JPH07262769A - 半導体メモリ素子のアクセス方法及び半導体メモリ素子 - Google Patents

半導体メモリ素子のアクセス方法及び半導体メモリ素子

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JPH07262769A
JPH07262769A JP5360694A JP5360694A JPH07262769A JP H07262769 A JPH07262769 A JP H07262769A JP 5360694 A JP5360694 A JP 5360694A JP 5360694 A JP5360694 A JP 5360694A JP H07262769 A JPH07262769 A JP H07262769A
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data
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semiconductor memory
memory
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JP5360694A
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Yosuke Seki
洋介 関
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 ブロック単位でデータを扱う装置に使用され
る半導体メモリLSIであり、アドレスストローブ(A
S)信号に基づいてアドレスの下位8ビット(A0〜A
7)とデータ(D0〜D7)の切換選択を行うセレクタ
33と、アドレス(A0〜A11)に対応するブロック
番号を設定するアドレスセッター34きによって、メモ
リ32へのデータの書き込み/読み出し時のアドレス指
定をブロック番号により行い、カウンタ31によって、
設定したアドレス番号からメモリ32の実アドレスを計
算し、データストローブ(DS)信号に同期してカウン
トアップを行うことでメモリ32から1ワード毎に連続
的にデータをアクセスする。 【効果】 アドレス指定のピン数を減らしてLSIパッ
ケージを小型化でき、またデータのアクセス速度を速く
することも可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ブロック単位でデータ
を扱う装置に使用される半導体メモリ素子及びその半導
体メモリ素子のアクセス方法に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、一般に使用されている半導体メモ
リ素子(若しくは半導体メモリLSI(大規模集積回
路))としては、例えばいわゆるスタティックRAM
(SRAM:Static Random Access Memory)や、ダイナ
ミックRAM(DRAM:DynamicRandom Access Memor
y) 、ROM(Read Only Memory) 、フラッシュメモリ
(Fiash Memory) などが存在する。なお、フラッシュメ
モリとは、全ビット或いはブロック単位で消去ができる
例えばEEPROM(Electrically Erasable ROM)
であり、書き込みは1バイト毎に可能なものであり、消
去,書き込みともに電気的に行う。
【0003】これら半導体メモリLSIでは、記憶すべ
きデータの書き込みや記憶しているデータの読み出しは
任意の番地(アドレス)に対して実行可能となってい
る。
【0004】また、半導体メモリLSIにおけるメモリ
上でのデータはアドレス番号で管理されているので、こ
のメモリに対するデータの書き込み/読み出しのアクセ
スは、例えば図5に示すように、アドレス番号によるデ
ータの特定と、読み出し/書き込み(リード/ライト)
の信号によるコマンドによって行うことになる。なお、
図5の例は、データの2ワードをアクセスしているとき
の上記スタティックRAMのアクセスタイミングを示
し、また図5にはCPU(中央処理装置)のクロックも
同時に示している。これにより、任意の番地のデータを
