JPH0726843B2

JPH0726843B2 - 距離計及び距離測定用標尺

Info

Publication number: JPH0726843B2
Application number: JP62057055A
Authority: JP
Inventors: 能功鳴瀧
Original assignee: 株式会社オプテツク
Priority date: 1987-03-12
Filing date: 1987-03-12
Publication date: 1995-03-29
Anticipated expiration: 2010-03-29
Also published as: JPS63222213A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、距離計並びに距離測定用標尺に関する。

〔発明の概要〕

一定間隔のマーク列を付した目標を撮像し、撮像面の像
長に基づいて目標までの距離を算出する距離計におい
て、マーク自体を符号模様とするか又はマークに符号模
様を含ませることにより、マーク以外の疑似映像源によ
る誤読をなくすとともに、撮像光学系に光軸に対して傾
けることができる平板ガラスを配し、撮像面の複数回平
行移動させながら計測した距離を平均化して、高い計測
精度を得ることを特徴とする。

〔従来の技術〕

土木測量においては、光学的な距離の測定に光波距離計
（一定周波数で強度変調された発射光と反射器からの戻
り光との位相差に基いて距離を算出するもの）が用いら
れている。また水準儀やトランシットの望遠鏡の焦点鏡
に記されたスタジア線の間隔を、望遠した標尺の目盛で
読んで、距離を算出するスタジア測量（タキオメトリー
法）が用いられている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

光波距離計は高精度であるが高価であり、例えばアリダ
ードを用いた簡易測量には適さない。またスタジア測量
は、目盛の読取り及び距離計算を測量者が行うので手間
がかかる上、精度が低い問題がある。

本発明は簡易な構成で高精度な距離のディジタル直読及
びディジタル標示を可能にすることを目的とする。

本発明の別の目的は、誤計測の少ないディジタル直読式
距離計及びそれに使用する標尺を得ることである。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の第１発明の距離計は、第１図及び第３図に示す
ように、一定間隔のマーク列９を付した目標を撮像する
望遠撮像手段（対物レンズ系２、イメージセンサ６から
成る）と、撮像出力信号に基づいて撮像面における複数
個のマーク像を含む像間隔Ｘを測定する測定手段（CPU1
5と第７図のステップS7から成る）と、上記像間隔測定
に含まれる複数のマーク像の個数ｎを検出する検出手段
（CPU15と第７図のステップS7から成る）と、上記望遠
撮像手段の光学系に挿入され、光軸と直交した面を傾け
ることができる平板ガラス18と、上記マーク像の間隔測
定値Ｘ、マーク像の個数ｎ、上記目標上のマークの間隔
Ｌ及び上記望遠撮像手段の望遠倍率に基づいて目標まで
の距離Ａを算出する距離計算手段（CPU15と第７図のス
テップS8から成る）と、上記平板ガラス18を傾けること
により上記撮像面におけるマーク像をその配列方向に平
行移動させる駆動手段（アクチュエータ19）と、複数回
の上記平行移動での上記距離計算手段による複数個の測
定距離の平均をとる平均化手段（CPU15と第７図のステ
ップS9から成る）とを備える。

本発明の第２発明の距離計は、個々のマークがマーク以
外の疑似映像源と区別し得る規則的な一定パターンの符
号模様（9a,9b,9c）を含んでいる一定間隔のマーク列９
を付した目標を撮像する望遠撮像手段（対物レンズ系
２、イメージセンサ６から成る）と、上記撮像手段の出
力に基づいて上記マークの符号模様の真偽を判定する判
定手段（CPU15と第９図のステップS7から成る）と、符
号模様が真のマーク像について撮像面における複数個の
マーク像を含む像間隔Ｘを測定する測定手段（CPU15と
第９図のステップS11から成る）と、上記像間隔測定に
含まれる複数のマーク像の個数ｎを検出する検出手段
（CPU15と第９図のステップS11から成る）と、上記マー
ク像の間隔測定値Ｘ、マーク像の個数ｎ、上記目標上の
マークの間隔Ｌ及び上記望遠撮像手段の望遠倍率に基づ
いて目標までの距離Ａを算出する距離計算手段（CPU15
と第９図のステップS12から成る）とを備える。

