JPH07307376A - 試料回転装置 - Google Patents

試料回転装置

Info

Publication number
JPH07307376A
JPH07307376A JP12067094A JP12067094A JPH07307376A JP H07307376 A JPH07307376 A JP H07307376A JP 12067094 A JP12067094 A JP 12067094A JP 12067094 A JP12067094 A JP 12067094A JP H07307376 A JPH07307376 A JP H07307376A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
turntable
rotation
fixed
output shaft
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP12067094A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3661199B2 (ja
Inventor
Kenichi Koike
健一 小池
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP12067094A priority Critical patent/JP3661199B2/ja
Publication of JPH07307376A publication Critical patent/JPH07307376A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3661199B2 publication Critical patent/JP3661199B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Machine Tool Units (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 スパッタリング中に試料を回転させて表面荒
れを軽減し、深さ方向の分解能を向上させると共に、超
高真空状態の下でも装置を複雑化させたり、分析結果に
影響を与えたりすることなく、しかも試料を水平に維持
することができる試料回転装置を提供する。 【構成】 ぜんまいばね46を駆動源とする回転駆動装
置12の出力軸22に固定され、上面に試料78を固定
して試料78を回転させるターンテーブル14を備え
る。ターンテーブル14は、上面に前記試料78を固定
する水平テーブル80を備える。ターンテーブル14と
水平テーブル80との間には、水平微調整用の弾性部材
を備える。ターンテーブル14と水平テーブル80とを
複数の締付部材にて締め付け、その締付力の調整によ
り、水平テーブル80の水平微調整を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、試料回転装置に関し、
特に試料の分析時に試料を回転させるための試料回転装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体,IC,ウエハなどにお
いては、微量の不純物の分析,測定が行われる。
【0003】特に、LSI中の配線部は、アルミニウム
(Al),チタン(Ti),金属シリサイド,タングス
テン(W)に代表される数多くの材料が薄膜として積み
重なっている。これらの薄膜の分析は、その組成や不純
物量の測定が中心である。特に不純物の測定には、二次
イオン質量分析装置(Secondary Ion Mass Spectrometr
y 、以下SIMSと称す。)が多く用いられている。
【0004】このSIMSにおいては、超高真空の下
で、酸素やセシウムなどの一次イオンビームを励起に用
い、この一次イオンビームの照射により、試料から二次
イオンを検出し、この二次イオンを分析して微量不純物
を検出するようにしている。
【0005】なお、微量分析手段としては、前述のSI
MSによる分析の他、AES(オージェ電子分光分
析),XPS(X線光電子分光分析)による分析も採用
されている。このAESにおいては、試料表面に電子を
照射した際に発生するオージェ電子を分析することによ
って、試料表面の定性分析、定量分析を行うようになっ
ている。また、XPSにおいては、試料表面にX線を照
射し、そのとき発生する光電子を分析することによっ
て、試料表面の定性分析、定量分析を行うようになって
いる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】前述のSIMSにおい
ては、酸素やセシウムなどの一次イオンビームを励起に
用い、検出も二次イオンであるため、スパッタリングに
伴う諸問題が発生する。
【0007】例えば、表面荒れ,選択スパッタ,スパッ
タリングの初期過程における二次イオン化効率並びにス
パッタ収率の変化などが代表的な例である。
【0008】特に、従来においては、試料を固定した状
態でスパッタリングを行うため、表面荒れが生じ、深さ
方向の分解能が低下するという問題があった。
【0009】これに対し、スパッタリング中に試料を回
