JPH07246200A

JPH07246200A - Ｘ線ｃｔスキャナー

Info

Publication number: JPH07246200A
Application number: JP4350200A
Authority: JP
Inventors: Albert H R Lonn; アルバート・ヘンリー・ロジャー・ロン
Original assignee: General Electric Co
Current assignee: General Electric Co
Priority date: 1991-12-23
Filing date: 1992-12-04
Publication date: 1995-09-26
Also published as: EP0549180A2; EP0549180A3; US5241576A

Abstract

(57)【要約】【目的】本発明の一般的な目的は部分的なボリューム
アーチファクトの減少した厚スライス画像を生じさせる
こと。【構成】ファンビームの減衰値を測定する検出器要素ア
レイを有するＸ線ＣＴシステム。各検出器要素はスライ
スの厚さ方向に配置された１組のサブ要素からなる。サ
ブ要素から得られる減衰シグナルは別々に前処理し、そ
して一緒に集計して選択されたスライス厚さを測定す
る。【効果】再構成された画像での部分的ボリュームアーチ
ファクトが回避される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明の分野はコンピュータ化し
た断層撮影法であり、特にＸ線減衰測定による医学的画
像を作るために使用されるコンピュータ断層撮影法であ
る。

【０００２】

【従来の技術】図１に示されるように、ヒトの解剖学的
画像を作るために使用されるＣＴスキャナーは架台12の
開口部11内に位置させることができる患者台10を有す
る。高度に平行化したＸ線源13は架台12内の開口部11の
一方の側に装着され、そして１つまたはそれ以上の検出
器14は開口部11の他方の側に装着される。Ｘ線源13およ
び検出器14は少なくとも180°の回転範囲の多数の異な
る角度からＸ線減衰測定を得るために患者スキャン中に
開口部11の周囲で回転する。

【０００３】患者の完全スキャンはＸ線源13および検出
器14の別個の角度方向で行われる１組のＸ線減衰測定か
らなっている。このような組の測定値の各々は当該技術
分野で「ビュー」と称されており、そしてこのような組
の測定値の各々の結果は透過プロフィールである。図２
Ａに示されるように、各ビューにおける１組の測定値は
矢印15で示されるようにビューの収集領域を横断してＸ
線源13および検出器14を同時に直線移動させることによ
って得ることができる。装置13および14を直線移動させ
ると、一連のＸ線減衰測定が患者を通してなされ、そし
て得られた組のデータは１つの角度方向の透過プロフィ
ールを提供する。次いで、デバイス13と14の角度方向を
変化させ（例えば、１°）てもう１つのビューが得られ
る。各透過プロフィールを得る別の構造は図２Ｂに示さ
れる。この構造では、Ｘ線源13は患者を通過して検出器
14のアレイに突き当たるファンビームを発生させる。こ
のアレイ中の各検出器14は別々の減衰信号を生じさせそ
して全検出器14からの信号は別々に収集されて指示され
た角度方向の透過プロフィールがもたらされる。次に、
第１の構造と同様に、Ｘ線源13および検出器アレイ14を
異なる角度方向に回転させ、そして次の透過プロフィー
ルが得られる。

【０００４】各透過プロフィール用にデータが収集され
ると、信号をフィルターにかけ、補正し、対数形態に変
換させ、そしてコンピュータメモリーに保存するために
ディジタル化する。これらの段階は当該技術分野ではま
とめて「前処理」と称される。そしてこれらはデータが
収集されている実時間で行うことができる。次いで、得
られた透過プロフィールを使用してビューの再構成領域
における各ボクセルのＸ線減衰係数を示す画像を再構成
する。これらの減衰係数は「ＣＴ数」と呼ばれる整数に
変換され、これらを使用してＣＲＴディスプレー上の対
応する画素の明るさを調節する。図３に示されるよう
に、上記のようにして患者から撮ったスライス15の解剖
学的構造を示す画像が作られる。

【０００５】臨床用途では、患者から撮ったスライス15
の厚さは薄い（１mm）ものから非常に厚い（10mm）もの
まで変化させることができる。スライスの厚さは典型的
には患者とＸ線源との間に位置する調節可能な平行化デ
バイスによって制御される。このような平行化デバイス
の１つは、本発明の譲受人が所有する米国特許第 4,99
1,189号に記載されている。

