JPH07239378A

JPH07239378A - 不要信号抑圧装置

Info

Publication number: JPH07239378A
Application number: JP6029475A
Authority: JP
Inventors: Yasuhiro Harasawa; 康弘原沢; Tetsuo Kirimoto; 哲郎桐本; Hideaki Yoshikura; 秀明吉倉
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1994-02-28
Filing date: 1994-02-28
Publication date: 1995-09-12

Abstract

(57)【要約】【目的】複数回のビーム走査（スキャン）により適応
処理に使用する受信信号データのサンプル数を増加し、
不要信号の抑圧性能を向上させた不要信号抑圧装置を得
ることを目的とする。【構成】受信信号を入力とするノッチフィルタ８、及
びビームスキャン毎に反射係数を求める反射係数計算手
段９と、複数回のビームスキャンで得られるデータを記
憶して出力するタイミングを制御するスキャンデータ制
御手段７１と、上記スキャンデータの中央値を求めて出
力するメディアンフィルタ１３ｂと、メディアンフィル
タ出力からクラッタの中心周波数を推定する周波数計算
手段６と、推定されたクラッタの中心周波数に基づいて
受信信号中のクラッタを抑圧するフィルタ手段１９とを
備え、上記ノッチフィルタのノッチをクラッタの中心周
波数に移動させて受信するクラッタを抑圧するものであ
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明はフィルタを利用した不
要信号抑圧装置に関し、受信信号のうち目標信号以外の
不要信号（クラッタによる不要反射エコー）を除去する
不要信号抑圧装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、レーダにより受信される不要信号
（クラッタによる不要反射エコー）を除去するための不
要信号抑圧装置として、例えば、渡辺秀明、他：“複数
セグメントＭＥＭを用いたアダプティブクラッタ抑圧装
置”，電子情報通信学会論文誌（Ｂ−１），Ｊ７０−Ｂ
−１，ｐｐ．５１５−５２３（１９８７．４）に開示さ
れたものがある。

【０００３】図３０は、上記文献に示された従来の不要
信号抑圧装置の構成図である。図において、６１ａ，６
１ｂは反射係数計算手段、６０ａ，６０ｂは遅延素子、
６２ａ，６２ｂ，６２ｃ，６２ｄは複素乗算器、６３
ａ，６３ｂ，６３ｃ，６３ｄは複素加算器である。ま
た、Ｘ（ｎ），ｆ^L（ｎ），ｂ^L（ｎ）（ｎ＝１〜３，
Ｌ＝１，２）は各々次式で示される信号のベクトル表現
でありＰ_Lは反射係数である。

【０００４】Ｘ（ｎ）＝［Ｘ₁（ｎ），Ｘ₂（ｎ），・・・，Ｘ_k（ｎ）］^T （１ａ）ｆ^L（ｎ）＝［ｆ₁ ^L（ｎ），ｆ₂ ^L（ｎ），・・・，ｆ_k ^L（ｎ）］^T （１ｂ）ｂ^L（ｎ）＝［ｂ₁ ^L（ｎ），ｂ₂ ^L（ｎ），・・・，ｂ_k ^L（ｎ）］^T （１ｃ）Ｐ_L ＝ｄｉａｇ［ρ₁ ^L，ρ₂ ^L，・・・， ρ_k ^L］（１ｄ）但し、Ｔは転置を表し、ｄｉａｇ［〜］は対角行列を表
す。

【０００５】レーダでは図３１に示すように、捜索する
範囲に対してアンテナ５３を回転させたり、あるいは電
子的にビームを走査（スキャン）して各方位からのエコ
ー５２を受信する。アンテナで受信された一連の受信電
波は、位相検波されベースバンドの受信信号に変換され
た後、標本化、量子化されてディジタル信号に変換され
る。このディジタル信号は受信電波の位相を保持してお
り、いわゆるＩ信号（Ｉｎ−ｐｈａｓｅ）、Ｑ信号（ｑ
ｕａｄｒａｔｕｒｅ−ｐｈａｓｅ）を夫々実部、虚部に
持つ複素信号である。信号の標本化は全ての受信信号に
対して同じタイミングで行われる。即ち、送信信号を送
信した時点より一定時間遅れた後、一定周期で標本化が
行われ、１つの受信信号からはＸ₁（ｎ），Ｘ
₂（ｎ），・・・，Ｘ_k（ｎ）で示される総数ｋ個のデ
ィジタル信号が生成される。ここでは、ｎをヒット番号
と呼び、ｋは標本化の順番を表すもので以下このｋをレ
ンジビン番号と呼ぶ。以上述べたようなレーダで得られ
たディジタル信号Ｘ（ｎ）がクラッタ抑圧装置の入力信
号として転送される。以下、この信号を入力信号と呼
ぶ。また、数字Ｌは図３０に示すようなラティスフィル
タのステージ番号を表すものである。

【０００６】次に従来装置の動作について、図３０を参
照して説明する。レーダ受信機から転送される入力信号
は、ステージ１のラティスフィルタに入力される。この
とき、入力信号Ｘ（ｎ）は式（２ａ），（２ｂ）に示さ
れるように、前向予測誤差信号ベクトルｆ⁰（ｎ）、後
向予測誤差信号ベクトルｂ⁰（ｎ）として用いられる。

【０００７】ｆ⁰（ｎ）＝Ｘ（ｎ）（２ａ）ｂ⁰（ｎ）＝Ｘ（ｎ）（２ｂ）

【０００８】ステージ１のラティスフィルタは信号ベク
トルｆ⁰（ｎ），ｂ⁰（ｎ）から式（３ａ），（３ｂ）
により信号ベクトルｆ¹（ｎ），ｂ¹（ｎ）を生成す
る。ｆ¹（ｎ）＝ｆ⁰（ｎ）＋Ｐ₁ｂ⁰（ｎ−１）（３ａ）ｂ¹（ｎ）＝ｂ⁰（ｎ−１）＋Ｐ₁ ^*ｆ⁰（ｎ）（３ｂ）但し、式（３ａ），（３ｂ）の演算において、乗算は複
素乗算器６２ａ，６２ｂで実施され、加算は複素加算器
６３ａ，６３ｂにて実施され、単位遅延は遅延素子６０
ａで実施される。これと同時に、反射係数計算手段６１
ａはｆ⁰（ｎ），ｂ⁰（ｎ）を入力して式（４ａ）に示
されるように反射係数ベクトルＰ₁を計算する。

【０００９】

【数１】

【００１０】式（４ａ）に示される反射係数算出のアル
ゴリズムは、公知のＢｕｒｇ法によるものを応用したも
ので、前向予測誤差ベクトルｆ¹（ｎ）と後向予測誤差
ベクトルｂ¹（ｎ）の平均電力和を最小化するアルゴリ
ズムである。

【００１１】次いでステージ２のラティスフィルタは予
測誤差ベクトルｆ¹（ｎ），ｂ¹（ｎ）を入力して、次
の式（５ａ），（５ｂ）に基づいて信号ベクトルｆ
²（ｎ），ｂ²（ｎ）を生成する。

【００１２】ｆ²（ｎ）＝ｆ¹（ｎ）＋Ｐ₂ｂ¹（ｎ−１）（５ａ）ｂ²（ｎ）＝ｂ¹（ｎ−１）＋Ｐ₂ ^*ｆ¹（ｎ）（５ｂ）

【００１３】式（５ａ），（５ｂ）の演算における乗算
は乗算器６２ｃ，６２ｄで実施され、加算は複素加算器
６３ｃ，６３ｄで実施され、信号ベクトルｂ¹（ｎ）に
施される単位遅延は遅延演算子６０ｂで実施される。こ
れと同時に反射係数計算手段２１ｂは、ｆ¹（ｎ），ｂ
¹（ｎ）を入力して、式（５ａ），（５ｂ）に必要な反
射係数ベクトルＰ₂を以下の式（６ａ），（６ｂ）に基
づいて生成する。

【００１４】

【数２】

【００１５】式（５ａ），（５ｂ）に示される反射係数
Ｐ₂算出のアルゴリズムは、式（４ａ），（４ｂ）同様
Ｂｕｒｇ法によるものである。最後にステージ２の予測
誤差信号ベクトルｆ²（３）がクラッタ抑圧装置の出力
信号として外部に取り出される。このように各ステージ
のラティスフィルタの出力信号電力が最小になるように
反射係数が計算されるので、受信信号中のクラッタの電
力が極力小さくなるように本装置は動作する。尚、図３
０はラティスフィルタが２段の場合の例であるが、一般
にラティスフィルタを縦続接続することで段数は任意に
設定できる。

【００１６】以上説明したように、従来のクラッタ抑圧
装置は、１回のビームスキャン毎に得られる受信信号Ｘ
（ｎ）から逐次予測誤差信号、及び後向き予測誤差を生
成しつつ、出力信号の平均電力を最小化することによっ
て入力信号に含まれるクラッタを消去しようとするもの
である。

【００１７】

【発明が解決しようとする課題】従来の不要信号抑圧装
置は、以上のように構成されていて、短時間に広範囲に
ビームをスキャンするレーダに適用するような場合、目
標を検出するのに、一般に、短時間で機械的に送受のア
ンテナを回転させたり、あるいは電子的にビームのスキ
ャンを行っているため、各方位に対して送信することの
できるパルスの数、即ちパルスヒット数が非常に少なく
なってしまう。従って、広範囲の距離に存在し、ドップ
ラ周波数が未知であるようなクラッタを適応フィルタを
用いて抑圧しようとすると、使用できるデータ数（パル
スヒット数）が適応アルゴリズムを収束させるのに十分
ではないために、図３２に示すようにクラッタに対して
自動的に形成されるフィルタ特性が最適特性から外れて
（ノッチが浅くなったり、ノッチ周波数がクラッタの中
心周波数からずれる）、クラッタの消え残りが多数発生
するという課題があった。

【００１８】この発明は上記のような課題を解消するた
めになされたもので、複数回のビーム走査（スキャン）
により適応処理に使用する受信信号データのサンプル数
を増加し、不要信号の抑圧性能を向上させた不要信号抑
圧装置を得ることを目的とする。

【００１９】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項１に係わる発明の不要信号抑圧装置は、以
下の要素を備え、複数回のビームスキャンで得られる受
信信号を用いてクラッタ電力スペクトルの推定精度を高
め、不要信号の抑圧性能を向上させたものである。（ａ）受信信号を入力とする縦続接続されたラチスフィ
ルタ、（ｂ）上記ラチスフィルタの入力信号を２分岐し
て入力としビームスキャン毎に夫々反射係数の分母要素
と分子要素とを求める計算手段、（ｃ）上記反射係数の
分母要素と分子要素とを夫々ビームスキャン毎に記憶処
理するスキャンデータ制御手段、（ｄ）上記記憶する反
射係数の分母要素と分子要素夫々についてスキャン間の
統計的平均値を求め、反射係数を求める平均化手段。

【００２０】また、請求項２に係わる発明の不要信号抑
圧装置は、請求項１記載の不要信号抑圧装置における平
均化手段として、ビームスキャン毎に記憶する反射係数
の分母要素と分子要素夫々を入力とし、スキャン間で最
大値と最小値を除外して平均値をとり反射係数を求める
平均化手段を備えた、もしくはスキャン間で中央値を代
表値としてとり反射係数を求める平均化手段を備えたも
のである。

【００２１】また、請求項３に係わる発明の不要信号抑
圧装置は、請求項１記載の不要信号抑圧装置にラチスフ
ィルタの出力信号電力における不要信号抑圧量を評価パ
ラメータにして、複数回のスキャンによる時間経過中の
不適当なデータを排除するスイッチ制御手段を備えたも
のである。

