JPH07273165A - Method and equipment for processing - Google Patents

Method and equipment for processing

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JPH07273165A
JPH07273165A JP8240094A JP8240094A JPH07273165A JP H07273165 A JPH07273165 A JP H07273165A JP 8240094 A JP8240094 A JP 8240094A JP 8240094 A JP8240094 A JP 8240094A JP H07273165 A JPH07273165 A JP H07273165A
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carrier
mounting table
processed
posture
heat treatment
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JP8240094A
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Satoru Osawa
哲 大沢
Hiroyuki Iwai
裕之 岩井
Hisashi Kikuchi
寿 菊池
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Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Tohoku Ltd
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Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Tohoku Ltd
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Abstract

PURPOSE:To provide a method and an equipment for processing in which the processing capacity can be enhanced while reducing the size of the equipment. CONSTITUTION:A mechanism 9 for rotating a carrier 7 housing a plurality of objects to be processed vertically around a center of rotation X within its side face region and converting the objects from vertical attitude to horizontal attitude is disposed at the carry-in/carry-out port 8 of a processing chamber 1 housing a vertical heat treatment furnace 2. A section 49 for housing a plurality of carriers 7 is disposed above the attitude converting mechanism 9 and the carrier 7 is carried between the housing section 49 and the mechanism 9 and the heat treatment furnace 2 by means of a carrying mechanism 51. The object to be processed is transferred, by means of a transfer mechanism 52, between the carrier 7 carried to the heat treatment furnace 2 and an object holder 5 being carried into the furnace 2 or carried out of the furnace 2.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、処理装置及び処理方法
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a processing apparatus and a processing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、半導体装置の製造工程において
は、被処理体である半導体ウエハに酸化、拡散、CVD
などの各種の処理を施す工程があり、この処理工程にお
けるスループットの向上、無塵化及び省スペース化等を
図る観点から、種々の処理装置が提案されている(特公
平4−27121号公報、特開平4−133422号公
報、特開平4−148717号公報等参照)。
2. Description of the Related Art Generally, in a semiconductor device manufacturing process, a semiconductor wafer, which is an object to be processed, is oxidized, diffused, or CVD.
There is a step of performing various kinds of processing such as, and from the viewpoint of improving the throughput, dust-free and space-saving in this processing step, various processing devices have been proposed (Japanese Patent Publication No. 4-27121). (See Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-133422, Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-148717, etc.).

【0003】例えば、特開平4−148717号公報に
記載されている処理装置は、箱状の処理室内に縦型の熱
処理炉を収容し、処理室の前部に複数枚の半導体ウエハ
を垂直に収容したキャリアを搬入搬出するための搬出入
口を設けている。この場合、キャリア内に垂直に収容さ
れている半導体ウエハを前記縦型の熱処理炉内に搬入搬
出する被処理体保持具であるウエハボートに水平状態で
移載する必要があることから、前記搬出入口の近傍には
キャリアを載置する載置台を有し、この載置台を介して
キャリアの姿勢を半導体ウエハが垂直から水平になるよ
うに変換する姿勢変換機構が設けられている。
For example, a processing apparatus disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 4-148717 houses a vertical heat treatment furnace in a box-shaped processing chamber, and a plurality of semiconductor wafers are vertically arranged in the front part of the processing chamber. A loading / unloading port for loading / unloading the accommodated carriers is provided. In this case, since it is necessary to horizontally transfer the semiconductor wafers vertically accommodated in the carrier to the wafer boat which is a workpiece holder for loading and unloading into the vertical heat treatment furnace, A mounting table for mounting the carrier is provided near the entrance, and an attitude converting mechanism for converting the attitude of the carrier so that the semiconductor wafer is changed from vertical to horizontal via the mounting table.

【0004】この姿勢変換機構は、載置台の下方に形成
した空きスペースに載置台を回動させてキャリアの姿勢
を変換するように構成されている。そして、この姿勢変
換機構により姿勢変換されたキャリアを搬送機構により
上方の収容部に処理に必要な個数だけ収容してから、こ
の収容部から熱処理炉側に順次搬送し、そのキャリア内
の半導体ウエハを移載機構により取り出して前記ウエハ
ボートに順次移載するようになっている。
This attitude changing mechanism is configured to change the attitude of the carrier by rotating the mounting table in an empty space formed below the mounting table. Then, the carrier whose posture is changed by the posture changing mechanism is accommodated in the upper containing portion by the carrying mechanism in an amount necessary for processing, and then sequentially transferred from the containing portion to the heat treatment furnace side. Are taken out by the transfer mechanism and transferred to the wafer boat in sequence.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな処理装置においては、載置台を下方に回動させてキ
ャリアを姿勢変換するようになっているため、載置台の
下方に載置台が回動できる十分な空きスペースを確保す
る必要があると共に、搬送機構側にも載置台の回動に伴
って所定の回動軌跡で張り出しながら移動するキャリア
との干渉を避けるための十分なスペースを確保する必要
がある。従って、省スペース化ひいては装置の小型化を
図る上である程度の限界があり、また、キャリアの移動
及び搬送距離が長い分だけ処理時間が多くかかり、スル
ープットすなわち処理効率の向上を図る上でもある程度
の限界があった。
However, in such a processing apparatus, since the mounting table is rotated downward to change the posture of the carrier, the mounting table is rotated below the mounting table. It is necessary to secure a sufficient vacant space that can be secured, and also to secure a sufficient space on the transfer mechanism side to avoid interference with the carrier that moves while projecting along a predetermined rotation trajectory as the mounting table rotates. There is a need. Therefore, there is a certain limit in terms of space saving and further downsizing of the apparatus, and more processing time is required due to the longer carrier movement and longer transport distance. There was a limit.

【0006】そこで、本発明の目的は、装置の小型化及
び処理効率の向上が図れる処理装置及び処理方法を提供
することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide a processing apparatus and a processing method capable of downsizing the apparatus and improving processing efficiency.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項1記載の処理装置は、複数枚の被処理体が垂直
に収容されたキャリアの搬出入口を有し、前記被処理体
を熱処理する縦型の熱処理炉を収容した処理室と、この
処理室内の前記搬出入口近傍に設けられ、前記キャリア
をその側面領域内の回転中心回りに回動させて被処理体
が垂直から水平になるように姿勢変換する姿勢変換機構
と、この姿勢変換機構の上方に設けられ、姿勢変換され
た複数個のキャリアを収容する収容部と、この収容部と
前記姿勢変換機構及び前記熱処理炉側との間でキャリア
を搬送する搬送機構と、前記熱処理炉側に搬送されたキ
ャリアと熱処理炉に搬入搬出される被処理体保持具との
間で被処理体を移載する移載機構とを備えたことを特徴
とする。なお、前記被処理体としては、例えば半導体ウ
エハ、LCD基板等が適用可能である。また、前記処理
室内は、清浄化された雰囲気に維持されていることが好
ましい。
In order to achieve the above object, a processing apparatus according to a first aspect of the present invention has a carrier loading / unloading port for vertically accommodating a plurality of objects to be processed, A processing chamber accommodating a vertical heat treatment furnace for heat treatment, and provided in the vicinity of the carry-in / out port in the processing chamber, the carrier is rotated around a rotation center in a side surface region thereof so that an object to be processed is changed from vertical to horizontal. A posture changing mechanism for changing the posture so that the posture is changed, a housing portion provided above the posture changing mechanism for housing a plurality of posture-changed carriers, the housing portion, the posture changing mechanism, and the heat treatment furnace side. And a transfer mechanism for transferring the object to be processed between the carrier transferred to the heat treatment furnace side and the object holder to be carried in and out of the heat treatment furnace. It is characterized by that. As the object to be processed, for example, a semiconductor wafer, an LCD substrate or the like can be applied. Further, it is preferable that the processing chamber is maintained in a clean atmosphere.

