JPH07253447A - 接触試験器およびそれを用いた導通試験装置 - Google Patents
接触試験器およびそれを用いた導通試験装置Info
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- JPH07253447A JPH07253447A JP3329101A JP32910191A JPH07253447A JP H07253447 A JPH07253447 A JP H07253447A JP 3329101 A JP3329101 A JP 3329101A JP 32910191 A JP32910191 A JP 32910191A JP H07253447 A JPH07253447 A JP H07253447A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】導通試験の際に、試験対象物の試験箇所に加え
た試験信号を他の試験箇所から取り出せなかったとき、
それが試験対象物の電気回路の不具合によるものか、接
触試験器と試験対象物と接触不良によるものかを判定可
能とするため。 【構成】端子２は、試験対象物の電気回路（図示せず）
との間でピンヘッド６を介して授受される試験信号の中
継用に使用される。スプリング１２は、ピンヘッド６が
試験対象物の試験箇所に押し付けられたとき、ピンヘッ
ド６を試験対象物の試験箇所に圧接するように働く。ピ
ンヘッド６が試験対象物の試験箇所に押し付けられたと
き、ピン電極１１ａ，１１ｂと筺体電極１０ａ，１５と
はそれぞれ接触して機械的スイッチとして機能し、端子
１及び端子３ａに外部から電源が供給されていると、Ｌ
ＥＤ電極１６に実装されたＬＥＤランプ１７を点灯さ
せ、ピンヘッド６と試験対象物との間が十分な圧力で接
触していることを表示する。
た試験信号を他の試験箇所から取り出せなかったとき、
それが試験対象物の電気回路の不具合によるものか、接
触試験器と試験対象物と接触不良によるものかを判定可
能とするため。 【構成】端子２は、試験対象物の電気回路（図示せず）
との間でピンヘッド６を介して授受される試験信号の中
継用に使用される。スプリング１２は、ピンヘッド６が
試験対象物の試験箇所に押し付けられたとき、ピンヘッ
ド６を試験対象物の試験箇所に圧接するように働く。ピ
ンヘッド６が試験対象物の試験箇所に押し付けられたと
き、ピン電極１１ａ，１１ｂと筺体電極１０ａ，１５と
はそれぞれ接触して機械的スイッチとして機能し、端子
１及び端子３ａに外部から電源が供給されていると、Ｌ
ＥＤ電極１６に実装されたＬＥＤランプ１７を点灯さ
せ、ピンヘッド６と試験対象物との間が十分な圧力で接
触していることを表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は接触試験器およびそれを
用いた導通試験装置に関し、特に電子回路用プリント基
板等の内部回路の導通試験のときに用いられる接触試験
器およびそれを用いた導通試験装置に関する。
用いた導通試験装置に関し、特に電子回路用プリント基
板等の内部回路の導通試験のときに用いられる接触試験
器およびそれを用いた導通試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】電子回路用プリント基板等の内部回路の
導通試験を行うときに用いられる従来の接触試験器は、
試験の対象となる電子回路用プリント基板等の導通試験
時の測定箇所にピンヘッドの先端部を機械的に接触さ
せ、接触試験器と電子回路用プリント基板等との間を電
気的に接続させて、電子回路用プリント基板等の電気回
路の導通試験を行うために用いられていた。この接触試
験器を介して試験信号を電子回路用プリント基板等の電
気回路上の試験箇所に加え、他の試験箇所からその試験
信号が取り出せるときは導通があるものと判定され、信
号が取り出せないときには導通がないものと判定されて
いた。
導通試験を行うときに用いられる従来の接触試験器は、
試験の対象となる電子回路用プリント基板等の導通試験
時の測定箇所にピンヘッドの先端部を機械的に接触さ
せ、接触試験器と電子回路用プリント基板等との間を電
気的に接続させて、電子回路用プリント基板等の電気回
路の導通試験を行うために用いられていた。この接触試
験器を介して試験信号を電子回路用プリント基板等の電
気回路上の試験箇所に加え、他の試験箇所からその試験
信号が取り出せるときは導通があるものと判定され、信
号が取り出せないときには導通がないものと判定されて
いた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の接触試
験器では、電子回路用プリント基板等の試験対象物のそ
りなどの物理的な歪により、接触部と試験対象物との間
で接触不良が発生し、導通試験の結果として「導通不
良」と判定されても、試験対象物のそりなどの物理的な
歪が目視で明らかに分る場合を除いて、その結果が接触
部と試験対象物との間での接触不良に起因しているもの
とは見なされず、試験対象物の電気回路内の導通不良と
見なされてしまい、誤判定を生じててしまうという欠点
があった。
験器では、電子回路用プリント基板等の試験対象物のそ
りなどの物理的な歪により、接触部と試験対象物との間
で接触不良が発生し、導通試験の結果として「導通不
良」と判定されても、試験対象物のそりなどの物理的な
歪が目視で明らかに分る場合を除いて、その結果が接触
部と試験対象物との間での接触不良に起因しているもの
とは見なされず、試験対象物の電気回路内の導通不良と
見なされてしまい、誤判定を生じててしまうという欠点
があった。
【０００４】本発明の目的は、試験対象物の内部回路の
導通試験の際に、試験対象物の試験箇所に加えた試験信
号を、他の試験箇所から取り出すことができなかったと
き、それが試験対象物の電気回路の不具合によるもの
か、接触試験器と試験対象物との間の接触状態の不良に
よるものかを判定することができる接触試験器およびそ
れを用いた導通試験装置を提供することにある。
導通試験の際に、試験対象物の試験箇所に加えた試験信
号を、他の試験箇所から取り出すことができなかったと
き、それが試験対象物の電気回路の不具合によるもの
か、接触試験器と試験対象物との間の接触状態の不良に
