JPH07230677A - 光学式ディスク再生装置及びその制御回路 - Google Patents

光学式ディスク再生装置及びその制御回路

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JPH07230677A
JPH07230677A JP15098594A JP15098594A JPH07230677A JP H07230677 A JPH07230677 A JP H07230677A JP 15098594 A JP15098594 A JP 15098594A JP 15098594 A JP15098594 A JP 15098594A JP H07230677 A JPH07230677 A JP H07230677A
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JP
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transistor
potential
control circuit
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Application number
JP15098594A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Osuga
央 大須賀
Koichi Yamashita
幸一 山下
Ryuichi Yamashita
隆一 山下
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Toshiba Corp
Toshiba AVE Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba AVE Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ディスク表面上にキズや汚れがある領域でトラ
ッキング/フォーカス制御用の制御信号を基準電位に保
つことを目的する。 【構成】スイッチ用のNPNトランジスタ34及びPNP
トランジスタ35が設けられ、トランジスタ34のベースと
基準電位Vref との間にはアノードをベース側にしてダ
イオード40が、トランジスタの35のベースと基準電位V
ref との間にはカソードをベース側にしてダイオード41
がそれぞれ接続されている。検出信号の入力時には上記
ダイオード40、41に電流源36、37からの電流が流れ、基
準電位Vref を基準にしてそれぞれベース・エミッタ間
順方向バイアス電位だけシフトした電位がトランジスタ
34、35のベースに供給され、両トランジスタ34、35がオ
ン状態になる。検出信号が入力しないときには電流源3
8、39からの電流がトランジスタ35、34のベースに供給
され、両トランジスタ34、35はオフ状態になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は光学式ディスク再生装
置におけるピックアップのトラッキング制御及びフォー
カス制御を行う制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】光学式ディスク再生装置、例えばコンパ
クトディスク(CD)再生装置などでは、サーボ回路を
用いてピックアップの位置制御、すなわちトラッキング
制御やフォーカス制御が行われている。しかし、ディス
ク表面にキズや汚れがあると、トラッキング制御やフォ
ーカス制御を安定に行うことができなくなる恐れがあ
る。そこで、通常、キズや汚れがある領域ではトラッキ
ング/フォーカス制御を行うための制御信号を基準電位
に固定することによって、誤った制御信号に基づくトラ
ッキング/フォーカス制御が行われないようにしてい
る。
【0003】図11はこのようなサーボ制御を行う従来
の制御回路の概略的な構成を示している。信号処理回路
81及び82はサーボ制御を行うための信号処理系を構成し
ており、一方の信号処理回路81は例えば演算増幅器や抵
抗等で構成され、図示しないピックアップからの出力信
号を用いてピックアップの位置制御を行うための制御信
号とキズや汚れ等の検出信号を出力する。他方の信号処
理回路82も例えば演算増幅器や抵抗等で構成され、上記
信号処理回路81で得られた制御信号のゲイン調整等を行
って出力する。この信号処理回路82からの出力信号は図
示しないトラッキング用アクチュエータコイルもしくは
フォーカス用アクチュエータコイルに供給され、両コイ
ルが駆動されることによって正しいトラックを追跡する
トラッキング制御や最適な焦点が得られるようなフォー
カス制御が行われる。
【0004】上記信号処理回路81の出力端と基準電位V
ref のノードとの間には電位設定用の抵抗83が、信号処
理回路82の入力端と基準電位Vref のノードとの間には
電位設定用の抵抗84がそれぞれ接続されており、さらに
両信号処理回路81、82の相互間にはカップリング用のコ
ンデンサ85が接続されている。
【0005】また、コンパレータ86はディスク表面のキ
ズや汚れを検出するためのものであり、このコンパレー
タ86には上記ピックアップから出力されるキズや汚れを
検出することによって得られる検出信号が入力される。
このコンパレータ86では、2個の抵抗87、88及びコンデ
ンサ89からなる比較用電位発生回路によって発生される
検出信号のほぼ半分のレベルを持つ比較用電位と検出信
号とが比較される。このコンパレータ86の出力はNPN
トランジスタ90のベースに供給される。このトランジス
タ90のコレクタは上記信号処理回路82の入力ノードに接
続されており、エミッタは基準電位Vref のノードに接
続されている。
【0006】このような構成の制御回路において、信号
処理回路81にはピックアップから図12の(a)に示す
ような制御信号が入力されているとする。そして、ピッ
クアップでディスク表面のキズや汚れが検出されると、
その検出信号として図12の(b)に示すような“L”
レベルの信号が信号処理回路81から出力される。この
“L”レベルの検出信号がコンパレータ86に入力される
ことによって、コンパレータ86からは“H”レベルの信