【０００６】スライス15の厚さが増すと、再構成された
画像は部分的なボリュームアーチファクトが一層疑われ
るようになる。各画像画素のＣＴ数は対応する患者ボク
セルによるＸ線ビームの減衰を示している。極く薄いビ
ームでは、十分な流量が検出されると、Ｘ線ビームに沿
った積分減衰は正確に測定することができるので、ＣＴ
数は対応する患者ボクセル内の全ての物質の真の平均減
衰を反映している。しかし乍ら、有限の厚さを有するＸ
線ビームで且つ物質の減衰が厚さの方向で不均質である
場合には、ビームを横切る平均減衰は正確には測定され
ない。この不正確性は、例えば、骨のような高度に減衰
させる物質と柔組織間の境界を有する患者ボクセルで顕
著である。画像再構成法の特質のため、この不正確性は
対応する画像画素だけでなく周囲の画素にも影響を与え
る。このことにより柔組織特性の診断を妨害する画像ア
ーチファクトが生じる。

【０００７】厚スライス画像を作るとき、この部分的な
ボリュームアーチファクトの問題を処理する２つの既知
の技術がある。第１に、隣接スライスから収集されたデ
ータを使用してスライス内の骨の分布を予測する試みが
なされている。しかし乍ら、このような予測はデータの
補正には使用できるが、実際にはスライス間のスライス
間間隔が大き過ぎて正確な予測を提供することはできな
い。第２の試みは、厚スライスを一連の別個ではあるが
連続的な薄スライスとして得ることである。スライスが
より薄くなればなるほど、検出器によって捕捉されるＸ
線の流量が減少する。これはノイズのより多い画像を生
じさせ、そして大きい患者では、検出された信号は検出
器のノイズ値以下になるので画像を再構成することがで
きない。その場合、Ｘ線管流量を増加させるか、または
検出される信号の積分時間を増加させる必要がある。こ
れはうまくいくが、データ収集およびデータ処理に必要
な時間は必要な薄スライス数に基づいて増加する。更
に、Ｘ線管の冷却速度および熱容量がスキャン時間を更
に長くすることがあり、そしてより長いスキャン中に患
者の動きによって収集されたデータが台なしになること
がある。その結果、患者をスキャンし、画像を再構成し
そしてＸ線管の冷却を待つために長時間を必要としそし
てより多いＸ線量を患者に与えるので、薄スライスを用
いてより大きい容量をスキャンすることは実際的ではな
い。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】本発明の一般的な目的
は部分的なボリュームアーチファクトの減少した厚スラ
イス画像を生じさせることである。本発明のもう１つの
目的はデータ処理時間を増加させないで、改良された厚
スライス画像を生じさせることである。本発明の更にも
う１つの目的は信号対ノイズ比（ＳＮＲ）を低下させな
いで厚スライス画像を生じさせることである。

【０００９】本発明の更にもう１つの目的は１回のスキ
ャン中に収集されたデータから複数の画像を作ることで
ある。本発明の更に特別の目的は、スライス減衰値を厚
さ方向に沿って輪郭を示すことができるようにすること
である。本発明の更にもう１つの目的はモーションアー
チファクトが増加していない厚スライス画像を得ること
である。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明は、部分的なボリ
ュームアーチファクトを減少させた減衰データの厚スラ
イスから画像を生じさせることができるＸ線ＣＴスキャ
ナーである。詳細には本発明は、スライスの厚さ方向に
沿って配置されそして各々が薄スライス減衰信号を発生
させる１組の検出器サブ要素からなる各Ｘ線検出器要
素; 各薄スライス減衰信号用の別々のチャンネルを有す
る前処理器; 前処理された薄スライス減衰信号から厚ス
ライス減衰信号を生じさせる集計手段; および厚スライ
ス減衰信号から画像を生じさせる画像再構成手段からな
るＸ線ＣＴスキャナーである。

【００１１】減衰データを１組の隣接薄スライスとして
同時に収集しそして減衰データの対数を計算してデータ
を別々に前処理することによって、一層正確な減衰デー
タが厚スライスで収集されることが発見された。このこ
とにより画像アーチファクトが減少する。前処理は平行
回路によって実時間で行うことができる。別々の薄スラ
イス減衰信号を実時間で１つの厚スライス減衰信号に集
計することもできる。画像再構成法は厚スライス減衰デ
ータに対して１度実施すれば良く、その結果画像処理時
間は薄スライス画像形成と同一となる。