容易に読み込んだり、変更(書き換え)することが可能
となる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述のような半導体メ
モリLSIでは、アドレスを特定する必要があるため
に、アドレス番号を入力するための信号端子(いわゆる
ピン)が必要となる。
【0006】ところで、近年の半導体技術の革新によ
り、1つの半導体メモリLSIに記憶するデータ量は、
4M(メガ)ビット,16Mビット,64Mビット、そ
して256Mビットと次第に増えている。
【0007】これらの半導体メモリLSIのピン数を単
純に考えると、上記1メガ分の番地を指定するには2の
20乗で20ピンが必要となり、上記4メガ分の番地を
指定するには2の22乗で22ピンが、上記16メガ分
の番地を指定するには2の24乗で24ピンが、また、
上記256メガ分の番地を指定するには2の28乗で2
8ピンが必要となり、LSIに必要となるピン数がメモ
リ容量に応じて多くなってしまう。
【0008】このようなピン数の増加は、半導体メモリ
LSIのパッケージを大きくしてしまうと同時に、当該
半導体メモリLSIを組み込む装置の小型化をも阻害し
てしまう。
【0009】また、例えば上記ダイナミックRAMで
は、このような問題の解決のために、例えば図6に示す
ように、データのアクセスの際には、アドレスをロウア
ドレスストローブ(RAS)とカラムアドレスストロー
ブ(CAS)に基づいて2度に分けてLSIに指定する
ことにより、ピン数を減らしている。しかし、この場合
は、アドレス指定を2度に分けるようにしているため、
アドレスの指示に余計に時間がかかり、アクセススピー
ドが遅くなる。なお、図6にはデータの1ワードをアク
セスしている例を示しており、また、この図6にはCP
Uのクロックとリード/ライトの信号も同時に示してい
る。
【0010】そこで、本発明は、上述したようなことに
鑑み、アドレス指定のピン数を減らしてパッケージ(L
SIのパッケージ)を小型化し、またデータのアクセス
速度を速くすることも可能な半導体メモリ素子のアクセ
ス方法及び半導体メモリ素子を提供することを目的とす
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は上述の目的を達
成するために提案されたものであり、ブロック単位でデ
ータを扱う装置に使用される半導体メモリ素子のアクセ
ス方法において、メモリへのデータの書き込み/読み出
し時のアドレス指定をブロック番号により行い、当該ブ
ロックに含まれるデータをブロック番号に続くタイミン
グ信号に同期して連続的にアクセスすることを特徴とす
る。
【0012】また、本発明の半導体メモリ素子は、デー
タの書き込み/読み出しがなされるメモリ手段と、上記
メモリ手段へのデータの書き込み/読み出し時のアドレ
ス指定をブロック番号により行うブロックアドレス指定
手段と、上記指定されたブロックに含まれるデータをブ
ロック番号に続くタイミング信号に同期して連続的にア
クセスするアクセス手段とを有することを特徴とする。
【0013】ここで、本発明の半導体メモリ素子の上記
ブロックアドレス指定手段は、アドレスストローブ信号
によってアドレス情報とデータの切換選択を行う選択手
段と、アドレスストローブ信号によってアドレス情報に
対応するブロック番号を設定するアドレス設定手段とを
有してなり、上記アクセス手段は、上記アドレス設定手
段で設定したアドレス番号から、メモリ手段の実アドレ
スを計算し、データストローブ信号に同期して上記メモ
リ手段に対して1単位毎にデータをアクセスするカウン
ト手段からなる。
【0014】
【作用】本発明の半導体メモリ素子のアクセス方法及び
半導体メモリ素子によれば、メモリへのデータの書き込
み/読み出し時のアドレス指定をブロック番号により行
い、ブロックに含まれるデータをブロック番号に続くタ
イミング信号に同期して連続的にアクセスするようにし
ているのでアクセス毎にアドレスを指定する必要がな
い。
【0015】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。
【0016】図1には、本発明実施例の半導体メモリ素
子のアクセス方法が適用される半導体メモリ素子(半導