転することにより、表面荒れを軽減し、深さ方向の分解
能を向上させることも考えられているが、外からモータ
で回転させようとすると、超高真空状態を維持するため
に、装置が複雑化してしまうという問題があった。
【0010】また、分析装置の中にモータを入れようと
すると、モータが電源に乾電池等を使用していると、超
高真空状態の下で乾電池の成分が漏出して分析結果に悪
影響を与えるおそれがあるという問題があった。
【0011】さらに、試料を回転させる場合、試料の一
次イオンビームの照射される部分の高さに変化が生じや
すく、この照射部分の高さに変化が生じると、一次イオ
ンビームの入射角が一定にならず、正確な検出が困難と
なるという問題があった。
【0012】また、試料の電気導通を図るとともに、磁
石固定とすることで、試料脱着時に試料や回転機構に加
わる力を軽減することが可能となる。
【0013】本発明は、前記従来の問題点に着目してな
されたもので、その目的はスパッタリング中に試料を回
転させて表面荒れを軽減し、深さ方向の分解能を向上さ
せると共に、超高真空状態の下でも装置を複雑化させた
り、分析結果に影響を与えたりすることなく、しかも試
料を水平に維持することができる試料回転装置を提供す
ることにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、第1の発明は、ぜんまいばねを駆動源とする回転駆
動装置の出力軸に固定され、上面に試料を固定して試料
を回転させるターンテーブルを備える試料回転装置であ
って、前記ターンテーブルは、上面に前記試料を固定す
る水平テーブルを備え、前記ターンテーブルと水平テー
ブルとの間には、水平微調整用の弾性部材を備え、前記
ターンテーブルと水平テーブルとを複数の締付部材にて
締め付け、その締付力の調整により、水平テーブルの水
平微調整を行うことを備えることを特徴としている。
【0015】第2の発明は、ぜんまいばねを駆動源とす
る回転駆動装置の出力軸に固定され、上面に試料を固定
して試料を回転させるターンテーブルを備える試料回転
装置であって、前記回転駆動装置を上下動可能に支持す
る弾性部材と、前記回転駆動装置の上方に上下位置調整
可能に配設され、前記回転駆動装置と当接して回転駆動
装置の上限位置を規制する高さ調整部材と、前記高さ調
整部材の下面より突出可能にされ、前記回転駆動装置を
下方に押し付けて回転駆動装置の水平微調整を行う複数
の水平調整部材とを備えることを特徴としている。
【0016】第3の発明は、ぜんまいばねを駆動源とす
る回転駆動装置の出力軸に固定され、上面に試料を固定
して試料を回転させるターンテーブルを備える試料回転
装置であって、導電性を有する試料固定部材の下面に、
試料固定部材を固定する磁石を一体に取り付け、導電性
を有するターンテーブルに前記磁石を介して試料固定部
材を取り付け、前記試料固定部材にてターンテーブル上
の導電性を要する試料を固定することを特徴としてい
る。
【0017】第4の発明は、ぜんまいばねを駆動源とす
る回転駆動装置の出力軸に固定され、上面に試料を固定
して試料を回転させるターンテーブルを備える試料回転
装置であって、前記回転駆動装置は、出力軸の1回転に
要する時間が4〜60分に設定されていることを特徴と
している。
【0018】第5の発明は、ぜんまいばねを駆動源とす
る回転駆動装置の出力軸に固定され、上面に試料を固定
して試料を回転させるターンテーブルを備える試料回転
装置であって、前記ターンテーブルには、回転中心位置
を表示したセンターガイドが前記試料を覆って取り付け
られることいることを特徴としている。
【0019】第6の発明は、ぜんまいばねを駆動源とす
る回転駆動装置の出力軸に固定され、上面に試料を固定
して試料を回転させるターンテーブルを備える試料回転
装置であって、前記回転駆動装置は、突出状態で回転停
止状態を維持する回転規制手段を有し、前記回転規制手
段を突出させた状態で試料ホルダ内に設置されるととも
に、前記試料ホルダは、ホルダガイドにより移動可能に
支持され、ホルダ送り手段によりホルダガイドのホルダ
ストッパ位置まで押込み可能とされ、前記回転規制手段
は、前記ホルダストッパに当接して押込まれることによ
り、回転規制が解除可能とされていることを特徴として
いる。
【0020】
【作用】前記構成の第1の発明にあっては、試料を固定
するターンテーブルを、ぜんまいばねを駆動源とした回
転駆動装置により回転させることにより、試料の表面荒
れを軽減して、深さ方向の分解能を向上させることがで
き、しかも、回転駆動装置はぜんまいばねを駆動源とす
るため、分析装置の内部に設置しても、分析装置内の雰
囲気に影響を与えることがなく、正確な分析を行うこと
が可能で、さらには、分析装置の内部に配設できること
により、超高真空状態の下においても、複雑な構造とす
ることなく試料の回転を行わせることが可能となる。
【0021】また、水平微調整用の弾性部材を介在させ
た状態で、ターンテーブルと水平テーブルとを複数の締
付部材にて締め付け、その締付力の調整により、水平テ
ーブルの水平微調整を行うことができ、したがって試料
を回転させる場合でも試料を常に水平に保つことがで
き、正確な分析を行うことが可能となる。
【0022】第2の発明にあっては、高さ調整部材を上