本発明の第３発明の標尺は、一定間隔のマーク列９を付
した目標を撮像し、撮像出力信号に基づいて撮像面にお
ける複数個のマーク像を含む像間隔Ｘを測定するととも
に、上記間隔測定に含まれる複数のマーク像の個数ｎを
検出し、上記マーク像の間隔測定値、マーク像の個数、
上記目標上のマークの間隔及び上記望遠撮像手段の望遠
倍率に基づいて目標までの距離を算出するようにした距
離計に上記目標として使用する標尺であって、上記マー
クがマーク以外の疑似映像源と区別し得る規則的な一定
パターンの符号模様（9a,9b,9c）からなり、上記符号模
様のマーク配列方向の特定のエッジが上記間隔測定に使
用される基準点であることを特徴とする。

［作用］第１発明においては、平板ガラス18により撮像面の像を
複数回平行移動させながら計測した距離を平均化するこ
とにより、高い計測精度が得られる。また第２発明にお
いては、符号模様の真偽判定をすることにより疑似映像
源による妨害を除去することができ、誤読が減少する。
また第３発明においては、マーク自体が符号模様で構成
され、符号模様のエッジをマーク像の間隔測定の基準点
とするので、符号模様の真偽判定により基準点を正確に
検出することができ、一層高信頼度の距離計測が可能と
なる。

〔実施例〕

第１図に本発明を適用した光学式距離計を示し、第２図
に測定標的である測距用標尺を示す。

距離計１は周知の望遠鏡と概ね同じ光学系を備え、対物
レンズ系２、正立レンズ系３及び接眼レンズ系４から成
る。接眼レンズ系４は、合焦レンズ4a、ビームスプリッ
タ4b及び接眼レンズ4cを備える。対物レンズ系２からの
入射光は、ビームスプリッタ4bによって分岐され、拡大
レンズ系５を通してイメージセンサ６に結像される。こ
のイメージセンサ６は例えばCCDライセンサであっても
よく、第２図に示す標尺８の長手方向に読取ラインが合
致する向きに配置されている。

標尺８は概知長さ、例えば1mをｎ個のブロック11に等分
（例えば10等分）したマーク９を有している。距離計１
のイメージセンサ６で読取れるように、マーク９は反射
率が低い部分（黒）で、その間のスペース10は反射率が
高い部分（白）に対応する。

イメージセンサ６の出力は第３図の処理回路に導出され
て、距離値が算出される。即ち、標尺８のマーク／スペ
ースー像がイメージセンサ６で電気信号として読取られ
て、アンプ12を介してコンパレータ13に与えられる。コ
ンパレータ13は、一定レベルＥ以下をクリップして、例
えば像が合焦状態でなくて像出力レベルが低い場合に、
測距処理が行われないようにしている。コンパレータ13
の出力は波形整形回路14で整形され、CPU15に供給され
る。

CPU15はマーク９の間隔測定値と標尺８上の対応する既
知長さとにより、標尺８までの距離を算出する。距離測
定値は、第４図に示すように距離計１の後面パネルの標
示部16にディジタル値で表示される。なお測定値を例え
ばRS232C型のI/Oポート17からポケットコンピュータの
ようなデータターミナルに転送することもできる。

距離の計算は、イメージセンサ６の撮像面における像の
大きさが距離によって伸縮することを利用して行う。像
の大きさは距離に逆比例して縮む。即ち、第１図に示す
ように、対物レンズ系２から標尺８までの距離をＡ、対
物レンズ系２による倒立像７までの距離をＢ、対物レン
ズ系２の焦点距離をｆとすると、で、倍率ｕは、となる。更に、正立レンズ系３から接眼レンズ系４及び
拡大レンズ系５を通り撮像面に至るまでの倍率をｖと
し、標尺８上の既知の長さをL_Oとすると、イメージセン
サ６の撮像面における対応の像長ｌは、となる。イメージセンサ６で読取ることができた像長に
対応するビット数をＸとし、イメージセンサ６の読取ラ
インに沿った受光エレメントのピッチをｐとすると、像
長ｌは、ｌ＝Ｘ×ｐ ……（５）となる。上記第４式、第５式より、測定距離Ａを、により計算することができる。

