JPH07283945A - 画像２値化処理装置 - Google Patents
画像２値化処理装置Info
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- JPH07283945A JPH07283945A JP6093867A JP9386794A JPH07283945A JP H07283945 A JPH07283945 A JP H07283945A JP 6093867 A JP6093867 A JP 6093867A JP 9386794 A JP9386794 A JP 9386794A JP H07283945 A JPH07283945 A JP H07283945A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 着目画素の位置によって除算係数を変えるこ
となく、画像の有効範囲内の全ての画像データの２値化
処理を行えるようにした画像２値化処理装置を提供す
る。 【構成】 被写体のＡＥデータを抽出するためのセンサ
１と、被写体の画像データを抽出するためのセンサ２
と、センサ１から得られた画像データを記憶するための
メモリ４と、メモリ４から着目画素データを抽出するた
めの回路５と、着目画素以外の画素データを抽出するた
めの回路６と、欠落画素データをＡＥデータで補間する
ための回路７と、着目画素以外の２値化判定のための範
囲内における画素データの演算回路８と、遅延時間補償
のための回路９と、着目画素データと演算回路８の演算
結果から着目画素に関する２値化データを出力する演算
回路１０とで、画像２値化処理装置を構成する。
となく、画像の有効範囲内の全ての画像データの２値化
処理を行えるようにした画像２値化処理装置を提供す
る。 【構成】 被写体のＡＥデータを抽出するためのセンサ
１と、被写体の画像データを抽出するためのセンサ２
と、センサ１から得られた画像データを記憶するための
メモリ４と、メモリ４から着目画素データを抽出するた
めの回路５と、着目画素以外の画素データを抽出するた
めの回路６と、欠落画素データをＡＥデータで補間する
ための回路７と、着目画素以外の２値化判定のための範
囲内における画素データの演算回路８と、遅延時間補償
のための回路９と、着目画素データと演算回路８の演算
結果から着目画素に関する２値化データを出力する演算
回路１０とで、画像２値化処理装置を構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ファクシミリ、複写
機等に利用される、センサから得られる画像データの２
値化処理を行うための画像２値化処理装置に関し、特に
平均値制限法による画像２値化処理装置に関する。
機等に利用される、センサから得られる画像データの２
値化処理を行うための画像２値化処理装置に関し、特に
平均値制限法による画像２値化処理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、センサより得られる画像データ
を２値化する手法としては、自然画処理を目的とした擬
似中間調処理と、文字等の単色画像処理を目的とした単
純２値化処理とがあり、代表的な手法として、前者には
ディザ法、誤差拡散法、後者には平均値制限法（新版画
像ハンドブック、コロナ社発行、第４５〜４６頁参照）
等がある。
を２値化する手法としては、自然画処理を目的とした擬
似中間調処理と、文字等の単色画像処理を目的とした単
純２値化処理とがあり、代表的な手法として、前者には
ディザ法、誤差拡散法、後者には平均値制限法（新版画
像ハンドブック、コロナ社発行、第４５〜４６頁参照）
等がある。
【０００３】上記２値化手法の内の後者の単純２値化処
理は、センサから得られる画像データを、ある輝度レベ
ルと比較して、その大小により“０”又は“１”と判定
する処理である。例えば、紙面に書かれた文字情報は、
図９に示すようにセンサより出力される。この文字情報
における画像情報の平均値を算出し、これを２値化処理
における比較レベルとすることにより、文字情報は２値
化される。
理は、センサから得られる画像データを、ある輝度レベ
ルと比較して、その大小により“０”又は“１”と判定
する処理である。例えば、紙面に書かれた文字情報は、
図９に示すようにセンサより出力される。この文字情報
における画像情報の平均値を算出し、これを２値化処理
における比較レベルとすることにより、文字情報は２値
化される。
【０００４】ところが、下地レベルが、汚れや、照明む
らなどにより変化する場合、例えば図１０に示すよう
に、照明などにより下地レベルが高い輝度になった場
合、画像情報の平均値を比較レベルとした２値化処理で
は、図１０においてＰで示した画像情報は欠落してしま
うという欠点がある。
らなどにより変化する場合、例えば図１０に示すよう
に、照明などにより下地レベルが高い輝度になった場
合、画像情報の平均値を比較レベルとした２値化処理で