よるものかを判定することができる接触試験器およびそ
れを用いた導通試験装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】第１の発明の接触試験器
は、導体で構成された接触部を試験対象物の電気回路に
接触させて導通試験回路を構成する接触試験器におい
て、（Ａ）前記試験対象物の電気回路との間で前記接触
部を介して授受される試験信号の伝送中継用に使用され
る中継端子、（Ｂ）一端を前記接触部に接続され、他端
を前記中継端子に接続された試験信号伝送ケーブル、
（Ｃ）前記接触部の、試験対象物との接触面が前記試験
対象物の試験箇所に押し付けられたとき、前記接触部を
支持する接触部支持構造を介して反発力で前記接触部を
前記試験対象物の試験箇所に圧接するように働くスプリ
ング、（Ｄ）前記接触部支持構造に設けられ機械的スイ
ッチの接点の一方を構成する第１の電極、（Ｅ）前記ス
プリング及び前記接触部支持構造の一端を収容する接触
部保持筺体に設けられ、前記第１の電極と対になり前記
機械的スイッチを構成する第２の電極、を有して構成さ
れている。
は、導体で構成された接触部を試験対象物の電気回路に
接触させて導通試験回路を構成する接触試験器におい
て、（Ａ）前記試験対象物の電気回路との間で前記接触
部を介して授受される試験信号の伝送中継用に使用され
る中継端子、（Ｂ）一端を前記接触部に接続され、他端
を前記中継端子に接続された試験信号伝送ケーブル、
（Ｃ）前記接触部の、試験対象物との接触面が前記試験
対象物の試験箇所に押し付けられたとき、前記接触部を
支持する接触部支持構造を介して反発力で前記接触部を
前記試験対象物の試験箇所に圧接するように働くスプリ
ング、（Ｄ）前記接触部支持構造に設けられ機械的スイ
ッチの接点の一方を構成する第１の電極、（Ｅ）前記ス
プリング及び前記接触部支持構造の一端を収容する接触
部保持筺体に設けられ、前記第１の電極と対になり前記
機械的スイッチを構成する第２の電極、を有して構成さ
れている。
【０００６】第２の発明の導通試験装置は、（Ａ）接触
部を試験対象物に押付けられたとき、前記接触部の導体
を介して前記試験対象物と中継端子との間に回路を構成
して前記中継端子から入力された試験信号を前記試験対
象物に送出し、かつ内蔵する機械的スイッチが動作して
前記試験対象物と前記接触部とが十分な圧力で相互に接
触していることを知らせる第１のオン信号を出力する請
求項１記載の接触試験器である第１の接触試験器、
（Ｂ）前記接触部を前記試験対象物に押付けられたと
き、前記接触部の導体を介して前記試験対象物と前記中
継端子との間に回路を構成して前記試験対象物から入力
された試験信号を前記中継端子から出力し、かつ内蔵す
る前記機械的スイッチが動作して前記試験対象物と前記
接触部とが十分な圧力で相互に接触していることを知ら
せる第２のオン信号を出力する請求項１記載の接触試験
器である第２の接触試験器、（Ｃ）前記第１の接触試験
器から受信した前記第１のオン信号の受信の有無を論理
レベル信号のレベル変化で示し第１の接触良否検出信号
として出力する第１の接触検知信号処理部、（Ｄ）前記
第２の接触試験器から受信した前記第２のオン信号の受
信の有無を論理レベル信号のレベル変化で示し第２の接
触良否検出信号として出力する第２の接触検知信号処理
部、（Ｅ）前記第１の接触試験器に前記試験信号を出力
し、かつ前記第１の接触検知信号処理部から前記第１の
接触良否検出信号を受信して前記試験対象物と第１の接
触試験器との間の接触状態の良否を判定し、接触状態の
良否を示す第１の接触良否報告信号を出力する第１の試
験信号処理部、（Ｆ）前記第２の接触試験器から前記試
験信号を受信し、かつ前記第２の接触検知信号処理部か
ら前記第２の接触良否検出信号を受信して前記試験対象
物と第２の接触試験器との間の接触状態の良否を判定
し、接触状態の良否を示す第２の接触良否報告信号を出
力する第２の試験信号処理部、（Ｇ）前記第１の試験信
号処理部に前記試験信号を出力するように指示し、前記
第２の試験信号処理部に対して、前記第１の試験信号処
理部から出力された試験信号を前記第２の接触試験器か
ら受信するように指示し、かつ前記第１の試験信号処理
部から第１の接触良否報告信号を受信し、前記第２の試
験信号処理部から第２の接触良否報告信号を受信して導
通試験の合否を判定する接触試験器制御部、を有して構
成されている。
部を試験対象物に押付けられたとき、前記接触部の導体
を介して前記試験対象物と中継端子との間に回路を構成
して前記中継端子から入力された試験信号を前記試験対
象物に送出し、かつ内蔵する機械的スイッチが動作して
前記試験対象物と前記接触部とが十分な圧力で相互に接
触していることを知らせる第１のオン信号を出力する請
求項１記載の接触試験器である第１の接触試験器、
（Ｂ）前記接触部を前記試験対象物に押付けられたと
き、前記接触部の導体を介して前記試験対象物と前記中
継端子との間に回路を構成して前記試験対象物から入力
された試験信号を前記中継端子から出力し、かつ内蔵す
る前記機械的スイッチが動作して前記試験対象物と前記
接触部とが十分な圧力で相互に接触していることを知ら
せる第２のオン信号を出力する請求項１記載の接触試験
器である第２の接触試験器、（Ｃ）前記第１の接触試験
器から受信した前記第１のオン信号の受信の有無を論理
レベル信号のレベル変化で示し第１の接触良否検出信号
として出力する第１の接触検知信号処理部、（Ｄ）前記
第２の接触試験器から受信した前記第２のオン信号の受
信の有無を論理レベル信号のレベル変化で示し第２の接
触良否検出信号として出力する第２の接触検知信号処理
部、（Ｅ）前記第１の接触試験器に前記試験信号を出力
し、かつ前記第１の接触検知信号処理部から前記第１の
接触良否検出信号を受信して前記試験対象物と第１の接
触試験器との間の接触状態の良否を判定し、接触状態の
良否を示す第１の接触良否報告信号を出力する第１の試
験信号処理部、（Ｆ）前記第２の接触試験器から前記試
験信号を受信し、かつ前記第２の接触検知信号処理部か
ら前記第２の接触良否検出信号を受信して前記試験対象
物と第２の接触試験器との間の接触状態の良否を判定
し、接触状態の良否を示す第２の接触良否報告信号を出
力する第２の試験信号処理部、（Ｇ）前記第１の試験信
号処理部に前記試験信号を出力するように指示し、前記