体メモリLSI)の構成を示す。図1に示す本実施例の
半導体メモリLSIは、ブロック単位でデータを扱う装
置に使用されるものであり、データの書き込み/読み出
しがなされるメモリ32と、上記メモリ32へのデータ
の書き込み/読み出し時のアドレス指定をブロック番号
により行うブロックアドレス指定手段と、上記指定され
たブロックに含まれるデータをブロック番号に続くタイ
ミング信号に同期して連続的にアクセスするアクセス手
段とを有するものである。上記ブロックアドレス指定手
段は、アドレスストローブ(AS)信号によってアドレ
ス情報の下位8ビット(A0〜A7)とデータ(D0〜
D7)の切換選択を行うセレクタ33と、アドレススト
ローブ(AS)信号によってアドレス情報(A0〜A1
1)に対応するブロック番号を設定するアドレスセッタ
ー34とを有してなる。さらに、上記アクセス手段は、
上記アドレスセッター34で設定したアドレス番号か
ら、メモリ32の実アドレスを計算し、データストロー
ブ(DS)信号に同期してカウントアップを行うことで
上記メモリ32に対して1単位毎(1ワード毎)にデー
タをアクセスするカウンタ31からなる。
【0017】ここで、本発明実施例の半導体メモリLS
Iの具体的説明に先立ち、本実施例半導体メモリLSI
の使用条件について述べる。半導体メモリLSIの使用
用途の中には、例えばいわゆる半導体ディスク装置のよ
うに、データを例えば512ワードとか1024ワード
といった集合(ブロック)単位でしか扱わない場合があ
る。なお、半導体ディスク装置とは、例えばダイナミッ
クRAMを用いた記憶装置であり、高速の主記憶と低速
の2次記憶(例えばハードディスク装置)との間に位置
する記憶装置であり、主記憶と2次記憶とのアクセス速
度のギャップを埋めるために使用されるものである。オ
ペレーティングシステムからは、ハードディスク装置と
同等に見える。
【0018】本発明実施例では半導体メモリLSI内の
データを上述したような集合(ブロック)単位で扱える
ように特化している。以下、当該ブロック単位でランダ
ムアクセスの機能を実現する本実施例の半導体メモリL
SIを、従来の半導体メモリ素子と区別するためにブロ
ックアクセスメモリ(Block Access Memory:BAM)と
呼ぶ。
【0019】すなわち、本発明実施例の半導体メモリL
SIであるブロックアクセスメモリでは、データをアク
セスするに際し、従来のメモリのようにデータをアクセ
スする度にアドレスを指定することは行わず、その代わ
りにブロック番号を先ず指定して、その後に1単位毎の
データをアクセスする信号を使用するようにしている。
【0020】また、本実施例では、仮に、8ビット幅の
1ワードを上記1単位とし、2メガ分のアドレスを持つ
容量16Mビットのブロックアクセスメモリを例に挙げ
ている。このため、例えば、ブロックサイズが512ワ
ードのブロックアクセスメモリでは、 (2Mワード)÷(512ワード)=4096ブロック を構成することになる。
【0021】以下、本発明実施例の半導体メモリLSI
(ブロックアクセスメモリ)について、図1及び図2を
用いて説明する。図1には本実施例のブロックアクセス
メモリ(BAM)の内部構造を示す。また、図2の
(a)には本実施例のブロックアクセスメモリ(BA
M)のLSIパッケージの信号線(若しくはピン配置)
を示し、さらに、本実施例のブロックアクセスメモリ
(BAM)との比較のためとして、図2の(b)には従
来のスタティックRAM(SRAM)のLSIパッケー
ジの信号線(ピン配列)を、図2の(c)には従来のダ
イナミックRAM(DRAM)のLSIパッケージの信
号線(ピン配列)をも示している。
【0022】先ず、図2の(a)に示す本実施例のブロ
ックアクセスメモリの各信号線について説明する。この
図2の(a)において、図中Vccは電源端子であり、
図中GNDは電源グランド端子である。
【0023】図中A0/D0〜A7/D7はアドレス入
力/データ入出力用であり、使用タイミングによってデ
ータ(D0〜D7)の入出力用とアドレス(A0〜A1
1)のうちの下位8ビット(A0〜A7)のアドレス入
力用とに使い分けている。データ入出力用に使用する時