号が出力される。すなわち、ディスク表面のキズや汚れ
がある領域ではトランジスタ90がオン状態となり、信号
処理回路82の入力ノードがトランジスタ90を介して基準
電位Vref に固定される。これにより、信号処理回路82
からの出力信号レベルも基準電位Vref に固定される。
【0007】しかし、図12の(a)に示すように、信
号処理回路81から出力される制御信号は基準電位Vref
を中心にして上下に振れる信号であるため、そのレベル
が基準電位Vref よりも低くなったときに、トランジス
タ90は正常なオン状態が保てなくなる。すなわち、信号
処理回路81に入力される制御信号のレベルが基準電位V
ref よりも低い場合、図12の(c)に示すように、基
準電位Vref よりも低いレベルの波形が信号処理回路82
から出力されてしまう。また、トランジスタ90のコレク
タに加わる制御信号が基準電位Vref よりも高いレベル
のとき、トランジスタ90はオン状態になるが、コレクタ
・エミッタ間の飽和電圧VCE分が制御信号にオフセット
電圧として現れる。
【0008】このように、ディスク表面上にキズや汚れ
がある領域で、ピックアップに供給されるトラッキング
/フォーカス制御用の制御信号を基準電位に保つことが
できなくなると、音飛びやノイズ等が発生することにな
る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】このように従来の制御
回路では、ディスク表面にキズや汚れがある領域でトラ
ッキング/フォーカス制御用の制御信号を基準電位に保
つことができず、これによって種々の問題が引き起こさ
れるという問題がある。
【0010】従って、この発明の目的は、ディスク表面
上にキズや汚れがある領域でトラッキング/フォーカス
制御用の制御信号を基準電位に保つことができ、これに
よって従来発生していた種々の問題を解消することがで
きる光学式ディスク再生装置の制御回路を提供すること
である。
【0011】
【課題を解決するための手段】第1の発明の光学式ディ
スク再生装置の制御回路は、光学式ディスク上に記録さ
れた情報を読み取るピックアップからの出力信号を処理
しこのピックアップの位置制御を行うための制御信号を
出力する信号処理系と、上記ディスク上のキズ、汚れを
検出することによって得られる検出信号に応じて上記制
御信号の電位を基準電位に固定させるスイッチ制御回路
とを具備し、上記スイッチ制御回路が、高電位側の電源
電位のノードと上記信号処理系の所定の回路点との間に
コレクタ・エミッタ間が挿入された第1のトランジスタ
と、低電位側の電源電位のノードと上記回路点との間に
コレクタ・エミッタ間が挿入され上記第1のトランジス
タとは逆極性の第2のトランジスタと、上記検出信号が
入力された際に上記第1及び第2のトランジスタの各ベ
ースに対し上記第1及び第2のトランジスタが導通する
ような電位を与える第1の電位発生手段と、上記検出信
号が入力されないときには上記第1及び第2のトランジ
スタの各ベースに対し上記第1及び第2のトランジスタ
が非導通となるような電位を与える第2の電位発生手段
とから構成されることを特徴とする。
【0012】第2の発明の光学式ディスク再生装置の制
御回路は、光学式ディスク上に記録された情報を読み取
るピックアップからの出力信号を処理しこのピックアッ
プの位置制御を行うための制御信号を出力する信号処理
系と、上記ディスク上のキズ、汚れを検出することによ
って得られる検出信号に応じて上記制御信号の電位を基
準電位に固定させるスイッチ制御回路とを具備し、上記
スイッチ制御回路が、高電位側の電源電位のノードと上
記信号処理系の所定の回路点との間にコレクタ・エミッ
タ間が挿入された第1のトランジスタと、低電位側の電
源電位のノードと上記回路点との間にコレクタ・エミッ
タ間が挿入され上記第1のトランジスタとは逆極性の第
2のトランジスタと、上記検出信号が入力された際に上
記第1及び第2のトランジスタの各ベースに対し上記第
1及び第2のトランジスタが導通するような電位を与え
る電位発生手段とから構成されることを特徴とする。
【0013】
【作用】第1の発明の光学式ディスク再生装置の制御回
路によれば、スイッチ制御回路に検出信号が入力された
際に、第1及び第2のトランジスタの各ベースに対して
これら第1及び第2のトランジスタが導通するような電
位が与えられることにより第1及び第2のトランジスタ
がオン状態になり、これら第1及び第2のトランジスタ
を介して基準電位が信号処理系の所定の回路点に出力さ
れ、検出信号が入力されないときには第1及び第2のト
ランジスタの各ベースに対してこれら第1及び第2のト
ランジスタが非導通となるような電位が与えられること
により第1及び第2のトランジスタがオフ状態になり、
スイッチ制御回路を介して基準電位が与えられなくな
る。
【0014】第2の発明の光学式ディスク再生装置の制
御回路によれば、スイッチ制御回路に検出信号が入力さ
れた際に、第1及び第2のトランジスタの各ベースに対
してこれら第1及び第2のトランジスタが導通するよう
な電位が与えられることにより第1及び第2のトランジ
スタがオン状態になり、これら第1及び第2のトランジ
スタを介して基準電位が信号処理系の所定の回路点に出
力される。
【0015】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明を実施例によ
り説明する。図1はこの発明に係る光学式ディスク再生
装置の制御回路の第1の実施例によるブロック図であ
り、この発明をコンパクトディスク再生装置のトラッキ
ング制御回路に実施した場合である。なお、この制御回
路は他の制御回路、例えばフォーカス制御回路等と共に
集積回路化されている。
【0016】ピックアップ11はレーザーダイオード、ハ
ーフミラープリズム、対物レンズ、トラッキングコイ
ル、フォーカスコイル、磁石等で構成されている。この
ピックアップ11はディスク上に記録された情報を読み取
ると共に、制御信号を出力する。この信号は、集積回路
の外部端子12を介して信号処理回路13に入力される。こ
の信号処理回路13は信号処理回路14と共にピックアップ
11の出力信号を処理する信号処理系を構成しており、信
号処理回路13及び信号処理回路14はそれぞれ例えば演算
増幅器や抵抗等を用いて構成される。そして、一方の信