第２の試験信号処理部に対して、前記第１の試験信号処
理部から出力された試験信号を前記第２の接触試験器か
ら受信するように指示し、かつ前記第１の試験信号処理
部から第１の接触良否報告信号を受信し、前記第２の試
験信号処理部から第２の接触良否報告信号を受信して導
通試験の合否を判定する接触試験器制御部、を有して構
成されている。
【０００７】
【実施例】次に、第１の発明の第１の実施例について図
面を参照して説明する。
面を参照して説明する。
【０００８】図１は、第１の発明の第１の実施例を示す
接続試験器の断面図である。
接続試験器の断面図である。
【０００９】図１に示す接触試験器は、試験対象物の電
気回路に接触する接触部１３を有するピンヘッド６、ピ
ンヘッド６を支持する接触部支持構造５、試験対象物の
電気回路（図示せず）との間でピンヘッド６を介して授
受される電気信号の伝送中継用に使用される端子（中継
端子）２、外部の電源に接続される端子３ａ、一端をピ
ンヘッド６に接続され、他端を端子２に接続された信号
ケーブル（試験信号伝送ケーブル）９、ピンヘッド６の
接触面１３が試験対象物の試験箇所に押し付けられたと
き、接触部支持構造５を介して反発力でピンヘッド６を
試験対象物の試験箇所に圧接するように働くスプリング
１２、接触部支持構造５に設けられて機械的スイッチの
接点の一方を構成するピン電極（第１の電極）１１ａ，
１１ｂ、スプリング１２及び接触部支持構造５の一端を
収容する接触部保持筺体４、接触部保持筺体４に設けら
れ、他端がピン電極１１ａと対になり機械的スイッチを
構成する筺体電極（第２の電極）１０ａであり、外部の
電源に接続される端子１、接触部保持筺体４に設けら
れ、ピン電極１１ｂと対になり機械的スイッチを構成す
る筺体電極（第２の電極）１５、一端を筺体電極１０ｂ
に接続され他の一端を端子３ａに接続されたＬＥＤ電極
１６に実装されたＬＥＤランプ１７から構成されてい
る。
気回路に接触する接触部１３を有するピンヘッド６、ピ
ンヘッド６を支持する接触部支持構造５、試験対象物の
電気回路（図示せず）との間でピンヘッド６を介して授
受される電気信号の伝送中継用に使用される端子（中継
端子）２、外部の電源に接続される端子３ａ、一端をピ
ンヘッド６に接続され、他端を端子２に接続された信号
ケーブル（試験信号伝送ケーブル）９、ピンヘッド６の
接触面１３が試験対象物の試験箇所に押し付けられたと
き、接触部支持構造５を介して反発力でピンヘッド６を
試験対象物の試験箇所に圧接するように働くスプリング
１２、接触部支持構造５に設けられて機械的スイッチの
接点の一方を構成するピン電極（第１の電極）１１ａ，
１１ｂ、スプリング１２及び接触部支持構造５の一端を
収容する接触部保持筺体４、接触部保持筺体４に設けら
れ、他端がピン電極１１ａと対になり機械的スイッチを
構成する筺体電極（第２の電極）１０ａであり、外部の
電源に接続される端子１、接触部保持筺体４に設けら
れ、ピン電極１１ｂと対になり機械的スイッチを構成す
る筺体電極（第２の電極）１５、一端を筺体電極１０ｂ
に接続され他の一端を端子３ａに接続されたＬＥＤ電極
１６に実装されたＬＥＤランプ１７から構成されてい
る。
【００１０】次に本実施例の動作を説明する。
【００１１】図２は、図１に示す接続試験器の動作状態
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【００１２】図２において、まず、接触部保持筺体４を
持ちピンヘッド６の接触面１３を電子回路用プリント基
板等の試験対象物７に押し付ける。これにより、接触部
支持構造５が押し上げられ、接触部支持構造５の絶縁天
板部１４によりスプリング１２が押されて収縮する。こ
の動作によりピン電極１１ａ及びピン電極１１ｂがそれ
ぞれ筺体電極１０ａ及び筺体電極１５に接触し、端子１
と端子３ａとの間に回路が構成される。従って、端子１
と端子３ａとの間に外部から電源を供給すると、この電
源によりＬＥＤ電極１６に実装されたＬＥＤランプ１７
が点灯する。この点灯により、端子２から供給された信
号がピンヘッド６を介して試験対象物に伝達されるべ
く、接触部はある圧力で接触していることが確認され
る。図２は、この加圧によりＬＥＤランプ１７が点灯
し、スプリング１２の収縮分だけ信号ケーブル９がたわ
んでピンヘッド６が試験器に接触していることを示して
いる。試験対象物からペンヘッド６を離すとスプリング
１２が元の状態にもどり、ＬＥＤランプ１７も消灯す
る。
持ちピンヘッド６の接触面１３を電子回路用プリント基
板等の試験対象物７に押し付ける。これにより、接触部
支持構造５が押し上げられ、接触部支持構造５の絶縁天
板部１４によりスプリング１２が押されて収縮する。こ
の動作によりピン電極１１ａ及びピン電極１１ｂがそれ
ぞれ筺体電極１０ａ及び筺体電極１５に接触し、端子１
と端子３ａとの間に回路が構成される。従って、端子１
と端子３ａとの間に外部から電源を供給すると、この電
源によりＬＥＤ電極１６に実装されたＬＥＤランプ１７
が点灯する。この点灯により、端子２から供給された信
号がピンヘッド６を介して試験対象物に伝達されるべ
く、接触部はある圧力で接触していることが確認され
る。図２は、この加圧によりＬＥＤランプ１７が点灯
し、スプリング１２の収縮分だけ信号ケーブル９がたわ
んでピンヘッド６が試験器に接触していることを示して
いる。試験対象物からペンヘッド６を離すとスプリング
１２が元の状態にもどり、ＬＥＤランプ１７も消灯す
る。
【００１３】次に、第１の発明の第２の実施例について
図面を参照して説明する。
図面を参照して説明する。
【００１４】図３は、第１の発明の第２の実施例を示す
接続試験器の断面図である。
接続試験器の断面図である。
【００１５】図３に示す接触試験器は、図１に示す接触
試験器と一部分を除いて同じ構成である。すなわち、異
なるところを示すと、図１に示す接触試験器では、図１
の端子３ａと筺体電極１５との間に、ＬＥＤランプ１７
を実装したＬＥＤ電極１６が接続されているのに対し
て、図３に示す接触試験器では、ＬＥＤランプ１７を実
装したＬＥＤ電極１６がなく、端子３ａに相当する端子
３ｂはその他の一端が筺体電極１０ｂ（図１の場合の筺
体電極１５に該当する）を構成しており、筺体電極１０
ｂと一体であることである。
