JPH0726925B2 - 熱拡散率測定法 - Google Patents
熱拡散率測定法Info
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- JPH0726925B2 JPH0726925B2 JP60189469A JP18946985A JPH0726925B2 JP H0726925 B2 JPH0726925 B2 JP H0726925B2 JP 60189469 A JP60189469 A JP 60189469A JP 18946985 A JP18946985 A JP 18946985A JP H0726925 B2 JPH0726925 B2 JP H0726925B2
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- thermal diffusivity
- radiation
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、厚さ一定の平板試料の所望の点の熱拡散率を
測定する熱拡散率測定法に関する。
測定する熱拡散率測定法に関する。
（従来の技術） 従来、試料の熱拡散率の測定法として、厚さ一定の平板
試料の一方の面の全面に一様な輻射線を照射し、該試料
の他方の面の温度上昇曲線を測定し、該温度上昇特性か
ら熱拡散率を求める方法が知られている。
試料の一方の面の全面に一様な輻射線を照射し、該試料
の他方の面の温度上昇曲線を測定し、該温度上昇特性か
ら熱拡散率を求める方法が知られている。
通常この方法は、輻射線の与え方によつて２つに大別さ
れる。１つは輻射線をパルス状に与える方法であつて、
フラツシユ法として提案されたものであり、他の１つ
は、ある瞬時より一定のエネルギを試料に与えるもの
で、ステツプ加熱法として提案されたものである。これ
等の方法はいずれも試料の全面に一様なエネルギを照射
するもので、求められた熱拡散率は試料全体の平均の熱
拡散率を与えるものである。
れる。１つは輻射線をパルス状に与える方法であつて、
フラツシユ法として提案されたものであり、他の１つ
は、ある瞬時より一定のエネルギを試料に与えるもの
で、ステツプ加熱法として提案されたものである。これ
等の方法はいずれも試料の全面に一様なエネルギを照射
するもので、求められた熱拡散率は試料全体の平均の熱
拡散率を与えるものである。
（発明が解決しようとする問題点） 従来方法によれば、試料の各位置の熱拡散率を測定する
ことができないが、各位置の熱拡散率は、例えば金属試
料の圧延方向あるいは絞り工合又は亀裂の発生等によつ
て異なるので、このような圧延の程度、絞り工合等の情
報を得る上で各位置の熱拡散率を知ることが望ましい。
ことができないが、各位置の熱拡散率は、例えば金属試
料の圧延方向あるいは絞り工合又は亀裂の発生等によつ
て異なるので、このような圧延の程度、絞り工合等の情
報を得る上で各位置の熱拡散率を知ることが望ましい。
本発明は、かかる要望を充す熱拡散率測定法を提供する
ことをその目的とするものである。
ことをその目的とするものである。
（問題点を解決するための手段） 本願の第１発明は、厚さ一定の平板試料の一方の面の任
意の位置に輻射線をパルス状に照射し、該任意の位置か
ら任意の距離γ離れた該試料面上の任意の点の温度θの
変化を測定し、その測定結果から最高温度上昇幅の所定
の割合に達するまでの時間taを求め、この時間taと次式 γ０は輻射線の断面積の半径 Ｑは単位面積当りの吸収エネルギ ρは試料の密度 Cpは試料の比熱容量 ｌは試料の厚み とから試料の面方向の熱拡散率α２を求めることを特徴
とし、第２発明は、輻射線源に対し、厚さ一定の平板試
料を輻射線に垂直な面で相対的に移動し、その都度該試
料の一方の面の異なる任意の位置に輻射線を照射し、該
任意の位置から任意の距離γ離れた該試料面上の任意の
点の温度θの変化を測定し、その測定結果から最高温度
上昇幅の所定の割合に達するまでの時間taを求め、この
時間taと次式 γ０は輻射線の断面積の半径 Ｑは単位面積当りの吸収エネルギ ρは試料の密度 Cpは試料の比熱容量 ｌは試料の厚み とから試料の面方向の熱拡散率α２を求め、該試料の熱
拡散率分布を得ることを特徴とする。
意の位置に輻射線をパルス状に照射し、該任意の位置か
ら任意の距離γ離れた該試料面上の任意の点の温度θの
変化を測定し、その測定結果から最高温度上昇幅の所定