実際にはイメージセンサ６のビット数が例えば5000ビッ
トのように有限であるから、遠距離において、第２図の
標尺８の全長に対応する像が5000ビット内に収まって
も、近距離においては像が拡大されるため、5000ビット
で読取れるのは、標尺８上の一部となる。従って標尺８
上の既知長さL_Oは、単位ブロック11の長さをＬ（例えば
0.1mm）イメージセンサ６で読取れるブロック11の個数
をｎ（１、２……）すると、 L_O＝nL ……（７）のように可変にする必要がある。つまり、最遠距離では
測定対象の既知長を例えば10L（1m）とし、最近距離で
は１（0.1mm）とする。従って第６式は、となる。

次に第８式のＸ（像長に対応したイメージセンサ６の読
取ビット数）及びｎ（撮像したブロック個数）をイメー
ジ出力に基づいて検出する手順を第５図〜第７図に基づ
いて説明する。

第５図の検出回路及び第６図のタイムチャートに示すよ
うに、イメージセンサ６上の像（第６図Ａ）を転送クロ
ックCPに基づいて読出してイメージ出力（第６図Ｂ）を
得ると共に、同時に転送クロックCPをビットカウンタ20
で計数して、計数値ｘを像の長手方向のスケールとす
る。一方、イメージ出力をエッジ検出回路21に供給して
例えば立上りエッジを第６図Ｃのように検出し、ビット
カウンタ20の出力ｘを各エッジごとにラッチ回路22で第
６図ＤのようにX₀、X₁、X₂……とラッチする。なお第６図
の例はイメージセンサ６の全ビット範囲に３つのブロッ
ク11が含まれる場合である。

ラッチ回路22で得た各エッジのビット値X₀、X₁……を演
算回路23に供給して、最大値から最小値を減算すれば、
ｎブロックに対応した像長のビット数Ｘ（像ビット数）
が得られる。またエッジ検出回路21の出力をエッジカウ
ンタ24で計数することにより、ブロック個数ｎを得るこ
とができる。なお実際にはエッジカウンタ24の計数値か
ら１を減じた値がｎである。

検出するエッジは第６図Ｅのように立下りエッジでもよ
く、この場合にもエッジに対応したビット値Y₀、Y₁、Y₂…
のうちの最大値から最小値を減算して、像長さのビット
数を得ることができる。

第７図に第１図のCPU15で行う距離計算の手順を示す。
まずステップS1で演算レジスタをリセットし、ステップ
S2にて転送クロックが１つ進められたことを判断し、ス
テップS3でビットカウント値ｘを＋１とする。次のステ
ップS4でイメージ出力Ｑが０（ロー）から１（ハイ）に
変わったことを判定してエッジ検出を行う。エッジ検出
があったときには、ステップS5でビットカウント値ｘを
レジスタXnに読込み、エッジカウント値ｎを＋１とす
る。以上の処理をビットカウント値ｘがイメージセンサ
６の最大ビット数に達するまで行う。最終的に得られた
エッジのビット値X₀、X₁、X₂……に基づいて像ビット数Ｘ
＝X_max−X_min及びブロック数ｎをステップS7で計算す
る。更にステップS8で既述の第８式にX,nを夫々代入し
て距離Ａを計算する。

必要があれば、更にステップS9において複数個の計測値
Ａについて平均値をとって測定精度を高めてもよく、ま
た所定のアルゴリズムに基づいて真値検定を行って測定
確度を高めてもよい。真値検定でエラーとなった場合に
は、例えば第４図の表示部16においてエラー表示16aを
表示させる。