号処理回路13はピックアップ11からの出力信号を用いて
ピックアップの位置制御を行うための制御信号とキズや
汚れ等の検出信号を出力する。他方の信号処理回路14は
制御信号のゲイン調整等を行う。
【0017】上記信号処理回路13から出力される位置制
御のための制御信号の出力ノードと基準電位Vref のノ
ードとの間には電位設定用の抵抗15が、信号処理回路14
の入力ノードNと基準電位Vref のノードとの間には電
位設定用の抵抗16がそれぞれ接続されており、さらに両
信号処理回路13、14の入出力ノード相互間にはカップリ
ング用のコンデンサ17が接続されている。
【0018】上記信号処理回路14から出力される制御信
号は外部端子18を介してコイル駆動用のドライバ回路19
に入力され、このドライバ回路19の出力信号によってト
ラッキング用アクチュエータコイル20が駆動される。
【0019】また、上記信号処理回路13から出力される
検出信号はスイッチ制御回路21に供給される。このスイ
ッチ制御回路21の出力ノードは上記信号処理回路14の入
力ノードNに接続されており、スイッチ制御回路21は上
記検出信号が入力した際に基準電位Vref を信号処理回
路14の入力ノードに出力する。さらに、この集積回路に
は、上記スイッチ制御回路21と接続された比較用電位を
得るための外部端子22が設けられ、この外部端子22と接
地電位のノードとの間にはコンデンサ23が接続されてい
る。
【0020】上記スイッチ制御回路21は、上記検出信号
を外部端子22の比較用電位と比較し、その比較結果に基
づいて基準電位Vref を前記信号処理回路14の入力ノー
ドNに出力するものであり、このスイッチ制御回路21の
具体的な構成を図2に示す。
【0021】図2において、前記検出信号はコンパレー
タ31の非反転入力ノード(+)に供給される。また、コ
ンパレータ31の反転入力ノード(−)は上記外部端子22
に接続されている。コンパレータ31の非反転入力ノード
と反転入力ノードとの間には抵抗32が接続され、反転入
力ノードと接地電位のノードとの間には抵抗33が接続さ
れている。すなわち、検出信号のレベルが2個の抵抗3
2、33によって抵抗分割され、例えば半分のレベルを有
する比較用電位が形成され、コンデンサ23によって保持
される。そして、検出信号がコンパレータ31によって上
記比較用電位と比較される。
【0022】また、電源電位VCCのノードにはスイッチ
用のNPNトランジスタ34のコレクタが接続され、接地
電位のノードにはスイッチ用のPNPトランジスタ35の
コレクタが接続されている。上記両トランジスタ34、35
のエミッタは共通に接続され、この共通エミッタは前記
信号処理回路14の入力ノードNに接続されている。
【0023】また、このスイッチ制御回路21には4個の
電流源36、37、38、39と2個のダイオード素子40、41が
設けられている。上記電流源36と37はそれぞれ、前記コ
ンパレータ31の非反転出力ノードの信号で動作が制御さ
れ、一方の電流源36は電源電位VCCのノードとトランジ
スタ34のベースとの間に接続され、他方の電流源37はト
ランジスタ35のベースと接地電位のノードとの間に接続
されている。上記電流源38と39はそれぞれ、前記コンパ
レータ31の反転出力ノードの信号で動作が制御され、一
方の電流源38は電源電位VCCのノードとトランジスタ35
のベースとの間に接続され、他方の電流源39はトランジ
スタ34のベースと接地電位のノードとの間に接続されて
いる。
【0024】上記ダイオード素子40、41はそれぞれアノ
ードとカソードを有し、ダイオード素子40のアノード側
はトランジスタ34のベースに、カソードは基準電位Vre
f のノードにそれぞれ接続され、ダイオード素子41のア
ノード側は基準電位Vref のノードに、カソード側はト
ランジスタ35のベースにそれぞれ接続されている。な
お、上記両ダイオード素子40、41としてそれぞれ通常の
PN接合ダイオード等を用いてもよいが、ダイオード素
子40として、コレクタ・ベースが接続され、上記スイッ
チ用のトランジスタ34と素子面積が等しくされたNPN
トランジスタを用いることが好ましく、ダイオード素子
41として、コレクタ・ベースが接続され、上記スイッチ
用のトランジスタ35と素子面積が等しくされたPNPト
ランジスタを用いることが好ましい。なぜならば、各ダ
イオード素子40、41の順方向降下電圧VF をトランジス
タ34、35のベース・エミッタ間電圧VBEと一致させるこ
とが好ましいからである。
【0025】このような構成でなるトラッキング制御回
路の概略的な動作は次の通りである。すなわち、ディス
ク表面上にキズ、汚れが存在せず、検出信号が出力され
ないときは、ピックアップ11から出力される制御信号を
用いて両信号処理回路13、14でトラッキング制御のため
の制御信号が形成され、ドライバ回路19を経てコイル20
に供給されることにより、正規のトラックを追跡するよ
うにピックアップ11の位置が自動制御される。
【0026】一方、ディスク表面上にキズ、汚れがあ
り、この領域がピックアップ11によって読み取られる
と、信号処理回路13から検出信号が出力される。この検
出信号が入力すると、スイッチ制御回路21は基準電位V
ref を出力し、信号処理回路14の入力ノードNが信号処
理回路13の出力信号レベルに依存せずにVref に固定さ
れる。この結果、信号処理回路14から出力される制御信
号のレベルもVref に固定される。
【0027】次に、図2のスイッチ制御回路の動作を図
3の波形図を用いて説明する。なお、図3の(a)は信
号処理回路13に入力されるトラッキング制御のための入
力制御信号の波形を、同(b)はスイッチ制御回路21に
入力される検出信号とこれによって形成される比較用電
位の波形をそれぞれ示し、同(c)は信号処理回路14か
ら出力される出力制御信号の波形を示している。
【0028】ディスク表面上にキズ、汚れがなく、検出
信号が“H”レベルにされている場合、2個の抵抗32、
33によってこの検出信号の“H”レベルの半分のレベル
を持つ比較用電位が形成され(図中の一点鎖線で示して
いる)、両レベルがコンパレータ31で比較される。この
場合、検出信号のレベルが比較用電位よりも高いので、