には、データを記憶したり、読み出すために使用する8
ビット(D0〜D7)のバスとなる。アドレス入力用に
使用する時には、ブロック番号の下位8ビット(A0〜
A7)を入力する。
【0024】図中A8〜A11はアドレス入力用であ
り、ブロック番号を示すアドレスの上位4ビットを入力
する。図中R/Wはメモリのリード,ライトの切り換え
用であり、信号が電源(Vcc)電圧レベルのときリー
ド(R)を、グランド(GND)レベルのときライト
(W)を指示する。
【0025】図中ASはアドレスストローブ用であり、
ブロックのアドレスのアクセスを指示する。アドレス
は、当該アドレスストローブがグランド(GND)レベ
ルから電源電圧(Vcc)レベルに変化した時に記録す
る(すなわち図1のアドレスカウンタ31に設定す
る)。また、当該アドレスストローブがグランド(GN
D)レベルになったタイミングで図1に示すアドレスの
カウンタ31はリセットされる。
【0026】図中CSはチップセレクト用であり、アド
レスとデータ信号が有効なことを示す。このチップセレ
クトは、例えば複数のブロックアクセスメモリによって
構成される回路において、複数のブロックアクセスメモ
リから1つを選択する時に使用する。なお、選択されて
いないブロックアクセスメモリのアドレスとデータのピ
ンは、未接続状態(ハイインピーダンス)とする。
【0027】図中DSはデータストローブ用であり、デ
ータのアクセスを指示する。本実施例では、当該データ
ストローブが電源電圧(Vcc)レベルから、グランド
(GND)レベルに変化したのを確認して、データをア
クセスする。
【0028】次に、図1に戻って、本実施例のブロック
アクセスメモリの内部構成について説明する。なお、こ
の図1において、端子20は上記図2の(a)のアドレ
ス入力/データ入出力(A0/D0〜A7/D7)と対
応し、端子21は上記アドレスストローブ(AS)と、
端子22は上記上位4ビットのアドレス入力(A8〜A
11)と、端子23は上記データストローブ(DS)
と、端子24は上記リード/ライト(R/W)と対応す
る。
【0029】先ず、この図1に示す本実施例のブロック
アクセスメモリにおいて、メモリ32へのデータの書き
込み(ライト)時の動作について図3のタイミングチャ
ートを用いて説明する。すなわち本実施例のブロックア
クセスメモリにおいて、当該データのライト時は、図示
を省略しているCPUなどから、最初にアクセスを要求
するブロック番号がアドレス(A0〜A11)として供
給され、次にアドレスストローブ(AS)により当該要
求されたブロック番号を取り込む。このとき、リード/
ライト(R/W)の信号はグランド(GND)レベルと
なされ、これによりブロックアクセスメモリはデータの
ライトモードとなっている。次に、このブロックアクセ
スメモリには、CPUからのデータストローブ(DS)
によって、データの入力が指示されると共に、目的とす
るデータ数だけデータストローブ(DS)の信号が与え
られる。
【0030】より具体的に説明すると、当該ライト時の
セレクタ33は、上記端子21を介して供給されるアド
レスストローブ(AS)信号がグランド(GND)レベ
ルから電源電圧(Vcc)レベルへ変化するとアドレス
セレクト側になり、上記端子20のアドレス入力/デー
タ入出力(A0/D0〜A7/D7)のうちの下位8ビ
ットのアドレス(A0〜A7)の信号を選択してアドレ
スセッター34に送る。
【0031】当該アドレスセッター34は、同じくアド
レスストローブ(AS)信号がグランド(GND)レベ
ルから電源電圧(Vcc)レベルへ変化するとアドレス
側になり、セレクタ33を介して供給された下位8ビッ
トのアドレス(A0〜A7)と端子22を介して供給さ
れる上位4ビットのアクセス(A8〜A11)とによっ
て設定されたブロック番号を、カウンタ31に記録(セ
ット)する。
【0032】なお、上記アドレスストローブ(AS)信
号がセレクタ33とアドレスセッター34に送られるの
は、上述した図2の(a)のようにアドレスとデータは
同じピンを使用しているためであり、当該アドレススト
ローブ(AS)信号のグランド(GND)レベルから電
源電圧(Vcc)レベルへの変化によって、これらセレ
クタ33とアドレスセッター34の動作がアドレス側に
