JPS60155950A - 交流カロリメトリによる熱拡散率測定方法及び装置 - Google Patents
交流カロリメトリによる熱拡散率測定方法及び装置Info
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- JPS60155950A JPS60155950A JP766584A JP766584A JPS60155950A JP S60155950 A JPS60155950 A JP S60155950A JP 766584 A JP766584 A JP 766584A JP 766584 A JP766584 A JP 766584A JP S60155950 A JPS60155950 A JP S60155950A
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/18—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating thermal conductivity
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は厚さが例えば0.5略以下の肉薄の試料板の厚
さと直角方向の熱拡散率をめる断続加熱による熱拡散率
測定方法及び装置に関する。
さと直角方向の熱拡散率をめる断続加熱による熱拡散率
測定方法及び装置に関する。
従来、熱拡散率の測定には種々の方法が考案されている
が、厚さが0.5鵠以下の肉薄の試料の厚さと直角方向
の熱拡散率をめることは不可能であった。しかし近年、
エレクトロニクスの技術の進歩にともない、薄い電気絶
縁物、たとえばセラミック板の上に半導体材料を0.5
闘以下の膜厚に蒸着することが多くなっており、これ等
の肉・簿・板状材料の熱的性質を知ることが必要になつ
−できた。
が、厚さが0.5鵠以下の肉薄の試料の厚さと直角方向
の熱拡散率をめることは不可能であった。しかし近年、
エレクトロニクスの技術の進歩にともない、薄い電気絶
縁物、たとえばセラミック板の上に半導体材料を0.5
闘以下の膜厚に蒸着することが多くなっており、これ等
の肉・簿・板状材料の熱的性質を知ることが必要になつ
−できた。
本発明は、かかる要求を満す熱拡散率の測定方法及び装
置を提供することをその目的とするもので、第1発明は
、厚さが一定の薄い被測定試料板の片面の一部を覆い部
材で覆った状態で該片面に一定振幅の熱エネルギを断続
照射し、被測定試料板の被遮蔽部における前記覆い部材
の端部から種々の距離の点の°交流温度T凹を測定し、
該距離を変数とする交流温度Tac特性線の勾配値kを
め、次式 但しfは熱エネルギの断続による交流周波数。
置を提供することをその目的とするもので、第1発明は
、厚さが一定の薄い被測定試料板の片面の一部を覆い部
材で覆った状態で該片面に一定振幅の熱エネルギを断続
照射し、被測定試料板の被遮蔽部における前記覆い部材
の端部から種々の距離の点の°交流温度T凹を測定し、
該距離を変数とする交流温度Tac特性線の勾配値kを
め、次式 但しfは熱エネルギの断続による交流周波数。
より前記被測定試料板の面方向への熱拡散率りを得るこ
とを特徴とし、第2発明は厚さが一定の薄い被測定試料
板の片面の一部を覆う覆い部材と、該覆い部材の上部か
ら一定振幅の熱エネルギを被測定試料板の片面に断続照
射するチョッパを付設した熱源と、該被測定試料板の被
遮蔽部に固着された熱電対と、該覆い部材の端部と熱電
対固着点との距離を測定するマイクロメータと、該熱電
対の交流出力を増幅するロックイン増幅器とから構成さ
れたことを特徴とする。
とを特徴とし、第2発明は厚さが一定の薄い被測定試料
板の片面の一部を覆う覆い部材と、該覆い部材の上部か
ら一定振幅の熱エネルギを被測定試料板の片面に断続照
射するチョッパを付設した熱源と、該被測定試料板の被
遮蔽部に固着された熱電対と、該覆い部材の端部と熱電
対固着点との距離を測定するマイクロメータと、該熱電
対の交流出力を増幅するロックイン増幅器とから構成さ
れたことを特徴とする。
以下本発明の実施例を図面につき説明する。
第1図及び第2図は本発明の測定装置の一実施例を示す
。同図において(1)は厚さが例えば(11〜α5m程
度の薄い被測定試料板で、該試料板(1)の上部には試
料板(1)の片面の一部を覆う覆い板(2)を試料板(
1)の面に沿って移動自在に配置し更に覆い板(2)の
上部にチョッパ(3)を付設した例えはタングステンラ
ンプのような熱源(4)を配置した◎該チョッパ(3)
は第2図示のように直径上の中心で回転自在に軸支され
、図示されないモータにより所定の回転数で回転される
半円形板から成る。(5)は前記覆い板(2)と連結さ
れたマイクロメータ、(6)は覆い板(2)で熱源(4
)の熱エネルギの照射から遮蔽される被測定試料板(1
)の面における、覆い板(2)の端部から距離りの点に