【００２２】また、請求項４に係わる発明の不要信号抑
圧装置は、以下の要素を備え、複数回のビームスキャン
で得られる受信信号を用いてクラッタ電力スペクトルの
推定精度を高め、不要信号の抑圧性能を向上させたもの
である。（ａ）受信信号を入力とする縦続接続されたラチスフィ
ルタ、（ｂ）上記ラチスフィルタの入力信号を入力とし
ビームスキャン毎に夫々反射係数を求める計算手段、
（ｃ）上記反射係数をビームスキャン毎に記憶処理する
スキャンデータ制御手段、（ｄ）上記記憶する反射係数
についてスキャン間の統計的平均値を求める平均化手
段。

【００２３】また、請求項５に係わる発明の不要信号抑
圧装置は、請求項４記載の不要信号抑圧装置における平
均化手段として、ビームスキャン毎に記憶する反射係数
を入力とし、スキャン間で最大値と最小値とを除外して
平均値をとる平均化手段を備えた、もしくはスキャン間
で中央値を代表値としてとる平均化手段を備えたもので
ある。

【００２４】また、請求項６に係わる発明の不要信号抑
圧装置は、請求項４記載の不要信号抑圧装置にラチスフ
ィルタの出力信号電力における不要信号抑圧量を評価パ
ラメータにして、複数回のスキャンによる時間経過中の
不適当なデータを排除するスイッチ制御手段を備えたも
のである。

【００２５】また、請求項７に係わる発明の不要信号抑
圧装置は、以下の要素を備え、複数回のビームスキャン
で得られる受信信号を用いてクラッタの中心周波数の推
定精度を高め、不要信号の抑圧性能を向上させたもので
ある。（ａ）受信信号を入力とする予め振幅特性が決まってい
るノッチフィルタ、（ｂ）上記受信信号を２分岐して入
力としビームスキャン毎に夫々反射係数の分母要素と分
子要素とを求める計算手段、（ｃ）上記反射係数の分母
要素と分子要素とを夫々ビームスキャン毎に記憶処理す
るスキャンデータ制御手段、（ｄ）上記記憶する反射係
数の分母要素と分子要素夫々についてスキャン間の統計
的平均値を求め、反射係数を求める平均化手段、（ｅ）
上記反射係数に基づいてクラッタの中心周波数を推定す
る周波数計算手段、（ｆ）上記推定したクラッタの中心
周波数に基づいて、ノッチフィルタの荷重を調整するフ
ィルタ荷重計算手段。

【００２６】また、請求項８に係わる発明の不要信号抑
圧装置は、請求項７記載の不要信号抑圧装置における平
均化手段として、ビームスキャン毎に記憶する反射係数
の分母要素と分子要素夫々を入力とし、スキャン間で最
大値と最小値とを除外して平均値をとる平均化手段、も
しくはスキャン間で中央値を代表値としてとる平均化手
段を備えたものである。

【００２７】また、請求項９に係わる発明の不要信号抑
圧装置は、請求項７記載の不要信号抑圧装置に推定した
クラッタの中心周波数の分散値をパラメータにして、複
数回のスキャンによる時間経過中の不要信号抑圧に不適
当なデータを排除するスイッチ制御手段を備えたもので
ある。

【００２８】また、請求項１０に係わる発明の不要信号
抑圧装置は、以下の要素を備え、複数回のビームスキャ
ンで得られる受信信号を用いてクラッタの中心周波数の
推定精度を高め、不要信号の抑圧性能を向上させたもの
である。（ａ）受信信号を入力とする予め振幅特性が決まってい
るノッチフィルタ、（ｂ）上記受信信号を入力としビー
ムスキャン毎に夫々反射係数を求める計算手段、（ｃ）
上記反射係数をビームスキャン毎に記憶処理するスキャ
ンデータ制御手段、（ｄ）上記記憶する反射係数につい
てスキャン間の統計的平均値を求める平均化手段、
（ｅ）上記平均反射係数に基づいてクラッタの中心周波
数を推定する周波数計算手段、（ｆ）上記推定したクラ
ッタの中心周波数に基づいて、ノッチフィルタの荷重を
調整するフィルタ荷重計算手段。

【００２９】また、請求項１１に係わる発明の不要信号
抑圧装置は、請求項１０記載の不要信号抑圧装置におけ
る平均化手段として、ビームスキャン毎に記憶する反射
係数を入力とし、スキャン間で最大値と最小値を除外し
て平均値をとる平均化手段、もしくはスキャン間で中央
値を代表値としてとる平均化手段を備えたものである。

【００３０】また、請求項１２に係わる発明の不要信号
抑圧装置は、請求項１０記載の不要信号抑圧装置に推定
したクラッタの中心周波数の分散値をパラメータにし
て、複数回のスキャンによる時間経過中の不要信号抑圧
に不適当なデータを排除するスイッチ制御手段を備えた
ものである。

【００３１】また、請求項１３に係わる発明の不要信号
抑圧装置は、以下の要素を備え、複数回のビームスキャ
ンで得られる受信信号を用いてクラッタの中心周波数の
推定精度を高め、不要信号の抑圧性能を向上させたもの
である。（ａ）受信信号を入力する予め振幅特性が決まっている
ノッチフィルタ、（ｂ）上記受信信号を入力としビーム
スキャン毎に夫々反射係数を求める計算手段、（ｃ）上
記反射係数に基づいてクラッタの中心周波数を推定する
周波数計算手段、（ｄ）上記推定したクラッタの中心周
波数をビームスキャン毎に記憶処理するスキャンデータ
制御手段、（ｅ）上記記憶するクラッタの中心周波数に
ついてスキャン間の統計的平均値を求める平均化手段、
（ｆ）上記推定したクラッタの中心周波数のスキャン間
の平均値に基づいて、ノッチフィルタの荷重を調整する
フィルタ荷重計算手段。

【００３２】また、請求項１４に係わる発明の不要信号
抑圧装置は、請求項１３記載の不要信号抑圧装置におけ
る平均化手段として、ビームスキャン毎に記憶する推定
したクラッタの中心周波数を入力とし、スキャン間で最
大値と最小値を除外して平均値をとる平均化手段、もし
くはスキャン間で中央値を代表値としてとる平均化手段
を備えたものである。

【００３３】また、請求項１５に係わる発明の不要信号
抑圧装置は、請求項１３記載の不要信号抑圧装置に推定
したクラッタの中心周波数の分散値をパラメータにし
て、複数回のスキャンによる時間経過中の不要信号抑圧
に不適当なデータを排除するスイッチ制御手段を備えた
ものである。

【００３４】

【作用】以上のように構成された請求項１に係わる発明
の不要信号抑圧装置では、複数回のビームスキャンで得
られる受信信号を用いて、ビームスキャン毎に求めた反
射係数の分母要素と分子要素夫々について、スキャン間
で統計的平均操作を行って反射係数を求めることによ
り、クラッタ電力スペクトルの推定精度を高めることが
できる。

【００３５】また、請求項２に係わる発明の不要信号抑
圧装置では、請求項１に係わる発明のスキャン間の統計
的平均操作として、ビームスキャン毎に求めた反射係数
の分母要素と分子要素夫々について、スキャン間で最大
値と最小値を除外して平均値をとり反射係数を求めるこ
とにより、もしくはスキャン間で中央値を代表値として
とり反射係数を求めることにより、クラッタ電力スペク
トルの推定精度を高めることができる。

【００３６】また、請求項３に係わる発明の不要信号抑
圧装置では、請求項１に係わる発明の作用に加えて、ラ
ティスフィルタの出力信号電力における不要信号抑圧量
をパラメータにして、スキャンによる時間経過中に不要
信号抑圧に不適当なデータを排除することにより、異な
るスキャン間で一部のクラッタ電力スペクトルが突発的
に変動した場合でもクラッタ電力スペクトルの推定精度
を保つことができる。

【００３７】また、請求項４に係わる発明の不要信号抑
圧装置では、複数回のビームスキャンで得られる受信信
号を用いて、ビームスキャン毎に求めた反射係数につい
て、スキャン間で統計的平均操作を行うことにより、ク
ラッタ電力スペクトルの推定精度を高めることができ
る。

【００３８】また、請求項５に係わる発明の不要信号抑
圧装置では、請求項４に係わる発明のスキャン間の統計
的平均操作として、ビームスキャン毎に求めた反射係数
について、スキャン間で最大値と最小値を除外して平均
値をとることにより、もしくはスキャン間で中央値を代
表値としてとることにより、クラッタ電力スペクトルの
推定精度を高めることができる。

【００３９】また、請求項６に係わる発明の不要信号抑
圧装置では、請求項４に係わる発明の作用に加えて、ラ
ティスフィルタの出力信号電力における不要信号抑圧量
をパラメータにして、スキャンによる時間経過中に不要
信号抑圧に不適当なデータを排除することにより、異な
るスキャン間で一部のクラッタ電力スペクトルが突発的
に変動した場合でもクラッタ電力スペクトルの推定精度
を保つことができる。

【００４０】また、請求項７に係わる発明の不要信号抑
圧装置では、複数回のビームスキャンで得られる受信信
号を用いて、ビームスキャン毎に求めた反射係数の分母
要素と分子要素夫々について、スキャン間で統計的平均
操作を行い、平均反射係数を求めて、それに基づいてク
ラッタの中心周波数を推定することにより、クラッタの
中心周波数の推定精度を高めることができる。

【００４１】また、請求項８に係わる発明の不要信号抑
圧装置では、請求項７に係わる発明のスキャン間の統計
的平均操作として、ビームスキャン毎に求めた反射係数
の分母要素と分子要素夫々について、スキャン間で最大
値と最小値を除外して平均値を求め、もしくはスキャン
間で中央値を代表値として求めて、平均反射係数を求
め、それに基づいてクラッタの中心周波数を推定するこ
とにより、クラッタの中心周波数の推定精度を高めるこ
とができる。

【００４２】また、請求項９に係わる発明の不要信号抑
圧装置では、請求項７に係わる発明の作用に加えて、推
定したクラッタの中心周波数の分散値をパラメータにし
て、スキャンによる時間経過中に不要信号抑圧に不適当
なデータを排除することにより、異なるスキャン間で一
部の不要信号の中心周波数が突発的に変動した場合でも
クラッタの中心周波数の推定精度を保つことができる。

【００４３】また、請求項１０に係わる発明の不要信号
抑圧装置では、複数回のビームスキャンで得られる受信
信号を用いて、ビームスキャン毎に求めた反射係数につ
いて、スキャン間で統計的平均操作を行い、平均反射係
数を求めて、それに基づいてクラッタの中心周波数を推
定することにより、クラッタの中心周波数の推定精度を
高めることができる。

【００４４】また、請求項１１に係わる発明の不要信号
抑圧装置では、請求項１０に係わる発明のスキャン間の
統計的平均操作として、ビームスキャン毎に求めた反射
係数について、スキャン間で最大値と最小値を除外して
平均値を求め、もしくはスキャン間で中央値を代表値と
して求めて、それに基づいてクラッタの中心周波数の推
定することにより、クラッタの中心周波数の推定精度を
高めることができる。

【００４５】また、請求項１２に係わる発明の不要信号
抑圧装置では、請求項１０に係わる発明の作用に加え
て、推定したクラッタの中心周波数の分散値をパラメー
タにして、スキャンによる時間経過中に不要信号抑圧に
不適当なデータを排除することにより、異なるスキャン
間で一部の不要信号の中心周波数が突発的に変動した場
合でもクラッタの中心周波数の推定精度を保つことがで
きる。