試験器と一部分を除いて同じ構成である。すなわち、異
なるところを示すと、図１に示す接触試験器では、図１
の端子３ａと筺体電極１５との間に、ＬＥＤランプ１７
を実装したＬＥＤ電極１６が接続されているのに対し
て、図３に示す接触試験器では、ＬＥＤランプ１７を実
装したＬＥＤ電極１６がなく、端子３ａに相当する端子
３ｂはその他の一端が筺体電極１０ｂ（図１の場合の筺
体電極１５に該当する）を構成しており、筺体電極１０
ｂと一体であることである。
【００１６】次に本実施例の動作を説明する。
【００１７】図４は、図３に示す接続試験器の動作状態
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【００１８】図４におけ接触試験器の動作でも、ピンヘ
ッド６の接触面１３を試験対象物に押し付けることによ
り、筺体電極１０ａとピン電極１１ａとが接触し、また
筺体電極１０ｂとピン電極１１ｂとが接触するのは、図
２におけ接触試験器の動作と同様である。図２におけ接
触試験器の動作と異なるのは、ＬＥＤランプが点灯する
のではなく、図４の端子１と端子３ｂとの間が導通する
ことにより、外部に対して、ピンヘッド６の接触面１３
が試験対象物に確実に押し付けられた状態になっている
という情報を電気的信号として取出すことができるよう
になっていることである。すなわち、この導通により、
端子１及び端子３ｂとの間に接続された回路の一部を短
絡することになる。この回路の短絡を検出することによ
り、端子２に供給された信号がピンヘッド６を介して試
験対象物に伝達されるべく、接触部は十分な圧力で接触
していることが確認できる。
ッド６の接触面１３を試験対象物に押し付けることによ
り、筺体電極１０ａとピン電極１１ａとが接触し、また
筺体電極１０ｂとピン電極１１ｂとが接触するのは、図
２におけ接触試験器の動作と同様である。図２におけ接
触試験器の動作と異なるのは、ＬＥＤランプが点灯する
のではなく、図４の端子１と端子３ｂとの間が導通する
ことにより、外部に対して、ピンヘッド６の接触面１３
が試験対象物に確実に押し付けられた状態になっている
という情報を電気的信号として取出すことができるよう
になっていることである。すなわち、この導通により、
端子１及び端子３ｂとの間に接続された回路の一部を短
絡することになる。この回路の短絡を検出することによ
り、端子２に供給された信号がピンヘッド６を介して試
験対象物に伝達されるべく、接触部は十分な圧力で接触
していることが確認できる。
【００１９】上記のように、図１に示す実施例では、接
触部がある圧力で接触しているか否かは、ＬＥＤランプ
１７の点滅で表示されるが、図３に示す実施例では、端
子１と端子３ｂとの間の導通の有無で外部に取出され
る。
触部がある圧力で接触しているか否かは、ＬＥＤランプ
１７の点滅で表示されるが、図３に示す実施例では、端
子１と端子３ｂとの間の導通の有無で外部に取出され
る。
【００２０】次に、第２の発明の一実施例について図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【００２１】図５は、図３に示す接続試験器を用いて構
成した導通試験装置３２の一実施例を示すブロック図で
ある。
成した導通試験装置３２の一実施例を示すブロック図で
ある。
【００２２】図５に示す導通試験装置３２は、接触部を
試験対象物に押付けられたとき、接触部の導体を介して
試験対象物と中継端子との間に回路を構成して中継端子
から入力された試験信号を試験対象物に送出し、かつ内
蔵する機械的スイッチが動作して試験対象物と前記接触
部とが十分な圧力で相互に接触していることを知らせる
オン信号を出力する接触試験器２２ａ、接触部を試験対
象物に押付けられたとき、接触部の導体を介して試験対
象物と中継端子との間に回路を構成して試験対象物から
入力された試験信号を中継端子から出力し、かつ内蔵す
る機械的スイッチが動作して試験対象物と接触部とが十
分な圧力で相互に接触していることを知らせるオン信号
を出力する接触試験器２２ｂ、接触試験器２２ａから受
信したオン信号の受信の有無を論理レベル信号のレベル
変化で示し接触良否検出信号として出力する接触検知信
号処理部２４ａ、接触試験器２２ｂから受信したオン信
号の受信の有無を論理レベル信号のレベル変化で示し接
触良否検出信号として出力する接触検知信号処理部２４
ｂ、接触試験器２２ａに試験信号を出力し、かつ接触検
知信号処理部２４ａから接触良否検出信号を受信して試
験対象物と接触試験器２２ａとの間の接触状態の良否を
判定し、接触状態の良否を示す接触良否報告信号を出力
する試験信号処理部２６ａ、接触試験器２２ｂから試験
信号を受信し、かつ接触検知信号処理部２４ｂから接触
良否検出信号を受信して試験対象物と接触試験器２２ｂ
との間の接触状態の良否を判定し、接触状態の良否を示
す接触良否報告信号を出力する試験信号処理部２６ｂ、
試験信号処理部２６ａに試験信号を出力するように指示
し、試験信号処理部２６ｂに対して、試験信号処理部２
６ａから出力された試験信号を接触試験器２２ｂから受
信するように指示し、かつ試験信号処理部２６ａから接
触良否報告信号を受信し、試験信号処理部２６ｂから接
触良否報告信号を受信して導通試験の合否を判定する接
触試験器制御部２８、試験データを入力する試験データ
入力装置３１、試験結果を出力するディスプレイ２９、
試験結果を出力するプリンタ３０から構成されている。
試験対象物に押付けられたとき、接触部の導体を介して
試験対象物と中継端子との間に回路を構成して中継端子
から入力された試験信号を試験対象物に送出し、かつ内
蔵する機械的スイッチが動作して試験対象物と前記接触
部とが十分な圧力で相互に接触していることを知らせる
オン信号を出力する接触試験器２２ａ、接触部を試験対
象物に押付けられたとき、接触部の導体を介して試験対
象物と中継端子との間に回路を構成して試験対象物から
入力された試験信号を中継端子から出力し、かつ内蔵す
る機械的スイッチが動作して試験対象物と接触部とが十
分な圧力で相互に接触していることを知らせるオン信号
を出力する接触試験器２２ｂ、接触試験器２２ａから受
信したオン信号の受信の有無を論理レベル信号のレベル
変化で示し接触良否検出信号として出力する接触検知信
号処理部２４ａ、接触試験器２２ｂから受信したオン信
