケンサ
６０からの第２の出力信号７０はリレー７１に入力さ
れ、ソレノイド弁７２を復帰方向に動作させる。 穴開け検査サイクルの制御手段 図１４は、移送ラインに沿って配置され、ワークである
遊技盤材料の停止・発進及びその有無の検知を行うため
のストッパと検知手段を示している。移送ライン上の多
軸ボール盤１の穴開け作業領域Ａと検査機２の検査作業
領域Ｂを２点鎖線で示している。

【００３２】穴開け作業領域Ａの手前に、穴開け作業領
域前検知手段８０及び穴開け作業領域前ストッパ８１が
設けられている。穴開け作業領域Ａ内には、穴開け作業
領域内検知手段８２及び穴開け作業領域内ストッパ８３
が設けられている。穴開け作業領域前検知手段８０、穴
開け作業領域内検知手段８２として近接スイッチが用い
られている。穴開け作業領域前ストッパ８１、穴開け作
業領域内ストッパ８３は出没自在に設けられている。

【００３３】検査作業領域Ｂの手前に、検査作業領域前
検知手段８４及び検査作業領域前ストッパ８５が設けら
れている。検査作業領域Ｂ内には、検査作業領域内検知
手段８６及び検査作業領域内ストッパ８７が設けられて
いる。検査作業領域前検知手段８４、検査作業領域内検
知手段８６として近接スイッチが用いられている。検査
作業領域前ストッパ８５、検査作業領域内ストッパ８７
は出没自在に設けられている。

【００３４】穴開け検査方法 次に、動作とともに検査方法を説明する。移送手段３
は、起動後連続的に駆動される。移送手段３上で移送さ
れ搬送面上に突出する穴開け作業領域前ストッパ８１に
より停止させられる遊技盤材料は、図１５に示すよう
に、穴開け作業領域前検知手段８０により検知される
（動作Ｕ１）。穴開け作業領域前ストッパ８１が動作し
搬送面下に下降する（図１５中動作Ｕ２）。遊技盤材料
が移送され搬送面上に突出している穴開け作業領域内ス
トッパ８３により停止させられる。穴開け作業領域内ス
トッパ８３により停止させられた遊技盤材料は穴開け作
業領域内検知手段８２により検知される（動作Ｕ３）。

【００３５】昇降台昇降用駆動装置６が動作し昇降台７
が上昇し、図３に示すように、昇降台７上に載置されて
遊技盤材料が一定高さ上昇する。前方ストッパ９が後退
（図３で右動）し、押し具１０が前進（図３で左動）
し、遊技盤材料は前方ストッパ９と押し具１０により挟
持され第１次的に位置決めされる（動作Ｕ４及び動作Ｕ
５）。

【００３６】次に、所定高さ上昇するピストン１３と同
体に上昇するクランプ用アーム１４に突き上げられ穴開
け用位置決めピン１５が上昇する。上昇する２体の穴開
け用位置決めピン１５は、昇降台７に開けられている穴
開け用位置決め穴９０，９０に差し込まれる（動作Ｕ
６）。穴開け用位置決め穴９０，９０は、遊技盤材料８
の裏面側に前もって２個が開けられている。遊技盤材料
８は、穴開け位置に位置決めされる。

【００３７】前記位置決め工程に続き、昇降台７が動作
し（動作Ｕ７）、主軸ヘッド２１が下降する（動作
８）。主軸ヘッド２１とともにドリル２４，…，２４が
下降し、ドリル案内盤２５の複数のドリル通し穴２６，
２６…，２６のドリル通し用ブッシュ２７，２７…，２
７に案内され、ドリル案内盤２５を通過し、図１６に示
すように、遊技盤材料８に２４個の穴が開けられる。２
４個の穴の内の２１個は、加工用穴９１であるが、他の
２個は検査用位置決め穴９２である。

【００３８】昇降台７が停止し（動作Ｕ７）、主軸ヘッ
ド２１が上昇し（動作Ｕ８）、ストッパ９、押し具１０
による挟持が解消され、穴開け用位置決めピン１５が下
降して加工用位置決め穴から抜け、位置決め用シリンダ
１２が復帰し、昇降台昇降用駆動装置６が復帰し、昇降
台７が搬送面下に降下し、遊技盤材料８が移送手段３上
に載置される。移送手段３上に載置された穴開け済み遊
技盤材料８は、動作Ｕ６により降下している作業領域内
ストッパ８３による停止状態から開放され前進する。検
査作業領域前ストッパ８５は下降しているため、作業領
域内ストッパ８３は前進して検査作業領域内ストッパ８
７により停止させられる。この停止状態は、検査作業領
域内検知手段８６により検知される。

