JPH0730617A - 装置内自己監視規制制御方式 - Google Patents

装置内自己監視規制制御方式

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Publication number
JPH0730617A
JPH0730617A JP5170183A JP17018393A JPH0730617A JP H0730617 A JPH0730617 A JP H0730617A JP 5170183 A JP5170183 A JP 5170183A JP 17018393 A JP17018393 A JP 17018393A JP H0730617 A JPH0730617 A JP H0730617A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test pattern
frame
pattern
main signal
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5170183A
Other languages
English (en)
Inventor
Noriyuki Asakura
典之 朝倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP5170183A priority Critical patent/JPH0730617A/ja
Publication of JPH0730617A publication Critical patent/JPH0730617A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【構成】 セレクタ回路3において、フレームパルスF
Pを二分周した信号を選択信号とし、テストパターン出
力回路1,2からのXパターンとYパターンとをフレー
ム毎に交互に選択し、挿入回路4において出力テストパ
ターンを主信号の空きバイトに挿入する。終端した前フ
レームのテストパターンを、保持回路6で1フレーム保
持し、前フレームに終端したテストパターンと現フレー
ムに終端したテストパターンをパターン照合回路7で照
合する。アラーム保護回路8は、照合結果を任意の時間
保護を取った後にテストパターン警報を出力する。 【効果】 従来の半分の情報量でテストパターン監視が
行なえ、主信号の空きバイトを他の装置内の情報として
有効に使用できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、主信号の空きビットに
テストパターンを挿入して装置内監視を行う装置内監視
方式に関する。
【0002】
【従来の技術】主信号の空きビットにテストパターンを
挿入して装置内監視を行う装置内監視方式は、例えば特
開平2−193439号公報、特開平3−44121号
公報、特開平3−004336号公報等に示されてい
る。
【0003】従来の装置内監視方式について、図2を参
照して説明する。テストパターン挿入側には、テストパ
ターンを出力するテストパターン出力回路21と、テス
トパターンを主信号の空きバイトに挿入する挿入回路2
2とが設けられている。また、テストパターン終端側に
は、テストパターンを終端するテストパターン終端回路
23と、終端したテストパターンを照合する回路24
と、照合結果に基づいたテストパターン異常警報を出力
するアラーム保護回路25とご設けられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような装置内監視
方式では、終端側で主信号をシリアル−パラレル変換し
て処理を行うため、パラレル変換した信号線がハイレベ
ルあるいはローレベルに固定されてしまう故障モードを
検出するために、各パラレル信号線が必ずハイレベルと
ローレベルとなるように、挿入側でテストパターンのビ
ット数をパラレル信号線の二倍以上とする必要があっ
た。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明による装置内自己
監視規制制御方式においては、テストパターンの挿入側
ではテストパターンをフレーム周期毎にビットを判定
さ、前記テストパターンを主信号の空きバイトに挿入
し、終端側では主信号からテストパターンを終端し、テ
ストパターンを1フレーム保持し、1フレーム保持され
たテストパターンと現フレームのテストパターンを照合
する。
【0006】また、本発明による装置内自己監視規制制
御方式は、第一のテストパターンを発生させる第一のテ
ストパターン発生手段と、前記第一のテストパターンを
反転させた第二のテスパターンを発生させる第二のテス
トパターン発生手段と、前記第一および第二のテストパ
ターンをフレーム周期毎に交互に選択するセレクタ手段
と、前記セレクタ手段の出力パターンを前記主信号に挿
入する挿入手段とを有するテストパターン挿入側と、テ
ストパターンを終端させる手段と、終端されたテストパ
ターンを1フレーム保持する手段と、1フレーム保持さ
れたテストパターンと現フレームのテストパターンとを
照合するパターン照合手段とを有するテストパターン終
端側とを備えている。
【0007】
【実施例】次に、本発明の一実施例を示した図面を参照
して説明する。
【0008】図1は本発明の一実施例のブロック図であ
る。本実施例において、テストパターン監視区間の送信
側は、任意のテストパターンXを出力する第一のテスト
パターン出力回路1と、テストパターンXを反転させた
テストパターンYを出力する第二のテストパターン出力
回路2と、フレームパルスFPを二分周した信号を選択
信号とし、XパターンとYパターンとをフレーム毎に交
互に選択するセレクタ回路3と、セレクタ回路3の出力
テストパターンを主信号の空きバイトに挿入する挿入回
路4とで構成されている。
【0009】送信側からは、フレーム周期毎に各ビット
が反転しているテストパターンを、主信号の空きビット
に挿入して下流に送出している。
【0010】テストパターン監視区間の終端側では、テ
ストパターンを終端するテストパターン終端回路5と、
終端した前フレームのテストパターンを1フレーム保持