は、図１０においてＰで示した画像情報は欠落してしま
うという欠点がある。
【０００５】この欠点を補うために提案された手法が平
均値制限法であり、図１１に示すように、２値化判定の
ための２値化レベルを可変させることにより、画像情報
の２値化を実現するものである。かかる平均値制限法の
原理を図１２を参照しながら簡単に説明する。平均値制
限法では、まず画像情報を、水平及び垂直方向にある拡
がりをもつ一定範囲内（図１２に示した図示例では、水
平及び垂直方向に３画素の拡がりをもつ合計９画素）を
設定し、２値化の対象となる着目画素Ｐの２値化判定レ
ベルを、着目画素Ｐ以外の上記一定範囲内の画素の輝度
レベルの平均値とすることにより、２値化を行う手法で
あり、具体的には、着目画素Ｐ以外の一定範囲内の画素
の輝度を、ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈとすると、
次式で２値化判定レベルを求め、図１１に示すようにそ
の２値化判定レベルを可変にするものである。 ２値化判定レベル＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ＋ｇ＋
ｈ）／（９−１）
均値制限法であり、図１１に示すように、２値化判定の
ための２値化レベルを可変させることにより、画像情報
の２値化を実現するものである。かかる平均値制限法の
原理を図１２を参照しながら簡単に説明する。平均値制
限法では、まず画像情報を、水平及び垂直方向にある拡
がりをもつ一定範囲内（図１２に示した図示例では、水
平及び垂直方向に３画素の拡がりをもつ合計９画素）を
設定し、２値化の対象となる着目画素Ｐの２値化判定レ
ベルを、着目画素Ｐ以外の上記一定範囲内の画素の輝度
レベルの平均値とすることにより、２値化を行う手法で
あり、具体的には、着目画素Ｐ以外の一定範囲内の画素
の輝度を、ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈとすると、
次式で２値化判定レベルを求め、図１１に示すようにそ
の２値化判定レベルを可変にするものである。 ２値化判定レベル＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ＋ｇ＋
ｈ）／（９−１）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところが、平均値制限
法には次のような欠点がある。すなわち、図１３に示す
ように、着目画素Ｐが画像周辺部に存在する場合、図１
３の図示例のように平均値算出範囲を水平及び垂直方向
に３画素とした場合、図１３において（１）、（２）で
示すようなコーナー部では５画素分、（３）、（４）で
示すような周辺部では３画素分に相当する斜線部のデー
タが欠落する。
法には次のような欠点がある。すなわち、図１３に示す
ように、着目画素Ｐが画像周辺部に存在する場合、図１
３の図示例のように平均値算出範囲を水平及び垂直方向
に３画素とした場合、図１３において（１）、（２）で
示すようなコーナー部では５画素分、（３）、（４）で
示すような周辺部では３画素分に相当する斜線部のデー
タが欠落する。
【０００７】この問題を解決するためには、コーナー部
あるいは周辺部では、その平均値算出は、有効画素のみ
で行うこと、例えばコーナー部では、積算データを３で
割り、周辺部では５で割ることにより、着目画素の２値
化判定レベルを算出するか、あるいは２値化対象範囲
を、上下、左右１画素分縮小した範囲にして、画像の２
値化を行わなければならない。したがって、このような
方法をとった場合、着目画素の位置により、平均値算出
のための除算係数を可変にしなければならず、それによ
りハードウェア規模が増大し、また平均値算出範囲を拡
大する場合は、２値化対象範囲が図１３において点線で
示すように狭くなるという問題がある。
あるいは周辺部では、その平均値算出は、有効画素のみ
で行うこと、例えばコーナー部では、積算データを３で
割り、周辺部では５で割ることにより、着目画素の２値
化判定レベルを算出するか、あるいは２値化対象範囲
を、上下、左右１画素分縮小した範囲にして、画像の２
値化を行わなければならない。したがって、このような
方法をとった場合、着目画素の位置により、平均値算出
のための除算係数を可変にしなければならず、それによ
りハードウェア規模が増大し、また平均値算出範囲を拡
大する場合は、２値化対象範囲が図１３において点線で
示すように狭くなるという問題がある。
【０００８】本発明は、従来の平均値制限法による画像
２値化処理装置における上記問題点を解消するためにな
されたもので、請求項１記載の発明は、着目画素の位置
によって除算係数を変化させることなく、有効画像領域
内において全ての画素の２値化処理を行えるようにした
画像２値化処理装置を提供することを目的とする。また
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において回