なされている。
【0033】上記カウンタ31では、上記アドレスセッ
ター34によって設定されたブロック番号から、メモリ
32の実アドレスを計算し、端子23からのデータスト
ローブ(DS)信号に同期して、そのアドレスからカウ
ントをアップしていく。
【0034】また、上記セレクタ33は、上記アドレス
ストローブ(AS)が電源電圧(Vcc)レベルからグ
ランド(GND)レベルに変化するとデータセレクト側
になり、上記端子20のアドレス入力/データ入出力
(A0/D0〜A7/D7)に入力されたデータ(D0
〜D7)の信号をバッファ35に送る。このバッファ3
5は、供給されたデータを前記ワード単位で蓄積するも
のであり、また、端子24からの上記リード/ライト
(R/W)の信号に応じて動作する。なお、メモリ32
のライト時には上記リード/ライト(R/W)の信号が
グランド(GND)レベルとなる。
【0035】当該バッファ35は、上記蓄積したワード
単位のデータを、メモリ32に送る。このときのメモリ
32も、当該バッファ35を介して供給される上記端子
24からの上記リード/ライト(R/W)の信号に応じ
てライトとリードの切り換えがなされ、したがって、当
該リード/ライト(R/W)の信号がグランド(GN
D)レベルのとき、上記メモリ32には、上記カウンタ
31から上記データストローブ(DS)信号に同期して
アップするカウント値に応じたアドレスに、上記バッフ
ァ35からの1ワード毎のデータが書き込まれる。
【0036】次に、メモリ32からのデータの読み出し
(リード)時の動作について図4のタイミングチャート
を用いて説明する。すなわち本実施例のブロックアクセ
スメモリにおいて、当該データのリード時は、図示を省
略しているCPUなどから、最初にアクセスを要求する
ブロック番号がアドレス(A0〜A11)として供給さ
れ、次にアドレスストローブ(AS)によって当該要求
されたブロック番号を取り込む。このとき、リード/ラ
イト(R/W)の信号は電源電圧(Vcc)レベルとな
され、これによりブロックアクセスメモリは、データの
リードモードとなっている。その後、このブロックアク
セスメモリには、CPUからのデータストローブ(D
S)によって、データの出力が指示されると共に、目的
とするデータ数だけデータストローブ(DS)が与えら
れる。
【0037】より具体的に説明すると、当該リード時の
セレクタ33は、上記端子21を介して供給されるアド
レスストローブ(AS)信号がグランド(GND)レベ
ルから電源電圧(Vcc)レベルへ変化するとアドレス
セレクト側になり、上記端子20のアドレス入力/デー
タ入出力(A0/D0〜A7/D7)のうちのアドレス
(A0〜A7)の信号を選択してアドレスセッター34
に送る。
【0038】また、当該アドレスセッター34は、同じ
くアドレスストローブ(AS)信号のグランド(GN
D)レベルから電源電圧(Vcc)レベルへの変化に応
じてアドレス側になり、上記セレクタ33からのアドレ
ス(A0〜A7)及び端子22のアドレス(A8〜A1
1)の信号によって設定されたブロック番号を、カウン
タ31に記録(セット)する。
【0039】なお、このリード時も、上記アドレススト
ローブ(AS)信号がセレクタ33とアドレスセッター
34に送られるのは、上述した図2の(a)のようにア
ドレスとデータは同じピンを使用しているためであり、
当該アドレスストローブ(AS)信号のグランド(GN
D)レベルから電源電圧(Vcc)レベルへの変化によ
って、これらセレクタ33とアドレスセッター34の動
作がアドレス側になされている。
【0040】上記カウンタ31では、ライト時同様に上
記アドレスセッター34によって設定されたブロック番
号から、メモリ32の実アドレスを計算し、さらに端子
23からのデータストローブ(DS)信号に同期して、
そのアドレスからカウントをアップしていく。
【0041】また、上記セレクタ33は、上記アドレス
ストローブ(AS)が電源電圧(Vcc)からグランド
(GND)レベルに変化すると、上記ライト時同様にデ
ータセレクト側になる。
【0042】ここで、当該リード時には、上記リード/
ライト(R/W)の信号は電源電圧(Vcc)レベルと