コンパレータ31の非反転出力ノードからの出力信号が
“H”レベル、反転出力ノードからの出力信号が“L”
レベルとなる。このとき、“L”レベルになっている反
転出力ノードの出力信号で制御される電流源38と電流源
39がそれぞれ動作状態になる。そして、電流源38の電流
によってトランジスタ35のベース電位はほぼVccに設定
され、このトランジスタ35はオフ状態になる。また、電
流源39の電流によってトランジスタ34のベース電位はほ
ぼ接地電位に設定され、このトランジスタ34もオフ状態
になる。すなわち、この場合にはスイッチ制御回路21か
ら基準電位Vref は出力されず、図3中のキズ(汚れも
含む)なし領域1及びキズなし領域2ではそれぞれ入力
制御信号に対応した出力制御信号が得られ、正常なトラ
ッキング制御が行われる。
【0029】一方、ディスク表面上にキズ、汚れがあ
り、検出信号が“L”レベルになると、検出信号のレベ
ルが比較用電位よりも低くなり、コンパレータ31の非反
転出力ノードの出力信号は“L”レベルに、反転出力ノ
ードの出力信号は“H”レベルに反転する。このとき、
“L”レベルになっている非反転出力ノードからの出力
信号で制御される電流源36と37がそれぞれ動作状態にな
る。このとき、電流源36の電流がダイオード素子40を通
って基準電位Vref のノードに流れ、また、電流源37の
電流が基準電位Vref からダイオード素子41を通って接
地電位に流れる。
【0030】このような電流が流れているとき、スイッ
チ用のNPNトランジスタ34のベース電位は、基準電位
Vref に対してダイオード素子の順方向降下電圧VF だ
け高いものとなる。従って、このトランジスタ34はオン
状態となり、そのコレクタ電位すなわち信号処理回路14
の入力ノードNの電位は、(Vref +VF )からトラン
ジスタ34のベース・エミッタ間順方向バイアス電位VBE
(=VF )だけ下がったVref に設定される。他方のス
イッチ用のPNPトランジスタ35のベース電位は、基準
電位Vref に対してダイオード素子の順方向降下電圧V
F だけ低いものとなる。従って、このトランジスタ35も
オン状態となり、そのコレクタ電位すなわち信号処理回
路14の入力ノードNの電位は、(Vref −VF )からト
ランジスタ35のベース・エミッタ間順方向バイアス電位
VBE(=VF )だけ上昇したVref に設定される。すな
わち、スイッチ制御回路21から信号処理回路14の入力ノ
ードNに基準電位Vref が出力されることになる。ま
た、検出信号が“L”レベルになっているとき、外部端
子22に得られる比較用電位は、コンデンサ23が接続され
ていることにより、順次低下していく。
【0031】このように、キズあり領域では、検出信号
に応じてスイッチ制御回路21内のトランジスタ34、35が
オン状態にされることにより、信号処理回路14の入力ノ
ードNの電位が基準電位Vref に固定される。このと
き、図1中のピックアップ11はキズなし領域1における
位置をそのまま維持する。このため、従来のような音飛
びの発生が防止される。
【0032】この実施例回路では、ディスク表面上にギ
ズ、汚れがない領域のときに、トランジスタ35のベース
電位がほぼVccに設定され、トランジスタ34のベース電
位がほぼ接地電位に設定されるため、信号処理回路14の
入力ノードNの電位が基準電位Vref に対して2VBE以
上高い電位、もしくは2VBE以上低い電位になる場合で
あっても、両トランジスタ34、35がオンするすることは
ない。従って、この実施例回路では信号処理回路14の入
力ノードNにおける信号の振幅を十分に広い範囲で許容
することができる。
【0033】なお、上記実施例ではこの発明をトラッキ
ング制御に実施したが、フォーカス制御にも実施するこ
とができ、この場合には信号処理回路13にフォーカス制
御の機能を持たせれば良い。
【0034】図4は上記図2に示したスイッチ制御回路
21のさらに詳細な構成を示している。前記コンパレータ
31はレベル比較用の4個のNPNトランジスタ51、52、
53、54と、3個の電流源55、56、57及び2個の負荷用の
NPNトランジスタ58、59とから構成されている。
【0035】また、前記電流源37は、上記負荷用のNP
Nトランジスタ58とベースが共通に接続されたNPNト
ランジスタ37Aによって構成されている。前記電流源36
は、上記負荷用のNPNトランジスタ58とベースが共通
に接続されたNPNトランジスタ36Aと、このトランジ
スタ36Aのコレクタ電流が供給されるPNPトランジス
タ36B及びこのトランジスタ36Bとベースが共通に接続
されたPNPトランジスタ36Cで構成されている。前記
電流源39は、上記負荷用のNPNトランジスタ59とベー
スが共通に接続されたNPNトランジスタ39Aによって
構成されている。前記電流源38は、上記負荷用のNPN
トランジスタ59とベースが共通に接続されたNPNトラ
ンジスタ38Aと、このトランジスタ38Aのコレクタ電流
が供給されるPNPトランジスタ38B及びこのトランジ
スタ38Bとベースが共通に接続されたPNPトランジス
タ38Cで構成されている。
【0036】また、前記ダイオード素子40はベース・コ
レクタ間が短絡され、前記トランジスタ34と素子面積が
等しくされたNPNトランジスタ40Aで構成され、前記
ダイオード素子41はベース・コレクタ間が短絡され、前
記トランジスタ35と素子面積が等しくされたPNPトラ
ンジスタ41Aで構成されている。
【0037】図5はこの発明の第2の実施例によるスイ
ッチ制御回路21の詳細な構成を示している。この実施例
回路が前記図2のものと異なる点は、前記電流源38と前
記トランジスタ35のベースとの間にインピーダンス素子
42を、前記電流源39と前記トランジスタ34のベースとの
間にインピーダンス素子43をそれぞれ挿入するようにし
たものである。
【0038】この実施例では、ディスク表面上にキズ、
汚れがない領域のときに、トランジスタ35のベース電位
はVccよりもインピーダンス素子42における電圧降下分
だけ低い値にされ、その分だけトランジスタ35のベース
・エミッタ間逆耐圧を向上させることができる。同様
に、ディスク表面上にキズ、汚れがない領域のときに、
トランジスタ34のベース電位は接地電位よりもインピー