号の受信の有無を論理レベル信号のレベル変化で示し接
触良否検出信号として出力する接触検知信号処理部２４
ｂ、接触試験器２２ａに試験信号を出力し、かつ接触検
知信号処理部２４ａから接触良否検出信号を受信して試
験対象物と接触試験器２２ａとの間の接触状態の良否を
判定し、接触状態の良否を示す接触良否報告信号を出力
する試験信号処理部２６ａ、接触試験器２２ｂから試験
信号を受信し、かつ接触検知信号処理部２４ｂから接触
良否検出信号を受信して試験対象物と接触試験器２２ｂ
との間の接触状態の良否を判定し、接触状態の良否を示
す接触良否報告信号を出力する試験信号処理部２６ｂ、
試験信号処理部２６ａに試験信号を出力するように指示
し、試験信号処理部２６ｂに対して、試験信号処理部２
６ａから出力された試験信号を接触試験器２２ｂから受
信するように指示し、かつ試験信号処理部２６ａから接
触良否報告信号を受信し、試験信号処理部２６ｂから接
触良否報告信号を受信して導通試験の合否を判定する接
触試験器制御部２８、試験データを入力する試験データ
入力装置３１、試験結果を出力するディスプレイ２９、
試験結果を出力するプリンタ３０から構成されている。
【００２３】図５において、まず、試験データが導通試
験装置３２の試験データ入力装置３１に入力される。入
力された試験データは接触試験器制御部２８に送られ、
接触試験器制御部２８で試験信号に変換される。また、
接触試験器制御部２８は、試験データを送出する接触試
験器として接触試験器２２ａ，２２ｂのうちのあらかじ
め定められた接触試験器を選択する。ここでは接触試験
器２２ａが選択されるものとする。さらに、接触試験器
２２ａ，２２ｂは、ともに接触部を試験対象物７に押し
付けられているものとする。
験装置３２の試験データ入力装置３１に入力される。入
力された試験データは接触試験器制御部２８に送られ、
接触試験器制御部２８で試験信号に変換される。また、
接触試験器制御部２８は、試験データを送出する接触試
験器として接触試験器２２ａ，２２ｂのうちのあらかじ
め定められた接触試験器を選択する。ここでは接触試験
器２２ａが選択されるものとする。さらに、接触試験器
２２ａ，２２ｂは、ともに接触部を試験対象物７に押し
付けられているものとする。
【００２４】接触試験器２２ａが選択されているので、
接触試験器制御部２８は、試験信号処理部２６ａへ試験
信号５５ａを送出する。また、試験信号５５ａが接触試
験器２２ａから試験対象物７に出力される信号であるこ
とを、試験信号処理部２６ａに伝えるために方向制御信
号５６ａが、試験信号処理部２６ａへ送出される。試験
信号処理部２６ａは、方向制御信号５６ａに従い、受信
した試験信号５５ａを試験信号５４ａとして接触試験器
２２ａの試験信号入出力端子４２ａ（図３及び図４の端
子２）へ出力する。試験信号５４ａは、さらに接触試験
器２２ａを介して試験対象物７へ伝えられる。
接触試験器制御部２８は、試験信号処理部２６ａへ試験
信号５５ａを送出する。また、試験信号５５ａが接触試
験器２２ａから試験対象物７に出力される信号であるこ
とを、試験信号処理部２６ａに伝えるために方向制御信
号５６ａが、試験信号処理部２６ａへ送出される。試験
信号処理部２６ａは、方向制御信号５６ａに従い、受信
した試験信号５５ａを試験信号５４ａとして接触試験器
２２ａの試験信号入出力端子４２ａ（図３及び図４の端
子２）へ出力する。試験信号５４ａは、さらに接触試験
器２２ａを介して試験対象物７へ伝えられる。
【００２５】図６は、図５に示す導通試験装置の接触検
知信号処理部と接触試験器との回路の接続状態を示す図
である。る。
知信号処理部と接触試験器との回路の接続状態を示す図
である。る。
【００２６】図６（ａ）に示すように、接触検知信号処
理部２４ａの電源Ｖｃｃより供給される電流は、抵抗Ｒ
を通って流れるが、接触試験器２２ａの内部の筺体電極
１０ａとピン電極１１ａとの間及び筺体電極１０ｂとピ
ン電極１１ｂとの間がそれぞれ離れているため、電流は
流れず、論理回路のＡＮＤゲートへのみ流れ込む。ＡＮ
Ｄゲートの入力レベルは、前記の電流の流れがあるた
め、「Ｈ」レベルが入力され、ＡＮＤゲートの出力も
「Ｈ」レベルとなり、接触検知信号処理部２４ａの出力
も「Ｈ」レベルが接触良否検出信号として出力される。
すなわち、この場合は接触していないことを示す「Ｈ」
レベルの信号が出力される。
理部２４ａの電源Ｖｃｃより供給される電流は、抵抗Ｒ
を通って流れるが、接触試験器２２ａの内部の筺体電極
１０ａとピン電極１１ａとの間及び筺体電極１０ｂとピ
ン電極１１ｂとの間がそれぞれ離れているため、電流は
流れず、論理回路のＡＮＤゲートへのみ流れ込む。ＡＮ
Ｄゲートの入力レベルは、前記の電流の流れがあるた
め、「Ｈ」レベルが入力され、ＡＮＤゲートの出力も
「Ｈ」レベルとなり、接触検知信号処理部２４ａの出力
も「Ｈ」レベルが接触良否検出信号として出力される。
すなわち、この場合は接触していないことを示す「Ｈ」
レベルの信号が出力される。
【００２７】次に、図６（ｂ）に示すように、接触試験
器２２ａが、接触部を試験対象物７に押し付けられた状
態になると、接触試験器２２ａの内部の筺体電極１０ａ
とピン電極１１ａとの間及び筺体電極１０ｂとピン電極
１１ｂとの間がそれぞれ接触して短絡する。すなわち、
接触試験器２２ａはオン信号を接触検知信号処理部２４
ａに出力することになる。筺体電極１０ａとピン電極１
１ａとの間及び筺体電極１０ｂとピン電極１１ｂとの間
のそれぞれの短絡により、電源Ｖｃｃから接地までの回
路が構成され、電源Ｖｃｃより供給される電流は、抵抗
Ｒを通って電流５１ａとして接触試験器２２ａの端子４
１ａ（図３及び図４の端子１）に流れ込み、さらに上記
接触試験器２２ａの内部の筺体電極１０ａ，ピン電極１
１ａ，ピン電極１１ｂ，及び筺体電極１０ｂを介して接
触試験器２２ａの端子４３ａ（図３及び図４の端子３
ｂ）から再び流れ出して接地方向に電流５２ａとして流
れるため、ＡＮＤゲートの入力は、「Ｌ」レベルにな
り、ＡＮＤゲートの出力も「Ｌ」レベルに変わり、接触
検知信号処理部２４ａの試験信号処理部２６ａへの出力
信号５３ａも「Ｈ」レベルから「Ｌ」レベルに変わる。
この場合は接触良否検出信号として「Ｌ」レベル出力さ
れ、接触状態が良好であることを示す。
器２２ａが、接触部を試験対象物７に押し付けられた状