下させて弾性部材により支持された回転駆動装置の高さ
を調整し、複数の水平調整部材によって水平微調整を行
うことにより、厚さの異なる試料の分析,測定に対応す
ることが可能となる。
【0023】第3の発明にあっては、試料固定部材を磁
石によりターンテーブルに容易に取り付けることがで
き、しかも固定手段を必要としないので機構を簡素化す
ることができる上に、試料固定部材,ターンテーブルお
よび磁石を導電性を有する部材にて形成することによ
り、導電性を要する試料の電気導通を図るとともに、磁
石固定とすることで、試料脱着時に試料や回転機構に加
わる力を軽減することが可能となる。
【0024】第4の発明にあっては、回転駆動装置の出
力軸の一回転に要する時間を4〜60分に設定すること
により、SIMSなどの分析装置に使用するに最適な状
態とすることが可能となる。
【0025】第5の発明にあっては、回転中心位置を表
示したセンターガイドを設けることにより、容易に試料
の分析部位をターンテーブルの回転中心に設定すること
が可能となる。
【0026】第6の発明にあっては、試料を長時間真空
雰囲気下においた後、ホルダ送り手段により試料ホルダ
を押込み、ホルダストッパに回転規制手段を当接させて
回転駆動手段の回転規制を解除し、回転を開始させるこ
とにより、試料分析時に問題となる残留大気成分の影響
を低減させることができ、しかも測定者の都合に合わせ
て回転を開始させることができ、有効回転時間を測定時
間に一致させることが可能となる。
【0027】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例について、図面
を参照して詳細に説明する。
【0028】図1〜図3は、本発明の一実施例に係る試
料回転装置を示す図である。
【0029】この試料回転装置は、ケース10と、回転
駆動装置12と、ターンテーブル14と、試料固定部材
16と、センタガイド18とを備えている。
【0030】ケース10は、貫通した筒状のもので、上
部内周にフランジ部20が突出形成されている。
【0031】回転駆動装置12は、ぜんまいばねを駆動
源とし、出力軸22を上面中央から垂直上方に突出させ
た状態で、ケース10内に収納されるようになってい
る。
【0032】また、この回転駆動装置12の下面には、
下押え板24が配設され、この下押え板24の下面に
は、裏蓋26の中央部分にねじ28を介して取り付けら
れた弾性部材としての板ばね30の端部が当接し、この
板ばね30によって回転駆動装置12がケース10内で
上下動可能に支持された状態となっている。なお、裏蓋
26は、ケース10の側面に取り付けたねじ32によっ
てケース10内に固定されるようになっている。
【0033】また、回転駆動装置12の上面にはケース
10の内周にほぼ相応した外周を有するリング状の上押
え板34が配設され、この上押え板34の上部には、回
転駆動装置12の上限位置を規制する高さ調整部材36
が配設されている。
【0034】この高さ調整部材36は、ケース10の内
径とほぼ相応した外径の調整リングガイド38と、この
調整リングガイド38の内面と螺合する調整リング40
とからなり、調整リングガイド38をケース10のフラ
ンジ20に係合させた状態で、ケース10の側面に取り
付けたねじ42によりケース10内の上部に固定される
ようになっている。そして、調整リングガイド38を固
定した状態で、調整リングガイド38に対し調整リング
40を回転させることにより、調整リング40が上下方
向に移動できるようになっている。例えば、調整リング
40と調整ガイドリング48との螺合を二条ねじにて行
い、1回転で約1mm上下できるようにしている。
【0035】したがって、調整リング40を下方に移動
させることにより、上押え板34を介して回転駆動装置
12が板ばね30の付勢力に抗して下方に移動して位置
決めされるようになっている。
【0036】さらに、調整リング40には、周方向に沿
って複数の水平調整部材としての調整ねじ44が取り付
けられ、これら複数の調整ねじ44の調整リング40下
面からの突出量を調整することにより、回転駆動装置1
2の水平微調整を行うことができるようになっている。
したがって、調整リングガイド38に螺合した調整リン
グ40による回転駆動装置12の高さ調整時に、調整リ
ング40の調整リングガイド38に対する螺合部分によ
る水平誤差が生じた場合に、この調整ねじ44によって
水平度の微調整を行うことにより、正確な回転駆動装置
12の水平度を確保することが可能となる。
【0037】このように、回転駆動装置12の高さを調
整可能にすることにより、厚さの異なる試料の分析を行
う場合であっても、常に試料の上面位置を一定にして同
一条件で分析できることとなる。
【0038】また、回転駆動装置12としては、本実施
例においては図3に示すような時計のムーブメントを使
用しており、このムーブメントは、ぜんまいばね46を
駆動源とし、このぜんまいばね46に蓄えられた力が2
番車48,3番車50,4番車52との歯車からなる伝
達機構を経て、ガンギ車54,アンクル56,天輪58
等からなる脱進調速機へ伝達され、ここで回転エネルギ
ーを間欠的に受けて衝撃エネルギーとして変換するよう
になっている。この場合、2番車48には分針が取り付