【００１２】上記目的中のスライス減衰値を厚さ方向に
沿って輪郭を示すことができるようにすることは、集計
される厚スライス減衰信号に各薄スライス減衰信号が重
み付けされて貢献するように、重み（ｗ＝０から１）を
用いて各前処理器サブチャンネルに重み付けすることに
よって達成される。その結果、スライスの厚さは幾つか
のサブ要素から得られる信号を遮断する（ｗ＝０）かま
たは中心サブ要素から得られる信号（ｗ＝１）に比例し
て周辺サブ要素から得られる信号を減衰させる（ｗ＜
１）ことによって容易に制御される。

【００１３】薄スライス減衰信号は別々に集計して複数
の厚スライス減衰信号を作ることができる。例えば、８
個の１mm薄スライス減衰信号は別々に集計して２個の４
mm厚スライス信号を作り、これを２枚の別々の画像を再
構成するために使用することができる。

【００１４】厚スライスの減衰データは慣用の薄スライ
スと同一の時間間隔で収集されるので、介在する患者の
動きによるアーチファクトは同一である。

【００１５】本発明の前記の目的や他の目的は、本願明
細書の１部をなす添付図面を参照しそして本発明の好ま
しい実施態様を説明するために示されている下記記載か
ら明白である。しかし乍ら、このような実施態様は必ず
しも本発明の全範囲を表わしていないので、本発明の範
囲を解釈するためには本明細書の特許請求の範囲を参照
する。

【００１６】

【実施例】特に図４を参照すると、ＣＴシステムの操作
はコンピュータプロセッサ26およびディスクメモリー27
を有するプログラム化されたデータ処理系25によって制
御される。ディスクメモリー27は、コンピュータプロセ
ッサ26が患者のスキャニング並びに画像再構成およびデ
ィスプレイに使用するプログラムを記憶する。これはま
た、収集されたデータおよび再構成された画像データを
短期間記憶することもできる。コンピュータプロセッサ
26は、示されるような他のシステム要素との連結に適す
る入力および出力部を有する一般的な使用目的のミニコ
ンピュータを有している。これはまた、米国特許第4,49
4,141号に開示されているようなアレイ処理器も有して
いる。

【００１７】コンピュータプロセッサ26の出力部はＸ線
制御回路28に接続されている。このＸ線制御回路は順次
Ｘ線管13を制御する。Ｘ線管13上の高電圧が制御され、
そしてその陰極電流は正確な線量を提供するように制御
される。高電圧および陰極電流はオペレータが選択し、
オペレータは望ましい値をスキャン時間および他のスキ
ャンパラメーターと一緒にオペレータコンソール30から
入れる。コンピュータプロセッサ26はスキャンプログラ
ムおよびこれらのスキャンパラメーターに従ってＸ線の
発生を指令する。

【００１８】Ｘ線は上記したようなファン形態に分散さ
れ、そして架台開口部11の反対側に装備された検出器ア
レイ14によって受け取られる。以下で更に詳細に記載す
るように、好ましい実施態様では 852個の個々のセルま
たは検出器要素が存在する。これらの各々はＸ線管13か
ら発生し、開口部11に置かれた患者を通して直線路を横
断する１本のＸ線を検査する。検出器アレイ14はまた、
Ｘ線源13から非減衰Ｘ線を受ける各末端に１群の参照セ
ルも有している。各検出器要素で形成された電流はアナ
ログ電気信号として集め、そしてデータ収集系31内のＡ
／Ｄ変換器によってディジタル数に変換される。全ての
検出器から得られるディジタル測定値は完全なビューで
ある。米国特許第4,112,303号および第4,115,695号は架
台構造を詳細に開示しており、データ収集系は米国特許
第 4,583,240号に開示されている。ディジタル化した信
号はコンピュータプロセッサ26に入力される。より小さ
いかまたはより大きいビュー領域をカバーするために種
々の数の検出器セルを使用できることが認められる。

【００１９】データ収集系31から得られるディジタル減
衰測定値は周知の方法で前処理して「暗電流」、不均一
な検出器セルの感度および利得、並びにスキャン全体で
のＸ線ビーム強度の変動を相殺する。これに続いて、測
定された各値がＸ線ビーム減衰の線積分を表わすよう
に、線質硬化補正およびデータの対数形態への変換を行
う。この前処理はスキャンの実施と実時間で行うことが
できるか、またはスキャンの完了時に前処理するよう
に、検出器信号にフィルターをかけ、ディジタル化し、
そして記憶することができる。図８で示されるように、
得られた各ビューの減衰値32は二次元の生データアレイ
33の１アレイに記憶される。破線34で示されるように、
上記の減衰データの各アレイは１つの角度から見たとき
画像化される物体の透過プロフィールを提供する。

