JPH07227578A - 電子部品の選別方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 選別の基準となる電気的特性のリミットを必
要以上に厳格に設定することなく、高い選別歩留りと正
確な選別を実現することが可能な電子部品の選別技術を
提供する。 【構成】 ツェナーダイオード１に接触子７ａを介して
バイアス電流を印加するバイアス器３、接触子７ｂを介
してツェナー電圧を測定する電圧計２、ツェナー電圧１
の温度を測定する温度センサ６および非接触温度計５、
電圧計２から入力されるツェナー電圧の値を、非接触温
度計５から入力されるツェナーダイオード１の測定温度
や過渡熱特性等にに基づいて補正し、補正後のツェナー
電圧に基づいてツェナーダイオード１を良品および不良
品と判定するコンピュータ４からなる電子部品の選別装
置である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は電子部品の選別技術に関
し、特に、ツェナーダイオード等の出荷前の選別工程等
に適用して有効な技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】たとえば、ツェナーダイオードなどの電
子部品の製造工程では、出荷に先立って製品のツェナー
電圧が顧客保証値に適合しているか否かを判別する選別
作業が行われている。

【０００３】従来、このようなツェナーダイオードの選
別技術としては、たとえば、図６に例示されるように、
対象のツェナーダイオード１０１の端子にバイアス器１
０３の接触子１０７を介してバイアス電流を印加し、そ
の時の電圧を電圧計１０２によってツェナー電圧として
測定している。

【０００４】この場合、測定時の周囲の温度は、測定機
器が置かれた部屋全体の温度管理は行っているが、測定
中のツェナーダイオードの温度が一定になるようなコン
トロールは行われていない。

【０００５】なお、上述のようなツェナーダイオードに
ついては、たとえば、電波新聞社、昭和５９年５月２０
日発行「総合電子部品ハンドブック」Ｐ１８８〜Ｐ１８
９、等の文献に記載されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述の従来技術では、
測定中の素子の温度変化に対して測定値（ツェナー電
圧）が変化する点に対して補正を行っておらず、室温の
変化やバイアス電流による素子の自己発熱で測定値が変
動してしまい、正確な測定ができず、選別を行う際、良
品とするツェナー電圧のリミットをより厳しく設定し、
社外へ不良品の流出が生じないようにしている。このた
め、不良品と判定された製品の中に良品が多数入ること
となり、選別工程における歩留り低下の一因となってい
る。

【０００７】また、素子が測定中に熱平衡に達するのを
待って測定を行うのでは、測定の所要時間が長くなり、
選別工程におけるスループットが低下する、という問題
がある。

【０００８】本発明の目的は、選別の基準となる電気的
特性のリミットを必要以上に厳格に設定することなく、
高い選別歩留りと正確な選別を実現することが可能な電
子部品の選別技術を提供することにある。

【０００９】本発明の他の目的は、高スループットで、
高い選別歩留りと正確な選別を実現することが可能な電
子部品の選別技術を提供することにある。

【００１０】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。

【００１２】すなわち、本発明の電子部品の選別方法
は、電子部品および測定環境の少なくとも一方の温度を
測定し、温度に起因する電気的特性の変化分を補正し、
補正後の電気的特性に基づいて選別を行うものである。

【００１３】また、本発明の電子部品の選別方法は、電
子部品の過渡熱特性を考慮し、電気的特性の測定操作の
時間的要素を当該電気的特性の補正に加味する操作を行
うものである。

【００１４】さらに、本発明の電子部品の選別方法は、
電子部品はツェナーダイオードであり、電気的特性はツ
ェナー電圧であり、測定されたツェナーダイオードの温
度と基準温度との差から、ツェナー電圧の変化を補正し
て選別を行うものである。

【００１５】また、本発明の電子部品の選別方法は、ツ
ェナーダイオードの過渡熱特性を考慮し、ツェナー電圧
測定時におけるバイアス印加から測定するまでの時間に
起因する補正値を、ツェナー電圧の温度による補正値に
加えるものである。

【００１６】さらに、本発明の電子部品の選別装置は、
電子部品の電気的特性を測定する測定手段と、電子部品
および測定環境の少なくとも一方の温度を測定する温度
測定手段と、温度の測定結果に基づいて電気的特性の補
正を行い、補正後の電気的特性に基づいて電子部品の良
否を判別する制御手段とを含むものである。

【００１７】また、本発明の電子部品の選別装置におい
ては、制御手段は、電子部品の過渡熱特性を考慮し、特
性測定手段による電気的特性の測定操作における時間的
要素を当該電気的特性の補正に加味する動作を行うもの
である。