【0008】請求項2記載の処理装置は、請求項1記載
の処理装置において、前記キャリアを載置する載置台
と、この載置台に載置されたキャリアの側面領域内に設
定された回転中心を支点として載置台を回動可能に支持
する支持部と、前記載置台を前記搬出入口側に垂直に立
上がるように前記回転中心を支点として回動させる駆動
部と、前記載置台に設けられ、姿勢変換された前記キャ
リアの下部を受ける受部とを備えたことを特徴とする。
A processing apparatus according to a second aspect is the processing apparatus according to the first aspect, in which the carrier on which the carrier is mounted and the center of rotation set in a side surface region of the carrier mounted on the carrier are set. Is provided on the mounting table, and a support portion that rotatably supports the mounting table with the fulcrum as a fulcrum, a drive unit that rotates the mounting table about the rotation center as a fulcrum so as to rise vertically to the loading / unloading port side. A receiving portion that receives the lower portion of the carrier whose posture has been changed.

【0009】請求項3記載の処理装置は、請求項2記載
の処理装置において、前記載置台が、前記キャリア内の
被処理体を所定方向に整列させる整列機構を備えたこと
を特徴とする。なお、この整列機構としては、被処理体
の周縁部に形成されたオリエンテーションフラット、ノ
ッチ等の切欠部が所定方向に向くように被処理体を回転
させて整列させる公知の整列機構が適用可能である。ま
た、整列機構は、キャリアの移載ないし搬送に際しての
被処理体との干渉を避けるために載置台の上面から昇降
可能に設けられていることが好ましい。
According to a third aspect of the present invention, in the processing apparatus according to the second aspect, the mounting table includes an alignment mechanism for aligning the objects to be processed in the carrier in a predetermined direction. As this alignment mechanism, a well-known alignment mechanism that rotates and aligns the objects to be processed so that the orientation flats formed on the peripheral edge of the objects to be processed, notches such as notches, etc. face a predetermined direction can be applied. is there. Further, it is preferable that the alignment mechanism is provided so as to be able to move up and down from the upper surface of the mounting table in order to avoid interference with the object to be processed when the carrier is transferred or transported.

【0010】請求項4記載の処理装置は、請求項2又は
3記載の処理装置において、前記載置台が、前記キャリ
ア内の被処理体を検知する検知器を備えたことを特徴と
する。なお、この検知器としては、櫛歯状本体の櫛歯間
に各被処理体を収容し、櫛歯の対向壁部に配置した投光
素子と受光素子により被処理体の有無を検知する公知の
検知器が適用可能である。また、検知器は前記整列機構
と一体的に昇降可能に設けられていることが好ましい。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the processing apparatus according to the second or third aspect, wherein the mounting table includes a detector for detecting an object to be processed in the carrier. As this detector, there is a known device in which each object to be processed is housed between the comb teeth of the comb-tooth-shaped main body, and the presence or absence of the object to be processed is detected by the light projecting element and the light receiving element arranged on the opposing walls of the comb teeth. The detector can be applied. Further, it is preferable that the detector is provided so as to be able to move up and down integrally with the alignment mechanism.

【0011】請求項5記載の処理方法は、複数枚の被処
理体が垂直に収容されたキャリアを、縦型の熱処理炉を
収容した処理室の搬出入口から熱処理炉側に搬送処理す
るに際して、前記処理室内の搬出入口近傍で前記キャリ
アをその側面領域内の回転中心回りに回動させて前記被
処理体を垂直から水平にする姿勢変換工程と、姿勢変換
されたキャリアを前記搬出入口の上方領域に設けられた
収容部に搬送する搬送工程とを備えたことを特徴とす
る。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a method in which a carrier, in which a plurality of objects to be processed are vertically accommodated, is transferred from a carry-in / out port of a processing chamber accommodating a vertical heat treatment furnace to the heat treatment furnace side. A posture changing step of rotating the carrier around a rotation center in a side surface region thereof in the vicinity of the carry-in / out port in the processing chamber to make the object to be processed from vertical to horizontal, and a posture-converted carrier above the carry-in / out port. And a carrying step of carrying the container to a housing portion provided in the area.

【0012】[0012]

【作用】請求項1記載の処理装置によれば、姿勢変換機
構によりキャリアをその側面領域内の回転中心回りに回
動されて、被処理体が垂直から水平になるように姿勢変
換するため、キャリアを張り出し量の少ない最少半径及
び最少移動量の回動軌跡で姿勢変換することが可能とな
る。従って、キャリアの姿勢変換を迅速に行え、姿勢変
換時のキャリアと搬送機構との干渉を避けるためのスペ
ースを縮小できると共に、姿勢変換されたキャリアを上
方の収容部に搬送する搬送距離及び搬送時間の短縮が図
れるため、装置の小型化及び処理効率の向上が図れる。
According to the processing apparatus of the present invention, since the carrier is rotated around the center of rotation in the side surface region by the attitude converting mechanism, the attitude of the object to be processed is changed from vertical to horizontal. It is possible to change the posture of the carrier with a rotation locus of a minimum radius and a minimum movement amount with a small overhang. Therefore, the attitude of the carrier can be changed quickly, the space for avoiding the interference between the carrier and the transfer mechanism at the time of changing the attitude can be reduced, and the transfer distance and the transfer time for transferring the attitude-changed carrier to the upper accommodation section. Therefore, the size of the apparatus can be reduced and the processing efficiency can be improved.

【0013】請求項2記載の処理装置によれば、キャリ
アを載置した載置台が支持部によりキャリアの側面領域
内に設定された回転中心回りに回動可能に支持されて、
搬出入口側に垂直に立上がるように駆動部により回動さ
れ、姿勢変換されたキャリアの下部が受部により支持さ
れるため、キャリアの姿勢変換を簡単な構成で確実に行
うことが可能となる。
According to the processing apparatus of the second aspect, the mounting table on which the carrier is mounted is supported by the supporting portion so as to be rotatable around the rotation center set in the side surface region of the carrier.
The lower portion of the carrier whose posture has been changed by being rotated by the drive unit so as to rise vertically to the carry-in / out entrance side is supported by the receiving unit, so that the posture of the carrier can be surely changed with a simple configuration. .

【0014】請求項3記載の処理装置によれば、載置台
がキャリア内の被処理体を所定方向に整列させる整列機
構を備えているため、載置台を下方の空きスペースに回
動させてキャリアの姿勢変換を行うようにし、空きスペ
ースの下方から昇降機構により整列機構を載置台上に昇
降させるようにした従来の処理装置と異なり、装置の小
型化が図れると共に、載置台の下方のスペースを有効に
利用することが可能となる。
According to the processing apparatus of the third aspect, since the mounting table has the alignment mechanism for aligning the objects to be processed in the carrier in the predetermined direction, the mounting table is rotated into the empty space below and the carrier is moved. Different from the conventional processing device, in which the alignment mechanism is moved up and down from the empty space and the alignment mechanism is moved up and down from the empty space, the device can be downsized and the space under the mounting table can be reduced. It can be used effectively.