態になると、接触試験器２２ａの内部の筺体電極１０ａ
とピン電極１１ａとの間及び筺体電極１０ｂとピン電極
１１ｂとの間がそれぞれ接触して短絡する。すなわち、
接触試験器２２ａはオン信号を接触検知信号処理部２４
ａに出力することになる。筺体電極１０ａとピン電極１
１ａとの間及び筺体電極１０ｂとピン電極１１ｂとの間
のそれぞれの短絡により、電源Ｖｃｃから接地までの回
路が構成され、電源Ｖｃｃより供給される電流は、抵抗
Ｒを通って電流５１ａとして接触試験器２２ａの端子４
１ａ（図３及び図４の端子１）に流れ込み、さらに上記
接触試験器２２ａの内部の筺体電極１０ａ，ピン電極１
１ａ，ピン電極１１ｂ，及び筺体電極１０ｂを介して接
触試験器２２ａの端子４３ａ（図３及び図４の端子３
ｂ）から再び流れ出して接地方向に電流５２ａとして流
れるため、ＡＮＤゲートの入力は、「Ｌ」レベルにな
り、ＡＮＤゲートの出力も「Ｌ」レベルに変わり、接触
検知信号処理部２４ａの試験信号処理部２６ａへの出力
信号５３ａも「Ｈ」レベルから「Ｌ」レベルに変わる。
この場合は接触良否検出信号として「Ｌ」レベル出力さ
れ、接触状態が良好であることを示す。
【００２８】図７は、図５に示す導通試験装置の試験信
号処理部の回路の一実施例を示す回路図である。
号処理部の回路の一実施例を示す回路図である。
【００２９】試験信号処理部２６ａに伝えられた、接触
検知信号処理部２４ａから接触良否検出信号として出力
された信号５３ａは、図７に示すように、試験信号処理
部２６ａのデコーダ６８に入力される。また、前述した
試験信号５５ａと方向制御信号５６ａとが入力された試
験信号処理回路６７から、試験信号５４ａを接触試験器
２２ａへ送出したことを伝える信号５８がデコーダ６８
へ伝えられる。
検知信号処理部２４ａから接触良否検出信号として出力
された信号５３ａは、図７に示すように、試験信号処理
部２６ａのデコーダ６８に入力される。また、前述した
試験信号５５ａと方向制御信号５６ａとが入力された試
験信号処理回路６７から、試験信号５４ａを接触試験器
２２ａへ送出したことを伝える信号５８がデコーダ６８
へ伝えられる。
【００３０】デコーダ６８では、伝えられた信号５３ａ
及び信号５８の二つの信号を基に、試験信号が接触試験
器２２ａに送られたか否か、また接触試験器２２ａと試
験対象物７との接触が行われているか否かの二つの事象
を合わせて４通りの結果のいずれであるかを判定し、接
触試験器制御部２８へ判定結果を示す信号５７ａを接触
良否報告信号として伝える。
及び信号５８の二つの信号を基に、試験信号が接触試験
器２２ａに送られたか否か、また接触試験器２２ａと試
験対象物７との接触が行われているか否かの二つの事象
を合わせて４通りの結果のいずれであるかを判定し、接
触試験器制御部２８へ判定結果を示す信号５７ａを接触
良否報告信号として伝える。
【００３１】一方、接触試験器２２ｂも試験対象物７に
押し付けられて接触しているので、試験対象物７に伝え
られた試験信号５４ｂは、接触試験器２２ｂの接触部を
介して接触試験器２２ｂに入力される。接触試験器２２
ｂに入力され試験信号は試験信号信号５４ｂとして試験
信号処理部２６ｂに送出される。
押し付けられて接触しているので、試験対象物７に伝え
られた試験信号５４ｂは、接触試験器２２ｂの接触部を
介して接触試験器２２ｂに入力される。接触試験器２２
ｂに入力され試験信号は試験信号信号５４ｂとして試験
信号処理部２６ｂに送出される。
【００３２】接触試験器２２ｂの接触検知信号処理部２
４ｂの場合も、接触検知信号処理部２４ｂ内部の電源Ｖ
ｃｃより供給される電流が電流５１ｂとして接触試験器
２２ｂの端子４１ｂから流れ込み、端子４３ｂから電流
５２ｂとして流れ出したとき、接触が良好であることを
検出する。接触検知信号処理部２４ｂから試験信号処理
部２６ｂに出力される接触良否検出信号である信号５３
ｂも、「Ｈ」レベルから「Ｌ」レベルに変化する。試験
信号処理部２６ｂに伝えられた信号５３ｂは、試験信号
処理部２６ｂのデコーダ６８に入力される。また、試験
信号５４ｂは接触試験器２２ｂに試験対象物７から出力
された試験信号であることを伝える方向制御信号５６ｂ
が、試験信号処理部２６ｂへ接触試験器制御部２８から
送出されるので、試験信号５４ｂと方向制御信号５６ｂ
とが入力された試験信号処理部２６ｂの試験信号処理回
路６７から、試験信号５４ｂを接触試験器２２ｂから受
信した出したことを伝える信号５９が試験信号処理部２
６ｂのデコーダ６８へ伝えられる。
４ｂの場合も、接触検知信号処理部２４ｂ内部の電源Ｖ
ｃｃより供給される電流が電流５１ｂとして接触試験器
２２ｂの端子４１ｂから流れ込み、端子４３ｂから電流
５２ｂとして流れ出したとき、接触が良好であることを
検出する。接触検知信号処理部２４ｂから試験信号処理
部２６ｂに出力される接触良否検出信号である信号５３
ｂも、「Ｈ」レベルから「Ｌ」レベルに変化する。試験
信号処理部２６ｂに伝えられた信号５３ｂは、試験信号
処理部２６ｂのデコーダ６８に入力される。また、試験
信号５４ｂは接触試験器２２ｂに試験対象物７から出力
された試験信号であることを伝える方向制御信号５６ｂ
が、試験信号処理部２６ｂへ接触試験器制御部２８から
送出されるので、試験信号５４ｂと方向制御信号５６ｂ
とが入力された試験信号処理部２６ｂの試験信号処理回
路６７から、試験信号５４ｂを接触試験器２２ｂから受
信した出したことを伝える信号５９が試験信号処理部２
６ｂのデコーダ６８へ伝えられる。
【００３３】試験信号処理部２６ｂのデコーダ６８で
は、伝えられた信号５３ｂ及び信号５９の二つの信号を
基に、試験信号が接触試験器２２ｂから受信されたか否
か、また接触試験器２２ｂと試験対象物７との接触が行
われているか否かの二つの事象を合わせて４通りの結果
のいずれであるかを判定し、接触試験器制御部２８へ判
定結果を示す信号５７ｂを接触良否報告信号として伝え
る。
は、伝えられた信号５３ｂ及び信号５９の二つの信号を
基に、試験信号が接触試験器２２ｂから受信されたか否
か、また接触試験器２２ｂと試験対象物７との接触が行
われているか否かの二つの事象を合わせて４通りの結果
のいずれであるかを判定し、接触試験器制御部２８へ判
定結果を示す信号５７ｂを接触良否報告信号として伝え
る。