【００３９】検査作業領域内検知手段８６による検知が
行われると、図１７に示すように、スタート信号が出力
され、検査用昇降手段３２が動作して検査用ピン取付昇
降台３３が駆動され、降下する。検査用ピン取付昇降台
３３の上昇位置は、上限リミットスイッチＬＴにより定
められている。検査用ピン取付昇降台３３の上限位置か
らの最大下降距離Ｌは、下限リミットスイッチＬＢによ
り定められている。以下、上限位置から距離Ｌだけ下方
の高さ位置を下限位置という。

【００４０】図１１を参照して、検査用位置決めピン５
６の下降による検査用位置決め方法を説明する。正規に
検査用位置決め穴９２が開けられているならば、検査用
位置決めピン５６は距離Ａだけ下降することができる。
この距離分の下降中は、可動側検知手段５８ｂと固定側
検知手段５８ａは相対的に同体である。検査用位置決め
ピン５６はさらに距離Ｌ−Ａだけ下降することができ
る。検査用位置決めピン５６、昇降棒５２は下降できず
検査用ピン取付昇降台３３と同体に固定側検知手段５８
ａが下降する。

【００４１】しかし、もし検査用位置決め穴９２が正規
に開けられていないならば、検査用位置決めピン５６は
距離Ａより小さい距離Ａ−ｄしか降下しない（ｄは零よ
り大きい）。この場合は、距離Ｌ−Ａ＋ｄだけ相対的に
固定側検知手段５８ａが可動側検知手段５８ｂに対して
上昇する。検査用ピン取付昇降台３３の上限位置で、こ
の距離Ｌ−Ａ＋ｄに相当する高さ分だけ固定側検知手段
５８ａと可動側検知手段５８ｂとの間に落差が設けられ
ている。

【００４２】したがって、固定側検知手段５８ａが正規
に降下する相対的距離Ｌ−Ａを越えてさらに距離ｄだけ
固定側検知手段５８ａが可動側検知手段５８ｂに対して
下降したときに、固定側検知手段５８ａと可動側検知手
段５８ｂとが電磁的に作用して、図１３に示すように、
穴不適正信号６２が出力される。２つの検査用位置決め
穴９２が不適正であれば、２つの穴不適正信号６２が出
力される。

【００４３】検査用位置決め穴９２が適正であれば、遊
技盤材料８は正規の位置に位置決めされる。加工用穴９
１の検査用位置決め穴９２に対する相対的位置関係及び
加工用穴９１間の相対的位置関係は、穴開け工程により
適正に定められているが、もしドリルの欠損などの理由
で加工用穴９１が適正に開けられていなかったりした場
合は、同様に、それぞれに加工用穴不適正信号６１が出
力される。

【００４４】すなわち、各加工用穴９１が不適正であれ
ば、固定側検知手段４１ａが正規に降下する相対的距離
を越えてさらに距離ｄだけ固定側検知手段４１ａが可動
側検知手段４１ｂに対して下降したときに、固定側検知
手段４１ａと可動側検知手段４１ｂとが電磁的に作用し
て、図１３に示すように、各加工用穴不適正信号６１が
それぞれに出力される。検査用ピン取付昇降台３３は、
下限リミットスイッチＬＢが動作するまで距離Ｌだけ下
降し、下限リミットスイッチＬＢの動作（図１７中動作
Ｕ１０）により原点高さ位置に復帰する。

【００４５】各加工用穴不適正信号６１及び各穴不適正
信号６２は第１のシーケンサに入力される。第１のシー
ケンサはＯＲ回路になるようにプログラムされているの
で、加工用穴不適正信号６１、穴不適正信号６２のどれ
かが第１のシーケンサ６０に入力されたときに出力され
る第１の出力信号６３は、第２のシーケンサ６４に入力
される。第２のシーケンサ６４からの第１の出力信号６
５は、リレー６６に入力され、主軸モータ７への電力供
給が中断される。

【００４６】第２のシーケンサ６４からの第２の出力信
号６７はリレー６８に入力され、第１のソレノイド弁６
９を復帰方向に動作させる。第１のソレノイド弁６９の
復帰動作により、主軸ヘッド２１が原点高さ位置まで上
昇する。第１のシーケンサ６０からの第２の出力信号７
０はリレー７０に入力され、第２のソレノイド弁７２を
復帰方向に動作させる。第２のソレノイド弁７２の復帰
動作により昇降台昇降用駆動装置６が下降し昇降台７が
原点高さ位置まで下降する。