【0015】請求項4記載の処理装置によれば、載置台
がキャリア内の被処理体を検知する検知器を備えている
ため、キャリア内の被処理体の有無及び枚数を検知する
ことが可能となる。
According to the processing apparatus of the fourth aspect, since the mounting table includes the detector for detecting the object to be processed in the carrier, it is possible to detect the presence or absence of the object to be processed in the carrier and the number of the objects. Becomes

【0016】請求項5記載の処理方法によれば、複数枚
の被処理体が垂直に収容されたキャリアを、縦型の熱処
理炉を収容した処理室の搬出入口から熱処理炉側に搬送
処理するに際して、処理室内の搬出入口近傍でキャリア
をその側面領域内の回転中心回りに回動させて姿勢変換
した後、キャリアを搬出入口の上方領域の収容部に搬送
するため、キャリアを張り出し量の少ない最少半径及び
最少移動量の回動軌跡で迅速に姿勢変換して、上方の収
容部に迅速に搬送することが可能となり、処理時間の短
縮化及び処理効率の向上が図れる。
According to the processing method of the fifth aspect, the carrier in which a plurality of objects to be processed is vertically housed is transferred from the carry-in / out port of the processing chamber housing the vertical heat treatment furnace to the heat treatment furnace side. At this time, since the carrier is rotated around the center of rotation in the side surface area near the carry-in / out entrance in the processing chamber to change the posture, and then the carrier is transferred to the accommodating portion in the area above the carry-in / out entrance, the amount of overhang of the carrier is small. The posture can be swiftly changed according to the rotation trajectory of the minimum radius and the minimum movement amount, and can be quickly conveyed to the upper accommodation portion, so that the processing time can be shortened and the processing efficiency can be improved.

【0017】[0017]

【実施例】以下に、本発明の一実施例を添付図面に基づ
いて詳述する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.

【0018】処理装置の側断面図構成を示す図1におい
て、1は処理装置のハウジングを形成する例えば鉄板等
により箱状に形成された処理室であり、この処理室1内
の奥部上方には下部に炉口を有する円筒状の反応管、そ
の周囲を覆うように配置されたヒータ及び断熱材等から
なる縦型の熱処理炉2が設置されている。
In FIG. 1, which shows a side sectional view of the processing apparatus, reference numeral 1 denotes a box-shaped processing chamber which forms a housing of the processing apparatus, and which is formed in a box shape by an iron plate or the like. A vertical heat treatment furnace 2 including a cylindrical reaction tube having a furnace opening at the bottom, a heater arranged so as to cover the periphery thereof, a heat insulating material, and the like is installed.

【0019】この熱処理炉2の下方の空間部(ローディ
ングエリア)には図2にも示すように炉口を開閉する蓋
体3が昇降機構4により昇降可能に設けられ、この蓋体
3上には被処理体である半導体ウエハWを水平状態で上
下方向に所定の間隔を存して多数枚例えば150枚程度
保持する被処理体保持具である例えば石英製のウエハボ
ート5が保温筒6を介して載置されている。半導体ウエ
ハWを保持したウエハボート6は、蓋体3の昇降に伴っ
て保温筒6と共に前記熱処理炉2内に搬入搬出(ロー
ド、アンロード)されるように構成されている。
In the space below the heat treatment furnace 2 (loading area), a lid 3 for opening and closing the furnace opening is provided so as to be able to move up and down by an elevating mechanism 4 as shown in FIG. Is a wafer holder 5 made of, for example, quartz, which is a holder for holding a large number of, for example, about 150 semiconductor wafers W, which are the objects to be processed, at a predetermined interval in the vertical direction in the vertical direction. Is placed through. The wafer boat 6 holding the semiconductor wafer W is configured to be carried in and out (loaded, unloaded) into the heat treatment furnace 2 together with the heat insulation cylinder 6 as the lid 3 is moved up and down.

【0020】一方、前記処理室1の前部には半導体ウエ
ハWを垂直に複数枚例えば25枚程度収容するプラスチ
ック容器であるキャリア7を搬入搬出するために図示し
ない透明材質製のスライドドアを備えた搬出入口8が形
成され、処理室1内の搬出入口8近傍にはキャリア7を
キャリア7内の半導体ウエハWが垂直から水平になるよ
うに姿勢変換する姿勢変換機構9が設けられている。こ
の姿勢変換機構9は、図3ないし図4に示すようにキャ
リア7を載置する載置台10と、この載置台10をキャ
リア7の側面領域内に設定された回転中心Xを支点とし
て回動可能に支持する支持部としてのスイングアーム1
1と、載置台10を水平状態から前記搬出入口8側に垂
直状態に立上がるように前記回転中心Xを支点として回
動させる駆動部としてのエアシリンダ12とを備えてい
る。
On the other hand, in the front part of the processing chamber 1, there is provided a slide door (not shown) made of a transparent material in order to carry in / out a carrier 7 which is a plastic container for vertically storing a plurality of semiconductor wafers W, for example, about 25 sheets. A carrying-in / carrying-out port 8 is formed, and in the vicinity of the carrying-in / carrying-out port 8 in the processing chamber 1, a posture changing mechanism 9 is provided for changing the posture of the carrier 7 so that the semiconductor wafer W in the carrier 7 is changed from vertical to horizontal. The posture changing mechanism 9 rotates about a mounting table 10 on which the carrier 7 is mounted as shown in FIGS. 3 to 4, and the mounting table 10 as a fulcrum about a rotation center X set in a side surface region of the carrier 7. Swing arm 1 as a supporting portion for supporting the movement possible
1 and an air cylinder 12 as a drive unit for rotating the mounting table 10 from a horizontal state to a vertical state on the carry-in / out port 8 side with the rotation center X as a fulcrum.

【0021】実施例の載置台10は、キャリア7を平行
に2個載置できる横長平板状に例えばステンレススチー
ルにより形成されており、載置台10の両側部にスイン
グアーム11が固定されている。載置台10は上部が開
放された箱状の枠体13の上部に配置され、スイングア
ーム11が枠体13の両側壁部13aに回転中心Xとな
る支軸14と軸受15を介して回動可能に支持されてい
る。また、前記枠体13の一方の側壁部13aには支軸
14を中心とする円弧状のスリット16が形成され、一
方のスイングアーム11にはそのスリット16を通って
枠体13外に延出されたクランクピン17が突設されて
いる。そして、このクランクピン17にエアシリンダ1
2が連結され、このエアシリンダ12の駆動により載置
台10が水平状態から搬出入口8側に立上がった垂直状
態に支軸14を支点として往復回動されるように構成さ
れている。
The mounting table 10 of the embodiment is formed of, for example, stainless steel in a horizontally long flat plate shape on which two carriers 7 can be mounted in parallel, and swing arms 11 are fixed to both sides of the mounting table 10. The mounting table 10 is arranged on an upper portion of a box-shaped frame body 13 having an open upper portion, and the swing arm 11 rotates on both side wall portions 13 a of the frame body 13 via a support shaft 14 serving as a rotation center X and a bearing 15. Supported as possible. An arcuate slit 16 centered on the support shaft 14 is formed on one side wall portion 13a of the frame body 13, and one swing arm 11 extends to the outside of the frame body 13 through the slit 16. The crank pin 17 is provided so as to project. The air cylinder 1 is attached to the crank pin 17.
2 are connected, and the driving of the air cylinder 12 causes the mounting table 10 to be reciprocally rotated from a horizontal state to a vertical state in which it rises toward the carry-in / out port 8 side with the support shaft 14 as a fulcrum.