【００４６】また、請求項１３に係わる発明の不要信号
抑圧装置では、複数回のビームスキャンで得られる受信
信号を用いて、反射係数を算出し、ビームスキャン毎に
上記反射係数に基づいて推定したクラッタの中心周波数
を求め、スキャン間で統計的平均操作を行うことによ
り、クラッタの中心周波数の推定精度を高めることがで
きる。

【００４７】また、請求項１４に係わる発明の不要信号
抑圧装置では、請求項１３に係わる発明のスキャン間の
統計的平均操作として、ビームスキャン毎に求めた反射
係数に基づいて推定したクラッタの中心周波数につい
て、スキャン間で最大値と最小値を除外して平均値を求
め、もしくはスキャン間で中央値を代表値として求める
ことにより、クラッタの中心周波数の推定精度を高める
ことができる。

【００４８】また、請求項１５に係わる発明の不要信号
抑圧装置では、請求項１３に係わる発明の作用に加え
て、推定したクラッタの中心周波数の分散値をパラメー
タにして、スキャンによる時間経過中に不要信号抑圧に
不適当なデータを排除することにより、異なるスキャン
間で一部のクラッタの中心周波数が突発的に変動した場
合でも不要信号の中心周波数の推定精度を保つことがで
きる。

【００４９】

【実施例】

実施例１．以下、この発明の実施例１を図を参照して説
明する。図中、従来例と同一または同等部分は同一符号
を付し重複説明を省く。図２に示すようなラティスフィ
ルタを縦続接続する段数は任意に設定できるが、図１で
は冗長な説明を省くために、ラティスフィルタを２段縦
続接続した場合について記載している。図１において、
５５ａ，５５ｂは反射係数の分母部分を求める反射係数
分母計算手段、５６ａ，５６ｂは分子部分を求める反射
係数分子計算手段、３ａ，３ｂはビームのスキャン回数
をカウントして記憶手段に転送し、また所定のスキャン
回数になったら記憶手段のデータを出力させるスキャン
カウンタ、２ａ，２ｃは夫々スキャン毎に反射係数分母
計算手段５５ａ，５５ｂの出力を記憶する記憶手段、２
ｂ，２ｄは夫々スキャン毎に反射係数分子計算手段５６
ａ，５６ｂの出力を記憶する記憶手段、４ａ，４ｂ，４
ｃ，４ｄは夫々記憶手段２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄの出力
を加算する加算器、５ａは加算器４ｂの出力を加算器４
ａの出力で割る除算器、５ｂは加算器４ｄの出力を加算
器４ｃの出力で割る除算器、５０ａ，５０ｂは夫々除算
器５ａ，５ｂの出力に基づいて受信信号中のクラッタを
抑圧するラティスフィルタである。ここで、上記スキャ
ンカウンタと記憶手段を有してスキャンデータ制御手段
７０ａ，７０ｂを構成し、上記加算器と除算器を有して
平均化手段を構成している。

【００５０】レーダ受信機から転送される信号は分岐さ
れ、夫々前向予測誤差信号、後向予測誤差信号としてラ
ティスフィルタ５０ａに入力し、反射係数分母計算手段
５５ａ、反射係数分子計算手段５６ａに転送する。反射
係数分母計算手段５５ａ、反射係数分子計算手段５６ａ
では夫々式（７ａ），（７ｂ）を初期値とし、式（８
ａ），（８ｂ）の演算が行われる。

【００５１】

【数３】

【００５２】これらの計算結果は夫々記憶手段２ａ，２
ｂに転送され、スキャンカウンタ３ａより転送されるス
キャン番号ｍに従って記憶される。スキャンカウンタ３
ａはビームを走査した回数即ちスキャン数をカウントし
てその番号を記憶手段に転送し、且つ、このスキャン回
数がレーダオペレータが任意に設定できるスキャンの総
数をＳＭＸとして、それに満たない場合には、記憶手段
２ａ，２ｂからデータを出力せずにホールドするよう制
御する。スキャン回数がＳＭＸに達したときは、記憶手
段２ａ，２ｂに夫々セーブされているスキャン番号が付
けられたデータを加算器４ａ，４ｂに転送して加算す
る。加算器４ａ，４ｂの出力は除算器５ａに転送され、
式（９）の演算が行われて、反射係数が求まる。以上の
処理はスキャン番号ｍが１からＳＭＸのデータに対する
処理であるが、更にＳＭＸ＋１回目のスキャンデータが
得られると、スキャン番号２からスキャン番号ＳＭＸ＋
１のデータに対して同様な処理が行われ、ＳＭＸ＋２回
目のスキャンデータが得られると、スキャン番号３から
スキャン番号ＳＭＸ＋２のデータに対して同様な処理が
行われる、というように、使用されるスキャンデータの
番号は、スキャン回数が１回増すと１増えて常にＳＭＸ
回分のスキャンデータが選択されるように動作する。以
下の全ての実施例においても同様に、選択されるスキャ
ンデータの番号は、スキャン回数が１回増すと１増えて
常にＳＭＸ回分のスキャンデータが使用されるように動
作するが、以下の実施例では説明を簡単にするために、
スキャン番号１からＳＭＸのスキャンデータが得られた
時点までの動作について説明する。

【００５３】

【数４】

【００５４】除算器５ａの出力はラティスフィルタ５０
ａの反射係数として使用され、前向予測誤差信号ｆ
₀（ｍ，ｎ，ｋ）、後向予測誤差信号ｂ₀（ｍ，ｎ，
ｋ）に対して式（１０ａ），（１０ｂ）の演算が行われ
る。

【００５５】

【数５】

【００５６】同様に式（１０ａ），（１０ｂ）により生
成された前向予測誤差信号ｆ₁（ｍ，ｎ，ｋ）、後向予
測誤差信号ｂ₁（ｍ，ｎ，ｋ）を入力信号として、反射
係数分母計算手段５５ｂ、反射係数分子計算手段５６ｂ
では夫々式（１１ａ），（１１ｂ）の演算が行われ、記
憶手段２ｃ，２ｄに記憶される。そして上記タイミング
で記憶手段２ｃ，２ｄのデータは、夫々加算器４ｃ，４
ｄに転送されたのち、除算器５ｂで式（１２）の演算が
行われる。

【００５７】

【数６】

【００５８】除算器５ｂの出力である反射係数は、ラテ
ィスフィルタ５０ｂに適用され、式（１３ａ），（１３
ｂ）の演算により、前向予測誤差信号ｆ₂（ｍ，ｎ，
ｋ）、後向予測誤差信号ｂ₂（ｍ，ｎ，ｋ）が生成され
る。

【００５９】

【数７】

【００６０】図１のようなラティスフィルタを２段縦続
接続させた不要信号抑圧装置であれば、上式で得られる
前向予測誤差信号ｆ₂（ｍ，ｎ，ｋ）が出力信号とな
る。ラティスフィルタをＬ段縦続接続させた不要信号抑
圧装置を考えると、Ｌ段目のラティスフィルタでは、式
（１４ａ），（１４ｂ），（１５）により計算された反
射係数が適用され、式（１６ａ），（１６ｂ）の演算が
行われて出力信号を得ることになる。

【００６１】

【数８】

【００６２】以上のように動作する不要信号抑圧装置で
は、夫々のラティスフィルタの出力である前向予測誤差
信号、後向予測誤差信号の平均電力和を最小にするよう
に反射係数が計算され、且つスキャン間のデータを使用
することで適応アルゴリムの適応精度を高めているの
で、図３に示すように不要信号抑圧装置のフィルタ特性
はクラッタ電力スペクトルの逆フィルタを自動的に形成
することになり、出力信号としてクラッタ成分が抑圧さ
れた信号を得ることができる。

【００６３】実施例２．次に、この発明の実施例２を図
を参照して説明する。図４において、従来例及び上記実
施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複説明を
省く。図４において、上記実施例１と異なるところは、
記憶手段２ａ，２ｂと、２ｃ，２ｄの出力信号を夫々入
力し、除算器５ａ，５ｂに処理結果を転送する最大値最
小値除去平均手段１１ａ，１１ｂと、１１ｃ，１１ｄを
設けた点である。ここで、上記最大値最小値除去平均手
段と除算器を有して平均化手段を構成している。最大値
最小値除去平均手段１１ｂおよび１１ｄの処理ブロック
図を図５に示す。最大値最小値除去平均手段１１ｂ，１
１ｄに入力されるデータは一般に複素数であるので、図
５に示すように、まず入力データが実部と虚部に分離さ
れる。データの総数をＳＭＸとすると、実部虚部分離手
段２１の出力は２×ＳＭＸ個のデータになる。実部、虚
部に分けられたデータ群は、夫々最大値最小値除去手段
２２ａ，２２ｂに転送され、データの大きさが比較され
て最大値と最小値がカットされる。最大値最小値除去手
段２２ａ，２２ｂの（ＳＭＸ−２）個の出力データは、
夫々加算器４ａ，４ｂに転送され、加算される。そして
加算器４ａ，４ｂの出力は複素信号合成手段２３に転送
され、複素信号に変換された後、出力される。一方、最
大値最小値除去平均手段１１ａ，１１ｃに入力されるデ
ータは実数であるので、そのままのデータの大きさが比
較され、最大値最小値が除去された後、加算されて出力
データとなる。また、最大値および最小値が、それらを
除いたデータの平均値とほとんど変わらないような場合
には、それらは除去せずに出力する。以上のように、最
大値最小値除去平均手段を設けることにより、ビームス
キャンの間に推定したクラッタの電力スペクトルが他物
体等のエコーにより一時的に大きく変動したような場合
でも、例えば図７に示すように、他のスキャンで得られ
た反射係数の平均値から大きく外れた一部の反射係数
（図中のＸ，Ｙ）の情報は加算されないので、このよう
な状況においてもクラッタ電力スペクトル推定精度が確
保できる。

【００６４】実施例３．次に、この発明の実施例３を図
を参照して説明する。図７において、従来例及び上記実
施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複説明を
省く。図７において、上記実施例２と異なるところは、
記憶手段２ａ，２ｂおよび２ｃ，２ｄの出力信号を夫々
入力し、除算器５ａ，５ｂに処理結果を転送するメディ
アンフィルタ１３ａ，１３ｂおよび１３ｃ，１３ｄを設
けた点である。ここで、上記メディアンフィルタと除算
器とを有して平均化手段を構成している。メディアンフ
ィルタ１３ｂまたは１３ｄの処理ブロック図を図８に示
す。メディアンフィルタ１３ｂに入力されるデータは一
般に複素数であるので、図８に示すように、まず入力デ
ータが実部虚部分離手段２１により実部と虚部に分離さ
れる。データの総数をＳＭＸとすると、実部虚部分離手
段２１の出力は２×ＳＭＸ個のデータになる。実部、虚
部に分けられたデータ群は、夫々ソート手段２４ａ，２
４ｂに転送され、データが大きさの順に整列される。ソ
ート手段２４ａ，２４ｂの出力は夫々、中央値選択手段
２５ａ，２５ｂに転送され、丁度中央の順位に位置する
データが出力される。そして中央値選択手段２５ａ，２
５ｂの出力は、複素信号合成手段２３に転送され、複素
データに変換された後、出力される。一方、メディアン
フィルタ１３ａ，１３ｃに入力されるデータは実数であ
るので、図８における実部だけの処理と等価であるから
説明は省略する。以上のように、メディアンフィルタ１
３ａ〜１３ｄを設けることにより、ビームスキャンの間
に推定したクラッタの電力スペクトルが他物体等のエコ
ーにより一時的に大きく変動したような場合でも、上記
実施例２と同等な効果が得られ、他のスキャンで得られ
たデータの平均値から大きく外れたものの情報を排除で
きるので、このような状況においてもクラッタ電力スペ
クトルの推定精度が確保できる。