するテストパターン保持回路6と、前フレームに終端し
たテストパターンと現フレームに終端したテストパター
ンを照合するパターン照合回路7と、照合結果を任意の
時間保護を取った後にテストパターン警報を出力するア
ラーム保護回路8とで構成されている。
【0011】終端されたテストパターンはフレーム毎に
ビットが反転しているため、主信号をシリアル−パラレ
ル変換した場合でもテストパターンの1ビットがそのパ
ラレル線を伝送されれば、パラレル線のローレベルある
いはハイレベルに張り付く故障モードの検出が可能とな
る。また、テストパターンの照合回路7では、前フレー
ムのテストパターンと現フレームのテストパターンの排
他的論理和をとることにより、正常時にはローレベルパ
ルス、パスパターンに異常がある場合にはハイレベルパ
ルスと判定することが可能となる。判定結果を、保護段
数をとったのちにパスパターン警報として発出される。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、挿入側
でテストパターンをフレーム毎にビットを反転させるこ
とにより、終端側でシリアル−パラレル変換され伝送さ
れる主信号の監視に、従来はテストパターンとして(パ
ラレル線の本数)×2の情報量が必要であったのを、従
来の半分の情報量でテストパターン監視が行なえ、主信
号の空きバイトを他の装置内の情報として有効に使用で
きる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による装置内監視制御方式の
ブロック図である。
【図2】従来の監視制御方式のブロック図である。
【符号の説明】
1 第一のテストパターン出力回路 2 第二のテストパターン出力回路 3 セレクタ回路 4 挿入回路 5 テストパターン終端回路 6 テストパターン保持回路 7 パターン照合回路 8 アラーム保護回路 21 テストパターン出力回路 22 挿入回路 23 テストパターン終端回路 24 パターン照合回路 25 アラーム保護回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 主信号の空きビットにテストパターンを
    挿入して装置内監視を行う装置内監視方式において、 テストパターンの挿入側で、テストパターンをフレーム
    周期毎にビットを判定さ、前記テストパターンを主信号
    の空きバイトに挿入し、 終端側では主信号からテストパターンを終端し、テスト
    パターンを1フレーム保持し、1フレーム保持されたテ
    ストパターンと現フレームのテストパターンを照合する
    ようにしたことを特徴とする装置内自己監視規制制御方
    式。
  2. 【請求項2】 主信号の空きビットにテストパターンを
    挿入して装置内監視を行う装置内監視方式において、 テストパターンの挿入側が、第一のテストパターンを発
    生させる第一のテストパターン発生手段と、前記第一の
    テストパターンを反転させた第二のテスパターンを発生
    させる第二のテストパターン発生手段と、前記第一およ
    び第二のテストパターンをフレーム周期毎に交互に選択
    するセレクタ手段と、前記セレクタ手段の出力パターン
    を前記主信号に挿入する挿入手段とを有し、 テストパターンの終端側が、テストパターンを終端させ
    る手段と、終端されたテストパターンを1フレーム保持
    する手段と、1フレーム保持されたテストパターンと現
    フレームのテストパターンとを照合するパターン照合手
    段とを有することを特徴とする装置内自己監視規制制御
    方式。
JP5170183A 1993-07-09 1993-07-09 装置内自己監視規制制御方式 Pending JPH0730617A (ja)

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JP5170183A JPH0730617A (ja) 1993-07-09 1993-07-09 装置内自己監視規制制御方式

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JP5170183A JPH0730617A (ja) 1993-07-09 1993-07-09 装置内自己監視規制制御方式

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JPH0730617A true JPH0730617A (ja) 1995-01-31

Family

ID=15900231

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5170183A Pending JPH0730617A (ja) 1993-07-09 1993-07-09 装置内自己監視規制制御方式

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JP (1) JPH0730617A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008109324A (ja) * 2006-10-25 2008-05-08 Yokogawa Electric Corp 通信システム
JP2012170000A (ja) * 2011-02-16 2012-09-06 Fujitsu Telecom Networks Ltd 通信システム、通信装置および接続状態検出方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6390251A (ja) * 1986-10-03 1988-04-21 Nec Corp 交番信号監視回路
JPH0273740A (ja) * 1988-09-09 1990-03-13 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> フレーム同期方式

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19961022