【００２０】更に図８を参照すると、スキャン終了時に
生データアレイ33はそのアレイの各々に１つのビューか
らの透過プロフィール34を記憶する。それ故、このアレ
イ33の１つの次元はスキャン中に収集されるビューの数
によって決定され、そしてもう１方の次元は各ビュー中
に収集される検出器セル信号数によって決定される。収
集される検出器セル信号数は収集される領域ビューを決
定する。好ましい実施態様では、これは852個までの検
出器セル信号を含むことができる。

【００２１】生データアレイ33の減衰値から画像を再構
成する前に、データは当該技術分野で周知のたたみこみ
核関数（convolution kernel function ）を使用してフ
ィルターにかける。データをフィルターにかけた後続い
て逆投影して透過プロフィールを再構成すると、画像か
ら各点の周囲の不鮮明さが消失する。このたたみこみ段
階は、たたみこみ核の値による生データアレイ33内の各
要素の周囲の減衰値の増加にかかわっており、そして結
果を一緒に加えて処理されたデータアレイ36を作るの
で、計算的に非常に集約的である。この関数を行うため
に通常使用される方法は生データアレイ33の各アレイを
フーリエ転換することであり、フーリエはたたみこみ核
を転換しそして２つの転換波形を一緒にして増加させ
る。次いで、処理されたデータアレイ36を得るため、逆
フーリエ転換を行う。次いで、フィルターにかけたデー
タを慣用的に逆戻りさせることによって画像データアレ
イ37を生じさせ、そしてこれは再構成された画像画素の
明るさを制御するために使用される。

【００２２】図５および６を参照すると、先行技術のＣ
Ｔシステムとは異なって、好ましい実施態様の検出器ア
レイ14の各要素によってもたらされる減衰信号は、９個
の別々の検出器サブ要素41〜49によって作られる減衰測
定値から誘導される薄スライス減衰信号からなってい
る。サブ要素41〜49はスライスの厚さ方向に沿って配置
され、そして各々がＸ線源13によって発生されるＸ線ビ
ーム50の薄い部分を受け取る。サブ要素41〜49は測定す
る薄スライスが隣接するようにお互いにできるだけ近接
するように配置される。以下で更に詳細に説明するよう
に、サブ要素41〜49によって作られる別々の薄スライス
減衰信号はデータ収集系31（図４）で別々に前処理され
そして一緒に集計して上記した検出器減衰値32（図８）
が集められる。

【００２３】Ｘ線ビームは道筋Ｓ中の全ての減衰の線積
分に等しい量だけ減衰される。位置に患者がいないモノ
エネルギー性Ｘ線ビームの強度がＩ0である場合、検出
器サブ要素に到達する信号は道筋に沿ってビームが横切
る全ての物質によって減衰される：

【００２４】

【数１】

【００２５】患者なしで測定し（空気目盛りスキャン）
次いで患者での強度を測定する場合、自然対数比をとり
そして総減衰を見い出すことができる：

【００２６】

【数２】

【００２７】検出器14がスライスの厚さ方向ｚでＭサブ
要素に分けられ、その際サブ要素のサイズが顕著な減衰
変動がないほど十分小さい場合、各サブ要素から得られ
る減衰信号は次式によって与えられる：

【００２８】

【数３】

【００２９】ここで、積分はＸ線源13と検出器サブ要素
間の道筋に沿った線積分を表わす。各サブ要素から得ら
れる測定信号が、オフセット補正を適用し、その対数を
とり、利得補正を行いそして重みｗ1・・・ｗMと共に合
計することによって処理する場合、得られる厚スライス
減衰信号は次式によって与えられる：

【００３０】

【数４】

【００３１】第１の期間はサブ要素上のビーム強度の重
み付き合計を表わし、そしてこれは患者なしのビーム強
度を前以て測定することによって消失させることができ
る。第２の期間は種々のサブ要素までのビーム道筋に沿
った減衰の線積分の重み付き合計を表わす。これらの厚
スライス減衰読み取りから再構成された画像は各サブ要
素での減衰の重み付き合計に従って各要素内の平均減衰
を有する画素要素を有している。