【００６５】実施例４．次に、この発明の実施例４を図
を参照して説明する。図９において、従来例及び上記実
施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複説明を
省く。図９において、上記実施例１，２，３と異なると
ころは、記憶手段２ａ，２ｂおよび２ｃ，２ｄの出力信
号を、転送された制御信号に従って夫々選択して加算器
４ａ，４ｂおよび４ｃ，４ｄに転送するスイッチ１４
ａ，１４ｂおよび１４ｃ，１４ｄ、ラティスフィルタ５
０ａ，５０ｂの出力信号を入力し、スキャン毎に計算し
た電力値を求め、メモリに記憶しておいた以前のスキャ
ンでの電力値とを比較し、スイッチの切り替え制御信号
をスイッチ１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄに転送する
スイッチ制御手段５８ａ，５８ｂを設けた点とスキャン
カウンタから転送される制御信号に従って記憶手段のデ
ータをスイッチに転送するタイミングを変更した点であ
る。まず、ステージ１のラティスフィルタに関して動作
を説明する。本実施例４では、まずスイッチ１４ａ，１
４ｂはスキャン１で得られるデータのチャンネルに対応
するスイッチのみＯＮにしておく。この状態で、除算器
５ａの出力である反射係数を求めてラティスフィルタ５
０ａに転送し、受信信号を処理する。スイッチ制御手段
５８ａでは、ラティスフィルタ５０ａの出力信号である
前向予測誤差信号と後向予測誤差信号が入力され、電力
値が計算されメモリ等に記憶される。次いで、スキャン
２のデータが得られた後、スイッチ１４ａ，１４ｂはス
キャン１とスキャン２のデータに対応するスイッチだけ
ＯＮにしておく。この状態で処理を行うと、スキャン１
とスキャン２のデータに対してスキャン間平均が行われ
ることになる。以降スキャン３，４，〜ＳＭＸまでのデ
ータが得られる都度、同様な処理が行われる。しかし、
受信信号中には複数回ビーム走査を行っている間に、例
えば天候の急激な変化等によるクラッタ環境の変動によ
り、ある番号のスキャンを境にクラッタの電力スペクト
ルが変化してしまうことが考えられるので、クラッタの
状態が異なるデータ間で平均操作を行ってもクラッタ電
力スペクトルの推定精度は改善されない可能性がある。
そこで、本実施例では、スイッチ制御手段５８ａを設
け、自動的に平均するスキャン数を決定できるようにし
ている。以下、図１０に示すフローチャートに従って、
本実施例の動作について説明する。尚、フローチャート
では、同じ動作を行う手段については区別せずにまとめ
て記述している。

【００６６】まず、ステップ８０，８１において変数と
スイッチの初期化が行われる。次いで、ステップ８２で
は、平均するスキャン数が設定した最大スキャン数を越
えていないかチェックされ、そうでなければステップ８
３においてスキャン番号ｍまでに受信されたデータが記
憶手段２ａ，２ｂからスイッチ１４ａ，１４ｂに転送さ
れる。ステップ８４において、除算器５ａの出力である
反射係数が計算される。この反射係数をラティスフィル
タ５０ａに適用し、ステップ８５において、ラティスフ
ィルタ出力信号電力がスキャン番号ｍ毎に計算される。
ステップ８６において、スキャン数が２以上かどうかを
判定し、２以上の場合はステップ８７〜９１の処理が行
われる。ステップ８７において、データのスキャン間平
均を行うことによって、ラティスフィルタ出力信号電力
が小さくなる、即ちクラッタ電力スペクトルの推定精度
が改善される場合はステップ８８に処理が移されるが、
そうでない場合はステップ８９に処理が移される。スキ
ャン回数が１回増すごとに、つまりスキャン間で平均す
るデータが１スキャン分増すごとにその時点で求められ
るラティスフィルタ出力電力値と１回前のスキャンまで
で得られるラティスフィルタ出力電力値が比較され、ス
キャン間での平均を増すことでラティスフィルタ出力電
力値が大きくなってしまう場合は、ステップ８９におい
て、追加したスキャンデータが使用されないようスイッ
チに制御信号を送って、スキャン番号ｍのスイッチがＯ
ＦＦに切り替えられる。更に、ステップ９０において電
力スペクトル推定精度が悪化するケースがカウントさ
れ、スキャン間平均を行うことによってクラッタ電力ス
ペクトル推定精度が悪化するケースの頻度がチェックさ
れる。ステップ９１において、推定精度が悪化するケー
スが、レーダオペレータが任意に設定できる回数ＮＯＦ
ＦＭＸを越えた時は、クラッタ電力スペクトルがスキャ
ン間でかなり異なるものに変化してしまったと判断さ
れ、以上の処理が一端終了し、全ての変数がリセットさ
れてまた新たに処理が行われることになる。また、ステ
ージ２以降のラティスフィルタに関しても、以上説明し
たステージ１以降のラティスフィルタと同様な処理が行
われる。以上のように、平均するスキャンデータを選択
するスイッチとスイッチを自動的に切り替えるスイッチ
制御手段を新たに設けることにより、平均操作を行うこ
とにより効果が得られるスキャン数が自動的に設定され
るので、時間経過によってクラッタの状態が変化した場
合でもクラッタ電力スペクトルの推定精度が確保でき
る。

【００６７】実施例５．次に、この発明の実施例５を図
を参照して説明する。図１１において、従来例及び上記
実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複説明
を省く。図１１において、５７ａ，５７ｂは反射係数計
算手段、２ｂはスキャン毎に反射係数計算手段の出力を
記憶する記憶手段、４ｂは記憶手段２の出力を加算する
加算器、１０ａ，１０ｂは加算器４ｂの出力を加算した
スキャン数をＳＭＸとして、そのＳＭＸで割る除算器で
ある。ここで、スキャンカウンタ３ａと記憶手段２ｂを
有してスキャンデータ制御手段７１ａ，７１ｂを構成
し、加算器４ｂと除算器１０ａ、もしくは１０ｂを有し
て平均化手段を構成している。

【００６８】レーダ受信機から転送される信号は分岐さ
れ、夫々前向予測誤差信号、後向予測誤差信号としてラ
ティスフィルタ５０ａに入力され、まず反射係数計算手
段５７ａに転送される。反射係数計算手段５７ａでは式
（１７）の演算が行われる。

【００６９】

【数９】

【００７０】この計算結果は記憶手段２ｂに転送され、
スキャンカウンタ３ａより転送されるスキャン番号ｍに
従って記憶される。スキャンカウンタ３ａはビームを走
査した回数即ちスキャン数をカウントしてその番号を記
憶手段に転送し、且つ、このスキャン回数がレーダオペ
レータが任意に設定できるスキャンの総数をＳＭＸとし
て、それに満たない場合には、記憶手段２ｂからデータ
を出力せずにホールドするよう制御する。スキャン回数
がＳＭＸに達したときは、記憶手段２ｂに夫々セーブさ
れているスキャン番号が付けられたデータを加算器４ｂ
に転送して加算する。加算器４ｂの出力は除算器１０ａ
に転送され、式（１８）の演算が行われる。

【００７１】

【数１０】

【００７２】除算器１０ａの出力はラティスフィルタ５
０ａの反射係数として使用され、前向予測誤差信号ｆ₀
（ｍ，ｎ，ｋ），後向予測誤差信号ｂ₀（ｍ，ｎ，ｋ）
に対して式（１０ａ），（１０ｂ）の演算が行われる。
同様に式（１０ａ），（１０ｂ）により生成された前向
予測誤差信号ｆ₁（ｍ，ｎ，ｋ）、後向予測誤差信号ｂ
₁（ｍ，ｎ，ｋ）を入力信号として、反射係数計算手段
５７ｂでは、式（１９）の演算が行われ、記憶手段２ｂ
に記憶される。

【００７３】

【数１１】

【００７４】そして上記タイミングで記憶手段２ｂのデ
ータは、夫々加算器４ｂに転送されたのち、除算器１０
ｂで式（２０）の演算が行われる。除算器１０ｂの出力
である反射係数は、ラティスフィルタ５０ｂに適用さ
れ、式（１３ａ），（１３ｂ）の演算により、前向予測
誤差信号ｆ₂（ｍ，ｎ，ｋ）、後向予測誤差信号ｂ
₂（ｍ，ｎ，ｋ）が生成される。

【００７５】

【数１２】

【００７６】図１のようなラティスフィルタを２段縦続
接続させた不要信号抑圧装置であれば、上式で得られる
前向予測誤差信号ｆ₂（ｍ，ｎ，ｋ）が出力信号とな
る。ラティスフィルタをＬ段縦続接続させた不要信号抑
圧装置を考えると、Ｌ段目のラティスフィルタでは、式
（２１），（２２）により計算された反射係数を適用
し、式（１６ａ），（１６ｂ）の演算が行われて出力信
号を得ることになる。

【００７７】

【数１３】

【００７８】以上のように動作する不要信号抑圧装置で
は、夫々のラティスフィルタの出力である前向予測誤差
信号、後向予測誤差信号の平均電力和を最小にするよう
に反射係数が計算され、且つスキャン間のデータを使用
することで適応アルゴリムの適応精度を高めているの
で、図２に示すように不要信号抑圧装置のフィルタ特性
はクラッタ電力スペクトルの逆フィルタを自動的に形成
することになり、出力信号としてクラッタ成分が抑圧さ
れた信号を得ることができる。以上のように、本実施例
５に係わる発明では、反射係数そのものをスキャン毎に
記憶するので、上記実施例１に比べて必要なメモリ量が
少なくてすむといった利点がある。

【００７９】実施例６．次に、この発明の実施例６を図
を参照して説明する。図１２において、従来例及び上記
実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複説明
を省く。図１２において、上記実施例５と異なるところ
は記憶手段２ｂの出力信号を入力し、ラティスフィルタ
５０ａ，５０ｂに処理結果を転送する最大値最小値除去
平均手段１１ｂを設けた点である。本実施例６では最大
値最小値除去平均手段１１ｂの入力が反射係数であると
ころが上記実施例２と異なるが、最大値最小値除去平均
手段１１ｂは、上記実施例２で説明したように動作する
ので、本実施例においてもビームスキャンの間に推定し
たクラッタの電力スペクトルが他物体等のエコーにより
一時的に大きく変動したような場合でも、クラッタ電力
スペクトルの推定精度が確保できる。

【００８０】実施例７．次に、この発明の実施例７を図
を参照して説明する。図１３において、従来例及び上記
実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複説明
を省く。図１３において、上記実施例６と異なるところ
は、記憶手段２ｂの出力信号を入力し、ラティスフィル
タ５０ａ，５０ｂに処理結果を転送するメディアンフィ
ルタ１３ｂを設けた点である。本実施例ではメディアン
フィルタ１３ｂの入力が反射係数であるところが上記実
施例６と異なるが、メディアンフィルタ１３ｂは、上記
実施例３で説明したように動作するので、本実施例にお
いてもビームスキャンの間に推定したクラッタの電力ス
ペクトルが他物体等のエコーにより一時的に大きく変動
したような場合でも、上記実施例３と同等な効果が得ら
れ、他のスキャンで得られたデータの平均値から大きく
外れた反射係数の情報を排除できるので、このような状
況においてもクラッタ電力スペクトルの推定精度が確保
できる。