【００４７】（その他の実施例）本発明は、上記実施例
に限られることはなく、本発明の趣旨の範囲内で、設計
変更が行われる。たとえば、穴開け用位置決め穴を検査
用位置決め穴として用いることができる。

【００４８】

【発明の効果】この発明の弾球遊技機遊技盤の穴開け検
査方法によると下記効果が奏される。穴開け工程に続い
て直ちに穴開けの適正・不適正を精度高く判断し、穴開
けずみ材料が自動化ラインに流れる前に穴開けを停止す
るので、自動化ラインが効率化する。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は、本発明の弾球遊技機遊技盤の穴開け検
査方法を実施するための実施例１を示し、正面図であ
る。

【図２】図２は、多軸ボール盤の側面図である。

【図３】図３は、位置決め装置の正面断面図である。

【図４】図４は、位置決め装置の正面図である。

【図５】図５は、検査機の側面図である。

【図６】図６は、１軸検査ピンユニットの平面図であ
る。

【図７】図７は、１軸検査ピンユニットの正面断面図で
ある。

【図８】図８は、２軸検査ピンユニットの平面図であ
る。

【図９】図９は、２軸検査ピンユニットの正面図であ
る。

【図１０】図１０は、検査用位置決めピンユニットの平
面断面図である。

【図１１】図１１は、検査用位置決めピンユニット正面
断面図である。

【図１２】図１２は、検査用ピン取付昇降台の平面図で
ある。

【図１３】図１３は、制御回路図である。

【図１４】図１４は、制御手段の配置を示す平面図であ
る。

【図１５】図１５は、穴開け機の制御を示すタイムチャ
ート図である。

【図１６】図１６は、遊技盤の穴開け位置を示す平面図
である。

【図１７】図１７は、検査機の制御を示すタイムチャー
ト図である。

【符号の説明】

１…多軸ボール盤 ２…検査機 ３…移送手段 ８…遊技盤材料 １５…穴開け用位置決めピン ２１…主軸ヘッド ３２…検査用昇降手段 ３４…検査用ピン ５６…穴検査用位置決めピン ６１…不適正信号 ９１…加工用穴 ９２…穴検査用位置決め穴

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【手続補正書】

【提出日】平成６年７月７日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】特許請求の範囲

【補正方法】変更

【補正内容】

【特許請求の範囲】

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０００６

【補正方法】変更

【補正内容】

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明の弾球遊技機遊
技盤の穴開け検査方法は、遊技盤材料を穴開け位置に位
置決めする穴開け位置決め工程と、前記位置決め工程に
より位置決めされた遊技盤材料に複数の加工用穴を開け
る穴開け工程と、前記穴開け工程により加工用穴が開け
られた遊技盤材料を移送する移送工程と、前記移送工程
により移送された遊技盤材料の穴検査用位置決め穴に穴
検査用位置決めピンを差し込み検査位置に遊技盤材料を
位置決めする位置決め工程と、前記位置決め工程により
位置決めされた遊技盤材料の前記複数の加工用穴に検査
用ピンを差込み前記検査用ピンの差込み具合により前記
加工穴の適正を検査する検査工程と、前記検査工程によ
り前記加工穴が不適正である場合に不適正信号を出力し
て次回穴開け工程を停止させる穴開け停止工程とからな
ることを特徴としている。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】遊技盤材料（８）を穴開け位置に位置決め
   する穴開け位置決め工程と、 前記位置決め工程により位置決めされた遊技盤材料
   （８）に複数の加工用穴（９１）を開ける穴開け工程
   と、 前記穴開け工程により加工用穴（９１）が開けられた遊
   技盤材料（８）を移送する移送工程と、 前記移送工程により移送された遊技盤材料（８）の穴検
   査用位置決め穴（９２）に穴検査用位置決めピン（５
   ６）を差し込み検査位置に遊技盤材料（８）を位置決め
   する位置決め工程と、 前記位置決め工程により位置決めされた遊技盤材料
   （８）の前記複数の加工用穴（９１）に検査用ピン（３
   ４）を差込み前記検査用ピン（３４）の差込み具合によ
   り前記加工穴（９１）の適正を検査する検査工程と、 前記検査工程により前記加工穴（９１）が不適正である
   場合に不適正信号（６１）を出力して次回穴開け工程を
   停止させる穴開け停止工程とからなることを特徴とする
   弾球遊技機遊技盤の穴開け検査方法。