【0022】前記キャリア7は、図7に示すように上部
が開放されており、両側壁対向部には複数枚の円形の半
導体ウエハWを垂直状態で平行に且つ回転可能に収容す
るための溝18が形成され、底部には半導体ウエハWの
配列方向である前後方向に連続した開口部19が形成さ
れている。前記半導体ウエハWの周縁部には整列用の切
欠部であるオリエンテーションフラット(以下、オリフ
ラ部ともいう。)20が形成されており、半導体ウエハ
Wはそのオリフラ部20が所定方向(実施例では下方)
に向くように後述の整列機構34によって整列されるよ
うになっている。
As shown in FIG. 7, the upper portion of the carrier 7 is opened, and grooves for accommodating a plurality of circular semiconductor wafers W in a vertical state in parallel and rotatably are provided in opposite portions of both side walls. 18 is formed, and an opening 19 that is continuous in the front-rear direction, which is the arrangement direction of the semiconductor wafers W, is formed at the bottom. An orientation flat (hereinafter also referred to as an orientation flat portion) 20, which is a notch for alignment, is formed on the peripheral portion of the semiconductor wafer W, and the orientation flat portion 20 of the semiconductor wafer W has a predetermined direction (downward in the embodiment). )
Alignment mechanism 34, which will be described later, is arranged so as to face.

【0023】前記載置台10の上面にはキャリア7の底
部両側部を位置決めするための位置決め部材21が取付
けられ、載置台10の搬出入口8側とは反対側の前縁部
には図5ないし図6に示すようにキャリア7の前端部7
aを位置決めすると共に姿勢変換されたキャリア7の下
部(前端部7a)を受けるための受部22が設けられて
いる。この受部22は後述の搬送機構51によるキャリ
ア7の支持を許容するために姿勢変換されたキャリア7
の下部両側部を支持するようになっており、載置台10
の後縁部に沿って連続した前部クランプバー23上に設
けられている。この前部クランプバー23は、載置台1
0の下面両側に配設した一対のガイド24及びガイドロ
ッド25を介して載置台10の前縁部から前後方向に移
動可能に設けられ、載置台10の下面中央部には前部ク
ランプバー23を前後方向に駆動するエアシリンダ26
が設けられている。
Positioning members 21 for positioning both sides of the bottom of the carrier 7 are attached to the upper surface of the mounting table 10, and the front edge portion of the mounting table 10 opposite to the carry-in / out port 8 side is shown in FIGS. As shown in FIG. 6, the front end portion 7 of the carrier 7 is
A receiving portion 22 is provided for positioning a and receiving the lower portion (front end portion 7a) of the carrier 7 whose posture has been changed. The receiving portion 22 has the posture changed to allow the carrier 7 described later to support the carrier 7.
It is designed to support both lower parts of the
It is provided on the front clamp bar 23 that is continuous along the trailing edge. The front clamp bar 23 is mounted on the mounting table 1
0 is provided movably in the front-rear direction from the front edge of the mounting table 10 through a pair of guides 24 and guide rods 25 arranged on both sides of the lower surface of the mounting table 10. Cylinder 26 that drives the vehicle in the front-back direction
Is provided.

【0024】載置台10上の後縁部にはキャリア7の後
端部に当接して前記受部22との間でキャリア7を前後
からクランプするクランプ部材27が各キャリアに対し
て2個ずつ載置台10の貫通穴28から延出して配置さ
れている。これらクランプ部材17は載置台の下面にブ
ラケット29を介して回動可能に支持された後部クラン
プバー30上に設けられ、載置台10の下面中央部には
この後部クランプバー30を前後方向に回動するエアシ
リンダ31が設けられている。
At the rear edge of the mounting table 10, two clamp members 27 are provided for each carrier, which contact the rear end of the carrier 7 and clamp the carrier 7 from the front and the rear with the receiving portion 22. It is arranged so as to extend from the through hole 28 of the mounting table 10. These clamp members 17 are provided on a rear clamp bar 30 rotatably supported on the lower surface of the mounting table via a bracket 29, and the rear clamp bar 30 is rotated in the front-rear direction at the center of the lower surface of the mounting table 10. A moving air cylinder 31 is provided.

【0025】また、載置台10上の後縁部にはキャリア
7内における全ての半導体ウエハWのオリフラ部20が
下方に向いているか否か、すなわち整列しているか否か
を検知する光学式の整列確認センサ32が設けられてい
る。また、前記載置台10にはキャリア7の底部開口部
19と対応する開口部33が形成され、載置台10の下
部にはその開口部33から上方へ延出して半導体ウエハ
Wの整列を行う整列機構34及び半導体ウエハWを検知
する光学式の検知器(以下、ウエハセンサともいう。)
35が昇降可能に設けられている。
Further, at the trailing edge of the mounting table 10, an optical type for detecting whether or not the orientation flats 20 of all the semiconductor wafers W in the carrier 7 face downward, that is, whether they are aligned or not. An alignment confirmation sensor 32 is provided. In addition, an opening 33 corresponding to the bottom opening 19 of the carrier 7 is formed in the mounting table 10, and the lower portion of the mounting table 10 extends upward from the opening 33 to align the semiconductor wafers W. An optical detector that detects the mechanism 34 and the semiconductor wafer W (hereinafter, also referred to as a wafer sensor).
35 is provided so as to be able to move up and down.

【0026】これら整列機構34及びウエハセンサ35
としては、例えば特開平4−30554号公報に記載さ
れているような公知のものが適用可能である。すなわ
ち、整列機構34は、図5ないし図7に示すように支持
枠36上に前記オリフラ部20の幅間隔で回転可能に設
けられ、半導体ウエハWを支持する複数の環状溝37a
を有する左右一対の回転ローラ37と、これら回転ロー
ラ37をベルト38を介して同一方向に回転駆動するモ
ータ39と、回転ローラ37の両側に配設されたウエハ
ガイド40とを備えている。
The alignment mechanism 34 and the wafer sensor 35.
For example, a publicly known one as described in JP-A-4-30554 can be applied. That is, as shown in FIGS. 5 to 7, the alignment mechanism 34 is rotatably provided on the support frame 36 at the width intervals of the orientation flat portion 20, and has a plurality of annular grooves 37 a for supporting the semiconductor wafer W.
A pair of left and right rotating rollers 37, a motor 39 for rotating the rotating rollers 37 in the same direction via a belt 38, and a wafer guide 40 arranged on both sides of the rotating roller 37.