ダンス素子43における電圧降下分だけ高い値にされ、そ
の分だけトランジスタ34のベース・エミッタ間逆耐圧を
向上させることができる。なお、上記インピーダンス素
子42、43として例えばダイオードや抵抗等を使用するこ
とができ、ダイオードを使用した場合にインピーダンス
素子42としてはアノード側を電流源38に、カソード側を
トランジスタ35のベースに接続すれば良く、インピーダ
ンス素子43としてはカソード側を電流源39に、アノード
側をトランジスタ34のベースに接続すれば良い。
【0039】図6はこの発明の第3の実施例によるスイ
ッチ制御回路21の詳細な構成を示している。この実施例
回路が前記図2のものと異なる点は、前記トランジスタ
34、35をオフさせるために2個のダイオード素子44、45
を追加するようにしたものである。上記ダイオード素子
44のカソード側はトランジスタ34のベースに、アノード
側は基準電位Vref のノードにそれぞれ接続され、ダイ
オード素子45のアノード側はトランジスタ35のベース
に、カソード側は基準電位Vref のノードにそれぞれ接
続されている。なお、この場合にも、上記2個のダイオ
ード素子44、45としてそれぞれ通常のPN接合ダイオー
ド等を用いてもよいが、ダイオード素子44としてはコレ
クタ・ベースが接続され、上記スイッチ用のトランジス
タ34と素子面積が等しくされたNPNトランジスタを用
いることが好ましく、他方、ダイオード素子45としては
コレクタ・ベースが接続され、上記スイッチ用のトラン
ジスタ35と素子面積が等しくされたPNPトランジスタ
を用いることが好ましい。
【0040】この実施例回路において、ディスク表面上
にキズ、汚れがある場合の動作は前記図2の実施例回路
と同様であるため説明は省略する。従って、ディスク表
面上にキズ、汚れがなく、検出信号が“H”レベルにさ
れている場合の動作のみを以下に説明する。検出信号が
“H”レベルのときは検出信号の“H”レベルの半分の
レベルを持つ比較用電位が形成され、両レベルがコンパ
レータ31で比較される。このとき、コンパレータ31の非
反転出力ノードからの出力信号が“H”レベル、反転出
力ノードからの出力信号が“L”レベルとなり、“L”
レベルとなる反転出力ノードの出力信号で制御される電
流源38と電流源39がそれぞれ動作状態になる。電流源38
の電流がダイオード素子45を介して基準電位Vref のノ
ードに流れることにより、トランジスタ35のベース電位
は基準電位Vref に対してダイオード素子45の順方向降
下電圧VF (トランジスタのベース・エミッタ間電圧V
BEと等しい)だけ高いものとなり、このトランジスタ35
はオフ状態になる。また、基準電位Vref のノードから
ダイオード素子44を介して電流源39の電流が流れること
により、トランジスタ34のベース電位は基準電位Vref
に対してダイオード素子44の順方向降下電圧VF だけ低
いものとなり、このトランジスタ34もオフ状態になる。
この場合にはスイッチ制御回路21から基準電位Vref は
出力されず、前記図3中のキズ(汚れも含む)なし領域
1及びキズなし領域2しそれぞれ入力制御信号に対応し
た出力信号が得られ、正常なトラッキング制御が行われ
る。
【0041】図7は上記図6に示した実施例回路内のス
イッチ制御回路21の詳細な構成を示している。ここで
は、前記図4と異なる箇所のみについて説明する。すな
わち、上記ダイオード素子44はベース・コレクタ間が短
絡され、前記トランジスタ34と素子面積が等しくされた
NPNトランジスタ44Aで構成され、前記ダイオード素
子45はベース・コレクタ間が短絡され、前記トランジス
タ35と素子面積が等しくされたPNPトランジスタ45A
で構成されている。
【0042】この実施例の場合にも、信号処理回路13と
してトラッキング制御機能を有するものの代わりにフォ
ーカス制御機能を有するものを使用して、フォーカス制
御のための制御回路に実施することができる。
【0043】図8はこの発明の第4の実施例による光学
式ディスク再生装置の制御回路のブロック図を示してい
る。この実施例回路では、前記図1の実施例回路とは異
なるスイッチ制御回路24が設けられている。このスイッ
チ制御回路24は前記信号処理回路13から出力されるキズ
や汚れ等の検出信号を直接用いて、すなわち前記のよう
にこの検出信号から前記のような比較用電位を形成する
ことなく、基準電位VREF の出力制御を行うように構成
されている。
【0044】図9は上記図8の実施例回路中のスイッチ
制御回路24の具体的な構成を示している。高電位側の電
源電位VCCのノードには3個のPNPトランジスタ61、
62、63の各エミッタが接続されている。上記トランジス
タ61、62、63の各ベースは共通に接続されており、かつ
トランジスタ62のベース・コレクタ間が接続され、この
ベース・コレクタ接続点と検出信号の入力端との間には
入力電流設定用の抵抗64が接続されている。すなわち、
これら3個のトランジスタ61、62、63と抵抗64とはトラ
ンジスタ62を入力トランジスタ、トランジスタ62、63を
出力トランジスタとする第1のカレントミラー回路CM
1を構成している。
【0045】低電位側の電源電位、すなわち接地電位の
ノードには2個のNPNトランジスタ65、66の各エミッ
タが接続されている。上記両トランジスタ65、66の各ベ
ースは共通に接続されており、かつトランジスタ65のベ
ース・コレクタ間が接続され、このベース・コレクタ接
続点は上記トランジスタ63のコレクタに接続されてい
る。すなわち、上記両トランジスタ65、66はトランジス
タ65を入力トランジスタ、トランジスタ66を出力トラン
ジスタとする第2のカレントミラー回路CM2を構成し
ている。
【0046】前記信号処理回路14の入力ノードNにはス
イッチ用のNPNトランジスタ67及びPNPトランジス
タ68の各コレクタが共通に接続されている。上記両トラ
ンジスタ67、68の各エミッタは前記基準電位Vref のノ
ードに接続されている。上記トランジスタ67のベースに
はNPNトランジスタ69のベース及びコレクタが接続さ
れ、このトランジスタ69のエミッタは上記電位Vref の
ノードに接続されている。上記トランジスタ68のベース
にはPNPトランジスタ70のベース及びコレクタが接続