路規模を低減できるようにした画像２値化処理装置を提
供することを目的とする。
２値化処理装置における上記問題点を解消するためにな
されたもので、請求項１記載の発明は、着目画素の位置
によって除算係数を変化させることなく、有効画像領域
内において全ての画素の２値化処理を行えるようにした
画像２値化処理装置を提供することを目的とする。また
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において回
路規模を低減できるようにした画像２値化処理装置を提
供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段及び作用】上記問題点を解
決するため、請求項１記載の発明は、被写体のＡＥ情報
を抽出するＡＥデータ抽出手段と、被写体の画像情報を
抽出する被写体データ抽出手段と、該被写体データ抽出
手段から得られる２値化の対象となる１個の着目画素を
中心とし、水平及び垂直方向にそれぞれｎ画素の拡がり
をもつ正方画素ブロックから、個々の画素データを得る
手段と、前記着目画素を除いた正方画素ブロックの画素
データを演算する手段と、該演算手段により算出された
データと着目画素データとを演算し、着目画素の２値化
データを出力する手段とを備えた画像２値化処理装置に
おいて、画像周辺部の２値化処理において、前記着目画
素を除いた正方画素ブロック内の画素データが前記被写
体データ抽出手段より得られない場合、その得られない
個々の画素データを前記ＡＥデータ抽出手段で得られた
ＡＥ情報により補間する手段を設けるものである。
決するため、請求項１記載の発明は、被写体のＡＥ情報
を抽出するＡＥデータ抽出手段と、被写体の画像情報を
抽出する被写体データ抽出手段と、該被写体データ抽出
手段から得られる２値化の対象となる１個の着目画素を
中心とし、水平及び垂直方向にそれぞれｎ画素の拡がり
をもつ正方画素ブロックから、個々の画素データを得る
手段と、前記着目画素を除いた正方画素ブロックの画素
データを演算する手段と、該演算手段により算出された
データと着目画素データとを演算し、着目画素の２値化
データを出力する手段とを備えた画像２値化処理装置に
おいて、画像周辺部の２値化処理において、前記着目画
素を除いた正方画素ブロック内の画素データが前記被写
体データ抽出手段より得られない場合、その得られない
個々の画素データを前記ＡＥデータ抽出手段で得られた
ＡＥ情報により補間する手段を設けるものである。
【００１０】このように被写体のＡＥ情報を抽出するＡ
Ｅデータ抽出手段と、着目画素を除いた正方画素ブロッ
ク内の画素データが得られない場合、ＡＥ情報で補間す
る手段を設けることにより、図１において実線で示す画
像有効範囲は、ＡＥ情報により点線で示す範囲へ見掛け
上拡大され、図１において（１）〜（４）で示す正方画
素ブロックの斜線部の欠落画素データはＡＥ情報により
補間され、着目画素の位置に拘らず、一定の除算係数
で、画像有効範囲に存在する全ての画素データに対して
２値化処理を行うことができる。
Ｅデータ抽出手段と、着目画素を除いた正方画素ブロッ
ク内の画素データが得られない場合、ＡＥ情報で補間す
る手段を設けることにより、図１において実線で示す画
像有効範囲は、ＡＥ情報により点線で示す範囲へ見掛け
上拡大され、図１において（１）〜（４）で示す正方画
素ブロックの斜線部の欠落画素データはＡＥ情報により
補間され、着目画素の位置に拘らず、一定の除算係数
で、画像有効範囲に存在する全ての画素データに対して
２値化処理を行うことができる。
【００１１】また、請求項２記載の発明は、前記正方画
素ブロックを水平及び垂直方向に３画素の合計９画素で
構成し、着目画素を除いた正方画素ブロックの画素デー
タを演算する手段を、平均値を算出するように構成し、
着目画素データと着目画素を除いた正方画素ブロックの
演算データとを演算する手段を比較演算回路で構成する
ものである。このように構成することにより、２値化処
理のための各構成部が最適化され、回路規模を低減する
ことが可能となる。
素ブロックを水平及び垂直方向に３画素の合計９画素で
構成し、着目画素を除いた正方画素ブロックの画素デー
タを演算する手段を、平均値を算出するように構成し、
着目画素データと着目画素を除いた正方画素ブロックの
演算データとを演算する手段を比較演算回路で構成する
ものである。このように構成することにより、２値化処
理のための各構成部が最適化され、回路規模を低減する
ことが可能となる。
【００１２】
【実施例】次に、実施例について説明する。図２は本発
明に係る画像２値化処理装置の第１実施例を示すブロッ
ク構成図である。図２において、１は被写体のＡＥデー
タを抽出するためのＡＥデータ抽出用センサ、２は被写
体の画像データを抽出する被写体データ抽出用センサ、
３はＡＥデータ用センサ１から得られるデータを記憶す
るためのＡＥデータ用メモリ、４は被写体データ抽出用
センサ２から得られる画像データを記憶するための被写