【0027】前記支持枠36は載置台10の下面に設け
た基枠41に昇降ガイド42を介して昇降可能に支持さ
れ、基枠41にはその支持枠36を昇降させるエアシリ
ンダ43が設けられている。この整列機構34は、エア
シリンダ43により上昇して回転ローラ37で半導体ウ
エハWを支持し、この半導体ウエハWを回転させ、その
オリフラ部20が回転ローラ37上に位置して半導体ウ
エハWの周縁部がウエハガイド40と接触することによ
り、オリフラ部20と回転ローラ37との間に隙間が生
じて半導体ウエハWの回転が止まり、これにより半導体
ウエハWを整列させるように構成されている。
The support frame 36 is supported by a base frame 41 provided on the lower surface of the mounting table 10 so as to be able to move up and down through a lift guide 42, and the base frame 41 is provided with an air cylinder 43 for moving the support frame 36 up and down. ing. The aligning mechanism 34 is lifted by the air cylinder 43 to support the semiconductor wafer W by the rotating roller 37, rotate the semiconductor wafer W, and the orientation flat portion 20 thereof is located on the rotating roller 37 so that the peripheral edge of the semiconductor wafer W is positioned. When the portion contacts the wafer guide 40, a gap is created between the orientation flat portion 20 and the rotary roller 37, and the rotation of the semiconductor wafer W is stopped, whereby the semiconductor wafer W is aligned.

【0028】前記回転ローラ37間に前記ウエハセンサ
35が設けられている。このウエハセンサ35は、図8
に示すように櫛歯状に形成されており、その櫛歯の対向
壁部に設けた投光素子44と受光素子45により半導体
ウエハWの有無を検知するように構成されている。前記
載置台10の下部には載置台10の下面に設けられた整
列機構34等を覆うために支軸14を中心とする曲面状
に例えばステンレススチールにより形成されたカバー4
6が取付けられ、このカバー46及び載置台10には載
置台10の上方から下方へ流れるクリーンエアの気流を
通過させるための多数の通気孔47,48が形成されて
いる。
The wafer sensor 35 is provided between the rotating rollers 37. This wafer sensor 35 is shown in FIG.
As shown in FIG. 3, the comb-teeth shape is formed, and the presence or absence of the semiconductor wafer W is detected by the light-projecting element 44 and the light-receiving element 45 provided on the opposing walls of the comb-teeth. In the lower part of the mounting table 10, a cover 4 formed of, for example, stainless steel in a curved shape around the support shaft 14 for covering the alignment mechanism 34 and the like provided on the lower surface of the mounting table 10.
6, the cover 46 and the mounting table 10 are formed with a large number of vent holes 47, 48 for passing the air stream of clean air flowing from above the mounting table 10 to below.

【0029】そして、姿勢変換機構9の上方領域には姿
勢変換されたキャリア7を複数個収容する棚状の収容部
49が設けられと共に、熱処理炉2側には前記キャリア
7を半導体ウエハWの移載のために載置する移載部50
が設けられ、収容部49と移載部50との間にはキャリ
ア7の搬送を行う搬送機構51が、移載部50とローデ
ィグエリアのウエハボート5との間には半導体ウエハW
の移載を行う移載機構52がそれぞれ設けられている。
In addition, a shelf-shaped accommodating portion 49 for accommodating a plurality of attitude-changed carriers 7 is provided in the upper region of the attitude changing mechanism 9, and the carriers 7 are placed on the side of the heat treatment furnace 2 for storing the semiconductor wafer W. Transfer unit 50 to be mounted for transfer
Is provided, a transfer mechanism 51 for transferring the carrier 7 is provided between the accommodating section 49 and the transfer section 50, and the semiconductor wafer W is provided between the transfer section 50 and the wafer boat 5 in the loading area.
Each of the transfer mechanisms 52 for performing the transfer is provided.

【0030】本実施例の収容部49は前記載置台10の
前縁部と平行に走行可能に設けられた搬送機構51の走
行空間部を挟んで前後に設けられ、前方の収容部49A
には左右及び上下に計12個のキャリア7を、後方の収
容部49Bには左右及び上下に計4個のキャリア7をそ
れぞれ収容保管できるように構成されている。また、本
実施例の移載部50は前方の収容部49Aの下方に配置
され、キャリア7を上下に2個載置できるように構成さ
れている。
The accommodating portion 49 of the present embodiment is provided in front of and behind the traveling space portion of the transport mechanism 51 which is provided so as to be capable of traveling in parallel with the front edge portion of the mounting table 10 and has a front accommodating portion 49A.
The left and right and up and down 12 carriers 7 in total and the left and right up and down 4 carriers 7 in total in the housing 49B are configured to be stored and stored, respectively. Further, the transfer section 50 of the present embodiment is arranged below the front accommodation section 49A, and is configured so that two carriers 7 can be placed above and below.

【0031】前記搬送機構51は、支柱53を有する走
行部54と、その支柱53に昇降可能に設けられた昇降
フレーム55と、この昇降フレーム55に水平方向に屈
伸可能に設けられてキャリア7の下部を支持する搬送ア
ーム56とを備えている。この搬送機構51は、載置台
10と収容部49との間、収容部49と移載部50との
間、及び載置台10と移載部50との間でキャリア7の
受取り受渡しができるように構成されている。
The transport mechanism 51 includes a traveling portion 54 having a support column 53, an elevating frame 55 provided on the support column 53 so as to be able to ascend and descend, and a carrier 7 provided on the elevating frame 55 so as to be able to bend and extend in the horizontal direction. And a transfer arm 56 that supports the lower part. The transport mechanism 51 can receive and deliver the carrier 7 between the mounting table 10 and the accommodating section 49, between the accommodating section 49 and the transfer section 50, and between the mounting table 10 and the transfer section 50. Is configured.

【0032】また、前記移載機構52は、図10に示す
ように昇降可能に設けられた昇降フレーム57と、この
昇降フレーム57上に水平回動可能に設けられた矩形の
回動フレーム58と、この回動フレーム58上にその長
手方向に沿って往復移動可能に設けられた移動体59
と、この移動体59の移動方向一端に設けられ、複数枚
例えば5枚程度の半導体ウエハWを上下方向に適宜間隔
で支持する平板状の移載アーム60とを備えている。こ
の移載機構52は、処理前の半導体ウエハWを移載部5
0のキャリア7内から順次取り出してウエハボート5に
移載し、また、処理後の半導体ウエハWをウエハボート
5から順次取り出してキャリア7内に移載するように構
成されている。なお、前記移載機構52における各移載
アーム60の基部一側部には図11に示すように移載ア
ーム60上に支持された半導体ウエハWの上下位置で対
峙する投光素子61と受光素子62からなるウエハセン
サ63が設けられ、半導体ウエハWの有無を検知できる
ようになっている。
As shown in FIG. 10, the transfer mechanism 52 includes an elevating frame 57 that is vertically movable, and a rectangular rotating frame 58 that is horizontally rotatable on the elevating frame 57. A moving body 59 provided on the rotating frame 58 so as to be capable of reciprocating along the longitudinal direction thereof.
And a flat plate-shaped transfer arm 60 provided at one end of the moving body 59 in the moving direction and supporting a plurality of, for example, about five semiconductor wafers W at appropriate intervals in the vertical direction. The transfer mechanism 52 transfers the unprocessed semiconductor wafer W to the transfer section 5.
The carrier wafers 0 are sequentially taken out from the carrier 7 and transferred to the wafer boat 5, and the processed semiconductor wafers W are sequentially taken out from the wafer boat 5 and transferred into the carrier 7. It should be noted that, as shown in FIG. 11, at one side of the base portion of each transfer arm 60 in the transfer mechanism 52, a light projecting element 61 facing the semiconductor wafer W supported on the transfer arm 60 at a vertical position and a light receiving element 61 are received. A wafer sensor 63 including the element 62 is provided so that the presence or absence of the semiconductor wafer W can be detected.