点溶接51″″熱1対1・1熱1対(6)8例1ば゛1
、ランジスタからなるセンサ(7)の出力を参照信号と
す−る四ツクイン増幅器(8)に接続し、該ロックイン
増幅器(8)により熱電対(6)の交流出力を増幅する
ようにした。尚、被測定試料板(1)は、図示毎 しないが熱溶中に配置し、該試料板(1)から外へ熱が
逃げるときの熱抵抗Rを大とした。
。同図において(1)は厚さが例えば(11〜α5m程
度の薄い被測定試料板で、該試料板(1)の上部には試
料板(1)の片面の一部を覆う覆い板(2)を試料板(
1)の面に沿って移動自在に配置し更に覆い板(2)の
上部にチョッパ(3)を付設した例えはタングステンラ
ンプのような熱源(4)を配置した◎該チョッパ(3)
は第2図示のように直径上の中心で回転自在に軸支され
、図示されないモータにより所定の回転数で回転される
半円形板から成る。(5)は前記覆い板(2)と連結さ
れたマイクロメータ、(6)は覆い板(2)で熱源(4
)の熱エネルギの照射から遮蔽される被測定試料板(1
)の面における、覆い板(2)の端部から距離りの点に
点溶接51″″熱1対1・1熱1対(6)8例1ば゛1
、ランジスタからなるセンサ(7)の出力を参照信号と
す−る四ツクイン増幅器(8)に接続し、該ロックイン
増幅器(8)により熱電対(6)の交流出力を増幅する
ようにした。尚、被測定試料板(1)は、図示毎 しないが熱溶中に配置し、該試料板(1)から外へ熱が
逃げるときの熱抵抗Rを大とした。
次に本発明による熱拡散率の測定方法及び装置の作動に
ついて説明する。
ついて説明する。
被測定試料板(1)の片面の露出部に、チョッパ(3)
により交流化された単位面積当り振幅Qの熱エネルギを
照射する。
により交流化された単位面積当り振幅Qの熱エネルギを
照射する。
このとき熱電対(6)で検出される交流温度Ta。
は前記距離りの関数として次式で与えられる。
但し kL≧1 ””’°(1)
R8K > 1
Sは試料(1)の面方向への熱伝導率
またkの逆数は熱拡散長さであり
に=5”フτ ・・・・・(2)
但しfはチョッパによる熱エネルギの交流周波数りは試
料(1)の面方向への熱拡散率 前記熱抵抗Rを大きくシ、また交流周波数をこの式から
明らかなように距離りにおける被測定試料(1)の交流
温度Tacの絶対値IT、lはIT、1− 臀、 、−
ks ・・曲(41であり、この値は熱電対(6)の出
力信号をロックイン増幅器(8)で増幅することにより
測定される。
料(1)の面方向への熱拡散率 前記熱抵抗Rを大きくシ、また交流周波数をこの式から
明らかなように距離りにおける被測定試料(1)の交流
温度Tacの絶対値IT、lはIT、1− 臀、 、−
ks ・・曲(41であり、この値は熱電対(6)の出
力信号をロックイン増幅器(8)で増幅することにより
測定される。
(4)式を変形すると
fQ
log 1Taal −bg 、* −1cL =・・
・・(5)(5)式は一次式であり、kはLを変数とす
る関数bglTaclの勾配である。
・・(5)(5)式は一次式であり、kはLを変数とす
る関数bglTaclの勾配である。
かくてマイクロメータ(5)により覆い部材(2)を多
数回微動させ、その度毎の交流温度Taaをロックイン
増幅器(8)の出力からめてプロットすると第3図示の
ように直線が得られるから、この直線の勾配からkをめ
る。このに値を(2)式に代入し、熱拡散率りを得る。
数回微動させ、その度毎の交流温度Taaをロックイン
増幅器(8)の出力からめてプロットすると第3図示の
ように直線が得られるから、この直線の勾配からkをめ
る。このに値を(2)式に代入し、熱拡散率りを得る。
第5図示の特性は、厚さα1關のA&0.につき交流周
波数1−10H2、I+ −a 7 mic Lテ測定
シタモノテアリ、これから得たkを(2)式に代入し、
得られた熱拡散率りはα0798 c+J/Secでア
ッタ。
波数1−10H2、I+ −a 7 mic Lテ測定
シタモノテアリ、これから得たkを(2)式に代入し、
得られた熱拡散率りはα0798 c+J/Secでア
ッタ。
このように本発明によるときは、厚さが例え、ばα5鵡
以下の肉薄の試料板の、厚さと直角方向の熱拡散率を得
ることができる効果を有する。
以下の肉薄の試料板の、厚さと直角方向の熱拡散率を得
ることができる効果を有する。
第1図は本発明装置の一実施例の線図、第2図は熱源及
び四ツクイン増幅器を除いた第1図の平面図、第3図は
覆い板の移動に対する試料板の交流温度の対数特性図を
示す。 (1)・・・被測定試料板 (2)・・・覆い部材(3
)・・・チョッパ (41−・・熱 源(5)・・・マ
イクルメータ (6)・・・熱 電 対(7)・・・セ
ン サ (8)・・・四ツクイン増幅器特許出願人