測定誤差は、像長を有限エレメント数のイメージセンサ
６で読取るときに量子化誤差として生じ易い。従って第
３図に示すようにイメージセンサ６の前面側に設けた平
行ガラス板18をアクチュエータ19により微小角度だけ傾
けて、イメージセンサ６の読取ラインに沿って像位置を
微小量シフトさせながら、複数回の計測を行って平均化
するのがよい。像のシフト量がイメージセンサ６のエレ
メントピッチｐの整数倍と合致しないように、１回の計
測ごとにシフト量をランダムに変更するのが望ましい。

誤計測は、第７図のステップS4におけるエッジ検出回路
のノイズ妨害によって生じ易い。ノイズはイメージ出力
に乗る電気的なノイズの他に、標尺８に付いた汚れや光
学系の汚れに起因とすることがある。これらの妨害ノイ
ズには規則性はないと考えられる。従って真値検定アル
ゴリズムとして、例えば第６図において個々のブロック
のビット長さX₃−X₂、X₂−X₁、X₁−X₀が±１ビットの誤
差で一致するか否かを検定する手法が有効である。或い
はY₃−X₃、Y₂−X₂、Y₁−X₁，Y₀−X₀、即ち、各ブロック
のマーク９に対応するビット長さの一致を見てもよい。

第８図（Ａ）に標尺８に付けるマーク９のより好ましい
実施例を示す。マーク９は、ワイドバー9a（ロジック
“1"に対応）、ナローバー9b（ロジック“0"に対応）及
びスペース9cから成るバーコードで構成してある。この
バーコードはブロック長を代表するマークとしての機能
と共に、識別シンボル（IDコード）としての機能を有し
ている。このバーコードマーク９がデコーダにおいて正
しく解読できれば、高い確度でマーク９のエッジ検出
（この場合には左端のバー9aの前端とする）を行うこと
ができ、像ビット数のデータの信頼度が高まる。これに
よって標尺８の表面に付いた汚れや標尺より後方の背景
などの像を誤って取込むことを妨げる。

バーコードマーク９が示す識別シンボルは例えば“100
1"のような４ビット又はそれ以上のコードであってよ
い。好ましくは標尺８の天地を逆にしても支障がないよ
うに、左右対称のビットパターンにするのがよい。バー
コードの符号系としては、工業用又は商業用に使用され
ている3of9コード、2of5コード、NRZコード等を利用す
ることができる。

第９図にコードマークを使用した場合のデータ処理手順
を示す。まずステップS1でイニシャライズを行い、ステ
ップS2、S3で転送クロックCPのカウントとイメージ出力
（第８図Ｂ）のエッジ検出とを行う。この場合は第８図
Ｃに示すように、各バー9a,9bの立上り及び立下りの両
エッジを検出する。エッジ検出が有るごとに、ステップ
S4においてビットカウント値ｘをZ₀、Z₁、Z₂……のように
取込む。ｋが７、即ち、バーコードの終端に達するまで
この処理を行い、ステップS5でｋ＝７になったら、デー
タZ₀、Z₇に基づいてステップS6でデコード処理を行う。

デコード処理では、バーの像幅Z₁-Z₀、Z₃-Z₂、Z₅-Z₄、Z₇-Z
₆を夫々計算して、個々の大小比較を所定の誤差マージ
ンで行い、コードビット列を特定する。この際、イメー
ジ出力にヒゲ状のノイズが入っていると、パルス幅の弁
別アルゴリズムにおいてデコード不能と判定されるの
で、誤読としてエラー処理を行う。

デコードが完了してコードビット列が得られたら、次に
ステップS7において識別シンボル（ID）“1001"と合致
するか否かが判定される。従って標尺８の汚れ等により
誤読が生じても、IDと一致しなければエラー処理を行
う。