【0033】次に、実施例の作用及びキャリア7の搬送
処理方法について説明する。先ず、キャリア7を例えば
搬送ロボット等により処理装置の搬出入口8から姿勢変
換機構9の載置台10上に2個ずつ載置する。そして、
この載置台10上においてキャリア7内の半導体ウエハ
Wを整列機構34により所定方向に整列させると共にウ
エハセンサ35により半導体ウエハWの有無及び枚数を
検知する。
Next, the operation of the embodiment and the method of carrying the carrier 7 will be described. First, two carriers 7 are mounted on the mounting table 10 of the posture changing mechanism 9 from the carry-in / out port 8 of the processing device by twos, for example. And
On the mounting table 10, the semiconductor wafers W in the carrier 7 are aligned in a predetermined direction by the alignment mechanism 34, and the presence or absence and the number of semiconductor wafers W are detected by the wafer sensor 35.

【0034】次いで、受部22の後退移動によりキャリ
ア7を位置決めすると共にクランプ部材27との間でキ
ャリア7をクランプし、エアシリンダ12の駆動により
図9に示すように載置台10と共にキャリア7をその側
面領域内の回転中心X位置の支軸14を支点として90
度回動させて半導体ウエハWが垂直から水平になるよう
に姿勢変換する。この姿勢変換によりキャリア7が受部
22に支持され、クランプ部材27が後退してキャリア
7のクランプを解除する。このキャリア7を搬送機構5
1により収容部49へ搬送し、以上の動作を繰り返して
所望個数のキャリア7を収容部49に収容する。
Next, the carrier 7 is positioned by the retreat movement of the receiving portion 22, the carrier 7 is clamped between the clamp member 27, and the air cylinder 12 is driven to move the carrier 7 together with the mounting table 10 as shown in FIG. 90 with the support shaft 14 at the rotation center X position in the side surface region as the support point
The semiconductor wafer W is rotated by a certain degree to change its posture from vertical to horizontal. By this posture change, the carrier 7 is supported by the receiving portion 22, and the clamp member 27 retracts to release the clamp of the carrier 7. This carrier 7 is transferred to the transport mechanism 5
The carrier 7 is conveyed by 1 and the above operation is repeated to accommodate a desired number of carriers 7 in the accommodation unit 49.

【0035】しかる後、順次収容部49のキャリア7を
搬送機構51により移載部50に搬送し、移載機構52
によりこのキャリア7内の半導体ウエハWをローディン
グエリアに降ろされているウエハボート5に移載する。
この場合、空になったキャリア7は搬送機構51により
順次収容部49へ戻される。
Thereafter, the carrier 7 of the accommodating portion 49 is sequentially conveyed to the transfer portion 50 by the transfer mechanism 51, and the transfer mechanism 52.
Thus, the semiconductor wafer W in the carrier 7 is transferred to the wafer boat 5 which is unloaded to the loading area.
In this case, the emptied carrier 7 is sequentially returned to the accommodating portion 49 by the transport mechanism 51.

【0036】そして、所望枚数の半導体ウエハWの移載
が終了すると、昇降機構4によりウエハボート5及び保
温筒6を熱処理炉2内に搬入すると共に炉口を蓋体3で
閉じ、所定時間、所定温度、所定雰囲気で所望の熱処理
を実施し、熱処理が終了すると、ウエハボート5を熱処
理炉2内からローディングエリアへ搬出する。なお、処
理後の半導体ウエハWは冷却後、前記とは逆の手順で順
次ウエハボート5からキャリア7内に移載され、そのキ
ャリア7は収容部49に搬送されて保管され、その後、
姿勢変換機構9の載置台10を介して搬出入口8から処
理室1外へ搬出される。
When the transfer of the desired number of semiconductor wafers W is completed, the wafer boat 5 and the heat insulating cylinder 6 are carried into the heat treatment furnace 2 by the elevating mechanism 4 and the furnace port is closed by the lid 3 for a predetermined time. A desired heat treatment is performed at a predetermined temperature and a predetermined atmosphere, and when the heat treatment is completed, the wafer boat 5 is unloaded from the heat treatment furnace 2 to the loading area. After the processing, the semiconductor wafer W after cooling is sequentially transferred from the wafer boat 5 into the carrier 7 in the reverse procedure to that described above, and the carrier 7 is transported to and stored in the accommodation portion 49, and thereafter,
It is carried out of the processing chamber 1 from the carry-in / out port 8 via the mounting table 10 of the posture changing mechanism 9.

【0037】このようにキャリア7を処理室1内の搬出
入口8の近傍でキャリア7の側面領域内の回転中心X回
りに回動して姿勢変換するため、図9に示すようにキャ
リア7を張り出し量の少ない最少半径及び最少移動量の
回動軌跡で、しかも載置台110の上方のスペースを利
用して姿勢変換することができる。従って、キャリア7
の姿勢変換を迅速に行え、姿勢変換時のキャリア7と搬
送機構51との干渉を避けるためのスペースSを縮小で
きると共に、姿勢変換されたキャリア7を上方の収容部
49に搬送する搬送距離及び搬送時間の短縮が図れ、装
置の小型化及び処理効率の向上が図れる。また、キャリ
ア7を載置した載置台10が支持部であるスイングアー
ム11によりキャリア7の側面領域内に設定した回転中
心X回りに回動可能に支持されて、搬出入口8側に垂直
に立上がるように駆動部であるエアシリンダ12により
回動され、姿勢変換されたキャリア7の下部が受部22
により支持されるため、キャリア7の姿勢変換を簡単な
構成で確実に行うことができる。
In this way, the carrier 7 is rotated around the rotation center X in the side surface region of the carrier 7 in the vicinity of the carry-in / out port 8 in the processing chamber 1 to change the posture. Therefore, as shown in FIG. It is possible to change the posture by using the rotation radius of the minimum radius and the minimum movement amount with a small overhang and using the space above the mounting table 110. Therefore, carrier 7
The posture S can be swiftly changed, the space S for avoiding interference between the carrier 7 and the transport mechanism 51 at the time of posture change can be reduced, and the transport distance for transporting the posture-converted carrier 7 to the upper accommodation portion 49 and The transport time can be shortened, the apparatus can be downsized, and the processing efficiency can be improved. Further, the mounting table 10 on which the carrier 7 is mounted is supported by a swing arm 11 which is a supporting portion so as to be rotatable around a rotation center X set in a side surface region of the carrier 7, and stands vertically on the loading / unloading port 8 side. The lower part of the carrier 7 whose posture is changed by being rotated by the air cylinder 12 which is a drive part so as to rise is the receiving part 22.
Since it is supported by, the posture of the carrier 7 can be surely changed with a simple configuration.