体データ用メモリ、５は被写体データ用メモリ４から着
目画素データを抽出するための着目画素抽出回路、６は
着目画素以外の画素データを抽出するための着目画素外
データ抽出回路、７は着目画素が有効画像範囲の周辺部
となった場合に生じる欠落画素データをＡＥデータで補
う欠落画素データ補間回路、８は着目画素以外の２値化
判定のための範囲内における画素データの演算回路であ
り、９は着目画素外データ抽出回路６、欠落画素データ
補間回路７及び着目画素外データ演算回路８の各回路に
おける処理に要する遅延時間と、着目画素抽出回路５の
処理に要する遅延時間の差を補償する遅延量補償回路
で、１０は、着目画素データと２値化判定のための範囲
内における着目画素以外の画素データの演算結果から、
着目画素に関する２値化データを出力端子１１に出力す
る演算回路であり、これらの各ブロック構成部により画
像２値化処理装置が構成され、各ブロック構成部のデー
タは矢印の方向に伝搬されるようになっている。
明に係る画像２値化処理装置の第１実施例を示すブロッ
ク構成図である。図２において、１は被写体のＡＥデー
タを抽出するためのＡＥデータ抽出用センサ、２は被写
体の画像データを抽出する被写体データ抽出用センサ、
３はＡＥデータ用センサ１から得られるデータを記憶す
るためのＡＥデータ用メモリ、４は被写体データ抽出用
センサ２から得られる画像データを記憶するための被写
体データ用メモリ、５は被写体データ用メモリ４から着
目画素データを抽出するための着目画素抽出回路、６は
着目画素以外の画素データを抽出するための着目画素外
データ抽出回路、７は着目画素が有効画像範囲の周辺部
となった場合に生じる欠落画素データをＡＥデータで補
う欠落画素データ補間回路、８は着目画素以外の２値化
判定のための範囲内における画素データの演算回路であ
り、９は着目画素外データ抽出回路６、欠落画素データ
補間回路７及び着目画素外データ演算回路８の各回路に
おける処理に要する遅延時間と、着目画素抽出回路５の
処理に要する遅延時間の差を補償する遅延量補償回路
で、１０は、着目画素データと２値化判定のための範囲
内における着目画素以外の画素データの演算結果から、
着目画素に関する２値化データを出力端子１１に出力す
る演算回路であり、これらの各ブロック構成部により画
像２値化処理装置が構成され、各ブロック構成部のデー
タは矢印の方向に伝搬されるようになっている。
【００１３】次に、この実施例の動作を図３〜５に基づ
いて説明する。２値化判定のための範囲を図３に示すよ
うに、着目画素Ｐを中心に、水平及び垂直方向にｎ画素
の合計ｎ2 個の画素で構成する場合について説明する。
まず、被写体のＡＥデータは、画像２値化処理前にＡＥ
データ抽出用センサ１により抽出され、ＡＥデータ用メ
モリ３に記憶される。この後、被写体データ抽出用セン
サより得られた画像データが被写体データ用メモリ４に
順次記憶される。
いて説明する。２値化判定のための範囲を図３に示すよ
うに、着目画素Ｐを中心に、水平及び垂直方向にｎ画素
の合計ｎ2 個の画素で構成する場合について説明する。
まず、被写体のＡＥデータは、画像２値化処理前にＡＥ
データ抽出用センサ１により抽出され、ＡＥデータ用メ
モリ３に記憶される。この後、被写体データ抽出用セン
サより得られた画像データが被写体データ用メモリ４に
順次記憶される。
【００１４】ここで、着目画素のアドレスを、水平方向
（ｘ）をＸ、垂直方向（ｙ）をＹとした場合、２値化判
定範囲内の各画素の水平及び垂直方向のアドレスは、図
３において上段及び下段に示すようになる。なお、上記
アドレスにおいて、Ｃは水平及び垂直方向のｎ画素から
構成される２値化判定範囲の場合は、Ｃ＝（ｎ−１）／
２となる。そして着目画素データの抽出のための着目画
素抽出回路５では着目画素のアドレスＸ，Ｙを算出し、
着目画素以外の画素データのアドレスは、着目画素外ア
ドレス抽出回路６により図３に示すように算出される。
（ｘ）をＸ、垂直方向（ｙ）をＹとした場合、２値化判
定範囲内の各画素の水平及び垂直方向のアドレスは、図
３において上段及び下段に示すようになる。なお、上記
アドレスにおいて、Ｃは水平及び垂直方向のｎ画素から
構成される２値化判定範囲の場合は、Ｃ＝（ｎ−１）／
２となる。そして着目画素データの抽出のための着目画
素抽出回路５では着目画素のアドレスＸ，Ｙを算出し、
着目画素以外の画素データのアドレスは、着目画素外ア
ドレス抽出回路６により図３に示すように算出される。
【００１５】着目画素外アドレス抽出回路６における着
目画素以外の画素データのアドレス算出において、着目
画素が画像周辺部に位置する場合、２値化判定範囲内の
各画素のアドレス算出時には、垂直方向のみ“０”以下
になる部分（図４においてで示す部分）、水平方向の
み“０”以下になる部分（図４においてで示す部
分）、垂直方向のみ有効範囲をオーバーフローする部分
（図４においてで示す部分）、水平方向のみ有効範囲
をオーバーフローする部分（図４においてで示す部