【００３２】本発明を実施するために使用される前処理
器の１つの実施態様は図７に示す。各サブ要素41〜49に
よってもたらされる薄スライス信号はフィルター51によ
って慣用の方法でフィルターにかけ、次いで前増幅器回
路52でオフセット変動を補正する。次いで、その補正さ
れた薄スライス信号は回路53によって対数形態に変換さ
れ、次いで増幅器回路54内で利得補正される。次いで、
補正され変換された薄スライス信号は９個の別々の重み
付き信号ｗ1・・・・ｗ9によって制御される増幅器55に
よって重み付けされる。重み付き値ｗ1・・・・ｗ9は０
から１の範囲である。

【００３３】増幅器55の出力部で発生する９個の別々の
サブ要素信号は集計回路56によって一緒に集計される。
得られた57での出力は９個のサブ要素41〜49によって生
じた薄スライス減衰値の全合計であり、これは９個の薄
スライスの合計からなる厚スライスの減衰値を表わす。
この１個の厚スライス減衰値をディジタル化し、そして
上記のように処理して画像を再構成する。前処理器の第
１の実施態様で使用される回路は、補正値および重み付
きファクターをディジタル数として適用して類似するサ
ブ要素信号を生じさせるハイブリッド類似／ディジタル
回路である。

【００３４】重み付き値ｗ1・・・ｗ9は別個に制御して
再構成される画像のスライス厚さを決定することができ
る。各サブ要素は１ミリメートルの薄スライスを測定
し、そしてこれらの１から９までのどこででも、残りの
サブ要素の重み付き値をゼロにセットすることによって
一緒にすることができる。更に、重み付きファクターｗ
1−ｗ9は測定される厚スライスを横切って変動させて任
意の所望の輪郭を提供することができる。

【００３５】本発明を実施するために使用される前処理
器の第２の実施態様は図９に示す。この実施態様では、
15個のサブ要素６０1−６０15は検出器14内で使用さ
れ、各サブ要素は１mm厚さの薄スライスを測定する。各
サブ要素６０1−６０15 は15個の同一前処理器チャンネ
ルの１つに入力信号をもたらす。これらの前処理器チャ
ンネルの１つだけを図９に完全に示し、そして残りのチ
ャンネルは同一であると理解すべきである。

【００３６】サブ要素信号は上記のようにしてフィルタ
ー61に加えられるが、次いで、これはデータ処理系25
（図４）から得られる周期的な試料信号に応答するＡ／
Ｄ変換器でディジタル化される。次いで、ディジタル化
した薄スライス信号はディジタル集計回路63でオフセッ
トを補正し、対数検索表ＰＲＯＭ64で対数形態に変換す
る。得られた薄スライス減衰信号はディジタル乗算器65
で検出器利得変動を補正し、そしてディジタル乗算器66
中で上記のようにして重み付けする。利得補正および重
み付きファクターを合わせて１つのディジタル数とし、
そして２つの別個の乗算器65および66ではなくて１つの
ディジタル乗算器に適用することができることは当該技
術分野の熟練者に明白であろう。どちらの場合でも、15
個の別々の薄スライス減衰値はマルチプレクサ回路67に
加えられる。この回路はデータ処理系25からの４ビット
のチャンネル選択コードに応答してディジタル加算器68
へ１チャンネルを出力する。チャンネル選択コードは一
連の値で駆動して別々の薄スライス減衰値を選択的にス
キャンしてそれらを以下に記載するようにして集計す
る。集計した減衰値は、データ処理系25に加えられ上記
のようにして画像を再構成するために使用される出力部
69に現われる。

【００３７】プログラム制御下で、図９の前処理器は１
から15ミリメートルまでの厚さの範囲で１つまたはそれ
以上の減衰データスライスを生じさせるように操作する
ことができる。例えば、それぞれの検出器区画６０1−
６０5、６０6− ６０10および６０11−６０15の薄スラ
イス減衰信号を一緒に集計して３個の５mmの厚スライス
を形成させることができるか、または連続する３組の薄
スライス減衰信号を集計して５個の別々の３mmの厚スラ
イスを形成させることができる。それ故、１から15個の
どこででも別個の透過プロフィールスキャン中に各ビュ
ー用に収集することができ、そしてスキャン終了時に得
られた生データアレイから１から15個のどこででも別々
の画像を再構成することができる。

【００３８】検出器要素は所望の数のサブ要素に分ける
ことができることは明白である。各サブ要素は１から３
ミリメートルのスライスを測定し、そしてこれらの群を
一緒にして厚スライスを測定することができる。サブ要
素の数に関係なく、類似する前処理器またはディジタル
前処理器のいずれも使用することができる。