【００３４】次に、接触試験器制御部２８では、試験信
号処理部２６ａ，２６ｂから伝えられた信号５７ａ，５
７ｂと試験データ入力装置３１から伝えられた試験デー
タとを基に、導通試験の合否を判定し、合否の内容と接
触試験器２２ａ，２２ｂと試験対象物７との接触状態と
を合わせてディスプレイ２９に表示させ、プリンタ３０
に出力させる。
号処理部２６ａ，２６ｂから伝えられた信号５７ａ，５
７ｂと試験データ入力装置３１から伝えられた試験デー
タとを基に、導通試験の合否を判定し、合否の内容と接
触試験器２２ａ，２２ｂと試験対象物７との接触状態と
を合わせてディスプレイ２９に表示させ、プリンタ３０
に出力させる。
【００３５】なお、図６（ａ）及び図６（ｂ）に示す接
触試験器２２ａ，２２ｂと接触検知信号処理部２４ａ，
２４ｂとの間の接続では、接触検知信号処理部２４ａ，
２４ｂの電源の接地側が、接触試験器２２ａ，２２ｂの
端子３ｂ側に接続されており、接触検知信号処理部２４
ａ，２４ｂのＡＮＤの入力側が、接触試験器２２ａ，２
２ｂの端子３ｂ側に接続されているが、当然この接続の
極性が逆であってもよい。
触試験器２２ａ，２２ｂと接触検知信号処理部２４ａ，
２４ｂとの間の接続では、接触検知信号処理部２４ａ，
２４ｂの電源の接地側が、接触試験器２２ａ，２２ｂの
端子３ｂ側に接続されており、接触検知信号処理部２４
ａ，２４ｂのＡＮＤの入力側が、接触試験器２２ａ，２
２ｂの端子３ｂ側に接続されているが、当然この接続の
極性が逆であってもよい。
【００３６】図８は、図５に示す導通試験装置の接触検
知信号処理部に用いられる接触検出のための論理ゲート
の種類を示す図である。
知信号処理部に用いられる接触検出のための論理ゲート
の種類を示す図である。
【００３７】図６（ａ）及び図６（ｂ）には、接触検知
信号処理部の電気回路の一実施例として図８（ａ）に示
すＡＮＤゲート３３を用いたが、ＡＮＤゲート３３の代
りに図８（ｂ）のＮＡＮＤゲート３４，図８（ｃ）のＯ
Ｒゲート３５，図８（ｄ）のＮＯＲゲート３６を用いて
もよい。
信号処理部の電気回路の一実施例として図８（ａ）に示
すＡＮＤゲート３３を用いたが、ＡＮＤゲート３３の代
りに図８（ｂ）のＮＡＮＤゲート３４，図８（ｃ）のＯ
Ｒゲート３５，図８（ｄ）のＮＯＲゲート３６を用いて
もよい。
【００３８】このように、接触試験器の内部に、接触部
と試験対象物との間の接触圧力によって動作し良好な接
触状態にあることを示す接点出力を出すことができるス
イッチを構成することにより、試験対象物の内部回路の
導通試験の際に、接触部と試験対象物との間の接触状態
の良否を判定してその情報を出力することができ、導通
試験のときに、試験対象物の試験箇所に供給した試験信
号をその試験対象物の他の試験箇所から取り出すことが
できなかったときでも、それが試験対象物の内部回路の
不具合によるものか、接触部と試験対象物との間の接触
状態の不良によるものかを判定することができる。
と試験対象物との間の接触圧力によって動作し良好な接
触状態にあることを示す接点出力を出すことができるス
イッチを構成することにより、試験対象物の内部回路の
導通試験の際に、接触部と試験対象物との間の接触状態
の良否を判定してその情報を出力することができ、導通
試験のときに、試験対象物の試験箇所に供給した試験信
号をその試験対象物の他の試験箇所から取り出すことが
できなかったときでも、それが試験対象物の内部回路の
不具合によるものか、接触部と試験対象物との間の接触
状態の不良によるものかを判定することができる。
【００３９】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、接触試験
器の内部に、接触部と試験対象物との間の接触圧力によ
って動作し良好な接触状態にあることを示す接点出力を
出すことができるスイッチを構成することにより、試験
対象物の内部回路の導通試験の際に、接触部と試験対象
物との間の接触状態の良否を判定してその情報を出力す
ることができ、導通試験のときに、試験対象物の試験箇
所に加えた試験信号を他の試験箇所から取り出すことが
できなかったとき、それが試験対象物の内部回路の不具
合によるものか、接触部と試験対象物との間の接触状態
の不良によるものかを判定することができるという効果
を有する。
器の内部に、接触部と試験対象物との間の接触圧力によ
って動作し良好な接触状態にあることを示す接点出力を
出すことができるスイッチを構成することにより、試験
対象物の内部回路の導通試験の際に、接触部と試験対象
物との間の接触状態の良否を判定してその情報を出力す
ることができ、導通試験のときに、試験対象物の試験箇
所に加えた試験信号を他の試験箇所から取り出すことが
できなかったとき、それが試験対象物の内部回路の不具
合によるものか、接触部と試験対象物との間の接触状態
の不良によるものかを判定することができるという効果
を有する。
【図１】第１の発明の第１の実施例を示す接続試験器の
断面図である。
断面図である。
【図２】図１に示す接続試験器の動作状態を示す断面図
である。
である。
【図３】第１の発明の第２の実施例を示す接続試験器の
断面図である。
断面図である。
【図４】図３に示す接続試験器の動作状態を示す断面図
である。
である。
【図５】図２に示す接続試験器を用いて構成した導通試
験装置の一実施例を示すブロック図である。
験装置の一実施例を示すブロック図である。
【図６】図５に示す導通試験装置の接触検知信号処理部
と接触試験器との回路の接続状態を示す図である。
と接触試験器との回路の接続状態を示す図である。
【図７】図５に示す導通試験装置の試験信号処理部の回
路の一実施例を示す回路図である。
路の一実施例を示す回路図である。
【図８】図５に示す導通試験装置の接触検知信号処理部
に用いられる接触検出のための論理ゲートの種類を示す
図である。
に用いられる接触検出のための論理ゲートの種類を示す
図である。
１ 端子 ２ 端子 ３ａ，３ｂ 端子 ４ 接触部保持筺体 ５ 接触部支持構造 ６ ピンヘッド ７ 試験対象物 ９ 信号ケーブル １０ａ，１０ｂ 筺体電極 １１ａ，１１ｂ ピン電極 １２ スプリング １３ 接触面 １４ 絶縁天板部 １５ ピン電極 １６ ＬＥＤ電極 １７ ＬＥＤランプ １８ ホルダーＬＥＤ電極 ２２ａ，２２ｂ 接触試験器 ２４ａ，２４ｂ 接触検知信号処理部 ２６ａ，２６ｂ 試験信号処理部 ２８ 接触試験器制御部 ２９ ディスプレイ ３０ プリンタ ３１ 試験データ入力装置 ３２ 導通試験装置