分）の他に、これらが組み合わされた図４において、
、及びで示す部分が発生する。
目画素以外の画素データのアドレス算出において、着目
画素が画像周辺部に位置する場合、２値化判定範囲内の
各画素のアドレス算出時には、垂直方向のみ“０”以下
になる部分（図４においてで示す部分）、水平方向の
み“０”以下になる部分（図４においてで示す部
分）、垂直方向のみ有効範囲をオーバーフローする部分
（図４においてで示す部分）、水平方向のみ有効範囲
をオーバーフローする部分（図４においてで示す部
分）の他に、これらが組み合わされた図４において、
、及びで示す部分が発生する。
【００１６】これらの発生状況の検知は、着目画素外デ
ータ抽出回路６におけるアドレス算出時に、コンパレー
タによりアドレスのオーバーフローあるいはアンダーフ
ローとして簡単に検知することができ、図５に示す着目
画素Ｄyxを中心とする２値化判定範囲内の画素データＤ
11，Ｄ12，・・・・・Ｄnnのどれが欠落したかを検出で
きる。例えば、図４内の“１”で示した部分に着目画素
が位置する場合は、図５の画素データＤ11，Ｄ12，Ｄ
13, ・・・・・Ｄ1nから、着目画素Ｐの直前の画素デー
タＤ(y-1)1，Ｄ(y-1)2，Ｄ(y-1)3，・・・・・Ｄ(y-1)n
までの各画素データの垂直方向アドレスが“０”以下と
なり、図４内の“２”で示した部分に着目画素が位置す
る場合は、図５の画素データＤ1(x+1)，Ｄ1(x+2)，・・
・Ｄ1n；Ｄ2(x+1)，Ｄ2(x+2)，・・・Ｄ2nの順に、Ｄ
y(x+1)，Ｄy(x+2)，・・・Ｄynまでの各画素データの水
平方向アドレスがオーバーフローし、Ｄ(y+1)1，Ｄ
(y+1)2，・・・Ｄ(y+1)x；Ｄ(y+2)1，Ｄ(y+2)2，・・・
Ｄ(y+2)xの順に、Ｄn1，Ｄn2，・・・・Ｄnxまでの各画
素データの垂直方向アドレスがオーバーフローし、Ｄ
(y+1)(x+1)，Ｄ(y+1)(x+2)，・・・Ｄ(y+1)n；Ｄ
(y+2)(x+1)，Ｄ(y+2)(x+2)，・・・Ｄ(y+2)nの順に、Ｄ
n(x+1)，Ｄn(x+2)，・・・Ｄnnまでの各画素データの水
平及び垂直方向アドレスがオーバーフローする。
ータ抽出回路６におけるアドレス算出時に、コンパレー
タによりアドレスのオーバーフローあるいはアンダーフ
ローとして簡単に検知することができ、図５に示す着目
画素Ｄyxを中心とする２値化判定範囲内の画素データＤ
11，Ｄ12，・・・・・Ｄnnのどれが欠落したかを検出で
きる。例えば、図４内の“１”で示した部分に着目画素
が位置する場合は、図５の画素データＤ11，Ｄ12，Ｄ
13, ・・・・・Ｄ1nから、着目画素Ｐの直前の画素デー
タＤ(y-1)1，Ｄ(y-1)2，Ｄ(y-1)3，・・・・・Ｄ(y-1)n
までの各画素データの垂直方向アドレスが“０”以下と
なり、図４内の“２”で示した部分に着目画素が位置す
る場合は、図５の画素データＤ1(x+1)，Ｄ1(x+2)，・・
・Ｄ1n；Ｄ2(x+1)，Ｄ2(x+2)，・・・Ｄ2nの順に、Ｄ
y(x+1)，Ｄy(x+2)，・・・Ｄynまでの各画素データの水
平方向アドレスがオーバーフローし、Ｄ(y+1)1，Ｄ
(y+1)2，・・・Ｄ(y+1)x；Ｄ(y+2)1，Ｄ(y+2)2，・・・
Ｄ(y+2)xの順に、Ｄn1，Ｄn2，・・・・Ｄnxまでの各画
素データの垂直方向アドレスがオーバーフローし、Ｄ
(y+1)(x+1)，Ｄ(y+1)(x+2)，・・・Ｄ(y+1)n；Ｄ
(y+2)(x+1)，Ｄ(y+2)(x+2)，・・・Ｄ(y+2)nの順に、Ｄ
n(x+1)，Ｄn(x+2)，・・・Ｄnnまでの各画素データの水
平及び垂直方向アドレスがオーバーフローする。
【００１７】したがって、このオーバーフロー、アンダ
ーフロー情報を用いてＡＥデータ用メモリ３から補間デ
ータを読み出し、欠落画素データ補間回路７で欠落画素
データの補間処理を行い、着目画素外データ演算回路８
で着目画素を除いた２値化判定範囲内の画素データの演
算を行う。次に、このように着目画素外データ抽出回路
６、欠落画素データ補間回路７及び着目画素外データ演
算回路８で行われる処理にかかる遅延時間と、着目画素
のアドレス算出を行う着目画素抽出回路５における処理
にかかる遅延時間の差を、遅延量補償回路９で補償し、
演算回路１０で着目画素データと着目画素外データ演算
回路８で算出されたデータとを演算処理し、着目画素を
２値化するように動作する。
ーフロー情報を用いてＡＥデータ用メモリ３から補間デ
ータを読み出し、欠落画素データ補間回路７で欠落画素
データの補間処理を行い、着目画素外データ演算回路８
で着目画素を除いた２値化判定範囲内の画素データの演
算を行う。次に、このように着目画素外データ抽出回路
６、欠落画素データ補間回路７及び着目画素外データ演
算回路８で行われる処理にかかる遅延時間と、着目画素
のアドレス算出を行う着目画素抽出回路５における処理
にかかる遅延時間の差を、遅延量補償回路９で補償し、
演算回路１０で着目画素データと着目画素外データ演算