八 1)−部 特許出願人 生 嶋 明 特許出願人 真空理工株式会社 特許出願人 新技術開発事業団 第1 図 第2図 第3図 ド ア!lL (7,+m) 手続補正書 昭和 5tJ” 3月、l?4 B 特許庁長官殿 1、事件の表示 昭和59年特許願第7665 号 2、発明の名称 断続力d熱による熱拡散率測定方法及び装置3、補正を
する者 事件との関係 特許出願人 へ田一部 生嶋 明 真 空 理 工 株式会社 新技術開発事業団 46代 理 人 6、補正の対象 明細書の「特許請求の範囲」「発明の詳細な説明」の欄 7、 補正の内容 (1) 明細書の「特許請求の範囲」を別紙の通り訂正
する。 (2)同省第3頁第6行、同頁第7行、第5頁第8行、
第6頁第2行(2個所ン、同頁第9頁の「T&CJを「
T*6’Jと訂正する。 (3) 同書第5頁第10行の(1)式を次のように訂
正する。 (4) 同省第5頁第12行「R2H)IJ i 1R
8k〉1」と訂正する。 (5)同書第5頁第14行「熱拡散長さ」ヲ「熱拡散長
」と訂正する。 (6)同書M5頁第20行の(3)式を次の通り訂正す
る。 (7) 同省第6頁第3行の(4)式を次の通り訂正す
る。 (8) 同省第6頁第7行の(5)式を次の通り訂正す
る。 (9)同省第6頁第17行の「HzJを「mzJと訂正
する。 2、特許請求の範囲 1、 厚さが一定の薄い被測定試料板の片面の一部を覆
い部材で覆った状態で該片面に一定振幅の熱エネルギを
断続照射し、被測定試料板の被遮蔽部における前記覆い
部材の端部から種々の距離の点の交流温度気を測定し、
該距離を変数とする交流温度Tacの対数の特性線の勾
配値kf:求め、次式 但しfは熱エネルギの断続によ る交流周波数。 より前記被測定試料板の面方向への熱拡散率りを得るこ
とを特徴とする断続加熱による熱拡散率測定方法。 2、厚さが一定の薄い被測定試料板の片面の一部を覆う
覆い部材と、該覆い部材の上部から一定振幅の熱エネル
ギを被測定試料板の片面に断続照射するチョッパを付設
した熱源と、該被測定試料板の被遮蔽部に固着された熱
電対と、該覆い部材の端部と熱電対固着点との距離を測
定するマイクロメータと、該熱電対の交流出力を増幅す
るロックイン増幅器とから構成されたことを特徴とする
断続加熱による熱拡散率測定装置。 手続補正書 昭和6簿31部 日 特許庁長官殿 1、事件の表示 昭和59年 特許願 第 7665 号2、発明の名称 断続加熱による熱拡散率測定方法及び装置5、補正 命
令の日付(自発) 昭和 年 月 日 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄 7、補正の内容 (1) 昭和59年3月24日付手続補正書により補正
された明細書第5頁第10行〜第6頁第1行、 OI? ・・・・・・・・・・・・・・・・・・この式」を但し
、f(=ω/2π)はチョッパによる熱エネルギQの交
流周波数 Cは試料(1)の単位体積当りの比熱 dは試料(1)の厚さ Dは試料(1)の面方向への熱拡散率 τeは試料(1)から熱浴へ熱が逃げるのに要する緩和
時間 一前記緩和時間τeを大きくすると、(1)式は次のよ
うになる、 π には熱拡散長の逆数である。 (2)式」と訂正する。 (2)同上書第6頁第3行の(4)式 と訂正する。 (3) 同上書第6頁第7行の(5)式と訂正する。
び四ツクイン増幅器を除いた第1図の平面図、第3図は
覆い板の移動に対する試料板の交流温度の対数特性図を
示す。 (1)・・・被測定試料板 (2)・・・覆い部材(3
)・・・チョッパ (41−・・熱 源(5)・・・マ
イクルメータ (6)・・・熱 電 対(7)・・・セ
ン サ (8)・・・四ツクイン増幅器特許出願人
八 1)−部 特許出願人 生 嶋 明 特許出願人 真空理工株式会社 特許出願人 新技術開発事業団 第1 図 第2図 第3図 ド ア!lL (7,+m) 手続補正書 昭和 5tJ” 3月、l?4 B 特許庁長官殿 1、事件の表示 昭和59年特許願第7665 号 2、発明の名称 断続力d熱による熱拡散率測定方法及び装置3、補正を
する者 事件との関係 特許出願人 へ田一部 生嶋 明 真 空 理 工 株式会社 新技術開発事業団 46代 理 人 6、補正の対象 明細書の「特許請求の範囲」「発明の詳細な説明」の欄 7、 補正の内容 (1) 明細書の「特許請求の範囲」を別紙の通り訂正
する。 (2)同省第3頁第6行、同頁第7行、第5頁第8行、
第6頁第2行(2個所ン、同頁第9頁の「T&CJを「
T*6’Jと訂正する。 (3) 同書第5頁第10行の(1)式を次のように訂
正する。 (4) 同省第5頁第12行「R2H)IJ i 1R
8k〉1」と訂正する。 (5)同書第5頁第14行「熱拡散長さ」ヲ「熱拡散長
」と訂正する。 (6)同書M5頁第20行の(3)式を次の通り訂正す
る。 (7) 同省第6頁第3行の(4)式を次の通り訂正す
る。 (8) 同省第6頁第7行の(5)式を次の通り訂正す
る。 (9)同省第6頁第17行の「HzJを「mzJと訂正
する。 2、特許請求の範囲 1、 厚さが一定の薄い被測定試料板の片面の一部を覆