なされ、したがって、当該リード時のメモリ32から
は、上記カウンタ31から供給される上記データストロ
ーブ(DS)に同期したカウント値に応じたアドレスか
ら、1ワード毎のデータが読み出されて、バッファ35
に送られる。
【0043】当該バッファ35は、上記リード/ライト
(R/W)の信号が電源電圧(Vcc)レベルのときに
は、上記ライト時同様にワード単位で蓄積したデータ
(上記メモリ32からのデータ)をセレクタ33側に送
る。
【0044】当該リード時のセレクタ33は、上記バッ
ファ35からのデータを、端子20を介して出力する。
【0045】なお、本実施例では、8ビットを1ワード
しているが、本発明はこれに限らず、使用の用途によっ
て変えても、同様な操作は可能である。また、本発明
は、信号の形態、例えば、正論理/負論理や、信号名称
などには拘束されず、したがって、本実施例ではこの信
号形態を特定していない。
【0046】さらに、本発明の半導体メモリ素子(本実
施例のブロックアクセスメモリ)の使用用途としては、
ブロック単位でしかアクセスしないにも関わらず、汎用
のランダムアクセスメモリ素子を使用している装置であ
ればどのようなものにも適応できる。
【0047】例えば、いわゆる半導体ディスク装置に使
用される記録用メモリ素子を本発明の半導体メモリ素子
に置き換えることができる。
【0048】また、例えば、コンピュータの拡張用メモ
リのうち、仮想ディスクとしている領域で使用する半導
体メモリを本発明の半導体メモリ素子と置き換えること
も可能である。
【0049】さらに、例えば、いわゆるキャッシュメモ
リを有するコンピュータにおける主記憶メモリを本発明
の半導体メモリ素子で置き換えることができる。なお、
キャッシュメモリとは、コンピュータにおいて中央処理
装置(CPU)と主記憶装置(メインメモリ)との間に
置かれる半導体高速メモリをいう。プログラムを実行す
るときに、プログラムをすべて主記憶装置に記憶するの
ではなく、一部分をこのキャッシュメモリに読み込み、
そこで命令を高速に実行する。これは大型コンピュータ
の高速化を狙ったものであり、バッファ記憶とも呼ばれ
ている。
【0050】その他、例えばビデオデータのように、大
きなデータを扱う装置における記憶半導体を本発明の半
導体メモリ素子で置き換えることも可能である。
【0051】上述のように、本実施例の半導体メモリL
SIにおいては、データのアクセスの際に、メモリ32
内に記録されたデータをブロック単位で管理するように
し、データの読み出し/書き込み時のアドレスの指定を
ブロック番号により行い、そしてブロックに含まれるデ
ータをブロック番号に続くタイミング信号であるデータ
ストローブ信号(DS)に同期して1ワード毎に連続的
にアクセスすることで、半導体メモリ素子の物理的な大
きさを縮小できると共に、データのアクセス速度を速く
することが可能となる。すなわち、このアクセス方法を
使用することにより、半導体メモリLSIには、アクセ
スを指定するための物理的なピン数が少なくて済む他、
データ毎にアドレスを指定しないので、アクセススピー
ドを速くすることが可能となる。
【0052】言い換えれば、本発明実施例の半導体メモ
リLSIにおいては、データをブロック単位で扱えるよ
うにすることで、データの指定で使用するアドレスピン
を削減でき、LSIのパッケージを小型化でき、したが
って、本発明の半導体メモリ素子を組み込む装置を小型
化できるようになる。また、本発明実施例の半導体メモ
リLSIにおいては、アドレスを指定するために必要な
いわゆるオーバーヘッドを省略することができ、したが
って、データのアドレススピードを速くすることができ
る。なお、ここでのオーバーヘッドとは、コンピュータ
システムの実行で費やされたシステム資源の時間や容量
からジョブやタスクの実行に直接要した部分を除いたも
の、すなわち、オペレーティングシステムの実行によっ
て費やされたシステムの資源の時間や容量のことをい
う。オーバーヘッドが大きくなると、目的の仕事を達成
するためのプログラムの実働時間が少なくなり、効率が
悪くなる。通常はパーセントや比で表される。
【0053】
【発明の効果】本発明の半導体メモリ素子及びそのアク
セス方法においては、メモリ内に記録されたデータをブ