けられるもので、この実施例では2番車48を出力軸2
2として用いるようにしている。
【0039】また、2番車48の回転速度では不十分で
あるため、天輪58の一部を切除して、軽量化すること
により、出力軸22の一回転に要する時間を4〜60分
に設定するようにしている。なお、この回転の規制状態
は、歯車の規制や天輪58に取り付けられるひげぜんま
い60のばね定数を変化させることによってもなし得
る。
【0040】さらに、ぜんまいばね46を巻く場合に
は、裏蓋26および下押え板24に形成した巻き穴62
から回転駆動装置12内にドライバを差し込み、ぜんま
いばね46の軸を直接回転させることにより、ぜんまい
ばね46の巻き取りをなし得るようにしている。
【0041】また、図4の実施例に示すように、ケース
10の側面にりゅうず穴66を形成しておくことによ
り、このりゅうず穴66からりゅうず68を突出させ
て、ぜんまいばね46を巻き取るようにすることも可能
である。
【0042】ターンテーブル14は、円板状のもので、
下面中央部にボス部70を突出させ、このボス部70の
中心に回転駆動装置12の出力軸22を取り付けるため
の取付け穴72を形成し、この取付け穴72内に前記出
力軸22を差し込んで出力軸22に固定されて回転し得
るようになっている。また、ボス部70の側面には環状
の溝74が形成され、この環状の溝74内に、回転駆動
装置12に固定されたストッパプレート76の先端が係
入され、試料回転装置を逆さにした場合でも、ターンテ
ーブル14が脱落しないようになっている。
【0043】また、ターンテーブル14上には、上面に
試料78を固定する水平テーブル80が設けられ、この
水平テーブル80とターンテーブル14との間には、水
平テーブル80の水平微調整を行うための弾性部材とし
て板ばね82を介在させ、これらターンテーブル14と
水平テーブル80とを板ばね82の挿通穴84を貫通さ
せた状態で複数、例えば4本の締付部材としての締付ね
じ86にて締め付け、各締付ねじ86の締付力を調整す
ることにより、水平テーブルの水平微調整を行えるよう
にしている。例えば、半径3.5mm内で、高さが3ミ
クロン以内の誤差に止まるように調整可能とする。
【0044】したがって、ターンテーブル14により試
料78を回転させながら、試料78の分析,測定を行う
場合であっても、試料78を水平に維持して、試料78
の分析部分の高さを一定にすることができ、その結果、
例えばSIMSなどのように一次イオンビームを試料7
8に照射する場合であっても、一次イオンビームの入射
角を一定に保つことが可能となり、正確な分析が行える
こととなる。
【0045】試料固定部材16は、図2に示すように、
円板状の板ばね82の中央部を切り欠いて下方に折り曲
げた状態のもので、その折り曲げ部分の先端を試料78
の上面に点接触して試料78を上面から押圧し固定し得
るようになっている。また、試料固定部材16の下面外
周部分には、複数、例えば4つの磁石88を一体に取り
付け、この磁石88をターンテーブル14上に吸着させ
ることにより、試料固定部材16をターンテーブル上に
容易に固定し得るようにしている。また、試料固定部材
16,磁石88およびターンテーブル14をそれぞれ導
電性を有する部材にて形成することにより、試料78の
電気的導通を図り、試料78のSIMS分析を可能にし
ている。
【0046】センターガイド18は、試料78を覆う状
態でターンテーブル14上に取り付けられる筒状のもの
で、上面にリング状のフランジ部90が形成され、この
フランジ部90の上面にはターンテーブル14の回転中
心位置を表示する4本のV溝92が刻設され、さらに、
これらV溝92間の開孔部分に細線94を直交させて配
設している。したがって、試料固定部材16上からセン
ターガイド18を被せた状態でターンテーブル14上に
センターガイド18を取り付け、細線94の交叉位置に
試料78の分析点がくるように試料78を位置決めする
ことにより、容易に正確な試料78の分析点の位置決め
を行うことが可能となる。
【0047】図5には、本発明の他の実施例を示す。
【0048】この実施例では、試料回転装置を収納した
試料ホルダ100を試料室108内のホルダガイド10
2上に移動可能に支持させている。
【0049】ホルダガイド102の先端には、ホルダス
トッパ104が立上げ形成されている。
【0050】また、試料ホルダ100は、ホルダ送り手
段としてのホルダ送りロッド106により押込まれ、ホ
ルダガイド102に沿ってホルダストッパ104に当接
して位置決めされるようになっている。
【0051】さらに、試料ホルダ100の押込み方向側
の側面からは、回転駆動装置のりゅうず68を突出させ
ている。このりゅうず68は、突出状態で回転駆動装置
の回転停止状態を維持する回転規制手段としての機能を
有するものとなっており、このりゅうず68を押込むこ
とにより、回転駆動装置の回転停止状態を解除して回転
を開始し得るようになっている。
【0052】そして、試料ホルダ100に試料をセット
し、りゅうず68によりぜんまいばね48を巻き、りゅ
うず68を引き出してターンテーブルの回転を止めた状
態にして試料室108内のホルダガイド102上に支持
させ、長時間(例えば一晩)試料を真空中で放置してお