【００８１】実施例８．次に、この発明の実施例８を図
を参照して説明する。図１４において、従来例及び上記
実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複説明
を省く。図１４において、上記実施例５，６，７と異な
るところは、記憶手段２から転送される信号を選択して
夫々加算器４ａ，４ｂに転送するスイッチ１４ａ，１４
ｂ、加算器４ａ，４ｂの出力信号の平均値を求める除算
器１７ａ，１７ｂ、ラティスフィルタ５０ａ，５０ｂの
出力信号を入力し、スキャン毎に計算した電力値を求
め、メモリに記憶しておいた以前のスキャンでの電力値
とを比較し、スイッチの切り替え制御信号をスイッチ１
４ａ，１４ｂおよび除算器１７ａ，１７ｂに転送するス
イッチ制御手段５８ａ，５８ｂを設けた点と、スキャン
カウンタから転送される制御信号に従って記憶手段のデ
ータをスイッチに転送するタイミングを変更した点であ
る。本実施例は、実施例４と同様に平均するスキャンデ
ータを選択するスイッチとスイッチを自動的に切り替え
るスイッチ制御手段を新たに設けることにより、平均操
作を行うことにより効果が得られるスキャン数が自動的
に設定されるので、時間経過によってクラッタの状態が
変化した場合でもクラッタ電力スペクトルの推定精度が
確保できる。実施例４との違いは、スキャン間で平均す
るデータが反射係数そのものであるので、スイッチで選
択されたスキャンデータチャンネルの数Ｍで、スキャン
間の反射係数加算後に除算を行う点である。更に、反射
係数そのものをスキャン毎に記憶するので、上記実施例
４に比べて必要なメモリ量が少なくてすむといった利点
がある。

【００８２】実施例９．次に、この発明の実施例９を図
を参照して説明する。図１５において、従来例と同一ま
たは同等部分は同一符号を付し重複説明を省く。実施例
１〜８と異なる点は、適応精度を更に向上させるため、
ノッチの深さと周波数とを調整するラティスフィルタで
なく、振幅特性が予め決まっているノッチフィルタを用
意し、クラッタの中心周波数のみを推定してその周波数
にノッチ周波数を移動させることでクラッタを抑圧する
クラッタ抑圧装置をベースにしているところである。図
１５において、１ａ，１ｂは夫々反射係数の分母部分、
分子部分を求める反射係数分母計算手段、反射係数分子
計算手段、３はビームのスキャン回数をカウントして記
憶手段に転送し、また所定のスキャン回数になったら記
憶手段のデータを出力させるスキャンカウンタ、２ａ，
２ｂは夫々スキャン毎に反射係数分母計算手段１ａ、反
射係数分子計算手段１ｂの出力を記憶する記憶手段、４
ａ，４ｂは夫々記憶手段２ａ，２ｂの出力を加算する加
算器、５は加算器４ｂの出力を加算器４ａの出力で割る
除算器、６は除算器５の出力の位相からクラッタの中心
周波数を求める周波数計算手段、７はノッチフィルタの
ノッチ周波数がクラッタ中心周波数に一致するように周
波数計算手段６から転送される周波数を用いて予め設計
されたノッチフィルタの荷重を調整するフィルタ荷重計
算手段、８はフィルタ荷重計算手段より転送される荷重
を用いて受信信号を処理するノッチフィルタである。こ
こで、上記スキャンカウンタ３と記憶手段２ａ，２ｂを
有してスキャン制御手段７０を構成し、加算器４ａ，４
ｂと除算器５を有して平均化手段を構成している。

【００８３】レーダ受信機から転送される信号は、クラ
ッタパラメータを推定するため分岐され、反射係数分母
計算手段１ａ、反射係数分子計算手段１ｂに転送され
る。反射係数分母計算手段１ａ、反射係数分子計算手段
１ｂでは夫々式（２３ａ），（２３ｂ）の演算が行われ
る。

【００８４】

【数１４】

【００８５】これらの計算結果は夫々記憶手段２ａ，２
ｂに転送され、スキャンカウンタより転送されるスキャ
ン番号に従って記憶される。スキャンカウンタ３はビー
ムを走査又はアンテナを回転させた回数即ちスキャン数
をカウントしてその番号を記憶手段に転送しかつ、この
スキャン回数がレーダオペレータが任意に設定できるス
キャンの総数ＳＭＸに満たない場合には、記憶手段２
ａ，２ｂからデータを出力せずにホールドするよう制御
する。スキャン回数がＳＭＸに達したときは、記憶手段
２ａ，２ｂに夫々セーブされているスキャン番号が付け
られたデータを加算器４ａ，４ｂに転送して加算する。
加算器４ａ，４ｂの出力は除算器５に転送され、式（２
４）の演算が行われる。

【００８６】

【数１５】

【００８７】除算器５の出力は周波数計算手段６に転送
され、式（２５）の演算によりクラッタの中心周波数が
推定される。ｆ_c（ｋ）＝｛ｔａｎ^-1（Ｑρ／Ｉρ）｝／２π （２５）但し、Ｑρ：ρ_SMX（ｋ）の虚部Ｉρ：ρ_SMX（ｋ）の実部

【００８８】さて、ここで以上説明したクラッタ中心周
波数推定原理について説明しておくクラッタ中心周波数
推定方法の原理を解析的に説明するために、スキャン間
の平均操作をパルスヒット間の平均操作に置き換え、受
信信号ｘ_k（ｎ）が次式の数学モデルで与えられるとす
る。ｘ_k（ｎ）＝Ｓ・ｅｘｐ［ｊ２πｆ_sｎ］・Δｋ₀，ｋ＋Ｃ（ｋ）・［ｊ２πｆ_cｎ］＋ｅ（ｎ）（２６）但し、Ｃ（ｋ）：複素ガウス信号（クラッタ）Ｓ：目標信号振幅 Δｋ₀，ｋ：クロネッカのデルタ記号ｅ（ｎ）：複素ガウス信号（受信機雑音）ｆ_s：目標信号周波数ｆ_c：クラッタ中心周波数ｋ：レンジビン番号ｎ：ヒット番号Ｂｕｒｇの方法に基いてラティス反射係数ρ_kを計算す
ると式（２７）で表せられる。

【００８９】

【数１６】

【００９０】但し、Ｅ［］はデータが、無限に得られ
た場合の平均演算を示す。ここで、式（２６）を式（２
７）に代入し、目標信号、クラッタ、受信機雑音は互い
に統計的に独立であることを考慮すると式（２８）が得
られる。

【００９１】

【数１７】

【００９２】更に、目標信号電力、受信機雑音電力はク
ラッタ電力に比較して無視できるとすると式（２８）は
式（２９）の形に近似できる。 ρ_k＝ｅｘｐ［ｊ２πｆ_c］（２９）よって、ラティス反射係数ρ_kを用いて式（３０）の演
算を行うことで、クラッタの中心周波数が推定できる。ｆ_c（ｋ）＝｛ｔａｎ^-1（Ｑρ_k／Ｉρ_k）｝／２π （３０）但し、Ｑρ_k：ρ_kの虚部Ｉρ_k：ρ_kの実部捜索レーダでは、結局式（２７）の平均演算に用いるデ
ータが極端に少ないためにクラッタ中心周波数の推定精
度が確保できないので、本実施例ではその代替として、
スキャン間のデータで平均操作を行っている。複数のス
キャンで得られるデータブロックとデータブロックの間
隔は、ビーム走査に要する時間だけ間隔があいているた
め、連続したパルスヒット数が多数得られるような場合
とは等価にはならないが、嵐の中で受信される海面から
の不要エコー（シークラッタ）や雨、雲等からの不要エ
コー（ウェザクラッタ）でもない限りクラッタの中心周
波数やゆらぎの度合いがビーム走査中に著しく変化する
とは考えにくいので、連続したパルスヒット数が得られ
るような場合に準ずるクラッタ抑圧性能が得られること
が期待できる。

【００９３】フィルタ荷重計算手段７では、例えば所望
の振幅特性を有するディジタルノッチフィルタの係数か
らノッチフィルタ８に転送するノッチフィルタ荷重を計
算する。一般に、ＦＩＲ(Finite Impulse Response) 型
のノッチフィルタ設計時の係数は実数であり、そのまま
の係数値をノッチフィルタの荷重値として用いると、ノ
ッチフィルタのノッチは図１６のようにクラッタのドッ
プラ周波数から外れた周波数に形成され、クラッタは除
去できない。そこでフィルタ荷重計算手段８では、この
係数値と周波数計算手段６から転送されたクラッタ中心
周波数ｆ₀を用いて、式（３１）に示す演算を行うこと
により、図３に示すようにノッチフィルタのノッチを推
定したクラッタ中心周波数に対して形成するようノッチ
フィルタ荷重を調整する。ａ_i＝ｄ_i・ｅｘｐ［ｊ２πｆ₀・ｉ］（３１）（ｉ＝０，１，・・・，Ｌ）但し、Ｌ：ノッチフィルタ段数、ｄ_i：調整前ノッチフィルタ荷重ａ_i：調整後ノッチフィルタ荷重

【００９４】調整された荷重ａ_iは、ノッチフィルタ８
へ転送される。ノッチフィルタ８（ここではＦＩＲ型フ
ィルタ）では、式（３１）の荷重ａ_iを適用し、受信信
号のフィルタリングを行う。即ち、式（３２）の演算を
行う。

【００９５】

【数１８】

【００９６】式（３２）により、推定したクラッタ中心
周波数近辺のクラッタ成分が除去される。

【００９７】実施例１０．次に、この発明の実施例１０
を図を参照して説明する。図１８において、従来例及び
上記実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複
説明を省く。図１８において、上記実施例９と異なると
ころは、記憶手段２ａ，２ｂの出力信号を入力し、除算
器５に処理結果を転送する最大値最小値除去平均手段１
１ａ，１１ｂを設けた点である。ここで、上記最大値最
小値除去平均手段１１ａ，１１ｂと除算器５を有して平
均化手段を構成している。最大値最小値除去平均手段１
１ｂの処理ブロック図を図５に示す。最大値最小値除去
平均手段１１ｂに入力されるデータは一般に複素数であ
るので、図５に示すように、まず入力データが実部と虚
部に分離される。データの総数をＳＭＸとすると、実部
虚部分離手段２１の出力は２×ＳＭＸ個のデータにな
る。実部、虚部に分けられたデータ群は、夫々最大値最
小値除去手段２２ａ，２２ｂに転送され、データの大き
さが比較されて最大値と最小値がカットされる。最大値
最小値除去手段２２ａ，２２ｂの（ＳＭＸ−２）個の出
力データは、夫々加算器４ａ，４ｂに転送され、加算さ
れる。そして加算器４ａ，４ｂの出力は複素信号合成手
段２３に転送され、複素信号に変換された後、出力され
る。一方、最大値最小値除去平均手段１１ａに入力され
るデータは実数であるので、そのままのデータの大きさ
が比較され、最大値最小値が除去された後、加算されて
出力データとなる。また、最大値および最小値が、それ
らを除いたデータの平均値とほとんど変わらないような
場合には、それらは除去せずに出力する。以上のよう
に、最大値最小値除去平均手段を設けることにより、ビ
ームスキャンの間に推定したクラッタの中心周波数が他
物体等のエコーにより一時的に大きく変動したような場
合でも、例えば図６に示すように、他のスキャンで得ら
れたデータの平均値から大きく外れたもの（図中のＸ，
Ｙ）の情報は加算されないので、このような状況におい
てもクラッタ中心周波数の推定精度が確保できる。