【００３９】区画された検出器および別々の前処理器チ
ャンネルのもう１つの利点は図１０Ａおよび１０Ｂに示
す。図１０Ａで、慣用の検出器14はＸ線源13からの放射
を受ける。米国特許第 5,054,041号に記載されているよ
うな患者前平行化装置75は、所望の厚さのビームを作る
Ｘ線用開口部を提供するように調整される。しかし乍ら
Ｘ線源13上の焦点は有限の大きさ（例えば、１mm×１m
m）を有しているので、スライスの厚さは明確には特定
されない。その代わり、破線76によって示される半暗部
は線77によって示される所望のビーム厚さの両側に形成
される。その結、検出器14は矢印78によって示される患
者の比較的厚いスライスを通過したＸ線を受ける。それ
故、測定は所望の薄スライスの外側にある構造物によっ
て影響を受ける。

【００４０】本発明の区画された検出器を図１０Ｂに示
されるようにして使用すると、薄スライスの厚さは明確
に特定される。例えば、Ｘ線源の焦点13が１ミリメート
ルの大きさでありそして検出器サブ要素45が１ミリメー
トルの大きさであるとき、スライスの厚さは約１ミリメ
ートルの大きさで明確に特定される。スライスの厚さは
患者前平行化装置75内の開口部を調整するのではなくて
所望の数の検出器サブ要素から得られる薄スライス減衰
信号を組み合わせることによって選択されるので、半暗
部は形成されない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を使用するＣＴシステムの透視図であ
る。

【図２】図１のＣＴシステムに使用することができる２
つのタイプのスキャニング技術の概略図的説明図であ
る。

【図３】図１のシステムで得られた１つの減衰スライス
から再構成される典型的な画像を示す絵画的図である。

【図４】図１のＣＴシステムのブロック設計図である。

【図５】Ｘ線ビームの厚さを示している該ビームの進路
の図式的説明図である。

【図６】図１のシステムに使用される検出器の１部分の
部分的透視図であって、スライスの厚さ方向に配置され
た検出器サブ要素を示す。

【図７】図５のデータ収集系の部分を形成する前処理器
の第１の好ましい実施態様の電気的ブロック設計図であ
る。

【図８】図４のシステムで収集された減衰データおよび
画像再構成法の図式的説明図である。

【図９】図５のデータ収集系の部分を形成する前処理器
の第２の好ましい実施態様の電気的ブロック設計図であ
る。

【図１０】慣用のシステムと本発明を使用するシステム
でビーム厚さがどのように境界付けられるのかを示して
いるＸ線ビーム進行の図式的説明図である。

【符号の説明】

４１〜４９・・・サブ要素、５１・・・フィルター、５
２・・・前増幅器回路５３・・・対数化回路、５４、５５・・・増幅器。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】開口部を通過するＸ線ビームを発生させる
手段；厚いＸ線ビームを捕捉するように装着され且つ、
ビームの厚さ方向に沿って配置されて、１組の薄スライ
ス減衰信号を発生させる対応する組の検出器サブ要素を
含む検出器手段；ａ）各薄スライス減衰信号を受け、その対応する組の対
数化された薄スライス減衰信号を発生させる対数化手段
と、ｂ）別々の対数化された薄スライス減衰信号を集計して
厚スライス減衰信号を発生させる手段とを含む前処理器
手段；及び厚スライス減衰信号を受けそしてその信号を
使用して画像を生じさせる画像再構成手段、からなるＸ線ＣＴスキャナー。
【請求項２】厚いＸ線ビームがファンビームであり、検
出器手段がファンビームの面内に配置された複数の検出
器要素を含みそして各検出器要素が１組の上記検出器サ
ブ要素からなる請求項１に記載のＸ線ＣＴスキャナー。
【請求項３】各検出器要素用に別々の前処理器がありそ
して各前処理器手段が検出器要素のサブ要素によっても
たらされる別々の薄スライス減衰信号の対数を集計して
別々の厚スライス減衰信号を発生させる請求項２に記載
のＸ線ＣＴスキャナー。
【請求項４】前処理器手段が、別々の薄スライス減衰信
号を集計して厚スライス減衰信号を形成させる前に別々
の薄スライス減衰信号を重み付けする手段を含む請求項
１に記載のＸ線ＣＴスキャナー。
【請求項５】別々の対数化した薄スライス減衰信号を集
計する手段が複数の厚スライス減衰信号を発生させ、そ
して画像再構成手段が対応する複数の画像を生じさせる
請求項１に記載のＸ線ＣＴスキャナー。