JPH07270147A - 放射線厚さ計の演算処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】放射線厚さ計によって被測定物の特定の部位を
厚さを基準とし、幅あるいは流れ方向の厚さのバラツキ
の測定等を目的とする場合に、基準とする特定部位の厚
さ測定平均値を自動的に得られるようにする。 【構成】放射線厚さ計の演算処理装置３に、厚さ絶対値
演算部５が厚さ絶対値を演算して出力する都度、この演
算出力値を所定数格納しておく先入れ先出し形のＦＩＦ
Ｏメモリと、このＦＩＦＯメモリに格納の測定データの
平均値を演算する移動平均演算部と、この演算結果を格
納する平均値メモリからなる自動厚さ設定処理部９を設
け、設定制御部10が、厚さ計起動時に設定した条件にも
とづき、前記自動厚さ設定処理部９の平均値メモリに格
納されている平均値を、設定値メモリ７に基準厚さの設
定値として転送し、偏差値演算部８が絶対値演算部５が
出力する厚さ絶対値と設定値メモリ７の格納値との差を
演算して出力するようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、紙，フィルム，アル
ミ，銅，鉄板等の測定物を透過した透過放射線の強さを
検出して得られた信号を用いて所定の演算を行って、被
測定物の絶対厚さ及び基準として設定した厚さ値からの
偏差値を出力する透過形放射線厚さ計の演算処理装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】放射線厚さ計によって被測定物の厚さを
測るとき、厚さの絶対値を求める演算処理と、予め定め
た基準厚さ値からの偏差分を検出する演算処理とがあ
り、測定結果にもとづいて行う対応処理の内容によって
いずれかの測定演算処理が選択される。

【０００３】図３に放射線厚さ計における従来技術によ
る演算処理装置の構成を示す。図３において１は厚さ計
検出部であり、被測定物を透過した放射線は検出器２で
検出されて厚さ計の演算処理装置３に検出信号として入
力される。演算処理装置３では、検出信号処理部４が入
力された検出信号をＡ／Ｄ変換などによって演算処理に
便利な形態のデータに変換し、次段の厚さ絶対値演算部
５に転送する。そして、厚さ絶対値演算部５では、入力
された検出データと予め設定されている吸収係数などの
パラメーターデータとを用いて被測定物の厚さの絶対値
を演算によって求め、厚さの絶対値が求められている測
定の場合には、演算結果をそのまま出力する。

【０００４】一方、予め定めた基準厚さ値からの偏差の
検出測定が求められる場合には、厚さ設定値メモリ７に
基準とする厚さの値を格納しておくと、厚さ偏差値演算
部８が厚さ設定値メモリ７に格納されている厚さ設定値
と厚さ絶対値演算部５が出力する厚さ測定絶対値との差
を演算によって求め、厚さの偏差値として出力する。な
お、厚さ設定値メモリ７への厚さ基準値の書き込みと格
納は、模擬厚さ信号を発信する厚さ設定器６に基準とす
る厚さの値を設定し、この設定値を厚さ設定値メモリ７
へ転送することによって行われる。

【０００５】演算処理装置３に設けられている設定制御
部10は、厚さの絶対値あるいは基準厚さ値からの偏差値
の測定および測定結果の表示形式等の測定モードの選定
設定、測定対象の吸収係数の値や検出器２からの検出デ
ータの取り込み周期と被測定物と厚さ計検出部の相対移
動速度などの測定条件に関するパラメーターデータの入
力設定を行い、さらに、厚さ計検出部１と演算処理装置
を構成する各要素間のデータ転送や動作の調停制御を行
う装置である。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】被測定物の幅方向の厚
さ変動、あるいは現時点からの被測定物の流れ方向の厚
さのバラツキの測定等を目的とする場合には、測定スタ
ート時点の被測定物の厚さを基準値として設定し、偏差
値を“０”にすることが望まれることがある。ところ
で、放射線厚さ計では放射線源が放出する放射線のラン
ダム性に起因して検出器が出力する信号も統計的に変動
しているので、厚さの測定結果も統計的に変動する。

【０００７】上記の統計的変動の影響を避けて精度の高
い厚さの測定値を得てこれを設定値とするため、被測定
物の基準とする部位の厚さ測定を複数回繰返してその平
均値を求める準備測定手法が従来から利用されている
が、人手を介して行う上記の準備測定は時間がかかり人
手を介することによる誤りの発生もある。本発明は、測
定対象物の厚さ偏差値測定にあたって基準厚さとして設
定する測定対象物の特定部位の厚さ平均値を人手によら
ずに求める自動厚さ設定処理部を提供し、放射線厚さ計
によって厚さ偏差値を測定する場合の装置の立上げを簡
易にすると共に設定厚さ値の正確さを確保することを課
題とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明による放射線厚さ計の演算処理装置に、演算
処理装置の厚さ絶対値演算部が厚さ絶対値を演算して出
力する都度、この演算出力値の所定の回数分を出力され
た順に格納しておく先入れ先出し形のＦＩＦＯメモリ
と、このＦＩＦＯメモリに格納の測定データの平均値を
演算する移動平均演算部と、この演算結果を格納する平
均値メモリからなる自動厚さ設定処理部を設ける。そう
して、演算処理装置の設定制御部が、厚さ計起動時に設
定した条件にもとづき、前記自動厚さ設定処理部の平均
値メモリに格納されている平均値を演算処理装置の設定
値メモリに基準厚さの設定値として転送し、演算処理装
置の偏差値演算部が絶対値演算部が出力する厚さ絶対値
と設定値メモリ格納値との差を演算して出力するように
する。