され、このトランジスタ70のエミッタは上記電位Vref
のノードに接続されている。そして、上記トランジスタ
69のベース・コレクタ接続点には上記第1のカレントミ
ラー回路CM1内のトランジスタ61のコレクタが接続さ
れ、トランジスタ70のベース・コレクタ接続点には上記
第2のカレントミラー回路CM2内のトランジスタ66の
コレクタが接続されている。
【0047】すなわち、上記トランジスタ69はダイオー
ド素子として作用し、トランジスタ61にコレクタ電流が
流れることによって、トランジスタ67のベース・エミッ
タ間に順方向バイアス電位を与える。同様に、上記トラ
ンジスタ70はダイオード素子として作用し、トランジス
タ63にコレクタ電流が流れ、この電流が入力する第2の
カレントミラー回路CM2内のトランジスタ65、66にそ
れぞれコレクタ電流が流れることによって、トランジス
タ68のベース・エミッタ間に順方向バイアス電位を与え
る。
【0048】次に、このような構成の制御回路の動作を
図10の波形図を参照して説明する。まず、ディスク表
面上にキズ、汚れがなく、検出信号が“H”レベルにさ
れている場合、第1のカレントミラー回路CM1内のト
ランジスタ62にはコレクタが電流が流れず、CM1内の
他のトランジスタ61、63にもコレクタが電流が流れな
い。従って、ダイオード接続されたトランジスタ69のベ
ース・エミッタ(アノード・カソード)間には順方向バ
イアス電位が発生せず、スイッチ用のNPNトランジス
タ67はオフ状態になっている。
【0049】また、第2のカレントミラー回路CM2内
のトランジスタ65にもコレクタが電流が流れず、CM2
内の他のトランジスタ66にもコレクタが電流が流れな
い。従って、ダイオード接続されたトランジスタ70のベ
ース・エミッタ(アノード・カソード)間には順方向バ
イアス電位が発生せず、スイッチ用のPNPトランジス
タ68はオフ状態になっている。この場合にはスイッチ制
御回路24から基準電位は出力されず、図10中のキズ
(汚れも含む)なし領域1及びキズなし領域2ではそれ
ぞれ入力制御信号に対応した出力制御信号が得られ、正
常なトラッキング制御が行われる。
【0050】一方、ディスク表面上にキズ、汚れがあ
り、検出信号が“L”レベルになると、第1のカレント
ミラー回路CM1内のトランジスタ62にコレクタが電流
が流れ、これに伴ってトランジスタ61、63にもコレクタ
電流が流れる。また、上記トランジスタ63にコレクタ電
流が流れることによって第2のカレントミラー回路CM
2内のトランジスタ65、66にもコレクタ電流が流れる。
【0051】トランジスタ61にコレクタ電流が流れるこ
とにより、ダイオード接続されたトランジスタ69のベー
ス・エミッタ間に順方向バイアス電位VBEが発生し、こ
の電位がスイッチ用のNPNトランジスタ67のベース・
エミッタ間に供給され、このトランジスタ67がオン状態
になる。また、第2のカレントミラー回路CM2内のト
ランジスタ66にコレクタ電流が流れることにより、ダイ
オード接続されたトランジスタ70のエミッタ・ベース間
に順方向バイアス電位VBEが発生し、この電位がスイッ
チ用のPNPトランジスタ68のベース・エミッタ間に供
給され、このトランジスタ68がオン状態になる。トラン
ジスタ67、68がオン状態になることによって、基準電位
Vref が信号処理回路24の入力ノードNに供給される。
従って、キズなし領域1とキズなし領域2の間のキズあ
り領域では、検出信号に応じてスイッチ制御回路24内の
トランジスタ67、68がオン状態にされ、信号処理回路14
の入力ノードNの電位は、図19に示すようにVref を
中心にしてトランジスタ67、68のコレクタ・エミッタ間
飽和電圧VCE分だけのみ変化するような値に抑えられ
る。すなわち、信号処理回路24から出力される制御信号
の電位はほぼVref に固定される。このとき、図8中の
ピックアップ11はキズなし領域1における位置をそのま
ま維持するため、従来のような音飛びの発生が防止され
る。
【0052】この実施例の場合にも、信号処理回路13と
してトラッキング制御機能を有するものの代わりにフォ
ーカス制御機能を有するものを使用して、フォーカス制
御のための制御回路に実施することができる。
【0053】なお、この発明は上記各実施例に限定され
るものではなく種々の変形が可能であることはいうまで
もない。例えば上記各実施例ではこの発明をコンパクト
ディスク再生装置のトラッキング制御回路もしくはフォ
カス制御回路に実施した場合を説明したが、その他の光
学式ディスク再生装置に同様に実施することができる。
また、トラッキング制御回路もしくはフォカス制御回路
のいずれか一方のみではなく両方に実施することができ
ることはもちろんである。
【0054】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
ディスク表面上にキズや汚れがある領域でトラッキング
/フォーカス制御用の制御信号を基準電位に保つことが
でき、これによって従来発生していた種々の問題を解消
することができる光学式ディスク再生装置の制御回路を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る光学式ディスク再生装置の制御
回路の第1の実施例によるブロック図。
【図2】図1の実施例回路中のスイッチ制御回路の具体
的な構成を示す回路図。
【図3】図2のスイッチ制御回路の動作を説明するため
の波形図。
【図4】図2のスイッチ制御回路のさらに詳細な構成を
示す回路図。
【図5】この発明の第2の実施例によるスイッチ制御回
路の詳細な構成を示す回路図。
【図6】この発明の第3の実施例によるスイッチ制御回
路の詳細な構成を示す回路図。
【図7】図6のスイッチ制御回路のさらに詳細な構成を
示す回路図。
【図8】この発明の第4の実施例による光学式ディスク
再生装置の制御回路のブロック図。
【図9】図8の実施例回路中のスイッチ制御回路の具体
的な構成を示す回路図。
【図10】図9のスイッチ制御回路の動作を説明するた
めの波形図。
【図11】従来の制御回路の概略的な構成を示すブロッ
ク図。
【図12】図11の従来回路の動作を説明するための波
形図。
【符号の説明】
11…ピックアップ、12,18,22…外部端子、21,24…ス