【００９８】実施例１１．次に、この発明の実施例１１
を図を参照して説明する。図１９において、従来例及び
上記実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複
説明を省く。図１９において、上記実施例１０と異なる
ところは、記憶手段２ａ，２ｂの出力信号を入力し、除
算器５に処理結果を転送するメディアンフィルタ１３
ａ，１３ｂを設けた点である。ここで、上記メディアン
フィルタ１３ａ，１３ｂと除算器５を有して平均化手段
を構成している。メディアンフィルタ１３ｂの処理ブロ
ック図を図８に示す。メディアンフィルタ１３ｂに入力
されるデータは一般に複素数であるので、図８に示すよ
うに、まず入力データが実部虚部分離手段２１により実
部と虚部に分離される。データの総数をＳＭＸとする
と、実部虚部分離手段２１の出力は２×ＳＭＸ個のデー
タになる。実部、虚部に分けられたデータ群は、夫々ソ
ート手段２４ａ，２４ｂに転送され、データが大きさの
順に整列される。ソート手段２４ａ，２４ｂの出力は夫
々、中央値選択手段２５ａ，２５ｂに転送され、丁度真
ん中の順位に位置するデータが出力される。そして中央
値選択手段２５ａ，２５ｂの出力は、複素信号合成手段
２３に転送され、複素データに変換された後、出力され
る。一方、メディアンフィルタ１３ａに入力されるデー
タは実数であるので、図８における実部だけの処理と等
価であるから、ここでは説明は省略する。以上のよう
に、メディアンフィルタ１３ａ，１３ｂを設けることに
より、ビームスキャンの間に推定したクラッタの中心周
波数が他物体等のエコーにより一時的に大きく変動した
ような場合でも、上記実施例１０と同等な効果が得ら
れ、他のスキャンで得られたデータの平均値から大きく
外れたものの情報を排除できるので、このような状況に
おいてもクラッタ中心周波数の推定精度が確保できる。

【００９９】実施例１２．次に、この発明の実施例１２
を図を参照して説明する。図２０において、従来例及び
上記実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複
説明を省く。図２０において、上記実施例９，１０，１
１と異なるところは、記憶手段２ａ，２ｂの出力信号を
転送された制御信号に従って夫々選択して加算器４ａ，
４ｂに転送するスイッチ１４ａ，１４ｂ、周波数計算手
段６の出力信号である周波数値を入力し、スキャン毎に
推定した周波数の分散値を求める分散値計算手段１５、
分散値計算手段１５から転送される分散値とメモリに記
憶しておいた以前の分散値とを比較し、スイッチの切り
替え制御信号をスイッチに転送するデータ採用判定手段
１６を設けた点とスキャンカウンタから転送される制御
信号に従って記憶手段のデータをスイッチに転送するタ
イミングを変更した点である。ここで、分散値計算手段
１５とデータ採用判定手段１６を有してスイッチ制御手
段１８を構成している。本実施例では、まずスイッチ１
４ａ，１４ｂはスキャン１で得られるデータのチャンネ
ルに対応するスイッチのみＯＮにしておく。この状態で
周波数計算手段６によりクラッタの中心周波数の推定を
行い、その結果である推定値の平均値のばらつきを表す
分散値を分散値計算手段１５で求め、メモリ等に記憶し
ておく。次いで、スキャン２のデータが得られた後、ス
イッチ１４ａ，１４ｂはスキャン１とスキャン２のデー
タに対応するスイッチだけＯＮにしておく。この状態で
周波数計算手段６によりクラッタの中心周波数の推定を
行うと、スキャン１とスキャン２のデータに対してスキ
ャン間平均が行われることになる。以降スキャン３，
４，〜ＳＭＸのデータが得られる都度、同様な処理が行
われる。しかし、受信信号中には複数回ビーム走査を行
っている間に、例えば天候の急激な変化等によるクラッ
タ環境の変動により、ある番号のスキャンを境にクラッ
タパラメータが変化してしまうことが考えられる。この
ようなとき、即ちクラッタの状態が異なるデータ間で平
均操作を行ってもクラッタ中心周波数の推定精度は改善
されない可能性がある。そこで、本実施例では、データ
採用判定手段１６を設け自動的に平均するスキャン数を
決定できるようにしている。以下、図２１に示すフロー
チャートに従って、本実施例の動作について説明する。
尚、フローチャートでは、同じ動作を行う複数手段につ
いて区別せずにまとめて記述している。

【０１００】まず、ステップ３０，３１において変数と
スイッチの初期化が行われる。次いで、ステップ３２で
は、平均するスキャン数が設定した最大スキャン数を越
えていないかチェックされ、そうでなければステップ３
３においてスキャン番号ｍまでに受信されたデータが記
憶手段２ａ，２ｂからスイッチ１４ａ，１４ｂに転送さ
れる。ステップ３４において、周波数計算手段６により
除算器５の出力信号からクラッタの中心周波数が推定さ
れる。このクラッタの中心周波数からステップ３５にお
いて、分散値計算手段１５によりスキャン番号ｍ毎に分
散値が計算される。ステップ３６において、スキャン数
が２以上かどうかを判定し、２以上の場合はステップ３
７〜４１の処理が行われる。ステップ３７において、ス
キャン間平均を行うことによって、クラッタ中心周波数
の推定精度が改善される場合はステップ３８に処理が移
されるが、そうでない場合はステップ３９に処理が移さ
れる。スキャン回数が一回増すごとに、つまりスキャン
間で平均するデータが１スキャン分増すごとに分散値計
算手段１５で求められる分散値と１回前のスキャンまで
で得られる分散値が比較され、スキャン間での平均を増
すことでクラッタ中心周波数の推定精度が悪化する、即
ち分散値が大きくなってしまう場合は、ステップ３９に
おいて、追加したスキャンデータが使用されないようス
イッチに制御信号を送って、スキャン番号ｍのスイッチ
がＯＦＦに切り替えられる。更に、ステップ４０におい
て推定精度が悪化するケースがカウントされ、スキャン
間平均を行うことによってクラッタ中心周波数の推定精
度が悪化するケースの頻度がチェックされる。ステップ
４１において、推定精度が悪化するケースが、レーダオ
ペレータが任意に設定できる回数ＮＯＦＦＭＸを越えた
時は、クラッタパラメータがスキャン間でかなり異なる
ものに変化してしまったと判断され、以上の処理が一端
終了し、全ての変数がリセットされてまた新たに処理が
行われることになる。以上のように、分散値計算手段１
５、データ採用判定手段１６を新たに設けることによ
り、平均操作を行うことにより効果が得られるスキャン
数が自動的に制御されるので、時間経過によってクラッ
タパラメータが変化した場合でもクラッタ中心周波数の
推定精度が確保できる。また、本実施例ではスイッチの
切り替えの判定の目安に、推定したクラッタ中心周波数
の分散値を使用しているが、その代替としてノッチフィ
ルタ８の出力信号の電力を使用して、実施例４，８で説
明したような動作をさせてスイッチを切り替えてもかま
わない。

【０１０１】実施例１３．次に、この発明の実施例１３
を図を参照して説明する。実施例１〜８と異なる点は、
適応精度を更に向上させるため、ノッチの深さと周波数
とを調整するラティスフィルタでなく、振幅特性が予め
決まっているノッチフィルタを用意し、クラッタの中心
周波数のみを推定してその周波数にノッチ周波数を移動
させることでクラッタを抑圧するクラッタ抑圧装置をベ
ースにしているところである。図２２において、従来例
及び上記実施例と同一または同等部分は同一符号を付し
重複説明を省く。図２２において、９は反射係数計算手
段、２はスキャン毎に反射係数計算手段９の出力を記憶
する記憶手段、４は記憶手段２の出力を加算する加算
器、１０は加算器４の出力を加算したスキャン数で割る
除算器である。ここで、スキャンカウンタ３と記憶手段
２を有してスキャンデータ制御手段７１を構成し、加算
器４と除算器１０を有して平均化手段を構成している。

【０１０２】レーダ受信機から転送される信号は、クラ
ッタパラメータを推定するため分岐され、反射係数計算
手段９に転送される。反射係数計算手段９では式（３
３）の演算が行われる。

【０１０３】

【数１９】

【０１０４】これらの計算結果は記憶手段２に転送さ
れ、スキャンカウンタより転送されるスキャン番号に従
って記憶される。スキャンカウンタ３はビームを走査さ
せた回数即ちスキャン数をカウントしてその番号を記憶
手段に転送し、且つ、レーダオペレータが任意に設定で
きるデータ平均に使用するスキャンの総数ＳＭＸに満た
ない場合には、記憶手段２からデータを出力せずにホー
ルドするよう制御する。スキャン回数がＳＭＸに達した
ときは、記憶手段２に夫々セーブされているスキャン番
号が付けられたデータを加算器４に転送して加算し、次
いで除算器１０で平均演算を行う。即ち、式（３４）に
示す演算を行うことになる。

【０１０５】

【数２０】

【０１０６】そして、除算器１０の出力である反射係数
から上記実施例９と同様にクラッタの中心周波数が求ま
り、クラッタを抑圧することができる。以上のように、
本実施例１３に係わる発明では、反射係数そのものをス
キャン毎に記憶するので、上記実施例９に比べて必要な
メモリ量が少なくてすむといった利点がある。

【０１０７】実施例１４．次に、この発明の実施例１４
を図を参照して説明する。図２３において、従来例及び
上記実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複
説明を省く。図２３において、上記実施例１３と異なる
ところは、記憶手段２の出力信号を入力し、周波数計算
手段６に処理結果を転送する最大値最小値除去平均手段
１１ｂを設けた点である。本実施例では最大値最小値除
去平均手段１１ｂの入力が反射係数であるところが上記
実施例１０と異なるが、最大値最小値除去平均手段１１
ｂは、上記実施例１０で説明したように動作するので、
本実施例においてもビームスキャンの間に推定したクラ
ッタの中心周波数が他物体等のエコーにより一時的に大
きく変動したような場合でも、クラッタ中心周波数の推
定精度が確保できる。

【０１０８】実施例１５．次に、この発明の実施例１５
を図を参照して説明する。図２４において、従来例及び
上記実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複
説明を省く。図２４において、上記実施例１４と異なる
ところは、記憶手段２の出力信号を入力し、周波数計算
手段６に処理結果を転送するメディアンフィルタ１３ｂ
を設けた点である。本実施例ではメディアンフィルタ１
３ｂの入力が反射係数であるところが上記実施例４と異
なるが、メディアンフィルタ１３ｂは、上記実施例１１
で説明したように動作するので、本実施例においてもビ
ームスキャンの間に推定したクラッタの中心周波数が他
物体等のエコーにより一時的に大きく変動したような場
合でも、上記実施例１１と同等な効果が得られ、他のス
キャンで得られたデータの平均値から大きく外れたもの
の情報を排除できるので、このような状況においてもク
ラッタ中心周波数の推定精度が確保できる。