ロック単位で管理するようにし、データの読み出し/書
き込み時のアドレスの指定をブロック番号により行い、
そしてブロックに含まれるデータをブロック番号に続く
タイミング信号に同期して連続的にアクセスすること
で、アクセス毎にアドレスを指定しなくてもよく、アド
レス用のピンとデータ用のピンとを共用することがで
き、したがって、半導体メモリ素子の物理的な大きさを
縮小できると共に、データのアクセス速度も速くするこ
とが可能である。すなわち、本発明の半導体メモリ素子
は、アクセスを指定するための物理的なピン数を少なく
できて、パッケージを小型化できると共に、データ毎に
アドレスを指定しないために、アクセススピードを速く
することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明実施例の半導体メモリLSI(ブロック
アクセスメモリ)の内部構成を示すブロック回路図であ
る。
【図2】本発明実施例の半導体メモリLSIのパッケー
ジのピン配列と、比較のための従来のスタティックRA
M及びダイナミックRAMのLSIパッケージのピン配
列とを説明するための図である。
【図3】本実施例の半導体メモリLSIのライト時のア
クセスのタイミングを示すタイミングチャートである。
【図4】本実施例の半導体メモリLSIのリード時のア
クセスのタイミングを示すタイミングチャートである。
【図5】従来のスタティックRAMのアクセスタイミン
グを示すタイミングチャートである。
【図6】従来のダイナミックRAMのアクセスタイミン
グを示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
31 カウンタ 32 メモリ 33 セレクタ 34 アドレスセッター 35 バッファ
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G11C 16/06 G11C 11/34 362 C 17/00 309 J

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ブロック単位でデータを扱う装置に使用
    される半導体メモリ素子のアクセス方法において、 メモリへのデータの書き込み/読み出し時のアドレス指
    定をブロック番号により行い、 当該ブロックに含まれるデータをブロック番号に続くタ
    イミング信号に同期して連続的にアクセスすることを特
    徴とする半導体メモリ素子のアクセス方法。
  2. 【請求項2】 ブロック単位でデータを扱う装置に使用
    される半導体メモリ素子において、 データの書き込み/読み出しがなされるメモリ手段と、 上記メモリ手段へのデータの書き込み/読み出し時のア
    ドレス指定をブロック番号により行うブロックアドレス
    指定手段と、 上記指定されたブロックに含まれるデータをブロック番
    号に続くタイミング信号に同期して連続的にアクセスす
    るアクセス手段とを有することを特徴とする半導体メモ
    リ素子。
  3. 【請求項3】 上記ブロックアドレス指定手段は、アド
    レスストローブ信号によってアドレス情報とデータの切
    換選択を行う選択手段と、アドレスストローブ信号によ
    ってアドレス情報に対応するブロック番号を設定するア
    ドレス設定手段とを有してなり、 上記アクセス手段は、上記アドレス設定手段で設定した
    アドレス番号から、メモリ手段の実アドレスを計算し、
    データストローブ信号に同期して上記メモリ手段に対し
    て1単位毎にデータをアクセスするカウント手段からな
    ることを特徴とする請求項2記載の半導体メモリ素子。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7403445B2 (en) 2005-05-02 2008-07-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Configuration of memory device
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