【００１８】さらに、本発明の電子部品の選別装置にお
いては、電子部品はツェナーダイオードであり、電気的
特性はツェナー電圧であり、制御手段は、測定されたツ
ェナーダイオードの温度と基準温度との差から、ツェナ
ー電圧の変化を補正して選別を行うものである。

【００１９】また、本発明の電子部品の選別装置におい
ては、制御手段は、ツェナーダイオードの過渡熱特性を
考慮し、ツェナー電圧測定時におけるバイアス印加から
測定するまでの時間に起因する補正値を、ツェナー電圧
の温度による補正値に加える動作を行うものである。

【００２０】

【作用】上記した本発明の電子部品の選別技術によれ
ば、電子部品の温度を温度測定手段によって測定し、こ
の測定値と、コンピュータ等の制御手段に予め入力され
ている品種毎の温度による電気的特性の変動係数とか
ら、基準温度からどの程度測定値がシフトするかを計算
し、その計算結果を、測定手段より得られた測定値に加
え、基準温度での電気的特性を得る。この結果に基づい
て測定した電子部品の良否を選別する。

【００２１】また、たとえば、ツェナーダイオード等の
電子部品では、制御手段に、図５に例示されるようなツ
ェナーダイオードの過渡熱特性を入力しておき、ツェナ
ー電圧測定時までのバイアス印加時間をも、測定ツェナ
ー電圧とともに制御手段に入力すれば、短時間（２０〜
４０ｍｓ）で、飽和状態でのツェナー電圧の値を算出す
ることができる。この結果をもとに選別すれば、短時間
で正確な選別が可能となる。

【００２２】これにより、電子部品の電気的特性の測定
結果が、室温や電子部品自体の温度の変化の影響を受け
ることなく、たとえば顧客保証の基準温度に対する値と
して、正確に得られ、温度変動に起因するマージンを電
気的特性の選別リミットにのせなくても、不良品が良品
に混入することが確実に防止され、高い選別歩留りと正
確な選別を実現することが可能となる。

【００２３】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しながら
詳細に説明する。

【００２４】図１は、本発明の一実施例である電子部品
の選別装置の要部の構成の一例を示す概念図であり、図
２は、その全体構成の一例を示す概念図、また図３は、
図２に例示される各構成部の具体的な構成の一例を示す
略側面図である。

【００２５】なお、本実施例では、電子部品の一例とし
てツェナーダイオードに適用した場合について説明す
る。

【００２６】本実施例の電子部品の選別装置は、ツェナ
ーダイオード１の外部から受入れを行うローダ部Ａ、後
述のような測定操作を行う測定部Ｃ、測定結果に応じて
ツェナーダイオード１を振り分ける振り分け部Ｅ、ツェ
ナーダイオード１の払い出しを行うアンローダ部Ｆ、測
定部Ｃと、ローダ部Ａおよび振り分け部Ｅとの間におけ
るツェナーダイオード１の受け渡し動作を行う複数の搬
送部Ｂおよび搬送部Ｄで構成されている。

【００２７】測定部Ｃは、たとえば、図３および図４に
例示されるように、外周部に、ツェナーダイオード１の
リード１ａを保持する保持溝８ａが刻設されたドラム８
を備えている。このドラム８の内部には、磁石８ｂが設
けられており、リード１ａを吸引して、保持溝８ａの内
部に固定する動作を行っている。また、ドラム８の中央
部には、周方向に全周にわたって凹部８ｃが刻設されて
おり、保持溝８ａの底部にリード１ａが保持された状態
で、ツェナーダイオード１の本体１ｂが凹部８ｃの底部
に接する構造となっている。ドラム８は、たとえば熱容
量の大きな金属などの物質で構成され、外周のリード１
ａに対する接触部には、選択的に絶縁層８ｄが設けられ
ている。

【００２８】ドラム８の保持溝８ａ内に位置する一対の
リード１ａに臨む位置には、当該リード１ａに圧接され
る一対の接触子７ａおよび接触子７ｂが配置されてい
る。

【００２９】接触子７ａは、図１に例示されるバイアス
器３に接続されており、測定時にツェナーダイオード１
にバイアス電流を印加する。また、接触子７ｂは、電圧
計２に接続されており、ツェナー電圧を測定する動作を
行う。

【００３０】この場合、一対の接触子７ａおよび７ｂの
間には、非接触温度計５に接続された温度センサ６が設
けられており、ドラム８の凹部８ｃの底部に接したツェ
ナーダイオード１の本体１ｂの温度を測定する動作を行
う。この非接触温度計５および温度センサ６は、たとえ
ば赤外線温度計からなる。