の割合に達するまでの時間taを求め、この時間taと次式 γ０は輻射線の断面積の半径 Ｑは単位面積当りの吸収エネルギ ρは試料の密度 Cpは試料の比熱容量 ｌは試料の厚み とから試料の面方向の熱拡散率α２を求めることを特徴
とし、第２発明は、輻射線源に対し、厚さ一定の平板試
料を輻射線に垂直な面で相対的に移動し、その都度該試
料の一方の面の異なる任意の位置に輻射線を照射し、該
任意の位置から任意の距離γ離れた該試料面上の任意の
点の温度θの変化を測定し、その測定結果から最高温度
上昇幅の所定の割合に達するまでの時間taを求め、この
時間taと次式 γ０は輻射線の断面積の半径 Ｑは単位面積当りの吸収エネルギ ρは試料の密度 Cpは試料の比熱容量 ｌは試料の厚み とから試料の面方向の熱拡散率α２を求め、該試料の熱
拡散率分布を得ることを特徴とする。
（作用） 第１図示のように、輻射線Ａを、その断面積（半径
γ０）に比べてかなり大きな面積を有する厚みの一定
（ｌ）な試料Ｂの面上の一部にパルス状に照射した時、
輻射線Ａの中心から任意の距離γ離れた位置における試
料Ｂの照射面の温度θは、時間ｔの関数として次の
（１）式で表わされる。
γ０）に比べてかなり大きな面積を有する厚みの一定
（ｌ）な試料Ｂの面上の一部にパルス状に照射した時、
輻射線Ａの中心から任意の距離γ離れた位置における試
料Ｂの照射面の温度θは、時間ｔの関数として次の
（１）式で表わされる。
この式は、よく知られた熱の伝導方程式を解くことで求
められる。この伝導方程式は、与えられた条件下では、 で表される。ここで、Ｚは厚み方向の座標を表す。
められる。この伝導方程式は、与えられた条件下では、 で表される。ここで、Ｚは厚み方向の座標を表す。
θは、t,γ、Ｚの関数であるが、（ａ）式はt,γ、Ｚに
関して線形方程式となっているので、 θ＝θ（ｔ）・θ（γ）・θ（Ｚ） ……（ｂ） と置くことができる。（ｂ）式を（ａ）式に代入して整
理すると、 となる。
関して線形方程式となっているので、 θ＝θ（ｔ）・θ（γ）・θ（Ｚ） ……（ｂ） と置くことができる。（ｂ）式を（ａ）式に代入して整
理すると、 となる。
輻射線をパルス状にして試料に照射しているので、初期
条件としては、 で与えられる。ここでδ（Ｚ、γ）はデルタ関数（Ｚ＝
０、γ≦γ０で、δ（Z,γ）＝１、それ以外でδ（Z,
γ）＝０）である。又、境界条件は、試料よりの熱の逃
げが無いと考えて、 である。
条件としては、 で与えられる。ここでδ（Ｚ、γ）はデルタ関数（Ｚ＝
０、γ≦γ０で、δ（Z,γ）＝１、それ以外でδ（Z,
γ）＝０）である。又、境界条件は、試料よりの熱の逃
げが無いと考えて、 である。
初期条件（ｄ）と、境界条件（ｅ）（ｆ）（ｇ）を与え
て微分方程式（ｃ）を解き、Ｚ＝ｌと置くと、前記
（１）式が得られる。
て微分方程式（ｃ）を解き、Ｚ＝ｌと置くと、前記
（１）式が得られる。
また照射面と反対側の面の温度上昇θは次の（２）式で
表わされる。
表わされる。
またＱは単位面積当りの吸収エネルギ ρは密度 Cpは比熱容量 α1,α２は厚み方向及び面方向の熱拡散率 （１）（２）式は、試料Ｂの厚み方向及び面方向への熱
伝導を考慮した熱伝導方程式から得られたものである。
伝導を考慮した熱伝導方程式から得られたものである。
今、厚みｌに比べて距離γを著しく大きいとする（γ≫
ｌ）と、指数項は零となるから、（１）（２）は同じに
なつて次の（４）式となる。
ｌ）と、指数項は零となるから、（１）（２）は同じに
なつて次の（４）式となる。
この（４）式を変形すると、 となり、 （４）′式の左辺は、（３）式のＧに等しくから、 の数値を（３）式に代入すれば、θをQ/ρCplで割った
値、すなわちQ/ρCplを単位とした値が求まり、この値
が既知であると、第２図のような特性曲線が得られる。
値、すなわちQ/ρCplを単位とした値が求まり、この値
が既知であると、第２図のような特性曲線が得られる。
輻射光をパルス状に照射すると、輻射光照射前の温度に
対して輻射光照射後の温度は時間と共に温度上昇し、最
高温度に到達した後、次第に照射前の温度に近づく。輻
射光照射前後で最も温度差の大きくなったときを最高温
度上昇幅というとすると、任意の距離γすなわちγ／γ
０における最高温度上昇幅の所定の割合に達するまでの
時間taに対応する の値を第２図から求める。この値をＸとすると、 これを変形すると、 （６）式において最高温度上昇幅の所定の割合に達する
までの時間taは実験から求める。