IDコードの識別ができたら、ステップS9にてZ_kレジスタ
の先頭値Z₀をエッジの像ビット値としてXnレジスタ（１
回目はX₀）に取込む。既にマーク９が正しいコードであ
ると確定しているから、値Z₀は高い確度でマーク９の前
端エッジ位置を示す値であると言える。

次にステップS10にてビットカウント値ｘがイメージセ
ンサ６の全ビット数か否かを判定し、それに達していな
ければ、ステップS8でZ_kレジスタ及びｋレジスタをリセ
ットして、以上の処理を繰り返し行う。これにより各ブ
ロック11ごとのマーク９のエッジのビット値X₀、X₁、X₂…
…が順に得られると共に、ブロック数ｎがカウントされ
る。

イメージセンサ６の全ビットの読出しが終了したら、第
７図のステップS7、S8と同様に、像長のビット数Ｘ及び
ブロック数ｎを計算し（ステップS11）、更に距離Ａの
計算（ステップS12）を行う。

なお第９図の処理において、少なくとも二個のマークエ
ッジに対応する像ビット値X_a,X_bが得られれば、像幅X_b-
X_aを計算することができるから、X_aとX_bとの間のコード
マークについてはバーコードのデコードエラーやIDエラ
ーが生じていても、該当コードマークを無視してもよ
い。この場合、エラーが生じたブロックについてもブロ
ック数ｎに算入すれば、第８式より距離Ａを計算するこ
とができる。しかしカウントしたブロック数ｎがエラー
となる可能性があるので、次のような手順でｎを算出す
るのがよい。

即ち、第９図のステップS9で、各エッチのビット値X_n＝
X₀、X₁、X₂……が得られたとき、像長Ｘは既述のように、Ｘ＝X_max−X_min で得られる。また１ブロックの像長X_Lを、隣接データの
差として、 X_L＝X_n-X_n-1 で得ることができる。従って撮像面内に入った像のブロ
ック数ｎはｎ＝X/X_Lで計算することができる。隣接デー
タの差が複数個得られる場合には、夫々が一致するか否
かを判定して、X_Lの真値検定を行うことができる。

上記１ブロックの像長X_LをX_nから求める代わりに、第８
図のワイドバー9a又はナローバー9bの像幅をZ₁-Z₀又はZ
₃-Z₂等により計算してもよい。この場合、標尺８上の１
ブロック長Ｌ（第２図）と同じく標尺８上のワイドバー
9aまたはナローバー9bとの幅の比率が分れば、バーの像
幅から１ブロックの像長X_Lを計算することは容易であ
る。バー9a、9bの像は、第９図のステップS6、S7におい
て擬データでないと既に判定されているので、像幅Z₁-Z
₀等が真値である確率は非常に高い。

撮像面に含まれるブロック数ｎを更に高い確度で確定す
るために、第10図のようなブロックアドレス付き標尺８
を使用することができる。即ち、バーコードマーク９を
IDコードとブロックごとに異なるブロックアドレスAD
0、１、２……とで構成する。IDコード及びブロックア
ドレスADが夫々デコードできれば、エッジビット値X_max
及びX_minを得た各ブロックの対応アドレスADについて減
算AD_max-AD_minを行えば、像長Ｘに含まれるブロック数
ｎを求めることができる。アドレスバーコードをデコー
ドする際に、バーコードとして読取れないノイズ等が排
除されるから、計算したｎの値の真値確度は極めて高
い。

標尺８の中点を常にイメージセンサ６の読取ラインの中
点に略一致させて撮像するならば、第１図のようなブロ
ックアドレス付き標尺８を用いることができる。この例
では標尺上の単位ブロック長をL/2とし、標尺８の中点
Ｏに関して対称な２ブロックの対で、単位の既知長さ
Ｌ、2L、3L……を代表させる。マーク９に付けるブロッ
クアドレスも中点Ｏに関して……３、２、１、０、１、
２、３……のように対称形とする。像長Ｘの算出は既述
と同様にマークエッジのビットカウント値X_max、X_minに
基づいて行う。撮像範囲に含まれるブロック数ｎは、X
_max又はX_minを得たブロックの対応アドレスと一致す
る。