回路８で算出されたデータとを演算処理し、着目画素を
２値化するように動作する。
【００１８】本実施例によって平均値制限法による２値
化を行う場合において、具体的には画像有効範囲周辺部
に着目画素が位置する場合は、欠落画素データがＡＥデ
ータにより補間されたデータにより、また２値化判定範
囲が画像有効範囲内に収まるような部分に着目画素が位
置する場合には、被写体データにより、着目画素外デー
タ演算回路８で着目画素を除いた画素データから次式
〔数１〕により積算値Ｓを求める。
化を行う場合において、具体的には画像有効範囲周辺部
に着目画素が位置する場合は、欠落画素データがＡＥデ
ータにより補間されたデータにより、また２値化判定範
囲が画像有効範囲内に収まるような部分に着目画素が位
置する場合には、被写体データにより、着目画素外デー
タ演算回路８で着目画素を除いた画素データから次式
〔数１〕により積算値Ｓを求める。
【００１９】
【数１】
【００２０】そして、演算回路１０において、着目画素
データの値Ｄp を求め、また２値化判定範囲の平均値Ａ
を、Ａ＝Ｓ／（ｎ2 −１）により算出し、着目画素デー
タＤp と２値化判定範囲の平均値Ａとの大小比較によ
り、着目画素の２値化を行う。
データの値Ｄp を求め、また２値化判定範囲の平均値Ａ
を、Ａ＝Ｓ／（ｎ2 −１）により算出し、着目画素デー
タＤp と２値化判定範囲の平均値Ａとの大小比較によ
り、着目画素の２値化を行う。
【００２１】以上のように、本実施例の場合、画像有効
範囲内の全ての画素データに対して２値化処理を行うこ
とができ、且つ平均値制限法の場合に必要な除算係数を
着目画素の位置に拘らず、一定にすることができる。ま
た本実施例では、被写体データ用メモリ４のメモリ制御
を、着目画素抽出回路５及び着目画素外データ抽出回路
６でアドレスを発生させて行うようにしたものを示した
が、複数のＦＩＦＯメモリを用いて、順次並列にデータ
を読み出すためのクロックにより、データの欠落補間制
御を行うように構成しても、同等の機能を実現できるこ
とは言うまでもない。
範囲内の全ての画素データに対して２値化処理を行うこ
とができ、且つ平均値制限法の場合に必要な除算係数を
着目画素の位置に拘らず、一定にすることができる。ま
た本実施例では、被写体データ用メモリ４のメモリ制御
を、着目画素抽出回路５及び着目画素外データ抽出回路
６でアドレスを発生させて行うようにしたものを示した
が、複数のＦＩＦＯメモリを用いて、順次並列にデータ
を読み出すためのクロックにより、データの欠落補間制
御を行うように構成しても、同等の機能を実現できるこ
とは言うまでもない。
【００２２】図６は、本発明の第２実施例を示すブロッ
ク構成図であり、図２に示した第１実施例と同一又は同
等の機能をもつブロック構成部には同一の符号を付して
示し、その説明を省略する。この第２実施例が前記第１
実施例と異なる点は、第１実施例における着目画素以外
の２値化判定範囲内の画素データを演算処理する着目画
素外データ演算回路８を、この第２実施例では、着目画
素以外の画素データから平均値を算出する着目画素外デ
ータ平均値算出回路８′として構成している点と、第１
実施例の演算回路１０を、注目画素データと着目画素外
データ平均値算出回路８′から出力される平均値とを比
較する比較演算回路１０′として構成している点であ
る。
ク構成図であり、図２に示した第１実施例と同一又は同
等の機能をもつブロック構成部には同一の符号を付して
示し、その説明を省略する。この第２実施例が前記第１
実施例と異なる点は、第１実施例における着目画素以外
の２値化判定範囲内の画素データを演算処理する着目画
素外データ演算回路８を、この第２実施例では、着目画
素以外の画素データから平均値を算出する着目画素外デ
ータ平均値算出回路８′として構成している点と、第１
実施例の演算回路１０を、注目画素データと着目画素外
データ平均値算出回路８′から出力される平均値とを比
較する比較演算回路１０′として構成している点であ
る。
【００２３】次に第２実施例の動作について説明する。
この実施例の場合には、２値化判定範囲は図７に示すよ
うに、水平及び垂直方向に３画素の合計９画素となる。
図６におけるＡＥデータ抽出用センサ１，被写体データ
抽出用センサ２，ＡＥデータ用メモリ３，被写体データ
用メモリ４及び着目画素抽出回路５の各動作は第１実施
例と同様であり、その説明は省略する。着目画素抽出回
路５により着目画素Ｐのアドレスが算出されると、着目
画素外データ抽出回路６では着目画素のアドレスから周
囲の画素のアドレスを算出する。このアドレス算出の際
の演算は、着目画素アドレスに対する大小比較演算とい
う簡単な処理となる。
この実施例の場合には、２値化判定範囲は図７に示すよ
うに、水平及び垂直方向に３画素の合計９画素となる。
図６におけるＡＥデータ抽出用センサ１，被写体データ
抽出用センサ２，ＡＥデータ用メモリ３，被写体データ
用メモリ４及び着目画素抽出回路５の各動作は第１実施