【０００９】

【作用】自動厚さ設定処理部が、厚さ絶対値演算部で厚
さ絶対値を求めるたびにＦＩＦＯメモリに格納の測定デ
ータの個の移動平均値が求められており、演算処理装置
の設定制御部は、厚さ計起動時設定した条件に適合する
移動平均値が求められたとき、この平均値を厚さ設定値
として厚さ設定メモリに転送格納する。

【００１０】

【実施例】図１に本発明による厚さ計演算処理装置の構
成を示す。図１においては、図４の従来技術による演算
処理装置を構成する要素と同一の機能の構成要素には同
一の符号を付してあるので、その説明は省略する。図１
の３に示される厚さ計演算処理装置の厚さ絶対値演算部
５で厚さ絶対値が演算されるたびに、その値が自動厚さ
設定処理部９と、厚さ偏差値演算部８に送られる。

【００１１】自動厚さ設定処理部９に送られた厚さ絶対
値は、移動平均演算され自動厚さ設定処理部９内に設け
られている平均値メモリに一旦格納される。設定制御部
10において移動平均演算のデータ数、平均値転送の周期
等を設定して厚さ計を起動すると、自動厚さ設定処理部
９で設定した条件に適合する平均演算結果が得られて平
均値メモリに格納されたとき、設定制御部10は平均値メ
モリの格納値を厚さ設定値メモリ７に転送し、厚さ偏差
値演算部８は、設定値メモリ７に転送格納された厚さ設
定値と厚さ絶対値演算部５が出力する厚さ測定絶対値と
の差を演算によって求め、厚さの偏差値として出力す
る。

【００１２】次に、上記の自動厚さ設定処理部９の内部
構成を図２に示し、この図によって自動厚さ設定処理部
の動作について説明する。図２において91は先入れ先出
し形のバッファメモリからなる測定値メモリであり、厚
さ絶対値演算部５が演算結果を出力する都度最も古い格
納データが破棄されて順送りにデータが格納更新され
る。そして、移動平均演算部92は測定値メモリ91の格納
データが更新される都度その平均値を演算し、移動平均
値として平均値メモリ93に格納する。

【００１３】以上に説明の厚さ計によって、例えばシー
ト状被測定物の特定部位からの流れ方向の厚さのバラツ
キを測定しようとする場合には、厚さ計検出部１の測定
箇所を被測定物の上記特定部位に合わせ、厚さ計演算処
理装置３の設定制御部10から自動厚さ設定処理部９に対
し平均値演算のデータ数を指定して測定開始を指令する
と、自動厚さ設定処理部９において上記特定部位の指定
データ数の測定結果の平均値が演算されて厚さ設定値メ
モリ７に転送され、この平均値を基準値とするシート状
被測定物の流れ方向の厚さの偏差の計測が開始される。

【００１４】自動厚さ設定処理部９においては厚さ絶対
値演算部５で厚さ絶対値が演算されて出力される都度、
移動平均値の演算が実行されて平均値メモリ93の格納値
を更新しているので、一定の時間経過毎に平均値メモリ
93の格納値が厚さ設定値メモリ７に転送されるようにす
ると、シート状被測定物の流れ方向の一定区間毎の厚さ
を基準値として偏差値を測定することができる。

【００１５】

【発明の効果】厚さ計演算処理部に設けられた自動厚さ
設定処理部は、厚さ絶対値が演算出力されるたびに、厚
さ設定値となる所定の個数の絶対値の移動平均値を求め
て平均値メモリに格納し、この平均値は設定制御部から
の自動設定指令により厚さ設定メモリに転送格納される
ので、測定物の幅方向のプロフィル測定や現時点からの
流れ方向のバラツキを測定する場合等に、測定スタート
前に人手によって基準とする部位の測定を繰返すことな
しに適正な設定値を得ることができスタート時点の厚さ
偏差値を“０”にすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による厚さ計の演算処理装置の構成図

【図２】自動厚さ設定処理部の構成図

【図３】従来技術による厚さ計演算処理装置の構成図

【符号の説明】

１ 厚さ計検出部 ２ 検出器 ３ 演算処理装置 ４ 検出器信号処理部 ５ 厚さ絶対値演算部 ６ 厚さ設定器 ７ 厚さ設定値メモリ ８ 厚さ偏差値演算部 ９ 自動厚さ設定処理部 91 ＦＩＦＯメモリ 92 移動平均演算部 93 平均値メモリ 10 設定制御部

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】放射線厚さ計検出部の検出信号を入力信号
   として、測定対象物の絶対厚さを演算する厚さ絶対値演
   算部と、演算された厚さ絶対値と基準厚さ値との偏差値
   を演算によって求める偏差値演算部とを備えた厚さ計の
   演算処理装置において、 演算処理装置の厚さ絶対値演算部が厚さ絶対値を演算し
   て出力する都度、この演算出力値の所定の回数分を出力
   された順に格納しておく先入れ先出し形のＦＩＦＯメモ
   リと、このＦＩＦＯメモリに格納の測定データの平均値
   を演算する移動平均演算部と、この演算結果を格納する
   平均値メモリからなる自動厚さ設定処理部を備え、 演算処理装置の設定制御部が、厚さ計起動時に設定した
   条件にもとづき、前記自動厚さ設定処理部の平均値メモ
   リに格納されている平均値を演算処理装置の設定値メモ
   リに基準厚さの設定値として転送し、演算処理装置の偏
   差値演算部が絶対値演算部が出力する厚さ絶対値と設定
   値メモリ格納値との差を演算して出力することを特徴と
   する放射線厚さ計の演算処理装置。