【0038】そして、載置台10にはキャリア7内の半
導体ウエハWを所定方向に整列させる整列機構34が設
けられているため、載置台10を下方の空きスペースに
回動させてキャリアの姿勢変換を行うようし、空きスペ
ースの下方から昇降機構により整列機構を載置台上に昇
降させるようにした従来の処理装置と異なり、装置の小
型化が図れると共に、載置台10の下方のスペースを例
えばコントローラの設置等に有効に利用することができ
る。更に、載置台10にはキャリア7内の半導体ウエハ
Wを検知するウエハセンサ35が設けられているため、
キャリア7内の半導体ウエハWの有無及び枚数を検知す
ることができ、半導体ウエハWの処理枚数等を容易に管
理することができる。
Since the mounting table 10 is provided with an aligning mechanism 34 for aligning the semiconductor wafers W in the carrier 7 in a predetermined direction, the mounting table 10 is rotated to an empty space below to change the attitude of the carrier. In contrast to the conventional processing apparatus in which the alignment mechanism is moved up and down on the mounting table by the elevating mechanism from below the empty space, the apparatus can be downsized and the space below the mounting table 10 can be adjusted, for example, by a controller. It can be effectively used for installation, etc. Further, since the mounting table 10 is provided with the wafer sensor 35 for detecting the semiconductor wafer W in the carrier 7,
The presence and number of semiconductor wafers W in the carrier 7 can be detected, and the number of processed semiconductor wafers W and the like can be easily managed.

【0039】なお、本発明は、前記実施例に限定される
ものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施
が可能である。例えば、整列機構34としては、半導体
ウエハWに形成されたオリフラ部20ではなく、ノッチ
等の切欠部を整列させるものであってもよい。また、整
列機構34及びウエハセンサ35は必ずしも必要とされ
るものではなく、必要に応じて載置台10に設ければよ
い。被処理体としては、半導体ウエハW以外に、例えば
LCD基板等が適用可能である。
The present invention is not limited to the above embodiment, but various modifications can be made within the scope of the gist of the present invention. For example, as the aligning mechanism 34, not the orientation flat portion 20 formed on the semiconductor wafer W but the notch portion such as a notch may be aligned. Further, the alignment mechanism 34 and the wafer sensor 35 are not necessarily required, and may be provided on the mounting table 10 as needed. Besides the semiconductor wafer W, for example, an LCD substrate or the like can be applied as the object to be processed.

【0040】前記実施例では一旦、姿勢変換機構9の載
置台10から収容部49にキャリア7を収容してから移
載部50に搬送するようにしたが、半導体ウエハWの移
載を平行して行うために前記収容部49への搬送と平行
して適宜姿勢変換機構9の載置台10から移載部50に
直接キャリア7を搬送するようにしてもよい。
In the above-described embodiment, the carrier 7 is once accommodated in the accommodating section 49 from the mounting table 10 of the posture changing mechanism 9 and then conveyed to the transfer section 50. However, the transfer of the semiconductor wafer W is performed in parallel. For this purpose, the carrier 7 may be directly conveyed from the mounting table 10 of the posture changing mechanism 9 to the transfer section 50 in parallel with the conveyance to the accommodating section 49.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果が得られる。
In summary, according to the present invention, the following excellent effects can be obtained.

【0042】(1)請求項1記載の処理装置によれば、
姿勢変換機構によりキャリアがその側面領域内の回転中
心回りに回動されて、被処理体が垂直から水平になるよ
うに姿勢変換されるため、キャリアを張り出し量の少な
い最少半径及び最少移動量の回動軌跡で迅速に姿勢変換
することができると共に、姿勢変換時のキャリアと搬送
機構との干渉を避けるためのスペースを縮小でき、姿勢
変換されたキャリアを上方の収容部に搬送する搬送距離
及び搬送時間の短縮が図れ、装置の小型化及び処理効率
の向上が図れる。
(1) According to the processing apparatus of claim 1,
The posture changing mechanism rotates the carrier around the center of rotation in the side surface region to change the posture of the object to be processed from vertical to horizontal, so that the carrier has a minimum radius and a minimum movement amount with a small overhang. The posture can be swiftly changed by the rotation locus, the space for avoiding the interference between the carrier and the transport mechanism at the time of posture change can be reduced, and the transport distance for transporting the posture-changed carrier to the upper accommodation section and The transport time can be shortened, the apparatus can be downsized, and the processing efficiency can be improved.

【0043】(2)請求項2記載の処理装置によれば、
キャリアを載置した載置台が支持部によりキャリアの側
面領域内に設定された回転中心回りに回動可能に支持さ
れて、搬出入口側に垂直に立上がるように駆動部により
回動され、姿勢変換されたキャリアの下部が受部により
支持されるため、キャリアの姿勢変換を簡単な構成で確
実に行うことができる。
(2) According to the processing apparatus of claim 2,
The mounting table on which the carrier is mounted is rotatably supported by the supporting unit about the center of rotation set in the side surface region of the carrier, and is rotated by the driving unit so as to rise vertically to the loading / unloading port side. Since the lower part of the converted carrier is supported by the receiving part, the attitude of the carrier can be surely changed with a simple structure.

【0044】(3)請求項3記載の処理装置によれば、
載置台がキャリア内の被処理体を所定方向に整列させる
整列機構を備えているため、載置台を下方の空きスペー
スに回動させてキャリアの姿勢変換を行うようにし、空
きスペースの下方から昇降機構により整列機構を載置台
上に昇降させるようにした従来の処理装置と異なり、装
置の小型化が図れると共に、載置台の下方のスペースを
有効に利用することができる。
(3) According to the processing apparatus of claim 3,
Since the mounting table has an alignment mechanism for aligning the objects to be processed in the carrier in a predetermined direction, the mounting table is rotated into the empty space below to change the posture of the carrier, and the carrier is lifted from below the empty space. Unlike the conventional processing apparatus in which the alignment mechanism is moved up and down on the mounting table by the mechanism, the apparatus can be downsized and the space below the mounting table can be effectively used.

【0045】(4)請求項4記載の処理装置によれば、
載置台がキャリア内の被処理体を検知する検知器を備え
ているため、キャリア内の被処理体の有無及び枚数を検
知することができる。
(4) According to the processing apparatus of claim 4,
Since the mounting table includes the detector for detecting the object to be processed in the carrier, it is possible to detect the presence or absence and the number of the object to be processed in the carrier.

【0046】(5)請求項5記載の処理方法によれば、
複数枚の被処理体が垂直に収容されたキャリアを、縦型
の熱処理炉を収容した処理室の搬出入口から熱処理炉側
に搬送処理するに際して、処理室内の搬出入口近傍でキ
ャリアをその側面領域内の回転中心回りに回動させて姿
勢変換した後、キャリアを搬出入口の上方領域の収容部
に搬送するため、キャリアを張り出し量の少ない最少半
径及び最少移動量の回動軌跡で迅速に姿勢変換して、上
方の収容部に迅速に搬送することができ、処理時間の短
縮化及び処理効率の向上が図れる。
(5) According to the processing method of claim 5,
When a carrier in which a plurality of objects to be processed are vertically accommodated is transferred from the carry-in / out port of the processing chamber containing the vertical heat treatment furnace to the heat treatment furnace side, the carrier has a side surface region in the vicinity of the carry-in / out port. After changing the posture by rotating around the center of rotation inside, the carrier is conveyed to the accommodation section in the upper area of the carry-in / out port, so the carrier is swiftly postured with the minimum radius of overhang and the rotation trajectory of the minimum movement amount. It can be converted and quickly transported to the upper accommodation portion, and the processing time can be shortened and the processing efficiency can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す処理装置の断面図であ
る。
FIG. 1 is a sectional view of a processing apparatus showing an embodiment of the present invention.

【図2】同処理装置の処理室内の概略的構成を示す斜視
図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a schematic configuration of a processing chamber of the processing apparatus.