イッチ制御回路、23…コンデンサ、13,14…信号処理回
路、15,16…抵抗、17…コンデンサ、19…ドライバ回
路、20…トラッキング用アクチュエータコイル、31…コ
ンパレータ、32,33…抵抗、34,67…スイッチ用のNP
Nトランジスタ、35,68…スイッチ用のPNPトランジ
スタ、36,37,38,39…電流源、40,41,44,45…ダイ
オード素子、42,43…インピーダンス素子、61,62,6
3,70…PNPトランジスタ、65,66,69…NPNトラ
ンジスタ、CM1,CM2…カレントミラー回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H03K 17/00 D 9184−5J (72)発明者 山下 隆一 東京都港区新橋3丁目3番9号 東芝エ ー・ブイ・イー株式会社内

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光学式ディスク上に記録された情報を読
    み取るピックアップからの出力信号を処理しこのピック
    アップの位置制御を行うための制御信号を出力する信号
    処理系と、上記ディスク上のキズ、汚れを検出すること
    によって得られる検出信号に応じて上記制御信号の電位
    を基準電位に固定させるスイッチ制御回路とを具備し、
    上記スイッチ制御回路が、高電位側の電源電位のノード
    と上記信号処理系の所定の回路点との間にコレクタ・エ
    ミッタ間が挿入された第1のトランジスタと、低電位側
    の電源電位のノードと上記回路点との間にコレクタ・エ
    ミッタ間が挿入され上記第1のトランジスタとは逆極性
    の第2のトランジスタと、上記検出信号が入力された際
    に上記第1及び第2のトランジスタの各ベースに対し上
    記第1及び第2のトランジスタが導通するような電位を
    与える第1の電位発生手段と、上記検出信号が入力され
    ないときには上記第1及び第2のトランジスタの各ベー
    スに対し上記第1及び第2のトランジスタが非導通とな
    るような電位を与える第2の電位発生手段とから構成さ
    れることを特徴とする光学式ディスク再生装置の制御回
    路。
  2. 【請求項2】 前記第1のトランジスタがNPN型のト
    ランジスタであり、前記第2のトランジスタがPNP型
    のトランジスタであり、前記第1の電位発生手段が前記
    第1のトランジスタのベースにアノード側が接続され前
    記基準電位のノードにカソード側が接続された第1のダ
    イオード素子及び前記検出信号が入力された際にこの第
    1のダイオード素子に順方向電流を供給する第1の電流
    源及び前記第2のトランジスタのベースにカソード側が
    接続され前記基準電位のノードにアノード側が接続され
    た第2のダイオード素子及び前記検出信号が入力された
    際にこの第2のダイオード素子に順方向電流を供給する
    第2の電流源で構成され、前記第2の電位発生手段が前
    記高電位側の電源電位のノードと前記第2のトランジス
    タのベースとの間に挿入され前記検出信号が入力されな
    いときに動作する第3の電流源及び前記第1のトランジ
    スタのベースと前記低電位側の電源電位のノードとの間
    に挿入され前記検出信号が入力されないときに動作する
    第4の電流源とから構成されていることを特徴とする請
    求項1に記載の光学式ディスク再生装置の制御回路。
  3. 【請求項3】 前記第1及び第2のダイオード素子がダ
    イオード接続されたトランジスタで構成されている請求
    項2に記載の光学式ディスク再生装置の制御回路。
  4. 【請求項4】 前記第1のトランジスタがNPN型のト
    ランジスタであり、前記第2のトランジスタがPNP型
    のトランジスタであり、前記第1の電位発生手段が前記
    第1のトランジスタのベースにアノード側が接続され前
    記基準電位のノードにカソード側が接続された第1のダ
    イオード素子及び前記検出信号が入力された際にこの第
    1のダイオード素子に順方向電流を供給する第1の電流
    源及び前記第2のトランジスタのベースにカソード側が
    接続され前記基準電位のノードにアノード側が接続され
    た第2のダイオード素子及び前記検出信号が入力された
    際にこの第2のダイオード素子に順方向電流を供給する
    第2の電流源で構成され、前記第2の電位発生手段が一
    端が前記高電位側の電源電位のノードに接続され前記検
    出信号が入力されないときに動作する第3の電流源及び
    この第3の電流源の他端と前記第2のトランジスタのベ
    ースとの間に挿入された第1のインピーダンス素子及び
    一端が前記低電位側の電源電位のノードに接続され前記
    検出信号が入力されないときに動作する第4の電流源及
    びこの第4の電流源の他端と前記第1のトランジスタの
    ベースとの間に挿入された第2のインピーダンス素子と
    から構成されていることを特徴とする請求項1に記載の
    光学式ディスク再生装置の制御回路。
  5. 【請求項5】 前記第1及び第2のダイオード素子がダ
    イオード接続されたトランジスタで構成されていること
    を特徴とする請求項4に記載の光学式ディスク再生装置
    の制御回路。
  6. 【請求項6】 前記第1のインピーダンス素子がアノー
    ド側が前記第3の電流源の他端に接続されカソード側が
    前記第2のトランジスタのベースに接続された第3のダ
    イオード素子で構成され、前記第2のインピーダンス素
    子がカソード側が前記第4の電流源の他端に接続されア
    ノード側が前記第1のトランジスタのベースに接続され
    た第4のダイオード素子で構成されていることを特徴と
    する請求項4に記載の光学式ディスク再生装置の制御回
    路。
  7. 【請求項7】 前記第1のトランジスタがNPN型のト
    ランジスタであり、前記第2のトランジスタがPNP型
    のトランジスタであり、前記第1の電位発生手段が前記
    第1のトランジスタのベースにアノード側が接続され前