以上の実施例に基づいて実例を次に説明する。第８式に
おいて、対物レンズ系２の焦点距離ｆを150mm、正立レ
ンズ系３から拡大レンズ系５を経て撮像面に至るまでの
像倍率ｖを20倍とし、イメージセンサ６の受光エレメン
トのピッチを７μｍとする。そして標尺８上の既知長さ
L₀＝nLを1m（0.1m幅のブロック10個）とし、最大測定距
離Ａを100mとすると、イメージセンサ６の撮像面におけ
る像長は約30mm（第４式）となり、対応する像ビット数
Ｘは第８式により約4286ビットとなる。従ってイメージ
センサ６の全ビット数を5000ビット（読取ライン長約35
cm）に定める。このときの±１ビット分の量子化誤差に
対応する測距誤差は100m/4286により100m±2.3cmであ
る。距離Ａが50mのときには、全体の像長が約60mmとな
り、撮像できるブロック数ｎは半数の５となる。５ブロ
ック（0.5m）に対応する像ビット長は4286ビットで変わ
らず、測距誤差は約±1cmに低下する。

最近距離は、１ブロック（0.1m）を5000ビット以下で読
取るときであり、約1mである。これより近づくと、像が
オーバーフローする。このときの精度は約±2mmであ
る。なおブロック分割数を増やせば、近距離能力が増
す。

第８図Ａのようなバーコードマーク９も上述の諸定数の
装置で読取ることができる。即ち、ナローバー9bの幅を
0.5cm（１ブロック長10cmの1/20）とすると、距離100m
のときその像幅は4286÷200で約20ビット相当であり、
十分に読取れる。この場合、バーコードマーク９の総モ
ジュール数を10（ナローバー9b及びスペース9cを１と
し、ワイドバーを２〜３としたときの全バーの合計）と
すると、マーク９の全幅は約5cmとなり、１ブロック（1
0cm）内に収まる。

標尺８の全長L₀を長くし、望遠倍率を大きくし、またイ
メージセンサ６のビット数を増やすことにより、更に遠
距離の測定又は高精度の測定を行うことができる。

以上、本発明の好ましい実施例に基づいて説明したが、
本発明の技術思想に基づいて実施例を種々に変更するこ
とが可能である。例えばイメージセンサ６として２次元
のアレイセンサを用いることができる。またイメージセ
ンサとしてCCDの他に撮像管等を用いてもよい。標尺８
としてマーク９を印刷した板状体を標的に貼り付けても
よい。また第12図のようにブロック交互に色分けした標
尺を用いてもよい。この場合には、第２図のマーク９と
第12図のブロック11とが合体している。また第12図にお
いてマーク９に相当するバーコードを各ブロック11のエ
ッジ部分に付加してもよい。白と黒とのブロックでは、
バーコードのバーとスペースとの色分けを反転させる。

なお本実施例の距離計を用いて距離を計測する際には、
測量者が接眼レンズ4cを除いて合焦状態とするが、個人
差により合焦点が異なるので、自動焦点方式にしてもよ
い。例えばイメージセンサ６の像出力の微分レベルが最
大となるようにサーボ動作する合焦レンズモータ及びサ
ーボ回路を付加することができる。

〔発明の効果〕

本発明の第１発明においては、一定間隔のマーク列を付
した目標を撮像し、撮像面の像長に基づいて目標までの
距離を算出する距離計において、光学系に光軸に対して
傾けることができる平板ガラスを配し、平板ガラスによ
り撮像面の像を複数回平行移動させながら計測した距離
を平均化するようにしたから、高い計測精度が得られ
る。

また第２発明においては、個々のマークが符号模様を含
み、撮像手段の出力に基づいて各マークの符号模様の真
偽を判定するようにしたから、撮像面の像長に基づいて
目標までの距離を算出する画像処理の際に、疑似映像源
による妨害を除去することができ、誤読が減少する。