例と同様であり、その説明は省略する。着目画素抽出回
路５により着目画素Ｐのアドレスが算出されると、着目
画素外データ抽出回路６では着目画素のアドレスから周
囲の画素のアドレスを算出する。このアドレス算出の際
の演算は、着目画素アドレスに対する大小比較演算とい
う簡単な処理となる。
【００２４】着目画素の水平及び垂直アドレスを、ｘ，
ｙとして、図８に示した９画素Ｄ11・・・・・Ｄ33を用
いて欠落画素の状態を説明する。 ｘ＝ｙ＝１のとき、 Ｄ11，Ｄ12，
Ｄ13，Ｄ21，Ｄ31が欠落 ｘ＝ｙ＝Ｍaxのとき、 Ｄ13，Ｄ23，
Ｄ31，Ｄ32，Ｄ33が欠落 ｘ＝１，１＜ｙ＜Ｍaxのとき、 Ｄ11，Ｄ12，Ｄ13
が欠落 １＜ｘ＜Ｍax，ｙ＝１のとき、 Ｄ11，Ｄ21，Ｄ31
が欠落 ｘ＝Ｍax，１＜ｙ＜Ｍaxのとき、 Ｄ13，Ｄ23，Ｄ33
が欠落 １＜ｘ＜Ｍax，ｙ＝Ｍaxのとき、 Ｄ31，Ｄ32，Ｄ33
が欠落 なお、ここでＭaxは、画素アドレスの最大値を示してい
る。
ｙとして、図８に示した９画素Ｄ11・・・・・Ｄ33を用
いて欠落画素の状態を説明する。 ｘ＝ｙ＝１のとき、 Ｄ11，Ｄ12，
Ｄ13，Ｄ21，Ｄ31が欠落 ｘ＝ｙ＝Ｍaxのとき、 Ｄ13，Ｄ23，
Ｄ31，Ｄ32，Ｄ33が欠落 ｘ＝１，１＜ｙ＜Ｍaxのとき、 Ｄ11，Ｄ12，Ｄ13
が欠落 １＜ｘ＜Ｍax，ｙ＝１のとき、 Ｄ11，Ｄ21，Ｄ31
が欠落 ｘ＝Ｍax，１＜ｙ＜Ｍaxのとき、 Ｄ13，Ｄ23，Ｄ33
が欠落 １＜ｘ＜Ｍax，ｙ＝Ｍaxのとき、 Ｄ31，Ｄ32，Ｄ33
が欠落 なお、ここでＭaxは、画素アドレスの最大値を示してい
る。
【００２５】この欠落状態により、欠落画素データ補間
回路７では欠落画素データを補間し、補間された画素デ
ータを着目画素外データ平均値算出回路８′へ転送す
る。この着目画素外データ平均値算出回路８′では、着
目画素以外の周囲の画素データの演算を行う。そしてこ
の実施例における着目画素外データ平均値算出回路８′
では、この演算は平均値を算出するように行われる。本
実施例における２値化判定範囲では、平均値算出のため
の除算係数は“８”となり、この平均値算出回路８′は
デジタル処理においてはビットシフトにより構成でき、
簡単なハードウェア構成で実現できる。次いで、比較演
算回路１０′では、着目画素を除いた前記平均値算出回
路８′で算出された平均値データと、着目画素データと
の大小比較演算により、着目画素の２値化を行う。
回路７では欠落画素データを補間し、補間された画素デ
ータを着目画素外データ平均値算出回路８′へ転送す
る。この着目画素外データ平均値算出回路８′では、着
目画素以外の周囲の画素データの演算を行う。そしてこ
の実施例における着目画素外データ平均値算出回路８′
では、この演算は平均値を算出するように行われる。本
実施例における２値化判定範囲では、平均値算出のため
の除算係数は“８”となり、この平均値算出回路８′は
デジタル処理においてはビットシフトにより構成でき、
簡単なハードウェア構成で実現できる。次いで、比較演
算回路１０′では、着目画素を除いた前記平均値算出回
路８′で算出された平均値データと、着目画素データと
の大小比較演算により、着目画素の２値化を行う。
【００２６】このように、第２実施例においては、簡単
なハードウェア構成で、画像有効範囲内の全ての画素デ
ータに対して２値化処理を行うことができる。なお第２
実施例では、被写体データ用メモリ４のメモリ制御を着
目画素のアドレスを用いたアドレス制御で行うようにし
たものを示したが、ＦＩＦＯ方式のようなメモリを２個
用いて、各メモリへ供給するクロック及びリセットパル
スにより画像周辺部における欠落画素の状態を検知し、
同様な結果が得られるようにハードウェアを構成するこ
とができる。
なハードウェア構成で、画像有効範囲内の全ての画素デ
ータに対して２値化処理を行うことができる。なお第２
実施例では、被写体データ用メモリ４のメモリ制御を着
目画素のアドレスを用いたアドレス制御で行うようにし
たものを示したが、ＦＩＦＯ方式のようなメモリを２個
用いて、各メモリへ供給するクロック及びリセットパル
スにより画像周辺部における欠落画素の状態を検知し、
同様な結果が得られるようにハードウェアを構成するこ
とができる。
【００２７】
【発明の効果】以上実施例に基づいて説明したように、
請求項１記載の発明によれば、着目画素の位置に拘らず
一定の除算係数で処理ができるので、平均値算出のため
の除算係数を可変にすることによるハードウェア規模の
増大を伴うことなく２値化処理ができ、且つ画像有効範
囲全てのデータに対して２値化処理を行うことができ
る。また請求項２記載の発明によれば、２値化レベル判
定領域となる正方画素ブロックを９画素とし、２値化レ
ベル判定のための演算を平均値演算とするように構成し
たので、回路規模の縮小化と最適化を図った画像２値化
処理装置を実現することができる。
請求項１記載の発明によれば、着目画素の位置に拘らず
一定の除算係数で処理ができるので、平均値算出のため