Claims (6)
- 【請求項１】 導体で構成された接触部を試験対象物の
電気回路に接触させて導通試験回路を構成する接触試験
器において、（Ａ）前記試験対象物の電気回路との間で
前記接触部を介して授受される試験信号の伝送中継用に
使用される中継端子、（Ｂ）一端を前記接触部に接続さ
れ、他端を前記中継端子に接続された試験信号伝送ケー
ブル、（Ｃ）前記接触部の、試験対象物との接触面が前
記試験対象物の試験箇所に押し付けられたとき、前記接
触部を支持する接触部支持構造を介して反発力で前記接
触部を前記試験対象物の試験箇所に圧接するように働く
スプリング、（Ｄ）前記接触部支持構造に設けられ機械
的スイッチの接点の一方を構成する第１の電極、（Ｅ）
前記スプリング及び前記接触部支持構造の一端を収容す
る接触部保持筺体に設けられ、前記第１の電極と対にな
り前記機械的スイッチを構成する第２の電極、を有する
ことを特徴とする接触試験器。 - 【請求項２】（Ａ）接触部を試験対象物に押付けられた
とき、前記接触部の導体を介して前記試験対象物と中継
端子との間に回路を構成して前記中継端子から入力され
た試験信号を前記試験対象物に送出し、かつ内蔵する機
械的スイッチが動作して前記試験対象物と前記接触部と
が十分な圧力で相互に接触していることを知らせる第１
のオン信号を出力する請求項１記載の接触試験器である
第１の接触試験器、（Ｂ）前記接触部を前記試験対象物
に押付けられたとき、前記接触部の導体を介して前記試
験対象物と前記中継端子との間に回路を構成して前記試
験対象物から入力された試験信号を前記中継端子から出
力し、かつ内蔵する前記機械的スイッチが動作して前記
試験対象物と前記接触部とが十分な圧力で相互に接触し
ていることを知らせる第２のオン信号を出力する請求項
１記載の接触試験器である第２の接触試験器、（Ｃ）前
記第１の接触試験器から受信した前記第１のオン信号の
受信の有無を論理レベル信号のレベル変化で示し第１の
接触良否検出信号として出力する第１の接触検知信号処
理部、（Ｄ）前記第２の接触試験器から受信した前記第
２のオン信号の受信の有無を論理レベル信号のレベル変
化で示し第２の接触良否検出信号として出力する第２の
接触検知信号処理部、（Ｅ）前記第１の接触試験器に前
記試験信号を出力し、かつ前記第１の接触検知信号処理
部から前記第１の接触良否検出信号を受信して前記試験
対象物と第１の接触試験器との間の接触状態の良否を判
定し、接触状態の良否を示す第１の接触良否報告信号を
出力する第１の試験信号処理部、（Ｆ）前記第２の接触
試験器から前記試験信号を受信し、かつ前記第２の接触
検知信号処理部から前記第２の接触良否検出信号を受信
して前記試験対象物と第２の接触試験器との間の接触状
態の良否を判定し、接触状態の良否を示す第２の接触良
否報告信号を出力する第２の試験信号処理部、（Ｇ）前
記第１の試験信号処理部に前記試験信号を出力するよう
に指示し、前記第２の試験信号処理部に対して、前記第
１の試験信号処理部から出力された試験信号を前記第２
の接触試験器から受信するように指示し、かつ前記第１
の試験信号処理部から第１の接触良否報告信号を受信
し、前記第２の試験信号処理部から第２の接触良否報告
信号を受信して導通試験の合否を判定する接触試験器制
御部、を備えたことを特徴とする導通試験装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の導通試験装置において、
前記第１及び第２の接触検知信号処理手段は、一端を電
源に接続された抵抗と、前記抵抗の他端に短絡された入
力端を接続されたＡＮＤ回路とを備え、外部回路により
前記ＡＮＤ回路の入力端と前記電源の接地側とを短絡さ
れたときと、前記外部回路により前記ＡＮＤ回路の入力
端と前記電源の接地側とを開放されたときとで出力する
論理信号レベルを変化させるように構成されていること
を特徴とする導通試験装置。 - 【請求項４】 請求項２記載の導通試験装置において、
前記第１及び第２の接触検知信号処理手段は、一端を電
源に接続された抵抗と、前記抵抗の他端に短絡された入
力端を接続されたＮＡＮＤ回路とを備え、外部回路によ
り前記ＮＡＮＤ回路の入力端と前記電源の接地側とを短
絡されたときと、前記外部回路により前記ＮＡＮＤ回路
の入力端と前記電源の接地側とを開放されたときとで出
力する論理信号レベルを変化させるように構成されてい
ることを特徴とする導通試験装置。 - 【請求項５】 請求項２記載の導通試験装置において、
前記第１及び第２の接触検知信号処理手段は、一端を電
源に接続された抵抗と、前記抵抗の他端に短絡された入
力端を接続されたＯＲ回路とを備え、外部回路により前
記ＯＲ回路の入力端と前記電源の接地側とを短絡された
ときと、前記外部回路により前記ＯＲ回路の入力端と前
記電源の接地側とを開放されたときとで出力する論理信
号レベルを変化させるように構成されていることを特徴
とする導通試験装置。 - 【請求項６】 請求項２記載の導通試験装置において、
前記第１及び第２の接触検知信号処理手段は、一端を電
源に接続された抵抗と、前記抵抗の他端に短絡された入
力端を接続されたＮＯＲ回路とを備え、外部回路により
前記ＮＯＲ回路の入力端と前記電源の接地側とを短絡さ
れたときと、前記外部回路により前記ＮＯＲ回路の入力
端と前記電源の接地側とを開放されたときとで出力する
論理信号レベルを変化させるように構成されていること
を特徴とする導通試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3329101A JP2901402B2 (ja) | 1990-12-14 | 1991-12-12 | 接触試験器およびそれを用いた導通試験装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2-400606 | 1990-12-14 | ||
| JP40060690U JPH0487474U (ja) | 1990-12-14 | 1990-12-14 | |
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