また第３発明においては、マーク自体が符号模様で構成
され、符号模様のエッジをマーク像の間隔測定の基準点
とするので、符号模様の真偽判定により基準点を正確に
検出することができ、一層高信頼度の距離計測が可能と
なる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を適用した距離計の光学系の略線図、第
２図は測定用標尺の略線図、第３図は像出力の処理回路
図、第４図は距離計の後面図、第５図は距離計測の回路
図、第６図はイメージビットの計測タイムチャート、第
７図は距離計測手順のフローチャート、第８図は標尺の
マークをバーコードにしたときの像及び測定のタイムチ
ャート、第９図はバーコードの場合の計測処理手順を示
すフローチャート、第10図ブロックアドレス付き標尺の
略線図、第11図はブロックアドレス付き標尺の別例を示
す略線図、第12図は標尺のマークの別例を示す略線図で
ある。なお図面に用いた符号において、１……距離計２……対物レンズ系３……正立レンズ系４……接眼レンズ系５……拡大レンズ系６……イメージセンサ８……標尺９……マーク 11……ブロックである。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】一定間隔のマーク列を付した目標を撮像す
る望遠撮像手段と、撮像出力信号に基づいて撮像面における複数個のマーク
像を含む像間隔を測定する測定手段と、上記像間隔測定に含まれる複数のマーク像の個数を検出
する検出手段と、上記望遠撮像手段の光学系に挿入され、光軸と直交した
面を傾けることができる平板ガラスと、上記マーク像の間隔測定値、マーク像の個数、上記目標
上のマークの間隔及び上記望遠撮像手段の望遠倍率に基
づいて目標までの距離を算出する距離計算手段と、上記平板ガラスを傾けることにより上記撮像面における
マーク像をその配列方向に平行移動させる駆動手段と、複数回の上記平行移動での上記距離計算手段による複数
個の測定距離の平均をとる平均化手段とを備える距離
計。
【請求項２】個々のマークがマーク以外の疑似映像源と
区別し得る規則的な一定パターンの符号模様を含んでい
る一定間隔のマーク列を付した目標を撮像する望遠撮像
手段と、上記撮像手段の出力に基づいて上記マークの符号模様の
真偽を判定する判定手段と、符号模様が真のマーク像について撮像面における複数個
のマーク像を含む像間隔を測定する測定手段と、上記像間隔測定に含まれる複数のマーク像の個数を検出
する検出手段と、上記マーク像の間隔測定値、マーク像の個数、上記目標
上のマークの間隔及び上記望遠撮像手段の望遠倍率に基
づいて目標までの距離を算出する距離計算手段とを備え
る距離計。
【請求項３】一定間隔のマーク列を付した目標を撮像
し、撮像出力信号に基づいて撮像面における複数個のマ
ーク像を含む像間隔を測定するとともに、上記間隔測定
に含まれる複数のマーク像の個数を検出し、上記マーク
像の間隔測定値、マーク像の個数、上記目標上のマーク
の間隔及び上記望遠撮像手段の望遠倍率に基づいて目標
までの距離を算出するようにした距離計に上記目標とし
て使用する標尺において、上記マークがマーク以外の疑似映像源と区別し得る規則
的な一定パターンの符号模様からなり、上記符号模様の
マーク配列方向の特定のエッジが上記間隔測定に使用さ
れる基準点であることを特徴とする距離測定用標尺。
【請求項４】上記標尺の天地を逆にしたときに、上記符
号模様が同方向に同一に読めることを特徴とする特許請
求の範囲第３項に記載の標尺。
【請求項５】上記符号模様が、個々のマークを区別する
アドレス情報またはマーク位置情報を含むことを特徴と
する特許請求の範囲第３項に記載の標尺。
【請求項６】上記符号模様が、２値符号に対応させた太
バー、細バー及びこれらの間のスペースからなるバーコ
ードであることを特徴とする特許請求の範囲第３項に記
載の標尺。