き、測定を開始しようとする際に、ホルダ送りロッド1
06により、試料ホルダ100をホルダガイド102に
沿ってホルダストッパ104と当接するまで押込む。す
ると、試料ホルダ100から突出するりゅうず68がホ
ルダストッパ104に当接して押込まれ、回転駆動装置
の回転停止状態が解除されて、回転が開始されることと
なる。
【0053】このように、長時間試料を真空雰囲気下に
おくことにより、試料分析時に問題となる残留大気成分
の影響を低減させることができる。
【0054】また、測定者の都合に合わせて回転を開始
させることができ、有効回転時間を測定時間に一致させ
ることが可能となり、長時間(例えば一晩)回転させて
おくような無駄を無くすことができる。
【0055】本発明は、前記実施例に限定されるもので
はなく、本発明の要旨の範囲内において各種の変形実施
例が可能である。
【0056】例えば、本実施例の試料回転装置は、SI
MSによる分析の場合に限らず、AES,XPSなどの
分析にも適用し得るものである。
【0057】また、回転駆動装置として時計のムーブメ
ントを使用した場合について説明したが、これに限ら
ず、ぜんまいばねを駆動源とするものであれば種々の回
転駆動装置を採用することが可能である。
【0058】さらに、前記実施例においては、弾性部材
として板ばね30および82を用いたが、この例に限ら
ず分析の条件によってはゴム等の弾性変形部材を採用す
ることも可能である。
【0059】そして更に、前記実施例においては、ケー
ス10を外側部材とした場合について説明したが、この
例に限らず、ケース10を試料ホルダー内に組込むよう
にすることも可能である。
【0060】
【発明の効果】前記構成の第1の発明にあっては、試料
を固定するターンテーブルをぜんまいばねを駆動源とし
た回転駆動装置により回転させることにより、試料の表
面荒れを軽減して、深さ方向の分解能を向上させること
ができ、しかも、回転駆動装置はぜんまいばねを駆動源
とするため、分析装置の内部に設置しても、分析装置内
の雰囲気に影響を与えることがなく、正確な分析を行う
ことができ、さらには、分析装置の内部に配設できるこ
とにより、超高真空状態の下においても、複雑な構造と
することなく試料の回転を行わせることができるという
効果がある。
【0061】また、水平微調整用の弾性部材を介在させ
た状態で、ターンテーブルと水平テーブルとを複数の締
付部材にて締め付け、その締付力の調整により、水平テ
ーブルの水平微調整を行うことができ、したがって試料
を回転させる場合でも試料を常に水平に保つことがで
き、正確な分析を行うことができるという効果がある。
【0062】第2の発明にあっては、高さ調整部材を上
下させて弾性部材により支持された回転駆動装置の高さ
を調整し、複数の水平調整部材によって水平微調整を行
うことにより、厚さの異なる試料の分析,測定に対応す
ることができるという効果がある。
【0063】第3の発明にあっては、試料固定部材を磁
石によりターンテーブルに容易に取り付けることがで
き、しかも固定手段を必要としないので機構を簡素化す
ることができる上に、試料固定部材,ターンテーブルお
よび磁石を導電性を有する部材にて形成することによ
り、導電性を要する試料の電気導通を図るとともに、磁
石固定とすることで、試料脱着時に資料や回転機構に加
わる力を軽減することができるという効果がある。
【0064】第4の発明にあっては、回転駆動装置の出
力軸の一回転に要する時間を4〜60分に設定すること
により、SIMSなどの分析装置に使用するに最適な状
態とすることができるという効果がある。
【0065】第5の発明にあっては、回転中心位置を表
示したセンターガイドを設けることにより、容易に試料
の分析部位をターンテーブルの回転中心に設定すること
ができるという効果がある。
【0066】第6の発明にあっては、試料を長時間真空
雰囲気下においた後、ホルダ送り手段により試料ホルダ
を押込み、ホルダストッパに回転規制手段を当接させて
回転駆動手段の回転規制を解除し、回転を開始させるこ
とにより、試料分析時に問題となる残留大気成分の影響
を低減させることができ、しかも測定者の都合に合わせ
て回転を開始させることができ、有効回転時間を測定時
間に一致させることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る試料回転装置の断面図
である。
【図2】図1のターンテーブル上の分解斜視図である。
【図3】図1の回転駆動装置の内部機構を下面側から見
た斜視図である。
【図4】本発明の他の実施例に係る試料の回転装置を示
す部分断面図である。
【図5】本発明の他の実施例に係る試料の回転装置を示
す側面図である。
【符号の説明】
12 回転駆動装置 14 ターンテーブル 16 試料固定部材 18 センターガイド 22 出力軸 30 板ばね 36 高さ調整部材 44 調整ねじ 46 ぜんまいばね 78 試料 80 水平テーブル 82 板ばね 86 締付けねじ 88 磁石 100 試料ホルダ 102 ホルダガイド 104 ホルダストッパ 106 ホルダ送りロッド 108 試料室
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G01N 23/227