【図3】姿勢変換機構の側面図である。FIG. 3 is a side view of a posture conversion mechanism.

【図4】同姿勢変換機構の正面図である。FIG. 4 is a front view of the same posture changing mechanism.

【図5】同姿勢変換機構における載置台の平面図であ
る。
FIG. 5 is a plan view of a mounting table in the same posture changing mechanism.

【図6】同載置台の側断面図である。FIG. 6 is a side sectional view of the mounting table.

【図7】同載置台に設けられた整列機構及びウエハセン
サを示す断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing an alignment mechanism and a wafer sensor provided on the mounting table.

【図8】ウエハセンサの部分的拡大側面図である。FIG. 8 is a partially enlarged side view of the wafer sensor.

【図9】姿勢変換された載置台の側面図である。FIG. 9 is a side view of the mounting table whose posture has been changed.

【図10】移載機構の斜視図である。FIG. 10 is a perspective view of a transfer mechanism.

【図11】同移載機構に設けられたウエハセンサの構成
を示す側面図である。
FIG. 11 is a side view showing a configuration of a wafer sensor provided in the transfer mechanism.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

W 半導体ウエハ(被処理体) X 回転中心 1 処理室 2 熱処理炉 5 ウエハボート(被処理体保持具) 7 キャリア 8 搬出入口 9 姿勢変換機構 10 載置台 11 スイングアーム(支持部) 12 エアシリンダ(駆動部) 22 受部 34 整列機構 35 ウエハセンサ(検知器) 49 収容部 51 搬送機構 52 移載機構 W semiconductor wafer (object to be processed) X rotation center 1 processing chamber 2 heat treatment furnace 5 wafer boat (object to be processed holder) 7 carrier 8 carry-in / out port 9 posture changing mechanism 10 mounting table 11 swing arm (support portion) 12 air cylinder ( Drive unit) 22 Receiving unit 34 Alignment mechanism 35 Wafer sensor (detector) 49 Storage unit 51 Transfer mechanism 52 Transfer mechanism

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岩井 裕之 神奈川県津久井群城山町町屋1丁目2番41 号 東京エレクトロン東北株式会社相模事 業所内 (72)発明者 菊池 寿 岩手県江刺市岩谷堂字松長根52番地 東京 エレクトロン東北株式会社東北事業所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Hiroyuki Iwai, inventor Hiroyuki Iwai 1-24-1, Machiya, Shiroyama-machi, Tsukui, Kanagawa, Tokyo Electron Tohoku Co., Ltd. Sagami Business Office (72) Inventor, Kikuchi Iwatani, Esashi, Iwate 52 Matsunane, Tokyo Electron Tohoku Co., Ltd. Tohoku Office

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数枚の被処理体が垂直に収容されたキ
ャリアの搬出入口を有し、前記被処理体を熱処理する縦
型の熱処理炉を収容した処理室と、この処理室内の前記
搬出入口近傍に設けられ、前記キャリアをその側面領域
内の回転中心回りに回動させて被処理体が垂直から水平
になるように姿勢変換する姿勢変換機構と、この姿勢変
換機構の上方に設けられ、姿勢変換された複数個のキャ
リアを収容する収容部と、この収容部と前記姿勢変換機
構及び前記熱処理炉側との間でキャリアを搬送する搬送
機構と、前記熱処理炉側に搬送されたキャリアと熱処理
炉に搬入搬出される被処理体保持具との間で被処理体を
移載する移載機構とを備えたことを特徴とする処理装
置。
1. A processing chamber having a carrier carry-in / out port in which a plurality of objects to be processed are vertically housed, and a vertical heat treatment furnace for heat-treating the objects to be processed, and the carrying-out in the processing chamber. A posture changing mechanism which is provided near the inlet and changes the posture so that the object to be processed is changed from vertical to horizontal by rotating the carrier around the rotation center in the side surface region thereof, and is provided above the posture changing mechanism. An accommodating portion for accommodating a plurality of posture-altered carriers, a transport mechanism for transporting carriers between the accommodating portion and the posture-changing mechanism and the heat treatment furnace side, and a carrier transported to the heat treatment furnace side And a transfer mechanism for transferring the object to be processed between the object holder to be carried in and out of the heat treatment furnace.
【請求項2】 前記姿勢変換機構が、前記キャリアを載
置する載置台と、この載置台に載置されたキャリアの側
面領域内に設定された回転中心を支点として載置台を回
動可能に支持する支持部と、前記載置台を前記搬出入口
側に垂直に立上がるように前記回転中心を支点として回
動させる駆動部と、前記載置台に設けられ、姿勢変換さ
れた前記キャリアの下部を受ける受部とを備えたことを
特徴とする請求項1記載の処理装置。
2. The posture changing mechanism allows the mounting table on which the carrier is mounted and the mounting table to be rotated about a rotation center set in a side surface region of the carrier mounted on the mounting table as a fulcrum. A supporting portion for supporting, a driving portion for rotating the mounting table about the rotation center as a fulcrum so as to stand upright on the loading / unloading port side, and a lower portion of the carrier which is provided on the mounting table and whose posture is changed. The processing apparatus according to claim 1, further comprising a receiving unit that receives the receiving unit.
【請求項3】 前記載置台が、前記キャリア内の被処理
体を所定方向に整列させる整列機構を備えたことを特徴
とする請求項2記載の処理装置。
3. The processing apparatus according to claim 2, wherein the mounting table includes an alignment mechanism that aligns the objects to be processed in the carrier in a predetermined direction.
【請求項4】 前記載置台が、前記キャリア内の被処理
体を検知する検知器を備えたことを特徴とする請求項2
又は3記載の処理装置。
4. The mounting table comprises a detector for detecting an object to be processed in the carrier.
Or the processing device according to 3.
【請求項5】 複数枚の被処理体が垂直に収容されたキ
ャリアを、縦型の熱処理炉を収容した処理室の搬出入口
から熱処理炉側に搬送処理するに際して、前記処理室内
の出入口近傍で前記キャリアをその側面領域内の回転中
心回りに回動させて前記被処理体を垂直から水平にする
姿勢変換工程と、姿勢変換されたキャリアを前記搬出入
口の上方領域に設けられた収容部に搬送する搬送工程と
を備えたことを特徴とする処理方法。
5. When carrying a carrier, in which a plurality of objects to be processed are vertically housed, from a carry-in / out port of a processing chamber accommodating a vertical heat treatment furnace to a heat treatment furnace side, in the vicinity of the entrance / exit of the process chamber. A posture changing step of rotating the carrier around the rotation center in the side surface region thereof to make the object to be processed from vertical to horizontal, and the posture-changed carrier is stored in a housing portion provided in a region above the carry-in / out port. A processing method comprising: a transfer step of transferring.
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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KR100406337B1 (en) * 1997-01-21 2004-04-03 동경 엘렉트론 주식회사 Board Transfer and Processing System
JP2014183280A (en) * 2013-03-21 2014-09-29 Tokyo Electron Ltd Magnetically annealing device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100406337B1 (en) * 1997-01-21 2004-04-03 동경 엘렉트론 주식회사 Board Transfer and Processing System
JP2002512446A (en) * 1998-04-22 2002-04-23 バリアン・セミコンダクター・エクイップメント・アソシエイツ・インコーポレイテッド Automated wafer buffer for use with wafer processing equipment
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