【００３１】電圧計２、バイアス器３および非接触温度
計５は、コンピュータ４に接続されており、このコンピ
ュータ４は、後述のような測定動作を行うようにプログ
ラムされている。

【００３２】詳細な図示は省略するが、測定部Ｃの前後
に位置する搬送部Ｂおよび搬送部Ｄ、さらには振り分け
部Ｅは、測定部Ｃと同様のドラム構造となっており、リ
ード１ａが保持溝に位置するツェナーダイオード１を順
次相手側に受け渡す動作を行う。また、振り分け部Ｅで
は、前段の測定部Ｃにおける結果に基づいて、ツェナー
ダイオード１を良品および不良品に振り分けてアンロー
ダ部Ｆ側へ受け渡す動作を行う。

【００３３】以下、本実施例の作用の一例を説明する。

【００３４】まず、選別対象のツェナーダイオード１を
ローダ部Ａにセットする。ローダ部Ａにセットされたツ
ェナーダイオード１は、一個ずつ搬送部Ｂの回転動作に
よって測定部Ｃのドラム８の保持溝８ａに受け渡され
る。

【００３５】測定部Ｃでは、ドラム８の保持溝８ａに磁
石８ｂによって固定されたツェナーダイオード１は、本
体１ｂがドラム８の凹部８ｃの底部に接触し、ドラム８
の回転によって一対の接触子７ａおよび７ｂの位置に移
動され、その間に、ドラム８とほぼ同じ温度となる。

【００３６】そして、図４に例示されるように、ツェナ
ーダイオード１のリード１ａの両端に接触子７ａおよび
７ｂがコンタクトした状態で、バイアス器３からバイア
ス電流を印加し、このバイアス電流が印加されてから所
定の時間（たとえば２０〜４０ｍｓ程度）後に、電圧計
２にてツェナー電圧を測定し、測定結果をコンピュータ
４に入力する。コンピュータ４には、バイアス電流の印
加からツェナー電圧の測定までの前記時間情報も入力さ
れる。

【００３７】この時、本実施例の場合には、温度センサ
６および非接触温度計５によって、ツェナーダイオード
１の本体１ｂの温度を測定しコンピュータ４に入力す
る。

【００３８】なお、ツェナーダイオード１の温度測定が
困難な場合には、ツェナーダイオード１に接して同じ温
度にあるドラム８の温度を測定してもよい。

【００３９】ツェナーダイオード１の温度データおよび
ツェナー電圧のデータが入力されたコンピュータ４で
は、予め入力されているツェナー電圧の温度特性、およ
び図５に例示されるような過渡熱特性と前記時間情報に
基づいて、電圧計２で測定されたツェナー電圧の値に補
正を加え、最終的な測定値とする。

【００４０】こうして得られたツェナー電圧の最終的な
測定値に基づいて、基準温度でのツェナー電圧の値が所
定の仕様を満足しているかを判定し、ツェナーダイオー
ド１を良品あるいは不良品と区分する。

【００４１】測定部Ｃでの測定が終了したツェナーダイ
オード１は、搬送部Ｄの回転動作によって振り分け部Ｅ
に受け渡され、この振り分け部Ｅでは、測定部Ｃにおけ
る前述の区分結果に基づいて振り分ける。振り分けられ
たツェナーダイオード１は、アンローダ部Ｆの良品回収
部あるいは不良品回収部に個別に収納され、所望のタイ
ミングで外部に払い出される。

【００４２】このように、本実施例の電子部品の選別方
法および装置では、ツェナーダイオード１のツェナー電
圧に測定に際して、測定時のツェナーダイオード１の温
度や過渡熱特性に基づく補正を行うので測定結果が正確
となる。

【００４３】このため、ツェナーダイオード１が良品か
不良品かを選別する際に、選別のリミット値を顧客保証
値と同一に設定しても不良品が良品と判定されるような
不都合が防げるとともに、従来のように、ツェナーダイ
オード１を選別する際のツェナー電圧のリミットを必要
以上に厳格にすることに起因して、良品を不良品と判定
することもなく、選別歩留りの向上が図れる。

【００４４】さらに、ツェナーダイオード１の温度を安
定化するなどの目的でバイアス印加時間を必要以上に長
くする必要がなく、スループットの向上が図れる。

【００４５】本実施例では搬送部Ｂより測定部Ｃへ直接
ツェナーダイオード１が受け渡されているが、間にサブ
ロータをいれて受け渡す方法の方が一般的で、サブロー
タの挿入は全くさしつかえない。