【０１０９】実施例１６．次に、この発明の実施例１６
を図を参照して説明する。図２５において、従来例及び
上記実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複
説明を省く。図２５において、上記実施例１３，１４，
１５と異なるところは、記憶手段２から転送される信号
を選択して加算器４に転送するスイッチ１４、加算器４
の出力信号の平均値を求める除算器１６、周波数計算手
段６の出力信号である周波数値を入力し、スキャン毎に
推定した周波数の分散値を求める分散値計算手段１５、
分散値計算手段１５から転送される分散値とメモリに記
憶しておいた以前の分散値とを比較し、スイッチの切り
替え制御信号をスイッチに転送するデータ採用判定手段
１６を設けた点とスキャンカウンタから転送される制御
信号に従って記憶手段のデータをスイッチに転送するタ
イミングを変更した点である。本実施例は、実施例１３
と同様に分散値計算手段１５、データ採用判定手段１６
を新たに設けることにより、平均操作を行うことにより
効果が得られるスキャン数が自動的に制御されるので、
時間経過によってクラッタパラメータが変化した場合で
もクラッタ中心周波数の推定精度が確保できる。更に、
反射係数そのものをスキャン毎に記憶するので、上記実
施例１２に比べて必要なメモリ量が少なくてすむといっ
た利点がある。また、本実施例ではスイッチの切り替え
の判定の目安に、推定したクラッタ中心周波数の分散値
を使用しているが、その代替としてノッチフィルタ８の
出力信号の電力を使用して、実施例４，８で説明したよ
うな動作をさせてスイッチを切り替えてもかまわない。

【０１１０】実施例１７．次に、この発明の実施例１７
を図を参照して説明する。図２６において、従来例及び
上記実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複
説明を省く。図２６において、上記実施例１３と異なる
ところは、記憶手段２がスキャン毎に周波数計算手段６
の出力を記憶する、即ち不要信号の推定周波数を記憶す
る点である。これにより、記憶すべきデータが複素数か
ら実数になり、上記実施例１３に比べて必要なメモリ量
を半減することができる。ここで、スキャンカウンタ３
と記憶手段２とを有してスキャンデータ制御手段７２を
構成している。

【０１１１】実施例１８．次に、この発明の実施例１８
を図を参照して説明する。図２７において、従来例及び
上記実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複
説明を省く。図２７において、上記実施例１７と異なる
ところは、記憶手段２の出力信号を入力し、フィルタ荷
重計算手段７に処理結果を転送する最大値最小値除去平
均手段１１ａを設けた点である。本実施例では最大値最
小値除去平均手段１１ａの入力が推定したクラッタ中心
周波数であるところが上記実施例１０，１４と異なる
が、最大値最小値除去平均手段１１ａは、上記実施例１
０で説明したように動作するので、本実施例においても
ビームスキャンの間に推定したクラッタの中心周波数が
他物体等のエコーにより一時的に大きく変動したような
場合でも、クラッタ中心周波数の推定精度が確保でき
る。

【０１１２】実施例１９．次に、この発明の実施例１９
を図を参照して説明する。図２８において、従来例及び
上記実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複
説明を省く。図２８において、上記実施例１８と異なる
ところは、記憶手段２の出力信号を入力し、フィルタ荷
重計算手段７に処理結果を転送するメディアンフィルタ
１３ａを設けた点である。本実施例ではメディアンフィ
ルタ１３ａの入力がクラッタ中心周波数であるところが
上記実施例１１，１５と異なるが、メディアンフィルタ
１３ａは、上記実施例１１で説明したように動作するの
で、本実施例においてもビームスキャンの間に推定した
クラッタの中心周波数が他物体等のエコーにより一時的
に大きく変動したような場合でも、クラッタ中心周波数
の推定精度が確保できる。

【０１１３】実施例２０．次に、この発明の実施例２０
を図を参照して説明する。図２９において、従来例及び
上記実施例と同一または同等部分は同一符号を付し重複
説明を省く。図２９において、上記実施例１７，１８，
１９と異なるところは、記憶手段２から転送される信号
を選択して加算器４に転送するスイッチ１４、加算器４
の出力信号の平均値を求める除算器１７、周波数計算手
段６の出力信号である周波数値を入力し、スキャン毎に
推定した周波数の分散値を求める分散値計算手段１５、
分散値計算手段１５から転送される分散値とメモリに記
憶しておいた以前の分散値とを比較し、スイッチの切り
替え制御信号をスイッチに転送するデータ採用判定手段
１６を設けた点とスキャンカウンタから転送される制御
信号に従って記憶手段のデータをスイッチに転送するタ
イミングを変更した点である。本実施例は、実施例１２
と同様に分散値計算手段１５、データ採用判定手段１６
を新たに設けることにより、平均操作を行うことにより
効果が得られるスキャン数が自動的に制御されるので、
時間経過によってクラッタパラメータが変化した場合で
もクラッタ中心周波数の推定精度が確保できる。更に、
記憶手段２がスキャン毎に周波数計算手段６の出力を記
憶する、即ちクラッタの推定中心周波数推定のために記
憶するデータが実数ですむので、上記実施例１６に比べ
て必要なメモリ量を半減することができる。また、本実
施例ではスイッチの切り替えの判定の目安に、推定した
クラッタ中心周波数の分散値を使用しているが、その代
替としてノッチフィルタ８の出力信号の電力を使用し
て、実施例４，８で説明したような動作をさせてスイッ
チを切り替えてもかまわない。

【０１１４】

【発明の効果】以上のように、請求項１に係わる発明に
よれば、複数回のビームスキャンで得られる受信信号を
入力とするラティスフィルタと、ビームスキャン毎に反
射係数の分母要素と分子要素とを求める計算手段と、上
記反射係数の分母要素と分子要素夫々についてスキャン
間で統計的平均操作を行い反射係数を求める平均化手段
とを備え、クラッタ電力スペクトルの推定精度を高め
て、不要信号の抑圧性能を向上した不要信号抑圧装置を
得ることができる。

【０１１５】また、請求項２に係わる発明によれば、請
求項１に係わる発明の平均化手段として、ビームスキャ
ン毎に求めた反射係数の分母要素と分子要素夫々につい
て、スキャン間で最大値と最小値を除去してから平均値
をとり反射係数を求める、もしくはスキャン間で中央値
を代表値としてとり反射係数を求める、平均化手段を備
え、異なるスキャン間において一部のクラッタ電力スペ
クトルが突発的に変動した場合でもクラッタ電力スペク
トルの推定精度を保ち、不要信号の抑圧性能を向上した
不要信号抑圧装置を得ることができる。

【０１１６】また、請求項３に係わる発明によれば、請
求項１に係わる発明の効果に加えて、ラティスフィルタ
の出力信号電力における不要信号抑圧量を評価パラメー
タにして、平均をとるスキャン回数を自動的に決定する
スイッチ制御手段を備え、複数回のスキャンによる時間
経過によってクラッタ電力スペクトルが変化した場合で
も、クラッタ電力スペクトルの推定精度を保ち、不要信
号の抑圧性能を向上した不要信号抑圧装置を得ることが
できる。

【０１１７】また、請求項４に係わる発明によれば、複
数回のビームスキャンで得られる受信信号を入力とする
ラティスフィルタと、ビームスキャン毎に反射係数を求
める計算手段と、上記求めた反射係数についてスキャン
間で統計的平均操作を行う平均化手段とを備え、クラッ
タ電力スペクトルの推定精度を高めて、不要信号の抑圧
性能を向上した不要信号抑圧装置を得ることができる。

【０１１８】また、請求項５に係わる発明によれば、請
求項４に係わる発明の平均化手段として、ビームスキャ
ン毎に求めた反射係数について、スキャン間で最大値と
最小値を除去してから平均値をとる平均化手段、もしく
はスキャン間で中央値を代表値としてとる平均化手段を
備え、異なるスキャン間において一部のクラッタ電力ス
ペクトルが突発的に変動した場合でもクラッタ電力スペ
クトルの推定精度を保ち、不要信号の抑圧性能を向上し
た不要信号抑圧装置を得ることができる。

【０１１９】また、請求項６に係わる発明によれば、請
求項４に係わる発明の効果に加えて、ラティスフィルタ
の出力信号電力における不要信号抑圧量を評価パラメー
タにして、平均をとるスキャン回数を自動的に決定する
スイッチ制御手段を備え、複数回のスキャンによる時間
経過によってクラッタ電力スペクトルが変化した場合で
も、クラッタ電力スペクトルの推定精度を保ち、不要信
号の抑圧性能を向上した不要信号抑圧装置を得ることが
できる。

【０１２０】また、請求項７に係わる発明によれば、複
数回のビームスキャンで得られる受信信号を入力とする
ノッチフィルタと、ビームスキャン毎に反射係数の分母
要素と分子要素を求める計算手段と、上記反射係数の分
母要素と分子要素夫々についてスキャン間で統計的平均
操作を行って反射係数を求める平均化手段と、それに基
づいてクラッタの中心周波数を推定する周波数計算手段
とを備え、クラッタの中心周波数の推定精度を高め、不
要信号の抑圧性能を向上した不要信号抑圧装置を得るこ
とができる。

【０１２１】また、請求項８に係わる発明によれば、請
求項７に係わる発明の平均化手段として、ビームスキャ
ン毎に求めた反射係数の分母要素と分子要素夫々につい
て、スキャン間で最大値と最小値を除去してから平均値
をとり反射係数を求める平均化手段、もしくはスキャン
間で中央値を代表値としてとり反射係数を求める平均化
手段を備え、異なるスキャン間においてクラッタ中心周
波数の推定誤差が突発的に生じた場合でもクラッタ中心
周波数の推定精度を保ち、不要信号の抑圧性能を向上し
た不要信号抑圧装置を得ることができる。

【０１２２】また、請求項９に係わる発明によれば、請
求項７に係わる発明の効果に加えて、推定するクラッタ
中心周波数の推定精度を評価パラメータにして、平均を
とるスキャン数を自動的に決定するスイッチ制御手段を
備え、複数回のスキャンによる時間経過によってクラッ
タパラメータが変化した場合でもクラッタ中心周波数の
推定精度を保ち、不要信号の抑圧性能を向上した不要信
号抑圧装置を得ることができる。

【０１２３】また、請求項１０に係わる発明によれば、
複数回のビームスキャンで得られる受信信号を入力とす
るノッチフィルタと、ビームスキャン毎に反射係数を求
める計算手段と、上記反射係数についてスキャン間で統
計的平均操作を行って反射係数を求める平均化手段と、
それに基づいてクラッタの中心周波数を推定する周波数
計算手段とを備え、クラッタの中心周波数の推定精度を
高め、不要信号の抑圧性能を向上した不要信号抑圧装置
を得ることができる。

【０１２４】また、請求項１１に係わる発明によれば、
請求項１０に係わる発明の平均化手段として、ビームス
キャン毎に求めた反射係数について、スキャン間で最大
値と最小値を除去してから平均値をとる平均化手段、も
しくはスキャン間で中央値を代表値としてとる平均化手
段を備え、異なるスキャン間においてクラッタ中心周波
数の推定誤差が突発的に生じた場合でも推定精度を保
ち、不要信号の抑圧性能を向上した不要信号抑圧装置を
得ることができる。

【０１２５】また、請求項１２に係わる発明によれば、
請求項１０に係わる発明の効果に加えて、推定したクラ
ッタ中心周波数の推定精度を評価パラメータにして、平
均をとるスキャン数を自動的に決定するスイッチ制御手
段を備え、複数回のスキャンによる時間経過によってク
ラッタパラメータが変化した場合でもクラッタ中心周波
数の推定精度を保ち、不要信号の抑圧性能を向上した不
要信号抑圧装置を得ることができる。

