JPH0727996B2 - 冷却装置付半導体装置 - Google Patents

冷却装置付半導体装置

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JPH0727996B2
JPH0727996B2 JP6143388A JP6143388A JPH0727996B2 JP H0727996 B2 JPH0727996 B2 JP H0727996B2 JP 6143388 A JP6143388 A JP 6143388A JP 6143388 A JP6143388 A JP 6143388A JP H0727996 B2 JPH0727996 B2 JP H0727996B2
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JP
Japan
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heat pipe
semiconductor element
semiconductor device
mounting plate
semiconductor
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卓 亀田
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Mitsubishi Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、電気車などに搭載された制御装置に装着さ
れた冷却装置付半導体装置に関し、特にヒートパイプの
貫通部を封止した改良にかかわる。
〔従来の技術〕
半導体素子を用いた整流器,チヨツパ,インバータなど
の冷却装置付半導体装置の公知技術として、実開昭62-8
9148号公報に示されたものがある。第5図及び第6図は
これに類する従来の冷却装置付半導体装置を示す、一部
断面した側面図及び平面断面図である。1は例えばダイ
オードなど複数の半導体素子、2はこれらの半導体素子
と交互に重ねられ接触する金属ブロツクで、熱伝達と導
電とを兼ねている。金属ブロツク2から複数本(図では
3本)宛のヒートパイプ3が出され、放熱フイン4が設
けられていて冷却装置をなしている。半導体素子1と金
属ブロツク2とは中心部に位置合せピン5がはめられて
いる。6は両端の金属ブロツク2に当てられた絶縁板
で、絶縁がいしなどからなる。7は両端の絶縁板6に当
てられたスペーサで、座金などからなる。8及び9は両
端に配された端板で、4本の支柱10が四隅に通されてナ
ツト11に締付けられ、所定の間隔に保持されている。12
は皿ばね、13は端板8にねじ通しされ、各半導体素子1
と金属ブロツク2とに所定の接触圧を加える締付けボル
ト、14は上記組立体の端板8,9をボルト15により取付け
た取付板で、長手方向に2分割されてあり、双方の合せ
面が密接されており、各ヒートパイプ3を通す貫通穴14
aが設けられている。こうして、取付板14に取付けられ
た冷却装置付半導体装置16が構成されている。
上記半導体装置16において、半導体素子1が故障して取
替える場合は、第7図に示すようにする。締付けボルト
13を緩め、金属ブロツク2をピン5が半導体素子1から
外れる程度の間隔Aに広げ、半導体素子1を矢印方向に
取出し、新しい半導体素子1をはめ込み、締付けボルト
13を締付ける。Bは半導体素子1を両側から挾付けた状
態の両金属ブロツク2の間隔(半導体素子1の厚さ)を
示す。このように、貫通穴14aは、半導体素子1の取替
えの際にヒートパイプ3がずらされるように大きくして
ある。
上記半導体装置16を収容した制御装置を搭載した電気車
を、第8図及び第9図に要部の側面図及び正面断面図で
示す。電気車25の車体の床下部に制御装置箱17が取付け
られている。
この制御装置箱17には、第10図に示すように、制御装置
の各種電機品が収容されている。半導体装置16が取付板
14により箱17にボルト18で取付けられている。19は電気
部品、20は電子機器、21は回路配線、22は端子台、23は
引出線押え、24は点検カバーである。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記のような従来の冷却装置付半導体装置では、制御装
置箱17内に実装して使用の場合、半導体素子1部は内蔵
しており、ヒートパイプ3は外部に露出して放熱効果を
上げている。取付板14にはヒートパイプ3を通し、か
つ、半導体素子1の取替えの際ヒートパイプ3を移動す
るための余裕をもたせた大きさの貫通穴14aを設けてあ
る。このため、外部からじんあいや雨水の浸入があり、
制御装置箱17に収納している機器の絶縁強化を要し、か
つ、清掃手入作業を頻繁に行う必要があるなどの問題点
があつた。
この発明は、このような問題点を解決するためになされ
たもので、取付板の貫通穴部でヒートパイプを封止し、
外部からのじんあい、雨水の浸入を防止するとともに、
半導体素子の取替えに際しては、ヒートパイプが貫通穴
内でずらされるようにし、内部機器の絶縁低下が防が
れ、所要絶縁間隔が短縮できる冷却装置付半導体装置を
得ることを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
この発明にかかる冷却装置付半導体装置は、取付板の貫
通穴部にヒートパイプとの間に介在し、封止する可とう
封止体を装着したものである。
〔作用〕
この発明においては、取付板の貫通穴にヒートパイプと
の間に可とう封止体が装着されており、外部からのじん
あいや、雨水の浸入が防止され、かつ、半導体素子の取