の除算係数を可変にすることによるハードウェア規模の
増大を伴うことなく２値化処理ができ、且つ画像有効範
囲全てのデータに対して２値化処理を行うことができ
る。また請求項２記載の発明によれば、２値化レベル判
定領域となる正方画素ブロックを９画素とし、２値化レ
ベル判定のための演算を平均値演算とするように構成し
たので、回路規模の縮小化と最適化を図った画像２値化
処理装置を実現することができる。
【図１】本発明に係わる画像２値化処理装置の動作の概
念を説明するための図である。
念を説明するための図である。
【図２】本発明の第１実施例を示すブロック構成図であ
る。
る。
【図３】図２に示した第１実施例の動作を説明するため
の説明図である。
の説明図である。
【図４】図２に示した第１実施例の動作を説明するため
の説明図である。
の説明図である。
【図５】図２に示した第１実施例の動作を説明するため
の説明図である。
の説明図である。
【図６】第２実施例を示すブロック構成図である。
【図７】図６に示した第２実施例の動作を説明するため
の説明図である。
の説明図である。
【図８】図６に示した第２実施例の動作を説明するため
の説明図である。
の説明図である。
【図９】画像の単純２値化処理を説明するための説明図
である。
である。
【図10】単純２値化処理による情報の欠落状態を示す説
明図である。
明図である。
【図11】単純２値化処理における平均値制限法を説明す
るための説明図である。
るための説明図である。
【図12】平均値制限法の動作原理を説明するための説明
図である。
図である。
【図13】平均値制限法における欠点を説明するための説
明図である。
明図である。
１ ＡＥデータ抽出用センサ ２ 被写体データ抽出用センサ ３ ＡＥデータ用メモリ ４ 被写体データ用メモリ ５ 着目画素抽出回路 ６ 着目画素外データ抽出回路 ７ 欠落画素データ補間回路 ８ 着目画素外データ演算回路 ８′着目画素外データ平均値算出回路 ９ 遅延量補償回路 10 演算回路 10′比較演算回路 11 出力端子
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｎ 1/40 １０３ Ａ
Claims (2)
- 【請求項１】 被写体のＡＥ情報を抽出するＡＥデータ
抽出手段と、被写体の画像情報を抽出する被写体データ
抽出手段と、該被写体データ抽出手段から得られる２値
化の対象となる１個の着目画素を中心とし、水平及び垂
直方向にそれぞれｎ画素の拡がりをもつ正方画素ブロッ
クから、個々の画素データを得る手段と、前記着目画素
を除いた正方画素ブロックの画素データを演算する手段
と、該演算手段により算出されたデータと着目画素デー
タとを演算し、着目画素の２値化データを出力する手段
とを備えた画像２値化処理装置において、画像周辺部の
２値化処理において、前記着目画素を除いた正方画素ブ
ロック内の画素データが前記被写体データ抽出手段より
得られない場合、その得られない個々の画素データを前
記ＡＥデータ抽出手段で得られたＡＥ情報により補間す
る手段を備えていることを特徴とする画像２値化処理装
置。 - 【請求項２】 前記正方画素ブロックを水平及び垂直方
向に３画素の合計９画素で構成し、着目画素を除いた正
方画素ブロックの画素データを演算する手段を、平均値
を算出するように構成し、着目画素データと着目画素を
除いた正方画素ブロックの演算データとを演算する手段
を比較演算回路で構成することを特徴とする請求項１記
載の画像２値化処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6093867A JPH07283945A (ja) | 1994-04-08 | 1994-04-08 | 画像２値化処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6093867A JPH07283945A (ja) | 1994-04-08 | 1994-04-08 | 画像２値化処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07283945A true JPH07283945A (ja) | 1995-10-27 |
Family
ID=14094408
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6093867A Withdrawn JPH07283945A (ja) | 1994-04-08 | 1994-04-08 | 画像２値化処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07283945A (ja) |
-
1994
- 1994-04-08 JP JP6093867A patent/JPH07283945A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010703 |