【０１２６】また、請求項１３に係わる発明によれば、
複数回のビームスキャンで得られる受信信号を入力とす
るノッチフィルタと、ビームスキャン毎に反射係数を求
める計算手段と、上記反射係数に基づいてクラッタの中
心周波数を推定する周波数計算手段と、上記の推定した
クラッタの中心周波数についてスキャン間で統計的平均
操作を行う平均化手段と、を備え、クラッタの中心周波
数の推定精度を高め、不要信号の抑圧性能を向上した不
要信号抑圧装置を得ることができる。

【０１２７】また、請求項１４に係わる発明によれば、
請求項１３に係わる発明の平均化手段として、ビームス
キャン毎に反射係数から推定したクラッタの中心周波数
を求め、スキャン間で最大値と最小値を除外して平均値
をとる平均化手段、もしくはスキャン間で中央値を代表
値としてとる平均化手段を備え、異なるスキャン間にお
いてクラッタ中心周波数の推定誤差が突発的に生じた場
合でも推定精度を保ち、不要信号の抑圧性能を向上した
不要信号抑圧装置を得ることができる。

【０１２８】また、請求項１５に係わる発明によれば、
請求項１３に係わる発明の効果に加えて、推定したクラ
ッタの中心周波数の分散値をパラメータにして、平均す
るスキャン回数を自動的に決定するスイッチ制御手段を
備え、複数回のスキャンによる時間経過によってクラッ
タパラメータが変化した場合でも推定精度を保ち、不要
信号の抑圧性能を向上した不要信号抑圧装置を得ること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施例１を示す構成図である。

【図２】図１のラティスフィルタの内部構成図である。

【図３】図１の動作を説明する周波数スペクトル図であ
る。

【図４】この発明の実施例２を示す構成図である。

【図５】図４の最大値最小値除去平均手段の内部構成図
である。

【図６】図４の最大値最小値除去平均手段の作用を説明
する図である。

【図７】この発明の実施例３を示す構成図である。

【図８】図７のメディアンフィルタのの内部構成図であ
る。

【図９】この発明の実施例４を示す構成図である。

【図１０】図９のスイッチ制御手段の動作を説明するフ
ローチャートである。

【図１１】この発明の実施例５を示す構成図である。

【図１２】この発明の実施例６を示す構成図である。

【図１３】この発明の実施例７を示す構成図である。

【図１４】この発明の実施例８を示す構成図である。

【図１５】この発明の実施例９を示す構成図である。

【図１６】図１５の動作を説明する周波数スペクトル図
である。

【図１７】図１５の動作を説明する周波数スペクトル図
である。

【図１８】この発明の実施例１０を示す構成図である。

【図１９】この発明の実施例１１を示す構成図である。

【図２０】この発明の実施例１２を示す構成図である。

【図２１】図２０のスイッチ制御手段の動作を説明する
フローチャートである。

【図２２】この発明の実施例１３を示す構成図である。

【図２３】この発明の実施例１４を示す構成図である。

【図２４】この発明の実施例１５を示す構成図である。

【図２５】この発明の実施例１６を示す構成図である。

【図２６】この発明の実施例１７を示す構成図である。

【図２７】この発明の実施例１８を示す構成図である。

【図２８】この発明の実施例１９を示す構成図である。

【図２９】この発明の実施例２０を示す構成図である。

【図３０】従来の不要信号抑圧装置を示す構成図であ
る。

【図３１】従来及びこの発明の不要信号抑圧装置とこれ
を用いたシステムとの関係を説明する図である。

【図３２】従来の不要信号抑圧装置の動作を説明する周
波数スペクトル図である。

【符号の説明】

１ａ反射係数分母計算手段１ｂ反射係数分子計算手段２，２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄ記憶手段３，３ａ，３ｂスキャンカウンタ４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄ加算器５，５ａ，５ｂ除算器６周波数計算手段９反射係数計算手段１０，１０ａ，１０ｂ除算器１１ａ，１１ｂ，１１ｃ，１１ｄ最大値最小値除去平
均手段１３ａ，１３ｂ，１３ｃ，１３ｄメディアンフィルタ１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄスイッチ１８スイッチ制御手段１９フィルタ手段５０，５０ａ，５０ｂラティスフィルタ５５ａ，５５ｂ反射係数分母計算手段５６ａ，５６ｂ反射係数分子計算手段５８ａ，５８ｂスイッチ制御手段７０，７０ａ，７０ｂスキャンデータ制御手段７１，７１ａ，７１ｂスキャンデータ制御手段７２スキャンデータ制御手段９８クラッタ電力スペクトル９９フィルタ振幅特性

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】以下の要素を備え、複数回のビームスキ
ャンで得られる受信信号を用いてクラッタ電力スペクト
ルの推定精度を高め、不要信号の抑圧性能を向上させた
ことを特徴とする不要信号抑圧装置、（ａ）受信信号を
入力とする縦続接続されたラチスフィルタ、（ｂ）上記
ラチスフィルタの入力信号を２分岐して入力としビーム
スキャン毎に夫々反射係数の分母要素と分子要素とを求
める計算手段、（ｃ）上記反射係数の分母要素と分子要
素とを夫々ビームスキャン毎に記憶処理するスキャンデ
ータ制御手段、（ｄ）上記記憶する反射係数の分母要素
と分子要素夫々についてスキャン間の統計的平均値を求
め、反射係数を求める平均化手段。
【請求項２】平均化手段として、ビームスキャン毎に
記憶する反射係数の分母要素と分子要素夫々を入力と
し、スキャン間で最大値と最小値を除外して平均値をと
り反射係数を求める平均化手段を備えた、もしくはスキ
ャン間で中央値を代表値としてとり反射係数を求める平
均化手段を備えた、請求項１記載の不要信号抑圧装置。
【請求項３】ラチスフィルタの出力信号電力における
不要信号抑圧量を評価パラメータにして、複数回のスキ
ャンによる時間経過中の不適当なデータを排除するスイ
ッチ制御手段を備えた、請求項１記載の不要信号抑圧装
置。
【請求項４】以下の要素を備え、複数回のビームスキ
ャンで得られる受信信号を用いてクラッタ電力スペクト
ルの推定精度を高め、不要信号の抑圧性能を向上させた
ことを特徴とする不要信号抑圧装置、（ａ）受信信号を
入力とする縦続接続されたラチスフィルタ、（ｂ）上記
ラチスフィルタの入力信号を入力としビームスキャン毎
に夫々反射係数を求める計算手段、（ｃ）上記反射係数
をビームスキャン毎に記憶処理するスキャンデータ制御
手段、（ｄ）上記記憶する反射係数についてスキャン間
の統計的平均値を求める平均化手段。
【請求項５】平均化手段として、ビームスキャン毎に
記憶する反射係数を入力とし、スキャン間で最大値と最
小値とを除外して平均値をとる平均化手段を備えた、も
しくはスキャン間で中央値を代表値としてとる平均化手
段を備えた、請求項４記載の不要信号抑圧装置。
【請求項６】ラチスフィルタの出力信号電力における
不要信号抑圧量を評価パラメータにして、複数回のスキ
ャンによる時間経過中の不適当なデータを排除するスイ
ッチ制御手段を備えた、請求項４記載の不要信号抑圧装
置。
【請求項７】以下の要素を備え、複数回のビームスキ
ャンで得られる受信信号を用いてクラッタの中心周波数
の推定精度を高め、不要信号の抑圧性能を向上させたこ
とを特徴とする不要信号抑圧装置、（ａ）受信信号を入
力とする予め振幅特性が決まっているノッチフィルタ、
（ｂ）上記受信信号を２分岐して入力としビームスキャ
ン毎に夫々反射係数の分母要素と分子要素とを求める計
算手段、（ｃ）上記反射係数の分母要素と分子要素とを
夫々ビームスキャン毎に記憶処理するスキャンデータ制
御手段、（ｄ）上記記憶する反射係数の分母要素と分子
要素夫々についてスキャン間の統計的平均値を求め、反
射係数を求める平均化手段、（ｅ）上記反射係数に基づ
いてクラッタの中心周波数を推定する周波数計算手段、
（ｆ）上記推定したクラッタの中心周波数に基づいて、
ノッチフィルタの荷重を調整するフィルタ荷重計算手
段。
【請求項８】平均化手段として、ビームスキャン毎に
記憶する反射係数の分母要素と分子要素夫々を入力と
し、スキャン間で最大値と最小値とを除外して平均値を
とる平均化手段、もしくはスキャン間で中央値を代表値
としてとる平均化手段を備えた請求項７記載の不要信号
抑圧装置。
【請求項９】推定したクラッタの中心周波数の分散値
をパラメータにして、複数回のスキャンによる時間経過
中の不要信号抑圧に不適当なデータを排除するスイッチ
制御手段を備えた請求項７記載の不要信号抑圧装置。
【請求項１０】以下の要素を備え、複数回のビームス
キャンで得られる受信信号を用いてクラッタの中心周波
数の推定精度を高め、不要信号の抑圧性能を向上させた
ことを特徴とする不要信号抑圧装置、（ａ）受信信号を
入力とする予め振幅特性が決まっているノッチフィル
タ、（ｂ）上記受信信号を入力としビームスキャン毎に
夫々反射係数を求める計算手段、（ｃ）上記反射係数を
ビームスキャン毎に記憶処理するスキャンデータ制御手
段、（ｄ）上記記憶する反射係数についてスキャン間の
統計的平均値を求める平均化手段、（ｅ）上記平均反射
係数に基づいてクラッタの中心周波数を推定する周波数
計算手段、（ｆ）上記推定したクラッタの中心周波数に
基づいて、ノッチフィルタの荷重を調整するフィルタ荷
重計算手段。
【請求項１１】平均化手段として、ビームスキャン毎
に記憶する反射係数を入力とし、スキャン間で最大値と
最小値を除外して平均値をとる平均化手段、もしくはス
キャン間で中央値を代表値としてとる平均化手段を備え
た請求項１０記載の不要信号抑圧装置。
【請求項１２】推定したクラッタの中心周波数の分散
値をパラメータにして、複数回のスキャンによる時間経
過中の不要信号抑圧に不適当なデータを排除するスイッ
チ制御手段を備えた請求項１０記載の不要信号抑圧装
置。
【請求項１３】以下の要素を備え、複数回のビームス
キャンで得られる受信信号を用いてクラッタの中心周波
数の推定精度を高め、不要信号の抑圧性能を向上させた
ことを特徴とする不要信号抑圧装置、（ａ）受信信号を
入力する予め振幅特性が決まっているノッチフィルタ、
（ｂ）上記受信信号を入力としビームスキャン毎に夫々
反射係数を求める計算手段、（ｃ）上記反射係数に基づ
いてクラッタの中心周波数を推定する周波数計算手段、
（ｄ）上記推定したクラッタの中心周波数をビームスキ
ャン毎に記憶処理するスキャンデータ制御手段、（ｅ）
上記記憶するクラッタの中心周波数についてスキャン間
の統計的平均値を求める平均化手段、（ｆ）上記推定し
たクラッタの中心周波数のスキャン間の平均値に基づい
て、ノッチフィルタの荷重を調整するフィルタ荷重計算
手段。
【請求項１４】平均化手段として、ビームスキャン毎
に記憶する推定したクラッタの中心周波数を入力とし、
スキャン間で最大値と最小値を除外して平均値をとる平
均化手段、もしくはスキャン間で中央値を代表値として
とる平均化手段を備えた請求項１３記載の不要信号抑圧
装置。
【請求項１５】推定したクラッタの中心周波数の分散
値をパラメータにして、複数回のスキャンによる時間経
過中の不要信号抑圧に不適当なデータを排除するスイッ
チ制御手段を備えた請求項１３記載の不要信号抑圧装
置。