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ぜんまいばねを駆動源とする回転駆動装
    置の出力軸に固定され、上面に試料を固定して試料を回
    転させるターンテーブルを備える試料回転装置であっ
    て、 前記ターンテーブルは、上面に前記試料を固定する水平
    テーブルを備え、 前記ターンテーブルと水平テーブルとの間には、水平微
    調整用の弾性部材を備え、 前記ターンテーブルと水平テーブルとを複数の締付部材
    にて締め付け、その締付力の調整により、水平テーブル
    の水平微調整を行うことを特徴とする試料回転装置。
  2. 【請求項2】 ぜんまいばねを駆動源とする回転駆動装
    置の出力軸に固定され、上面に試料を固定して試料を回
    転させるターンテーブルを備える試料回転装置であっ
    て、 前記回転駆動装置を上下動可能に支持する弾性部材と、 前記回転駆動装置の上方に上下位置調整可能に配設さ
    れ、前記回転駆動装置と当接して回転駆動装置の上限位
    置を規制する高さ調整部材と、 前記高さ調整部材の下面より突出可能にされ、前記回転
    駆動装置を下方に押し付けて回転駆動装置の水平微調整
    を行う複数の水平調整部材とを備えることを特徴とする
    試料回転装置。
  3. 【請求項3】 ぜんまいばねを駆動源とする回転駆動装
    置の出力軸に固定され、上面に試料を固定して試料を回
    転させるターンテーブルを備える試料回転装置であっ
    て、 導電性を有する試料固定部材の下面に、試料固定部材を
    固定する磁石を一体に取り付け、導電性を有するターン
    テーブルに前記磁石を介して試料固定部材を取り付け、
    前記試料固定部材にてターンテーブル上の導電性を要す
    る試料を固定することを特徴とする試料回転装置。
  4. 【請求項4】 ぜんまいばねを駆動源とする回転駆動装
    置の出力軸に固定され、上面に試料を固定して試料を回
    転させるターンテーブルを備える試料回転装置であっ
    て、 前記回転駆動装置は、出力軸の1回転に要する時間が4
    〜60分に設定されていることを特徴とする試料回転装
    置。
  5. 【請求項5】 ぜんまいばねを駆動源とする回転駆動装
    置の出力軸に固定され、上面に試料を固定して試料を回
    転させるターンテーブルを備える試料回転装置であっ
    て、 前記ターンテーブルには、回転中心位置を表示したセン
    ターガイドが前記試料を覆って取り付けられることを特
    徴とする試料回転装置。
  6. 【請求項6】 ぜんまいばねを駆動源とする回転駆動装
    置の出力軸に固定され、上面に試料を固定して試料を回
    転させるターンテーブルを備える試料回転装置であっ
    て、 前記回転駆動装置は、突出状態で回転停止状態を維持す
    る回転規制手段を有し、 前記回転規制手段を突出させた状態で試料ホルダ内に設
    置されるとともに、 前記試料ホルダは、ホルダガイドにより移動可能に支持
    され、ホルダ送り手段によりホルダガイドのホルダスト
    ッパ位置まで押込み可能とされ、 前記回転規制手段は、前記ホルダストッパに当接して押
    込まれることにより、回転規制が解除可能とされている
    ことを特徴とする試料回転装置。
JP12067094A 1994-05-10 1994-05-10 試料回転装置 Expired - Lifetime JP3661199B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12067094A JP3661199B2 (ja) 1994-05-10 1994-05-10 試料回転装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12067094A JP3661199B2 (ja) 1994-05-10 1994-05-10 試料回転装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07307376A true JPH07307376A (ja) 1995-11-21
JP3661199B2 JP3661199B2 (ja) 2005-06-15