【００４６】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。

【００４７】たとえば電子部品としてはツェナーダイオ
ードに限らず、一般の電子部品の選別技術に広く適用で
きる。

【００４８】

【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。

【００４９】すなわち、本発明の電子部品の選別方法に
よれば、選別の基準となる電気的特性のリミットを必要
以上に厳格に設定することなく、高い選別歩留りと正確
な選別を実現することができる、という効果が得られ
る。また、高スループットで、高い選別歩留りと正確な
選別を実現することができる、という効果が得られる。

【００５０】また、本発明の電子部品の選別装置によれ
ば、選別の基準となる電気的特性のリミットを必要以上
に厳格に設定することなく、高い選別歩留りと正確な選
別を実現することができる、という効果が得られる。ま
た、高スループットで、高い選別歩留りと正確な選別を
実現することができる、という効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例である電子部品の選別装置の
要部の構成の一例を示す概念図である。

【図２】その全体構成の一例を示す概念図である。

【図３】図２に例示される各構成部の具体的な構成の一
例を示す略側面図である。

【図４】図３に例示された測定部を取り出して示す略断
面図である。

【図５】ツェナーダイオードの過渡熱特性の一例を示す
線図である。

【図６】従来の電子部品の測定技術の一例を示す概念図
である。

【符号の説明】

１ ツェナーダイオード（電子部品） １ａ リード １ｂ 本体 ２ 電圧計（特性測定手段） ３ バイアス器（特性測定手段） ４ コンピュータ（制御手段） ５ 非接触温度計（温度測定手段） ６ 温度センサ（温度測定手段） ７ａ 接触子 ７ｂ 接触子 ８ ドラム ８ａ 保持溝 ８ｂ 磁石 ８ｃ 凹部 ８ｄ 絶縁層 Ａ ローダ部 Ｂ 搬送部 Ｃ 測定部 Ｄ 搬送部 Ｅ 振り分け部 Ｆ アンローダ部

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子部品の電気的特性を測定することに
   よって選別を行う電子部品の選別方法であって、前記電
   子部品および測定環境の少なくとも一方の温度を測定
   し、前記温度に起因する前記電気的特性の変化分を補正
   し、補正後の前記電気的特性に基づいて選別を行うこと
   を特徴とする電子部品の選別方法。
2. 【請求項２】 前記電子部品の過渡熱特性を考慮し、前
   記電気的特性の測定操作の時間的要素を当該電気的特性
   の補正に加味することを特徴とする請求項１記載の電子
   部品の選別方法。
3. 【請求項３】 前記電子部品はツェナーダイオードであ
   り、前記電気的特性はツェナー電圧であり、測定された
   前記ツェナーダイオードの温度と基準温度との差から、
   前記ツェナー電圧の変化を補正して選別を行うことを特
   徴とする請求項１または２記載の電子部品の選別方法。
4. 【請求項４】 前記ツェナーダイオードの過渡熱特性を
   考慮し、ツェナー電圧測定時におけるバイアス印加から
   測定するまでの時間に起因する補正値を、前記ツェナー
   電圧の温度による補正値に加えることを特徴とする請求
   項３記載の電子部品の選別方法。
5. 【請求項５】 電子部品の電気的特性を測定する特性測
   定手段と、前記電子部品および測定環境の少なくとも一
   方の温度を測定する温度測定手段と、前記温度の測定結
   果に基づいて前記電気的特性の補正を行い、補正後の前
   記電気的特性に基づいて前記電子部品の良否を判別する
   制御手段とを含むことを特徴とする電子部品の選別装
   置。
6. 【請求項６】 前記制御手段は、前記電子部品の過渡熱
   特性を考慮し、前記特性測定手段による前記電気的特性
   の測定操作における時間的要素を当該電気的特性の補正
   に加味することを特徴とする請求項５記載の電子部品の
   選別装置。
7. 【請求項７】 前記電子部品はツェナーダイオードであ
   り、前記電気的特性はツェナー電圧であり、前記制御手
   段は、測定された前記ツェナーダイオードの温度と基準
   温度との差から、前記ツェナー電圧の変化を補正して選
   別を行うことを特徴とする請求項５または６記載の電子
   部品の選別装置。
8. 【請求項８】 前記制御手段は、前記ツェナーダイオー
   ドの過渡熱特性を考慮し、ツェナー電圧測定時における
   バイアス印加から測定するまでの時間に起因する補正値
   を、前記ツェナー電圧の温度による補正値に加えること
   を特徴とする請求項７記載の電子部品の選別装置。