    記基準電位のノードにカソード側が接続された第1のダ
    イオード素子及び前記検出信号が入力された際にこの第
    1のダイオード素子に順方向電流を供給する第1の電流
    源及び前記第2のトランジスタのベースにカソード側が
    接続され前記基準電位のノードにアノード側が接続され
    た第2のダイオード素子及び前記検出信号が入力された
    際にこの第2のダイオード素子に順方向電流を供給する
    第2の電流源で構成され、前記第2の電位発生手段が前
    記第1のトランジスタのベースにカソード側が接続され
    前記基準電位のノードにアノード側が接続された第3の
    ダイオード素子及び前記検出信号が入力されないときに
    この第3のダイオード素子に順方向電流を供給する第3
    の電流源及び前記第2のトランジスタのベースにアノー
    ド側が接続され前記基準電位のノードにカソード側が接
    続された第4のダイオード素子及び前記検出信号が入力
    されないときにこの第4のダイオード素子に順方向電流
    を供給する第4の電流源とから構成されていることを特
    徴とする請求項1に記載の光学式ディスク再生装置の制
    御回路。
  8. 【請求項8】 前記第1、第2、第3及び第4のダイオ
    ード素子がダイオード接続されたトランジスタで構成さ
    れている請求項7に記載の光学式ディスク再生装置の制
    御回路。
  9. 【請求項9】 光学式ディスク上に記録された情報を読
    み取るピックアップからの出力信号を処理しこのピック
    アップの位置制御を行うための制御信号を出力する信号
    処理系と、上記ディスク上のキズ、汚れを検出すること
    によって得られる検出信号に応じて上記制御信号の電位
    を基準電位に固定させるスイッチ制御回路とを具備し、
    上記スイッチ制御回路が、高電位側の電源電位のノード
    と上記信号処理系の所定の回路点との間にコレクタ・エ
    ミッタ間が挿入された第1のトランジスタと、低電位側
    の電源電位のノードと上記回路点との間にコレクタ・エ
    ミッタ間が挿入され上記第1のトランジスタとは逆極性
    の第2のトランジスタと、上記検出信号が入力された際
    に上記第1及び第2のトランジスタの各ベースに対し上
    記第1及び第2のトランジスタが導通するような電位を
    与える電位発生手段とから構成されることを特徴とする
    光学式ディスク再生装置の制御回路。
  10. 【請求項10】 前記第1のトランジスタがNPN型の
    トランジスタであり、前記第2のトランジスタがPNP
    型のトランジスタであることを特徴とする請求項9に記
    載の光学式ディスク再生装置の制御回路。
  11. 【請求項11】 前記電位発生手段が、前記第1のトラ
    ンジスタのベースと前記基準電位のノードとの間に順方
    向に挿入された第1のダイオード素子及び前記検出信号
    が入力された際にこの第1のダイオード素子に順方向電
    流を供給する第1の電流供給手段及び前記基準電位のノ
    ードと前記第2のトランジスタのベースとの間に順方向
    に挿入された第2のダイオード素子及び前記検出信号が
    入力された際にこの第2のダイオード素子に順方向電流
    を供給する第2の電流供給手段とから構成されることを
    特徴とする請求項9に記載の光学式ディスク再生装置の
    制御回路。
  12. 【請求項12】 前記第1及び第2のダイオード素子が
    それぞれダイオード接続されたトランジスタで構成され
    ている請求項11に記載の光学式ディスク再生装置の制
    御回路。
  13. 【請求項13】 光学式ディスク上に記録された情報を
    読み取るピックアップと、このピックアップからの出力
    信号を処理しこのピックアップの位置制御を行うための
    制御信号を出力する信号処理系と、上記ディスク上のキ
    ズ、汚れを検出することによって得られる検出信号に応
    じて上記制御信号の電位を基準電位に固定させるスイッ
    チ制御回路とを具備し、上記スイッチ制御回路が、高電
    位側の電源電位のノードと上記信号処理系の所定の回路
    点との間にコレクタ・エミッタ間が挿入された第1のト
    ランジスタと、低電位側の電源電位のノードと上記回路
    点との間にコレクタ・エミッタ間が挿入され上記第1の
    トランジスタとは逆極性の第2のトランジスタと、上記
    検出信号が入力された際に上記第1及び第2のトランジ
    スタの各ベースに対し上記第1及び第2のトランジスタ
    が導通するような電位を与える第1の電位発生手段と、
    上記検出信号が入力されないときには上記第1及び第2
    のトランジスタの各ベースに対し上記第1及び第2のト
    ランジスタが非導通となるような電位を与える第2の電
    位発生手段とから構成されることを特徴とする光学式デ
    ィスク再生装置。
  14. 【請求項14】 光学式ディスク上に記録された情報を
    読み取るピックアップと、このピックアップからの出力
    信号を処理しこのピックアップの位置制御を行うための
    制御信号を出力する信号処理系と、上記ディスク上のキ
    ズ、汚れを検出することによって得られる検出信号に応
    じて上記制御信号の電位を基準電位に固定させるスイッ
    チ制御回路とを具備し、上記スイッチ制御回路が、高電
    位側の電源電位のノードと上記信号処理系の所定の回路
    点との間にコレクタ・エミッタ間が挿入された第1のト
    ランジスタと、低電位側の電源電位のノードと上記回路
    点との間にコレクタ・エミッタ間が挿入され上記第1の
    トランジスタとは逆極性の第2のトランジスタと、上記
    検出信号が入力された際に上記第1及び第2のトランジ
    スタの各ベースに対し上記第1及び第2のトランジスタ
    が導通するような電位を与える電位発生手段とから構成
    されることを特徴とする光学式ディスク再生装置。
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