替えの際は、可とう封止体を装着したままヒートパイプ
が貫通穴内を支障なく移動される。
〔実施例〕
第1図及び第2図はこの発明による冷却装置付半導体装
置の一実施例を示す一部断面した側面図及び正面図であ
り、1〜15,14aは上記従来装置と同一のものである。30
は冷却装置付半導体装置で、次のように取付板14の貫通
穴14a部を封止している。31はベローズが形成されたゴ
ム材からなる可とう封止体で、一端のつば部が取付板14
の貫通穴14aに接着剤などで接合され、他端部がヒート
パイプ3に密接してはめられている。
この可とう封止体31を、第3図(a)及び(b)に平面
図及び一部断面した正面図で示す。
上記一実施例の半導体装置30は、上記従来装置と同様に
第10図に示す制御装置箱17に取付板14の取付けにより装
着される。取付板14の貫通穴14a部において、ヒートパ
イプ3は可とう封止体31の介在により封止され、箱17内
は外部から封鎖される。
半導体素子1が故障し交換する場合は、第4図に示すよ
うに、締付けボルト13を緩め、金属ブロツク2を他の金
属ブロツク2との間隔Aを拡げ、故障の半導体素子1を
矢印のように取出し、新しいものと取替える。このと
き、ヒートパイプ3は貫通穴14a内を移動するが、可と
う封止体31が自在にたわむことにより支障はない。
なお、上記実施例では、金属ブロツク2は半導体素子1
の電極に直接接触しているため、ヒートパイプ3は電位
をもつているので、可とう封止体31は絶縁のためゴム材
を用いている。しかし、金属ブロツク2と半導体素子1
との間に熱伝達良好な電気的絶縁物(例えば窒化アルミ
ニウム板)を介して組合せ、金属ブロツク2をアース電
位として使用する場合は、可とう封止体には、薄金属材
を用い、ベローズなどを設けて可とうに形成したものに
してもよい。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば、取付板の貫通穴部と
ヒートパイプとの間を可とう封止体を介在させて封止し
たので、制御装置箱内への外部からのじんあいや雨水な
どの浸入が防止され、絶縁低下がなくされる。これによ
り、従来装置より絶縁間隔が短縮でき制御装置を小さく
することができる。また、清掃手入れ作業の回数が少な
くされ、信頼性が高められる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図はこの発明による冷却装置付半導体装
置の一実施例を示す一部断面した側面図及び正面図、第
3図(a)及び(b)は第2図の可とう封止体の平面図
及び一半部を断面にした正面図、第4図は第1図の装置
の半導体素子を取替える状態を示す一部断面した側面
図、第5図は従来の冷却装置付半導体装置を示す一部断
面した側面図、第6図は第5図のVI−VI線における断面
図、第7図は第5図の装置の半導体素子を取替える状態
を示す一部断面した側面図、第8図は電気車の側面図、
第9図は第8図のIX−IX線における断面図、第10図は第
9図の制御装置箱の断面図である。 1…半導体素子、2…金属ブロツク、3…ヒートパイ
プ、4…放熱フイン、6…絶縁板、8,9…端板、10…支
柱、12…皿ばね、13…締付けボルト、14…取付板、14a
…貫通穴、30…冷却装置付半導体装置、31…可とう封止
体。 なお、図中同一符号は同一又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体素子と金属ブロツクとが交互に重ね
    られ、両端に絶縁板を介し両側一対の端板に受けられ弾
    性押圧保持されており、上記金属ブロツクからヒートパ
    イプが出されていて、このヒートパイプには放熱フイン
    が設けられてあり、上記両端板を取付板に取付けてお
    り、この取付板には上記ヒートパイプを通す貫通穴が設
    けられた冷却装置付半導体装置において、上記貫通穴と
    ヒートパイプ間に装着され、ヒートパイプを貫通穴内で
    可動に封止する可とう封止体を備えた冷却装置付半導体
    装置。
JP6143388A 1988-03-14 1988-03-14 冷却装置付半導体装置 Expired - Lifetime JPH0727996B2 (ja)

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JP6143388A JPH0727996B2 (ja) 1988-03-14 1988-03-14 冷却装置付半導体装置

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JP6143388A JPH0727996B2 (ja) 1988-03-14 1988-03-14 冷却装置付半導体装置

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JPH01233747A JPH01233747A (ja) 1989-09-19
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JPH0714029B2 (ja) * 1990-02-07 1995-02-15 日本碍子株式会社 電力用半導体素子
US5229915A (en) * 1990-02-07 1993-07-20 Ngk Insulators, Ltd. Power semiconductor device with heat dissipating property
JP3477123B2 (ja) * 1999-09-30 2003-12-10 株式会社東芝 電力変換装置

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