対して輻射光照射後の温度は時間と共に温度上昇し、最
高温度に到達した後、次第に照射前の温度に近づく。輻
射光照射前後で最も温度差の大きくなったときを最高温
度上昇幅というとすると、任意の距離γすなわちγ／γ
０における最高温度上昇幅の所定の割合に達するまでの
時間taに対応する の値を第２図から求める。この値をＸとすると、 これを変形すると、 （６）式において最高温度上昇幅の所定の割合に達する
までの時間taは実験から求める。
すなわち、試料Ｂの面上の一部に輻射線Ａをパルス状に
照射し、輻射線Ａの中心から任意の距離γ離れた試料Ｂ
の面上の温度θを時々刻々測定する。そして最高温度上
昇幅の所定割合に達するまでの時間taをその測定結果か
ら求める。かくて得られた時間を（６）式に代入するこ
とにより試料Ｂの任意の距離γにおける面方向の熱拡散
率α２が求められる。
照射し、輻射線Ａの中心から任意の距離γ離れた試料Ｂ
の面上の温度θを時々刻々測定する。そして最高温度上
昇幅の所定割合に達するまでの時間taをその測定結果か
ら求める。かくて得られた時間を（６）式に代入するこ
とにより試料Ｂの任意の距離γにおける面方向の熱拡散
率α２が求められる。
また熱拡散率α２はこれが既知の試料を用いて比較法に
より求めることができる。すなわち、（６）式を変形し
た において、Ｘはα２の値に拘らず一定であるから、α2t
aは一定であり、したがって、α２が既知の試料の最高
温度上昇幅の所定の割合に達する時間taと未知の試料の
同時間taを実験的に求めてそれから未知の試料の熱拡散
率α２を求める。
より求めることができる。すなわち、（６）式を変形し
た において、Ｘはα２の値に拘らず一定であるから、α2t
aは一定であり、したがって、α２が既知の試料の最高
温度上昇幅の所定の割合に達する時間taと未知の試料の
同時間taを実験的に求めてそれから未知の試料の熱拡散
率α２を求める。
（実施例） 輻射線Ａの中心から距離γの試料Ｂ面の温度ｔは、熱電
対を用いるか、または第１図示のように例えばInSbのよ
うな非接触式温度センサＣを用いて測定するようにし、
輻射線Ａとしてルビー・レーザ光を使用した。
対を用いるか、または第１図示のように例えばInSbのよ
うな非接触式温度センサＣを用いて測定するようにし、
輻射線Ａとしてルビー・レーザ光を使用した。
に対する試料Ｂの距離γの点における温度θを、γ／γ
０＝1.5,2,2.5をパラメータとして第２図に曲線L1,L2,L
3で示した。例えば、γ／γ０＝２の場合、最高温度上
昇幅の半分に達するまでの時間ｔをta＝ｔ1/2とする
と、第２図から となり、熱拡散率α２は α２＝0.245γ0 2/t1/2 ……（７） に測定して得られた時間ｔ1/2および輻射線の断面積の
半径γ０を代入することにより求められる。
０＝1.5,2,2.5をパラメータとして第２図に曲線L1,L2,L
3で示した。例えば、γ／γ０＝２の場合、最高温度上
昇幅の半分に達するまでの時間ｔをta＝ｔ1/2とする
と、第２図から となり、熱拡散率α２は α２＝0.245γ0 2/t1/2 ……（７） に測定して得られた時間ｔ1/2および輻射線の断面積の
半径γ０を代入することにより求められる。
試料Ｂの熱拡散率分布を得るときは、該試料Ｂを照射光
に垂直な面内で移動して試料Ｂの照射位置を変え、その
都度その照射位置から所定距離γ離れた該試料面上の任
意の点の温度上昇特性を求め、該特性から前述と同様に
熱拡散率を測定する。
に垂直な面内で移動して試料Ｂの照射位置を変え、その
都度その照射位置から所定距離γ離れた該試料面上の任
意の点の温度上昇特性を求め、該特性から前述と同様に
熱拡散率を測定する。
（発明の効果） 本発明によれば、厚さ一定の平板試料の任意の点の熱拡
散率を測定することができ、複数個の任意の点の熱拡散
率から試料についての種々の情報を得ることができる効
果を有する。
散率を測定することができ、複数個の任意の点の熱拡散
率から試料についての種々の情報を得ることができる効
果を有する。
第１図は、本発明の測定法についての説明図、第２図は
その特性曲線図である。 Ａ……輻射線、Ｂ……試料 Ｃ……非接触式温度センサ
その特性曲線図である。 Ａ……輻射線、Ｂ……試料 Ｃ……非接触式温度センサ
Claims (2)
- 【請求項１】厚さ一定の平板試料の一方の面の任意の位
置に輻射線をパルス状に照射し、該任意の位置から任意
の距離γ離れた該試料面上の任意の点の温度θの変化を
測定し、その測定結果から最高温度上昇幅の所定の割合