Family

ID=14792023

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12067094A Expired - Lifetime JP3661199B2 (ja) 1994-05-10 1994-05-10 試料回転装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3661199B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114289342A (zh) * 2021-12-30 2022-04-08 安徽省正宇粮机科技股份有限公司 一种环保脉冲振动筛选设备

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114289342A (zh) * 2021-12-30 2022-04-08 安徽省正宇粮机科技股份有限公司 一种环保脉冲振动筛选设备
CN114289342B (zh) * 2021-12-30 2023-08-11 安徽省正宇粮机科技股份有限公司 一种环保脉冲振动筛选设备

Also Published As

Publication number Publication date
JP3661199B2 (ja) 2005-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110355455B (zh) 氩离子切割装置
JP3661199B2 (ja) 試料回転装置
US3391276A (en) Apparatus for X-ray analysis having automatic cycling means
US6105446A (en) Measuring device for saw blades
US3324539A (en) Method and means for mounting annular inside diameter blade concentrically and in circumferential tension
WO2000040952A3 (de) Präzisions-probendrehvorrichtung
JPH07294400A (ja) X線回折装置の試料保持装置
JP5458742B2 (ja) 電子線マイクロアナライザ
JP3262831B2 (ja) X線回折装置用ゴニオメータの光軸調整装置
US4385473A (en) Method for frequency regulation of tuning-fork vibrator
JP2550959B2 (ja) 電子線照射装置
Buerger The Design of X‐Ray Powder Cameras
JP4029081B2 (ja) 試料ホルダ用蓋、試料ホルダ及び蛍光x線測定装置
JP2008058296A (ja) 全反射蛍光x線分析装置
CN220603287U (zh) 一种用于标旗分光仪的测试治具
JP3262832B2 (ja) X線回折装置用ゴニオメータ
JPS6311639Y2 (ja)
JP2584946Y2 (ja) 蛍光x線分析装置
JPH0745001Y2 (ja) X線回折装置の試料装着機構
KR20050033592A (ko) 접촉각 측정기
JP2002221472A (ja) 試料作成装置
JP2000346816A (ja) X線分析装置
SU777562A1 (ru) Приставка к рентгеновскому дифрактометру
JP4300563B2 (ja) ブレーキローター分析装置
JPH09229880A (ja) X線回折装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040803

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040927

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050301

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050314

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080401

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090401

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090401

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100401

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110401

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110401

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120401

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130401

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130401

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140401

Year of fee payment: 9

EXPY Cancellation because of completion of term