い部材で覆った状態で該片面に一定振幅の熱エネルギを
断続照射し、被測定試料板の被遮蔽部における前記覆い
部材の端部から種々の距離の点の交流温度気を測定し、
該距離を変数とする交流温度Tacの対数の特性線の勾
配値kf:求め、次式 但しfは熱エネルギの断続によ る交流周波数。 より前記被測定試料板の面方向への熱拡散率りを得るこ
とを特徴とする断続加熱による熱拡散率測定方法。 2、厚さが一定の薄い被測定試料板の片面の一部を覆う
覆い部材と、該覆い部材の上部から一定振幅の熱エネル
ギを被測定試料板の片面に断続照射するチョッパを付設
した熱源と、該被測定試料板の被遮蔽部に固着された熱
電対と、該覆い部材の端部と熱電対固着点との距離を測
定するマイクロメータと、該熱電対の交流出力を増幅す
るロックイン増幅器とから構成されたことを特徴とする
断続加熱による熱拡散率測定装置。 手続補正書 昭和6簿31部 日 特許庁長官殿 1、事件の表示 昭和59年 特許願 第 7665 号2、発明の名称 断続加熱による熱拡散率測定方法及び装置5、補正 命
令の日付(自発) 昭和 年 月 日 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄 7、補正の内容 (1) 昭和59年3月24日付手続補正書により補正
された明細書第5頁第10行〜第6頁第1行、 OI? ・・・・・・・・・・・・・・・・・・この式」を但し
、f(=ω/2π)はチョッパによる熱エネルギQの交
流周波数 Cは試料(1)の単位体積当りの比熱 dは試料(1)の厚さ Dは試料(1)の面方向への熱拡散率 τeは試料(1)から熱浴へ熱が逃げるのに要する緩和
時間 一前記緩和時間τeを大きくすると、(1)式は次のよ
うになる、 π には熱拡散長の逆数である。 (2)式」と訂正する。 (2)同上書第6頁第3行の(4)式 と訂正する。 (3) 同上書第6頁第7行の(5)式と訂正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 厚−さが一定の薄い被測定試料板の片面の一部を
覆い部材で覆った状態で該片面に一定振幅の熱エネルギ
を断続照射し、被測定試料板の被遮蔽部における前記覆
い部材の端部から種々の距離の点の交流温度Tacを測
定し、該距離を変数とする交流湿度Tac特性線の勾配
値kをめ、次式 但しfは熱エネルギの断続による交流周波数。 より前記被測定試料板の面方向への熱拡散率りを得るこ
とを特徴とする断続加熱による熱拡散率測定方法。 2 厚さが一定の薄い被測定試料板の片面の一部を覆う
覆い部材と、該覆い部材の上部から一定振幅の熱エネル
ギを被測定試料板の片面に断続照射するチョッパを付設
した熱源と、該被測定試料板の被遮蔽部に固着された熱
電対と、該覆い部材の端部と熱電対固着点とのff1l
liを測定するマイク四メータと、該熱電対の交流出力
を増幅するロックイン増幅器とから構成されたことを特
徴とする断続加熱による熱拡散率測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP766584A JPS60155950A (ja) | 1984-01-19 | 1984-01-19 | 交流カロリメトリによる熱拡散率測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP766584A JPS60155950A (ja) | 1984-01-19 | 1984-01-19 | 交流カロリメトリによる熱拡散率測定方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60155950A true JPS60155950A (ja) | 1985-08-16 |
JPH0479411B2 JPH0479411B2 (ja) | 1992-12-15 |
Family
ID=11672102
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP766584A Granted JPS60155950A (ja) | 1984-01-19 | 1984-01-19 | 交流カロリメトリによる熱拡散率測定方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60155950A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6250652A (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-05 | Res Dev Corp Of Japan | 熱拡散率の測定方法およびその測定装置 |
JPS6258146A (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-13 | Shinku Riko Kk | 熱拡散率測定法 |