に達するまでの時間taを求め、この時間taと次式 γ０は輻射線の断面積の半径 Ｑは単位面積当りの吸収エネルギ ρは試料の密度 Cpは試料の比熱容量 ｌは試料の厚み とから試料の面方向の熱拡散率α２を求めることを特徴
とする熱拡散率測定法。 - 【請求項２】輻射線源に対し、厚さ一定の平板試料を輻
射線に垂直な面内で相対的に移動し、その都度該試料の
一方の面の異なる任意の位置に輻射線を照射し、該任意
の位置から任意の距離γ離れた該試料面上の任意の点の
温度θの変化を測定し、その測定結果から最高温度上昇
幅の所定の割合に達するまでの時間taを求め、この時間
taと次式 γ０は輻射線の断面積の半径 Ｑは単位面積当りの吸収エネルギ ρは試料の密度 Cpは試料の比熱容量 ｌは試料の厚み とから試料の面方向の熱拡散率α２を求め、該試料の熱
拡散率分布を得ることを特徴とする熱拡散率測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60189469A JPH0726925B2 (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 熱拡散率測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60189469A JPH0726925B2 (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 熱拡散率測定法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6258146A JPS6258146A (ja) | 1987-03-13 |
| JPH0726925B2 true JPH0726925B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=16241788
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60189469A Expired - Fee Related JPH0726925B2 (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 熱拡散率測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0726925B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5414058B2 (ja) * | 2010-03-10 | 2014-02-12 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 熱拡散率測定装置 |
| DE102014218136B4 (de) * | 2014-09-10 | 2019-07-18 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Thermographische Untersuchungseinrichtung sowie Verfahren zur zerstörungsfreien Untersuchung einer oberflächennahen Struktur an einem Prüfobjekt |
| TWI716240B (zh) * | 2019-12-27 | 2021-01-11 | 長聖儀器股份有限公司 | 熱擴散性能量測系統與方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5852554A (ja) * | 1981-09-24 | 1983-03-28 | Rigaku Denki Kk | 熱拡散率測定法 |
| JPS60155950A (ja) * | 1984-01-19 | 1985-08-16 | Ichiro Hatta | 交流カロリメトリによる熱拡散率測定方法及び装置 |
-
1985
- 1985-08-30 JP JP60189469A patent/JPH0726925B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6258146A (ja) | 1987-03-13 |
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