JPS62134547A (ja) * | 1985-12-07 | 1987-06-17 | Toshiba Corp | 熱拡散率測定装置 |
JPS6358242A (ja) * | 1986-08-29 | 1988-03-14 | Toshiba Corp | 熱拡散率測定方法およびその装置 |
JPS63206645A (ja) * | 1987-02-24 | 1988-08-25 | Fuji Electric Co Ltd | 複合膜の評価方法 |
JPS63241457A (ja) * | 1987-03-30 | 1988-10-06 | Kawasaki Steel Corp | 薄膜状物質の熱物性測定装置 |
JPH0210145A (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-12 | Nec Corp | 熱拡散率測定装置 |
JPH0469532A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-04 | Hamamatsu Photonics Kk | 非接触温度計測装置 |
US5343150A (en) * | 1992-08-06 | 1994-08-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Apparatus and method for measuring a physical property of a sample using an electron spin resonance spectrum of the sample |
Citations (2)
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---|---|---|---|---|
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JPS5612819A (en) * | 1979-07-06 | 1981-02-07 | Hiroichi Hamaguchi | Overcurrent detecting circuit |
-
1984
- 1984-01-19 JP JP766584A patent/JPS60155950A/ja active Granted
Patent Citations (2)
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Cited By (10)
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JPH0479573B2 (ja) * | 1985-08-30 | 1992-12-16 | Shingijutsu Jigyodan | |
JPS62134547A (ja) * | 1985-12-07 | 1987-06-17 | Toshiba Corp | 熱拡散率測定装置 |
JPS6358242A (ja) * | 1986-08-29 | 1988-03-14 | Toshiba Corp | 熱拡散率測定方法およびその装置 |
JPS63206645A (ja) * | 1987-02-24 | 1988-08-25 | Fuji Electric Co Ltd | 複合膜の評価方法 |
JPS63241457A (ja) * | 1987-03-30 | 1988-10-06 | Kawasaki Steel Corp | 薄膜状物質の熱物性測定装置 |
JPH0210145A (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-12 | Nec Corp | 熱拡散率測定装置 |
JPH0469532A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-04 | Hamamatsu Photonics Kk | 非接触温度計測装置 |
US5343150A (en) * | 1992-08-06 | 1994-08-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Apparatus and method for measuring a physical property of a sample using an electron spin resonance spectrum of the sample |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0479411B2 (ja) | 1992-12-15 |
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